JPS60191976U - Ｉｃのテスト信号形成回路 - Google Patents
Ｉｃのテスト信号形成回路Info
- Publication number
- JPS60191976U JPS60191976U JP8127784U JP8127784U JPS60191976U JP S60191976 U JPS60191976 U JP S60191976U JP 8127784 U JP8127784 U JP 8127784U JP 8127784 U JP8127784 U JP 8127784U JP S60191976 U JPS60191976 U JP S60191976U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test signal
- signal
- signal formation
- formation circuit
- Prior art date
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- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は本考案による一実施例を示すブ爾ツク図、第２
図は同実施例を説明するためのタイミングチャートであ
る。 ｌ：ＩＣ出力信号入力端子、２：アナログ電圧変換回路
、３：サンプルホールド回路、４：アナログ加算回路、
５：出力端子。
図は同実施例を説明するためのタイミングチャートであ
る。 ｌ：ＩＣ出力信号入力端子、２：アナログ電圧変換回路
、３：サンプルホールド回路、４：アナログ加算回路、
５：出力端子。
Claims (1)
- ＩＣの良・不良を検査するための信号を形成する回路に
おいて、ＩＣのデジタル出力信号を対応する信号レベル
のアナログ信号に変換する回路と、該変換回路出力をサ
ンプリングして保持するホールド回路と、ホールドされ
たアナログ信号を順次加算してＩＣテスト信号を形成す
るアナログ加算回路とを備えてなることを特徴とするＩ
Ｃのテスト信号形成回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8127784U JPS60191976U (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | Ｉｃのテスト信号形成回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8127784U JPS60191976U (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | Ｉｃのテスト信号形成回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60191976U true JPS60191976U (ja) | 1985-12-19 |
Family
ID=30627912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8127784U Pending JPS60191976U (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | Ｉｃのテスト信号形成回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60191976U (ja) |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP8127784U patent/JPS60191976U/ja active Pending
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