JPS60125570A - 半導体整流器のサ−ジ電流試験方法 - Google Patents
半導体整流器のサ−ジ電流試験方法Info
- Publication number
- JPS60125570A JPS60125570A JP23325883A JP23325883A JPS60125570A JP S60125570 A JPS60125570 A JP S60125570A JP 23325883 A JP23325883 A JP 23325883A JP 23325883 A JP23325883 A JP 23325883A JP S60125570 A JPS60125570 A JP S60125570A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は所定の波高値を有する正弦波半波の波形のサ
ージ電流を半導体整流器に流通せしめたときの該整流器
の電流耐量とこの電流の流通後にひきつづいて印加され
る正弦波半波の波形の逆方向電圧に対する耐電圧とを検
証する試験方法に関する。
ージ電流を半導体整流器に流通せしめたときの該整流器
の電流耐量とこの電流の流通後にひきつづいて印加され
る正弦波半波の波形の逆方向電圧に対する耐電圧とを検
証する試験方法に関する。
近年、半導体整流器を構成する半導体整流素子は高電圧
化、大′亀流化が進み、特に電力用のサイリスタやダイ
オードは電圧が数千ボルド、電流が数千アンペア、サー
ジ電流耐量が敵方アンペアに達するものが供給されるよ
うになった。この発明はこのような大容量の半導体整流
素子を構成要素とする半導体整流器を対象としたもので
ある。
化、大′亀流化が進み、特に電力用のサイリスタやダイ
オードは電圧が数千ボルド、電流が数千アンペア、サー
ジ電流耐量が敵方アンペアに達するものが供給されるよ
うになった。この発明はこのような大容量の半導体整流
素子を構成要素とする半導体整流器を対象としたもので
ある。
半導体整流器は′１気的特性および最大定格の諸量を順
方向特性の側Ｗ、逆方向特性の測定、サージ電流試験な
どの各種測定試験により評価、検証している。この中で
順、逆方向特性の測定時の電圧、 ’ｇ、流の条件はそ
れぞれ数千ボルト、数千アンペア以下であり、試験設備
の容量から比較的容易に測定が可能であるのに対し、サ
ージ電流試験においては電流の波高値が敵方アンペアに
なるため、これに応じた試験設備が特別に必要となる。
方向特性の側Ｗ、逆方向特性の測定、サージ電流試験な
どの各種測定試験により評価、検証している。この中で
順、逆方向特性の測定時の電圧、 ’ｇ、流の条件はそ
れぞれ数千ボルト、数千アンペア以下であり、試験設備
の容量から比較的容易に測定が可能であるのに対し、サ
ージ電流試験においては電流の波高値が敵方アンペアに
なるため、これに応じた試験設備が特別に必要となる。
サージ電流試験は電力供給系統の整流器に異常に大きい
過電流が流れた場合、上位に設けられた保＃！８！遮断
器がこの過電流を検出して動作するまでの間の過電流に
対する整流器の耐力を検証するものであって、整流器に
所定の波高値を有する順方向の正弦波半波の波形の電流
を所定の繰返し回数通電するとともにその半波通電１ご
とにこれにつづいて印加される逆方向の正弦波半波の波
形の゛電圧に劇えるか否かを検証しようとするものひあ
る。
過電流が流れた場合、上位に設けられた保＃！８！遮断
器がこの過電流を検出して動作するまでの間の過電流に
対する整流器の耐力を検証するものであって、整流器に
所定の波高値を有する順方向の正弦波半波の波形の電流
を所定の繰返し回数通電するとともにその半波通電１ご
とにこれにつづいて印加される逆方向の正弦波半波の波
形の゛電圧に劇えるか否かを検証しようとするものひあ
る。
このような正弦波半波の波形の電流と逆方向電圧とを交
互に供試整流器に供給するための試験回路は、化１．２
図に示されるように、試験回路の力率が実質的に１とな
る抵抗負荷の回路によってはじめて得られるものであっ
て、通常の短絡試験や負荷開閉試験のように試験回路の
力率が小さい回路では、第３，４図に示されるように、
正弦波半波の波形の′電流を得ることはできない。すな
わち第１図に示されるように抵抗４を整流器５の回路に
挿入するこ吉によって力率を実質的に１きした回路にお
いては、交流′屓、源１の電圧９のどの位相において投
入スイッチ２を投入しても整流器５に流れる電流１１の
波形は正弦波半波の波形が繰り返してあられれる波形と
なり（ｉ’；Ｋ ｌ波、 ｌｌａのみこの波形の一部が
あられれる）、また整流器５の無電流明間中に整流器に
印加される逆方向電圧１２の波形も正弦波半波の波形と
なる。しかし第３図のように整流器５の回路に抵抗４と
リアクトル６とが挿入された回路ζこおいては、投入ス
イッチ２を投入したときの交流′電源１の１．用位相ψ
が、ψ−ａｒｃｃｏｓ （Ｒ／−、ｉ’Ｒ’＋ （ωＬ
）’） （！ｌ： す６ ヨウニ３４ハｈだトキにのみ
電流の第１波１１ａの波形か正弦波半波の波形となるの
みであって、電五の第２波以降は電源電圧の位相２π、
４π、６π、・・・の時点がらそれぞれ、流れはじめる
から、’！！’ ｊＡｔ ’ａ ５を短絡したとしたと
きの電圧９と抵Ｊ′）Ｌ４とリアクトル６とによってき
まる定常時の交流分が、この交流分波開鎖のｓｉｎψ倍
の直派分に重畳されたｌｌｂの波形となり、またこれに
伴って逆方向電圧も正弦波半波の一部の波形となる。
互に供試整流器に供給するための試験回路は、化１．２
図に示されるように、試験回路の力率が実質的に１とな
る抵抗負荷の回路によってはじめて得られるものであっ
て、通常の短絡試験や負荷開閉試験のように試験回路の
力率が小さい回路では、第３，４図に示されるように、
正弦波半波の波形の′電流を得ることはできない。すな
わち第１図に示されるように抵抗４を整流器５の回路に
挿入するこ吉によって力率を実質的に１きした回路にお
いては、交流′屓、源１の電圧９のどの位相において投
入スイッチ２を投入しても整流器５に流れる電流１１の
波形は正弦波半波の波形が繰り返してあられれる波形と
なり（ｉ’；Ｋ ｌ波、 ｌｌａのみこの波形の一部が
あられれる）、また整流器５の無電流明間中に整流器に
印加される逆方向電圧１２の波形も正弦波半波の波形と
なる。しかし第３図のように整流器５の回路に抵抗４と
リアクトル６とが挿入された回路ζこおいては、投入ス
イッチ２を投入したときの交流′電源１の１．用位相ψ
が、ψ−ａｒｃｃｏｓ （Ｒ／−、ｉ’Ｒ’＋ （ωＬ
）’） （！ｌ： す６ ヨウニ３４ハｈだトキにのみ
電流の第１波１１ａの波形か正弦波半波の波形となるの
みであって、電五の第２波以降は電源電圧の位相２π、
４π、６π、・・・の時点がらそれぞれ、流れはじめる
から、’！！’ ｊＡｔ ’ａ ５を短絡したとしたと
きの電圧９と抵Ｊ′）Ｌ４とリアクトル６とによってき
まる定常時の交流分が、この交流分波開鎖のｓｉｎψ倍
の直派分に重畳されたｌｌｂの波形となり、またこれに
伴って逆方向電圧も正弦波半波の一部の波形となる。
そこで試験回路の力率を実質的に１にす−るために抵抗
のみを抽入するとして、抵抗の所要容量を試算炉れば以
下の辿りである。すなわち、サージ電流すなわら試験電
流１１の波高値をＪ「Ｘ１０ｋＡ。
のみを抽入するとして、抵抗の所要容量を試算炉れば以
下の辿りである。すなわち、サージ電流すなわら試験電
流１１の波高値をＪ「Ｘ１０ｋＡ。
電源電圧９の波高値をｙ’２ Ｘ １．ＯｋＶ 、抵抗
４の抵抗値を０．１Ωとすれば抵抗の容量は１０ ＭＷ
となり、このような大容量の抵抗器はたとえ短時間定格
であっても現実に祷ることは困難である。加えてこの程
度の大きさの抵抗値によっても試験回路の力率を実質的
に１にすることができるためには、試験回路固イ１のリ
アクタンス分を減らず必要があり、このため試験設備を
ます沫す大容量化する必要があるという欠点があった。
４の抵抗値を０．１Ωとすれば抵抗の容量は１０ ＭＷ
となり、このような大容量の抵抗器はたとえ短時間定格
であっても現実に祷ることは困難である。加えてこの程
度の大きさの抵抗値によっても試験回路の力率を実質的
に１にすることができるためには、試験回路固イ１のリ
アクタンス分を減らず必要があり、このため試験設備を
ます沫す大容量化する必要があるという欠点があった。
この発明は上述の欠点を除去し、抵抗負荷を用いること
なく、呟かの追加費用により所定の試験条件を実質的に
満足させ得る試験方法を提供することを目１」勺とする
。
なく、呟かの追加費用により所定の試験条件を実質的に
満足させ得る試験方法を提供することを目１」勺とする
。
この発明は所定の波高値を有する正弦波半波の波形のサ
ージ電流を半導体整流器に流通せしめ、たときの該整流
器の電流耐量とこの電流の流通後にひきつづいて印加さ
れる正弦波半波の波形の逆方向電圧に対する耐電圧とを
検証する試験方法であって、補助整流器と補助スイッチ
とを直列に接続してなる直列回路を供試整流器と逆並列
に接続するとともにこの逆並列された回路を投入スイッ
チを介して交＃Ｌ電源に接続し、この交流電源からこの
逆並列回路に正弦波形の電流が供給されるように前記投
入スイッチと補助スイッチ♂を投入するとともに前記供
試整流器を流通する電流の半波期間終了に先立って前記
補助スイッチを開路することにより、供試整流器に逆方
向電圧を印加するようにして、試験電流の調整を交流電
源の内部インピーダンスと、必要に応じて前記逆並列回
路の交流電源側に介挿されたりアクドルとによって行な
い、経済的に所定の試験条件が実質的に満たされたサー
ジ電流試験を行な右うとするものである。
ージ電流を半導体整流器に流通せしめ、たときの該整流
器の電流耐量とこの電流の流通後にひきつづいて印加さ
れる正弦波半波の波形の逆方向電圧に対する耐電圧とを
検証する試験方法であって、補助整流器と補助スイッチ
とを直列に接続してなる直列回路を供試整流器と逆並列
に接続するとともにこの逆並列された回路を投入スイッ
チを介して交＃Ｌ電源に接続し、この交流電源からこの
逆並列回路に正弦波形の電流が供給されるように前記投
入スイッチと補助スイッチ♂を投入するとともに前記供
試整流器を流通する電流の半波期間終了に先立って前記
補助スイッチを開路することにより、供試整流器に逆方
向電圧を印加するようにして、試験電流の調整を交流電
源の内部インピーダンスと、必要に応じて前記逆並列回
路の交流電源側に介挿されたりアクドルとによって行な
い、経済的に所定の試験条件が実質的に満たされたサー
ジ電流試験を行な右うとするものである。
第５図に本発明に基づく試験回路の一実施例を示し、第
６図にこの試験回路によって得られる電圧、電流の波形
を示す。この試験回路による試験はつぎのように行なわ
れる。
６図にこの試験回路によって得られる電圧、電流の波形
を示す。この試験回路による試験はつぎのように行なわ
れる。
まず交流電源としての短絡発電機１５を始動し、２次側
に所定の逆方向電圧を発生する変圧器８を介して第６図
の９にて示されるような交流電圧を発生させる。つぎに
短絡発電機１５の内部インダクタンスと変圧器のもれイ
ンダクタンスと電Ｒ？Ａ整用のリアクトルのインダクタ
ンスとをまとめて代表する加のインダクタンスＬ□と、
短絡発電機１５と変圧器８とを含む試験回路自体の抵抗
を代表する７の抵抗値Ｒ４とからきまる力率、に相当し
た位相角：ψ１− ａｒｃ ｃｏｓ （Ｒ１７１Ｍ−二
（”ｔ）’） （７）時点′ｒ□ニオいて投入スイッチ
２と補助スイッチ２１とを同時に投入するか、補助スイ
ッチ２１をあらかじめ投入しておいて投入スイッチ２１
をこの位相において投入すると、短絡発電機１５から第
６図の漢に示されるような正弦波形の電流が供給され、
その正方向の半波冴が供試整流器に、逆方向の半波５が
補助整流器ると補助スイッチ２１に交互に流れる。また
投入スイッチ２１を前記位相ψ、にて投入して供試整流
器２２に正弦波半波の波形の電流を流しはじめた後、電
源周波数の１／２ザイクル以内に補助スイッチ２１を投
入しても、あに示される正弦波形の電流を得ることがで
きる。また補助整流器中に最初の半波電流を流すときに
は、投入スイッチ２の投入時点を第６図の１゛、より１
／２ザイクルおくれた時点とすればよい。なお上記ψ□
の式においてωは交流電圧の角周波数である。また３は
保障遮断器である。
に所定の逆方向電圧を発生する変圧器８を介して第６図
の９にて示されるような交流電圧を発生させる。つぎに
短絡発電機１５の内部インダクタンスと変圧器のもれイ
ンダクタンスと電Ｒ？Ａ整用のリアクトルのインダクタ
ンスとをまとめて代表する加のインダクタンスＬ□と、
短絡発電機１５と変圧器８とを含む試験回路自体の抵抗
を代表する７の抵抗値Ｒ４とからきまる力率、に相当し
た位相角：ψ１− ａｒｃ ｃｏｓ （Ｒ１７１Ｍ−二
（”ｔ）’） （７）時点′ｒ□ニオいて投入スイッチ
２と補助スイッチ２１とを同時に投入するか、補助スイ
ッチ２１をあらかじめ投入しておいて投入スイッチ２１
をこの位相において投入すると、短絡発電機１５から第
６図の漢に示されるような正弦波形の電流が供給され、
その正方向の半波冴が供試整流器に、逆方向の半波５が
補助整流器ると補助スイッチ２１に交互に流れる。また
投入スイッチ２１を前記位相ψ、にて投入して供試整流
器２２に正弦波半波の波形の電流を流しはじめた後、電
源周波数の１／２ザイクル以内に補助スイッチ２１を投
入しても、あに示される正弦波形の電流を得ることがで
きる。また補助整流器中に最初の半波電流を流すときに
は、投入スイッチ２の投入時点を第６図の１゛、より１
／２ザイクルおくれた時点とすればよい。なお上記ψ□
の式においてωは交流電圧の角周波数である。また３は
保障遮断器である。
このようにして供試整流器に正弦波半波の波形の電流が
所定の回数流れた後の逆方向電圧に対する耐力の検証に
は、この電流の最終半波直前の補助整流器中の逆方向半
波電流の流通期間中の時点Ｔ２．において補助スイッチ
２１を開極しその電流零点においてこの逆方向電流を遮
断するか、供試整流器中の最終半波電流の流通期間中す
なわち補助整流器の無電流期間中の時点Ｔ２において補
助スイッチ２１を開極してその両端子間に所要絶縁耐力
を確立することにより、第６図の１２に示されるような
、交流電圧９の波高値に等しい波高値を有する部分半波
の電圧が供試整流器に逆方向に印加される。ここで時点
Ｔ４は供試整流器に対して逆方向電圧の印加が始まった
後の無電流期間中に保護遮断器３が開極し、その遮断接
点間に所要絶縁耐力が確立された時点を示すものであっ
て、この保護遮される。
所定の回数流れた後の逆方向電圧に対する耐力の検証に
は、この電流の最終半波直前の補助整流器中の逆方向半
波電流の流通期間中の時点Ｔ２．において補助スイッチ
２１を開極しその電流零点においてこの逆方向電流を遮
断するか、供試整流器中の最終半波電流の流通期間中す
なわち補助整流器の無電流期間中の時点Ｔ２において補
助スイッチ２１を開極してその両端子間に所要絶縁耐力
を確立することにより、第６図の１２に示されるような
、交流電圧９の波高値に等しい波高値を有する部分半波
の電圧が供試整流器に逆方向に印加される。ここで時点
Ｔ４は供試整流器に対して逆方向電圧の印加が始まった
後の無電流期間中に保護遮断器３が開極し、その遮断接
点間に所要絶縁耐力が確立された時点を示すものであっ
て、この保護遮される。
この試験方法においては正弦波電流の半波ごとの逆方向
電圧の印加は行われないが、電流半波の所定の繰返し回
数を経た、熱的に最過酷な状態において電圧を印加する
ものであること、また半導体の逆方向耐圧は印加電圧の
波高値によってきまり、その時間幅にはほとんど影瞬さ
れないことから、所定の試験条件と実質的に同一の結果
が得られる試験を行なったことになる。
電圧の印加は行われないが、電流半波の所定の繰返し回
数を経た、熱的に最過酷な状態において電圧を印加する
ものであること、また半導体の逆方向耐圧は印加電圧の
波高値によってきまり、その時間幅にはほとんど影瞬さ
れないことから、所定の試験条件と実質的に同一の結果
が得られる試験を行なったことになる。
この発明によれば供試整流器に対し、補助スイッチが直
列接続された補助整流器を逆並列に接続するだけの僅か
な追加費用のみにて、供試整流器に対する正弦波半波−
の波形の電流の繰返し通電が可能になるとともに、この
補助スイッチの開極時点の制御を行なうのみにて所定の
波高値を有する逆方向′電圧を供試整流器に印加するこ
とができ、極めて経済的に所定の試験条件を実質的に滴
定させ得る試験が可能になるという効果が得られる。
列接続された補助整流器を逆並列に接続するだけの僅か
な追加費用のみにて、供試整流器に対する正弦波半波−
の波形の電流の繰返し通電が可能になるとともに、この
補助スイッチの開極時点の制御を行なうのみにて所定の
波高値を有する逆方向′電圧を供試整流器に印加するこ
とができ、極めて経済的に所定の試験条件を実質的に滴
定させ得る試験が可能になるという効果が得られる。
第１図は所定の試験条件に従った電圧、″噴流を供給す
ることが可能な試験回路を示す図、第２図は第１図の回
路において得られる電圧、゛電流の波形を示す図、第３
図は試験回路中にリアクトルが含すれる通常の試験回路
を示す図、第４図は第３図の試験回路において得られる
市１流波形を説明する図、第５図は本発明に基づく試験
回路の一実施例を示す図、第６図は第５図の試験回路を
用いて試験したときの各部の′重圧、電流の波形を示す
図である。 １・・・交流゛電源、２・・投入スイッチ、５・・半導
体整流器、９・・交流電源の端子電圧、１１・・・半導
体整流器を流通する電流、】２・・・半導体整流器の端
子電圧、１５・・・短絡発電機、２１・・・補助スイッ
チ、ｎ・・・供試整流器、乙・・・補助整流器、冴・・
・供試整流器を流第１図 第２図 第３図 第４図 第６図
ることが可能な試験回路を示す図、第２図は第１図の回
路において得られる電圧、゛電流の波形を示す図、第３
図は試験回路中にリアクトルが含すれる通常の試験回路
を示す図、第４図は第３図の試験回路において得られる
市１流波形を説明する図、第５図は本発明に基づく試験
回路の一実施例を示す図、第６図は第５図の試験回路を
用いて試験したときの各部の′重圧、電流の波形を示す
図である。 １・・・交流゛電源、２・・投入スイッチ、５・・半導
体整流器、９・・交流電源の端子電圧、１１・・・半導
体整流器を流通する電流、】２・・・半導体整流器の端
子電圧、１５・・・短絡発電機、２１・・・補助スイッ
チ、ｎ・・・供試整流器、乙・・・補助整流器、冴・・
・供試整流器を流第１図 第２図 第３図 第４図 第６図
Claims (1)
- １）所定の波高値を有する正弦波半波の波形のサージ電
流を半導体整流器に流通せしめたときの該整流器の電流
耐量とこの電流の流通後にひきつづいて印加される正弦
波半波の波形の逆方向電圧に対する耐電圧とを検証する
試験方法でありて、補助整流器と補助スイッチとを直列
に接続してなる直列回路を供試整流器と逆並列に接続す
るとともにこの逆並列された回路を投入スイッチを介し
て交流電源に接続し、この交流電源からこの逆並列回路
に正弦波形の電流が供給されるように前記投入スイッチ
と補助スイッチとを投入するとともミこ前記供試整流器
を流通する電流の半波期間終了に先立って前記補助スイ
ッチを開路することにより、供試整流器に逆方向電圧が
印加されることを特徴とする半導体整流器のサージ電流
試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23325883A JPS60125570A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 半導体整流器のサ−ジ電流試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23325883A JPS60125570A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 半導体整流器のサ−ジ電流試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60125570A true JPS60125570A (ja) | 1985-07-04 |
Family
ID=16952252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23325883A Pending JPS60125570A (ja) | 1983-12-09 | 1983-12-09 | 半導体整流器のサ−ジ電流試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60125570A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104865513A (zh) * | 2015-06-05 | 2015-08-26 | 山东晶导微电子有限公司 | 一种自带检测功能的浪涌电流测试电路 |
-
1983
- 1983-12-09 JP JP23325883A patent/JPS60125570A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104865513A (zh) * | 2015-06-05 | 2015-08-26 | 山东晶导微电子有限公司 | 一种自带检测功能的浪涌电流测试电路 |
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