JPS59220632A - 屈折計検出器 - Google Patents
屈折計検出器Info
- Publication number
- JPS59220632A JPS59220632A JP9655083A JP9655083A JPS59220632A JP S59220632 A JPS59220632 A JP S59220632A JP 9655083 A JP9655083 A JP 9655083A JP 9655083 A JP9655083 A JP 9655083A JP S59220632 A JPS59220632 A JP S59220632A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- changes
- optical path
- mirror
- reflected
- light flux
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は液体クロマトグラフの検出器に適する屈折８１
検出滞で光ヘテロダイン法を、ｆｌＪ用し／こものに関
する。
検出滞で光ヘテロダイン法を、ｆｌＪ用し／こものに関
する。
（ロ）従来技術
液体クロマトクシフの検出器としてカラム流出液の屈４
Ｊｒ率の変化を検出するＪ１１＋折訓検出器がある。
Ｊｒ率の変化を検出するＪ１１＋折訓検出器がある。
従来の屈折計検出器の原理はカラム流出液を流すフロー
セルでプリズムを構成し、光を通してその振れ角の変化
を検出するものであり、高感度が得難いものであった。
セルでプリズムを構成し、光を通してその振れ角の変化
を検出するものであり、高感度が得難いものであった。
（ハ）目 ０勺
本発明は光ヘテロダイン法を用いて、きわめて高感度の
屈折態検出器を得ることを目的とする。
屈折態検出器を得ることを目的とする。
（ニ）構 成
光ヘテロゲイン法を用いた微小変位の測定法がある。本
発明は鏡の変位によって生ずる光路長の変化に相当する
光路長変化を光路内に挿入したフローセル内の液体の屈
折率変化によって起させるものである。
発明は鏡の変位によって生ずる光路長の変化に相当する
光路長変化を光路内に挿入したフローセル内の液体の屈
折率変化によって起させるものである。
一光束を三光束に分け、一方の光束に微小な周波数のず
れを与えノζ後二光束を干渉させると、唸シの現象で三
光束の周波数の差の周波数で振幅変調された光束が得ら
れる。二つの周波数の波を重ねて差の周波数の波を得る
のがヘテロダイン法であるが、本発明は三光束の一方に
フローセルを挿入して光路長に変化を生じさせると、三
光束を重ねたときの位相のずれにより唸り周波の位相が
ずれる。この唸り周波の位相のずれによってフローセル
内の液体の屈折率の変化を検出するものである。
れを与えノζ後二光束を干渉させると、唸シの現象で三
光束の周波数の差の周波数で振幅変調された光束が得ら
れる。二つの周波数の波を重ねて差の周波数の波を得る
のがヘテロダイン法であるが、本発明は三光束の一方に
フローセルを挿入して光路長に変化を生じさせると、三
光束を重ねたときの位相のずれにより唸り周波の位相が
ずれる。この唸り周波の位相のずれによってフローセル
内の液体の屈折率の変化を検出するものである。
実施例
図面は本発明の一実施例を示す。装置全体はマイケルノ
ン型の干渉計の構成になっている。１は光源でＨｅ−Ｎ
ｅレーザーが用いられている。２はハーフミラ−で光
源ｌのレーザー光束を２光束Ａ、Ｂに分割している。３
はフローセルで液体クロマトグラフのカラム流出液が流
通させてあり、光束Ａの光路内に挿入されている。光束
Ａはフローセル３を透過してミラー４で反射され、再び
フローセル３を透過した後、ハーフミラ−２を透過して
光電素子５に入射せしめられる。光束Ｂの方は超音波振
動子６の端面に入射ぜしめられる。レーザー光源ｌの出
力光の周波数をωＯとする。また超音波振動子に与えら
れる。駆動信号の周波数を０ノ１とする。そうすると超
音波振動子からは入射光束Ｂとθの角をなす方向に周波
数（ω○十ω１）の光が反射されて来る。この反射光束
をＣとする。
ン型の干渉計の構成になっている。１は光源でＨｅ−Ｎ
ｅレーザーが用いられている。２はハーフミラ−で光
源ｌのレーザー光束を２光束Ａ、Ｂに分割している。３
はフローセルで液体クロマトグラフのカラム流出液が流
通させてあり、光束Ａの光路内に挿入されている。光束
Ａはフローセル３を透過してミラー４で反射され、再び
フローセル３を透過した後、ハーフミラ−２を透過して
光電素子５に入射せしめられる。光束Ｂの方は超音波振
動子６の端面に入射ぜしめられる。レーザー光源ｌの出
力光の周波数をωＯとする。また超音波振動子に与えら
れる。駆動信号の周波数を０ノ１とする。そうすると超
音波振動子からは入射光束Ｂとθの角をなす方向に周波
数（ω○十ω１）の光が反射されて来る。この反射光束
をＣとする。
光束Ｃは鏡７で反射されて光電素子５に入射せしめられ
、光束への延長でハーフミラ−２を透過した光束と光電
素子５の受光面で干渉する。この干渉による唸りのだめ
光電素子５の受光面への入射光量はω１の周波数で変動
し、ωｌの周波数の交流信号が出力される。この交流を
位相検波回路で整流することにより交流信号の位相の変
化を検出する。
、光束への延長でハーフミラ−２を透過した光束と光電
素子５の受光面で干渉する。この干渉による唸りのだめ
光電素子５の受光面への入射光量はω１の周波数で変動
し、ωｌの周波数の交流信号が出力される。この交流を
位相検波回路で整流することにより交流信号の位相の変
化を検出する。
今フローセル３の長さをｌとすると、セル内液体の屈折
率ｎのとき、フローセル３の往復の光路長は２ｎｌ！で
あり、屈折率の変化δに対するフローセル３の光路長の
変化Δは２δｌであり、この光路長の変化に再づく光電
素子５の受光面における光束Ａの位相の変化は位相角ψ
で表わして２δｊ ψ−□・ωＯＣは光速塵 である。もう一方の周波数ω０＋ω１の入射光との干渉
が位相角でψだけずれだときの、ω１の唸シ周波の位相
のずれは位相角でψ／２である。
率ｎのとき、フローセル３の往復の光路長は２ｎｌ！で
あり、屈折率の変化δに対するフローセル３の光路長の
変化Δは２δｌであり、この光路長の変化に再づく光電
素子５の受光面における光束Ａの位相の変化は位相角ψ
で表わして２δｊ ψ−□・ωＯＣは光速塵 である。もう一方の周波数ω０＋ω１の入射光との干渉
が位相角でψだけずれだときの、ω１の唸シ周波の位相
のずれは位相角でψ／２である。
例として光源の波長を０．６μｍ、フローセルの ・長
さを１０ｍｍ、唸りの周波数を１０ＫＨ２とする。仮に
検出限界がλ／ １００であると仮定すると、これは、
唸りの周波数１０ ＫＨｚに対し、１μｓｅｃの位相差
を検出することに相当し充分検出可能な数値である。従
ってλ／１００の光路差を生ずる屈折率の変化δは ２δｌ−□λ ００ に上記の数値を代入してδ−３×ｌＯ程度となり、検出
器の時定数を０．５ｓｅｃとすると、５ＸＩＯのダイナ
ミックレンジとなる。
さを１０ｍｍ、唸りの周波数を１０ＫＨ２とする。仮に
検出限界がλ／ １００であると仮定すると、これは、
唸りの周波数１０ ＫＨｚに対し、１μｓｅｃの位相差
を検出することに相当し充分検出可能な数値である。従
ってλ／１００の光路差を生ずる屈折率の変化δは ２δｌ−□λ ００ に上記の数値を代入してδ−３×ｌＯ程度となり、検出
器の時定数を０．５ｓｅｃとすると、５ＸＩＯのダイナ
ミックレンジとなる。
（へ）効 果
本発明屈折計検出器は上述したような構成で、容易に高
感度を得ることができ、壕だ従来の屈折計検出器に比し
光源の輝度変化の影響を受は難いことが期待できる。
感度を得ることができ、壕だ従来の屈折計検出器に比し
光源の輝度変化の影響を受は難いことが期待できる。
図面は本発明の一実施例装置の平面図である。
］−・・Ｊ１θ−Ｎ ｅレーザー、２・・・ハーフミラ
−１３・・フローセル、４・・鏡、５・・・光電素子、
６・・・超音波振動子、７・・鏡。 代理人 弁理士 縣 浩 介
−１３・・フローセル、４・・鏡、５・・・光電素子、
６・・・超音波振動子、７・・鏡。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 一光束を三光束に分割し、その一方の光束の光路中にフ
ローセルを挿入し、他方の光束に周波数のずれを与えて
、上記三光束を光検出面で干渉させ、光検出器出力を位
相検波することにより、上記フローセル内の液体の屈折
率の変化を検出するノｎ（折計検出Ｒイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9655083A JPS59220632A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 屈折計検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9655083A JPS59220632A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 屈折計検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59220632A true JPS59220632A (ja) | 1984-12-12 |
Family
ID=14168189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9655083A Pending JPS59220632A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 屈折計検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59220632A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008502516A (ja) * | 2004-06-11 | 2008-01-31 | フィーコ ビー．ブイ． | 電子部品の制御可能な封入のための方法およびデバイス |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS524260A (en) * | 1975-06-28 | 1977-01-13 | Canon Inc | Physical factor measuring system |
-
1983
- 1983-05-30 JP JP9655083A patent/JPS59220632A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS524260A (en) * | 1975-06-28 | 1977-01-13 | Canon Inc | Physical factor measuring system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008502516A (ja) * | 2004-06-11 | 2008-01-31 | フィーコ ビー．ブイ． | 電子部品の制御可能な封入のための方法およびデバイス |
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