JPS6015529A - 光フアイバ応用計測装置 - Google Patents
光フアイバ応用計測装置Info
- Publication number
- JPS6015529A JPS6015529A JP12347983A JP12347983A JPS6015529A JP S6015529 A JPS6015529 A JP S6015529A JP 12347983 A JP12347983 A JP 12347983A JP 12347983 A JP12347983 A JP 12347983A JP S6015529 A JPS6015529 A JP S6015529A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- wavelengths
- sensors
- dichroic mirror
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 title abstract description 16
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/268—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light using optical fibres
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、複数のセンサを直列に接続することにより
、複数点での計測が同時にできる光フアイバ応用計測装
置に関するものである。
、複数点での計測が同時にできる光フアイバ応用計測装
置に関するものである。
従来、この種の装置として第１図に示すものが提案され
ている。図において、１は波長λ０およびλ１を含む光
を出す光源、２，４は元ファイバ、３はセンサ、５は光
分波器、（ｉａ、６ｂは元ファイバ、７ａ、７ｂは光電
変換装置、３ａ、８ｂはサンプルホールド増幅器、９は
割算器を示す。
ている。図において、１は波長λ０およびλ１を含む光
を出す光源、２，４は元ファイバ、３はセンサ、５は光
分波器、（ｉａ、６ｂは元ファイバ、７ａ、７ｂは光電
変換装置、３ａ、８ｂはサンプルホールド増幅器、９は
割算器を示す。
センサ３は、被測定物理量に応じて光学的基礎吸収端波
長λ、が変化する特性を有し、光温度センサを例にとる
と、λｑは温度上昇とともに長波長側に移行する。した
がってセンサ３のλｑが光源１の出力光の波長λ０およ
びλ１の間にあるような組合せを選択し、波長λＯの元
を参照元、波長λ１の元を信号光として使用することに
より、センサ１部以外の光強度変化を補償できる。たと
えばセンサ３の材料としてＱａＡｓ （室温でのλｑΣ
０．８７ ｍμ）を使用した場合、透過光強度がほぼ一
定の波長λ０の光の光源としてＩｎＧａＡＳＰ系ＬＥＤ
（λ０Σ１．３ｍμ）が、また透過光強度が温度に依
存する波長λ工の光の光源としてａＪＧａＡｓ系ＬＥＤ
（λ１Ｔｈ０．８７ ｍμ）が使用される。
長λ、が変化する特性を有し、光温度センサを例にとる
と、λｑは温度上昇とともに長波長側に移行する。した
がってセンサ３のλｑが光源１の出力光の波長λ０およ
びλ１の間にあるような組合せを選択し、波長λＯの元
を参照元、波長λ１の元を信号光として使用することに
より、センサ１部以外の光強度変化を補償できる。たと
えばセンサ３の材料としてＱａＡｓ （室温でのλｑΣ
０．８７ ｍμ）を使用した場合、透過光強度がほぼ一
定の波長λ０の光の光源としてＩｎＧａＡＳＰ系ＬＥＤ
（λ０Σ１．３ｍμ）が、また透過光強度が温度に依
存する波長λ工の光の光源としてａＪＧａＡｓ系ＬＥＤ
（λ１Ｔｈ０．８７ ｍμ）が使用される。
光源１から光ファイバ２を通り、センサ３を通過した光
は、光ファイバ４を経由して光分波器５に導かれ、この
分波器５によって、波長λ０の光は光ファイバ６ａを経
て光電変換装置７ａに、また波長λｌの元は光ファイバ
６ｂを経て光電変換装置７ｂに分岐され、それぞれ電気
信号に変換される。元ファイバ２，４の曲げＫよる損失
、光源１の出射パワーの変動などによる光量の変化は、
波長λ０およびλ１の元に対してほぼ同様に作用するの
で、光電変換装置７ａ、７ｂの各電気出力信号にもほぼ
同様に現われることとなる。したがって光電変換装置７
ａ＊ｚｂの出力信号をそれぞれ増幅器８ａ、３ｂで増幅
したのち割算器９で割３Ｉｆれば、センサ３の置かれた
点における計測量を正確に知ることができる。
は、光ファイバ４を経由して光分波器５に導かれ、この
分波器５によって、波長λ０の光は光ファイバ６ａを経
て光電変換装置７ａに、また波長λｌの元は光ファイバ
６ｂを経て光電変換装置７ｂに分岐され、それぞれ電気
信号に変換される。元ファイバ２，４の曲げＫよる損失
、光源１の出射パワーの変動などによる光量の変化は、
波長λ０およびλ１の元に対してほぼ同様に作用するの
で、光電変換装置７ａ、７ｂの各電気出力信号にもほぼ
同様に現われることとなる。したがって光電変換装置７
ａ＊ｚｂの出力信号をそれぞれ増幅器８ａ、３ｂで増幅
したのち割算器９で割３Ｉｆれば、センサ３の置かれた
点における計測量を正確に知ることができる。
従来の光フアイバ応用計測装置は以上のように構成され
ているので、使用できるセンナは一つの元ファイバ計測
装置について１個に限られ、複数点での計測を同時に行
うことが必要な場合には、必要数の光フアイバ計測装置
を並設しなければならず、コストの面でも不利となるな
どの欠点があった。
ているので、使用できるセンナは一つの元ファイバ計測
装置について１個に限られ、複数点での計測を同時に行
うことが必要な場合には、必要数の光フアイバ計測装置
を並設しなければならず、コストの面でも不利となるな
どの欠点があった。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、多重スペクトル光源とダイクロ
イックミラーとを用いることにより、同時に複数点での
計測を行うことを可能にした光フアイバ応用計測装置を
提供することを目的としている。
ためになされたもので、多重スペクトル光源とダイクロ
イックミラーとを用いることにより、同時に複数点での
計測を行うことを可能にした光フアイバ応用計測装置を
提供することを目的としている。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第２
図において、１０は３つの波長λ０．λ１゜λ２の光を
時系列に発する光源、２および４は光ファイバ、１１ａ
、１１ｂおよび１１Ｃはダイクロイックミラー、３ａお
よび３ｂはセンサ、１２ａおよび１２ｂは光合波器、７
は光電変換器、８ａｓ８ｂはサンプルホールド増幅器、
９は割算器である。ダイクロイックミラー１１ ａ 、
１１ ｂ 、 ｌｌｃは、それぞれ第４図に示すよう
な反射率特性を有している。
図において、１０は３つの波長λ０．λ１゜λ２の光を
時系列に発する光源、２および４は光ファイバ、１１ａ
、１１ｂおよび１１Ｃはダイクロイックミラー、３ａお
よび３ｂはセンサ、１２ａおよび１２ｂは光合波器、７
は光電変換器、８ａｓ８ｂはサンプルホールド増幅器、
９は割算器である。ダイクロイックミラー１１ ａ 、
１１ ｂ 、 ｌｌｃは、それぞれ第４図に示すよう
な反射率特性を有している。
光源１０には、第３図（ａｌおよび（ｂｌにそれぞれ示
すサンプルタイミング信号Ｓ１およびＳ２が供給され、
一方のサンプルタイミング信号Ｓ１はサンプルホールド
増幅器８ａおよび割算器９に、また他方のサンプルタイ
ミング信号ｓ２はサンプルホールド増幅器８ｂおよび割
算器９にも供給される。
すサンプルタイミング信号Ｓ１およびＳ２が供給され、
一方のサンプルタイミング信号Ｓ１はサンプルホールド
増幅器８ａおよび割算器９に、また他方のサンプルタイ
ミング信号ｓ２はサンプルホールド増幅器８ｂおよび割
算器９にも供給される。
そして光源１０は、サンプルタイミング信号ｓ１゜Ｓ２
に応じて、第３図（ｃｌに示すように、λ０．λ１゜λ
２の各波長の光を順次に時系列に発し、この光が光ファ
イバ２を経由してダイクロイックミラー１１ａ、１１ｂ
、１１ｃに順次に入射する。
に応じて、第３図（ｃｌに示すように、λ０．λ１゜λ
２の各波長の光を順次に時系列に発し、この光が光ファ
イバ２を経由してダイクロイックミラー１１ａ、１１ｂ
、１１ｃに順次に入射する。
ここで「ダイクロイックミラー」とは、ガラス板上に非
吸収の屈折率の高い物質と低い物質を交互に真空蒸着し
たもので、光の干渉で特定の波長域の光だけを反射し、
他の波長域の光を透過する性質を有するミラーを指す。
吸収の屈折率の高い物質と低い物質を交互に真空蒸着し
たもので、光の干渉で特定の波長域の光だけを反射し、
他の波長域の光を透過する性質を有するミラーを指す。
屈折率の高い物質と低い物質の膜の厚さおよび層数を適
当に選定することにより、反射する光の波長を任意に変
更することができる。
当に選定することにより、反射する光の波長を任意に変
更することができる。
第１のメイクロイツクミラー１１ａは、波長λ０の光だ
けを反射し、波長λ１およびλ２の元をそのまま透過さ
せる特性を有する。このダイクロイックミラー１１１で
反射した波長λ０の光は、光合波器１２ａおよび１２ｂ
を順次に通過したのち、光ファイバ４を経由して光電、
変換器Ｔに導かれる。
けを反射し、波長λ１およびλ２の元をそのまま透過さ
せる特性を有する。このダイクロイックミラー１１１で
反射した波長λ０の光は、光合波器１２ａおよび１２ｂ
を順次に通過したのち、光ファイバ４を経由して光電、
変換器Ｔに導かれる。
また第２のダイクロイックミラー１１ｂでは、第１のダ
イクロイックミラー１１ａを透過した波長λ１およびλ
２の党のうち、波長λ１の光だけが −反射し、この光
は、第１のセンサ３ａを透過したのち光合波器１２ａに
導かれる。同様に第３のダイクロイックミラー１１Ｃで
は波長λ２の光が反射し、この光は第２のセンサ３ｂを
透過したのち第２の光合波器１２ｂに導かれる。センサ
３ａおよび３ｂは、前述のように計測物理量に応じて特
定波長の光の透過率が変化する性質を有するので。
イクロイックミラー１１ａを透過した波長λ１およびλ
２の党のうち、波長λ１の光だけが −反射し、この光
は、第１のセンサ３ａを透過したのち光合波器１２ａに
導かれる。同様に第３のダイクロイックミラー１１Ｃで
は波長λ２の光が反射し、この光は第２のセンサ３ｂを
透過したのち第２の光合波器１２ｂに導かれる。センサ
３ａおよび３ｂは、前述のように計測物理量に応じて特
定波長の光の透過率が変化する性質を有するので。
光電変換器１に入射する波長λＯ・λ工・λ２の元のう
ち、波長λ１およびλ２の光の強度が各センサ３ａおよ
び３ｂにおける計測物理量を示していることになり、光
電変換器７の出力信号はたとえば第３図（ｄｌのような
波形を有する。
ち、波長λ１およびλ２の光の強度が各センサ３ａおよ
び３ｂにおける計測物理量を示していることになり、光
電変換器７の出力信号はたとえば第３図（ｄｌのような
波形を有する。
光電変換器７の出力信号は、サンプルホールド増幅器８
ａにおいて、サンプルタイミング信号Ｓ１にしたがって
サンプルホールドされ、したがってサンプルホールド増
幅器８ａの出力として、参照波長λ０の光の強度に比例
した第３図（ｅｌに示すような信号が得られる。また他
方のサンプルホールド回路８ｂにおいては、光電変換器
１の出力信号がサンプルタイミング信号Ｓ２にしたがっ
てサンプルホールドされるので、波長λ１およびλ２の
光の強度にそれぞれ対応したレベルで交互に変化する第
３図（ｆ）のような信号が出力される。この２つの信号
ｔｅｌおよび（ｆｌは、割算器９で割算され、第３図（
ｇｌのような信号が得られる。この信号（ｇ）は、光源
１１の出力低下などの要因による変動の影響が除去され
た信頼性の高いものである。
ａにおいて、サンプルタイミング信号Ｓ１にしたがって
サンプルホールドされ、したがってサンプルホールド増
幅器８ａの出力として、参照波長λ０の光の強度に比例
した第３図（ｅｌに示すような信号が得られる。また他
方のサンプルホールド回路８ｂにおいては、光電変換器
１の出力信号がサンプルタイミング信号Ｓ２にしたがっ
てサンプルホールドされるので、波長λ１およびλ２の
光の強度にそれぞれ対応したレベルで交互に変化する第
３図（ｆ）のような信号が出力される。この２つの信号
ｔｅｌおよび（ｆｌは、割算器９で割算され、第３図（
ｇｌのような信号が得られる。この信号（ｇ）は、光源
１１の出力低下などの要因による変動の影響が除去され
た信頼性の高いものである。
第５図はこの発明の他の実施例を示すもので、光源１３
は、第６図（ａｌに示すような波形のタイミング信号Ｓ
にしたがって、３つの波長λ０ 、λＩｔλ２の光を時
間的に同時に発する。この光は、第２図の場合と同様に
、ダイクロイックミラー１１ａ。
は、第６図（ａｌに示すような波形のタイミング信号Ｓ
にしたがって、３つの波長λ０ 、λＩｔλ２の光を時
間的に同時に発する。この光は、第２図の場合と同様に
、ダイクロイックミラー１１ａ。
１１ｂ、ｌｌｃを経てセンサ３ａおよび３ｂに導かれ、
□光合波器１２ａ、１２ｂを経由して光分波器１４に導
かれ、ここでそれぞれの波長を有する３つの光に分波さ
れる。分波された３つの光は、つぎの光電変換器１５で
個々に電気信号に変換されて、たとえば第６図（ｂ）
、 （Ｃ） 、 （ｄｌにそれぞれ示すような波形の出
力となり、その各々がサンプルホールド増幅器１６でサ
ンプルホールドされる。波長λ１およびλ２にそれぞれ
対応する信号は、タイミング信号Ｓに同期して動作する
マルチプレクサ１７で交互に選択され、割算器９に供給
される。
□光合波器１２ａ、１２ｂを経由して光分波器１４に導
かれ、ここでそれぞれの波長を有する３つの光に分波さ
れる。分波された３つの光は、つぎの光電変換器１５で
個々に電気信号に変換されて、たとえば第６図（ｂ）
、 （Ｃ） 、 （ｄｌにそれぞれ示すような波形の出
力となり、その各々がサンプルホールド増幅器１６でサ
ンプルホールドされる。波長λ１およびλ２にそれぞれ
対応する信号は、タイミング信号Ｓに同期して動作する
マルチプレクサ１７で交互に選択され、割算器９に供給
される。
この割算器９には、サンプルホールド増幅器１６から波
長λ０の光に対応する信号が供給され、したがってタイ
ミング信号Ｓに同期した割算動作により、第６図（ｅｌ
に示すように、センサ３ａおよび３ｂの計測物理量を交
互に示すｉ号が得られる。
長λ０の光に対応する信号が供給され、したがってタイ
ミング信号Ｓに同期した割算動作により、第６図（ｅｌ
に示すように、センサ３ａおよび３ｂの計測物理量を交
互に示すｉ号が得られる。
なお上記の各実施例では、２つのセンサを用いた場合を
示したが、３個以上のセンサを設けることもできる。
示したが、３個以上のセンサを設けることもできる。
以上のようにこの発明によれば、多重スペクトル光源か
らの光をダイクロイックミラーにより個々の波長の元に
分波し、各波長の元をセンサで計ｌｌ１ｌ ｑｇ０物理
量に応じて減衰させたのち、センサを通らない光を参照
元として用いて計測結果を補正するよう、にしたので、
複数のセンナでの計測を同時に行うことが可能となる。
らの光をダイクロイックミラーにより個々の波長の元に
分波し、各波長の元をセンサで計ｌｌ１ｌ ｑｇ０物理
量に応じて減衰させたのち、センサを通らない光を参照
元として用いて計測結果を補正するよう、にしたので、
複数のセンナでの計測を同時に行うことが可能となる。
また得られた計測結果が、元ファイバの曲げによる損失
、あるいは光源の出射パワーの変動などの影響を受ける
ことはなく、きわめて精度の高い計測値が得られる効果
がある。
、あるいは光源の出射パワーの変動などの影響を受ける
ことはなく、きわめて精度の高い計測値が得られる効果
がある。
第１図は従来の光フアイバ応用計測装置の構成１を示す
ブロック図、第２図はこの発明の一実施例による元ファ
イバ応用計測装置の構成を示すブロック図、Ｋ３図は第
２図の各部における信号のタイミングチャート、第４図
は各ダイクロインクミラーの透過率特性図、第５図はこ
の発明の他の実施例を示すブロック図、第６図は第５図
の各部における信号のタイミングチャートである。 ２．４・・・光ファ、ｆバ、３ａ、８ｂ・・・センサ、
７・・・光電変換器、８ａ、８ｂ・・・サンプルホール
ド増幅器、９・・・割算器、１θ・・・光源、ｌｌａ、
ｌｌｂ。 １１ｃ・・・ダイクロイックミラー、１２ａ、１２ｂ・
・・光合波器、１８・・・光源、１４・・・光分波器、
１５・・・光電変換器、１６・・・サンプルホールド増
幅器、１７・・・マルチプレクサ。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 出願人 工業技術院長 川田裕部 箇１図 第２図 第 ３ 図 （ｅ） 第４図 波長−〉
ブロック図、第２図はこの発明の一実施例による元ファ
イバ応用計測装置の構成を示すブロック図、Ｋ３図は第
２図の各部における信号のタイミングチャート、第４図
は各ダイクロインクミラーの透過率特性図、第５図はこ
の発明の他の実施例を示すブロック図、第６図は第５図
の各部における信号のタイミングチャートである。 ２．４・・・光ファ、ｆバ、３ａ、８ｂ・・・センサ、
７・・・光電変換器、８ａ、８ｂ・・・サンプルホール
ド増幅器、９・・・割算器、１θ・・・光源、ｌｌａ、
ｌｌｂ。 １１ｃ・・・ダイクロイックミラー、１２ａ、１２ｂ・
・・光合波器、１８・・・光源、１４・・・光分波器、
１５・・・光電変換器、１６・・・サンプルホールド増
幅器、１７・・・マルチプレクサ。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 出願人 工業技術院長 川田裕部 箇１図 第２図 第 ３ 図 （ｅ） 第４図 波長−〉
Claims (1)
- 反射する光の波長が相互に異なる複数のダイクロイック
ミラーと、各ダイクロイックミラーの反射光の各波長を
含む複数の波長の光を発する光源と、この光源からの元
を上記ダイクロイックミラーに順次に導く光ファイバと
、第１のダイクロイックミラー以外の各ダイクロイック
ミラーからの反射光をそれぞれ受け、この光を計測物理
量に応じて減衰させる複数のセンサと、元ファイバを通
して導かれた上記第１のダイクロイックミラーの反射光
および上記各センサの透過光の強度を各波長ごとに電気
信号に変換する光電変換器と、との光電変換器の各波長
ごとの出力信号レベルをサンプルホールドするサンプル
ホールド増幅器と、このサンプルホールド増幅器の出力
のうち、上記各センサを透過した光の各々に対応する出
力を、上記第１のダイクロイックミラーで反射したｉＫ
対応する出力で割算する割算器とを備えた元ファイバ応
用計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12347983A JPS6015529A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | 光フアイバ応用計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12347983A JPS6015529A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | 光フアイバ応用計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6015529A true JPS6015529A (ja) | 1985-01-26 |
| JPH0429969B2 JPH0429969B2 (ja) | 1992-05-20 |
Family
ID=14861647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12347983A Granted JPS6015529A (ja) | 1983-07-08 | 1983-07-08 | 光フアイバ応用計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6015529A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5685823A (en) * | 1994-03-30 | 1997-11-11 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | End structure of endoscope |
| US5733244A (en) * | 1995-03-13 | 1998-03-31 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Distal end part of endoscope |
-
1983
- 1983-07-08 JP JP12347983A patent/JPS6015529A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5685823A (en) * | 1994-03-30 | 1997-11-11 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | End structure of endoscope |
| US5733244A (en) * | 1995-03-13 | 1998-03-31 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Distal end part of endoscope |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0429969B2 (ja) | 1992-05-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7060967B2 (en) | Optical wavelength interrogator | |
| US6335524B1 (en) | High speed demodulation systems for fiber optic grating sensors | |
| US4428239A (en) | Differential pressure measuring apparatus | |
| JP2716207B2 (ja) | 干渉計センサ及び干渉計装置における該センサの使用 | |
| US6137565A (en) | Bragg grating temperature/strain fiber sensor having combination interferometer/spectrometer output arrangement | |
| EP0604582A1 (en) | Dual-wavelength photometer and fiber optic sensor probe | |
| CN102661755A (zh) | 基于光纤布拉格光栅的可扩展分布式传感系统 | |
| CN101881634A (zh) | 基于awg的高速多通道光纤光栅传感解调系统及方法 | |
| US6573489B1 (en) | Passive, temperature compensated techniques for tunable filter calibration in bragg-grating interrogation systems | |
| US4430565A (en) | Correlating fiber optical measuring device | |
| CN105806374A (zh) | 一种光纤光栅波长的解调方法 | |
| GB2086572A (en) | Differential pressure measuring apparatus | |
| CN111381199A (zh) | 一种脉冲强磁场光学测量系统及方法 | |
| JPS6015529A (ja) | 光フアイバ応用計測装置 | |
| EP0735350B1 (en) | Spectroscope comprising an optical fibre branching | |
| US20150362386A1 (en) | Fiber optic sensor system and method | |
| JPS58132637A (ja) | 光フアイバを用いた圧力計測装置 | |
| US6270254B1 (en) | Extended range fiber-optic temperature sensor | |
| US6424420B1 (en) | Measuring device for arrayed-waveguide diffraction grating | |
| RU81574U1 (ru) | Волоконно-оптическая измерительная система (варианты) | |
| JPS6015530A (ja) | 光フアイバ応用計測装置 | |
| Meltz et al. | Multi-wavelength twin-core fiber optic sensors | |
| JPS599526A (ja) | 温度測定装置 | |
| US11781888B2 (en) | Reflected light wavelength scanning device including silicon photonics interrogator | |
| JPS625605Y2 (ja) |