JPS597928B2 - ストレンゲ−ジ交換器信号調整回路装置 - Google Patents

ストレンゲ−ジ交換器信号調整回路装置

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JPS597928B2
JPS597928B2 JP49126062A JP12606274A JPS597928B2 JP S597928 B2 JPS597928 B2 JP S597928B2 JP 49126062 A JP49126062 A JP 49126062A JP 12606274 A JP12606274 A JP 12606274A JP S597928 B2 JPS597928 B2 JP S597928B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はストレンゲージ例えば圧力測定に用いられるス
トレンゲージに関する。
これまでに圧力測定に用いられる種々のストレンゲージ
が提案されている。
通常ストレンゲージ抵抗体は圧力の変化に応じて伸張或
は移動する可動ダイヤフラムに取付けられて}9、前記
抵抗体に種々の大きさの歪が加わる。可変歪のために生
ずる抵抗値の変化によつてダイヤフラムに加わる圧力の
大きさが指示される。公知の装置において圧力によるダ
イヤフラムの動きに応動するために2つのストレンゲー
ジ抵抗体が設けられている。
斯様な装置は米国特許第3457493号明細書に記載
されている。それによれば2つのストレンゲージ抵抗体
を、ブリツジ装置の2つの辺を構成する所定の集中抵抗
を有する接続線を介して定電流源でバイアスしている。
その場合これらの抵抗体の温度係数を合わせることがで
きるが、抵抗値を同時に合わせることはできない0最初
に抵抗値を平衡させるために1つ或は2つのストレンゲ
ージ抵抗体に直列に或はそれらを橋絡して付加抵抗を設
けホイートストンプリツジを構成する必要がある。然る
にこの過程によつて温度係数の一致が乱され付加誤差が
生ずる。上述の欠点を除去するために本発明においては
圧力検出ストレンゲージに接続されたプリツジ回路を用
いる必要がない回路装置を提供する。本発明によれば2
つのストレンゲージ抵抗体を演算増幅器でバイアスし、
それによつて抵抗体を介して一定の電流の流れを保持し
、また同時に差動回路で圧力の変化に正確に相応する測
定信号を発生するために出力インピーダンスを小さくす
る。また本発明によれば圧力の変化に対す゜る測定信号
の直線性を向上するために測定信号の一部を演算増幅器
に帰還するようにしている。また本発明によれば、温度
目盛補正回路によつて所定の圧力変化に相応する測定電
圧の幅を、実際に広い温度範囲にわたつて一定値に保持
するようにしている。
次に本発明を図示の有利な実施例につき説明する。
第1図と第2図は本発明に供するストレンゲージ抵抗構
成体10の有利な実施例を路線図で示す。
前記構成体は基本的にダイヤフラムとして作用する薄い
円形のシリコン基体12から構成されている。前記基体
は圧カチヤンバ15を包囲するカツプ14の形の円形の
側壁と一体に形成されている。前記カツプはチヤンバ1
5に達するチヤネル17が穿孔されたシリコン背板16
に取付けられている。基体12はチヤンバ15に加わる
圧力によつて矢印Pの方向に変位する。第2図に}いて
ストレンゲージ抵抗体18と20は基体12に拡散され
ている。
第2図に示すように抵抗体は相互に直角に配置されて}
ジ、そのうちの1つの抵抗値が変化すると別の抵抗値は
それとは逆向きに変化する。即ち基体12に加わる圧力
が変化すると、1つの抵抗体の抵抗値が増加し、別の抵
抗体の抵抗値は減少する。抵抗体18と20は同じダイ
ヤフラム即ち基体に拡散されているから、それらの温度
係数を非常に接近してあわせることができる。構成体1
0に類似のストレンゲージ抵抗構成体は、バネウェル社
の工業製品部門で販売されているVutrOnic送信
機に組込まれている。第3図に示す本発明による信号調
整回路の有利な実施例に卦いて、演算増幅器24は反転
妨側25,非反転入力側26}よび出力側27を有する
同様に演算増幅器29は反転人力側30,非反転入力側
31および出力側32を有する。この回路には通常のM
icrOA74.l′Sのような演算増幅器を使用でき
る。使用された演算増幅器は250000Ω以上の入力
インピーダンスと100Ω以下の出力インピーダンスを
有するべきである。演算増幅器24,29は高利得の線
形演算を行うために用いられ、演算増幅器24は抵抗体
18に加わる電圧を出力側27に、また演算増幅器29
は抵抗体19に加わる電圧を出力側32に、所定の伝達
関数で伝達する。抵抗回路網33は演算増幅器24と2
9の非反転入力側をアース電位のような電流シンクに接
続するために用いられる。
抵抗回路網は図示のように接続された抵抗34と35,
卦よび可変ポテンシヨメータ36を有する。反転入力側
25と30をアースより1V低い電位に保持するために
抵抗34〜36が比較的小さな値を有するようにすべき
である。その結果反転入力側25と30は実際のアース
電位に非常に接近して保持され、アース抵抗と40卦よ
び18の接続点との間、或はアースと抵抗42}よび2
0の接続点との間に存在する所望しない漏洩インピーダ
ンスは、回路の動作に殆んど或はまつたく影響を与えな
い。これは実際に装置全体の信頼性を高める重要な特徴
である。バイアス回路網37はストレンゲージ抵抗体1
8と20を介して流れる零入力直流電流を調節するため
に用いられる。
零入力電流とは、抵抗体18卦よび20を支持するダイ
ヤフラムが変形していない場合に、これらの抵抗体18
卦よび20を介して流れる電流のことである。バイアス
回路網37は抵抗38〜42と、スライドアーム45を
設けた可変ポテンシヨメータ44とを有する。標準電源
46には、直流電圧源と同時にバイアス回路網37が設
けられている。差動回路47は、差動増幅器としてスト
レンゲージ抵抗体18と20に接続された演算増幅器4
9を有する。
演算増幅器は反転入力側50,非反転入力側51卦よび
出力側52を有し、出力側にはチヤンバ15に加わる圧
力に比例する測定電圧が生ずる。また差動回路47は図
示のように接続された入力抵抗54〜56と帰還抵抗5
8を有する。また本発明の装置に訃いて、出力側52に
生じた測定電圧の部分は線形化帰還抵抗60によつて抵
抗回路網33に帰還される。
後で詳しく説明するように抵抗60によつて圧力と測定
電圧との関係は一層線形化される。出力回路62は反転
人力側65,非反転入力側66卦よび出力側67を有す
る演算増幅器64から成う、出力側には圧力に相応しか
つ圧力に対する直線性と温度変動による変化とを補正し
た電圧が生ずる。
またこの回路は図示のように接続された入力抵抗69お
よび70と、帰還抵抗71とを有する。温度目盛補正回
路75は、基体12に拡散可能な温度検出抵抗77を有
する。
抵抗77は基体の周囲温度の変化を指示するために、温
度によつて抵抗値が変化する。抵抗77は反転人力側8
0,非反転入力側81および出力側82を有する演算増
幅器79によつて調整されている。演算増幅器79はバ
イアス抵抗84と85によつて制御される。抵抗84の
上端部の端子は十符号を付けた別の端子と共通に電源4
6内の正電圧源に接続されている。演算増幅器79の出
力側は抵抗87と可変ポテンシヨメータ88に接続され
ている0更に詳しく説明するようにポテンシヨメータ8
8によつて、出力側52に生ずる測定電圧の最小幅に相
応する温度で演算増幅器79の出力を0Vに調節できる
また回路75は、反転人力側91,非反転入力側92卦
よび出力側93を有する温度補正演算増幅器90を有し
、第4図の傾斜1に相応する補正信号が出力側に生ずる
。この増幅器は抵抗95,96卦よび可変ポテンシヨメ
ータ122によつて制御される。別の温度補正演算増幅
器100は反転入力側101,非反転入力側102,卦
よび第4図の傾斜2に相応する補正信号を発生する出力
側103を有する。増幅器100はバイアス抵抗105
〜107および可変ポテンシヨメータ108によつて制
御される。また回路75は反転人力側112,非反転入
力側112卦よび出力側113を有する演算増幅器11
0を有し、第4図の傾斜3に相応する補正信号が出力側
に生ずる。増幅器110は抵抗115〜118および可
変ポテンシヨメータ119によつて匍脚される。,また
回路75は傾斜設定抵抗121と線形温度補償抵抗12
4を有する。抵抗121は第4図の傾斜4に相応する温
度補正信号を発生する。切換回路130によつて1度に
演算増幅器90,100卦よび110の出力のうち1つ
だけが取出される。切換回路は図示のように接続された
ダイオード132〜136と抵抗138卦よび139を
有する。抵抗138の下端部の端子は電源46の負電圧
源に接続されている。また各演算増幅器は電源46から
正および負の直流電圧が供給される。切換回路130は
図示のように接続されたトランジスタ144,145,
抵抗147,148,卦よびダイオード150を有する
駆動回路142を作動する。
駆動回路によつて、バイアス回路37に接続された接続
線152に温度補正バイアス電圧か生ずる。次にこの回
路装置の動作を第3〜5図に関連して説明する。
ストレンゲージ抵抗体18}よび′20を介して流れる
零入力直流電流を調節するために、適当な値が得られる
まで、スライドアーム45を動かす。
零入力直流電流は、抵抗体18}よび20を支持するダ
イヤフラムが変形していない場合に、これらの抵抗体1
8卦よび20を介し .・て流れる電流のことである。
零入力直流電流を、ポテンシヨメータ44のスライドア
ーム45を動かすことによつて調節して、抵抗体18卦
よび20に加わる電圧レベル即ち演算増幅器24卦よび
29の出力側27卦よび32の電圧レベルをそれぞれ、
ダイヤフラムの変形がない場合、等しくするようにする
。このようにしてポテンシヨメータ44を調節した際、
抵抗体18卦よび20を介して一定の電流が保持される
ようになる。零入力電流が調整されると、演算増幅器2
4と29は前記電流を抵抗体18と20の抵抗値変化に
無関係に一定に保持する。これによつて従来の形式の装
置で用いられたホイートストンプリツジを必要としなく
なる。即ち従来のホイートストンブリツジ装置に卦いて
は、ブリツジ回路に加わる一定の電:圧が保持される。
ホイートストンブリツジを構成する少なくとも1つの抵
抗の抵抗値が変化すると、全体のブリツジの合成抵抗が
変化すると同時に、プリツジ内の抵抗の分布が変化する
。その結果プリツジを流れる全電流が変化すると同時に
、ブリツジ内の電流分布が変化する。それ故プリツジの
1つの抵抗に生ずる電圧降下を抵抗値の変化の測定に用
いることはできない。このように1つの抵抗に加わる一
定の電圧が保持された場合、抵抗に加わる電圧降下を、
抵抗値の変化を測定するために用いることはできない。
然るに抵抗を通して流れる一定の電流が保持された場合
、抵抗に生ずる電圧降下即ち電流と抵抗とを乗算したも
のは抵抗に比例する。それ故抵抗直の変化は抵抗体に生
ずる電圧降下の変化として直接に測定することができ、
抵抗値を測定するのにホイートストンプリンジを用いる
必要はなくなる。抵抗体18と20を介して流れる零入
力直流電流即ちバイアス電流の設定後、抵抗60を介し
て抵抗回路網33に帰還される測定電圧の部分を調節す
るために、ポテンシヨメータ36を変化させる。
チヤンバ15の圧力が約7611Hgから約81311
!Hgまで変化した場合出力側52の測定電圧が比較的
直線的に保持されるまでポテンシヨメータ36を調節す
る。第5図は上述の抵抗60を有する帰還回路を用いて
達成できる補正量を示す。第5図の曲線Uは抵抗60が
開放された際得られる補正されてない典型的な測定電圧
を示す〇76m1LHgと813m1Hgの圧力で測定
電圧(出力側52)を測定して上述の測定結果を得るこ
とができる。バイアス電流は一定であるので、ダイヤフ
ラムに支持された抵抗体18}よび20が変形した際、
同じ直に保持される。但し抵抗体18卦よび20は非線
形に応答するので、補正を行わないと電圧一圧力特性は
曲線Uのようになる。それ故高度の直線性を得るために
は補正が必要である。抵抗34,35,卦よび60によ
つて生じかつポテンシヨメータ36を用いて調節される
帰還回路によつて、測定回路に加わる電圧が変化し、ひ
いては抵抗体18卦よび20を介して流れる電流が僅か
に変化する。このようにして圧力の変化に対する電圧の
応答は、第5図の曲線Cに示した近似値で示すように略
直線的になる。本発明によつて構成されたそれぞれの回
路は圧力が変化する範囲に亘つて、最大の直線性が得ら
れるように、ポテンシヨメータ36の調節によつて個々
に調整すべきである。勿論測定は所定の温度で行われる
。圧力をグラフ上の2点として記録した後2点間を直線
で結ぶ。次に圧力を76!ILl!LHgと813龍H
g間で逐次変化して測定電圧を測定する。測定された電
圧の各ステツプにおいて直線上の値と実際の値との差(
ミリボルト)と、全目盛誤差に対するパーセントについ
て曲線Uを得る。抵抗60の接続卦よびポテンシヨメー
タ36の調節によつて、出力側52で測定された電圧の
圧力に対する直線性を、第5図の曲線Cで示した近似値
に補正できる。この補正は圧力の変化に関してセンサ素
子即ち抵抗体の抵抗値が直線的に変化しないことに対し
て行う。一度所定の温度で調節すれば、ポテンシヨメー
タ36の調節は温度変化に対して変更する必要はない。
後で説明するように温度目盛補正回路75によつて温度
の変化に対する補正が行われる。第4図の曲線S及び第
5図の曲線Uがどのようにして生じたのかについて本発
明の要旨に関連して説明する。
先ず第4図の曲線に就いて説明する。
第4図のカープSは第3図の回路構成にて温度補償回路
75を用いずに測定を行なつた際得られたものであつて
、所定の温度のもとで、抵抗18と20に検出器ないし
センサの動作範囲内(約76mmHg〜約813mmH
g(3〜32インチHg))の圧力を加えられたときに
出力端ないし回路点50から取出された電圧の最大値と
最小値との差が、基準電圧に関連してどの位の割合にな
つているかを縦軸に%で示してある。
上記の差ないし該%値を本明細書中測定電圧の幅(レイ
ンジ)ないし測定電圧スパンと称する。横軸には上記の
所定の温度のそれぞれ異なる値をとつた温度範囲一40
℃〜49℃〜−一95℃を示す。さらに付言すれば上述
のような温度の動作範囲一40℃〜49℃〜〜95℃に
亘つてそれぞれの異なる所定温度のもとで回路50にて
取出された測定した各電圧値を順次とつていくことによ
りデータ的にカーブSが形成されたのである(本発明の
温度補償回路不使用の場合)。
ちなみにこのような非直線的特性は圧力の変化に応じて
の抵抗18,20の非直線的応答特性によるものである
。而して第1の温度範囲及びこれより大きな第2温度範
囲にわたりカープSの、傾斜1,2,3,4に夫々対応
するカーブ部分に対して当該傾斜1,2,3,4によう
表わされる直線ダイヤグラムを形成して著しく改善され
た直線性が得られるように温度補償作用を行なうもので
ある。このような補償作用を行ない得るため請求範囲に
て特定したように、特別の回路構成として温度補償回路
75を設け、該回路により、温度の変化する際測定電圧
の幅ないしスパンか一定に保たれるようにストレインゲ
ージを流れるバイアス電流を変化調整せしめるのである
。すなわち後述するように実施例について述べれば接続
線152に現われる温度補正バイアス電圧がバイアス回
路37に伝送されて、ストレンゲージ抵抗18,20を
流れる電流は、出力端ないし回路点52に現われる測定
電圧の幅が動作温度領域に亘つて実質的に一定に保たれ
るように変えられる。換言すればセンサの動作範囲内に
訃ける温度変化によつて生ずるストレンゲージ抵抗体1
8卦よび20の電圧幅の変化ないし変動(誤差)を、本
発明による温度補正回路を用いて補正するのである。
この目的を達成するために、温度補正回路は傾斜1〜4
で示すよりに曲線Sのあらかじめ定められた部分ごとに
電圧幅の変化を近似し、かつストレンゲージ抵抗体18
卦よび20に対するバイアス回路網37に、そのつどの
(瞬時の)温度に対応した最適な温度補正バイアス電圧
を供給するのである。すなわち温度補正バイアス電圧は
その大きさと極性(正であるか負であるか)とは温度補
正回路の所定の動作範囲に卦ける傾斜1〜4に依存して
変化するようにして加えられて、温度変化による電圧幅
の変化(誤差)が除去されるようになるのである。次に
第5図に示す曲線は第3図の回路構成にて抵抗と可変ポ
テンシオメータとから成る抵抗回路網33,36,60
を用いないで測定を行なつた際得られたものであつて、
温度を変えないで(つまジいずれかの同一の温度下で)
圧力範囲約76mmHg〜約813mmHgに亘つてこ
のセンサの出力を表わしている。
一方カープCは抵抗と可変ポテンシオメータとから成る
抵抗回路網33,36,60を用いることによう抵抗1
8と20の非線形応答特性に基く差分を補正して、直線
応答特性が得られた状態を小す0すなわち曲線Uは圧力
の変化に対して非線形に応答するストレンゲージ抵抗体
18と20に固有の電圧一圧力特性である。
本発明のもう1つの目的として、測定回路の出力電圧と
ストレンゲージ抵抗体18卦よび20によつて検出され
た圧力の変化との間でより高度の直線性を得るために、
測定回路に帰還回路即ち線形化抵抗60を設けてある。
それによつて曲線Cで示すように、センサ即ちストレン
ゲージ抵抗体の動作範囲内に}いて圧力が変化した場合
、測定電圧はかなbの程度直線的に保持?れるようにな
るのである。第4図によつて測定電圧(出力側52)の
幅は、所定の温度で最小値に達し、その最小値をとる温
度より上卦よび下で増加する。
第4図に示した例において、測定電圧の幅は約49℃で
最小となる。第4図においてその最小の電圧幅をx軸上
に描き、基準電圧として用いる。測定電圧の幅は、所定
の温度で圧力が約76m1Hgから約813m1Hgま
で変化した場合出力側52に生じた電圧の変化量である
。前記測定電圧の幅が当該の温度範囲で一定値に保持さ
れないと、圧力沌淀結果の精度は減少する。第4図に示
すように約−40℃から約95℃までの温度範囲で前記
測定電圧の幅は7%だけ変化する。
前述のように測定電圧の幅は、ストレンゲージ抵抗体の
動作範囲内で抵抗体18卦よび20に圧力が加わつた場
合接続点52に生ずる電圧の最大値と最小値との間の差
である。抵抗体18と20との抵抗値、ひいては圧力の
変化に対する抵抗値の変化は、温度の変化によつて影響
を受けるので、測定電圧の幅は温度と共に変化する。斯
様な測定電圧の幅の変化を示す典型的な曲線は第4図の
曲線Sである。この曲線は、温度目盛補正回路75を接
続せずに、図示された種々の温度でチヤンバ15の圧力
が7611Hgから81311Hgまで階段的に変化し
た場合前記測定電圧の幅即ち絶対変化量を測定して求め
ることができる。前記測定電圧の幅の変化を補正するた
めに所定の補正回路75を用いる。補正回路は非線形増
幅器として動作し、その場合種々の増幅素子のゲインは
、曲線S(第4図参照)の所定の部分によつて示された
測定電圧の幅の減少に近似する。その場合生ずる増幅特
性を第4図の傾斜1〜4で示す。傾斜1〜3はそれぞれ
演算増幅器90,100卦よび110によつて得られる
が、傾斜4は抵抗121の1直によつて得られる。本発
明において使用さ、れた所定のストレンゲージ抵抗構成
体に対して曲線Sと類似の曲線を求めた後、最小の幅に
相応する温度即ち前述の例で49℃の温度で接絞線15
2の電圧がOになるように、可変ポテンシヨメータ88
を調節する。
最小の測定電圧幅に対応する温度を越えて温度が噌加す
ると、接続線152の電圧は負方向に変化する。この負
方向の変化の傾斜は抵抗121の値と回路に接続された
演算増幅器90の特性とによつて決まる。それ故抵抗1
21の値は、第4図の傾斜4に相応する応答を得るため
に選択される。この範囲の温度で演算増幅器100卦よ
び110の出力信号は2つとも負であり、かつダイオー
ド133および136は、これらの演算増幅器からトラ
ンジスタ144のベースに信号が供給されるのを阻止す
る。最小の測定電圧幅に対応する温度を下回るように温
度が減少すると、演算増幅器90の出力側93に正の信
号が生ずる。この信号はダイオード132を通過しかつ
トランジスタ144を介して供給される。傾斜1(第4
図参照)に相応する増幅特性を生ずるように演算増幅器
90を調整するために、ポテンシヨメータ122を調節
する。更に温度が減少すると、それぞれ演算増幅器10
0卦よび110の出力側103卦よび113に正の信号
が生ずる。ダイオード133卦よび136によつて、上
述の信号のうちで高い電圧を有する方の信号が送出され
るようになる。ポテンシヨメータ108と119は、傾
斜2と3(第4図参照)に相応する増幅特性が演算増幅
器100と110で生ずるよりに、調節される。更に温
度が減少すると、演算増幅器100の出力側103は演
算増幅器90の出力側93より高い電圧に達する。この
時点に演算増幅器100はトランジスタ144に制御信
号を供給し、かつ演算増幅器100で生ずる傾斜2が用
いられる。更に温度が減少すると、演算増幅器110の
出力側13は演算増幅器100の出力側103よジ高い
電圧に達し、かつ演算噌幅器110で生ずる傾斜3が用
いられる。このようにして装置が作動?れる温度範囲に
応じて、補正作用を傾斜1〜傾斜4に亘つて変化するこ
とができる。49゜C以下の任意の温度で演算増幅器9
0,100或は110のうち1つだけがトランジスタ1
44を介して作動され、接続線152の電圧を変化しか
つ第4図に示した傾斜1〜3の1つに相応する増幅特性
を生ずるように切換回路130を接続する。
また49℃以上の任意の温度で傾斜4に相応する増幅特
性を得るためにトランジスタ145を介して抵抗121
だけが作動されるように切換回路130を接続する。接
続線152に生ずる温度補正バイアス電圧はバイアス回
路37に送出され、ストレンゲージ抵抗体18と20を
介して流れる直流電流を変化させるから、出力側52に
生ずる測定電圧の幅は実際に当該の温度範囲にわたつて
一定になる。圧力の直線性と温度補正回路とによつて出
力側67に生ずる圧力に相応する電圧は、ストレンゲー
ジ抵抗構成体10のチヤンバ15に生ずる圧力0変化に
比例するようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に供するストレンゲージ抵抗構成体の有
利な実施例を示す断面略図、第2図は第1図に示した抵
抗構成体の部分を拡大して斜視図で示す路線図、第3図
は第1図と第2図に示した抵抗構成体によつて生じた信
号を調整する本発明の回路の有利な実施例の電気回路図
、第4図は第3図に示した温度補正回路の動作を説明す
るための線図、第5図は第3図に示した圧力線形帰還回
路の動作を説明するための線図である。 10・・・・・・ストレンゲージ抵抗構成体、12・・
・・・・シリコン基体、16・・・・・・シリコン背板
、18,20・・・・・・ストレンゲージ抵抗体、33
・・・・・・抵抗回路網、37・・・・・・バイアス回
路網、46・・・・・・電源、47・・・・・・差動回
路、62・・・・・・出力回路、75・・・・・・温度
目盛補正回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基体に支持されかつ周囲の変化に応じて可変歪が加
    わる第1の抵抗体と、前記第1の抵抗体に対して抵抗値
    が逆向きに変化するように配置された第2の抵抗体とか
    ら成るストレンゲージを有し、抵抗体の電気的特性の変
    化を測定して周囲の変化を検出するストレンゲージ変換
    器信号調整回路装置において、第1の非反転入力側、第
    1の反転入力側および第1の出力側を有する第1の演算
    増幅器を設け、第2の非反転入力側、第2の反転入力側
    および第2の出力側を有する第2の演算増幅器を設け、
    前記第1と第2の非反転入力側を、所定の電圧を有する
    電流シンクに接続する抵抗と可変ポテンショメータとか
    ら成る抵抗回路網を設け、前記第1の出力側と第1の反
    転入力側間に第1の抵抗体を接続する第1の装置を有し
    、前記可変ポテンシヨメータを調節して第1の抵抗体を
    介して流れる電流を第1の抵抗体の抵抗値変化に無関係
    に一定に保持し、前記第2の出力側と第2の反転入力側
    間に第2の抵抗体を接続する第2の装置を有し、前記可
    変ポテンショメータを調節して第2の抵抗体を介して流
    れる電流を第2の抵抗体の抵抗値変化に無関係に一定に
    保持し、電圧源を設け、電圧源と前記第1および第2の
    反転入力側との間に接続されかつ前記第1と第2の抵抗
    体を介して流れる零入力電流を、バイアス回路網例えば
    可変ポテンショメータのスライドアームを動かして調節
    するバイアス回路網を設け、かつ前記第1と第2の抵抗
    体に作動接続された入力側を有しかつ前記第1と第2の
    抵抗体に加わる電圧差に比例する測定電圧を発生する出
    力側を有する差動装置を設け、更に測定電圧の一部を前
    記の電流シンクに接続された回路装置に帰還する抵抗を
    設け、それによつて圧力に応答する前記測定電圧の直線
    性を改善するようにし、また温度補償装置を設け、前記
    温度補償装置は基体の温度に比例する電圧を発生する温
    度検出装置と、第1の温度範囲に亘る測定電圧の幅の変
    化に比例する大きさの第1の補正信号を発生する第1の
    補正装置と、前記第1の温度範囲より大きな第2の温度
    範囲に亘る測定電圧の幅の変化に比例する大きさの第2
    の補正信号を発生する第2の補正装置と、前記第1およ
    び第2の温度範囲で温度補正を行うために必要な複数の
    増幅器のうちの1つを選択する切換装置とを有し、前記
    切換装置はバイアス回路網に、前記基体の温度が第1の
    範囲にある際前記第1の補正信号に比例する第1の温度
    補正バイアス電圧を送出し、前記基体の温度が第2の範
    囲にある際は前記第2の補正信号に比例する第2の温度
    補正バイアス電圧を送出するようにし、また反転入力側
    と非反転入力側と出力側とを有する演算増幅器から成る
    出力回路を設け、この演算増幅器の反転入力側を、前記
    温度補償装置と前記差動装置の出力側とに接続し、非反
    転入力側を、抵抗を介してアースに接続し、前記出力回
    路の出力側には圧力に相応しかつ圧力に対する直線性と
    温度変動による変化とを補正した電圧を発生するように
    したことを特徴とする、ストレンゲージ変換器信号調整
    回路装置。
JP49126062A 1973-11-02 1974-10-31 ストレンゲ−ジ交換器信号調整回路装置 Expired JPS597928B2 (ja)

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Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3956927A (en) * 1975-09-29 1976-05-18 Honeywell Inc. Strain gauge transducer apparatus
US4000643A (en) * 1976-03-29 1977-01-04 Honeywell Inc. Apparatus for producing a compensating voltage
JPS5315821A (en) * 1976-07-28 1978-02-14 Pioneer Electronic Corp Vibrator plate
GB1569150A (en) * 1976-10-27 1980-06-11 Cil Electronics Ltd Strain gauge arrangements
US4233848A (en) * 1978-01-06 1980-11-18 Hitachi, Ltd. Strain gauge pressure transducer apparatus having an improved impedance bridge
US4205556A (en) * 1979-02-12 1980-06-03 Rockwell International Corporation Circuitry for strain sensitive apparatus
US4198868A (en) * 1979-02-12 1980-04-22 Rockwell International Corporation Strain gauge apparatus and means for treating temperature dependency
JPS55113904A (en) * 1979-02-26 1980-09-02 Hitachi Ltd Method of zero point temperature compensation for strain-electric signal transducer
US4226125A (en) * 1979-07-26 1980-10-07 The Singer Company Digital pressure sensor system with temperature compensation
US4326171A (en) * 1980-04-14 1982-04-20 Motorola, Inc. Temperature compensating pressure sensor amplifier circuits
JPS57501043A (ja) * 1980-08-04 1982-06-10
US4355537A (en) * 1980-11-06 1982-10-26 Combustion Engineering, Inc. Temperature compensation for transducer components
US4345477A (en) * 1980-12-03 1982-08-24 Honeywell Inc. Semiconduction stress sensing apparatus
US4392382A (en) * 1981-03-09 1983-07-12 Motorola Inc. Linearized electronic capacitive pressure transducer
US4399515A (en) * 1981-03-31 1983-08-16 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Self-correcting electronically scanned pressure sensor
US4414853A (en) * 1981-08-10 1983-11-15 The Foxboro Company Pressure transmitter employing non-linear temperature compensation
US4444056A (en) * 1982-05-05 1984-04-24 Itt Corporation Temperature compensated circuit
US4550611A (en) * 1984-01-05 1985-11-05 Motorola, Inc. Electronic pressure transducer
US4765188A (en) * 1986-11-24 1988-08-23 Bourns Instruments, Inc. Pressure transducer with integral digital temperature compensation
US4829287A (en) * 1987-03-03 1989-05-09 Hitek-Proteck Systems Incorporated Taut wire intrusion detection system
EP0338180B1 (en) * 1988-04-21 1992-09-23 MAGNETI MARELLI S.p.A. An electrical force and/or deformation sensor, particularly for use as a pressure sensor
DE3908795A1 (de) * 1989-03-17 1990-09-20 Bosch Gmbh Robert Verfahren und vorrichtung zur messung einer mechanischen verformung
GB8908518D0 (en) * 1989-04-14 1989-06-01 Lucas Ind Plc Transducer temperature compensation circuit
US5121064A (en) * 1990-08-31 1992-06-09 Allied-Signal, Inc. Method and apparatus for calibrating resistance bridge-type transducers
US5146788A (en) * 1990-10-25 1992-09-15 Becton, Dickinson And Company Apparatus and method for a temperature compensation of a catheter tip pressure transducer
DE19506014C2 (de) * 1995-02-17 1998-05-20 Siemens Ag Druckmeßumformer, insbesondere zur Sensierung einer Seitenkollision bei einem Kraftfahrzeug
RU2196296C2 (ru) * 2000-01-28 2003-01-10 Центральный аэрогидродинамический институт им. проф. Н.Е.Жуковского Способ измерения относительных деформаций конструкций при подключении тензорезисторов к тензометрической системе
US7146862B2 (en) * 2004-06-02 2006-12-12 Honeywell International Inc. Thick film strain gage sensor
US8535308B2 (en) 2007-10-08 2013-09-17 Biosense Webster (Israel), Ltd. High-sensitivity pressure-sensing probe
US8357152B2 (en) 2007-10-08 2013-01-22 Biosense Webster (Israel), Ltd. Catheter with pressure sensing
US8437832B2 (en) 2008-06-06 2013-05-07 Biosense Webster, Inc. Catheter with bendable tip
US9101734B2 (en) 2008-09-09 2015-08-11 Biosense Webster, Inc. Force-sensing catheter with bonded center strut
US9326700B2 (en) 2008-12-23 2016-05-03 Biosense Webster (Israel) Ltd. Catheter display showing tip angle and pressure
US10688278B2 (en) 2009-11-30 2020-06-23 Biosense Webster (Israel), Ltd. Catheter with pressure measuring tip
US8521462B2 (en) 2009-12-23 2013-08-27 Biosense Webster (Israel), Ltd. Calibration system for a pressure-sensitive catheter
US8529476B2 (en) * 2009-12-28 2013-09-10 Biosense Webster (Israel), Ltd. Catheter with strain gauge sensor
RU2417349C1 (ru) * 2010-03-10 2011-04-27 Российская Федерация в лице Министерства промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России) Способ измерения относительных деформаций конструкций многоточечной тензометрической измерительной системой
US8798952B2 (en) 2010-06-10 2014-08-05 Biosense Webster (Israel) Ltd. Weight-based calibration system for a pressure sensitive catheter
US8226580B2 (en) 2010-06-30 2012-07-24 Biosense Webster (Israel), Ltd. Pressure sensing for a multi-arm catheter
US8731859B2 (en) 2010-10-07 2014-05-20 Biosense Webster (Israel) Ltd. Calibration system for a force-sensing catheter
US8979772B2 (en) 2010-11-03 2015-03-17 Biosense Webster (Israel), Ltd. Zero-drift detection and correction in contact force measurements
US9687289B2 (en) 2012-01-04 2017-06-27 Biosense Webster (Israel) Ltd. Contact assessment based on phase measurement
US9261419B2 (en) 2014-01-23 2016-02-16 Honeywell International Inc. Modular load structure assembly having internal strain gaged sensing
CN106806018A (zh) * 2015-12-01 2017-06-09 四川锦江电子科技有限公司 一种消融导管
CN106289624A (zh) * 2016-11-07 2017-01-04 中国海洋大学 一种基于mems的海洋湍流传感器
GB2594336B (en) * 2020-04-21 2024-10-16 Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd Force sensing systems
CN117030098B (zh) * 2023-09-28 2024-02-27 无锡菲欧科技有限公司 一种拥有温度补偿的双压力输出传感器

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3457493A (en) * 1966-01-25 1969-07-22 Beckman Instruments Inc Multiple constant current supply
US3572109A (en) * 1968-08-09 1971-03-23 Gen Electric Integral semiconductor strain gage transducers with frequency output
DE2116432A1 (de) * 1971-04-03 1972-10-12 Siemens Ag Brückenschaltung mit Dehungsmeßstreifen
YU33059B (en) * 1971-05-15 1976-03-31 Amt Prod Sklop za linearno pretvaranje upornosti v tok

Also Published As

Publication number Publication date
CA1018797A (en) 1977-10-11
DE2448058B2 (de) 1977-01-20
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IT1021782B (it) 1978-02-20
US3841150A (en) 1974-10-15
DE2448058C3 (de) 1986-10-02
DE2448058A1 (de) 1975-05-07
FR2250105B1 (ja) 1978-11-24
GB1481459A (en) 1977-07-27
JPS5080172A (ja) 1975-06-30

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