JPS60115848A - Ultrasonic microscope device - Google Patents

Ultrasonic microscope device

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Publication number
JPS60115848A
JPS60115848A JP58224860A JP22486083A JPS60115848A JP S60115848 A JPS60115848 A JP S60115848A JP 58224860 A JP58224860 A JP 58224860A JP 22486083 A JP22486083 A JP 22486083A JP S60115848 A JPS60115848 A JP S60115848A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
wave
reflected
velocity
intensity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58224860A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Nanba
昭宏 南波
Fumio Uchino
内野 文雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
Priority to JP58224860A priority Critical patent/JPS60115848A/en
Publication of JPS60115848A publication Critical patent/JPS60115848A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S15/00Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
    • G01S15/88Sonar systems specially adapted for specific applications
    • G01S15/89Sonar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • G01S15/8906Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques

Abstract

PURPOSE:To measure and display an ultrasonic wave image and material characteristics of a sample automatically in a short time by calculating the Rayleigh wave speed and longitudinal and lateral wave speeds of the sample, and calculating and displaying the elastic constant of the sample by using said speed values. CONSTITUTION:While the sample 21 is moved in the axial direction of an acoustic lens 18, the relation of reflected wave intensity of movement distance is measured to calculate the speed of the Rayleigh wave propagating in the sample from the distance interval between peaks of reflected wave intensity and also calculates the speed of the longitudinal wave propagating in the sample from the time interval between peaks of a multiecho wave from the sample 21. Further, the speeds of the Rayleigh wave and longitudinal wave are used for arithmetic to calculate and display or record the elastic constant of the sample 21. Therefore, not only the ultrasonic wave image of the sample, but also material characteristics are measured and displayed automatically in a short time.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は試料の超音波像のみならず試料の弾性定数を°
も測定可能とし、材料特性の把握も行い得るように構成
した超音波顕微鏡装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Technical Field of the Invention] The present invention provides not only an ultrasonic image of a sample but also an elastic constant of the sample.
The present invention relates to an ultrasonic microscope device configured to be able to measure and grasp material properties.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

光の代りに超音波を用いて物体の微視的な構造を観察す
る装置として、機械走査形超音波顕微鏡がある。この超
音波顕微鏡は、原理的には細く絞った超音波ビームによ
って試料面を機械的に走査し、その試料により散乱され
た超音波を集音して電気信号に変換し、その信号を陰極
線管の表示面に二次元的に表示し、顕微鏡像を得るもの
である。
A mechanical scanning ultrasound microscope is a device that uses ultrasound instead of light to observe the microscopic structure of an object. In principle, this ultrasonic microscope mechanically scans the sample surface with a narrowly focused ultrasonic beam, collects the ultrasonic waves scattered by the sample, converts them into electrical signals, and transmits the signals to a cathode ray tube. The image is displayed two-dimensionally on the display screen to obtain a microscopic image.

走査する超音波としては、100MHz〜IGHz位の
超福周波ビームが用いられ、10μm〜1μm程度の分
解能が得られる。さらに、上記以上の周波数ビームを用
いれば、さらに分解能を上げることも可能であり、また
超音波によって物体の内部像を観察し得るという利点も
有している。
As the ultrasonic waves to be scanned, an ultrafine frequency beam of about 100 MHz to IGHz is used, and a resolution of about 10 μm to 1 μm can be obtained. Furthermore, by using a beam with a frequency higher than the above, it is possible to further increase the resolution, and there is also the advantage that an internal image of an object can be observed using ultrasonic waves.

構成としては、超音波の検出の仕方によって、すなわち
試料内で散乱あるいは減衰しながら透過してきた超音波
を検出する場合と、試料内の音響的性質の差によって反
射してきた超音波を検出する場合とによって、透過型と
反射型とに分げらゎる。
The configuration depends on how the ultrasound is detected; in other words, there are cases where ultrasonic waves that have passed through the sample while being scattered or attenuated are detected, and cases where ultrasonic waves that have been reflected due to differences in the acoustic properties within the sample are detected. Depending on the type, they are divided into transmissive type and reflective type.

第1図は反射型の超音波ビームの構成図で、高この信号
は超音波に変換されてこれが貼着された送受波兼用のサ
ファイア等の超音波伝搬々す1体材がら成る音響レンズ
4の一面より内部に放射される。
Figure 1 is a configuration diagram of a reflective ultrasonic beam. This signal is converted into an ultrasonic wave, and this is attached to an acoustic lens 4 made of an ultrasonic propagation material such as sapphire, which is used for both transmitting and receiving waves. radiates inward from one side of the

この音響レンズ4の地面は球面状にえぐられて球面レン
ズ部4aとされ、球面レンズ部4aと対向して試料保持
台5が配される。音響レンズ4と前記保持台5との間に
は音場媒体である水6が介在され、前記球面1/ンズ部
4aの焦点において試料7が保持台5に取付けられる。
The ground surface of this acoustic lens 4 is hollowed out into a spherical shape to form a spherical lens section 4a, and a sample holding table 5 is arranged opposite to the spherical lens section 4a. Water 6, which is a sound field medium, is interposed between the acoustic lens 4 and the holding table 5, and the sample 7 is attached to the holding table 5 at the focal point of the spherical lens portion 4a.

保持台5は走査装置8でX及びY方向(球面レンズ部4
aに対向した水平方向)に移動される。また、保持台5
は球面レンズ部4aに対して上下動可能にされ、図示Z
方向への移動ができるようになっている。勿論、保持台
5の代わりに音響レンズ4をX、Y及びZ方向に移動す
ることも可能である。走査装置8は走査回路9により制
御される。
The holding table 5 is scanned by the scanning device 8 in the X and Y directions (the spherical lens part 4
(horizontal direction opposite to a). In addition, the holding stand 5
is movable up and down with respect to the spherical lens part 4a, and
It is possible to move in any direction. Of course, it is also possible to move the acoustic lens 4 in the X, Y, and Z directions instead of the holding table 5. The scanning device 8 is controlled by a scanning circuit 9.

上記構成においては、圧電トランスジューサ3より音響
レンズ4に入射された超音波は集電されて試料7へ到達
し、その反射波は再び音響レンズ4で集音され、圧電ト
ランスジューサ3で電気信号に変換されて、前記方向性
結合器2を通って表示装置10へ供給されるようになっ
ている。
In the above configuration, the ultrasonic waves incident on the acoustic lens 4 from the piezoelectric transducer 3 are collected and reach the sample 7, and the reflected waves are collected again on the acoustic lens 4 and converted into electrical signals by the piezoelectric transducer 3. The signal is then supplied to the display device 10 through the directional coupler 2.

このように構成された従来の超音波顕微鏡では、試料の
表面又は内部での超音波の反射又は透過による音響像を
描き出すことができるほか、試料保持台をZ軸方向に移
動させ、その移動距離に対する反射波強度を測定し、測
定される反射波のピーク、ピーク間の距離的な間隔によ
り試料内を伝播するレーリー波の速度をめて、この速度
値にて試料の洞性等の遣いを見ることは可能であった。
Conventional ultrasonic microscopes configured in this way can not only draw acoustic images by reflection or transmission of ultrasonic waves on the surface or inside of the sample, but also move the sample holder in the Z-axis direction and change the distance it moves. The intensity of the reflected wave is measured, and the velocity of the Rayleigh wave propagating within the sample is calculated based on the peak of the measured reflected wave and the distance between the peaks, and this velocity value is used to determine the sinusoidal properties of the sample. It was possible to see.

しかしながら、従来の超音波顕微鏡装置では、l述のよ
うな速度値がめられても、例えば試料の弾性定数等を具
体的に測定することは出来ず試料の材料特性を充分に把
握することは不可能であった。
However, with conventional ultrasonic microscope devices, even if velocity values such as those mentioned above are obtained, it is not possible to specifically measure the elastic constants of the sample, and it is difficult to fully understand the material properties of the sample. It was possible.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上述した点にかんがみ、試料の超音波像のみな
らず試料の材料特性をも測定することができる超音波顕
微鏡装置を提供することである。
In view of the above-mentioned points, the present invention provides an ultrasonic microscope apparatus capable of measuring not only an ultrasonic image of a sample but also the material properties of the sample.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明の超音波顕微鏡装置は、試オ゛1のZ軸方向の移
動距離に対する反射波強度を測定し試料のレーリー波の
速度を計測する手段を設+Jる一方、反射波の多重的な
エコーの時間間隔を測定し試料の縦波の速度を計測する
手段と、レーリー波と縦波の速度値より試料の横波の速
度を算出する手段と、上記6波の速度値より試料の弾性
定数を算出する手段とを設けて、試料の弾性定数を表示
装置若しくはプリンタ装置にて表示或いは記録できるよ
うに構成するものである。
The ultrasonic microscope device of the present invention is equipped with a means for measuring the intensity of reflected waves with respect to the moving distance in the Z-axis direction of sample probe 1 and measuring the speed of Rayleigh waves of the sample, and also measures multiple echoes of the reflected waves. means to measure the velocity of the longitudinal wave of the sample by measuring the time interval of The method is configured such that the elastic constant of the sample can be displayed or recorded on a display device or a printer device.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、図面に基づいて本発明の実施例について説明する
Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

第2図は本発明に使用される超音波顕微鏡の構成を示す
側面図で、第3図は保持台付近を拡大して示す正面図で
ある。
FIG. 2 is a side view showing the configuration of the ultrasonic microscope used in the present invention, and FIG. 3 is an enlarged front view showing the vicinity of the holding table.

第2図において、符号11は接眼レンズであり、12は
鏡筒である。鏡筒12の一部より対物レンズ13が配性
され、ゴニオメータ14を載せた保持台15に対向して
いる。そして、顕微鏡本体は鏡脚16にて保持されてい
る。保持台15は保持台移動装置17によって保持され
、音響レンズ18はゴニオメータ14に対向していて、
ボイスコイルより成る加振器20に支持されている。鏡
筒12には落射照明用光源19が導びかれている。
In FIG. 2, reference numeral 11 is an eyepiece lens, and 12 is a lens barrel. An objective lens 13 is arranged in a part of the lens barrel 12 and faces a holding table 15 on which a goniometer 14 is mounted. The microscope main body is held by mirror legs 16. The holding table 15 is held by a holding table moving device 17, and the acoustic lens 18 faces the goniometer 14.
It is supported by a vibrator 20 consisting of a voice coil. A light source 19 for epi-illumination is guided into the lens barrel 12 .

そして、ゴニオメータ14の上には試料21が載置され
ている。なお、符号22は保持台移動装置17を移動さ
せるための走査用つまみである。また、第3図に示すよ
うに音響レンズ18は加振器20より加振器の振動を音
響レンズ18に伝えるためのアー・ム23によって支持
されている。加振器20は図示しない外部入力信号発生
器により加えられた交流信号(正弦波信号が使われる)
によって、アーム23の長手方向に数I Q tlzの
振動数をもって振動する。この加振器20による振動を
受けて音響レンズ18は走査される。音響レンズ1Bの
下面には水24が浸されており、水24は音響レンズ1
8と試料21間の音場媒体として超音波を出来るかぎり
減衰させることなく伝達する役目をしている。試料21
はゴニオメータ14の上面に保持されており、ゴニオメ
ータ14のつまみを回すことにより、試料表面が音響し
〕ノズ18の軸方向に対して垂直に対向するように調整
できるようになっている。ゴニオメータ14には二次元
走査可能なように、X、Y方向走査用つまみが付けられ
ている。ゴニオメータ14は保持台15にて保持されて
おり、保持台15は保持台移動装置17にて保持されて
、保持台移動装置走査用っまみ22を右方向或いは左方
向に回転させることにより、上下方向に移動するように
なっている。
A sample 21 is placed on the goniometer 14. Note that the reference numeral 22 is a scanning knob for moving the holding table moving device 17. Further, as shown in FIG. 3, the acoustic lens 18 is supported by an arm 23 for transmitting vibrations from the exciter 20 to the acoustic lens 18. The exciter 20 receives an AC signal (a sine wave signal is used) applied by an external input signal generator (not shown).
As a result, the arm 23 vibrates in the longitudinal direction with a frequency of several I Q tlz. The acoustic lens 18 is scanned by receiving vibrations from the vibrator 20. The lower surface of the acoustic lens 1B is immersed in water 24.
It serves as a sound field medium between the sample 8 and the sample 21 to transmit ultrasonic waves with as little attenuation as possible. Sample 21
is held on the upper surface of the goniometer 14, and by turning a knob on the goniometer 14, the sample surface can be adjusted so as to be perpendicular to the axial direction of the nozzle 18. The goniometer 14 is provided with X- and Y-direction scanning knobs to enable two-dimensional scanning. The goniometer 14 is held by a holding table 15, and the holding table 15 is held by a holding table moving device 17, and can be moved up and down by rotating the holding table moving device scanning knob 22 to the right or left. It is designed to move in the direction.

第4図は超音波顕微鏡装置4の電気回路を示すブロック
図である。
FIG. 4 is a block diagram showing the electric circuit of the ultrasonic microscope device 4.

第4図に示すように、高周波パルス発生器25られた圧
電トランスジューサ27に到達するようになっている。
As shown in FIG. 4, the high frequency pulse generator 25 reaches a piezoelectric transducer 27.

高周波パルス信号は圧電トランスジューサ27によって
超音波に変換され、音響レンズ18内を伝播する。超音
波は音響レンズ18下面の球面レンズ部によって球面波
に変換されて水24内を通過し、試料21に当たるよう
になっている。そこで、試料21から超音波が反射され
て再び水24内を通過し、再度音響レンズ18の球面レ
ンズ部を通って平面波に変換され、圧電トランスジュー
サ27に到達し、圧電トランスジューサ21にてさらに
電気信号に変換される。このようにして生じた電気信号
は再びサーキュレータ26を通してグー1〜回路28に
導びかれるようになっている。ゲート回路28では圧電
トランスジューサ27に返ってくる超音波反射信号の内
試料21からの正しい反射信号のみを取り出すことがで
きるように、正しい反射信号が戻ってくるタイミングで
ゲートを開き、試料21からの反射信号を取り出し易く
するようにしている。関言すれば、ゲート回路28によ
って音響レンズ18の内部等からの不要反射によるノイ
ズ成分を小さくするようにしている。このようにして得
られた試料21面からの正しい反射信号を高周波増幅回
路29へ導いて増幅し、混合回路30へ導くようにする
The high frequency pulse signal is converted into an ultrasonic wave by the piezoelectric transducer 27 and propagated within the acoustic lens 18 . The ultrasonic wave is converted into a spherical wave by the spherical lens portion on the lower surface of the acoustic lens 18, passes through the water 24, and hits the sample 21. There, the ultrasonic wave is reflected from the sample 21, passes through the water 24 again, passes through the spherical lens part of the acoustic lens 18 again, is converted into a plane wave, reaches the piezoelectric transducer 27, and is further transmitted to the piezoelectric transducer 21 as an electrical signal. is converted to The electric signal generated in this manner is again guided to the circuit 1 to circuit 28 through the circulator 26. In the gate circuit 28, the gate is opened at the timing when the correct reflected signal returns so that only the correct reflected signal from the sample 21 can be extracted from among the ultrasonic reflected signals returned to the piezoelectric transducer 27. This makes it easy to extract the reflected signal. Specifically, the gate circuit 28 is used to reduce noise components due to unnecessary reflections from inside the acoustic lens 18 and the like. The correct reflected signal from the surface of the sample 21 obtained in this way is guided to the high frequency amplification circuit 29 for amplification, and then guided to the mixing circuit 30.

混合回路30へは局部発振器31からの局部発振周波数
信号が入り、この信号と試料21からの反射信号が混合
され、その結果中間周波数46号に変換される。このよ
うに周波数を下げて「1月111周波唇ンに変換するこ
とにより増幅しn < tcるど同所」に、ノイズ成分
も少くすることができるようにしている。中間周波数信
号は中間周波数増幅回路32により増幅されて検波回路
33へ導かれ、試料21からの信号であるバースト波の
包絡線を取り出し、その後ブランキング回路34へ通す
ようにしている。ブランキング回路34では試料21か
らの反射信号のみが取り出され、他の本要な信号がカッ
トされ、ピーク検波回路35cこ導いてピーク検波する
。このようにして得られた検波出力信号を順次スキャン
コンバータ36に導いてテレビジョン信号に変換し、そ
の輝度信号によってテレビジョンモニタ37に画像表示
するようにしている。この場合、スキャンコンバータ3
6はビ・−り検波回路35からの検波出力何月を一時記
憶している。
A local oscillation frequency signal from a local oscillator 31 enters the mixing circuit 30, and this signal and the reflected signal from the sample 21 are mixed, and as a result, the signal is converted to an intermediate frequency number 46. In this way, the noise component can be reduced by lowering the frequency and converting it into a 1/111 frequency lip to amplify it so that n < tc. The intermediate frequency signal is amplified by an intermediate frequency amplification circuit 32 and guided to a detection circuit 33 to extract the envelope of the burst wave, which is a signal from the sample 21, and then pass it to a blanking circuit 34. In the blanking circuit 34, only the reflected signal from the sample 21 is extracted, other important signals are cut off, and the signal is guided to a peak detection circuit 35c for peak detection. The detection output signals obtained in this manner are sequentially guided to a scan converter 36 and converted into a television signal, and an image is displayed on a television monitor 37 using the luminance signal. In this case, scan converter 3
6 temporarily stores the number of months of the detection output from the beam detection circuit 35.

又、X偏向信号発生回路38及びY (+、it向信号
発信号発生回路39回路40にて制御可能なX−Y走査
機構41の走査周期に同期して動作するように構成され
、スキャンコンバータ36において前述の一時記憶した
検波出力信号をテレビジョン走査周期で読み出すと共に
、この読み出した信号にX及びX偏向信号発生回路38
.39からの各同期信号を付加して複合テレビジョン信
号を作成し、この信号をテレビジョンモニタ3Tに送っ
て試料21の超音波画像を得るようにしている。
Further, the scan converter is configured to operate in synchronization with the scanning period of the X-Y scanning mechanism 41 which can be controlled by the X deflection signal generation circuit 38 and the Y (+, it direction signal generation circuit 39 circuit 40) At step 36, the temporarily stored detection output signal mentioned above is read out at the television scanning cycle, and the readout signal is applied to the X and X deflection signal generation circuit 38.
.. Each synchronization signal from 39 is added to create a composite television signal, and this signal is sent to the television monitor 3T to obtain an ultrasonic image of the sample 21.

一方、上記装量には、制御回路40にて制御可能なZ軸
走査機構42が設けられていて、保持台15をZ軸部ち
高さ方向に移動させることができるようにしている。し
たがって、制御回路40からZ軸走査機構42へ制御信
号を送り、保持台15を制御回路40からの指令に従っ
て上下方向に移動させながら、試料21から反射信号を
受波できるようになっている。このようにすれば、試料
21のZ軸方向の移動距離Zに対する反射信号出力Vを
測定することができる。
On the other hand, the above-mentioned loading device is provided with a Z-axis scanning mechanism 42 that can be controlled by a control circuit 40, so that the holding table 15 can be moved in the Z-axis direction and in the height direction. Therefore, a control signal is sent from the control circuit 40 to the Z-axis scanning mechanism 42, and while the holding table 15 is moved in the vertical direction according to commands from the control circuit 40, a reflected signal can be received from the sample 21. In this way, it is possible to measure the reflected signal output V with respect to the moving distance Z of the sample 21 in the Z-axis direction.

第5図は上記のようにして測定された移動距離Z対反射
信号出力V(但し、図では死灰射出力を示している)の
関係(以下■−Z曲線という)を示す図であって、移動
距離Zによって反射信号強度に周期的なピーク又は谷部
分が形成されている。
FIG. 5 is a diagram showing the relationship (hereinafter referred to as ■-Z curve) between the travel distance Z and the reflected signal output V (however, the figure shows the dead ash radiation output) measured as described above, Periodic peaks or valleys are formed in the reflected signal intensity depending on the moving distance Z.

この曲線において、その谷部分のピッチ1ΔZNIをめ
れば、次式より試料21のレーリー波の速度がめられる
ことが既に知られている。
In this curve, it is already known that by subtracting the pitch 1ΔZNI of the trough, the velocity of the Rayleigh wave of the sample 21 can be determined from the following equation.

1△ZN l =−Vn2(f ・VH,O) −−−
−(1)但し、Vnは試料の17−り−波の速度、fは
周波数、■u2oは水の音速である。(1)式において
、周波数と水の音速は判っているので、レーリー波の速
度VRをめることができる。
1△ZN l = -Vn2 (f ・VH, O) ---
-(1) However, Vn is the velocity of the 17-ri wave of the sample, f is the frequency, and ■u2o is the sound velocity of water. In equation (1), since the frequency and the sound velocity of water are known, the velocity VR of the Rayleigh wave can be calculated.

一方、試料21及び音響レンズ18からは反射エコー信
号が多重的に反射してくる。
On the other hand, reflected echo signals are reflected from the sample 21 and the acoustic lens 18 in multiple ways.

8g6図は試料21内での縦波の伝播2反射の状態を示
す説明図であって、縦波は試料21の上面及び下面で反
射して第7図に示すような多重エコー信号WEを生ずる
。但し、第7図において横軸tは時間、縦軸、■は反射
信号強度である。多重エコー信号Wlの時間間隔法Δt
と試料21の厚さdがわかっていれば、試料21内を伝
播する縦波の速度V/は次式よりめることができる。
Figure 8g6 is an explanatory diagram showing the state of propagation and reflection of longitudinal waves within the sample 21, in which the longitudinal waves are reflected on the upper and lower surfaces of the sample 21, producing multiple echo signals WE as shown in Figure 7. . However, in FIG. 7, the horizontal axis t is time, the vertical axis, and ■ is the reflected signal intensity. Time interval method Δt of multiple echo signal Wl
If the thickness d of the sample 21 is known, the velocity V/ of the longitudinal wave propagating within the sample 21 can be calculated from the following equation.

なお、第7図において、大きな振幅の反射エコー信号W
Lは音響レンズ18内での繰返し反射工つ一信号であり
、音響レンズ1B内のエコー信号WLの繰返し状態を第
8図に示している。このようなレンズ1B内での繰返し
反射エコー信号WLは強く出てくる。
In addition, in FIG. 7, a large amplitude reflected echo signal W
L is a signal that is repeatedly reflected within the acoustic lens 18, and the repeated state of the echo signal WL within the acoustic lens 1B is shown in FIG. Such a repeatedly reflected echo signal WL within the lens 1B comes out strongly.

また、一般的な試料21に対しては次のような方程式が
成立する。
Further, the following equation holds true for the general sample 21.

=0 ・・・・・・・・・ (3) 但し、Vtは試料21内を伝播する横波の速度である。=0 ・・・・・・・・・(3) However, Vt is the speed of the transverse wave propagating within the sample 21.

(3)式にα) 、 (2)式でめられたし・−り一波
の音速VR及び縦波の音速V/を代入すれば、試料21
内を伝播する横波の音速Vtがめらねる。
By substituting the sound velocity VR of one wave and the sound velocity V/ of the longitudinal wave found in equation (2) into equation (3), sample 21
The sound velocity Vt of the transverse wave propagating inside the plane is staggering.

以上の測定及び演算によりレーリー波、縦波及び横波の
各速度VB 、 Vt及びVtがまるので、試料21が
一般的な試料であれば弾性定数は次のような関係式で表
すことができる。
Through the above measurements and calculations, the velocities VB, Vt, and Vt of Rayleigh waves, longitudinal waves, and transverse waves are calculated, so if the sample 21 is a general sample, the elastic constant can be expressed by the following relational expression.

但し、ρは試料の密度、μ及びλはラーメ定数、Eはヤ
ング率、Bは体積弾性率、しはポアソン比で、C,、、
C12,C44はテンソル成分を示す。
However, ρ is the density of the sample, μ and λ are Ramé constants, E is Young's modulus, B is bulk modulus, and is Poisson's ratio, C,...
C12 and C44 indicate tensor components.

ところで、上記第7図で示した時間間隔Δtは陰極線管
画面上で観測してめても良いが、自動的に計測すること
もできる。
By the way, the time interval Δt shown in FIG. 7 may be observed on the cathode ray tube screen, but it can also be measured automatically.

このような試料21内での縦波の多重エコー信号苛の時
間間隔△tを測定する場合には音響レンズ18内での繰
返し反射エコー信号WLは邪魔になるので、この繰返し
反射エコー信号WLを取り去る手段として既に特願昭5
7−102400号に記載されているような装置が提案
されている。この装置の構成は第9図に示すようなもの
であり、前記音響レンズ18のほかに、さらにもう一つ
ダミーとして音響レンズ18Aを用意するもので、この
レンズ18Aの下面には試料を置かず試料台との間に水
24を介在させ圧電トランスジューサ27Aより反射信
号を得るようにする。そして、ダミーとしての音響レン
ズ18Aを通して得られる多重エコー信号出力と、試料
検出用の音響レンズ18で得られる多重エコー信号出力
とを差動増幅するように構成する。この装置によって得
られる反射エコー信号はレンズ内で生じる繰返し反射エ
コー信号WLが打ち消された信号となるので、試料内で
の装置より得られる多重エコー信号W/及び■−Z曲線
を用いて弾性定数の算出及び表示を行うための回路構成
を示すブロック図であって、多重エコー測定装置43か
らのエコー信号輩はディジタルメモリ44に入力されて
ディジタル値に変換され、さらに演算回路45でそのピ
ークとピークの時間間隔Δtを検出すると共にこの間隔
△tを用いて(2)式の計算を行0試料21内での縦波
の速度Vtv−Z曲線を、保持台15をZ軸部ち高さ方
向に移動させることによりめ、第5図に示したようなV
−2曲線を得て、ディジタルメモリ4Tにメモリする。
When measuring the time interval Δt of multiple echo signals of longitudinal waves within the sample 21, the repeatedly reflected echo signal WL within the acoustic lens 18 becomes a hindrance. A special application has already been filed in 1973 as a means to remove
A device such as that described in No. 7-102400 has been proposed. The configuration of this device is as shown in FIG. 9, and in addition to the acoustic lens 18, another dummy acoustic lens 18A is prepared, and no sample is placed on the bottom surface of this lens 18A. Water 24 is interposed between the sample stage and the piezoelectric transducer 27A to obtain a reflected signal. The multiple echo signal output obtained through the dummy acoustic lens 18A and the multiple echo signal output obtained by the sample detection acoustic lens 18 are configured to be differentially amplified. Since the reflected echo signal obtained by this device is a signal in which the repeated reflected echo signal WL generated within the lens is canceled, the elastic constant is calculated using the multiple echo signal W/ and -Z curve obtained from the device inside the sample. FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration for calculating and displaying the echo signal from the multiple echo measuring device 43, which inputs the echo signal to a digital memory 44 and converts it into a digital value, and further calculates its peak and value in an arithmetic circuit 45. Detect the peak time interval Δt and use this interval Δt to calculate the equation (2). By moving it in the direction, V as shown in Fig.
-2 curves are obtained and stored in the digital memory 4T.

得られた■−Z曲線はディジタルメモリ47でディジタ
ル値に変換した後、演算回路48にて7〜2曲線のピー
クとピークの間隔を検出してl gNl をめる。さら
に、この間隔IAZNIを用いて演算回路49にてα)
式により試料21内を伝播するレーリー波の速度VRを
算出する。その後、さらに演算回路50を通して(4)
式の計算を行い、弾性定数をめて弾性定数表示装置51
にて表示する。弾性定数表示装置51は陰極線管による
画面表示装置であってもよいし、プリンタ等の記録装置
であってもよい。
The obtained ■-Z curve is converted into a digital value in the digital memory 47, and then the arithmetic circuit 48 detects the interval between the peaks of the 7-2 curve and calculates lgNl. Further, using this interval IAZNI, the arithmetic circuit 49 α)
The velocity VR of the Rayleigh wave propagating within the sample 21 is calculated using the formula. After that, it is further passed through the arithmetic circuit 50 (4)
Calculate the formula, determine the elastic constant, and display the elastic constant display device 51.
Display at. The elastic constant display device 51 may be a screen display device using a cathode ray tube, or may be a recording device such as a printer.

さらに、試料21内を伝播するレーリー波の速度Vnと
縦波の速度V/の値を夫々演算回路49に湧いて、(3
)式の演算を行い、試料21内を伝播する横波の速度V
tをめ、得られたVtの値を演算回路50に導いて(4
)式の計算を行い、得られた弾性定数を弾性定数表示装
置51に表示する。
Furthermore, the values of the velocity Vn of the Rayleigh wave and the velocity V/ of the longitudinal wave propagating in the sample 21 are respectively input to the calculation circuit 49, and (3
) and calculate the velocity V of the transverse wave propagating within the sample 21.
t, the obtained Vt value is led to the arithmetic circuit 50 (4
) is calculated, and the obtained elastic constant is displayed on the elastic constant display device 51.

第11図は試料からの多重エコー信号Wt を検出する
手段の他の実施例を示す図であって、音響レンズ18の
下面に従来用いている圧電トランスジューサ27とは異
なるレンズ下面装着圧電トランスジューサ52を一個又
は複数個取り付ける。
FIG. 11 is a diagram showing another embodiment of the means for detecting the multiple echo signal Wt from the sample, in which a piezoelectric transducer 52 mounted on the lower surface of the lens is used, which is different from the piezoelectric transducer 27 conventionally used on the lower surface of the acoustic lens 18. Attach one or more.

試料21からの反射信号は圧電1〜ランスジユーサ27
で受波し、試料21の表面及び裏面からの多重エコー信
号Wp 、及びW6をレンズ下面装着圧電トランスジュ
ーサ52により受け取る。レンズ下面装着圧電トランス
ジューサ52より得られる試料21の多重エコー信号W
7 (試料表面がらのエコー信号%、及び試料裏面がら
のエコー信号%、 )は第12図に示すようになる。第
12図よりエコー信号Wt1とWt、との時間間隔△t
を測定することにより、試料21内を伝播する縦波の速
度Vzをめることができる。
The reflected signal from the sample 21 is transmitted from the piezoelectric 1 to the transducer 27
The piezoelectric transducer 52 attached to the lower surface of the lens receives multiple echo signals Wp and W6 from the front and back surfaces of the sample 21. Multiple echo signal W of the sample 21 obtained from the piezoelectric transducer 52 mounted on the lower surface of the lens
7 (echo signal % from the front surface of the sample and echo signal % from the back surface of the sample) are as shown in FIG. From FIG. 12, the time interval △t between the echo signals Wt1 and Wt
By measuring , the velocity Vz of the longitudinal wave propagating within the sample 21 can be determined.

また、試料21内での縦波の多重エコー化′Pj’ W
lの時間間隔△tをより測定し易くする手段どして第9
吉だ手段以外に第13図に示すような方法を採ることが
できる。即ち、第13図に示すように音響レンズ18の
縦長I・を長くすることによって、音響レンズ18内の
繰返し反射エコー信号WLの時間間隔を広げることがで
きる。したがって、レンズ長りを長くすることによって
、試料21の表面及び裏面からのエコー化M Wl と
音響レンズ18内の繰返し反射エコー信号WL とがm
なることが少くなるようにすることができる。この結果
、試料21内を伝播する縦波の速度Vt をめるための
Δtの測定を正確かつ確実に行うことができるようにな
る。この場合、試料21の表面及び裏面からの反射エコ
ー信号W/と、音響レンズ18内の繰返し反射エコー信
号WLが重って△tを測定不可能としないように、音響
レンズ18の長さしを設定してエコー信号Wtとエコー
信号WLとが時間的に一致することのないようにしなけ
ればならない。
In addition, multiple echoes of longitudinal waves within the sample 21 'Pj' W
The ninth method provides a means for making it easier to measure the time interval Δt of l.
In addition to the lucky method, a method as shown in FIG. 13 can be adopted. That is, as shown in FIG. 13, by increasing the vertical length I of the acoustic lens 18, the time interval of the repeatedly reflected echo signals WL within the acoustic lens 18 can be increased. Therefore, by increasing the lens length, the echoing M Wl from the front and back surfaces of the sample 21 and the repeatedly reflected echo signal WL within the acoustic lens 18 are
You can make it less likely that it will happen. As a result, it becomes possible to accurately and reliably measure Δt for determining the velocity Vt of the longitudinal wave propagating within the sample 21. In this case, the length of the acoustic lens 18 is adjusted so that the reflected echo signals W/ from the front and back surfaces of the sample 21 and the repeatedly reflected echo signals WL within the acoustic lens 18 do not overlap and make it impossible to measure Δt. must be set so that the echo signal Wt and the echo signal WL do not coincide in time.

第14図は本発明に係る超音波顕微鏡装置の外観を全体
的に示す斜視図であって、符号53,54は夫々■−Z
曲線表示モニタ、多重エコー波形表示モニタを示してい
る。■−Z曲線表示モニタ53は■−Z曲線測定装置4
6で得られた試料21による■−Z曲線を第5図に示す
ように表示し、又多重エコー波形表示モニタ54は第7
図又は第12図に示すような試料21からの反射エコー
信号強度の波形を表示する。さらに、各種の演算によっ
て得られた試料21の弾性定数は、テレビジョンモニタ
3Tに表示される。この場合、弾性定数表示は図示しな
いキャラクタジェネレータを用いて行われる。或いは、
上記テレビジョンモニタ37とは別に第10図で述べた
ような弾性定数表示用モニタ51を超音波顕微鏡の本体
内又は周辺に別途設置して、試料21の弾性定数を表示
してもよい。
FIG. 14 is a perspective view showing the overall appearance of the ultrasonic microscope device according to the present invention, and numerals 53 and 54 indicate ■-Z, respectively.
A curve display monitor and a multiple echo waveform display monitor are shown. ■-Z curve display monitor 53 is connected to ■-Z curve measuring device 4
The ■-Z curve of sample 21 obtained in step 6 is displayed as shown in FIG. 5, and the multiple echo waveform display monitor 54 is
The waveform of the reflected echo signal intensity from the sample 21 as shown in the figure or FIG. 12 is displayed. Furthermore, the elastic constants of the sample 21 obtained by various calculations are displayed on the television monitor 3T. In this case, the elastic constant is displayed using a character generator (not shown). Or,
In addition to the television monitor 37, an elastic constant display monitor 51 as described in FIG. 10 may be separately installed in or around the main body of the ultrasound microscope to display the elastic constant of the sample 21.

なお、本発明の装置によって測定される試料は必ずしも
均質、等方的である必要はなく一般的な試料であればよ
く、また試料21の厚さdは予めノギスやマイグロメー
タ等の測定手段にて測定しておくか又は厚さdが既知の
試料を用いて、′顕微鏡装置の入力手段(図示略)へ直
接入力し演算に用いるようにする。
It should be noted that the sample measured by the apparatus of the present invention does not necessarily have to be homogeneous or isotropic, and may be any general sample, and the thickness d of the sample 21 can be determined in advance using a measuring means such as a caliper or a micrometer. Either the sample is measured or the thickness d is known, and the sample is directly input to the input means (not shown) of the microscope device for use in calculations.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように本発明によれば、V−Z曲綜測定によ
って試料のレーリー波速度をめ、多重エコー信号の時間
間隔から試料の縦波の速度をめ、演算によって試料の横
波の速度をめ、こねらの速度値を用いて試料の弾性定数
を算出して表示するように構成したので、試料の超音波
像のみならず試料の材料特性をも短時間にしかも自動的
に計測表示できる超音波顕微鏡装置を実現することがで
きる。
As described above, according to the present invention, the Rayleigh wave velocity of the sample is determined by V-Z curve measurement, the longitudinal wave velocity of the sample is determined from the time interval of multiple echo signals, and the transverse wave velocity of the sample is determined by calculation. In addition, the elastic constant of the sample is calculated and displayed using the speed value of the knife, so not only the ultrasonic image of the sample but also the material properties of the sample can be measured and displayed automatically in a short time. An ultrasonic microscope device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は超音波顕微鏡の概略溝成を示す構成図、第2図
は本発明に適用される超音波顕微鏡の構成を示す側面図
、第3図は第2図に示す音響レンズ及び保持台付近を拡
大して示す正面図、第4図は超音波顕微鏡の電気回路を
示すブロック図、第5図はv−2曲線及び反射波強度の
ピーク、ピーク間隔を示す説明図、第6図は試料内での
縦波の伝播及び反射の状態を示す説明図、第7図ルよ試
料及び音響レンズによる多重エコー信号を経時的に示す
説明図、第8図は音響レンズ内での反射エコー信号の繰
返し状態を示す説明図、第9図は試料による多重エコー
信号出力を取り出すための手段の一例を示す構成図、第
10図はl/−り一波、縦波及び横波の各速度をめるた
めの回路構成を示すブロック図、第11図は試料による
多重エコー信号出力を取り出すための手段の他の実施例
を示す構成図、第12図は第11図のレンズ下面装着圧
電トランスジューサより得られる試料の多重エコー信号
を経時的に示す説明図、第13図は試料による多重エコ
ー信号出力を取り出し易くするlこめの手段を示す説明
図、第14図は本発明に係る超音波顕微鏡装置の外観を
全体的に示す斜視図である。 11・・・接眼レンズ 12・・・鏡筒13・・・対物
レンズ 14・・・ゴニオメータ15・・・保持台 1
6・・・鏡脚 17・・・保持台移動装! 1B・・・音響レンズ−1
9・・・落射照明用光源 20・・・加湿器21・・・
試料 22・・・保持台移動装置走査用つまみ 23・
・・アーム 24・・・水25・・・高周波パルス発生器 26・−
・サーキュレータ 27・・・圧電トランスジューサ 28・・・ゲート回路 29・・・高周波増幅回路30
・・・混合回路 31・・・局部発振器32・・・中間
周波増幅回路 33・・・検波回路34・・・ブランキ
ング回路 35・・・ピーク検波回路36・・・スキャ
ンコンバータ 3T・・・テレビジョンモニタ38・・
・X偏向信号発生回路 39・・・X偏向信号発生回路
 40・・・制御回路 41・・・X−Y走査機構 42・・・Z軸走査機構4
3・・・多重エコー測定装置 44.47・・・ディジタルメモリ 45.4B、49.50・・・演算回路46・−・V−
Z曲線測定装置 51・・・弾性定数表示装置 53・・・■−Z曲線表示モニタ 54・・・多重エコー波形表示モニタ 第5図 第8図 第6図 第7図 乙1 第9図
Fig. 1 is a configuration diagram showing a schematic groove configuration of an ultrasonic microscope, Fig. 2 is a side view showing the configuration of an ultrasonic microscope applied to the present invention, and Fig. 3 is an acoustic lens and holding stand shown in Fig. 2. 4 is a block diagram showing the electrical circuit of the ultrasonic microscope, 5 is an explanatory diagram showing the v-2 curve, peaks of reflected wave intensity, and peak intervals, and 6 is a front view showing the vicinity enlarged. An explanatory diagram showing the state of propagation and reflection of longitudinal waves within the sample. Fig. 7 is an explanatory diagram showing multiple echo signals due to the sample and acoustic lens over time. Fig. 8 is an explanatory diagram showing the reflected echo signal within the acoustic lens. 9 is a configuration diagram showing an example of a means for extracting multiple echo signal output from a sample. FIG. 10 is an explanatory diagram showing the velocities of each wave, longitudinal wave, and transverse wave. 11 is a block diagram showing a circuit configuration for extracting multiple echo signal output from a sample, and FIG. 12 is a block diagram showing another embodiment of a means for extracting multiple echo signal output from a sample. FIG. FIG. 13 is an explanatory diagram showing a method for making it easier to extract the multiple echo signal output from a sample, and FIG. FIG. 2 is a perspective view showing the overall appearance. 11... Eyepiece lens 12... Lens barrel 13... Objective lens 14... Goniometer 15... Holding stand 1
6...Mirror leg 17...Holding table moving device! 1B...acoustic lens-1
9... Light source for epi-illumination 20... Humidifier 21...
Sample 22... Holding table moving device scanning knob 23.
...Arm 24...Water 25...High frequency pulse generator 26.-
・Circulator 27...Piezoelectric transducer 28...Gate circuit 29...High frequency amplification circuit 30
... Mixing circuit 31 ... Local oscillator 32 ... Intermediate frequency amplification circuit 33 ... Detection circuit 34 ... Blanking circuit 35 ... Peak detection circuit 36 ... Scan converter 3T ... Television John monitor 38...
-X deflection signal generation circuit 39...X deflection signal generation circuit 40...Control circuit 41...X-Y scanning mechanism 42...Z-axis scanning mechanism 4
3...Multiple echo measuring device 44.47...Digital memory 45.4B, 49.50...Arithmetic circuit 46...V-
Z curve measurement device 51...Elastic constant display device 53...■-Z curve display monitor 54...Multiple echo waveform display monitor Fig. 5 Fig. 8 Fig. 6 Fig. 7 Fig. Otsu 1 Fig. 9

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)音響レンズを用いて超音波を集束し、集束した超
音波ビームを走査して試料に照射し、試料からの反射波
を受波し、超音波画像として表示可能とする超音波顕微
鏡において、前記試料を前記音響レンズの軸方向に移動
しながらその移動距離対反射波強度の関係を測定し反射
波強度のピーク。 ピ;りの距離間隔より前記試料内を伝播するレーリー波
の速度をめる手段と、前記試料からの多重エコー波強度
のピーク、ピークの時間間隔より前記試料内を伝播する
縦波の速度をめる手段と、前記レーリー波の速度と前記
縦波の速度を用いて演算し前記試料内を伝播する横波の
速度をめる手段と、前記各波の速度値を用いて演算し前
記試料の弾性定数を算出する手段とを具備し、得られた
弾性定数を表示或いは記録するように構成したγンタ!
底活ンナス叔喜姑昭俄箔壮鼎 Q)前記レーリー波の速度をめる手段は、前記試料の音
響レンズ軸方向の移動距離対反射波強度の関係を測定す
る装置と、この装置にて測定された前記反射波強度をデ
ィジタル値に変換してメモリするディジタルメモリと、
このディジタル値を用いて前記反射波強度のピーク、ピ
ークの距離間隔を検出する第1の演算回路と、この回路
にて測定された前記距離間隔に基づいてレーリー波J0
1)速度を算出する第2の演算回路とから構成されるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の超音波顕微
鏡装置。 (3)前記縦波の速度をめる手段は、前記試料の表面及
び裏面からの多重エコー波強度を経時的に測定する装置
と、この装置にて測定された前記多重エコー波強度をデ
ィジタル値に変換してメモリするディジタルメモリと、
このディジタル値に基づいて縦波の速度を算出する演算
回路とから構成されることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の超音波顕微鏡装置。
[Claims] (1) Ultrasonic waves can be focused using an acoustic lens, the focused ultrasound beam can be scanned and irradiated onto a sample, and the reflected waves from the sample can be received and displayed as an ultrasound image. In an ultrasonic microscope, the relationship between the moving distance and the reflected wave intensity is measured while the sample is moved in the axial direction of the acoustic lens, and the peak of the reflected wave intensity is measured. means for determining the speed of a Rayleigh wave propagating within the sample from the distance interval of the beams; and means for determining the speed of the longitudinal wave propagating within the sample from the peak of the intensity of multiple echo waves from the sample and the time interval between the peaks. means for determining the velocity of a transverse wave propagating within the sample by calculating using the velocity of the Rayleigh wave and the velocity of the longitudinal wave; A gamma printer is equipped with a means for calculating an elastic constant, and is configured to display or record the obtained elastic constant.
Q) The means for measuring the speed of the Rayleigh waves includes a device that measures the relationship between the moving distance of the sample in the axial direction of the acoustic lens and the reflected wave intensity; a digital memory that converts the measured reflected wave intensity into a digital value and stores it;
A first arithmetic circuit that detects the peak of the reflected wave intensity and the distance interval between the peaks using this digital value, and a Rayleigh wave J0 based on the distance interval measured by this circuit.
1) The ultrasonic microscope apparatus according to claim 1, further comprising: 1) a second arithmetic circuit for calculating speed. (3) The means for increasing the velocity of the longitudinal waves includes a device that measures the intensity of multiple echo waves from the front and back surfaces of the sample over time, and a digital value of the intensity of the multiple echo waves measured by this device. digital memory that converts into memory,
The ultrasonic microscope apparatus according to claim 1, further comprising an arithmetic circuit that calculates the velocity of the longitudinal wave based on this digital value.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0586535U (en) * 1992-04-30 1993-11-22 ブラザー工業株式会社 Tape printer

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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