JPS5951443A - Color cathode-ray tube device - Google Patents
Color cathode-ray tube deviceInfo
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- JPS5951443A JPS5951443A JP16281582A JP16281582A JPS5951443A JP S5951443 A JPS5951443 A JP S5951443A JP 16281582 A JP16281582 A JP 16281582A JP 16281582 A JP16281582 A JP 16281582A JP S5951443 A JPS5951443 A JP S5951443A
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- coil
- coil device
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- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
- H01J29/70—Arrangements for deflecting ray or beam
- H01J29/701—Systems for correcting deviation or convergence of a plurality of beams by means of magnetic fields at least
- H01J29/702—Convergence correction arrangements therefor
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- H01J2229/00—Details of cathode ray tubes or electron beam tubes
- H01J2229/56—Correction of beam optics
- H01J2229/568—Correction of beam optics using supplementary correction devices
- H01J2229/5681—Correction of beam optics using supplementary correction devices magnetic
- H01J2229/5687—Auxiliary coils
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はダイナミック差動コイル装置を有するカラー
陰極線管に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a color cathode ray tube having a dynamic differential coil arrangement.
従来この種の装置として第1図(4)に示すものがあっ
た。第1図Qにおいて、カラー陰極線管(1)は、画像
が映出されるパネル(2)と、は#了錐体のファンネル
(3)と、筒状のネック部(4)とからなシ、これらは
相互に接着されていて内部が直空に保たれた外囲器を構
成している。A conventional device of this type is shown in FIG. 1 (4). In FIG. 1Q, a color cathode ray tube (1) consists of a panel (2) on which an image is projected, a cone-like funnel (3), and a cylindrical neck part (4). These are glued together to form an envelope whose interior is kept open.
と記パネル(2)の内面には複数色、一般に赤、緑、青
にそれぞれ発光する螢光体が規則正しく配列され、各螢
光体によシそザイク模様に配列された螢光面(5)が形
成されている。この螢光面(5)に対向して所定の距離
離間して、無数の規則正しい孔を有する金属板からなる
シャドウマスク(6)が配置されている。E記ネック部
(4)には8本の電子ビームを発生する電子銃構体(7
)が配置されており、電子銃構体(7)は1不の電子ビ
ームを発生する単位電子銃(7R)、(7G)、(7B
)(以下電子銃)からなり、個々の電子銃(7R)、(
7G)、(7B)は、管軸(ネック部(4)の中心線)
を通る電子銃(7G)と、管軸に対称に配置された。2
個の電子銃(7B)、(7R)とから構成されている。On the inner surface of the panel (2), phosphors that emit light in multiple colors, generally red, green, and blue, are regularly arranged, and each phosphor has a phosphor surface (5 ) is formed. A shadow mask (6) made of a metal plate having numerous regular holes is disposed facing the fluorescent surface (5) and spaced apart from it by a predetermined distance. An electron gun assembly (7) that generates eight electron beams is located in the E neck section (4).
) are arranged, and the electron gun assembly (7) includes unit electron guns (7R), (7G), (7B) that generate one electron beam.
) (hereinafter referred to as electron gun), with individual electron guns (7R), (
7G), (7B) are tube axes (center line of neck part (4))
The electron gun (7G) passing through the tube was placed symmetrically to the tube axis. 2
It consists of two electron guns (7B) and (7R).
また、L記電子銃(7G)、(7B)、(7R)は、第
1図(4)に示すように、それぞれに対応する電子ビー
ム(100G)、(100B)、(100R)が無偏向
時に直進して螢光面(5)の中央部の一点に集中するよ
うにわずかに傾斜して配置されている。この傾斜角度を
機械的に高精度に位置決めすることは、一般に困難であ
るため、この傾斜誤差を補償する磁石装置(図示せず)
がネック部(4)の外周であって、電子銃構体(7)の
配置されている周辺部附近に設けられている。(10)
は電子ビームを偏向させる偏向ヨークで、ファンネル部
(3)トネック部(4)の接続部に装着されている。In addition, the electron guns (7G), (7B), and (7R) have their corresponding electron beams (100G), (100B), and (100R) undeflected, as shown in Figure 1 (4). The fluorescent light is arranged at a slight inclination so that it sometimes travels straight and concentrates on one point in the center of the fluorescent surface (5). Since it is generally difficult to mechanically position this tilt angle with high precision, a magnet device (not shown) is used to compensate for this tilt error.
is provided on the outer periphery of the neck portion (4) near the peripheral portion where the electron gun assembly (7) is arranged. (10)
is a deflection yoke that deflects the electron beam, and is attached to the connecting part of the funnel part (3) and the neck part (4).
この偏向ヨーク(10)は電子ビーム(100)を水平
および垂直の2方向にそれぞれ偏向する2組のコイルか
らなシ、一方の水平偏向にはサドル型、他方の垂直偏向
にはトロイダル形の巻線が用いられる。This deflection yoke (10) consists of two sets of coils that deflect the electron beam (100) in two directions, horizontally and vertically, one with a saddle type for horizontal deflection and the other with a toroidal type for vertical deflection. A line is used.
ところで、陰極線管を作動させるにあたって、電子ビー
ム(100)の偏向をと記偏向ヨーク(10)によシ行
なうとき、中央の電子銃(7G)から発射される電子ビ
ーム(100G)を偏向させて所定の位置に到達させる
ことは容易であるが、両側の電子銃(7B)、(7R)
からの電子ビーム(100B)、(100R)を螢光面
(5)の所定の位置に偏向させることは困難である。By the way, when operating a cathode ray tube, when the electron beam (100) is deflected by the deflection yoke (10), the electron beam (100G) emitted from the central electron gun (7G) is deflected. It is easy to reach the desired position, but the electron guns (7B) and (7R) on both sides
It is difficult to deflect the electron beams (100B) and (100R) from the fluorescent surface (5) to a predetermined position.
たとえば、偏向ヨーク(10)を用いて、水平偏向と垂
直偏向について磁束密度が一定に分布した磁界、いわゆ
る斉一に分布している磁界に設定したある場合、電子ビ
ーム(100)の走査状況は、第2図に示すようになる
。同図において、破線(6)は青色となる電子ビーム(
100B)図形を、実線(9)は赤色となる電子ビーム
(100R)の図形をそれぞれ示す。For example, in a case where the deflection yoke (10) is used to set a magnetic field in which the magnetic flux density is uniformly distributed for horizontal and vertical deflections, that is, a so-called uniformly distributed magnetic field, the scanning situation of the electron beam (100) is as follows. The result is as shown in FIG. In the figure, the broken line (6) indicates the electron beam (
100B), and the solid line (9) shows the red electron beam (100R).
同図から明らかなように、電子ビームの集中状態(偏向
量)は大別して8つの作動不良となる。As is clear from the figure, the concentration state (deflection amount) of the electron beam can be roughly classified into eight malfunctions.
第1は、電子ビーム(100)を水平に偏向させたとき
、赤色(2)と青色[F])の縦線が偏向量の増大にと
もなって水平方向へずれて、相互に幅t1だけ誤差が生
じるという欠点がある。First, when the electron beam (100) is deflected horizontally, the red (2) and blue [F]) vertical lines shift horizontally as the amount of deflection increases, and there is an error between them by a width t1. The disadvantage is that this occurs.
第2は、電子ビーム(100)を垂直方向へ偏向させた
とき、赤色■)と青色(2)の縦線が偏向量の増大にと
もなって水平方向へずれて螢光面(5)において相互に
幅L3だけ誤差が生じる。Second, when the electron beam (100) is deflected in the vertical direction, the vertical lines of red (■) and blue (2) shift horizontally as the amount of deflection increases, and intersect with each other on the fluorescent surface (5). An error occurs by the width L3.
第8は、電子ビーム(100)を水平、垂直の両方向(
斜め方向)へ偏向させたとき、赤色@)と青色@)の横
線が偏向量の増大にともなって垂直方向へ傾斜して螢光
面(5)で幅1.の誤差が生じることである。Eighth, the electron beam (100) is directed both horizontally and vertically (
When deflected in the diagonal direction), the horizontal lines of red @) and blue @) tilt vertically as the amount of deflection increases, resulting in a width of 1.5 mm at the fluorescent surface (5). This will result in errors.
L起業中誤差を除去するために偏向ヨーク(lO)が発
生する磁界を斉一ではなく、いわゆる非斉一に設定して
いる。すなわち、第8図に示すように、水平偏向磁界は
ビンクッション型分布(実線)(101)に、一方垂直
偏向磁界はバレル型分布(破線)(102)に設定され
ている。In order to eliminate errors during L start-up, the magnetic field generated by the deflection yoke (lO) is set not to be uniform, but to be so-called non-uniform. That is, as shown in FIG. 8, the horizontal deflection magnetic field is set to have a bottle cushion type distribution (solid line) (101), while the vertical deflection magnetic field is set to a barrel type distribution (broken line) (102).
これにより、第1の集中誤差1. 、1.は除去するこ
とができるが、第8の集中誤差t3の量は完全に除くこ
とができないで、第4図(4)、@に示すような、パタ
ーンの集中誤差が生じたままである。As a result, the first concentration error 1. , 1. can be removed, but the amount of the eighth concentration error t3 cannot be completely removed, and a pattern concentration error as shown in FIG. 4 (4) @ still occurs.
従来、これを補正する装置として、ダイナミック差動コ
イル装置が知られている。まず、この装置の原理につい
て説明する。第5図において、(11a)、(llb)
は1対の水平偏向コイルであシ、両者は同一形状、かつ
同一インダクタンスとなっている。両コイル(lla)
、(llb)は差動コイル(12)を介して並列に接続
され、端子H1とH!を通じて偏向電源(図示せず)K
接続されている。(18)は摺動子で、差動コイル(1
2)のと端から下端まで連続的に移動するように設けら
れている。ここで、たとえば、摺動子(1B)が差動コ
イル(12)の中央に位置するとき、磁界の分布は、差
動コイル(12)のないものと同じであるが、摺動子(
1B)が上端(18a)に位置するとき、L側の水平偏
向コイル(11a)の電流が下側の水平偏向コイル(1
l b)よシ大きくなり、螢光面(5)Eにおいて、赤
色@)の横線の右側をL方へ、左側を下方へ移動させる
ので、赤色(9)と青色03)の横線の集中誤差は補正
される。Conventionally, a dynamic differential coil device is known as a device for correcting this. First, the principle of this device will be explained. In FIG. 5, (11a), (llb)
is a pair of horizontal deflection coils, both of which have the same shape and the same inductance. Both coils (lla)
, (llb) are connected in parallel via the differential coil (12), and the terminals H1 and H! Deflection power supply (not shown) through K
It is connected. (18) is a slider, and the differential coil (1
2) It is provided so as to move continuously from the upper end to the lower end. Here, for example, when the slider (1B) is located at the center of the differential coil (12), the distribution of the magnetic field is the same as without the differential coil (12), but the slider (1B) is located at the center of the differential coil (12).
1B) is located at the upper end (18a), the current in the horizontal deflection coil (11a) on the L side flows into the horizontal deflection coil (1B) on the lower side.
l b) becomes larger, and on the fluorescent surface (5)E, the right side of the red @) horizontal line moves toward L and the left side moves downward, so the concentration error between the red (9) and blue 03) horizontal lines is corrected.
一方、第4図[F])における螢光面(5)の下部での
集中誤差は摺動子(1B)を下端(18b)へ移動させ
れば、と記と逆の作動をするので、同様に補正される。On the other hand, the concentration error at the lower part of the fluorescent surface (5) in Fig. 4 [F]) can be solved by moving the slider (1B) to the lower end (18b), so the operation is opposite to that described. Corrected in the same way.
したがって、電子ビームが螢光面(5)の上部を走査し
ているときには、摺動子(1B)が上端(18a)に、
下部を走査しているときは、下端(18b)に位置させ
ると同一の作用を行なうような回路を使用することによ
り、と起業中誤差を補正できる。Therefore, when the electron beam is scanning the upper part of the fluorescent surface (5), the slider (1B) is placed at the upper end (18a).
When scanning the lower part, the start-up error can be corrected by using a circuit that performs the same function when placed at the lower end (18b).
また、集中誤差が、第4図@)に示すようなものである
とき、電子ビーム(100)のL下の偏向量と摺動子(
18)のL下位置の関係が逆になるように作動する回路
が用いられる。In addition, when the concentration error is as shown in Fig. 4 @), the amount of deflection under L of the electron beam (100) and the slider (
A circuit is used that operates so that the relationship of the lower L position in 18) is reversed.
つぎに、と記原理を利用したダイナミック差動コイル装
置を第6図に示す。第6図において、(11a)、(l
lb)はコア(21)に巻回され、かつ、丘下対称な形
状の1対の水平偏向コイル、(20a)、(20b)は
コア(21)にトロイダル状に巻回され、L下1対の垂
直偏向コイルである。(14)はダイナはツク差動コイ
ル装置で、この装置(14)はコア(21)の両側に装
着され、かつそれぞれが対向して設けられた可飽和コア
(15a)、(15b)と、この可飽和コア(15a)
、(15b)にそれぞれ巻回された差動コイル(16a
)、(16b)と、上記コア(15a)にバイアス磁束
を起させる起磁力源としての永久磁石(17m)、(1
7b、)とから構成される。Next, a dynamic differential coil device using the principle described above is shown in FIG. In FIG. 6, (11a), (l
lb) is a pair of horizontal deflection coils that are wound around the core (21) and have a symmetrical shape down the hill; (20a) and (20b) are wound around the core (21) in a toroidal shape; A pair of vertical deflection coils. (14) is a differential coil device, and this device (14) has saturable cores (15a) and (15b) installed on both sides of the core (21) and facing each other. This saturable core (15a)
, (15b) are respectively wound on the differential coils (16a
), (16b), and a permanent magnet (17m), (1
7b,).
さて、修正すべき集中誤差が第4図Qのものであるとき
、永久磁石(17a)、(17b)は第7図のように、
外側部をN極に着磁し、可飽和コア(15a)、(15
b)KφMで示した方向の所定量の磁束をバイアスする
。Now, when the concentration error to be corrected is that of Fig. 4 Q, the permanent magnets (17a) and (17b) are as shown in Fig. 7.
The outer part is magnetized to N pole, and the saturable core (15a), (15
b) Biasing a predetermined amount of magnetic flux in the direction indicated by KφM.
いま、電子ビームが螢光面(5)のE方を走査している
とき、垂直偏向コイル(20a)、(20b)によって
矢印で示した偏向磁束φVが発生すると同時に漏えい磁
束φV′が生じ可飽和コア(15)を通過する。その結
果、左側の2@の可飽和コア(1,5m )を通過する
磁束はφM+φVとなり、一方布側の可飽和コア(15
b)を通過する磁束はφM−φV′となる。ところで、
可飽和コア(15)はバイアス磁束φMの附近で適当な
飽和特性となるように設定されている。したがって差動
コイル(16a)、(16b)のインダクタンスは、各
可飽和コア(15a)、(15b)を通過している磁束
が多いと小さくなシ、逆に少ないと大きくなる。Now, when the electron beam is scanning the E direction of the fluorescent surface (5), the vertical deflection coils (20a) and (20b) generate the deflection magnetic flux φV shown by the arrow, and at the same time leakage magnetic flux φV' can occur. Pass through the saturated core (15). As a result, the magnetic flux passing through the 2@ saturable core (1.5m) on the left becomes φM + φV, while the saturable core (15m) on the cloth side
The magnetic flux passing through b) becomes φM-φV'. by the way,
The saturable core (15) is set to have appropriate saturation characteristics near the bias magnetic flux φM. Therefore, the inductance of the differential coils (16a), (16b) becomes small when the amount of magnetic flux passing through each saturable core (15a), (15b) is large, and vice versa.
したがって磁束φMとφVが図ボのようであれば結果と
して左側ダイナきツクコイル(14a)のインダクタン
スは漏えい磁束φV′の分だけ偏向磁束φVのないとき
に比べて小さくなシ、右側のダイナミック差動コイル(
14b)のインダクタンスは大きくなる。これは、第5
図で示すL記摺動子(18)を上端(18i)の側に移
動させたと同じような効果があシ、第4図(4)の集中
誤差を補正できる。一方、電子ビームが螢光面(5)の
下方を走査しているときは、漏えい磁束φVの方向も逆
になるので、ダイナきツク差動コイル(14sL)(1
4b)のインダクタンスの大小関係も逆転し、第5図で
摺動子(18)を下端(18b)の側に移動させたと同
じような効果があシ、第4図@)の螢光面(5)下方で
の集中誤差を補正できる。また、垂直偏向が行なわれて
いない、いわば、漏えい磁束φVが零のとき、ダイナミ
ック差動コイル(1431)と(14b)のインダクタ
ンスはともに等しくなシダイナミック差動コイル(14
)の影響はない。したがって第4図(4)の集中誤差は
、螢光面金面にわたって補正されることになる。Therefore, if the magnetic fluxes φM and φV are as shown in the figure, the inductance of the left-hand dynamic differential coil (14a) will be smaller by the leakage magnetic flux φV' than when there is no deflection magnetic flux φV. coil(
The inductance of 14b) becomes large. This is the fifth
A similar effect can be obtained by moving the L slider (18) shown in the figure to the upper end (18i), and the concentration error shown in FIG. 4 (4) can be corrected. On the other hand, when the electron beam is scanning below the fluorescent surface (5), the direction of the leakage magnetic flux φV is also reversed, so the dynamic differential coil (14sL) (1
4b) is also reversed, and the same effect as moving the slider (18) to the lower end (18b) in Fig. 5 is obtained. 5) It is possible to correct downward concentration errors. Furthermore, when vertical deflection is not performed, so to speak, when the leakage magnetic flux φV is zero, the inductances of the dynamic differential coils (1431) and (14b) are both equal.
) has no effect. Therefore, the concentration error shown in FIG. 4(4) is corrected over the fluorescent surface gold surface.
ここで、ダイナミック差動コイル(14@) *(14
b)が2個のコイルから構成されているのは、コイル(
16)を流れる水平偏向電流によ)ダイナS ツク差動
コイル(14a)、(14b)のインダクタンスが変化
するのを防止するためと水平偏向と垂直偏向の回路が漏
えい磁束φVなどを通じて結合し好ましくない現象が起
るのを防止するためにである。Here, dynamic differential coil (14@) *(14
b) is composed of two coils because the coil (
In order to prevent the inductance of the DynaS differential coils (14a) and (14b) from changing due to the horizontal deflection current flowing through 16), the horizontal deflection and vertical deflection circuits are preferably coupled through leakage magnetic flux φV, etc. This is to prevent unnecessary phenomena from occurring.
なお、集中誤差のパターンが第4図[F])のタイプの
ものであれば第7図における永久磁石(17a)、(1
7b)の極性を逆にすればよい。In addition, if the concentration error pattern is of the type shown in FIG. 4 [F]), the permanent magnets (17a) and (1) in FIG.
The polarity of 7b) may be reversed.
ところで、このダイナミック差動コイル(14)では、
バイアスに用いる永久磁石(17a)。By the way, in this dynamic differential coil (14),
Permanent magnet (17a) used for bias.
(17b)によシ、ミスランデング現象が起きるという
欠点がある。すなわち、第8図に示すように、永久磁石
(17a)、(17b)は、偏向ヨーク(lO)の附近
に配置されているので、その磁束φMの一部が電子ビー
ム(100)に影響を与える。かシに、電子ビーム(1
00)が管軸の中央を通過している場合にはほとんど影
響がないが、水平偏向コイル(11)がサドル形で、垂
直偏向コイル(20)がトロイダル形からなる、いわゆ
るセミ)ロイダル形の偏向ヨーク叫においては、垂直偏
向磁束からの後方への磁束が電子ビーム(100)に影
響し、永久磁石(17a)、(17b)が配置されてい
る附近に達するまでにすでに、第8図に示すように曲げ
られている。このため、永久磁石(17a)、(17b
)からの磁束φMによシ、さらに矢印方向に偏向され、
螢光面(5)の所定の位置に達しないきスランデング現
象を生じる。(17b) has the disadvantage that a mislanding phenomenon occurs. That is, as shown in FIG. 8, since the permanent magnets (17a) and (17b) are placed near the deflection yoke (lO), part of their magnetic flux φM affects the electron beam (100). give. Electron beam (1
00) passing through the center of the tube axis, there is almost no effect, but if the horizontal deflection coil (11) is a saddle shape and the vertical deflection coil (20) is a toroidal shape, it is a so-called semi-loidal shape. In the case of deflection yoke, the backward magnetic flux from the vertical deflection magnetic flux affects the electron beam (100), and by the time it reaches the vicinity where the permanent magnets (17a) and (17b) are arranged, it has already become as shown in FIG. It is bent as shown. For this reason, permanent magnets (17a), (17b
) is further deflected in the direction of the arrow by the magnetic flux φM,
If it does not reach a predetermined position on the fluorescent surface (5), a slanting phenomenon occurs.
従来装置において、上記ミスランデング現象を解消する
手段は、特に対策が構ぜられておらず、ダイナミック差
動コイル装置を構造上の支持強度の観点から、コア(2
1)の後端部に装着されていた。In the conventional device, no particular measures have been taken to eliminate the above-mentioned mislanding phenomenon, and from the viewpoint of structural support strength, the core (2
1) was attached to the rear end.
この発明はと記従来の装置の欠点を解消するためになさ
れたもので、ダイナミック差動コイル装置のコアに対す
る取付位置を規定することによシ、ダイナミック差動コ
イル装置による電スランデング現象を除去したカラー陰
極線管装置を提供することを目的とする。This invention was made in order to eliminate the drawbacks of the conventional devices as described above, and by specifying the mounting position of the dynamic differential coil device with respect to the core, it is possible to eliminate the electric slanting phenomenon caused by the dynamic differential coil device. The purpose is to provide a color cathode ray tube device.
以下、この発明の実施例を図面にしたがって説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第9図はコア(21)とダイナミック差動コイル装置(
14)との位置関係を示すもので、水平偏向コイル(l
la)、(llb)と垂直偏向コイル(20m)、(2
0b)は省略されている。ここで、コア(21)の軸方
向の距離をL1ダイナミック差動コイル装置(14)の
中央からコア(21)の後端までの距離をtとすると、
Lとtとは、
特に望ましくは、
の関係を有している。Figure 9 shows the core (21) and the dynamic differential coil device (
14), and shows the positional relationship with the horizontal deflection coil (l
la), (llb) and vertical deflection coil (20m), (2
0b) is omitted. Here, if the axial distance of the core (21) is the distance from the center of the L1 dynamic differential coil device (14) to the rear end of the core (21), then
L and t particularly preferably have the following relationship.
t/Lの値を上記関係に設定したのは、以下に示す理由
による。第10図において、たとえば、中央の電子銃(
7G)から発射された電子ビーム(100G)のうち、
シャドウマスク(6)のM点を通過するものは、正常な
状態でaの軌跡を経てパネル(2)のPaに達するもの
とする。ところが、コア(21)の後端部にダイナきツ
ク差動コイル装置(14)を装着したとき、この装置(
14)からの後方への磁束の影響を受けることになるの
で、破線すで示す軌跡を経てpbに達してしまうため、
ミスランデング現象を起してしまう。また、同様に、コ
ア(21)の前端部にダイナミック差動コイル装置(1
4)を装着したときにも、コア(21)の前方で偏向さ
れて軌跡Cを経てPcに達してしまい、ミスランデング
現象となる。The reason why the value of t/L is set to the above relationship is as follows. In FIG. 10, for example, the central electron gun (
Of the electron beams (100G) emitted from
It is assumed that what passes through point M of the shadow mask (6) reaches Pa of the panel (2) via a trajectory a in a normal state. However, when the Dynakit differential coil device (14) is attached to the rear end of the core (21), this device (
14), it will reach pb via the trajectory already shown by the broken line.
This causes a mislanding phenomenon. Similarly, a dynamic differential coil device (1) is provided at the front end of the core (21).
4) is also deflected in front of the core (21) and reaches Pc via trajectory C, resulting in a mislanding phenomenon.
したがって、L記現象に着目すれば、ダイナミック差動
コイル装置(14)の位置に応じてaとbとの状態で順
次電子ビームの軌跡が変化するのであるから、ダイナミ
ック差動コイル装置(14)の磁界が存在しても、正常
な軌跡となるダイナミック差動コイル装置(14)のコ
ア(15)に対する装着位置が存在することになる。以
との事実の究明によシ、ダイナミック差動コイル装置(
14)の永久磁石(17)による影響を回避できるLと
tとの関係が決定されている。Therefore, if we focus on the phenomenon L, the trajectory of the electron beam changes sequentially between states a and b depending on the position of the dynamic differential coil device (14). Even if a magnetic field of By investigating the facts, a dynamic differential coil device (
14) The relationship between L and t that can avoid the influence of the permanent magnet (17) has been determined.
なお、上記ミスランデング現象は、螢光面(5)の製作
時におけるモザイク素子の写真法を用いた場合に、バネ
/l’ (2)の内面を焼き付けるときに使用される補
正レンズによりある程度の補正は可能である。しかしな
がら、補正レンズはL下左右が非対称な複雑な形状とし
なければならず、コストや精度の点で不利であるが、ト
記実施例によれば、取付位置の設定により、ミスランデ
ング現象を高糖に解消でき、また、コストの点でも有利
である。The mislanding phenomenon described above may be caused to some extent by the correction lens used when printing the inner surface of the spring /l' (2) when using the mosaic element photography method when manufacturing the fluorescent surface (5). Correction is possible. However, the correction lens must have a complicated shape with asymmetrical left and right sides at the bottom of L, which is disadvantageous in terms of cost and accuracy. It can be dissolved into sugar and is also advantageous in terms of cost.
以り述べた説明では、8本の電子銃(7R)。In the explanation given below, there are eight electron guns (7R).
(7G)、(7B)は水平に配置されているが、この発
明の適用はこれに限るものではない。すなわち、電子銃
が一列に配置され、電子ビームの一方向の偏向が偏向ヨ
ークのサドル形コイルで行なわれ、これと垂直な方向の
偏向が偏向ヨークのトロイダル形コイルで行なわれ、か
つダイナミック差動コイル装置が上記電子銃の配列され
ている方向と同方向に配置されていれば、丘記実施例と
同様な効果を奏する。Although (7G) and (7B) are arranged horizontally, the application of the present invention is not limited thereto. That is, the electron guns are arranged in a row, the electron beam is deflected in one direction by a saddle-shaped coil in the deflection yoke, and the deflection in the direction perpendicular to this is carried out by a toroidal coil in the deflection yoke. If the coil device is arranged in the same direction as the direction in which the electron guns are arranged, the same effects as in the embodiment described above can be obtained.
また、永久磁石(17m)、(17b)は可飽和コア(
t5a)、(15b)の外側に配置しているが、可飽和
コア(15)とコア(21)の間に配置してもよい。In addition, the permanent magnets (17m) and (17b) have saturable cores (
t5a) and (15b), but it may be placed between the saturable core (15) and the core (21).
さらに、バイアス用の永久磁石(17a)、(17b)
は電磁石などの起磁力源でもよく、この場合、E記バイ
アス用の磁束を発生させる直流電源に接続されるコイル
はコイル(16)と同様に可飽和コア(15)に巻回し
てもよい。Furthermore, permanent magnets for bias (17a), (17b)
may be a magnetomotive force source such as an electromagnet, and in this case, the coil connected to the DC power supply that generates the magnetic flux for the E bias may be wound around the saturable core (15) in the same way as the coil (16).
また、差動コイル(16)は水平偏向コイル(11a)
、(llb)並列でもよいのは勿論である。この場合に
は、バイアス用永久磁石の着磁は逆の向きに設定する必
要がある。このときには、水平偏向コイル(lla)、
(llb)は偏向電源に対して直列に接続してもよい。Additionally, the differential coil (16) is a horizontal deflection coil (11a).
, (llb) may of course be used in parallel. In this case, it is necessary to set the magnetization of the bias permanent magnet in the opposite direction. At this time, the horizontal deflection coil (lla),
(llb) may be connected in series to the deflection power supply.
以と説明したように、この発明によると、ダイナミック
差動コイル装置のコアに対する取付位置を規定すること
によ)、ダイナぐツク差動コイル装置によるミスランデ
ング現象を除去することができる。As explained above, according to the present invention, mislanding caused by the dynamic differential coil device can be eliminated by defining the mounting position of the dynamic differential coil device with respect to the core.
第1図はカラー陰極線管装置を示し、第1図(Atは側
断面図、第1図@)は要部を示す断面図、第2図は集中
誤差の基本的パターンを示す説明図、第8図は偏向磁束
の分布を示す説明図、第4図囚および缶)は集中誤差の
基本的パターンを示す説明図、第5図はダイナミック差
動コイル装置の原理を説明する回路図、第6図はダイナ
ミック差動コイル装置を示す斜視図、第7図は第6図の
装置の作動を説明する説明図、第8図は第6図の装置の
作動の状態を示す説明図、第9図はこの発明の一実施例
によるダイナミック差動コイル装置を示す側面図、第1
O図はこの発明の作動を示す説明図である。
(1)・・・カラー陰極線管装置、(2)・・・パネル
、(3)・・・ファンネル部、(4)・・・ネック部、
(5)・・・螢光面、(6)・・・シャドウマスク、(
7)・・・電子銃、(10)・・・偏向ヨーク、(ll
a)、(llb)、(20a)、(2ob)・・・[向
コイル、(14)・・・ダイナミック差動コイル装置、
(15a)、(15b)・・・可飽和コア、(16m
) 、 (16b ) ・・・差動コイル、(17a
) 、 (17b )−起磁力源(永久磁石)、(21
)・・・コア、(100)・・・電子ビーム。
なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。
代理人葛野信−(外1名)
第11
(A)
(B)
第2図
第3図
第4図
(A)
(B)
第5図
第8図
世
第10凶Fig. 1 shows a color cathode ray tube device, Fig. 1 (At is a side sectional view, Fig. 1 @) is a sectional view showing the main parts, Fig. 2 is an explanatory diagram showing the basic pattern of concentration error, Figure 8 is an explanatory diagram showing the distribution of deflection magnetic flux, Figure 4 is an explanatory diagram showing the basic pattern of concentration error, Figure 5 is a circuit diagram explaining the principle of a dynamic differential coil device, and Figure 6 is an explanatory diagram showing the basic pattern of concentration error. The figure is a perspective view showing the dynamic differential coil device, FIG. 7 is an explanatory diagram explaining the operation of the device in FIG. 6, FIG. 8 is an explanatory diagram showing the operating state of the device in FIG. 6, and FIG. 1 is a side view showing a dynamic differential coil device according to an embodiment of the present invention; FIG.
Figure O is an explanatory diagram showing the operation of the present invention. (1)...Color cathode ray tube device, (2)...Panel, (3)...Funnel part, (4)...Neck part,
(5)... Fluorescent surface, (6)... Shadow mask, (
7)...electron gun, (10)...deflection yoke, (ll
a), (llb), (20a), (2ob)...[direction coil, (14)...dynamic differential coil device]
(15a), (15b)...Saturable core, (16m
), (16b) ...differential coil, (17a
), (17b) - magnetomotive force source (permanent magnet), (21
)...core, (100)...electron beam. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts. Agent Makoto Kuzuno - (1 other person) 11 (A) (B) Figure 2 Figure 3 Figure 4 (A) (B) Figure 5 Figure 8 World 10th
Claims (1)
置されたシャドウマスクと、一方向に配列され九複数個
の電子銃を収納したネック部と、b記パネルとと記ネッ
ク部とを接続するファンネル部と、上記ネック部とファ
ンネル部の接続部附近に装着された偏向ヨークとを具備
し、ト記偏向ヨークは、コアに装着されて、電子ビーム
を2方向へ偏向するサドル形コイルおよびトロイダルコ
イルからなる偏向コイルと、この偏向コイルに接続され
、がっ、と記コアに装着されて、電子ビームの偏向量を
補正するダイナミック差動コイル装置とから構成され、
このダイナきツク差動コイル装置は、上記コアの両側に
配置され、かつと記偏向コイルに接続されたダイナきツ
ク差動コイルを巻回した可飽和コアと、この可飽和コア
に所定のバイアス磁束を通過させる起磁力源とからなり
、h記コアの軸方向長さをLlこのコアの電子銃側後端
からと記ダイナきツク差動コイル装置までの距離をtと
−すると、 であることを特徴とするカラー陰極線管装置。(1) A panel having a fluorescent surface, a shadow mask disposed inside the panel, a neck section housing nine or more electron guns arranged in one direction, a panel marked b, and a neck section set forth below. and a deflection yoke attached near the connection between the neck and the funnel, the deflection yoke being attached to the core and deflecting the electron beam in two directions. It consists of a deflection coil consisting of a shaped coil and a toroidal coil, and a dynamic differential coil device connected to this deflection coil and attached to the core marked with G, to correct the amount of deflection of the electron beam.
This dynakitsuk differential coil device includes a saturable core wound with dynakitsuku differential coils arranged on both sides of the core and connected to the deflection coils, and a predetermined bias applied to the saturable core. If the axial length of the core (h) is Ll, the distance from the rear end of this core on the electron gun side to the dynamometer differential coil device (t), then A color cathode ray tube device characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16281582A JPS5951443A (en) | 1982-09-16 | 1982-09-16 | Color cathode-ray tube device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16281582A JPS5951443A (en) | 1982-09-16 | 1982-09-16 | Color cathode-ray tube device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5951443A true JPS5951443A (en) | 1984-03-24 |
JPH0129301B2 JPH0129301B2 (en) | 1989-06-09 |
Family
ID=15761748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16281582A Granted JPS5951443A (en) | 1982-09-16 | 1982-09-16 | Color cathode-ray tube device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5951443A (en) |
-
1982
- 1982-09-16 JP JP16281582A patent/JPS5951443A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0129301B2 (en) | 1989-06-09 |
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