JPS60146657A - Clamp copying mathod - Google Patents

Clamp copying mathod

Info

Publication number
JPS60146657A
JPS60146657A JP24570683A JP24570683A JPS60146657A JP S60146657 A JPS60146657 A JP S60146657A JP 24570683 A JP24570683 A JP 24570683A JP 24570683 A JP24570683 A JP 24570683A JP S60146657 A JPS60146657 A JP S60146657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clamp
tracer head
clamp level
level
tracing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24570683A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hajime Kishi
甫 岸
Mitsuo Matsui
光夫 松井
Hitoshi Matsuura
仁 松浦
Hiroshi Sakurai
寛 桜井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
Priority to JP24570683A priority Critical patent/JPS60146657A/en
Publication of JPS60146657A publication Critical patent/JPS60146657A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q35/00Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually
    • B23Q35/04Control systems or devices for copying directly from a pattern or a master model; Devices for use in copying manually using a feeler or the like travelling along the outline of the pattern, model or drawing; Feelers, patterns, or models therefor
    • B23Q35/08Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work
    • B23Q35/12Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means
    • B23Q35/121Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using mechanical sensing
    • B23Q35/123Means for transforming movement of the feeler or the like into feed movement of tool or work involving electrical means using mechanical sensing the feeler varying the impedance in a circuit

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Machine Tool Copy Controls (AREA)

Abstract

PURPOSE:To permit continuous working when portions exist which do not need copying, by stopping the feed of a tracer head when it reaches a clamp copying neglecting territory on a first clamp level and performing working with the level of a second clamp level. CONSTITUTION:A tracer head moves in the direction of +X with clamp feed speed Vc on first clamp level LCZP. When it reaches a first border line LCXN of clamp copying neglecting territory NCT, the count value N of a counter 108a becomes 3, the clamp feed of the tracer head in the direction of X axis is completed, and instead, the clamp is fed in the direction of Z axis. Next, when the tracer head descends and contacts a model MDL, said count value N becomes 4, the clamp feed in the direction of -Z axis is completed and the normal copying in the direction of surface 1 is executed. When the tracer head reaches a second clamp level LCZN, said value N becomes 5 and the copying in the direction of surface 1 is sompleted so that the tracer head is fed on a second clamp level in the direction of +X.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〈産業上の利用分野〉 本発明はトレーサヘッドが予め定められ・たクランプレ
ベルに到達した時、ならい加工を中断し、しかる後クラ
ンプレベルに沿ってトレーサヘッドを移動させ、該トレ
ーサヘッドがモデルに接触した時再びならい加工を再開
するクランプならい方法に関する。 〈従来技術〉 ならい方法としてクランプならいと叶ばれるならい方法
がある。このクランプならい方法は、第1図を参照する
と予めクランプレベルLCZを設定しておき、トレーサ
ヘッドTCが該クランプレベルに到達した時ならいを一
時的に中断し、該クランプレベル上をトレーサヘッドを
して移動させ(クランプ送りという)、該トレーサヘッ
ドがモデルMDLと接触後頁びならいを行う方法であり
、クランプレベルより下の部分についてならい加工を行
う必要がない場合、あるいは加工量が過大になるのを防
止するために順次クランプレベルを下げて加工する場合
(クランプならいサイクルという)などに適用して有効
であ/)、。 〈従来技術の欠点〉 ところで、ある領域ではクランプならいより下の部分に
ついてはならい加工を行う必要がなく、他の領域では該
クランプレベルよ、り下の部分についてならい加工をし
たい場合−がある。第2図を参照すると、領域AI、A
2ではクラ・ンブレベルLCZより下の部分についてな
らい加工が不要であるが、領域A3においてクランプレ
ベルLCZより下の部分についてならい加工が必要な場
合である。 又、ある領域ではクランプレベルより下の部分について
はならい加工を行う必要がなく、他の領域ではクランプ
レベルと該クランプレベルより下方のレベルLCZ’間
部分でならい加工を行う必要があり、更に別の領域では
上記レベルL CZ、’より下の部分についてはならい
加工を行う必要がない場合もある。第3図を参照すると
、領域AI、A2ではクランプレベルLCZより下の部
分についてならい加工が不要であり、クランプレベルL
CZと下方のレベルLCZ’間の領域A3、A4の部分
ではならい加工が必要であり、レベルLCZ′より下方
の領域A5ではならい加工が不要の場合である。 しかし、従来のクランプならい方法では、トレーサヘッ
ドTCが矢印方向にクランプレベルLCZ上をモデルM
DLに接触するまでクランプ送りされるため、領域A3
(第2図)、領域A3、A4(第3図)においてならい
加工を行うことができなかった。このため、第、、、、
2図の場合ではクランプレベルLCZより上の部分につ
いてならい加工を実行した後、領域A3のならい加工を
行うという手順をとらざるをえない。又、第3図の場合
では、クランプレベルLCZより上の部分についてクラ
ンプならい加工を実行した後、クランプレベルをレベル
LCZ’に設定して領域A3、A4のクランプならい加
工を行うという手順をとらざるをえなかった。このため
、従来のクランプならい方法では第2図、第3図の加工
を2度手四で行うことになり、加工効率の低下をきtこ
している。 〈発明の目的〉 本発明の目的は、クランプレベルとして第1、第2の2
つのクランプレベルを設けろと供に、第1クランプレベ
ルに基づいたクランプならい無視領域を設定し、トレー
サヘッドが第1クランプレベル上を移動中に該クランプ
ならい無視領域に到達したとき第1クランプレベル上で
のクランプ送りを停止し、該クランプならい無視領域に
おいてクランプレベルを第2クランプレベルとするクラ
ンプならい加工を行って、第3図の領域A3、A4にお
けるならい加工を行うクランプならい方法を提供するこ
とである。 〈発明の概要〉 第4図は本発明の概略説明図である。本発明においては
クランプレベルとして第1のクランプレベルLCZPと
、第1のクランプレベルより下方の第2のクランプレベ
ルLCZNを設定すると共に、第1クランプレベルに基
づいたクランプならい無視領域N C’ T (L C
X N −L CX P )を設定し、トレーサヘッド
TCが第1クランプレベルL7C22上を移動中クラン
プレベル無視領域NCTに到達したかどうかを監視し、
トレーサヘッドがクランプならい無視領域NCTに到達
したとき、第1クランプレベル上の移動を停止、しかる
後トレーサヘッドを第1クランプレベルを越えてモデル
方向に下降させ、モデルMDLに接触徒弟2クランプレ
ベルに到達する迄該トレーサヘッドをモデルに沿って移
動させ、トレーサヘッドが第2クランプレベル上を移動
中にモデルと接触した時には、以後クランプならい無視
領域NCTの境界LCXPに到達する迄トレーサヘッド
をモデルに沿って移動させてならい加工を行い、トレー
サヘッドが該境界LCXPに到達しtことき、モデルに
箔ったトレーサヘッドの移動を停止し、しかる後トレー
サヘッドを第1クランプレベルLCZP迄上昇させ、第
1クランプレベルに到達後トレーサヘッドをして第1ク
ランプレベル上を移動させる。 〈実施例〉 第5図は本発明を適用できる工作機械の構成図であり、
テーブルTBLをX軸方向に駆動するX軸のモータXM
と、トレーサヘッドTC及びカッタヘッドC1’が装着
されたコラムCLMをZ軸方向に駆動するZ軸のモータ
ZMと、テーブルTBLAY軸方向に動かすY軸のモー
タYMと、X軸モータXMが所定量回転する毎に1個の
パルスPXを発生するパルス発生IPGXと、Z軸モー
タZMが所定量回転する毎に1個のパルスPzを発生ず
るパルス発生@PGZと、Y軸モータYMが所定量回転
する毎に1個のパルスpyを発生するパルス発生型PG
Yが設けられている。テーブルTBLにはモデルMDL
とワークWKどが固定され、トレーサヘッドTCはモデ
ルMDLの表面に当接してならい、カッタヘッドCTは
ワークWKにモデル形状通りの加工を施す。トレーサヘ
ッドTCは周知の如く、モデルMDLの表面のxSy。 Z各軸の変位εx1εy1εZを検出する構成のもので
あり、トレーサヘッドTCにより検出された各軸方向変
位はならい制御装置TCCに入力さ 7れ、ここで周知
のならい演算が行われて各軸方向の速度成分が発生する
。たとえば、ならいとしてx−Z面における表面往復な
らいを考えると往路のならいにおいて速度成分Vx、V
zが発生し、これら
<Industrial Application Field> The present invention interrupts the profiling process when the tracer head reaches a predetermined clamp level, and then moves the tracer head along the clamp level, so that the tracer head becomes a model. This invention relates to a clamp profiling method that restarts profiling when contact occurs. <Prior art> There is a tracing method that can be achieved by using a clamp. In this clamp tracing method, as shown in Fig. 1, a clamp level LCZ is set in advance, and when the tracer head TC reaches the clamp level, tracing is temporarily interrupted, and the tracer head is moved above the clamp level. This is a method in which the tracer head moves the model MDL by moving it (called clamp feeding) and traces the page after it comes into contact with the model MDL, and there is no need to trace the part below the clamp level, or the amount of machining is excessive. It is effective when applied to processes where the clamp level is sequentially lowered to prevent this (called a clamp tracing cycle). <Disadvantages of the Prior Art> Incidentally, there are cases in which it is not necessary to perform profiling on a portion below the clamp level in a certain area, and it is desired to perform profiling on a portion below the clamp level in another area. Referring to FIG. 2, areas AI, A
In case 2, tracing machining is not required for the portion below the clamp level LCZ, but tracing machining is necessary for the portion below the clamp level LCZ in area A3. Also, in some areas, it is not necessary to perform profile machining on the part below the clamp level, and in other areas, it is necessary to perform profile machining on the part between the clamp level and the level LCZ' below the clamp level. In the area below, it may not be necessary to carry out profile machining for the portion below the level LCZ,'. Referring to FIG. 3, in areas AI and A2, tracing machining is not required for the portions below the clamp level LCZ, and the clamp level L
This is a case in which profiling is required in areas A3 and A4 between CZ and the lower level LCZ', and profiling is not required in area A5 below level LCZ'. However, in the conventional clamp tracing method, the tracer head TC traces the model M on the clamp level LCZ in the direction of the arrow.
Since the clamp feed is carried out until it touches DL, area A3
(Fig. 2), areas A3 and A4 (Fig. 3) could not be patterned. For this reason, the first...
In the case of FIG. 2, it is necessary to follow the procedure of performing tracing machining on the portion above the clamp level LCZ and then performing tracing machining on area A3. In addition, in the case of Fig. 3, it is necessary to perform clamp pattern machining on the portion above the clamp level LCZ, and then set the clamp level to level LCZ' and perform clamp pattern machining on areas A3 and A4. I couldn't get it. For this reason, in the conventional clamp tracing method, the machining shown in FIGS. 2 and 3 must be performed twice by hand, resulting in a decrease in machining efficiency. <Object of the invention> The object of the invention is to
At the same time, a clamp tracing ignore area is set based on the first clamp level, and when the tracer head reaches the clamp tracing ignoring area while moving on the first clamp level, the tracer head reaches the clamp tracing ignoring area based on the first clamp level. To provide a clamp tracing method for performing clamp tracing machining in areas A3 and A4 in FIG. 3 by stopping clamp feeding at and performing clamp tracing machining in which the clamp level is set to a second clamp level in the clamp tracing ignored area. It is. <Summary of the Invention> FIG. 4 is a schematic explanatory diagram of the present invention. In the present invention, a first clamp level LCZP and a second clamp level LCZN lower than the first clamp level are set as clamp levels, and a clamp non-compliance ignoring area N C' T ( L C
X N -L CX P ), and monitor whether the tracer head TC has reached the clamp level ignoring region NCT while moving on the first clamp level L7C22,
When the tracer head reaches the clamp ignoring area NCT, it stops moving above the first clamp level, and then the tracer head is lowered toward the model beyond the first clamp level, and comes into contact with the model MDL to reach the apprentice 2 clamp level. When the tracer head comes into contact with the model while moving on the second clamp level, the tracer head is moved along the model until it reaches the boundary LCXP of the ignored area NCT following the clamp level. When the tracer head reaches the boundary LCXP, the movement of the tracer head foiled on the model is stopped, and then the tracer head is raised to the first clamp level LCZP, After reaching the first clamp level, the tracer head is moved over the first clamp level. <Example> FIG. 5 is a configuration diagram of a machine tool to which the present invention can be applied.
X-axis motor XM that drives table TBL in the X-axis direction
, a Z-axis motor ZM that drives the column CLM on which the tracer head TC and cutter head C1' are attached in the Z-axis direction, a Y-axis motor YM that moves the table TBLAY in the axial direction, and an X-axis motor XM that moves the column CLM by a predetermined amount. Pulse generation IPGX generates one pulse PX every time the Z-axis motor ZM rotates by a predetermined amount, pulse generation @PGZ generates one pulse Pz every time the Z-axis motor ZM rotates by a predetermined amount, and the Y-axis motor YM rotates by a predetermined amount. Pulse generation type PG that generates one pulse py every time
Y is provided. Model MDL on table TBL
and the workpiece WK are fixed, the tracer head TC contacts and follows the surface of the model MDL, and the cutter head CT processes the workpiece WK according to the model shape. As is well known, tracer head TC is xSy on the surface of model MDL. It is configured to detect the displacement εx1εy1εZ of each Z axis, and the displacement in each axial direction detected by the tracer head TC is input to the tracing control device TCC, where a well-known tracing calculation is performed to calculate the displacement in each axial direction. A velocity component of is generated. For example, if we consider surface reciprocating tracing in the x-Z plane as tracing, velocity components Vx, V
z occurs and these

【よそれぞれサーボ回路svx、s
vzを介してX軸及びY軸のモータMXSMZに入力さ
れ、これら各軸モータXM、ZMを回転させる。この結
果、カッタヘッドCTがワークWKに対して相対的に移
動して、該ワークにモデル形状通りの加工が施され、又
トレーサヘッドTCはモデルMDLの表面をならうこと
になる。 又、各パルス発生ill P G X 、 P G Z
 1P G Y カら発生ずるパルスPx、Pz、Py
はならい制御装置TCC内の図示しない各軸現在位置レ
ジスタに入力される。各軸現在位置レジスタはパルスP
x、Py、Pzが入力されれば移動方向に応じてその内
容をカウントアツプあるいはカウントダウンする。そし
て、X軸方向の現在位[Xaがならい領域AR(第4図
参照)の第1境界線xL1のX座標値X、に等しくなれ
ばならい制御値[TCCはならい平面をY−Z面として
速度成分vy、v2を発生ずる。速度成分vyはサーボ
回路SVYに入力されこの結果、テーブルTBLはY軸
方向に移動しY−Z平面における表面ならいが行われる
。Y軸方向へのテーブルTBLの移動量が予め設定され
ているピックフィード量Pに等しくなれば、ならい制御
装置TCCは以後ならい平面をX−2面として速度成分
−V x 1V zを発生し、X軸の現在位置がならい
領域の第2境界線XL2のX座標値x2に等しくなる迄
復路のならいが行オ)れる。以後、ピックフィード、往
路の表面ならい、ピックフィード、復路の表面ならいを
繰り返し、Y軸方向現在位置がY軸方向のならい領域境
界点に到達すれば表面往復ならいが終了する。 第6図は本発明にかかるクランプならい方法を実現する
ならい制御装置のブロック図である。乙のならい制御装
置は変位合成回路101、加算回W1.102、速度信
号演算回路103.104、方向割出回路105、各軸
速度演算回路106、クランプ送り速度発生回@10.
7、分配回i1!19108、各軸の現在位置レジスタ
109X、109Y、109Z1位置監視回路110、
比較回路111、アプローチ送り速度発生回路112、
操作パネル113を有している。 変位合成回路101はトレーサヘッドTC(第5図参照
)から出力される各軸変位εX、εy。 εZを用いて次式 %式%(1) の演算を行って合成変位量εを発生しミ加算回路102
は合成変位量εをと基準変位量ε0との差分Δε(−ε
−ε0)を演算して速度信号演算回路】03.104に
入力する。速度信号演算回路103は差分△εがOのと
き指令されたならい速度Fを有する速度信号VTを出力
し、かつΔCや0のとき差分に反比例した速度信号v 
’rを出力する(第7図参照)。速度信号回路回910
4は差分Δεに比例した速度信号VN(第7図参照)を
出力する。方向割出回路105はX軸方向とZ軸方向の
変位信号tX、tZを用いて次式6式%(2) (3) により変位方向信号sinθ、cosθを演算する。各
軸速度演算回gl!106は速度信号VT、VNと変位
方向信号sinθ、cosθを用いて、次式6式%(4
) (5) により軸方向の速度信号発生Va、Vbを発生ずる。ク
ランプ送り速度信号回路107は指令されたクランプ送
り速度Fcに応じたクランプ速度信号Vcを発生ずる。 分配回路108はならい方式、ならい平面、ならい方向
、ビックフィード方向などのデータDT並びに第1、第
2クランプレベルLCZP、LCZN (第4図参照)
に到達したかどうか、クランプならい無視領域NCTの
第1、第2境界線LCXN、LCXPに到達したかどう
か等に基づいてVa、Vb、Vcを各軸に分配ずろもの
て、X−Z平面における表面1方向ならいであれば、(
al クランプレベルLCZ到達前のならい動作時には
VaをX軸送り速度Vxとし、又vbをZ輸送り速度V
zとして出力し、fblトレーサヘッドTCが第1クラ
ンプレベルLCZP(第4図参照)に到達すればV z
 = 0とすると共に、クランプ速度信号VcltX輸
送り速度Vxとして出力する。又、分配回路108は、
((+1第1クランプレベル上をクランプ送り中にトレ
ーサヘッドTCがクランプならい無視領域NCTの第1
境界線L CX N ニ到達すれば、Vx=Vy=0と
すると共に、クランプ速度信号−VcをZ輸送り速度V
zとして出力し、(dl l・レーサヘッド′rCがV
zにより下降してモデルMDLと接触すれば以後第2ク
ランプレベルLCZNにトレーサヘッドが到達する迄で
VaIeX軸送り速輸送xとし、vbiez軸送り速輸
送zとして出力し、(el )レーサヘッドが第2クラ
ンプレベルLCZNに到達すればyz=vy=oとする
と共にクランプ送り速度45号Ver!!X軸輸送速度
Vxとして出力し、(fl第2クランプレベル上を移動
中にトレーサヘッドがモデルMDLと接触すれば、以後
クランプならい無視領域NCTの第2境界線LCXPに
到達する迄でVaをX軸送り速度Vxとし、VzをZ輸
送り速度Vzとして出力しfgl第2境界線LCXP到
達後はV x = Oとすると共にクランプ速度信号V
cをZ輸送り速度Vzとして出力し、(h)トレーサヘ
ッドがVzにより上昇して第1クランプレベルに到達す
れば以後(b)と同様にクランプ送り速度VcttX軸
送り速輸送xとして出力し、(i)l−レーサヘッドが
第1クランプレベルLCZPを移動中にモデルと接触す
れば、VaをX軸送り速度Vx、VbをZ輸送り速度V
zとして出力する。尚、分配口18108はビックフィ
ード時にはValeY軸送り速輸送し、VbieZ軸送
り速輸送zとしてそれぞれ出力し、アプローチ時にはア
プローチ送り速度信号発生器112から発生ずるアプロ
ーチ速度−VapieZ軸送り速度輸送て出力する。 位置監視回路110は各軸現在位置Xa、Ya、Zaと
それぞれ操作パネル113から設定された数値とを比較
し、一致すれば信号T D E Nを発生ずる。尚、位
置監視回路110には、ならい領域ARを特定するX軸
方向(おくり方向)の2つの境界線xL1、xL2のx
軸座標値X3、X2、ならい領域を特定するY軸方向(
ビックフィード方向)の終点のY軸座標値y、、ビック
フィード量P1Z軸方向(ならい方向)の第1、第2ク
ランプレベルLCZP、LCZNのZ軸座標値z、、 
z2、クランプならい無視領域NCTの2つの境界線L
CXN1LCXP17)X軸座標値口、x4カ入力され
ている。そして、ならい動作時位置監視回#2+110
は、(II)トレーサヘッドTCが第1クランプレベル
LCZPに到達(Za=z、)したかどうか、(b)ト
レーサヘッドT Cがクランプならい無視領域NCTの
第1境界線LCXNに到達(Xa=x3)I、たかどう
か、(C)トレーサヘッドTCが第2クランプレベルL
CZNに到達(Za=z2)シたかどうか、(d)トレ
ーサヘッドT Cがクランプならい無視領域NCTの第
2境界線LCxpに到3!(X a =、x4) した
かどうか、(e)トレーサヘッドT Cがならい領域A
Rの第1境界線X’LIに到達(Xa=x、l シたか
どうか、(f)トレーサヘッドが早送りでならい開始点
へ戻されているときならい領域ARの第2境界線XL2
に到達(Xa=x、)したかどうか□、(g)ピックフ
ィードが完了したかどうか(Y軸方向移動量=p)を監
視し、(a)〜(g)が満たされたときに信号TDEN
を発生する。 比較回路111はアプローチ時及びクランプ送り時に合
成変位量εが予め設定されている値εaより大きくなっ
たとき接触信号CDENを出力する。 第8図は分配回路108のブロック図であり、比較回l
l8111から出力される接触信号CD’ E’ Nと
、位置監視回路110から出力される信号TDENを計
数するシーケンスカウンタ108aと、シーケンスカウ
ンタ108aの計数値をデコードするデコーダ108b
と、デコード結果及びデーj D T lc基ツイテV
 a 、 V b 、 V c 、 V a p ヲ各
軸にV x 、 V y 、 V zとして分配するア
ナログゲート回11f1108 cを有している。尚、
シーケンスカウンタ108aの計数値をNとすると、N
’= 1 1のとき第1クランプレベルLCZPに向か
う表面1方向ならい動作が、N−2のときは第1クラン
プレベル上をクランプならい無視領域NCTの第1境界
@LCXN迄移動するクランプ送り動作が、N=3のと
きはクランプならい無視領域NCTの第1境界線LCX
Nにおいて−Z軸方向にトレーサヘッドを下降させるク
ランプ送り動作が、N=4のときは第2クランプレベル
LCZNへ向かう表面1方向ならい動作が、N=5のと
きは第2クランプレベル上をモデルに接触する迄移動す
るクランプ送り動作が、N=6のときはクランプならい
無視領域NCTの第2境界!31LcXPに向かう表面
1方向ならい動作が、N−7のときは第2境界111L
cXPにおいて+Z軸方向にトレーサヘッドを第1クラ
ンプレベル迄上昇させるクランプ送り動作が、N=8の
ときは第1クランiレベル上でトレーサヘッドを+X方
向に移動させるクランプ送り動作が、N=9のときはな
らい領域ARの第1境界#IXLIに向かう表面1方向
ならい動作が、N=10のときはトレーサヘッドを早送
りでならい開始点に戻す戻し動作が、N=11のときは
アプローチ動作が、N=12のときはピックフィード動
作が実行される。 さて、各種ならい条件データ、第1、第2クランプレベ
ル、ならい領域データ、クランプならい無視領域NCT
を特定するデータなどを操作パネル113において設定
後、起動をかければトレーサヘッドTCはモデルMDL
に向かってアプローチを開始する。尚、初期時アプロー
チ速度−VapがZ輸送り速度Vzとして分配回路10
Bから出力される。トレーサヘッドがモデルに接触すれ
ば該トレーサヘッドから各軸方向の変位量εX、εy1
ε2が発生ずる。変位合成凹路101は(1)式の演算
を行って合成変位1Cte演算し、加算回4102は合
成変位量と基準変位量との差分Δεを演算し、方向割出
回路105は変位方向信号cosθ、sinθを演算す
る。速度信号演算回路103は設定されたならい送り速
度Fと差分ΔCに応じた速度信号VTを出力し、又速度
信号演算回9104は速度信号VNを出力し、各軸速度
演算回路106は(4)、+51式により速度信号■a
1Vbを発生する。又、比較回18111は合成変位量
Cと設定レベルεaの大小を比較している。 従って、トレーサヘッドTCがモデルMDLに接触して
C≧εaとなれば比較回路111は接触信号CDENを
出力する。この結果、分配回路108のシーケンスカウ
ンタ108aのIt 数値Nは1となる。N=1となれ
ば、アナログゲート回路108cは設定されtコならい
方式(表面1方向ならいとする)、ならい平面(x−z
平面とする)、ならい方向(十X方向とする)に基づい
てVaをX軸送り速度とし、又vb@z軸送り輸送Vz
として出力する。この結果、トレーサヘッドはモデルを
ならいながら+X軸方向に移動し、かつ−Z軸方向に移
動する。そして、ならいが進行してトレーサヘッドが第
1クランプレベルLCZP (第4図参照)に到達すれ
ば、Za=z、となり位置監視回路110から信号TD
ENが発生し、シーケンスカウンタ108aの計数値N
は2になる。 N=2となればアナログゲート回路108cはVz=0
.Vx=Vcとする。この結果、トレーサヘッドのZ軸
方向の移動が停止し、かわってトレーサヘッドは第1ク
ランプレベルLCZP上をクランプ送り速度Vcで+X
方向に移動する(X軸方向のクランプ送り)。 クランプ送りによりトレーサヘッドが+X軸方向に移動
して、クランプならい無視領域N (、Tの第1境界線
L CX N ニ到達Tルト(Xa =x、)、位置監
視団F18110から信号TDENが発生し、シーケン
スカウンタ108aの計数値Nは3となる。 N=3となれば、アナログゲート回EB108 cはV
 x = 0 、 V z = −V cとする。乙の
結果トレーづヘッドのX軸方向のクランプ送りが終了し
、かわって−Z軸方向のクランプ送りが行われろ。 トレーサヘッドが下降し、モデルMDLに接触すると、
C≧caとなり比較回路】11から接触信号CDENが
発生し、シーケンスカウンタ108aの計数値Nは4と
なる。 N=4となれば、アナログゲート回路108 cはV 
x = V a 、 V z = V bとする。この
結果、=Z軸方向のクランプ送りが終了し、以後通常の
表面1方向ならいが実行される。表面1方向ならいが継
続して、トレーサヘッドが第2クランプレベルLczi
 (第4図参照)に到達すれば、Za=z2となり、位
置監視回路110から信号TDENが発生し、シーケン
スカウンタ108aの計数値Nは5となる。 N=5となれば、アナログゲルト回路108’cはVz
=Vy=0.Vx=Vcとする。この結果、表面1方向
ならいが終了し、トレーづヘッドTCは第2クランプレ
ベル上を+X方向にクランプ送りされる。+X方向のク
ランプ送りによりトレーサヘッドがモデルMDLと接触
すると、ε〉εaとなり、比較回路111から接触信号
が発生し、シーケンスカウンタ108aの計数値Nは6
となる。 N=6となれば、アナログゲート回路108CはVx=
VaSVz=Vbとする。こノ結果、第2クランプレベ
ル上の+X方向クランプ送りが終了し、以後通常の表面
1方向ならいが実行される。 表面1方向ならいが継続して、トレーサヘッドがクラン
プならい無視領域N C1’の第2境界線LCxPに到
達すると(Xa =x、l、位置監視回路110から信
号TDENが発生し、シーケンスカラ:/ 夕108 
aの計数値は7となる。 11J=7となればアナログゲート回路108cはVχ
=0、Vz=Vcとする。この結果、表面1方向ならい
が終了し、かオ)って+Z軸方向のクランプ送りが行わ
れる。トレーサヘッドが上昇して、第1クランプレベル
LCZPに到達すると(Za−Z、)になると位置監視
団1@110より信号TDENが発生し、シーケンスカ
ウンタ108aの計数値Nは8となる。 N=8となれば、アナログゲート回絡108cはV z
 = O、V x = V c トする。乙ノ結果、+
Z軸方向のクランプ送りが終了し、がわ・って第1クラ
ンプレベルL CZ I)上を+X方向にトレーづヘッ
ドはクランプ送りされる。トレーづヘッドが十X方向の
クランプ送りにユリ+X方向に移動してモデルMDLに
接触すればε≧caとな゛って比較口#5111より接
触信号CDENが発生し、シーケンスカウンタ1’08
aの計数値Nは9となる。 N=9となれば、アナログゲート回路108CはV x
 = V a 、 V z = V b)トf ル。コ
ノ結果、+X方向のクランプ送りは終了し、以後通常の
表面1方向ならいが行われる。表面1方向ならいにより
トレーサヘッドが+X方向に移動して、ならい領域AR
の第1境界線XL、1に到達すれば(Xa=x、)、位
置監視回路110は信号TDENを発生し、シーケンス
カウンタ108aの計1i1[(11[Nは10となる
。 N=10となれば、アナログゲート回路108Cは図示
しない早戻し速度信号発生回路から発生する早戻し速度
信号を各軸に分配しトレーサヘッドをなhい開始点Ps
へ位置決めする。トレーサヘッドがな゛らい開始点、す
なわちならい領域ARの第2境界線XL2に到達すれば
(Xa=x2)、位置監視回路110は信号TD E 
Nを発生し、シーケンスカウンタ108aの計数値Nは
11となる。 N;11となれば、アナログゲート回$108CはV 
x = 0 、V z = −V a pとする。この
結果、トレーサヘッドTCは−Z軸方向にアプローチ速
度で送られる。トレーサヘッド′rCがモデルと接触す
ればC≧εaとなり、比較回路111から接触信号CD
ENが発生し、シーケンスカウンタ108aの計数値N
は12となる。 N=12となれば、アナログゲート回$108CはV 
y = V a 、 V z = V bとする。この
結果、アプローチ動作は終了し、かわってトレーサヘッ
ドはY軸方向にモデルMDLをならいながらピックフィ
ードし、Y軸方向の移動量が予め設定されているピック
フィード量Pに等しくなれば位置監視回路110から信
号TDENが発生し、シーケンスカウンタ108aの計
数値は1となる。 N=1となればピックフィードは完了し、アナログケー
ト回Ri108 eはVx=Va、Vy=Vbとして表
面1方向ならいを開始する。そして、以後、Y軸方向現
在位置がならい領域ARのY軸方向終点に到達する(Y
 a = y、)迄上記処理を繰 −り返す。 尚、以上の説明ではモデル形状を第4図に示すものとし
て説明したが、本発明はかかる形状にのみ適用できるだ
けでなく、種々のモデル形状にも適用できるものである
。又以上では表面ならいに本発明を適用した場合につい
て説明したが本発明はこれに限るものではなく手動なら
いなどにも適用できるものである。更に、クランプなら
い無視領域をX軸方向に設定した場合について説明した
が、Y軸方向にも設定できるものである。 〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によればクランプレベルと
して第1、第2のクランプレベルを設けると共に、第1
クランプレベルに基づいたクランプならい無視領域を設
定し、トレーサヘッドが第1クランプレベル上を移動中
に該クランプならい無視領域に到達しtことき第1クラ
ンプレベル上でのクランプ送りを停止、該クランプなら
い無視領域においてクランプレベルを第2クランプレベ
ルとするクランプならい加工を行うように構成したから
、ならい加工したい部分の上方及び下方にならい加工不
要部分が存在する場合であっても、一連のならい動作に
より連続的に該ならい加工したい部分のならい加工を行
うことができ、加工効率を向上させることができる。
[Respectively servo circuits svx and s
The signal is input to the X-axis and Y-axis motors MXSMZ via VZ, and rotates the respective axis motors XM and ZM. As a result, the cutter head CT moves relative to the workpiece WK, and the workpiece is processed according to the model shape, and the tracer head TC traces the surface of the model MDL. Moreover, each pulse generation ill P G X , P G Z
1P G Y Pulses generated from Px, Pz, Py
It is input to each axis current position register (not shown) in the trajectory control device TCC. Each axis current position register is pulse P
When x, Py, and Pz are input, the contents are counted up or down depending on the direction of movement. Then, the current position in the X-axis direction [Xa must be equal to the X coordinate value The velocity components vy and v2 are generated. The velocity component vy is input to the servo circuit SVY, and as a result, the table TBL is moved in the Y-axis direction, and the surface tracing in the Y-Z plane is performed. When the amount of movement of the table TBL in the Y-axis direction becomes equal to the preset pick feed amount P, the tracing control device TCC thereafter generates a velocity component -V x 1V z with the tracing plane as the X-2 plane, The backward tracing is performed until the current position on the X axis becomes equal to the X coordinate value x2 of the second boundary line XL2 of the tracing area. Thereafter, pick feed, surface tracing in the forward path, pick feed, and surface tracing in the return path are repeated, and when the current position in the Y-axis direction reaches the boundary point of the tracing area in the Y-axis direction, the surface reciprocating tracing ends. FIG. 6 is a block diagram of a profiling control device that implements the clamp profiling method according to the present invention. The tracing control device B includes a displacement synthesis circuit 101, an addition circuit W1.102, a speed signal calculation circuit 103.104, a direction indexing circuit 105, each axis speed calculation circuit 106, and a clamp feed speed generation circuit @10.
7. Distribution circuit i1!19108, current position register 109X, 109Y, 109Z1 position monitoring circuit 110 for each axis,
Comparison circuit 111, approach feed rate generation circuit 112,
It has an operation panel 113. The displacement synthesis circuit 101 receives the axial displacements εX, εy output from the tracer head TC (see FIG. 5). Using εZ, the following formula % formula % (1) is calculated to generate the composite displacement amount ε, and the addition circuit 102
is the difference Δε(−ε
-ε0) and input it to the speed signal calculation circuit 03.104. The speed signal calculation circuit 103 outputs a speed signal VT having a commanded tracing speed F when the difference Δε is O, and outputs a speed signal v inversely proportional to the difference when ΔC or 0.
'r (see Figure 7). Speed signal circuit 910
4 outputs a speed signal VN (see FIG. 7) proportional to the difference Δε. The direction indexing circuit 105 uses the displacement signals tX and tZ in the X-axis direction and the Z-axis direction to calculate displacement direction signals sin θ and cos θ according to the following equation 6 (2) (3). Each axis speed calculation time gl! 106 uses the speed signals VT and VN and the displacement direction signals sin θ and cos θ to form the following equation 6 % (4
) (5) Generate axial speed signals Va and Vb. Clamp feed speed signal circuit 107 generates a clamp speed signal Vc according to commanded clamp feed speed Fc. The distribution circuit 108 receives data DT such as the tracing method, tracing plane, tracing direction, and big feed direction, as well as first and second clamp levels LCZP and LCZN (see Fig. 4).
Va, Vb, and Vc are distributed to each axis based on whether the first and second boundary lines LCXN and LCXP of the clamp-like ignoring region NCT have been reached, etc. If the surface is traversed in one direction, (
al During the tracing operation before reaching the clamp level LCZ, Va is the X-axis feed speed Vx, and vb is the Z-axis feed speed V
When the fbl tracer head TC reaches the first clamp level LCZP (see Figure 4), Vz
= 0 and outputs the clamp speed signal VcltX as the transport speed Vx. Further, the distribution circuit 108 is
((+1) If the tracer head TC follows the clamp while feeding the clamp above the first clamp level, the first
When the boundary line L CX N is reached, Vx=Vy=0 and the clamp speed signal -Vc is changed to the Z transport speed V.
output as z, (dl l, laser head 'rC is V
When the tracer head descends by z and contacts the model MDL, the tracer head outputs as VaIeX-axis feed speed transport x, vbiez-axis feed speed transport z, and (el) until the tracer head reaches the second clamp level LCZN. When the clamp level LCZN is reached, yz=vy=o and the clamp feed speed is set to No. 45 Ver! ! If the tracer head contacts the model MDL while moving on the second clamp level, the X-axis transport speed is output as Vx, and Va is The axis feed speed is Vx, Vz is output as the Z transport speed Vz, and after reaching the fgl second boundary line LCXP, V x = O and the clamp speed signal V
Output c as Z transport speed Vz, (h) When the tracer head rises due to Vz and reaches the first clamp level, output it as clamp feed speed VcttX axis transport speed transport x in the same way as in (b), (i) If the l-laser head contacts the model while moving on the first clamp level LCZP, Va is the X-axis feed rate Vx, and Vb is the Z-axis feed rate V
Output as z. In addition, the distribution port 18108 transports Vale Y-axis feed speed during big feed and outputs it as Vbie Z-axis feed speed transport z, and during approach, it outputs the approach speed generated from the approach feed speed signal generator 112 - Vapie Z-axis feed speed transport. . The position monitoring circuit 110 compares the current positions Xa, Ya, and Za of each axis with the respective numerical values set from the operation panel 113, and if they match, generates a signal TDEN. Note that the position monitoring circuit 110 has two boundary lines xL1 and xL2 in the X-axis direction (transfer direction) that specify the tracing area AR.
Axis coordinate values X3, X2, Y-axis direction that specifies the tracing area (
Y-axis coordinate value y of the end point in the big feed direction), big feed amount P1 Z-axis coordinate value z of the first and second clamp levels LCZP and LCZN in the Z-axis direction (trailing direction),
z2, two boundaries L of the clamp-based ignored region NCT
CXN1LCXP17) X-axis coordinate value entry, x4 values are input. Then, position monitoring time during tracing operation #2+110
(II) Whether the tracer head TC has reached the first clamp level LCZP (Za=z,); (b) The tracer head TC has reached the first boundary line LCXN of the clamp ignoring area NCT (Xa= x3) I, Takado, (C) Tracer head TC is at second clamp level L
(d) The tracer head TC reaches the second boundary line LCxp of the ignored area NCT without clamping (3)! (X a =, x4) (e) Tracer head T C traces area A
Reaching the first boundary line X'LI of R (Xa=x, l) (f) When the tracer head is returned to the starting point by fast forwarding, the second boundary line XL2 of the tracing area AR
(Xa=x,) □, (g) Monitor whether the pick feed is completed (Y-axis direction movement amount = p), and output a signal when (a) to (g) are satisfied. TDEN
occurs. The comparison circuit 111 outputs a contact signal CDEN when the combined displacement amount ε becomes larger than a preset value εa during approach and clamp feeding. FIG. 8 is a block diagram of the distribution circuit 108, and the comparison circuit l
A sequence counter 108a that counts the contact signal CD'E'N output from the l8111 and a signal TDEN output from the position monitoring circuit 110, and a decoder 108b that decodes the count value of the sequence counter 108a.
And the decoding result and data j D T lc base tweet V
It has an analog gate circuit 11f1108c that distributes a, Vb, Vc, and Vap to each axis as Vx, Vy, and Vz. still,
If the count value of the sequence counter 108a is N, then N
' = 1 When 1, the surface 1-direction tracing operation moves towards the first clamp level LCZP, and when it is N-2, the clamp feeding operation moves along the first clamp level to the first boundary @LCXN of the ignored area NCT. , when N=3, the first boundary line LCX of the clamp ignoring area NCT
At N, the clamp feeding motion that lowers the tracer head in the -Z-axis direction is modeled, when N = 4, the surface 1 direction tracing motion toward the second clamp level LCZN is modeled, and when N = 5, the model is modeled above the second clamp level. When the clamp feeding operation moves until it touches the clamp, when N=6, the second boundary of the ignored area NCT follows the clamp! When the surface 1 direction tracing motion toward 31LcXP is N-7, the second boundary 111L
In cXP, when the clamp feed operation that raises the tracer head in the +Z-axis direction to the first clamp level is N=8, the clamp feed operation that moves the tracer head in the +X direction on the first clan i level is N=9. When N=10, the tracer head is traced in one direction toward the first boundary #IXLI of the tracing area AR, when N=10, the tracer head is returned to the starting point in fast forward motion, and when N=11, the approach motion is performed. , when N=12, a pick feed operation is executed. Now, various tracing condition data, first and second clamp levels, tracing area data, clamp tracing ignored area NCT
After setting the data for specifying the
Start approaching towards. Incidentally, when the initial approach speed - Vap is set as the Z transport speed Vz, the distribution circuit 10
Output from B. When the tracer head contacts the model, the amount of displacement εX, εy1 from the tracer head in each axial direction
ε2 occurs. The displacement synthetic concave path 101 calculates the synthetic displacement 1Cte by calculating the formula (1), the addition circuit 4102 calculates the difference Δε between the synthetic displacement amount and the reference displacement amount, and the direction indexing circuit 105 calculates the displacement direction signal cosθ. , sin θ are calculated. The speed signal calculation circuit 103 outputs a speed signal VT according to the set tracing feed speed F and the difference ΔC, and the speed signal calculation circuit 9104 outputs a speed signal VN. , speed signal ■a by +51 formula
Generates 1Vb. Further, in a comparison circuit 18111, the magnitude of the composite displacement amount C and the set level εa are compared. Therefore, when the tracer head TC contacts the model MDL and C≧εa, the comparison circuit 111 outputs the contact signal CDEN. As a result, the It value N of the sequence counter 108a of the distribution circuit 108 becomes 1. When N=1, the analog gate circuit 108c is set to use the t-copy method (assuming that the surface is oriented in one direction) and the profiling plane (x-z
Va is the X-axis feed speed based on the tracing direction (taken as the 10X direction), and vb@z-axis feed transport Vz
Output as . As a result, the tracer head moves in the +X-axis direction and in the -Z-axis direction while following the model. Then, as the tracing progresses and the tracer head reaches the first clamp level LCZP (see FIG. 4), Za=z, and the position monitoring circuit 110 outputs the signal TD.
EN occurs, and the count value N of the sequence counter 108a
becomes 2. When N=2, the analog gate circuit 108c has Vz=0.
.. Let Vx=Vc. As a result, the tracer head stops moving in the Z-axis direction, and the tracer head moves on the first clamp level LCZP at a clamp feed rate of Vc of +X.
direction (clamp feed in the X-axis direction). The tracer head moves in the +X-axis direction by clamp feeding, and the clamp tracing ignore area N (, T's first boundary line L Then, the count value N of the sequence counter 108a becomes 3. If N=3, the analog gate circuit EB108c becomes V
Let x = 0 and Vz = -Vc. As a result of (B), clamp feeding of the tray and head in the X-axis direction is completed, and clamp feeding in the -Z-axis direction is performed instead. When the tracer head descends and contacts the model MDL,
Since C≧ca, a contact signal CDEN is generated from the comparison circuit 11, and the count value N of the sequence counter 108a becomes 4. If N=4, the analog gate circuit 108c is V
Let x = V a and V z = V b. As a result, clamp feeding in the =Z-axis direction is completed, and normal surface unidirectional tracing is thereafter performed. Tracing in one direction on the surface continues, and the tracer head reaches the second clamp level Lczi.
(See FIG. 4), Za=z2, the signal TDEN is generated from the position monitoring circuit 110, and the count value N of the sequence counter 108a becomes five. If N=5, the analog Gert circuit 108'c is Vz
=Vy=0. Let Vx=Vc. As a result, the surface tracing in one direction is completed, and the tray head TC is clamped and fed in the +X direction on the second clamp level. When the tracer head contacts the model MDL by clamp feeding in the +X direction, ε>εa, a contact signal is generated from the comparison circuit 111, and the count value N of the sequence counter 108a becomes 6.
becomes. When N=6, the analog gate circuit 108C has Vx=
Let VaSVz=Vb. As a result, the clamp feeding in the +X direction on the second clamp level is completed, and normal surface unidirectional tracing is thereafter performed. When tracing continues in one direction on the surface and the tracer head reaches the second boundary line LCxP of the clamp tracing ignoring area N C1' (Xa = x, l, the signal TDEN is generated from the position monitoring circuit 110, and the sequence color: / Evening 108
The count value of a is 7. If 11J=7, the analog gate circuit 108c is Vχ
=0 and Vz=Vc. As a result, the surface tracing in one direction is completed, and then the clamp feed is performed in the +Z-axis direction. When the tracer head rises and reaches the first clamp level LCZP (Za-Z,), the signal TDEN is generated from the position monitoring group 1@110, and the count value N of the sequence counter 108a becomes 8. If N=8, the analog gate circuit 108c is Vz
= O, V x = V c . Otsu no result, +
Clamp feed in the Z-axis direction is completed, and the tray head is then clamp fed in the +X direction above the first clamp level L CZ I). When the tray head moves in the +X direction during clamp feeding in the 10X direction and comes into contact with the model MDL, ε≧ca, a contact signal CDEN is generated from the comparison port #5111, and the sequence counter 1'08
The count value N of a is 9. When N=9, the analog gate circuit 108C has V x
= V a , V z = V b) Tor. As a result, the clamp feeding in the +X direction is completed, and normal surface tracing in one direction is performed thereafter. By tracing the surface in one direction, the tracer head moves in the +X direction, and the tracing area AR
When the first boundary line XL, 1 is reached (Xa=x,), the position monitoring circuit 110 generates the signal TDEN, and the sequence counter 108a's total 1i1[(11[N becomes 10. N=10. If so, the analog gate circuit 108C distributes the fast return speed signal generated from the fast return speed signal generation circuit (not shown) to each axis and sets the tracer head to the starting point Ps.
position to. When the tracer head reaches the starting point, that is, the second boundary line XL2 of the tracing area AR (Xa=x2), the position monitoring circuit 110 outputs the signal TD E
N is generated, and the count value N of the sequence counter 108a becomes 11. If N; 11, the analog gate circuit $108C is V
Let x = 0 and V z = -V a p. As a result, the tracer head TC is sent in the −Z-axis direction at the approach speed. If the tracer head 'rC contacts the model, C≧εa, and the contact signal CD is output from the comparison circuit 111.
EN occurs and the count value N of the sequence counter 108a
becomes 12. If N=12, the analog gate circuit $108C is V
Let y = V a and V z = V b. As a result, the approach operation is completed, and the tracer head pick-feeds in the Y-axis direction while following the model MDL, and when the amount of movement in the Y-axis direction becomes equal to the preset pick-feed amount P, the position monitoring circuit A signal TDEN is generated from 110, and the count value of the sequence counter 108a becomes 1. When N=1, the pick feed is completed, and the analog Kate circuit Ri 108e starts tracing the surface in one direction with Vx=Va and Vy=Vb. From then on, the current position in the Y-axis direction reaches the end point in the Y-axis direction of the tracing area AR (Y
The above process is repeated until a = y, ). In the above explanation, the model shape is shown in FIG. 4. However, the present invention is applicable not only to this shape but also to various model shapes. Moreover, although the case where the present invention is applied to surface profiling has been described above, the present invention is not limited to this and can also be applied to manual profiling. Further, although the case where the clamp tracing ignoring area is set in the X-axis direction has been described, it can also be set in the Y-axis direction. <Effects of the Invention> As explained above, according to the present invention, the first and second clamp levels are provided as the clamp levels, and the first and second clamp levels are provided as clamp levels.
A clamp tracing ignoring area is set based on the clamp level, and when the tracer head reaches the clamp tracing ignoring area while moving on the first clamp level, clamp feeding on the first clamp level is stopped, and the clamp is moved over the first clamp level. Since the configuration is configured to perform clamp profiling with the clamp level as the second clamp level in the profiling ignored area, even if there are parts that do not require profiling above and below the part to be profiled, a series of profiling operations can be performed. By this, it is possible to continuously carry out profiling of the part to be profiled, and it is possible to improve machining efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のクランプならい説明図、第2図及び第3
図は従来のクランプ4らいの欠点説明図、第4図は本発
明のり)ンプならい方法の概略説明図、第5図は本発明
を適用できるならい工作機械の構成図、第6図は本発明
を実現するならい装置のブロック図、第7図は合成変位
量と基準変位凰との差分であるΔεと速度信号VT、V
Nの関係図、第8図は分配回路のブロック図である。 TC・・トレーサヘッド、MDL・・モデルLCZP・
・第1クランプレベル、LCZN・・・第2クランプレ
ベル、NCT・・クランプならい無視領域、 101・・変位合成回路、102・・加算回路103.
104・・速度信号波W回諮、105・・方向割出回路
、106・・各軸速度演算回路、107・・クランプな
らい送り速度発生回路、108・・分配@路、110・
・位置監視回路、111・・比較回路、112・・アプ
ローチ送り速度信号発生回路、113・・操作パネル特
許出願人 ファナック株式会社 代理人 弁理士 齋藤千幹 第1図 第2図 第3図 十z 暴
Figure 1 is an explanatory diagram of the conventional clamp profile, Figures 2 and 3.
Figure 4 is an explanatory diagram of the drawbacks of the conventional clamp 4. Figure 4 is a schematic diagram of the glue clamp tracing method of the present invention. Figure 5 is a configuration diagram of a tracing machine tool to which the present invention can be applied. Figure 6 is the diagram of the present invention. Fig. 7 is a block diagram of a profiling device that realizes
FIG. 8 is a block diagram of the distribution circuit. TC...Tracer head, MDL...Model LCZP...
・First clamp level, LCZN...Second clamp level, NCT...Clamp tracing ignored area, 101...Displacement synthesis circuit, 102...Addition circuit 103.
104...Speed signal wave W rotation consultation, 105...Direction indexing circuit, 106...Each axis speed calculation circuit, 107...Clamp tracing feed speed generation circuit, 108...Distribution @ path, 110...
・Position monitoring circuit, 111...Comparison circuit, 112...Approach feed speed signal generation circuit, 113...Operation panel patent applicant Chiki Saito, agent of FANUC Co., Ltd., patent attorney Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 1z violence

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)トレーサヘッドをしてモデルをなられせると共に
、トレーサヘッドの動きに応じて工具を移動させ、該工
具によりワークにモデル形状に応じtこならい加工を行
い、トレーサヘッドが予め定められたクランプレベルに
到達した時にはならい加工を中断し、しかる浸酸クラン
プレベルに沿ってトレーサヘッドを移動させ、該トレー
サヘッドがモデルに接触した時再びならい加工を再開す
るクランプならい方法において、クランプレベルとして
第1のクランプレベルと、第1のクランプレベルより下
方の第2のクランプレベルを設定すると共シこ、第1ク
ランプレベルに基づいたクランプならい無視領域を設定
し、トレーサヘッドが第1クランプレベル上を移動中ク
ランプレベル無視領域に到達したかどうかを監視し、ト
レーサヘッドがクランプならい無視領域に到達したとき
、第1クランプレベル上の移動を停止、しかる後トレー
サヘッドを前記第1クランプレベルを越えてモデル方向
に下降させ、モデルに接触後第2クランプレベルに到達
する迄該トレーサヘッドをモデルに沿って移動させてな
らい加工を行い、トレーサヘッドが第2クランプレベル
に到達後は該トレーサヘッドを該第2クランプレベル上
を移動させる乙とを特徴とするクランプならい方法。
(1) The tracer head is used to curve the model, the tool is moved according to the movement of the tracer head, and the tool is used to process the workpiece according to the model shape, so that the tracer head is shaped in advance. In the clamp profiling method, the profiling process is stopped when the clamp level is reached, the tracer head is moved along the corresponding acid-soaked clamp level, and the profiling process is resumed when the tracer head contacts the model. By setting a first clamp level and a second clamp level below the first clamp level, a clamp ignoring area based on the first clamp level is set and the tracer head moves above the first clamp level. During the movement, it is monitored whether or not the clamp level ignored area is reached, and when the tracer head reaches the clamp level ignored area, the movement on the first clamp level is stopped, and then the tracer head is moved beyond the first clamp level. The tracer head is lowered in the direction of the model, and after contacting the model, the tracer head is moved along the model until it reaches the second clamp level, and the tracer head is moved to the second clamp level. A clamp tracing method characterized by moving on a second clamp level.
(2)トレーサヘッドが前記第2クランプレベル上を移
動中にモデルと接触した時には、以後クランプならい′
無視領域の境界に到達する迄トレーサヘッドをモデルに
治って移動させてならい加工を行い、トレーサヘッドが
該境界に到達したとき、モデルに沿ったトレーサヘッド
の移動を停止し、しかる後トレーサヘッドを第1クラン
プレベル迄上昇させ、第1クランプレベルに到達後トレ
ーサヘッドをして第1クランプレベル上を移動させるこ
とを特徴とする特許請求の軛囲第(1)項記載のクラン
プならい方法。
(2) When the tracer head comes into contact with the model while moving above the second clamp level, the tracer head will no longer follow the clamp pattern.
The tracer head is moved along the model until it reaches the boundary of the ignored area, and the tracing process is performed. When the tracer head reaches the boundary, the movement of the tracer head along the model is stopped, and then the tracer head is moved. The clamp tracing method according to claim 1, characterized in that the tracer head is raised to a first clamp level, and after reaching the first clamp level, the tracer head is moved on the first clamp level.
JP24570683A 1983-12-31 1983-12-31 Clamp copying mathod Pending JPS60146657A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24570683A JPS60146657A (en) 1983-12-31 1983-12-31 Clamp copying mathod

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24570683A JPS60146657A (en) 1983-12-31 1983-12-31 Clamp copying mathod

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60146657A true JPS60146657A (en) 1985-08-02

Family

ID=17137591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24570683A Pending JPS60146657A (en) 1983-12-31 1983-12-31 Clamp copying mathod

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60146657A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0059759B1 (en) Copying control system
US4456962A (en) Tracer control system
JPS6111746B2 (en)
EP0071378B1 (en) Numerical control method and apparatus
JPS59115149A (en) Control method for traced machining
US5341079A (en) Tracking control system
JPS60146657A (en) Clamp copying mathod
US5283509A (en) Tracing control system
KR890001353B1 (en) Numerical control device
JPH1195821A (en) Contact detection method and device therefor
US5313400A (en) Tracing method
EP0386251A1 (en) Profile control method
JPS60146656A (en) Clamp copying method
JPS60146660A (en) Vertical clamp copying method
JPH0355148A (en) Tracing machining control method
JPH02274457A (en) Copy control device
JPS61244449A (en) Contour copying method
JPS5981045A (en) Control system for multiprocess profiling
WO1991004832A1 (en) Profile control method
JPH021628B2 (en)
EP0411144B1 (en) Profiling method
JPS6234756A (en) Random direction copying control system
JPS6148709A (en) Movement control method of contactor
JPH0219904A (en) Offset vector calculation method
JPH04283053A (en) Profile control device