JPS5934048Y2 - Sawtooth wave generation circuit - Google Patents

Sawtooth wave generation circuit

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JPS5934048Y2
JPS5934048Y2 JP14365379U JP14365379U JPS5934048Y2 JP S5934048 Y2 JPS5934048 Y2 JP S5934048Y2 JP 14365379 U JP14365379 U JP 14365379U JP 14365379 U JP14365379 U JP 14365379U JP S5934048 Y2 JPS5934048 Y2 JP S5934048Y2
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JP
Japan
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pulse
scanning
generator
signal
scanning waveform
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JP14365379U
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Japanese (ja)
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JPS5560655U (en
Inventor
芳昭 村山
輝男 新宮
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日本電子株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は走査電子顕微鏡の走査回路改良に関する。[Detailed explanation of the idea] The present invention relates to improving the scanning circuit of a scanning electron microscope.

第1図は一般的な走査顕微鏡を示すブロック線図であり
、図中電子銃1より発生した電子線2は集束レンズ3及
び4により集束され、試料5上へ照射される。
FIG. 1 is a block diagram showing a general scanning microscope. In the figure, an electron beam 2 generated from an electron gun 1 is focused by focusing lenses 3 and 4, and is irradiated onto a sample 5.

この電子線2は走査回路6によつ動作する偏向コイル7
により試料5の一定領域を走査する。
This electron beam 2 is deflected by a deflection coil 7 operated by a scanning circuit 6.
A certain area of the sample 5 is scanned by.

電子線照射により試料5から発生した信号は、検出器8
により検出され、増巾器9により増幅されてブラウン管
10へ導入される。
The signal generated from the sample 5 by electron beam irradiation is transmitted to the detector 8.
The signal is detected by the amplifier 9, amplified by the amplifier 9, and introduced into the cathode ray tube 10.

又、この場合の偏向コイルとブラウン管偏向コイルへ送
られている電気信号とは同期しており、従ってブラウン
管10の画面上には、検出信号により輝度変調された試
料に関する走査像が表示される。
Further, the electric signals sent to the deflection coil and the cathode ray tube deflection coil in this case are synchronized, so that a scanned image of the sample whose brightness is modulated by the detection signal is displayed on the screen of the cathode ray tube 10.

この場合、高分解能を得るためには走査速度を遅くし、
又試料の動的な観察を行なうには走査速度を速くする等
の種々の的に応じて走査速度を切換える事が要求される
In this case, to obtain high resolution, the scanning speed should be slowed down,
Furthermore, in order to dynamically observe a sample, it is necessary to change the scanning speed according to various objectives, such as increasing the scanning speed.

この切換えは、走査回路6の信号出力の周波数を変える
事によってなされる。
This switching is performed by changing the frequency of the signal output from the scanning circuit 6.

一般に電源トランスその他からの商用周波数(50Hz
又は60Hz)の周期的雑音が受像器に大きな影響を与
え、遅い場合顕著に表われるので、低い周波数、即ち商
用周波数(50Hz又は60Hz )以下の周波数で使
用する場合には、電源周波数と同期をとる必要がある。
Generally, the commercial frequency (50Hz) from a power transformer or other
Periodic noise (or 60Hz) has a large effect on the receiver, and becomes more noticeable when the receiver is slow. Therefore, when using at a low frequency, that is, a frequency below the commercial frequency (50Hz or 60Hz), it is necessary to synchronize with the power supply frequency. I need to take it.

これに対し、走査速度が非常に速くなった場合、例えば
テレビ周波数を使用する場合には前記電源同期は行えず
、従って非同期に切換える必要がある。
On the other hand, when the scanning speed becomes very high, for example when using a television frequency, the power source synchronization cannot be performed and it is therefore necessary to switch to asynchronous mode.

而して、従来装置においてはこの様な切換えを走査速度
の切換え操作に連動して機械的例えばスイッチで行って
いたが、試料の観察目的に応じて絶えず電源同期、電源
非同期に切換える必要から、前記スイッチの使用頻度が
高くなる為、スイッチに故障を生じやすく走査回路の信
頼性を低下させている。
In conventional devices, such switching was performed mechanically, for example, by a switch, in conjunction with the scanning speed switching operation, but it is necessary to constantly switch between power synchronous and power asynchronous depending on the purpose of observing the sample. Since the switch is used more frequently, the switch is more likely to fail, reducing the reliability of the scanning circuit.

而して本考案は、上記欠点を解決するもので、電源同期
、電源非同期の切換えを電子線走査スピードの切換えに
応じて電気的な手段により自動的に行う事を目的とする
ものである。
The present invention is intended to solve the above-mentioned drawbacks, and aims to automatically switch between power supply synchronization and power supply asynchronous mode by electrical means in accordance with the change in electron beam scanning speed.

第2図は本考案の一実施例を示すブロック線図であり、
図中11は商用周波数(50Hz又は60Hz )の電
源で、該電源11により発生した交流電圧(電流)は、
パルス波形整形器12により第3図aに示す様な周期T
のクロック・パルス信号に波形整形されたのち、フリッ
プ・フロップ回路(制御回路)13のセット入力部に印
加される。
FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention,
In the figure, 11 is a commercial frequency (50Hz or 60Hz) power supply, and the AC voltage (current) generated by the power supply 11 is
The pulse waveform shaper 12 generates a period T as shown in FIG. 3a.
After being waveform-shaped into a clock pulse signal, the signal is applied to the set input section of the flip-flop circuit (control circuit) 13.

該フリップ・フロップ回路13の出力にスタート信号が
発生すると、ミラー積分器或いはD−A変換器等からな
る走査波形発生器14は第3図Cに示す如く一定の傾斜
を有する走査信号を発生するがその傾斜は試料の観察目
的に応じて任意に可変され、この傾斜の調整によって試
料上を走査する電子線の走査スピードが制御される。
When a start signal is generated at the output of the flip-flop circuit 13, a scanning waveform generator 14 consisting of a Miller integrator or a D-A converter generates a scanning signal having a constant slope as shown in FIG. 3C. However, the inclination can be arbitrarily varied depending on the purpose of observing the sample, and the scanning speed of the electron beam scanning over the sample is controlled by adjusting the inclination.

走査波形発生器14の出力の一部は偏向コイル7及びプ
ラン管10の偏向コイルに供給されると共にその一部は
振巾検出器15に導入される。
A portion of the output of the scanning waveform generator 14 is supplied to the deflection coil 7 and the deflection coil of the plan tube 10, and a portion thereof is introduced to the amplitude detector 15.

該振巾検出器においては、発生器14から発生する鋸歯
状波の振巾をあるレベル値で検出し、これをトリガ・パ
ルスとして単安定マルチバイブレータ−16へ導入する
The amplitude detector detects the amplitude of the sawtooth wave generated from the generator 14 at a certain level value, and introduces this as a trigger pulse to the monostable multivibrator 16.

該単安定マルチバイブレータ−からは第3図dに示す如
き、パルス巾T1のトリガー・パルスが発生し、フリッ
プフロップ回路13のリセット入力部Rに印加される。
The monostable multivibrator generates a trigger pulse with a pulse width T1 as shown in FIG. 3d, which is applied to the reset input R of the flip-flop circuit 13.

又、前記フリップ・フロップ回路13の出力にスタート
信号が発生すると、単安定マルチバイブレータ−等から
なる基準時間発生回路17が作動し第3図eに示す如き
一定時間巾のパルスを発生してフリップ・フロップ回路
のセット入力部Sに印加する。
When a start signal is generated at the output of the flip-flop circuit 13, the reference time generating circuit 17 consisting of a monostable multivibrator etc. is activated to generate a pulse of a constant time width as shown in FIG. -Apply to the set input section S of the flop circuit.

このパルスの巾T2は前述したクロックパルスの周期T
よりも短かく電源非同期の場合の鋸歯状波の周期よりも
長い一定時間に設定されている。
The width T2 of this pulse is the period T of the clock pulse mentioned above.
It is set to a constant time that is shorter than , but longer than the period of the sawtooth wave in the case of power supply asynchronization.

尚、フリップ・フロップ回路13の出力信号を第3図す
に示す如くであるとすると、パルスの立下がり(図で1
から0へ変化するとき)の部分が走査波形発生器14及
び基準時間発生回路17に対するスタート信号として用
いられ、パルスの立上がり(図Oから1へ変化するとき
)の部分が走査波形発生器14に対るリセット信号とし
て用いられる。
Incidentally, assuming that the output signal of the flip-flop circuit 13 is as shown in Figure 3, the falling edge of the pulse (1 in the figure)
The part when the pulse changes from O to 0) is used as a start signal for the scanning waveform generator 14 and the reference time generation circuit 17, and the rising part of the pulse (when it changes from O to 1 in the figure) is used as the start signal for the scanning waveform generator 14. It is used as a reset signal.

今、試料上を電源の商用周波数よりも低い周波数で電子
線走査し、該走査によって発生する信号をブラウン管で
観察する場合、走査波形発生器14の信号変化速度を所
望とする値に設定する。
When scanning a sample with an electron beam at a frequency lower than the commercial frequency of the power source and observing the signals generated by the scanning using a cathode ray tube, the signal change rate of the scanning waveform generator 14 is set to a desired value.

この状態では、前述した電源同期用のクロック・パルス
(第3図a中のA1)に基づいて、先ず走査波形発生回
路14が信号を発生すると同時に基準時間発生器17も
パルス巾T2のパルス(第3図a)を発生する。
In this state, first, the scanning waveform generating circuit 14 generates a signal based on the power supply synchronization clock pulse (A1 in FIG. 3a), and at the same time, the reference time generator 17 also generates a pulse ( Figure 3 a) is generated.

このときフリップ・フロップ回路13の出力は0信号の
状態にあるため、基準時間発生器17からO信号のパル
スがフリップ・フロップ回路13のセット人力Sに印加
されてもその出力はO信号のまま変化を生じない(第3
図b)。
At this time, the output of the flip-flop circuit 13 is in the 0 signal state, so even if the O signal pulse is applied from the reference time generator 17 to the set power S of the flip-flop circuit 13, the output remains the O signal. No change (3rd
Figure b).

このことは、第3図aにA2で示すクロック・パルスが
印加されたときにも該当し、フリップ・フロップ回路1
3の出力は走査波形発生回路14が走査信号を発生して
いる時間中O信号を保持している。
This also applies when the clock pulse indicated by A2 in FIG. 3a is applied, and the flip-flop circuit 1
The output of No. 3 holds the O signal while the scanning waveform generating circuit 14 is generating the scanning signal.

次に、走査信号発生回路14の出力がある設定されたレ
ベルに達して単安定マルチバイブレータ−16からのト
リガー・パルスがフリップ・フロップ回路13のリセッ
ト人力Rに印加されるとその出力はO信号から1信号の
状態にリセットされ、この変化は走査波形発生器14に
対するリセット信号として作用し、その走査波発生前の
状態に復帰させる。
Next, when the output of the scanning signal generation circuit 14 reaches a certain set level and a trigger pulse from the monostable multivibrator 16 is applied to the reset power R of the flip-flop circuit 13, the output becomes an O signal. This change acts as a reset signal for the scanning waveform generator 14, returning it to the state before the scanning wave was generated.

この状態で次にフリップ・フロップ回路13のセット人
力SにO信号が印加されたとき、即ちクロック・パルス
A1が印加されたときフリップ・フロップ回路13の出
力には再び0信号が発生してスタート信号として用いら
れ、前述の動作が繰り返される。
In this state, when the O signal is applied to the set input S of the flip-flop circuit 13, that is, when the clock pulse A1 is applied, a 0 signal is generated at the output of the flip-flop circuit 13 again and the process starts. It is used as a signal to repeat the above operations.

一方試料上を速く電子線走査して、該走査によって発生
する信号をブラウン管画面上にて観察するには、走査波
形発生器14の信号変化速度を所望とする速い値に設定
する。
On the other hand, in order to rapidly scan the sample with an electron beam and observe the signals generated by the scanning on a cathode ray tube screen, the signal change rate of the scanning waveform generator 14 is set to a desired fast value.

この状態では第4図aに示す最初のクロック・パルスC
5によってフリップ・フロップ回路13の出力が第4図
すに示す様に1からOへ変化すると走査波形発生器14
が動作すると共に、基準時間発生回路17に時間幅T2
のO信号パルス発生する。
In this state, the first clock pulse C shown in FIG.
5, when the output of the flip-flop circuit 13 changes from 1 to O as shown in FIG.
operates, and the reference time generating circuit 17 receives a time width T2.
The O signal pulse is generated.

次に、第4図に示す走査波形発生器14の出力が設定レ
ベルに達すると第4図dに示すトリガー・パルスP1が
発生し、フリップ・フロップ回路13のリセット人力R
に印加される。
Next, when the output of the scanning waveform generator 14 shown in FIG. 4 reaches the set level, a trigger pulse P1 shown in FIG.
is applied to

このときには依然としてセット人力Sは基準時間発生回
路17の出力によってO信号に保持されているため、フ
リップ・フロップ回路13の出力には第4図すに示す如
くトリガーパルスP1 を反転させた波形の信号を発生
し、トリガーパルス巾に等しい時間間隔でリセット信号
とスタート信号が発生し、前述しh動作が繰り返される
At this time, the set human power S is still held at the O signal by the output of the reference time generation circuit 17, so the output of the flip-flop circuit 13 is a signal with a waveform that is an inversion of the trigger pulse P1 as shown in FIG. is generated, a reset signal and a start signal are generated at time intervals equal to the trigger pulse width, and the above-described h operation is repeated.

その結果、基準時間発生回路17にはその出力パルス巾
T2よりも短かい周期でスタート信号が印加されること
なり、その出力信号は一度O信号に変化した後は第4図
eに示す如く、常にO信号に保たれる−8即ち、この状
態では発生器17の鋸歯状波の周波数が電源周波数とは
同期しない電源非同期となる。
As a result, the start signal is applied to the reference time generating circuit 17 at a cycle shorter than its output pulse width T2, and once the output signal changes to the O signal, as shown in FIG. 4e, The signal is always maintained at -8, that is, in this state, the frequency of the sawtooth wave of the generator 17 is not synchronized with the power supply frequency, and is asynchronous with the power supply.

前述の様な装置を走査電子顕微鏡の走査回路に使用すれ
ば電子線走査スピードの切換えに応じて自動的に電源同
期、電源非同期にスイッチングするので、従来の様な走
査回路の故障がなくなり、走査回路の信頼性が増す等、
その効果は大きい。
If the device described above is used in the scanning circuit of a scanning electron microscope, it will automatically switch between power synchronous and power asynchronous depending on the change in electron beam scanning speed, eliminating the problem of conventional scanning circuit failures and improving scanning speed. Increased circuit reliability, etc.
The effect is great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は走査電子顕微鏡の全体を示すブロック線図、第
2図は本考案の一実施例を示すブロック線図、第3図、
第4図は第2図の動作説明図である。 第2図において、11は商用周波数電源、12はパルス
波形整形器、13はフリップ・フロップ回路、14は走
査波形発生器、15は振巾検出器、16は単安定マルチ
バイブレータ−117は基準時間発生器である。
Fig. 1 is a block diagram showing the entire scanning electron microscope, Fig. 2 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, Fig. 3,
FIG. 4 is an explanatory diagram of the operation of FIG. 2. In Fig. 2, 11 is a commercial frequency power supply, 12 is a pulse waveform shaper, 13 is a flip-flop circuit, 14 is a scanning waveform generator, 15 is an amplitude detector, 16 is a monostable multivibrator, and 117 is a reference time. It is a generator.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 任意な傾斜の走査波形を発生する走査波形発生器、該発
生器の出力信号の変化量が一定値に達したとき時間幅T
1のパルスを発生するトリガー・パルス発生器、商用電
源の周期に同期した周期Tのパルスを発生するクロック
・パルス発生回路、前記T1よりも長くTよりも短い時
間幅T2を有するパルスを走査波形発生器のスタート時
を基準とて発生する基準時間発生回路、該トリガー・パ
ルス、クロック・パルス、時間幅T2を有するパルスが
供給され、トリガー・パルスの立ち下がり (立ち上1
かり)に同期して前記走査波形発生が回路をリセットす
ると共に、トリガー・パルス発生したダイニングがT2
以後であるか否かを判定し、以後である場合には該走査
波形発生器を各リセット後の最初のクロックパルスに基
づいてスタートさせ、否である場合には該走査波形発生
器をトリガー・パルスの立ち上がり(立ち下がり)に同
期してスタートさせるための制御回路とを具備すること
を特徴とする鋸歯状発生回路。
A scanning waveform generator that generates a scanning waveform with an arbitrary slope, and a time width T when the amount of change in the output signal of the generator reaches a certain value.
a trigger pulse generator that generates a pulse of 1, a clock pulse generator that generates a pulse with a period T synchronized with the cycle of the commercial power supply, and a scanning waveform of a pulse having a time width T2 that is longer than T1 and shorter than T. A reference time generation circuit that generates a reference time based on the start time of the generator, the trigger pulse, a clock pulse, and a pulse having a time width T2 are supplied, and the falling edge of the trigger pulse (rising 1
At the same time, the scanning waveform generation resets the circuit in synchronization with T2, and the trigger pulse is generated at T2.
Determine if it is later than that, and if it is later, start the scanning waveform generator based on the first clock pulse after each reset, and if not, trigger the scanning waveform generator. 1. A sawtooth generation circuit characterized by comprising a control circuit for starting in synchronization with the rising (falling) of a pulse.
JP14365379U 1979-10-17 1979-10-17 Sawtooth wave generation circuit Expired JPS5934048Y2 (en)

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Publication Number Publication Date
JPS5560655U JPS5560655U (en) 1980-04-24
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