JPS5918413A - フイルムシ−トの厚さ測定方法および装置 - Google Patents

フイルムシ−トの厚さ測定方法および装置

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Publication number
JPS5918413A
JPS5918413A JP12802882A JP12802882A JPS5918413A JP S5918413 A JPS5918413 A JP S5918413A JP 12802882 A JP12802882 A JP 12802882A JP 12802882 A JP12802882 A JP 12802882A JP S5918413 A JPS5918413 A JP S5918413A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film sheet
thickness
measuring device
sheet
radiation source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12802882A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoya Utsunomiya
宇都宮 直哉
Haruo Wada
和田 晴雄
Norimichi Ito
伊藤 憲道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IHI Corp filed Critical IHI Corp
Priority to JP12802882A priority Critical patent/JPS5918413A/ja
Publication of JPS5918413A publication Critical patent/JPS5918413A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は一フィルムシートの厚さ測定方法および装置
に関Tるものである。
従来から−長さ方向に連続して送らnるフィルムシート
の厚ざ?測定する方法として−そのフィルムシートの幅
方向に沿って、光学方式や放射線方式の透過形′!!た
は反射形の*!測定器を走査させる方法が知らnている
。このような方法は、例えばカレンダ成形される熱可産
性材料のフィルムシート、あるいはタイヤ製造用カレン
ダの貼合わせロールによって、フアブリツクの両面!1
″たけ片面にゴムが薄膜状に貼合わせらnるシート状の
タイヤコードの厚ざを測定する方法などとして採用され
ている。
ところで、従来、このようなフィルムシートのILE’
の測定は、第f図に示すように図中上方へ連続して送ら
nるフィルムシート1の移送ライン中に、光学方式!た
は放射線方式の透過形または反射形の厚ざ測定器2rr
:備えていて、この厚ざ測定器2を予め規制ざnにフィ
ルムシート1の幅の長ぎ分だば図中左右方間に沿って往
復走査させるようになっている。したがって−例えば厚
ざ測定器2が放射線方式の透過形のものである場合・そ
の放射線(μ線又番ゴX線)淵部8は図中2点鎖線で示
すようにフィルムシート1上にジグザグ状の走査軌跡り
、を画く。
ところが、フィルムシートlがその移送ライン中におい
て左右に蛇行したとさ、図示するように走査軌跡り、が
フィルムシートl上刃)ら外nることがある0このこと
は、次のような不利を招来する◇Tなわち一走査軌跡L
1が外nる範囲lにおいて、フィルムシート1の厚2F
全く測定Tることがでさす、しかも、一旦外nた走査軌
跡り、がフィルムシート1上に戻った瞬間は、直ちに通
常の厚ざ検出状態に復帰Tることがでさす、正常な厚ざ
測定信号2導出する丁でに若干の立上がりの時間を必要
とするため−フイルムシート1の厚ざ測定の不能範囲が
更に広がるといった問題がある。
そこで、このように走査11GIL跡L1が外れること
を未然に回避するため、フィルムシートlの蛇行渚を見
込んで、厚さ測定器2の左右の往復走査範囲を予め狭く
規制しておくことが考えらnる。ところが−このS合に
&ゴ、フィルムシート10両側縁近傍に及ぶ広範囲に亘
っての厚ざや形状を測定することができないといった問
題を生じる。
この発明は、上記事情を考慮してな3nたもので、フィ
ルムシートの両側縁の位置に応シて、厚ざ測定器の往復
走査範囲を規制Tることにより、フィルムシートの幅方
向の蛇行に拘りなく、フィルムシートの両側縁近傍に及
ぶ広範囲に亘っての厚ざを連続的に測定することがでさ
るフィルムシートの厚ざ測定方法および装置を提供Tる
ことを目的とする。
以F、この発明を第2図乃至第弘図に示T−実施例装置
に基づいて説明する。
X実施例では、放射i(1m”!=たけX線など)源4
を備えた放射線源8(S5と、被測対象物に対する放射
線源4の放射線の透過賞から、被測対象物の厚ざを測定
Tる測定部6とによって成る透過形の厚ざ測定器?Tt
採用している。放射線源部5と測定部6は、レール8に
沿って第3図中左右に往復動Tる駆動部(駆動機構)9
側の上下のロンド10.11に取付けらnでいて、フィ
ルムシートl11−挾んで互いに対向Tる状態のまま、
フィルムシート1の移送ライン中の所定位置において、
そ(1)fllA方同に往復動されるようになっている
0したがって、厚さ測定器7は、第2図中上方へ移送さ
れるフィルムシートlに対し、放射線源4のジグザグ状
の走査軌跡り、上の箇所の厚ぎを測定Tることになる。
放射線源部5には、その放射線源40図中左右の近傍位
置に、l/1ilG!の反射形の光電センサ(第f、第
コの位置検出器312.18が装備されていaoこnら
両光戴センサ12.1Bは、そn、 (’ n対の発光
部と受光部を有していて、それらのf方にフィルムシー
ト1が位置しているときは、発光部力)らの光がフィル
ムシート1の表面に反射ざnて受光&lSに入射し、−
万、それらのF方からフィルムシート1がずnて外nに
ときは、発光部からの光Gゴフイルムシート1にて反射
すれず、受光Iコゴ入射しないようになっている。そし
て、14/の光電センサ12は、その受光部への入射光
の有無によって、光電センサ12自身がフィルムシー)
1上の位置から左方へ外れたとき−Tなゎち放射線源4
がフィルムシート1上の位wIから左方へ外1.る寸前
のときを検出して検出信号を出方し、’i!’′r−第
ユの光電センサ18は、その受光部への入射光の有無に
よって、光電センサ18自身がフィルムシート1上の位
置から右方へ外nたとき、丁なわち放射線源4がフィル
ムシート1上の位置から右方へ外れる寸υifのときを
検出して検出信号を出力するように:なっている。
これら両光電センサ12,1Bの検出信号は、前記駆動
部9の制御信号として久方ざnlそして駆動部9は、そ
1.らσ〕検出信号を入力した時点を折返し点として、
厚ぎ測定器7を往復動させるようになっている。なお、
図中14.15は、各光電センサ12,1Bの信号出力
用のコードを示す。
こリノように構成ざnた厚ざ測定装置によれば、第1.
第2の光面センサ12,1Bが検出信号を出力したとさ
、丁なわち放射線源4がフィルムシート1上の位置から
外nる寸mWのときを折返し点として、駆動部9が厚ざ
測定器7を往復走査させることになる。したがって、厚
ざ測定器7は、フィルムシートlの蛇行によるその両側
縁の変動に応じて、左右への走査範囲が逐一変化し、放
射線源49ゴ、フィルムシート10両側縁から外nるこ
となく、その両側縁近傍を折返し点としての走査軌跡L
!を画く。
ゆえに、厚ざ測定器7は、フィルムシート1の蛇行に拘
りなく、そCl)両側縁近傍に及ぶ広範囲に亘っての厚
ざを連続的に測定する。
なお、上記実施例では、光電センサ12,18によって
第/ 、 wA2の位置検出器ご成しているが・(7) ンサ(第2の化1v検出器)。
こnら第1.第2の位置検出器の構成Gゴ伝習であり、
斐番ゴ、厚ざ測定器7がフィルムシート1の側縁から外
nる寸tt?+を検出Tるものであnばよい。
また、厚さ測定器7の型式および駆動部9の構成も伝習
である。
以上説明したように、こV、)発明によnば、長ざ方向
に送らnるフィルムシートの両側縁位置に応じて、厚ざ
測定器の往復走査範囲を自動的に規制するので、フィル
ムシートの両側縁近傍に及フ広範囲に亘っての厚ざ?連
続的に測定Tることがでさる等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第を図は従来の厚ざ測定方法を説明するために示す図、
第2図はこの発明の一要施例装置の概略構成図、第3因
Cま第2図の■矢視図、第を図はその要部の拡大図で、
iる。 ■・・・・・・フィルムシート、7・・・・・・厚ざ測
定器、9・・・・・・駆動部(駆動機構)、12・・・
・・・第1の光重センサ(第1の位置検出器)、18・
・・・・・@コの光重セ(8) 出願人 石川島播磨重工寒株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  長手方向に送らnるフィルムシートの移送ラ
    イン途中に備えた厚石測定器を、フィルムシーh (/
    J輻万同に往復走査ぎせて−そのフィルムシートの厚ざ
    や形状を測定する方法に3いて、フィルムシートのその
    輻万同の蛇行に応じ、前記厚2!測定器がフィルムシー
    トの両側縁力)ら外nる寸前の位置を折返し点として、
    前記厚ぎ測定器を往復走査ざitにとを特徴とTるフィ
    ルムシートの厚ざ測定方法。
  2. (2)長手方向に送らnるフィルムシートの移送ライン
    途中に、フィルムシートの幅方向に沿って往復動自在に
    備えらnて、・フィルムシートの厚さを測定可能な厚だ
    測定器と、この厚さ測定器がフィルムシートのa縁から
    外nる寸前を検出するI/の位置検出器と、前記厚ざ測
    定器がフィルムシートの他個縁から外れる寸I!IJr
    k−検出T6第2の位置検出器と、前記第l、第コの検
    出器が検出信号を出力したときをそnぞれ折返し時点と
    して、前記厚ざ測定器をフィルムシートの幅方向に往復
    走査させる駆動機構とを具備してなることを特徴とする
    フィルムシートの厚ざIll 定M lt。
JP12802882A 1982-07-22 1982-07-22 フイルムシ−トの厚さ測定方法および装置 Pending JPS5918413A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63225107A (ja) * 1987-03-16 1988-09-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 圧延材の蛇行量検出装置
US5021666A (en) * 1989-09-14 1991-06-04 Barber-Colman Company Pass-line independent web measuring method and apparatus
WO2013045326A3 (de) * 2011-09-28 2013-05-23 Voith Patent Gmbh Messvorrichtung und messverfahren zur messung von eigenschaften einer in maschinenrichtung bewegten bahn, wobei ein zwei identische, quer zur maschinenrichtung versetzt angeordnete sensoren aufweisender sensorträger quer über die bahn traversiert
CN104457665A (zh) * 2014-11-25 2015-03-25 湖州丝艺丝绸有限公司 丝绸面料测厚装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5067669A (ja) * 1973-10-17 1975-06-06

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