JPS60205348A - 気体成分の検出装置 - Google Patents

気体成分の検出装置

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JPS60205348A
JPS60205348A JP60040238A JP4023885A JPS60205348A JP S60205348 A JPS60205348 A JP S60205348A JP 60040238 A JP60040238 A JP 60040238A JP 4023885 A JP4023885 A JP 4023885A JP S60205348 A JPS60205348 A JP S60205348A
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electrochemical
contaminants
heating
derivative product
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JP60040238A
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ジヨセフ アール・ステツタ
ソロモン ザロム
メルビン ダブリユ・フインドレイ,ジユニア
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US Government
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    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
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  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は汚染物質を検出するだめの装置、ざらに詳しく
は、環境気体中に比較的低い濃度で存在する汚染物質を
検出しつる装置に関するものである。電気化学的検出素
子、Rに米国特許第3.776、832月、同第4,2
01,634月および同第4.326,927号に開示
されたもののような電流古1式レン1)は、携帯性、リ
アルタイム読み出し、比較的低=1ストを可能とし、C
O2、1−1゜S。
No、No2,302 、ヒドラジン。
COC12,1−ICN、またはC12といった僅かな
特定汚染物質にはかなりの感応性と選択性を5えるもの
である。しかし、これらの装置は今[1のところ、電気
化学的に活性でない多くの種類の物質の検出には適用で
きない。
イi出物質を含右匁る汚染物質の検出においては、検出
装置は、特にその汚染物質がほとんど電気化学的に活性
をもたないか、または検出国難な活性しかもたない場合
は、その汚染物質の201uに関しては使用を限られて
きたものである。
ある値以下、例えば、塩化ベンジル、テトラクロロエチ
レンなどの1100pp以下では、現在利用できるポー
タプル装置はその汚染物質にほとんど応答しない。ある
種の汚染物質は極端に市竹が強いから、低温度においで
各種の)汚染物質を検出りるための装置を開発りること
は弔要である。
従って、本発明の1つのL1的は、気体中の低温度の汚
染物質を検出りるための装置を提供覆ることである。、
もう1つの目的は、汚染物質が電気化学的にほとんど不
活↑ノ1であるか、検出困ff1ffな活性しかもたな
い場合にお【ノる環境気体中の汚染物質を検出するだめ
の電気化学的Q t&を提供することである。さらにも
う1つの目的は、地域検査の1=めのポータプル機器ど
じで、または広範囲の気体にiJ−する現瘍−[ニター
どしで利用しうる装置を11?供Jることである。さら
にもう1つの目的は、急M m竹または引火の危険17
1を示ずような比較的高温度においてもまた汚染物質を
検出しつる装置を提供することである。
筒中にいえば、本発明は周囲気体すなわち環境気体中の
汚染物質を検出するだめの装置に関するものであって、
この装置は、i)汚染物質(例えば炭化水素)を!l!
1徴的な電気化学的活1イIを有する誘導体生成物(例
えば−酸化炭素)に化学的に変化せしめるための触媒的
表面をもつ電気的変換手段と、iDその電気化学的活性
ノ1に[1ン答し、その誘導体生成物を示づ信号を与え
、それによってもとの汚染物質を検出する電気化学的検
出手段とからなるものである。1つの実施態様において
は、前記変換手段は、電気化学的に不活性な汚染物質の
比較的高い温度には応答づるが、比較的低い濃度には実
質的に応答しないレンリと、誘導体生成物には応答づる
が、低温1身の汚染物質には実質的に応答しない電気化
学的センリを含んでいる。変換手段は、pt。
Pd、I r、Rh、Au、Agなどの貴金属触媒、ま
たはそれらの金属の1つの合金または化合物で作られる
か、あるいは被覆された加熱ノイラメン1〜から(t1
成することができる。
本発明の装置は、環境気体中の各種の汚染物質ないし危
険性気体または蒸気の少なくとも1つを検出する際に用
いるのに適している。これらの汚染物質は各種の有機組
成物、例えばベンLン、塩化ベンジル、1〜ルエン、メ
タン、テ1〜ラク「1口エチレン、テトラヒドロフラン
、シフ[1ヘキ4ノンなどを通常含んでいる。ある種の
検出装置が動かないような約1〜100ppm程度の低
m度にある塩化ベンジルまたはペンピンなどの汚染物質
の存在を検出するには狛に有用である。さらに、本装置
は、)り染物質の現場検出の可能なポータプル機として
使えるような構成部品から組立てることができ、また場
合によっては、その汚染物質の一般的潤度の固定個所で
の分析用に構成することもできる。
本装置は、汚染物資を、特徴的な電気化学的活性をもつ
誘導体生成物にFI学的に変えるための貴金属露出表面
を杓する電気的加熱手段と、その生成物の電気化学的活
性に応答し、生成物すなわち汚染物質を指示覆る信号を
与える信号手段を含む検出手段とを組合せてなるもので
ある。誘導体生成物は汚染物質中の化学変化の結果生ず
るものであって、この化学変化は汚染物質に対する酸化
またはその他のプ「lセスにより 5− 起るものであり、汚染物質に電気化学的活↑11を与え
たりあるいはその既存の活性を変えたりサ−ることかで
きる。その装置に対する特に有用な組合せは、電気化学
的検出手段によって検出lるための仝温度範囲にわたっ
て誘導体生成物を供給すると同時に、約0.1〜1.0
%以上の汚染物貿淵度で信号を与えるセン9としても働
く貴金属加熱手段を含んでいる。電気化学的検出手段か
らの信号と組合せて貴金属加熱手段からの信号があるか
ないかは、汚染物質の有無およびその一般的連続範囲を
決めるのに用いることができる。
汚染物質からの誘導体生成物は特徴的な電気化学的活性
を示し、それが約11)l)m程度の低レベルで検出手
段によって検出されうるちのである。これらの生成物は
炭素、硫黄、窒素などの酸化物であって電気化学的活性
をもつものか、あるいは汚染物質の部分酸化または分解
を示でその他の組成物であってもよい。
第1図の装置は、環境気体の試お1を受け入れ= 6− るように配置された熱線IZレンジ例示された触媒加熱
1段と、誘導体生成物を受1ノ入れるように配置され/
=電気化学的1?ンリによって例示され7.−検出1段
を含んでいる。変換1段は、検出手段からのf、[1j
4とは別の信号を作るための信月丁段を含んでいる。熱
線レンジは、加熱手段と、1つ以−にの酸化触媒の如き
触媒とを含んでいる。
一般に、P t、 、 F)d 、 RhおよびAQ系
の触媒と熱線レンジが’t;+に有用(・ある。1rま
たはAQ、あるいはPd−AQ、Pt−R[)、Pt−
IrまたはA LJ−八gなどの各種の白金属合金、あ
るいは該金属の1つの化合物1!1に酸化物からなる触
媒もJ:だ有用である。熱線またはフィラメン1〜は、
線内金属で作られていてもよく、あるいは好ましくは、
適当な−(y>とシ1,1な金属または合金」に被覆さ
れていCしよい。FI11!媒はまた、C,Siまたは
アルミノ等の相体−にに分散さけてもJ、い。試料が加
熱触媒にざらされると、それは化学的に酸化または分解
されで、少なくとも1つの、電気化学的セン9による検
出が可能な誘導体生成物になる。
電気化学的レンジは低レベルの誘導体生成物に応答して
、その生成物ひいては汚染物質を指示覆る信号を与える
。電気化学的セン1)はこれらの低レベルにあるいくつ
かの電気化学的に活性な物質に応答できるけれども、塩
化ベンジルその他のごとき電気化学的活性によってさし
て特徴化されない化合物に対する応答は非常に制限され
る傾向にあるから、上述の酸化触媒のひとつによる助け
がな()れば検出には使えないこともある。
電気化学的セン9には定電汀電流Δ1式センリの使用が
適している。誘導体生成物を検知すると、レンジの″作
動電極″での電気化学的活性を指示する信号が発生ずる
。・般に、変換1段を代表する熱線レノ1ノと、検出手
段を代表する電流削代化学しンリは十分に小さいから、
それらを中−コニッ1〜に作り上げて、熱線セン9から
の誘導体生成物が同じユニット内で電気化学的セン1ノ
と相互作用を行なえるようにすることができる。試料は
、イれを最初熱線レンジに導入するようにした試別チャ
ンネリング配列に導入するのが好ましい。熱線−12ン
サを出た誘導体生成物は、つぎに直接に、但しその温度
を好ましい値に上げることによって該レンジの活性を高
めるように制御されたやり方で、電気化学的セン1ノへ
送られるか、あるいは電気化学的セン9が熱線セン9の
ヒータに直接さらされなくてもよいように、バッフル配
置またはぞの他の隔離システムを通して電気化学的セン
9に送られる。
第1図は、電気化学的レンジを熱線セン−りから隔離し
、それによって電気化学的レノ1ノにJn傷を与える可
能↑ノlを減り”るためのバッフル配置を含む経路を示
1゜本発明装置の分解説明図である。
本発明の装置は、気体を加熱して汚染物質の燃焼を触媒
し、特徴的な電気化学的活性を有する誘導体生成物を生
成させる、気体にさらされる員金属表面をもった電気的
加熱手段と、その−〇 − 活性に応答してぞの活性を示すイハ号を与えるための電
気化学的検出手段とを含んでいる。第1図に説明されて
いるように、加熱手段は、ブロック15の反応室16中
に設りられた加熱系了]ア12と員金属表面14からな
る加熱フィラメント10によってもたらされる。検出素
子18は、汚染物質の燃焼で誘導された生成物の電気化
学的活性を検出するために、ブロック19の室20内に
設εノられている。基準電極22と対向電極21も設け
られている。ブロック15とブロック19とは、室24
をもつブロック23を介して連結されている。入口26
゜出口28および室16と24は、気体を加熱用フィラ
メン[・10に接触させるための、また誘導体生成物を
検出素子18に接触させるためのヂャンネリング手段を
与えるものである。閉鎖具30は室20の密封用である
。室20の上にある栓止可能な開口部32は、電解質を
電気化学的センυに入れるためのものである。
本発明のもう1つの実施態様においては、第 10− 2図(ご示り−ように、1111111敗式電気化学的
レンジて、30()〜600℃好J:シクは400〜5
00 ’Cに加熱したイリジウム−被覆フィラメントに
、該レンジに向りτ拡散ないし対流りる環境気体を予め
ざら一す−ことによっ−C,空気中のO〜・2.4%i
umのメタンを検出しようとり−る一bのCある。
このノイシメン1〜は、イリジウムと類似の熱膨張係数
を:(、)った比較的高抵抗の金属または合金、例えば
、商業的グレードのチタンなどで作るのが好ましい。フ
ィラメントの長さと断面積とを調節して、約10ミリア
ンペアの電流で加熱したとき約200(1;4−ムの抵
抗値と4 (10へ・500°Cの温度か(qられるよ
うにすると、完全に安全な坑道監視用の用途に適した低
電力低電流iJI出メウメタン検出器ることが用能にな
る。
第2図において、装置36はハウジング37内に設(ノ
られた加熱フィーノメンi〜38を有し、ガラスウール
ぞの他の過当な多孔質(1石でできたバリ(7/12に
よってフィシメンI・38に16接ざらされないように
覆われた電気化学的検出累 11− 了/10を右している。第2図において、入[]52、
通気孔46およびチレンネル/18./19おJ、び5
0は、気体と誘導体生成物のヂャンネリング用に設Cノ
られている。電流電源はセラミック製プラグ4/1を通
ってフィラメント38へ通ずるリード線54と56につ
なかっている。
第2図のイリジウム被覆フィシメン1〜の加熱は好まし
くは、第3図のブ「lツクダイアダラムに示したような
温度制御器によって制御される。
加熱電力所要枡をさらに削減りるために、フィシメン1
〜の加熱を断続パルスで行なってもよい。
例えば10秒ごとに0.5〜3秒持続するパルスを用い
る。一般に装置の応答口)間は約20秒より短い。加熱
用パルスはフィシメン1〜ピーク温度を400〜500
°Cの範囲まで貯湯1れば十分である。
ここで注意したいのは、電気化学的レンジは第2図の装
置中に用いたようす11式で中独使用されたときは、通
常100%に近い高温度においてさえメタンに応答しな
いことCある。しかし、 12− 加熱イリジウムフィシメン1〜で得られた信号は0.0
5%イrいしそれ以下の低いメタン温度の測定を容易に
1)なえるJ:うにできる。
検出ブn I=スに関ηる一般的なノ「1−グイ17グ
ラムの説明どして、第3図に誘導体生成物が自動的にマ
ルチパス・ソレノイドバルブまたはその他の分岐下段を
通じて電気化学的レンジにh <か、あるいは温度レベ
ルによってはレンジに接触りる前に装置から抽出される
よう′/、T配置を示している。このフ[]−配置では
、熱線レンジからの信号は約0,5へ・1.0%以上の
濃度にある汚染物質の存在を示Jのにやくたててもよく
、またある種の汚染物質の過剰濃度が電気化学的レンジ
に及ばりかもしれない影響を避りるために誘導体(1成
物の流れを装置から外へ向(〕るのにも用いられる。
熱線レンジからの信号が(qられないときは、フローパ
ターンは誘導体生成物を電気化学的センリヘ指向りるの
に用いられることになり、その信号は誘導体生成物ひい
ては汚染物質の存在 13 − を示Jことになる。複数の信号を絹合口ることによって
、汚染物質の存在とぞのi9度が測定できることになる
気体と誘導体生成物の一般的)「l−パターンが第3図
に示されている。そこで図示されているように、気体試
料はライン60から変換至62に入る。ここにはフィシ
メン]・64が備えてあり、その温度は制御器65によ
って制御される。信号指示手段は信号指示器66によっ
てもたらされ、フィシメン1−64から1qられる信号
を与える。誘導体生成物はライン68、バルブ70およ
びライン72を通って、信号指示器76をもつ電気化学
的センリフ4に送られる。
ポンプ78は吸引式であって、装置内の流速を決めるも
のである。制御器65とバルブ70は指示器66および
76からの信号を受(りるマイクロプロセッサ(]ンピ
コータ/制御器)によって制御されている。
上述した実施態様の本発明装置の代表的1ノ1能の一例
として、第4図はベンゼンに対する応答= 14− 曲線を示し′(いる、、・般に、ベンセンは円)mレベ
ルに、1−3い’C(J、 ?Fi気化学的センリでは
容易に検出されないし、p l)1ルベルでは熱線レン
゛りによってはほとんど検出不能である。しかし、異な
る2つのセンリを組合UることにJ:って、空気中に1
001)l)nl以下の濃度で存在づるベンぎンを示づ
信号を(qることか可能になる。このような低レベルの
ベンセンは熱線または加熱半導体センリでは検出てきな
いが、かかるレンリまたはその他の内金属被覆ノイラメ
ントの触媒表面は、ベン−ピンを1つないし2つの炭素
酸化物あるいは分解生成物に変え、次いでこれらを電気
化学的センリによって検出η−るの(゛ある。
第4図Δでは、加熱フィラメン1〜は熱線可燃性カスセ
ン1〕に用いられるのと同じ細い白金線(径0.(18
+11111 )で作れら、約1000℃まで加熱され
た。約1.1)分と4分ののところから始まる2つの山
は、それぞれベンセン200ppmおよび50ppmの
試r1に接触ざIた場合に相当する。第4図Bでは、変
換手段として、約300°Cに加熱さ 15− れた市販の酸化錫半導体セン9が用いられた。
約1分、6分および10分のところで始まる3つの山は
、それぞれベンゼン2ooppm、 50ppmおよび
200 r) I)IIIの試料に相当する。第4図C
では、変換装置は950±50’Cに加熱された細い(
径0.08mm )金フイラメン1〜からなるもので、
約0.6分のころから始まる山はベンぜン200ppm
の試料によるものであった。3つの場合すべてに、標準
可逆水素電極に対して約1.1ポル1〜の電位差を示す
白金黒製検出電極からなる同じ電気化学的セン1ノが使
われた。第1IA。
4(3および4C図を比較すると、IJl熱酸化錫は白
金フィラメントよりほぼ3〜4侶高い応答を生ずるが、
金フィラメン1〜は酸化錫より31))高い応答を牛し
、白金よりは10倍も高い応答を示J−ということがわ
かる。
どちらかのタイプのセン1ノ単独では検出されないが、
2つのセン1)を組合せると、約100ppHl以下の
濃度でも検出されるようになるその他の代表的化合物は
、塩化ベンジルとテ1へラフ「1[116− エチレンである。
次の実施例は説明の目的のために与えられるものであっ
て、本発明の範囲を制限しようとする意図はイTい。
実施例I 米国カリノAルニア州、サニイベイルのレックスノート
・]−ボレーション(RcxnordCOrpOraj
iOll)製の触媒じ一ズセンリと米国ニュー]−り州
、ホウソーンの工づ−ジエテイクス・リイエンス(1n
croetics 3cience)製のPt−触媒C
Oフイラメン1〜を備えた装置中で、テ1〜ラク1][
1工チレン2ooppm含右空気試利のテストを(jな
った。試料を各素子が別個に動作覆るようにしてデスト
した。別個に動作づる各レンリ素子から得られた電流は
、通常のノイズレベルと区別できなかった。別のデスト
で、同様に作られた電気化学的セン1〕とPt−触媒C
Oフィラメン1〜とを組合lで、僅か201)l)II
Iのテ1〜ラク[10エチレンを含む空気のデストを行
なった。フィラメン1〜なしでの0.2(ノイズレベ 
17− ル)マイクロアンペア以下の値と比べて、センリを組合
せた場合には約0.3マイクロアンペアの信号が認めら
れた。
以上説明したように、本発明は、気体媒体中の気体、蒸
気、化学的汚染物質またはその他の成分を検出するため
の有用な装置を提供し、触媒的加熱素子と電気化学的セ
ン1ノの組合せによって、低温度にある成分の検出を可
能とするものである。
本発明の実施態様に関する前述の記載は、本発明の説明
と例示の目的で行なわれたものである。本発明はこれら
の実施態様に限定されるものCはなく、上述した説明に
照らして多くの修正や変更が可能であることは明らかで
あろう。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1つの実施例の分解図である。 第2図は本発明のもう1つの実施例の断面図である。 第3図は本発明のもう1つの実施例の711−18− ダイヤグラムである。 第4図は本発明によって作られた装置からのベン1ンに
ついての代表的応答曲線を示す。 10.38・・・加熱フィシメン1〜(加熱系子)、1
4・・・員金属表面、18.40・・・検出素子。 !171許出願人 アメリカ合衆国 代 ]!P 人 尾 股 行 雄 19− 7 8 9 10 I+ 12 0 1 2 3 時 +t1 (’yr゛ン 90つ (41゛ン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、気体媒体中の47i定の気体、蒸気、化学的汚染物
    またはイの他の希11気体成分を検出づ−る装置であっ
    て、該気体成分にさらされる白金属含有触媒表面を有し
    、該気体成分を加熱して特徴的な電気化学的活f1をも
    つ該気体成分の誘導体生成物を触媒作用により生成する
    電気的加熱索子と、該誘導体生成物にさらされるように
    配列され、該誘導体生成物の電気化学的活性に応答し、
    該活性に応答して信弓を発生することができる電気化学
    的検出素子とからなることを特徴と覆る気体成分の検出
    装置。
JP60040238A 1984-03-02 1985-02-28 気体成分の検出装置 Pending JPS60205348A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US58572184A 1984-03-02 1984-03-02
US585721 1984-03-02

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JPS60205348A true JPS60205348A (ja) 1985-10-16

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ID=24342673

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Application Number Title Priority Date Filing Date
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CA (1) CA1261720A (ja)
DE (1) DE3507385A1 (ja)
FR (1) FR2560685B1 (ja)
GB (2) GB2155184B (ja)
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