JPS60135843A - Method and apparatus for surface identification - Google Patents

Method and apparatus for surface identification

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JPS60135843A
JPS60135843A JP58247104A JP24710483A JPS60135843A JP S60135843 A JPS60135843 A JP S60135843A JP 58247104 A JP58247104 A JP 58247104A JP 24710483 A JP24710483 A JP 24710483A JP S60135843 A JPS60135843 A JP S60135843A
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JP
Japan
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reflected light
light
infrared light
tape
identified
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JP58247104A
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Japanese (ja)
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Takao Kobayashi
喬郎 小林
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RYOWA DENSHI KK
Original Assignee
RYOWA DENSHI KK
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity

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Abstract

PURPOSE:To identify the surface and back instantaneously without damaging a tape or the like by irradiating a specified light on two surfaces of a tape or the like to compare the reflectance of reflected light from one surface with that of reflected light from the other surface. CONSTITUTION:Infrared rays from infrared ray sources 12 and 14 are irradiated on one surface 10a and the other surface 10b of a tape 10 through waveguides 16 and 18 respectively while light choppers 20 and 22 are energized to interrupt the infrared rays at a specified frequency. These rays are reflected on the surfaces 10a and 10b of the tape 10 according to respective optical characteristics at a different reflectance and introduced into detectors 24 and 26 through waveguides 28 and 30 and filters 32 and 34. As a result, the detectors 24 and 26 generate detection signals corresponding to the characteristics of the respective surfaces 10a and 10b while increasing or decreasing at a specified frequency. These signals are compared with a comparator circuit 36 and the results of the comparison indicates which is the magnetic film surface or the base surface on a display 38.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、視覚によって判別が困難な板状体等、例えば
、磁気テープの表裏を区別する識別方法並びに装置に関
し、一層詳細には赤外光の反射率の差から物体の表面と
裏面を光学的に区別する識別方法および装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an identification method and apparatus for distinguishing between the front and back of a plate-like object, such as a magnetic tape, which is difficult to distinguish visually, and more particularly, The present invention relates to an identification method and device for optically distinguishing between the front and back surfaces of an object.

例えば、各種の情報を簡単に記録するためにカセットに
入れた磁気テープが広汎に普及している。この場合、磁
気ヘッドに直接磁性膜面を接触させて情報の出入を行う
ために磁気テープの磁性膜面ば必ず外部に露呈させてお
かなければならない。従って、磁気テープをカセットに
装填するに!シては磁性膜面とその反対側部の合成樹!
u−−ス面を明確に区別しておく必要がある。このよう
な識別は簡易には肉眼により行われてきた。
For example, magnetic tapes housed in cassettes are widely used to easily record various types of information. In this case, the magnetic film surface of the magnetic tape must be exposed to the outside in order to input and output information by bringing the magnetic film surface into direct contact with the magnetic head. Therefore, when loading magnetic tape into a cassette! This is a synthetic tree on the magnetic film surface and the opposite side!
It is necessary to clearly distinguish the u--space plane. Such identification has been simply performed with the naked eye.

ところで、近年、磁気テープの記録密度を一層高め、ま
た確実な情報の出入をはかる磁気テープとヘッドの接触
を向上させるために磁性膜面を鏡面仕上げする方法が採
用されている。この鏡面仕上げによれば、合成樹脂ベー
ス面と磁性膜面とを肉眼で区別することが側底困難とな
った。
Incidentally, in recent years, a method of mirror-finishing the magnetic film surface has been adopted in order to further increase the recording density of the magnetic tape and to improve the contact between the magnetic tape and the head for reliable information input and output. This mirror finish made it difficult to distinguish the synthetic resin base surface and the magnetic film surface with the naked eye.

そこで、現在、こ″のような磁気テープの表裏の識別に
は磁気ヘッドを用いる方法、機械的剥離法、化学薬品に
よる溶解法等が用いられている。これらの中、磁気ヘッ
ドを用いる方法は、磁気テープ両面の、記録、再生特性
を比較して表裏を識別するものである。然しなから、二
の方法では識別時にテープ面をヘッドに接触させなけれ
ばならず、時にはテープ面に損傷を与えるの信頼度が低
下してしまう。一方、機械的剥離法は、カミソリ等の刃
でテープ面を擦過し表面すなわち、磁性膜面の場合には
磁性5膜が容易に剥離するが、ベース面では剥離は起こ
らないことを利用して表裏を識別する。また、化学薬品
による熔解法は、テープ面に化学薬品例えばJシクロヘ
キサノン等を接触させ溶解状態により表裏を識別するも
の士ある。しかし、これらの剥離法や溶解法はテープ表
面に損傷を与える破壊的識別方法であり、テープのスプ
ライス編集等では必要な情報を蓄えたテープ自体を損傷
することになり測成採用することが困難であった□。
Therefore, methods using magnetic heads, mechanical peeling methods, dissolution methods using chemicals, etc. are currently used to identify the front and back sides of such magnetic tapes. Among these methods, methods using magnetic heads are This method compares the recording and reproducing characteristics of both sides of a magnetic tape to identify the front and back sides.However, in the second method, the tape surface must be brought into contact with the head during identification, which may sometimes damage the tape surface. On the other hand, in the mechanical peeling method, the tape surface is scraped with a blade such as a razor, and in the case of a magnetic film surface, the magnetic 5 film is easily peeled off. The front and back sides are identified by taking advantage of the fact that peeling does not occur.Also, there are chemical melting methods in which a chemical such as J cyclohexanone is brought into contact with the tape surface and the front and back sides are identified by the state of dissolution.However, these methods Peeling and dissolving methods are destructive identification methods that damage the tape surface, and tape splice editing etc. damage the tape itself, which stores the necessary information, making it difficult to use for measurement. □.

そこで、本発明者は、鋭意考察および試作を重ねた結果
、例えば、波長が3乃至30ミクロン程度の赤外光にお
いてはテープの磁性膜面と島−反面の反射率に明確な相
違の認められることを見い出し、この反射率の相違を電
気的に取り□出せば簡易に磁気テープの表裏が確認でき
ることが判った。
Therefore, as a result of intensive study and trial production, the inventors of the present invention found that, for example, in infrared light with a wavelength of about 3 to 30 microns, there is a clear difference in the reflectance between the magnetic film surface of the tape and the island-opposite surface. It was discovered that by electrically extracting this difference in reflectance, it was possible to easily identify the front and back sides of the magnetic tape.

従って、本発明の目的は、テープ等に損傷を与えること
なく瞬時にその表裏を識別する非接触的識別方法および
装置を提供するにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a non-contact identification method and device that instantly identifies the front and back sides of a tape or the like without damaging the tape.

この目的を達成するため、本発明に係る方法は、光反射
率の相違する少なくとも2つの表面を備える被識別体に
所定の光を照射し、前記被識別体からの反射光を検出し
、前記被識別体の一方の表面からの反射光の反射率と、
他方の表面からの反射光の反射率とを比較することによ
り前記被識別体の表面を判別することを特徴とする。
In order to achieve this object, the method according to the present invention irradiates a predetermined light onto an object to be identified that has at least two surfaces having different light reflectances, detects the reflected light from the object to be identified, and detects the reflected light from the object to be identified. the reflectance of the reflected light from one surface of the object to be identified;
The present invention is characterized in that the surface of the object to be identified is determined by comparing the reflectance of light reflected from the other surface.

さらに、本発明の装置は、反射率の相違する2つの表面
を備える被識別体の表面に所定の光を照射する光源と、
前記所定光の前記被識別体の表面からの反射光を検出し
反射光強度に対応する信号を発生する検出器とを備え、
前記2つの表面の一方の面からの反射光の反射光強度に
対応する第1の信号と前記2つの表面の他方の面からの
反射光の反射光強度に対応する第2の信号を比較するこ
とにより前記2つの表面の中いずれか一方の面を識別す
るよう構成することを特徴とする。
Furthermore, the device of the present invention includes a light source that irradiates a predetermined light onto the surface of the object to be identified, which includes two surfaces having different reflectances;
a detector that detects reflected light of the predetermined light from the surface of the object to be identified and generates a signal corresponding to the intensity of the reflected light;
A first signal corresponding to the reflected light intensity of the reflected light from one of the two surfaces is compared with a second signal corresponding to the reflected light intensity of the reflected light from the other of the two surfaces. Accordingly, one of the two surfaces can be identified.

次に、本発明方法についてそれを実施する装置との関係
において好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しなが
ら以下詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, preferred embodiments of the method of the present invention in relation to an apparatus for carrying out the method will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

先ず、第1図に一例として磁気テープの磁性膜面と合成
樹脂ベース面の赤外光照射に対する反射率曲線を示す。
First, FIG. 1 shows, as an example, reflectance curves of the magnetic film surface and synthetic resin base surface of a magnetic tape with respect to infrared light irradiation.

この場合、曲線Aはメタルテープの磁性面の反射スペク
トル、曲線Bは酸化鉄テープの磁性面の反射スペクトル
、曲線Cは、テープのベース面の反射スペクトルを示し
ている。第1図から判るように波長3乃至30ミクロン
の赤外線においては磁性面の反射率かへ−ス面の反射率
に比べて明確に高くなっている。
In this case, curve A shows the reflection spectrum of the magnetic surface of the metal tape, curve B shows the reflection spectrum of the magnetic surface of the iron oxide tape, and curve C shows the reflection spectrum of the base surface of the tape. As can be seen from FIG. 1, the reflectance of the magnetic surface is clearly higher than that of the hexagonal surface in the infrared rays of wavelengths 3 to 30 microns.

これはテープのベース面を構成するポリエステル膜の赤
外線吸収と多重反射効果のためである。
This is due to the infrared absorption and multiple reflection effects of the polyester film that constitutes the base surface of the tape.

また、別の例では、ベース面と磁性面との間で赤外線反
射率の大小関係が第1図に示す例と逆になる場合がある
がいずれにしても表裏の反射率には明確な差がある。
In another example, the magnitude relationship of the infrared reflectance between the base surface and the magnetic surface may be opposite to the example shown in Figure 1, but in any case, there is a clear difference in the reflectance between the front and back surfaces. There is.

そこで、以上の実験結果を前提として第2図に、本発明
の一実施例を示す。図において、参照符号10は磁気テ
ープを示しこの磁気テープ10を挟んで両側に第1の赤
外光源12および第2の赤外光源14が配設される。こ
れらの第1赤外光源12および第2赤外光源14は、例
えば、ニクロム線ヒータ12a、14aを備え、夫々の
開口部12b 、14bより赤外光を照射することが可
能である。前記第1赤外光源12とテープ10の一方の
面10aとの間および第2赤外光源14とテープ10の
他方の面10bとの間には夫々送光用光導波路16.1
8が配設される。これらの導波路16.18は、例えば
、中空金属パイプまたは赤外光用誘電体光ファイバ等か
ら構成しておくと好適である。
Therefore, one embodiment of the present invention is shown in FIG. 2 based on the above experimental results. In the figure, reference numeral 10 indicates a magnetic tape, and a first infrared light source 12 and a second infrared light source 14 are provided on both sides of the magnetic tape 10. These first infrared light source 12 and second infrared light source 14 are equipped with, for example, nichrome wire heaters 12a and 14a, and are capable of emitting infrared light from respective openings 12b and 14b. Light transmission optical waveguides 16.1 are provided between the first infrared light source 12 and one surface 10a of the tape 10 and between the second infrared light source 14 and the other surface 10b of the tape 10, respectively.
8 are arranged. It is preferable that these waveguides 16 and 18 be constructed of, for example, a hollow metal pipe or a dielectric optical fiber for infrared light.

また、前記導波路16.18と光源12.14の間には
夫々光チョッパ20.22が挿入される。次に、テープ
10の一方の面10aに対して第1の赤外光検出器24
を配設しこの一方の面10aと第1赤外光検出器24と
の間に第1の受光用導波路28を設ける。同様にしてテ
ープ10の他方の面10bに対して第2の赤外光検出器
26を配設し、前記他方の面10bと第2赤外光検出器
26との間に第2の受光用導波路30を介装する。さら
に、分光フィルタ32.34を夫々導波路28.30と
赤外光検出器24.26の間に挿入しておく。これらの
受光用導波路28.30も送光用導波路16.18と同
様に中空金属パイプ等で構成する。前記検知器24.2
6は、例えば、焦電検出器により構成する。この場合、
検知器24.26の出力側は、比較回路36に電気的に
接続すると共に比較回路36の出力側は、表示器38に
接続しておく。
Furthermore, optical choppers 20.22 are inserted between the waveguides 16.18 and the light sources 12.14, respectively. Next, the first infrared photodetector 24 is applied to one side 10a of the tape 10.
A first light-receiving waveguide 28 is provided between this one surface 10a and the first infrared photodetector 24. Similarly, a second infrared light detector 26 is disposed on the other surface 10b of the tape 10, and a second light receiving detector is disposed between the other surface 10b and the second infrared light detector 26. A waveguide 30 is interposed. Further, spectral filters 32, 34 are inserted between the waveguides 28, 30 and the infrared photodetectors 24, 26, respectively. These light-receiving waveguides 28.30 are also constructed of hollow metal pipes, etc., similarly to the light-transmitting waveguides 16.18. Said detector 24.2
6 is constituted by, for example, a pyroelectric detector. in this case,
The output sides of the detectors 24 and 26 are electrically connected to a comparison circuit 36, and the output side of the comparison circuit 36 is connected to a display 38.

次に、第3図を参照しながら第2図の比較回路36の具
体的構成の一例について説明する。第1検知器24およ
び第2検知器26の出力側は夫々帯体フィルタ40.4
2を介してピークホールド回路44.46に接続する。
Next, an example of a specific configuration of the comparison circuit 36 shown in FIG. 2 will be described with reference to FIG. The output sides of the first detector 24 and the second detector 26 are each provided with a band filter 40.4.
2 to the peak hold circuit 44.46.

これらのピークホールド回路44.46の出力側ばコン
パレーク48の入力側に接続され且つこのコンパレータ
48の出力側は表示器38に接続している。
The output sides of these peak hold circuits 44 and 46 are connected to the input side of a comparator 48, and the output side of this comparator 48 is connected to the display 38.

次に、第2図に示す装置の動作について説明する。Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 2 will be explained.

先ず、赤外光源12.14が付勢され、赤外光が開口部
12b、14bから夫々導波路16.18を介してテー
プ面10の一方の面10a、と他方の面10bに照射基
れる。同時に光チョッパ20.22が付勢され所定の周
波数、例えば、20H2で赤外光源12.14からの赤
外光を断続する。テープ10の表面10a 、10bに
照射された所定周波数で断続する赤外光は、表面10a
、10bの夫々の光学的特性に従い異なる反射率で反射
される。すなわち、第1図に示したようにテープ10の
磁性膜面とベース面では赤外光の反射率が異なっている
ので、表面10a、10bは異なる量の赤外光を反射す
る。
First, the infrared light source 12.14 is activated, and infrared light is emitted from the openings 12b and 14b through the waveguides 16.18, respectively, onto one side 10a and the other side 10b of the tape surface 10. . At the same time, the optical chopper 20.22 is activated to cut off the infrared light from the infrared light source 12.14 at a predetermined frequency, for example 20H2. The infrared light irradiated on the surfaces 10a and 10b of the tape 10 and intermittent at a predetermined frequency is applied to the surfaces 10a and 10b.
, 10b are reflected with different reflectances according to their respective optical properties. That is, as shown in FIG. 1, since the magnetic film surface and the base surface of the tape 10 have different infrared light reflectances, the surfaces 10a and 10b reflect different amounts of infrared light.

テープ10の表面10a、10bで反射され所定周期で
断続する赤外光は、夫々導波路28.3Oおよびフィル
タ32.34を介して検知器24.26に導入される。
Infrared light reflected by surfaces 10a and 10b of tape 10 and intermittent at a predetermined period is introduced into detector 24.26 via waveguide 28.3O and filter 32.34, respectively.

その際、フィルタ32.34は、ベース面の吸収スペク
トル域に一致する帯域透過特性を有するように構成して
おけばフィルタ32.34を透過した一方の面10a、
すなわち、磁性面からの反射光と他方の面10b、すな
わち、ベース面からの反射光の光量の差を一層顕著にす
ることができる。
In this case, if the filters 32 and 34 are configured to have band transmission characteristics that match the absorption spectrum range of the base surface, one surface 10a that passes through the filters 32 and 34,
That is, the difference in the amount of light reflected from the magnetic surface and the other surface 10b, that is, the base surface, can be made more noticeable.

このようにして、表面10aS10bの特性の相違によ
り著しい光量の差を有する2つの反射赤外光が所定の周
波数で断続しながら夫々検知器24.26に導入される
。この結果、検知器24.26は、夫々表面10a、1
0bの特性に対応し且つ所定周波数で増減する検知信号
を発生する。これらの信号は、夫々帯域フィルタ4O1
42に導入され前記所定周波数の成分が抽出されると共
にその他の成分が除去される。そこでこれらの帯域フィ
ルタ40.42の出力が導入されたピークホールド回路
44.46は、その出力のピーク値を保持し、その保持
値をコンパレータ48に出力する。
In this way, two reflected infrared lights having a significant difference in light intensity due to the difference in the characteristics of the surfaces 10aS10b are introduced into the detectors 24 and 26, respectively, intermittently at a predetermined frequency. As a result, detectors 24, 26 are detected on surfaces 10a, 1, respectively.
A detection signal corresponding to the characteristics of 0b and increasing/decreasing at a predetermined frequency is generated. These signals are each passed through a bandpass filter 4O1
42, the components of the predetermined frequency are extracted, and other components are removed. Therefore, the peak hold circuits 44 and 46 into which the outputs of these bandpass filters 40 and 42 are introduced hold the peak values of the outputs and output the held values to the comparator 48.

コンパレータ48は、ピークホールド回路44.46の
前記ピニク出力値を比較し、第1検知器24に接続され
るピークホールド回路44の出力が第2検知器26に接
続されたピークホールド回路46の出力より大であるか
小であるかに従い夫々0.1の論理値を出力する。表示
器38はコンパレータ48の出力に従い一方の面10a
および他方の面lObのいずれかが磁性膜面であり、い
ずれかがベース面であるかを表示する。すなわち、コン
パレータ48の出力が1であるときは一方の面10aが
磁性膜面であ□す、出力が0であるときは逆に一方の面
10aがベース面であることを表示する。
The comparator 48 compares the pinic output values of the peak hold circuits 44 and 46, and the output of the peak hold circuit 44 connected to the first detector 24 is the output of the peak hold circuit 46 connected to the second detector 26. A logical value of 0.1 is output depending on whether the value is larger or smaller. The display 38 displays one side 10a according to the output of the comparator 48.
and the other surface lOb is the magnetic film surface and which is the base surface is displayed. That is, when the output of the comparator 48 is 1, it indicates that one surface 10a is the magnetic film surface, and when the output is 0, it indicates that the one surface 10a is the base surface.

第4図は、本発明に係る他の実施例の概略を示す説明図
である。この実施例において、前記実施例と同一の参照
符号は同一の構成要素を示すものとする。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an outline of another embodiment according to the present invention. In this embodiment, the same reference numerals as in the previous embodiment indicate the same components.

赤外光源12は、ニクロム線ヒータ12aを備え、開口
部12bより赤外光をテープ10の一方の面10aに照
射する。検知器24はこの反射光を検出し、その強度に
対応する信号を発生する。比較回路36は、検知器24
の発生する一方の面からの反射光の強度に対応する信号
の値を保持する。
The infrared light source 12 includes a nichrome wire heater 12a, and irradiates infrared light onto one surface 10a of the tape 10 through an opening 12b. Detector 24 detects this reflected light and generates a signal corresponding to its intensity. The comparison circuit 36 is connected to the detector 24
The value of the signal corresponding to the intensity of the reflected light from one surface is held.

ここでテープ10を裏返し、テープの他方の面10bに
前記と同様にして赤外光を照射する。従□って、検知器
24は他方め面′からの反射光の強度に対応する信号を
発生する。比較回路36は、既に保持されている前記一
方の面からの反射光の強度に対応する信号の値と他方の
面10bからの反射光の強度に対応する信号と比較し表
示器38に出力する。表示器38はこの結果を表示する
。”第5図は、本発明の他の実施例の概略を示す説明図
ある。
At this point, the tape 10 is turned over, and the other side 10b of the tape is irradiated with infrared light in the same manner as described above. Detector 24 therefore generates a signal corresponding to the intensity of the reflected light from the other facing surface. The comparison circuit 36 compares the already held value of the signal corresponding to the intensity of the reflected light from the one surface with the signal corresponding to the intensity of the reflected light from the other surface 10b, and outputs the result to the display 38. . Display 38 displays this result. "FIG. 5 is an explanatory diagram showing an outline of another embodiment of the present invention.

この実施例では磁気テープ10の一方の面10gの側方
に赤外光源12が配設される。赤外光源12は、例えば
、ニクロム線ヒータ12aを備え、一方、赤外光源12
bに対向して凹面鏡50が設けられる。この凹面鏡50
とテープ10の一方の面10aを結ぶ光路には光チョッ
パ20が挿入される。さらに、テープ10の一方の面1
0aからの反射光の光路に対面もて第2の凹面鏡52が
配設され、光学的フィルタ32はこの反射光の光路に挿
入される。第2凹面鏡52の集光点には赤外光検知器2
4が設けられ、その出力側は比較回路36に接続され、
また前記比較回路36の出力側は表示器38に接続する
In this embodiment, an infrared light source 12 is disposed on the side of one surface 10g of the magnetic tape 10. The infrared light source 12 includes, for example, a nichrome wire heater 12a;
A concave mirror 50 is provided opposite b. This concave mirror 50
An optical chopper 20 is inserted into the optical path connecting the tape 10 and one surface 10a of the tape 10. Furthermore, one side 1 of the tape 10
A second concave mirror 52 is disposed facing the optical path of the reflected light from Oa, and the optical filter 32 is inserted into the optical path of the reflected light. An infrared light detector 2 is located at the condensing point of the second concave mirror 52.
4 is provided, the output side of which is connected to the comparator circuit 36,
Further, the output side of the comparison circuit 36 is connected to a display 38.

そこで、第6図に第5図の比較回路36の具体的構成を
示す。検知器24の出力側は、帯域フィルタ54、全波
整流回路56、積分回路58を介してスイッチ回路60
に接続している。前記スイッチ回路は2つの出力端を有
し、夫々の出力端は第1のピークホールド回路62およ
び第2のピークホールド回路64に接続している。これ
らのピークホールド回路62.64の出力はコンパレー
タ66に入力される。このコンパレータ66の出力側は
表示器3Bに接続してなるものである。
Therefore, FIG. 6 shows a specific configuration of the comparison circuit 36 of FIG. 5. The output side of the detector 24 is connected to a switch circuit 60 via a bandpass filter 54, a full-wave rectifier circuit 56, and an integrator circuit 58.
is connected to. The switch circuit has two output ends, each of which is connected to a first peak hold circuit 62 and a second peak hold circuit 64. The outputs of these peak hold circuits 62 and 64 are input to a comparator 66. The output side of this comparator 66 is connected to the display 3B.

次に、この第5図に示す装置の動作について説明する。Next, the operation of the apparatus shown in FIG. 5 will be explained.

光源12の開口部12bから照射された赤外光は凹面鏡
50により効率的に集光されテープ10の一方の面10
aに照射される。その際、光チョッパ20は、凹面鏡5
0からテープ10の一面に至る赤外光を所定の周波数で
断続する。従って、テープ10の一方の面10aは所定
周波数で断続する赤外光により照射される。照射された
赤外光は、ここで一方の面10aの光学的特性に従い一
部が吸収され、一部が反射される。すなわち、一方の面
10aが磁性膜面である場合には比較的高い反射率で、
逆にベース面である場合には比較的低い反射率で夫々赤
外光を反射する。この結果、テープ10の一方の面10
aの特性に対応する強度を有し且つ所定の周波数で断続
する赤外光が反射される。この反射光は、第2の凹面鏡
52で効率的に集光され検知器24に導入される。この
時、テープ面10aと凹面鏡52の間に設けられたフィ
ルタ32は、テープ10のベース面の吸収スペクトル域
以外の光を吸収し、これによりテープ面10aの光学的
特性の相違による反射光の強度の差をより顕著なものと
する。
The infrared light irradiated from the opening 12b of the light source 12 is efficiently focused by the concave mirror 50 and directed to one surface 10 of the tape 10.
irradiated to a. At that time, the optical chopper 20
Infrared light is transmitted from zero to one side of the tape 10 intermittently at a predetermined frequency. Therefore, one surface 10a of the tape 10 is irradiated with infrared light that is intermittent at a predetermined frequency. The irradiated infrared light is partially absorbed and partially reflected according to the optical characteristics of one surface 10a. That is, when one surface 10a is a magnetic film surface, the reflectance is relatively high,
On the other hand, in the case of a base surface, each infrared light is reflected with a relatively low reflectance. As a result, one side 10 of the tape 10
Infrared light having an intensity corresponding to the characteristic of a and intermittent at a predetermined frequency is reflected. This reflected light is efficiently collected by the second concave mirror 52 and introduced into the detector 24 . At this time, the filter 32 provided between the tape surface 10a and the concave mirror 52 absorbs light outside the absorption spectrum range of the base surface of the tape 10, thereby reducing the amount of reflected light due to the difference in optical characteristics of the tape surface 10a. Make the difference in strength more noticeable.

検知器24は、凹面鏡52により導入された赤外光の強
度に対応し所定の周波数で増減する信号を発生し比較回
路36内の帯域フィルタ54に出力する。帯域フィルタ
54は、前記所定の周波数成分を抽出し光源12からの
赤外光の一方の面10aより反射光以外の光等に基づく
雑音成分を除去する。全波整流器56は、帯域フィルタ
54の出力する周波数成分を全波整流し積分回路58に
出力する。この積分回路58は、全波整流回路56の出
力を時間で積分し、その積分値をスイッチ回路60に出
力する。スイッチ回路60は、所定時間積分回路58の
出力を第1のピークホールド回路62に伝達する。従っ
て、第1のピークホールド回路62には前記所定時間と
この所定時間内における全波整流回路56の一方の面1
0aに基づく出力の平均値との積に対応する値が保持さ
れる。
The detector 24 generates a signal that increases or decreases at a predetermined frequency in response to the intensity of the infrared light introduced by the concave mirror 52, and outputs it to the bandpass filter 54 in the comparison circuit 36. The bandpass filter 54 extracts the predetermined frequency component and removes noise components based on light other than the reflected light from one surface 10a of the infrared light from the light source 12. The full-wave rectifier 56 performs full-wave rectification on the frequency component output from the bandpass filter 54 and outputs it to the integrating circuit 58 . This integrating circuit 58 integrates the output of the full-wave rectifier circuit 56 over time and outputs the integrated value to the switch circuit 60. Switch circuit 60 transmits the output of predetermined time integration circuit 58 to first peak hold circuit 62 . Therefore, the first peak hold circuit 62 has the predetermined time and one side 1 of the full wave rectifier circuit 56 within the predetermined time.
A value corresponding to the product of the output based on 0a and the average value is held.

次に、テープ10を裏返し、その第2面10bに光源1
2からの赤外光を照射する。この場合の動作も積分回路
58までの段階は上述の場合と全く同様であるので省略
する。従って、この場合には積分回路58の出力は、他
方の面lObの光学的特性、すなわち、赤外光の反射率
に対応するものである。スイッチ回路64は、第2のピ
ークホールド回路64に対し積分回路58の出力を所定
時間伝達する。従って、第2ピークホールド回路64に
は前記所定時間とこの所定時間内における全波整流回路
56の他方の面10bに基づく出力の平均値との積に対
応する値が保持される。
Next, the tape 10 is turned over, and the light source 1 is placed on the second side 10b.
Irradiate infrared light from 2. The operation in this case is also omitted because the steps up to the integrating circuit 58 are exactly the same as in the above case. Therefore, in this case, the output of the integrating circuit 58 corresponds to the optical characteristics of the other surface lOb, that is, the reflectance of infrared light. The switch circuit 64 transmits the output of the integrating circuit 58 to the second peak hold circuit 64 for a predetermined period of time. Therefore, the second peak hold circuit 64 holds a value corresponding to the product of the predetermined time and the average value of the output based on the other surface 10b of the full-wave rectifier circuit 56 within this predetermined time.

コンパレーク66は、第1ピークホールド回路62と第
2ピークホールド回路64の出力を比較し、前者が後者
より大である場合には論理値lを、また逆の場合には論
理値Oを出力する。表示器38は、コンパレータ66の
出力が1の時はテープ10の一方の面10aが磁性面で
あることを表示し、逆にコンパレータ66の出力が00
時には他方の面10bがベース面であることを表示する
The comparator 66 compares the outputs of the first peak hold circuit 62 and the second peak hold circuit 64, and outputs a logical value l when the former is larger than the latter, and outputs a logical value O when the opposite is the case. . The display 38 indicates that one side 10a of the tape 10 is a magnetic surface when the output of the comparator 66 is 1, and conversely, when the output of the comparator 66 is 00.
Sometimes it is indicated that the other surface 10b is the base surface.

本発明は、以上のように赤外光の反射率の相違を利用し
て反射光の強度の差を比較することにより磁気テープ面
の表裏を識別する。従って、表裏が肉眼では視認しにく
いテープでも瞬時に非接触で識別を行うことが可能であ
る。また、リアルタイムで磁気テープ面における表裏の
識別が可能であるために生産ライン等でのオンライン検
査に有効である。さらにまた、赤外光を一定の周期で変
調し、検知信号からこれに対応する周波成分を抽出し、
また反射光をベース面の吸収スペクトル域を透過域と讐
るフィルタを透過させる事等により極めて信頼性の高い
識別が可能となる等の優れた効果が得られる。
As described above, the present invention utilizes the difference in reflectance of infrared light to identify the front and back sides of the magnetic tape surface by comparing the difference in intensity of reflected light. Therefore, even if the front and back sides of the tape are difficult to see with the naked eye, it is possible to instantly identify them without contact. Furthermore, since it is possible to identify the front and back sides of the magnetic tape surface in real time, it is effective for online inspection on production lines and the like. Furthermore, the infrared light is modulated at a certain period, and the corresponding frequency component is extracted from the detection signal.
Further, by transmitting the reflected light through a filter whose absorption spectrum range and transmission range of the base surface are different from each other, excellent effects such as extremely reliable identification can be obtained.

以上、本発明について好適な実施例を挙げて説明したが
、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、例え
ば、磁気テープのみならず表裏の識別を必要とするあら
ゆる物体の判別に用いられる等、本発明の要旨を逸脱し
ない範囲において種々の改良並びに設計変更が可能であ
ることは勿論である。
Although the present invention has been described above with reference to preferred embodiments, the present invention is not limited to these embodiments. Of course, various improvements and design changes can be made without departing from the gist of the present invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、磁気テープ表面の反射率、すなわち、反射光
スペクトルを示す曲線、第2図は、本発明の一実施例装
置の構成の概略を示す説明図、第3図は、第2図の装置
の電気回路のブロック図、第4図は、他の実施例装置の
構成の概略を示す説明図、第5図は、さらに他の実施例
装置の構成の概略を示す説明図、第6図は、第5図の装
置の電気回路を示すブロック図である。 1O・・磁気テープ 12.14・・赤外光源16.1
8・・光導波路 20.22・・光チョッパ24.26
・・検知器 28.3O・・光導波路32.34・・分
光フィルタ 36・・比較回路 38・・表示器 40.42・・帯域フィルタ 44.46・・ピークホールド回路 48・・コンパレータ 50.52・・凹面鏡54・・
帯域フィルタ 56・・全波整流器58・・積分回路 
60・・スイッチ回路62.64・・ピークホールド回
路 66・・コンパレータ 特許出願人 凌和電子株式会社 Fig、1 Fig、2
FIG. 1 is a curve showing the reflectance of the magnetic tape surface, that is, the reflected light spectrum. FIG. 2 is an explanatory diagram showing the outline of the configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the outline of the configuration of the device of another embodiment, FIG. 5 is an explanatory diagram showing the outline of the configuration of the device of still another embodiment, and FIG. 5 is a block diagram showing the electrical circuitry of the device of FIG. 5; FIG. 1O...Magnetic tape 12.14...Infrared light source 16.1
8... Optical waveguide 20.22... Optical chopper 24.26
・・Detector 28.3O・・Optical waveguide 32.34・・Spectral filter 36・・Comparison circuit 38・・Display device 40.42・・Band filter 44.46・・Peak hold circuit 48・・Comparator 50.52 ...Concave mirror 54...
Bandpass filter 56...Full wave rectifier 58...Integrator circuit
60... Switch circuit 62. 64... Peak hold circuit 66... Comparator patent applicant Ryowa Electronics Co., Ltd. Fig, 1 Fig, 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1) 光反射率の相違する少なくとも2つの表面を備
える被識別体に所定の光を照射し、前記被識別体からの
反射光を検出し、前記被識別体の一方の表面からの反射
光の反射率と他方の表面からの反射光の反射率とを比較
することにより前記被識別体の表面を判別することを特
徴とする表面識別方法。 (2、特許請求の範囲第1項記載の方法において、所定
の光は、赤外光からなる表面識別方法。 (3)反射率の相違する2つの表面を備える被識別体の
表面に所定の光を照射する光源と、前記所定光の前記被
識別体の表面からの反射光を検出し反射光強度に対応す
る信号を発生する検出器とを備え、前記2つの表面の一
方の面からの反射光の反射光強度に対応する第1の信号
と前記2つの表面の他方の面からの反射光の反射光強度
に対応する第2の信号を比較することにより前記2つの
表面の中いずれか一方の面を識別するよう構成すること
を特徴とする表面識別装置。 (4)特許請求の範囲第3項記載の装置において、光源
は、赤外光を発生する赤外光源からなる表面識別装置。 (5) 特許請求の範囲第4項記載の装置において、被
識別体の2つの表面の赤外光反射率の差が顕著なスペク
トル帯域を透過させる帯域透過型フィルタを赤外光を照
射される表面と検出器を結ぶ反射光路に挿入してなる表
面識別装置。 (6) 特許請求の範囲第4項記載の装置において、赤
外光源の照射する赤外光を被識別体の表面に導く光導波
路と、前記表面からの反射光を検出器に導く光導波路と
を備えてなる表面識別装置。 (7) 特許請求の範囲第4項記載の装置において、さ
らに赤外光の照射する赤外光の光量を所定の周期で増減
せしめる手段と、検出器の発生する反射光強度に対応す
る信号から前記所定の周期の周波数成分を抽出する帯域
フィルタを備え、被識別体の2つの表面の一方の面から
の反射光に基づく信号から抽出された周波数成分と、前
記2つの表面の他方の面からの反射光に基づく信号から
抽出された周波数成分とを比較することにより前記2つ
の表面の一方の面から他方の面を識別する表面識別装置
。 (8)特許請求の範囲第7項記載の装置において、さら
に帯域フィルタの抽出した周波数成分を整流する整流回
路と前記整流回路の出力を積分する積分回路とを備え、
被識別体の2つの表面の一方の面からの反射光から結果
する前記積分回路の出力と、前記2つの表面の他方の面
からの反射光から結果する前記積分回路の出力とを比較
することにより前記2つの表面の一方の面から他方の面
を識別する表面識別装置。 (9)特許請求の範囲第4乃至8項のいずれかに記載の
装置において、赤外光反射率の相違する2つの表面の一
方の面に赤外光を照射する第1の赤外光源と、前記2つ
の表面の他方側に赤外光を同時に照射する第2の赤外光
源と、前記一方の面からの反射光を検出しその反射光強
度に対応する第1の信号を発生する第1の検出器と、前
記他方の面からの反射光を検出しその反射光強−に対応
する第2の信号を発生する第2の検出器と、前記第1お
よび第2の信号を比較する比較回路とを備えてなる表面
識別装置。
[Scope of Claims] (1) A predetermined light is irradiated onto an object to be identified that has at least two surfaces with different light reflectances, the reflected light from the object is detected, and one of the surfaces of the object to be identified is A surface identification method characterized in that the surface of the object to be identified is discriminated by comparing the reflectance of the reflected light from one surface with the reflectance of the reflected light from the other surface. (2. In the method described in claim 1, the predetermined light is an infrared light. a light source that irradiates light; and a detector that detects the reflected light of the predetermined light from the surface of the object to be identified and generates a signal corresponding to the intensity of the reflected light; By comparing a first signal corresponding to the reflected light intensity of the reflected light and a second signal corresponding to the reflected light intensity of the reflected light from the other surface of the two surfaces, one of the two surfaces is detected. A surface identification device configured to identify one side. (4) In the device according to claim 3, the light source is an infrared light source that generates infrared light. (5) In the device according to claim 4, a bandpass filter that transmits a spectral band in which the difference in infrared light reflectance between two surfaces of an object to be identified is significant is irradiated with infrared light. (6) In the device according to claim 4, the infrared light emitted by the infrared light source is guided to the surface of the object to be identified. A surface identification device comprising an optical waveguide and an optical waveguide that guides reflected light from the surface to a detector. (7) The device according to claim 4, further comprising: one of the two surfaces of the object to be identified, comprising means for increasing or decreasing the amount of light at a predetermined period, and a bandpass filter for extracting a frequency component of the predetermined period from a signal corresponding to the intensity of reflected light generated by the detector; one of the two surfaces by comparing the frequency component extracted from the signal based on the reflected light from the surface with the frequency component extracted from the signal based on the reflected light from the other surface of the two surfaces. (8) The device according to claim 7, further comprising: a rectifying circuit for rectifying the frequency component extracted by the bandpass filter; and integrating the output of the rectifying circuit. Equipped with an integrating circuit,
Comparing the output of the integrating circuit resulting from the reflected light from one of the two surfaces of the object to be identified with the output of the integrating circuit resulting from the reflected light from the other of the two surfaces. A surface identification device for identifying one side of the two surfaces from the other. (9) In the device according to any one of claims 4 to 8, a first infrared light source that irradiates infrared light onto one of two surfaces having different infrared light reflectance; , a second infrared light source that simultaneously irradiates infrared light onto the other side of the two surfaces, and a first signal that detects reflected light from the one surface and generates a first signal corresponding to the intensity of the reflected light. comparing the first and second signals with a second detector that detects reflected light from the other surface and generates a second signal corresponding to the intensity of the reflected light; A surface identification device comprising a comparison circuit.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01305340A (en) * 1988-06-03 1989-12-08 Fuji Photo Film Co Ltd Method and apparatus for discriminating front and back
JP2015081928A (en) * 2013-10-21 2015-04-27 日東電工株式会社 Optical waveguide, and spr sensor cell and colorimetric sensor cell using the same
JP2020106435A (en) * 2018-12-27 2020-07-09 株式会社フジキン Front/rear identifying method of reflecting member

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