JPS59191956A - Line test system - Google Patents

Line test system

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Publication number
JPS59191956A
JPS59191956A JP58066742A JP6674283A JPS59191956A JP S59191956 A JPS59191956 A JP S59191956A JP 58066742 A JP58066742 A JP 58066742A JP 6674283 A JP6674283 A JP 6674283A JP S59191956 A JPS59191956 A JP S59191956A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
line
test
node
loop
Prior art date
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Pending
Application number
JP58066742A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazutaka Uozumi
魚住 一貴
Takashi Matsuda
孝 松田
Masashi Hirome
広目 正志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP58066742A priority Critical patent/JPS59191956A/en
Publication of JPS59191956A publication Critical patent/JPS59191956A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50Testing arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Small-Scale Networks (AREA)

Abstract

PURPOSE:To perform the test of a line without giving any disturbance to other lines by connecting a node having a frame buffer memory (FBM) to a loop transmission line and comparing the test signal sent from the FBM with the test signal received via a loop transmission line. CONSTITUTION:A central end office device 1 transmits the address of an address register 7 to an address bus L1 and at the same time transmits the channel number allotted to its own node to a data bus L2. In addition, the device 1 transmits the address of a transmission data register 2 to the bus L1 as well as the test data to the bus L2. Then the writing/reading is prepared for an FBM 4 corresponding to the time slot of the line to be tested with all lines set in an on- line state respectively excepting for the test line. In a test mode a certain pattern is written to the FBM 4, and this pattern is compared by comparators 10 and 11 with a pattern which is written to the FBM 4 after having one round trip of a highway.

Description

【発明の詳細な説明】 (al  発明の技術分野 本発明は、ループ状伝送路に、フレームバッファメモリ
を有するノードを接続したシステムの該ノードで、該ル
ープ状伝送路の試験を行う回線試験方式に係り、特に、
他のノードに影響を与えることなく1回線の試験が行え
るようにした回線試験方式に関するものである。
Detailed Description of the Invention (al) Technical Field of the Invention The present invention relates to a line test method for testing a loop-shaped transmission line in a node of a system in which a node having a frame buffer memory is connected to the loop-shaped transmission line. In particular,
The present invention relates to a line test method that allows testing of a single line without affecting other nodes.

(bl  技術の背景 近年、データ通信の分野において、よく用いられるデー
タ通信システムとして、複数の端末を有するノードを複
数個、ループ状伝送路に接続したデータハイウェイシス
テムがある。
BACKGROUND OF THE INVENTION In recent years, in the field of data communications, there is a data highway system in which a plurality of nodes each having a plurality of terminals are connected to a loop-shaped transmission line as a data communication system that is often used.

以下、かかるデータハイウェイシステムを図を用いて説
明する。
This data highway system will be explained below using diagrams.

第1図は、データハイウェイシステムの一実施例構成図
である。図において、Nl乃至N8はノード、Lはルー
プ状伝送路である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of a data highway system. In the figure, N1 to N8 are nodes, and L is a loop-shaped transmission line.

第2図は、ループ伝送路上の信号フォーマントを示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing signal formants on a loop transmission path.

データハイウェイシステムは、第1図に示す如く、ノー
ドN1乃至N8をループ状伝送路りにより、ループ接続
している。かかるシステムにおいて、ノードN1乃至N
8にはそれぞれチャネルが割当てられている。すなわち
、第2図に示すチャネルCHIはノードNl、チャネル
CH2はノードN 2 、−−−−−−−−チャネルC
H8はノードN8にそれぞれ割当てられており1例えば
、ノードN1からデータを送出する場合には、チャネル
CHIの位置にデータをのせて伝送する。尚、各ノード
N1乃至N8は、送出データをループ状伝送路りの速度
に合わせるためにフレームバッファメモリを有している
As shown in FIG. 1, the data highway system connects nodes N1 to N8 in a loop through a loop-shaped transmission path. In such a system, nodes N1 to N
A channel is assigned to each of the 8 channels. That is, the channel CHI shown in FIG. 2 is the node Nl, the channel CH2 is the node N2, and the channel C
H8 is assigned to each node N8. For example, when transmitting data from node N1, the data is placed on the channel CHI and transmitted. Note that each of the nodes N1 to N8 has a frame buffer memory in order to match the speed of the transmission data to the loop-shaped transmission path.

かかるデータハイウェイシステムにおいては。In such data highway system.

システム保守の面から、各ノードN1乃至N8で。From the point of view of system maintenance, each node N1 to N8.

ループ状伝送路りの試験を行い、ループ状伝送路に障害
があるか否かを判断していた。
Tests were conducted on loop-shaped transmission lines to determine whether there were any faults in the loop-shaped transmission lines.

(C1従来技術と問題点 従来の回線試験方式の一実施例を図を用いて説明する。(C1 Conventional technology and problems An example of a conventional line test method will be described with reference to the drawings.

第3図は、従来の回線試験方式で用いるノードの一実施
例構成図である。図において、1は中央制御装置、2は
送信データレジスタ、3はセレクタ、4はフレームバッ
ファメモリ、5は受信データレジスタ、6はチャネル盤
、DRI及びDR2はドライバ、LLはアドレスバス1
 L2はデータバス、Gはゲート、INは入力端子、O
UTは出力端子である。尚、入力端子IN及び出力端子
OU’Tはループ状伝送路りに接続されているものであ
る。
FIG. 3 is a configuration diagram of an embodiment of a node used in a conventional line test method. In the figure, 1 is a central control unit, 2 is a transmission data register, 3 is a selector, 4 is a frame buffer memory, 5 is a reception data register, 6 is a channel board, DRI and DR2 are drivers, LL is an address bus 1
L2 is a data bus, G is a gate, IN is an input terminal, O
UT is an output terminal. Note that the input terminal IN and the output terminal OUT'T are connected to a loop-shaped transmission path.

まず1通常のデータ伝送を行う場合を説明する。First, a case in which normal data transmission is performed will be explained.

この場合、中央制御装置1は、入力端子INから入力す
る第2図に示すデータがフレームバッファメモリ4に入
力されるように、セレクタ3を制御している。したがっ
て、入力端子INを介して入力するループ状伝送路から
のデータは、セレクタ3を介して、フレームバッファメ
モリ4の入力端子INから入力する。また、この場合、
チャネル盤6は、ドライバDR2が開となるように制御
しているため、入力端子INを介して入力するループ状
伝送路からのデータは、チャネル盤6に取り込まれる。
In this case, the central control device 1 controls the selector 3 so that the data shown in FIG. 2 input from the input terminal IN is input to the frame buffer memory 4. Therefore, data from the loop-shaped transmission line inputted via the input terminal IN is inputted via the selector 3 from the input terminal IN of the frame buffer memory 4. Also, in this case,
Since the channel board 6 is controlled so that the driver DR2 is open, data from the loop-shaped transmission path input via the input terminal IN is taken into the channel board 6.

その後、フレームバッファメモリ4から、上記の如く書
込まれたデータがゲートGを介して、出力端子OUTに
出力される。尚、この時、チャネル盤6において、送出
すべきデータがある場合には、ゲートGを制御して、該
データを、自己のノードに割当てられたチャネルにのせ
て出力する。
Thereafter, the data written as described above is outputted from the frame buffer memory 4 to the output terminal OUT via the gate G. At this time, if there is data to be transmitted on the channel board 6, the gate G is controlled to output the data on the channel assigned to its own node.

次に2回線試験を行う場合を説明する。この場合、中央
制御装置は、アドレスバスL1に送信データレジスタ2
のアドレスを送出すると共に、データバスL2に試験デ
ータを送出する。したがって、送信データレジスフ2に
は、かかる試験データが書込まれる。また、この場合、
中央制御装置lは、送信データレジスタ2の出力がフレ
ームバッファメモリ4に入力されるように、制御してい
るため、入力端子INを介して入力するループ状伝送路
からのデータは全てカントされ、送信データレジスフ2
の出力がフレームバ・7フアメモリ4に書込まれる。
Next, a case where a two-line test is performed will be explained. In this case, the central controller connects address bus L1 to send data register 2.
At the same time, the test data is sent to the data bus L2. Therefore, such test data is written into the transmission data register 2. Also, in this case,
Since the central controller 1 controls the output of the transmission data register 2 to be input to the frame buffer memory 4, all data from the loop-shaped transmission line input via the input terminal IN is canted. Transmission data register 2
The output of is written to the frame buffer memory 4.

そして、フレームバッファメモリ4に書込まれた試験デ
ータは、ゲートG及び出力端子OUTを介して、ループ
状伝送路りに送出される。
The test data written in the frame buffer memory 4 is then sent to the loop-shaped transmission path via the gate G and the output terminal OUT.

その後、ループ状伝送路りを一周して受信された試験デ
ータは、入力端子INから入力し、受信データレジスタ
5に書込まれた後、出力される。
Thereafter, the test data received after going around the loop-shaped transmission path is inputted from the input terminal IN, written to the received data register 5, and then outputted.

この際、中央制御装置1は、ドライバDRIが開となる
ように制御しているため、受信データレジスタ5の出力
は、データバスL2を介して、中央制御装置lに入力さ
れる。
At this time, since the central control device 1 controls the driver DRI to be open, the output of the reception data register 5 is input to the central control device 1 via the data bus L2.

これにより、中央制御装置1は、送信した試験データと
、ループ状伝送路りを一周して受信された試験データを
比較して、ループ状伝送路りの状態を検知する。
Thereby, the central control device 1 compares the transmitted test data with the test data received after going around the loop-shaped transmission path, and detects the state of the loop-shaped transmission path.

しかしながら、かかる従来の回線試験方式は。However, such conventional line testing methods.

以下の欠点を有するものであった。すなわち、従来の回
線試験方式は、ノード内で、受信データを全てカットし
て、試験データ送出するため、全ての回線をオフライン
にした状態でしか5回線試験を行うことができず、効率
がわるいという欠点があった。
It had the following drawbacks. In other words, in the conventional line test method, all received data is cut within the node and the test data is sent out, so a 5-line test can only be performed with all lines offline, which is inefficient. There was a drawback.

(d)  発明の目的 本発明は、かかる従来の回線試験方式の欠点に鑑み、他
のノードに影響を与えることなく、効率良く1回線の試
験を行えるようにした回線試験方式を提供することを目
的とするものである。
(d) Purpose of the Invention In view of the drawbacks of the conventional line testing methods, the present invention aims to provide a line testing method that allows efficient testing of a single line without affecting other nodes. This is the purpose.

(el  発明の構成 本発明は、かかる目的を達成するために、ループ状伝送
路に、フレームバッファメモリを有するノードを接続し
たシステムの該ノードで、該ループ状伝送路の試験を行
う回線試験方式において。
(el) Structure of the Invention In order to achieve the above object, the present invention provides a line test method in which a loop-shaped transmission line is tested at a node of a system in which a node having a frame buffer memory is connected to the loop-shaped transmission line. In.

該ノードに、該ノードに割当てられたチャネルの位置に
対応するフレームバッファメモリのアドレスに試験信号
を格納するように制御する手段を設け、該フレームバッ
ファメモリから送出される試験信号と、該フレームバッ
ファメモリから送出され、ループ状伝送路を介して受信
された試験信号を比較することにより、該ループ状伝送
路の試験を行うことを特徴とするものである。
The node is provided with means for controlling the test signal to be stored in the frame buffer memory address corresponding to the position of the channel assigned to the node, and the test signal sent from the frame buffer memory and the frame buffer This method is characterized in that the loop-shaped transmission path is tested by comparing test signals sent from the memory and received via the loop-shaped transmission path.

(fl  発明の実施例 以下2本発明の回線試験方式の一実施例を第4図を用い
て詳細に説明する。
(fl Embodiment of the Invention Two embodiments of the line test method of the present invention will be described in detail below with reference to FIG. 4.

第4図は2本発明の回線試験方式で用いるノードの一実
施例構成図である。図において、第3図と同一番号を付
したものは、同一部位を示し、7はアドレスレジスタ、
8は受信カウンタ、9は送信カンウタ、10及び11は
比較器である。
FIG. 4 is a configuration diagram of an embodiment of a node used in the line test method of the present invention. In the figure, the same numbers as in Figure 3 indicate the same parts, 7 is the address register,
8 is a reception counter, 9 is a transmission counter, and 10 and 11 are comparators.

まず2通常のデータ伝送を行う場合を説明する。First, a case in which normal data transmission is performed will be described.

この場合、中央制御装置1から、アドレスレジスタ7に
対して、アドレスが格納されていない。このため、比較
器10の出力は、常に、入力端子INから入力するデー
タがフレームバッファメモリ4に入力するようにゲート
G1を制御している。
In this case, no address is stored in the address register 7 from the central control unit 1. Therefore, the output of the comparator 10 always controls the gate G1 so that the data input from the input terminal IN is input to the frame buffer memory 4.

したがって、入力端子INから入力するデータ12の出
力に応じてフレームバッファメモリ4に書込まれる。尚
、この場合、受信カウンタ8は、クロック入力端子CL
Kから入力するクロックをカウントしている。ゲートG
2は、中央制御装置1からのライト信号Wにより、受信
カウンタ8の出力を選択している。
Therefore, the data 12 is written into the frame buffer memory 4 in accordance with the output of the data 12 input from the input terminal IN. In this case, the reception counter 8 is connected to the clock input terminal CL.
The clock input from K is counted. Gate G
2 selects the output of the reception counter 8 based on the write signal W from the central control device 1.

その後、フレームバッファメモリ4に書込まれたデータ
は、データG2の出力に応じて、読み出され、ゲートG
を介して出力端子OUTに出力される。尚、この場合、
送信カウンタ9は、クロック入力端子CLKから入力す
るクロックを入力している。また、ゲートGは、中央制
御装置1からのリード信号Rにより、送信カウンタ9の
出力を選択している。
Thereafter, the data written in the frame buffer memory 4 is read out according to the output of the data G2, and
It is output to the output terminal OUT via. In this case,
The transmission counter 9 receives a clock input from the clock input terminal CLK. Further, the gate G selects the output of the transmission counter 9 based on the read signal R from the central control device 1.

この時、チャネル盤6において、送出すべき。At this time, it should be sent out on the channel board 6.

データがある場合には、ゲートGを制御して、該データ
を、自己のノードに割当てられたチャネルにのせて出力
する。
If there is data, it controls the gate G and outputs the data on the channel assigned to its own node.

次に9回線試験を行う場合を説明する。この場合、中央
端局装置1は、アドレスバスL1にアドレスレジスタ7
のアドレスを送出すると共に、データバスL2に、自己
のノードに割当てられているチャネル番号を送出する。
Next, a case in which a 9-line test is performed will be explained. In this case, the central terminal device 1 connects the address register 7 to the address bus L1.
At the same time, the node sends the channel number assigned to its own node to the data bus L2.

したがって、アドレスレジスタ7には、該チャネル番号
が書込まれる。
Therefore, the channel number is written into the address register 7.

また、この場合、中央端局装置1は、アドレスレジスタ
L1に送信データレジスタ2のアドレスを送出すると共
に、引−タバスL2に試験データを送出する。したがっ
て、送信データレジスタ2には、かかる試験データが書
込まれる。
Further, in this case, the central terminal device 1 sends the address of the transmission data register 2 to the address register L1, and also sends the test data to the inverter bus L2. Therefore, such test data is written into the transmission data register 2.

今、入力端子1より、第2図に示す如き、データが入力
したとする。かかるデータは、フレームバッファメモリ
4に、ゲー1−G2の出力に応して書込まれる。しかし
ながら、この場合、受信カウンタ8の出力とアドレスレ
ジスタ7の出力との一致が比較器10において検出され
ると、比較器10は、送信データレジスタ2の出力を選
択するように、ゲートG1を制御する。すなわち、自己
のノードに割当てられているチャネルのデータが試験デ
ータに置換えられてフレームバッファメモリ4に書込ま
れることになる。尚、この場合、受信カウンタ8は、ク
ロック入力端子CLKから入力するクロックをカウント
している。またゲートG2は中央制御装置lからのライ
ト信号Wにより。
Suppose now that data is input from the input terminal 1 as shown in FIG. Such data is written into the frame buffer memory 4 in response to the outputs of the games 1-G2. However, in this case, when a match between the output of the reception counter 8 and the output of the address register 7 is detected in the comparator 10, the comparator 10 controls the gate G1 to select the output of the transmission data register 2. do. That is, the data of the channel assigned to its own node is replaced with test data and written into the frame buffer memory 4. In this case, the reception counter 8 counts the clock input from the clock input terminal CLK. Further, the gate G2 is activated by the write signal W from the central control device 1.

受信カウンタ8の出力を選択している。The output of the reception counter 8 is selected.

その後、フレームバッファメモリ4に書込ま゛れたデー
タは、ゲー)G2の出力に応じて読出され。
Thereafter, the data written in the frame buffer memory 4 is read out in accordance with the output of the game controller G2.

ゲートGを介して出力端子OUTに出力される。It is outputted to the output terminal OUT via the gate G.

尚、この場合、送信カウンタ9は、クロック入力端子C
LKから入力するクロックを入力している。
In this case, the transmission counter 9 has a clock input terminal C.
The clock input from LK is input.

また、ゲートGは、中央制御装置からのリード信号Rに
より、送信カウンタ9の出力を選択している。
Furthermore, the gate G selects the output of the transmission counter 9 in response to a read signal R from the central control device.

その後、ループ状伝送路りを一周して受信されたデータ
は、入力端子INから人力する。そして。
After that, the data received after going around the loop-shaped transmission path is manually inputted from the input terminal IN. and.

この時、送信カウンタ9のカウント出力と、アドレスレ
ジスタ7の出力とが一致すると、そのデータを受信デー
タレジスタ5に書込まれた後、出力される。すなわち5
受信したデータのうち、自己のノードに割当てられたチ
ャネルのデータが受信データレジスフ5に書込まれるこ
とになる。この際、中央制御装置1は、ドライバDPI
が開となるように制御しているため、受信データレジス
タ5の出力は、データバスL2を介して、中央制御装置
1に入力される。
At this time, when the count output of the transmission counter 9 and the output of the address register 7 match, the data is written to the reception data register 5 and then output. i.e. 5
Among the received data, the data of the channel assigned to the own node will be written to the received data register 5. At this time, the central control device 1 controls the driver DPI
Since the output of the reception data register 5 is controlled to be open, the output of the reception data register 5 is input to the central control unit 1 via the data bus L2.

これにより、中央制御装置は、送信した試験データと、
ループ状伝送路りを一周して受信された試験データを比
較して、ループ状伝送路りの状態を検知する。
As a result, the central controller can transmit the transmitted test data and
The state of the loop-shaped transmission path is detected by comparing the test data received while going around the loop-shaped transmission path.

すなわち1以上の説明の如く2本発明の回線試験方式は
、試験する回線以外はオンラインにした状態で試験する
回線のタイムスロットに対応するフレームバッファメモ
リへの書込み及び該フレームバッファメモリの読み出し
を行なえるようにし。
That is, as explained above, in the line testing method of the present invention, writing to and reading from the frame buffer memory corresponding to the time slot of the line to be tested is performed while all lines other than the line to be tested are kept online. Let's do it.

試験時は、あるパターンを該フレームバッファメモリに
書き込み、そのパターンと3ハイウエイを一周した後、
再びフレームバッファメモリに書き込まれたパターンを
比較することにより7回線の試験を行うものである。
During the test, a certain pattern is written into the frame buffer memory, and after going around the three highways with that pattern,
Seven lines are tested by comparing the patterns written in the frame buffer memory again.

(g)発明の効果 以上、詳細に説明した如く1本発明の回線試験方式によ
れば、他回線の通信を妨害することなく回線の試験が行
なえるので、他回線がオンラインの状態で1回線試験が
できるという効果がある。
(g) Effects of the Invention As explained in detail above, according to the line testing method of the present invention, it is possible to test a line without interfering with the communication of other lines. This has the effect of allowing tests to be carried out.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はデータハイウェイシステムの一実施例構成図、
第2図はループ伝送上の信号フォーマントを示す図、第
3図は従来の回線試験方式で用いるノードの一実施例構
成図、第4図は本発明の回線試験方式で用いるノードの
一実施例構成図である。 図中、Nl乃至N8はノード、−Lはループ状伝送路、
1は中央制御装置、2は送信データレジスタ、3はセレ
クタ、4はフレームバッファメモリ。 5は受信データレジスタ、6はチャネル盤、7はアドレ
スレジスタ、8は受信カウンタ、9は送信カウンタ、1
0及び11は比較器である。
Figure 1 is a configuration diagram of an embodiment of a data highway system.
Fig. 2 is a diagram showing signal formants on loop transmission, Fig. 3 is a configuration diagram of an embodiment of a node used in the conventional line test method, and Fig. 4 is an implementation example of a node used in the line test method of the present invention. It is an example block diagram. In the figure, Nl to N8 are nodes, -L is a loop-shaped transmission line,
1 is a central control unit, 2 is a transmission data register, 3 is a selector, and 4 is a frame buffer memory. 5 is a reception data register, 6 is a channel board, 7 is an address register, 8 is a reception counter, 9 is a transmission counter, 1
0 and 11 are comparators.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ルーフ状伝送路に、フレームバッファメモリを有するノ
ードを接続したシステムの該ノードで。 該ループ状伝送路の試験を行う回線試験方式において、
該ノードに、該ノードに割当てられたチャネルの位置に
対応するフレームバッファメモリのアドレスに試験信号
を格納するように制御する手段を設け、該フレームバッ
ファメモリから送出される試験信号と、該フレームバッ
ファメモリから送出され、ループ状伝送路を介して受信
された試験信号を比較することにより、該ループ状伝送
路の試験を行うことを特徴とする回線試験方式。
[Claims] A node of a system in which a node having a frame buffer memory is connected to a roof-like transmission path. In the line test method for testing the loop-shaped transmission line,
The node is provided with means for controlling the test signal to be stored in the frame buffer memory address corresponding to the position of the channel assigned to the node, and the test signal sent from the frame buffer memory and the frame buffer A line test method characterized in that a loop-shaped transmission line is tested by comparing test signals sent from a memory and received via the loop-shaped transmission line.
JP58066742A 1983-04-15 1983-04-15 Line test system Pending JPS59191956A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58066742A JPS59191956A (en) 1983-04-15 1983-04-15 Line test system

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JP (1) JPS59191956A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61224538A (en) * 1985-03-28 1986-10-06 Fujitsu Ltd Test system for data communication equipment
JPS6340050U (en) * 1986-08-30 1988-03-15

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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