JPS5990870U - テストクリツプ - Google Patents

テストクリツプ

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Publication number
JPS5990870U
JPS5990870U JP18752182U JP18752182U JPS5990870U JP S5990870 U JPS5990870 U JP S5990870U JP 18752182 U JP18752182 U JP 18752182U JP 18752182 U JP18752182 U JP 18752182U JP S5990870 U JPS5990870 U JP S5990870U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test clip
lateral direction
arrangement
abstract
check
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18752182U
Other languages
English (en)
Inventor
浜津 昌宏
Original Assignee
クラリオン株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by クラリオン株式会社 filed Critical クラリオン株式会社
Priority to JP18752182U priority Critical patent/JPS5990870U/ja
Publication of JPS5990870U publication Critical patent/JPS5990870U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図a、bは夫々従来のディップICテストクリップ
の概略平面図及び側面図、第2図は本考案の一実施例を
示す概略平面図、第3図は本考案の他の実施例を示す概
略平面図、第4図は本考案の更に他の実施例を示す概略
側面図である。 1・・・IC挾み口、2・・・チェック用ピン、3・・
・クリップ本体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 各チェーツク用ピンの横方向の長さ又はその横方向の配
    列を異ならしめてその全体の先端の配列が所定の形状を
    なすように構成したことを特徴とするテストクリップ。
JP18752182U 1982-12-10 1982-12-10 テストクリツプ Pending JPS5990870U (ja)

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JP18752182U JPS5990870U (ja) 1982-12-10 1982-12-10 テストクリツプ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18752182U JPS5990870U (ja) 1982-12-10 1982-12-10 テストクリツプ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5990870U true JPS5990870U (ja) 1984-06-20

Family

ID=30404761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18752182U Pending JPS5990870U (ja) 1982-12-10 1982-12-10 テストクリツプ

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