JPS59224537A - 投影試験装置 - Google Patents
投影試験装置Info
- Publication number
- JPS59224537A JPS59224537A JP9973383A JP9973383A JPS59224537A JP S59224537 A JPS59224537 A JP S59224537A JP 9973383 A JP9973383 A JP 9973383A JP 9973383 A JP9973383 A JP 9973383A JP S59224537 A JPS59224537 A JP S59224537A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- image
- grating
- slit
- movement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0285—Testing optical properties by measuring material or chromatic transmission properties
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はレンズを回転した時に生じる像の移動量を測定
するだめの投影試験装置に関するものである。
するだめの投影試験装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来よりビデオプロジェクタ−用レンズ等の性能評価の
一方法として、レンズを回転し７た時の像の移動量を測
定する投影試験が行なわれている。
一方法として、レンズを回転し７た時の像の移動量を測
定する投影試験が行なわれている。
ここでレンズの鏡胴の中心軸をそのレンズの基準軸と呼
ぶことにする。単体レンズに偏芯がなく、かつ鏡胴に正
しくセットされておればレンズの光軸と基準軸は一致す
る。もし、レンズがその基準軸に対して完全に回転対称
であれば、レンズを回転しても像はまったく移動しない
。しだがって、もし像が移動するようであればレンズが
基準軸に対して回転対称でない状態、たとえばレンズの
偏芯とかレンズ鏡胴とレンズの間に「かた」があるこ
“となどが推察できる。また、レンズの回転に
ともなう像の移動が大きいほど上記のような偏芯や「か
た」の度合が大きいということも容易に推察できる。
ぶことにする。単体レンズに偏芯がなく、かつ鏡胴に正
しくセットされておればレンズの光軸と基準軸は一致す
る。もし、レンズがその基準軸に対して完全に回転対称
であれば、レンズを回転しても像はまったく移動しない
。しだがって、もし像が移動するようであればレンズが
基準軸に対して回転対称でない状態、たとえばレンズの
偏芯とかレンズ鏡胴とレンズの間に「かた」があるこ
“となどが推察できる。また、レンズの回転に
ともなう像の移動が大きいほど上記のような偏芯や「か
た」の度合が大きいということも容易に推察できる。
以下、図面を参照しながら従来の投影試験装置について
説明する。第１図は従来の投影試験装置の概念図であり
、１は点光源、２は被検レンズ、３はレンズをその基準
軸を中心に回転する回転装置、４は点光源１の像を投影
するスクリーンである。
説明する。第１図は従来の投影試験装置の概念図であり
、１は点光源、２は被検レンズ、３はレンズをその基準
軸を中心に回転する回転装置、４は点光源１の像を投影
するスクリーンである。
まず、被検レンズ２を回転装置３に取りつけたうえで、
スクリーン４上に点光源１の像のピントが合うようスク
リーン４の位置を調節する。
スクリーン４上に点光源１の像のピントが合うようスク
リーン４の位置を調節する。
次に回転装置３によりレンズを、その基準軸を中心に１
回転きせる。その時のスクリーン４上における像移動を
人が目視しながら、たとえば物差し等で像移動量ｔを測
定する。
回転きせる。その時のスクリーン４上における像移動を
人が目視しながら、たとえば物差し等で像移動量ｔを測
定する。
しかしながら、上記のような構成においては、像の移動
を人が目視しているだけであるので、その移動範囲を正
確につかむことが誰しく、精度の良い測定ができなかっ
た。
を人が目視しているだけであるので、その移動範囲を正
確につかむことが誰しく、精度の良い測定ができなかっ
た。
発明の目的
本発明の目的はレンズの回転にともなう像の移動量を、
簡単な構成で、精度良く、かつ自動的に測定することの
できる投影試験装置を提供することである。
簡単な構成で、精度良く、かつ自動的に測定することの
できる投影試験装置を提供することである。
発明の構成
本発明の投影試験装置は、被検レンズの物体面に配置し
た明と暗の部分からなる格子と、前記被検レンズをぞの
鏡胴の中心軸を中心に回転する回転装置と、前記被検レ
ンズの像面において前記格子の像の明と暗の部分を識別
する光検出手段と、前記被検レンズの回転に伴い前記光
検出手段上を通過した前記格子の像の本数を前記光検出
手段の出力に応じてカウントするカウント手段を備えて
構成したものであり、これによりレンズを回転した時に
生じる像の移動量を精度良く測定しうるものである。
た明と暗の部分からなる格子と、前記被検レンズをぞの
鏡胴の中心軸を中心に回転する回転装置と、前記被検レ
ンズの像面において前記格子の像の明と暗の部分を識別
する光検出手段と、前記被検レンズの回転に伴い前記光
検出手段上を通過した前記格子の像の本数を前記光検出
手段の出力に応じてカウントするカウント手段を備えて
構成したものであり、これによりレンズを回転した時に
生じる像の移動量を精度良く測定しうるものである。
実施例の説明
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明
する。
する。
第２図は本発明の一実施例に係る投影試験装置の概略図
である。第２図において、６は拡散光源、６はスリット
状の開口を等間隔に並べたチャートであり、拡散光源６
とチャート６により明暗の格子を形成している。７は被
検レンズであり、８は被検レンズ７を、その基準軸を中
心に回転させる回転装置である。９は光電変換素子、１
ｏは光電変換素子９の開口を制限するスリットであり、
両者は、チャート６の像がスリット１０の上に結ぶよう
に位置が調整される。
である。第２図において、６は拡散光源、６はスリット
状の開口を等間隔に並べたチャートであり、拡散光源６
とチャート６により明暗の格子を形成している。７は被
検レンズであり、８は被検レンズ７を、その基準軸を中
心に回転させる回転装置である。９は光電変換素子、１
ｏは光電変換素子９の開口を制限するスリットであり、
両者は、チャート６の像がスリット１０の上に結ぶよう
に位置が調整される。
第３図はスリット１０とチャート６の像の関係を基準軸
方向から見た概略図である。１５は格子像である。被検
レンズ７０回転により、格子像１５全体が動くと、スリ
ット１０の開口上は格子像１６の明暗に応じて順に明る
くなったり暗くなったりするため、光電変換素子９の出
力は、明暗に応じて出力が変化する。被検レンズ７をち
ょうど１回転させると、格子像１５は移動した後、再び
もとの位置へもどる。したがってスリット１０上を通過
した格子像１６の明るい部分（あるいは暗い部分）の本
数ｍを光電変換素子９の出力により測定することで、明
暗パターンの繰り返し間隔ｄとから像の移動量を測定す
ることができる。被検レンズ７が１回転する間に、スリ
ット１ｏ上の格子像も１往復するため、像の移動量をｔ
とすると、ｔは次式で表わされる。
方向から見た概略図である。１５は格子像である。被検
レンズ７０回転により、格子像１５全体が動くと、スリ
ット１０の開口上は格子像１６の明暗に応じて順に明る
くなったり暗くなったりするため、光電変換素子９の出
力は、明暗に応じて出力が変化する。被検レンズ７をち
ょうど１回転させると、格子像１５は移動した後、再び
もとの位置へもどる。したがってスリット１０上を通過
した格子像１６の明るい部分（あるいは暗い部分）の本
数ｍを光電変換素子９の出力により測定することで、明
暗パターンの繰り返し間隔ｄとから像の移動量を測定す
ることができる。被検レンズ７が１回転する間に、スリ
ット１ｏ上の格子像も１往復するため、像の移動量をｔ
とすると、ｔは次式で表わされる。
ｔ＝ｍ−ｄ／２
チャート６上の光強度分布が完全な矩形状でありても、
被検レンズ７の収差や回折の影響により、格子像１６の
光強度分布は矩形状にならず、いわゆるエツジがなまっ
た状態となる。そこで光電変換素子９の出力は、増幅器
１１で増幅した後、コンパレータ１２によりスレッショ
ールドを設定してコンパレートする。さらにコンパレー
タ１２の出力の立上がり、あるいは立下がりをカウント
手段を構成するところのカウンター１３でカウントし、
そのカウント数をカウント数表示装置１４に表示する。
被検レンズ７の収差や回折の影響により、格子像１６の
光強度分布は矩形状にならず、いわゆるエツジがなまっ
た状態となる。そこで光電変換素子９の出力は、増幅器
１１で増幅した後、コンパレータ１２によりスレッショ
ールドを設定してコンパレートする。さらにコンパレー
タ１２の出力の立上がり、あるいは立下がりをカウント
手段を構成するところのカウンター１３でカウントし、
そのカウント数をカウント数表示装置１４に表示する。
カウント数はスリン）１０ｅ通過した格子像１６の本数
ｍと対応するため、前式より像の移動量が直ちに求まる
。たとえばｄが０．２肩肩でカウント数が１６であれば
、像の移動；ｌｆ：は１．６１ＲＩＩとなる。
ｍと対応するため、前式より像の移動量が直ちに求まる
。たとえばｄが０．２肩肩でカウント数が１６であれば
、像の移動；ｌｆ：は１．６１ＲＩＩとなる。
なお、格子像１５の間隔ｄを短くすると、像の移動量の
測定における分解能を小さくすることができるが、被検
レンズ７の解像限界よりも間隔を短くすると、格子の明
と暗の部分の識別が困難になる。しだがって格子像１６
の間隔ｄは、必要とする測定分解能以下で、かつ被検レ
ンズの解像限界より長い間隔であることが要求される。
測定における分解能を小さくすることができるが、被検
レンズ７の解像限界よりも間隔を短くすると、格子の明
と暗の部分の識別が困難になる。しだがって格子像１６
の間隔ｄは、必要とする測定分解能以下で、かつ被検レ
ンズの解像限界より長い間隔であることが要求される。
一般的には、問題とされる像の移動量は解像限界より大
きいので、この要求を満たすことが可能である。また、
格子像１６の大きさｓｘｌは、像が移動しても光電変換
素子９が格子像１５の外の領域に出ないだけの大きさが
必要である。
きいので、この要求を満たすことが可能である。また、
格子像１６の大きさｓｘｌは、像が移動しても光電変換
素子９が格子像１５の外の領域に出ないだけの大きさが
必要である。
また、光電変換素子９の開口を制限するスリット１０は
、格子像１５の明暗を識別しやすくするために設けたも
のであり、例えば、ピンホール等でもよく、光電変換素
子９の受光面積が格子像の間隔より小さければ、スリッ
トやピンホールは必要でない。
、格子像１５の明暗を識別しやすくするために設けたも
のであり、例えば、ピンホール等でもよく、光電変換素
子９の受光面積が格子像の間隔より小さければ、スリッ
トやピンホールは必要でない。
また、明暗部からなる格子は、拡散光源５とチャート６
から構成するかわりに、たとえば陰極線管（ＣＲＴ）上
に明暗の格子パターンを映し出してもよい。
から構成するかわりに、たとえば陰極線管（ＣＲＴ）上
に明暗の格子パターンを映し出してもよい。
発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明は被検レンズの
物体面に明と暗の部分からなる格子を配置し、ｒ象面に
格子１象の明と暗の部分を識別する光電変換素子を配置
した上で、被検レンズを、その基準軸を中心に１回転し
、光電変換素子上を通過した格子の本数をその出力から
カウントするように構成しているので、レンズの回転に
Ｊ、もなう像の移動量を精度良く自動的に測定できると
いう、すぐれた効果が得られる。
物体面に明と暗の部分からなる格子を配置し、ｒ象面に
格子１象の明と暗の部分を識別する光電変換素子を配置
した上で、被検レンズを、その基準軸を中心に１回転し
、光電変換素子上を通過した格子の本数をその出力から
カウントするように構成しているので、レンズの回転に
Ｊ、もなう像の移動量を精度良く自動的に測定できると
いう、すぐれた効果が得られる。
第１図は従来の投影試験装置の概念図、第２図は本発明
の一実施例に係る投影試験装置の概略図、第３図は同本
発明の実施例における光電変換素子上のスリットと格子
像の関係を示す概略図である。 ６・・・・・・拡散光源、６・・・・・・チャート、７
・・・・・・被検レンズ、８・・・・・・回転装置、９
・・・・・光電変換素子、１ｏ・・・・・・スリット、
１１・・・・・・増幅器、１２・・・・・・コンパレー
タ、１３・・・・・・カウンター、１４・・・・・・カ
ウント数表示装置、１６・・・・・・格子像。
の一実施例に係る投影試験装置の概略図、第３図は同本
発明の実施例における光電変換素子上のスリットと格子
像の関係を示す概略図である。 ６・・・・・・拡散光源、６・・・・・・チャート、７
・・・・・・被検レンズ、８・・・・・・回転装置、９
・・・・・光電変換素子、１ｏ・・・・・・スリット、
１１・・・・・・増幅器、１２・・・・・・コンパレー
タ、１３・・・・・・カウンター、１４・・・・・・カ
ウント数表示装置、１６・・・・・・格子像。
Claims (1)
- 被検レンズの物体面に配置した明と暗の部分からなる格
子と、前記被検レンズをその鏡胴の中心軸を中心に回転
する回転装置と、前記被検レンズの像面において前記格
子の像の明と暗の部分を識別する光検出手段と、前記被
検レンズの回転に伴い前記光検出手段上を通過した前記
格子の像の本数を前記光検出手段の出力に応じてカウン
トするカウント手段を備えてなることを特徴とする投影
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9973383A JPS59224537A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 投影試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9973383A JPS59224537A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 投影試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59224537A true JPS59224537A (ja) | 1984-12-17 |
Family
ID=14255246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9973383A Pending JPS59224537A (ja) | 1983-06-03 | 1983-06-03 | 投影試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59224537A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11630026B2 (en) * | 2019-09-02 | 2023-04-18 | Suss Microoptics Sa | Method and test system for assessing the quality of a multi-channel micro- and/or subwavelength-optical projection unit |
-
1983
- 1983-06-03 JP JP9973383A patent/JPS59224537A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11630026B2 (en) * | 2019-09-02 | 2023-04-18 | Suss Microoptics Sa | Method and test system for assessing the quality of a multi-channel micro- and/or subwavelength-optical projection unit |
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