JPS5963532A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPS5963532A JPS5963532A JP17321482A JP17321482A JPS5963532A JP S5963532 A JPS5963532 A JP S5963532A JP 17321482 A JP17321482 A JP 17321482A JP 17321482 A JP17321482 A JP 17321482A JP S5963532 A JPS5963532 A JP S5963532A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- cell
- light source
- made incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/05—Flow-through cuvettes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、複数の波長における試料の吸光度等を測定す
る分光光度計の改良に係り、特に、放射輝度の高い光源
を用いる場合に好適な分光光度計に関する。
る分光光度計の改良に係り、特に、放射輝度の高い光源
を用いる場合に好適な分光光度計に関する。
液体試料の吸光度全測定する分析計においてはその検出
限界は光源の放射輝度に依存している。
限界は光源の放射輝度に依存している。
最近、極微量の分析が必要となってくるとともに高い放
射輝度を持った光源が用いられるようになってきている
− 従来の多波長分光光度計の一例全第１図に示した。光源
１から出た光は流通式の試料セル２全通シ、各波長に応
じて吸光され入射スリット３よシ分光器に入る。この場
合、試料セル２の光軸に垂直な断面は入射スリット３と
同等または光がけられない程度に若干大きい程度であり
、光源１よシの光はすべての波長の光がこの試料セル２
に入射している。入射スリット３より入射した光は凹面
回折格子４によ多分散され、本来出射スリットの存在す
る位置に置かれたホトダイオードアレイ５に到達する。
射輝度を持った光源が用いられるようになってきている
− 従来の多波長分光光度計の一例全第１図に示した。光源
１から出た光は流通式の試料セル２全通シ、各波長に応
じて吸光され入射スリット３よシ分光器に入る。この場
合、試料セル２の光軸に垂直な断面は入射スリット３と
同等または光がけられない程度に若干大きい程度であり
、光源１よシの光はすべての波長の光がこの試料セル２
に入射している。入射スリット３より入射した光は凹面
回折格子４によ多分散され、本来出射スリットの存在す
る位置に置かれたホトダイオードアレイ５に到達する。
ホトダイオードアレイ５ば１枚のシリコン基板上に形成
され、この場合、出射スリットと検出器と金兼ねている
。さて、この従来の多波長分光光度計に、放射輝度の高
い光源を用いると、次のような欠点が存在する。すなわ
ち、放射輝度の高い光がすべての波長にわたって試料２
の微小領域に入射するため、試料２は光のエネルギーに
より分解、化学変化環ケ起こし、本来の吸光度等が測定
できなくなる。
され、この場合、出射スリットと検出器と金兼ねている
。さて、この従来の多波長分光光度計に、放射輝度の高
い光源を用いると、次のような欠点が存在する。すなわ
ち、放射輝度の高い光がすべての波長にわたって試料２
の微小領域に入射するため、試料２は光のエネルギーに
より分解、化学変化環ケ起こし、本来の吸光度等が測定
できなくなる。
本発明の目的は上記従来技術の欠点を改善し、放射輝度
の高い光源を用いて、正しい分析値を高感度に検出し得
る分光光度計を提供することにある。
の高い光源を用いて、正しい分析値を高感度に検出し得
る分光光度計を提供することにある。
このため本発明では、波長分数素子と出射スリットとの
間に試料セル全配置する。この本発明の特徴的な構成に
よって、放射輝度の高い光源を用いても試料には分散後
の光のみが入射することになり、試料の変’ｆｔｋ招く
ことなく高感度の測定を行うことができる。
間に試料セル全配置する。この本発明の特徴的な構成に
よって、放射輝度の高い光源を用いても試料には分散後
の光のみが入射することになり、試料の変’ｆｔｋ招く
ことなく高感度の測定を行うことができる。
以下、本発明の一実施例金第２図により説明する。ここ
で第１図と同一の符号ケ付したものは同じ機能を有する
ものであり、ここではその説明を省略する。第２図では
、流通型の試料セル１０はホトダイオードアレイ５の直
前に配置されている。
で第１図と同一の符号ケ付したものは同じ機能を有する
ものであり、ここではその説明を省略する。第２図では
、流通型の試料セル１０はホトダイオードアレイ５の直
前に配置されている。
このように配置することにより、測定波長域以外の光成
分は試料に入射せず、また試料の各点においては分散後
の光だけが入射されている。光源１として従来と比べて
高輝度な光源を用いると、各波長での放射輝度が高くな
ったにも・かかわらず、試料の各点に入射する単位断面
積めたシの光ｐエネルギーは小さく、試料ケ変質させる
ことがないので、高感度な分光光度計となる。第３図（
ａ）、 （ｂ）に流通型試料セルの一例を示した。同図
（ａ）は縦断面図（光軸を含む面）、同図（ｂ）は側面
図（光軸方向より見た図）である。黒色石英でできたセ
ルボディ２０に透明石英板２１．２１’が溶着されてお
り、セルボディ２０の上下面に試料導出入口２２．２３
が開口している。光軸上にあたる試料流通部の、光軸に
垂直な断面図は第３図（ｂ）に示すように長方形をして
いる。分散後の測定波長域の光のみが、この試料流通部
を通過する。
分は試料に入射せず、また試料の各点においては分散後
の光だけが入射されている。光源１として従来と比べて
高輝度な光源を用いると、各波長での放射輝度が高くな
ったにも・かかわらず、試料の各点に入射する単位断面
積めたシの光ｐエネルギーは小さく、試料ケ変質させる
ことがないので、高感度な分光光度計となる。第３図（
ａ）、 （ｂ）に流通型試料セルの一例を示した。同図
（ａ）は縦断面図（光軸を含む面）、同図（ｂ）は側面
図（光軸方向より見た図）である。黒色石英でできたセ
ルボディ２０に透明石英板２１．２１’が溶着されてお
り、セルボディ２０の上下面に試料導出入口２２．２３
が開口している。光軸上にあたる試料流通部の、光軸に
垂直な断面図は第３図（ｂ）に示すように長方形をして
いる。分散後の測定波長域の光のみが、この試料流通部
を通過する。
本発明は、高輝度光源として、たとえば２つの主電極を
封止した石英製発光管中にタンタルのハロゲン化物およ
び水銀全封入した金属蒸気放電灯を用いる場合に特に有
効である。吸光度の測定波長域は一般的に４ＱＱｎｍ程
度よシ短波長域にある。上記金属蒸気放電灯では、タン
タルのハロゲン化物および水銀の分子スペクトルがこの
波長域で有効な連続スペクトルを持つと同時に、これよ
り長波長域においても非常に放射輝度の高い水銀の原子
スペクトル金持っている。このため第１図に示した従来
例では、試料の変質金招く恐れがあった。本発明のよう
に構成することにより、有害な長波長の光が入射せずこ
の従来技術の欠点を除くことが可能と、４なる。
封止した石英製発光管中にタンタルのハロゲン化物およ
び水銀全封入した金属蒸気放電灯を用いる場合に特に有
効である。吸光度の測定波長域は一般的に４ＱＱｎｍ程
度よシ短波長域にある。上記金属蒸気放電灯では、タン
タルのハロゲン化物および水銀の分子スペクトルがこの
波長域で有効な連続スペクトルを持つと同時に、これよ
り長波長域においても非常に放射輝度の高い水銀の原子
スペクトル金持っている。このため第１図に示した従来
例では、試料の変質金招く恐れがあった。本発明のよう
に構成することにより、有害な長波長の光が入射せずこ
の従来技術の欠点を除くことが可能と、４なる。
以上説明したごとく、本発明によれば放射輝度の高い光
源を用いて、試料の変質を招くことなく高感度の分析が
可能となる。
源を用いて、試料の変質を招くことなく高感度の分析が
可能となる。
第１図は従来技術になる多波長分光光度計の光学系構成
図、第２図は本発明になる多波長分光光度計の光学系構
成図、第３図（ａ）、 （ｂ）は本発明に用いる流通型
試料セルの一実施例？示す図である。 １・・・光源、２．１０・・・試料セル、３・・・入射
スリット、４・・・凹面回折格子、５・・・ホトダイオ
ードアレイ、６・・・レンズっ 扁 １ 図 ′泊 ２ 図 第３図 （０−）（１）ノ
図、第２図は本発明になる多波長分光光度計の光学系構
成図、第３図（ａ）、 （ｂ）は本発明に用いる流通型
試料セルの一実施例？示す図である。 １・・・光源、２．１０・・・試料セル、３・・・入射
スリット、４・・・凹面回折格子、５・・・ホトダイオ
ードアレイ、６・・・レンズっ 扁 １ 図 ′泊 ２ 図 第３図 （０−）（１）ノ
Claims (1)
- １、光源、入射スリット、波長分散素子、複数の出射ス
リット、複数の検出器、および試料セル配置したことを
特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17321482A JPS5963532A (ja) | 1982-10-04 | 1982-10-04 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17321482A JPS5963532A (ja) | 1982-10-04 | 1982-10-04 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5963532A true JPS5963532A (ja) | 1984-04-11 |
Family
ID=15956236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17321482A Pending JPS5963532A (ja) | 1982-10-04 | 1982-10-04 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5963532A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS523110U (ja) * | 1975-06-24 | 1977-01-11 |
-
1982
- 1982-10-04 JP JP17321482A patent/JPS5963532A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS523110U (ja) * | 1975-06-24 | 1977-01-11 |
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