JPS59181327A - Diaphragm value detecting device - Google Patents

Diaphragm value detecting device

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Publication number
JPS59181327A
JPS59181327A JP58056886A JP5688683A JPS59181327A JP S59181327 A JPS59181327 A JP S59181327A JP 58056886 A JP58056886 A JP 58056886A JP 5688683 A JP5688683 A JP 5688683A JP S59181327 A JPS59181327 A JP S59181327A
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JP
Japan
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line sensor
image
lens
circuit
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP58056886A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuo Kawazoe
河添 光男
Yukio Nakajima
幸夫 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
Priority to JP58056886A priority Critical patent/JPS59181327A/en
Publication of JPS59181327A publication Critical patent/JPS59181327A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/099Arrangement of photoelectric elements in or on the camera

Abstract

PURPOSE:To detect exactly a diaphragm value by forming an image of an exit pupil in a line sensor arrayed linearly in the diameter direction passing through the center of an image forming surface of a conjugate position to a film. CONSTITUTION:A light passing through a photographic lens 2 passes through a semi-permeable mirror part 4a of a movable reflecting mirror, a total reflecting mirror 10, and a small lens 15 of a photodetecting part 12, and an image of a diaphragm member 3, namely, an image of an exist pupil 20 of the photographic lens 2 is formed on a line sensor 16 provided in the center of an image forming surface of a conjugate position to a film surface. A diameter D2 of its image 20A is in inverse proportion to an F-number of the photographic lens 2. Accordingly, the F-number is determined immediately from the number of photodetectors irradiated by a light, namely, an output of the line sensor 16.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、絞り値検出装置、更に詳しくは、撮影レンズ
の絞り値をカメラ本体側から非接触式で検出しうる絞り
価検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an aperture value detection device, and more particularly to an aperture value detection device that can detect the aperture value of a photographic lens from the camera body side in a non-contact manner.

周知のように、自動露出(A ID )カメラはその露
出制御機構に応じて、絞り優先式A′FJカメラ、シャ
ッター秒時優先式AEカメラ、プログラムAEカメラ等
に分類されるが、いずれの種類のカメラにおいても、撮
影レンズの絞り値をカメラ本体に伝達したり、カメラ本
体側から撮影レンズの絞り口径を制御したりするために
、機械的な露出制御機構が用いられている。しかし、こ
のような機械的な露出制御機構は、往々にしてその構成
が複雑になるという欠点がある。また、撮影レンズが交
換可能なカメラにおいては、撮影レンズのカメラ本体へ
の装着操作に連動して撮影レンズとカメラ本体とを機械
的に結合しなければならず、この連結機構’bIl+に
なるという欠点がある。
As is well known, automatic exposure (AID) cameras are classified into aperture-priority type A'FJ cameras, shutter-second priority type AE cameras, program AE cameras, etc. depending on their exposure control mechanism. In this camera as well, a mechanical exposure control mechanism is used to transmit the aperture value of the photographic lens to the camera body and to control the aperture aperture of the photographic lens from the camera body side. However, such mechanical exposure control mechanisms have the disadvantage that their configurations are often complicated. In addition, in a camera with an interchangeable photographic lens, the photographic lens and the camera body must be mechanically connected in conjunction with the operation of attaching the photographic lens to the camera body, and this connection mechanism is called 'bIl+'. There are drawbacks.

そこで、本出願人は、上記従来の欠点を解消するために
、撮影レンズの絞り部材の像を、すなわち射出瞳の像を
、フィルム面と共役な位置に配設した複数個の受光素子
からなる受光部に結像させ、この受光部の出力によって
撮影レンズの絞り値を検出するようにした絞り値検出装
置を先に提案した(特開昭55−159417号公報)
。この絞り値検出装置は、光学的に撮影レンズの絞り値
を検出するものであるので、非接触式で絞り値の伝達が
行なわれる利点がある。しかし、この装置°においては
、受光面が円形状の受光素子を用いているので、■受光
素子と射出瞳の偏心の影響を受ける。■射出瞳の像6−
ぼけた場合の対策が犬がかりになる。
Therefore, in order to eliminate the above-mentioned conventional drawbacks, the present applicant has proposed that the image of the diaphragm member of the photographic lens, that is, the image of the exit pupil, be formed by a plurality of light receiving elements disposed at positions conjugate with the film surface. We have previously proposed an aperture value detection device in which an image is formed on a light receiving section and the aperture value of a photographing lens is detected based on the output of this light receiving section (Japanese Patent Application Laid-open No. 159417/1983).
. Since this aperture value detection device optically detects the aperture value of the photographic lens, it has the advantage that the aperture value is transmitted in a non-contact manner. However, since this device uses a light-receiving element with a circular light-receiving surface, it is affected by eccentricity of the light-receiving element and exit pupil. ■Exit pupil image 6-
In case things get blurry, the solution is to rely on the dog.

■結像光学系と受光素子の偏心の影響を受ける。- Affected by the eccentricity of the imaging optical system and photodetector.

笠の問題点がある。There is a problem with the cap.

本発明の目的1ZJ1、上述の点に鑑み、撮影レンズの
射出瞳を結(’IJさぜる手段をフィルム面と共役な位
置に配設し、その結r象簡の中心を通る径方向に直線的
に複数個の受光素子を配列してなるラインセンサに、射
出瞳の像を結像させて、レンズの絞り値を検出するよう
にした絞り値検出装置を提供するにある。
Purpose of the present invention 1ZJ1 In view of the above points, means for adjusting the exit pupil of the photographing lens is disposed at a position conjugate with the film surface, and the exit pupil of the photographing lens is arranged in a position conjugate with the film surface, and the exit pupil of the photographing lens is An object of the present invention is to provide an aperture value detection device that detects the aperture value of a lens by forming an image of an exit pupil on a line sensor formed by linearly arranging a plurality of light receiving elements.

以下、本発明を図示の実施例に基いて説明する。Hereinafter, the present invention will be explained based on illustrated embodiments.

第1図は、本発明の一実施例を示す絞り値検出装置が配
設された一111+レフレックスカメラの要部断面図で
ある。第1図において、−眼レフレックスカメラ1の光
学系は、複数のレンズ群(図においては簡単0月″こめ
1枚のレンズで示しである。)を組み合せてなる撮影レ
ンズ2と、この撮影レンズ2の鏡枠(図示されず)内に
組み込まれた複数枚のセクター羽根からなる絞り部+A
6と、カメラ本体内((組み込まれ、撮影光路中に主光
軸に対して45°傾いて配設されている可動反射ミラー
4と、上記撮影レンズ2の焦点位置に配置された撮影フ
ィルム5と、上記可動反射ミラー4の上位に上記撮影フ
ィルム5と共役な位置に配設されたピントグラス6と、
このピントグラス乙の直上に配設さレタコンデンザーレ
ンズ7と、このコンデンザーレンズ70面上に配設され
ていて、ファインダー接眼レンズ9に正立像を供給する
ペンタプリズム8等から構成されている。そして、上記
可動反射ミラー4は、主光軸の近傍の、上記絞り部材6
の最大量ぎ口径に対応する領域が半透鏡部4aとなり、
他の領域が全反射鏡部4bとなっており、1ユ記半透鏡
部4aの後方には全反射ミラー10が配設されている。
FIG. 1 is a sectional view of a main part of a reflex camera equipped with an aperture value detection device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the optical system of the -eye reflex camera 1 includes a photographing lens 2 which is made up of a combination of multiple lens groups (shown as a single lens in the figure), and A diaphragm section +A consisting of a plurality of sector blades built into the lens frame (not shown) of the lens 2
6, a movable reflection mirror 4 which is incorporated into the camera body and is arranged in the photographing optical path at an angle of 45 degrees with respect to the principal optical axis, and a photographic film 5 which is disposed at the focal position of the photographic lens 2. and a focusing glass 6 disposed above the movable reflective mirror 4 at a position conjugate with the photographic film 5;
It consists of a retacondenser lens 7 disposed directly above the focusing glass B, and a pentaprism 8 disposed on the surface of the condenser lens 70 to supply an erect image to the finder eyepiece 9. . The movable reflection mirror 4 is arranged in the diaphragm member 6 near the main optical axis.
The area corresponding to the maximum measuring aperture becomes the semi-transparent mirror part 4a,
The other area is a total reflection mirror section 4b, and a total reflection mirror 10 is disposed behind the semi-transparent mirror section 4a.

この全反射ミラー10は上記可動反射ミラー4と連動す
るようになっており、反射ミラー4が跳ね上がったとき
にこれに追随して、同ミラー4の半透鏡部4.]を下か
ら覆い、撮影時にファインダー光学系からカメラ1内(
(光が入射するのを防市する役1.−1をする。
This total reflection mirror 10 is designed to interlock with the movable reflection mirror 4, and when the reflection mirror 4 jumps up, it follows the movement of the semi-transparent mirror 4 of the mirror 4. ] from below, and move it from the viewfinder optical system to the inside of camera 1 (
(Acts 1.-1 to prevent light from entering.

そして、」−記反射ミラー4の半透鏡部4aおよび全反
射ミラー10を介して、フィルム面と共役な位置には、
絞り値検出装置の受光部12が配設されている。絞り値
検出装β゛の受光部12の構成は第2図(A)、(Iり
に示すように、基板13の上に枠体14が固定されてお
り、この枠体14に小レンズ15が支持され固定されて
いる。基板16の上面は、フィルム面と共役な結像面と
なっており、同結像面の中央には多数個の受光素子16
aを直線的に一列((並べて形成したラインセンサー1
6が配設されている。
Then, at a position conjugate with the film surface, via the semi-transparent mirror part 4a of the reflection mirror 4 and the total reflection mirror 10,
A light receiving section 12 of an aperture value detection device is provided. As shown in FIGS. 2(A) and 2(I), the configuration of the light receiving section 12 of the aperture value detection device β' is such that a frame body 14 is fixed on a substrate 13, and a small lens 15 is mounted on this frame body 14. is supported and fixed.The upper surface of the substrate 16 is an image-forming surface conjugate with the film surface, and a large number of light-receiving elements 16 are arranged at the center of the image-forming surface.
a in a straight line ((line sensor 1 formed side by side)
6 are arranged.

そして、このラインセンサー16の中心と、小レンズ1
5の光軸Oとがはy一致している。
Then, the center of this line sensor 16 and the small lens 1
The optical axis O of No. 5 and the optical axis O of No. 5 coincide in y.

第6図は、上記第1図に示す光学系において、絞り値検
出装置の受光部12に、撮影レンズ2の絞り部材3の像
、すなわち、撮影レンズ2の射出瞳20が結像される状
態を示す原理図である。撮影レンズ2の射出瞳20が小
レンズ15により結像され、@2OA カ形成される。
FIG. 6 shows a state in which the image of the aperture member 3 of the photographic lens 2, that is, the exit pupil 20 of the photographic lens 2, is formed on the light receiving section 12 of the aperture value detection device in the optical system shown in FIG. FIG. The exit pupil 20 of the photographic lens 2 is imaged by the small lens 15 to form an image of @2OA.

この像2OAがラインセンサー16の位置から離れてい
る場合は、ラインセンサー16上にボケD3が生ずる。
If this image 2OA is far from the position of the line sensor 16, a blur D3 occurs on the line sensor 16.

ここで、射出瞳20から小レンズ15までの距離をXI
+小レンズ15の焦点距離をfとすると、この時の像2
OAの倍率(β)は、 β=−□     ・・・・・・・(1)X、 −f であり、従って、射出瞳20の径をDlとすると、像2
OAの径(1)2)および小レンズ15がらの距離位置
(X2)は、 となる。そして、ボケD、が生じている場合、こノ@2
0Aノホケt (D 3)は、小レンズ15の直径をd
、小レンズ15からラインセンサー16までの距離を特
徴とする特許 となる。また、小レンズ15の焦点距離fを、上記距離
X、 K較べて無視できる程度に小さくした場合には、
上記(2)式に示す像2OAの径(D2)は、となる。
Here, the distance from the exit pupil 20 to the small lens 15 is XI
+If the focal length of the small lens 15 is f, then image 2
The magnification (β) of OA is β=-□ (1)X, -f. Therefore, if the diameter of the exit pupil 20 is Dl, the image 2
The diameter (1)2) of the OA and the distance position (X2) from the small lens 15 are as follows. Then, if blur D occurs, this @2
0 A no Hoket (D 3) is the diameter of the small lens 15 d
, the patent is characterized by the distance from the small lens 15 to the line sensor 16. Furthermore, when the focal length f of the small lens 15 is made so small that it can be ignored compared to the above distances X and K,
The diameter (D2) of the image 2OA shown in the above equation (2) is as follows.

ところで、撮−影レンズ20Fナンバーは、このため、
上記(5)式に示ず像2OAの径(D2)は、D −□
          ・・・・・・・(ハ2  Fナン
バー よって、像2OAの径1)2は撮影レンズ2の[・′ナ
ンバーに反比例し、画像の径を検出することにより撮影
し/ズ2のFナンバーを算出することができることが明
らかである。
By the way, the 20F number of the photographic lens is, therefore,
The diameter (D2) of the image 2OA, which is not shown in equation (5) above, is D −□
...... (C2: According to the F number, the diameter of the image 2OA is 1) 2 is inversely proportional to the [・' number of the photographing lens 2, and by detecting the diameter of the image, the F number of /Z2 is inversely proportional to the [・' number of the taking lens 2] It is clear that it is possible to calculate

第4図は、上記射出瞳20の像2OAが絞り1直検出装
置の受光部12の基板16上に結像される状態を示すモ
ノで、撮影レンズ2のIll’ナンバーがF2゜F 2
.8 、 F4 、 F 5−6と変化することによっ
て、基板16上に結像される像2OAの領域はそれぞれ
AI+A2.A3.A4と変化する。そし又、これら各
領域の中心を通る径方向にラインセンサー16の受光素
子16aが配列されているので、各領域内の受光素子1
6aの数(d上記各領域の大きさに比例している。
FIG. 4 shows a state in which the image 2OA of the exit pupil 20 is formed on the substrate 16 of the light receiving section 12 of the diaphragm 1 direct detection device, and the Ill' number of the photographic lens 2 is F2°F2
.. 8, F4, and F5-6, the area of the image 2OA formed on the substrate 16 becomes AI+A2.8, F4, and F5-6, respectively. A3. Changes to A4. Furthermore, since the light receiving elements 16a of the line sensor 16 are arranged in the radial direction passing through the center of each region, the light receiving elements 1 in each region
The number of 6a (d is proportional to the size of each area above.

つまり、ラインセンサー16の受光素子列のうち、射出
瞳20の像20Aが結像されることによってこの結像光
を受電1′る受光素子の数は撮影レンズ20Fナンバー
に反比例する。すなわち、ラインセンサー16の各受光
素子16aのピッチをpとし、光の当っている受光素子
の数をnとすると、前記(力式となり、光の当っている
受光素子16aの数から直ちにFナンバーを求めること
ができる。例えば、上記(8)式で、p = 0.02
 mm 、 f = 2 mmとすると、光の当ってい
る受光素子16aの数nとFナンノクーとの関係は、F
2のときn = 50. F 2..8のときn=65
.F4のときn = 25. Ii” 5.6のときn
 = 18゜F 817)ときn = 13.”F 1
’1のときn = 9.’ F 16のときn = 6
となる。これらのFナンバーのほかその中間値も勿論検
出ずろことができる。従って、上記ラインセンサー16
の受光素子列の出力状態値、第5図に示すように、撮影
レンズ2のドナンバーに応じて変化し、II′ナンバー
が小さくなるほど、広範囲の多くの受光素子16aの出
力が゛用゛レベルになる。
In other words, among the light receiving element rows of the line sensor 16, the number of light receiving elements that receive the imaged light 1' when the image 20A of the exit pupil 20 is formed is inversely proportional to the F number of the photographic lens 20. That is, if the pitch of each light-receiving element 16a of the line sensor 16 is p, and the number of light-receiving elements 16a illuminated by light is n, then the above (force formula) is obtained, and the F number can be immediately calculated from the number of light-receiving elements 16a illuminated by light. For example, in the above equation (8), p = 0.02
mm, f = 2 mm, the relationship between the number n of light-receiving elements 16a that is illuminated by light and the F nanocouple is F
When 2, n = 50. F2. .. When 8, n=65
.. At F4, n = 25. Ii” When 5.6, n
= 18°F 817) when n = 13. “F1
'When 1, n = 9. ' When F 16, n = 6
becomes. Of course, in addition to these F-numbers, the intermediate values thereof can also be detected incorrectly. Therefore, the line sensor 16
As shown in FIG. 5, the output state value of the light receiving element row 16a changes depending on the number of the photographing lens 2, and the smaller the II' number, the more the output of the light receiving elements 16a in a wide range becomes the "usable" level. become.

第6図は、撮影レンズ2とラインセンサー16との間、
或いはラインセンサー16と小レンズ15との間((偏
心や傾きが生じた場合の結像状態を示ずものである。偏
心や傾きによってラインセンサー16の中心が1+; 
影レンズ2或いは小レンズ15の光l1111からずれ
ていた場合には、射出瞳20の像2OAは正常な結像領
域A。かも、例えば、領域A。1或いは領域A。2にず
れて基板16上に結像されることになる。領域A。、は
ラインセンサー16の長手方向に治って左右にずれた場
合であり、この場合、領域A。
FIG. 6 shows the distance between the photographing lens 2 and the line sensor 16,
Or between the line sensor 16 and the small lens 15 ((This does not indicate the imaging state when eccentricity or inclination occurs. Due to eccentricity or inclination, the center of the line sensor 16 is 1+;
If the light 1111 of the shadow lens 2 or the small lens 15 deviates from the light 1111, the image 2OA of the exit pupil 20 is a normal imaging area A. Maybe, for example, area A. 1 or area A. The image will be formed on the substrate 16 with a shift of 2. Area A. , is the case where the line sensor 16 has healed in the longitudinal direction and shifted from side to side; in this case, area A.

と領域A ’01とでは、結像光を受光する受光素子1
6aの数nには変わりがないので、正常に撮影レンズ2
0Fナンバーを検出することができる。また、領域A。
and area A'01, the light receiving element 1 that receives the imaging light.
Since there is no change in the number n of 6a, the photographic lens 2
0F number can be detected. Also, area A.

2はラインセンサー16の長手方向と直交する方向にず
れた場合であるが、この場合でも、領域A。2の直径部
の付近にラインセンサー16が配置されていることによ
って、結像光を受光する受光素子16aの数11!よほ
とんど変化せず、撮影レンズ20Fナンバーを検出する
ことができる。
2 is a case where the line sensor 16 is shifted in a direction perpendicular to the longitudinal direction, but even in this case, the area A is. By arranging the line sensor 16 near the diameter portion of 2, the number of light receiving elements 16a that receive the imaging light is 11! The photographing lens 20F number can be detected with almost no change.

ところで、前述のボケD3(第6図参照)が生じている
場合、絞り[面検出装置の受光部12の基板16上に結
像されろ射出瞳像2OAの領域は、第7図に示すように
、明るい・領域Aと、その周囲の外方に行くに従って次
第に暗くなる不鮮明な領域Bとがらなり、このため、ラ
インセンサー16の受光素子列の出力状態は、第8図(
C示すように、領域Δ内の受光素子の出力レベルは一定
のI−1”レベルに達しているが、領域I3内の受光素
子の出力レベルは外方に向って−り記゛11″レベルか
ら゛°L″レベルになだらかに傾斜して変化するものと
なる。このようなボケ現象は、レンズ交換した場合や、
撮影レンズ2を距離調節のために繰り出すことによって
射出瞳20と小レンズ15との間の距離X、が変化した
ときなどに生ずる。このため、小レンズ15の焦点距n
afを充分に小さくするとと如よって結像位置がほとん
ど変らないパンフォーカスの構成とすることができる。
By the way, when the above-mentioned blur D3 (see FIG. 6) occurs, the area of the exit pupil image 2OA formed on the substrate 16 of the light receiving section 12 of the surface detection device is as shown in FIG. There is a bright area A and an indistinct area B that gradually becomes darker toward the outside of the bright area. Therefore, the output state of the light receiving element array of the line sensor 16 is as shown in FIG.
As shown in C, the output level of the light-receiving element in the area Δ reaches a certain level I-1", but the output level of the light-receiving element in the region I3 increases outward to the level I-1". The blur changes gradually from ゛°L'' level.This kind of blur phenomenon occurs when changing lenses,
This occurs when the distance X between the exit pupil 20 and the small lens 15 changes by extending the photographing lens 2 for distance adjustment. Therefore, the focal length n of the small lens 15
By making af sufficiently small, it is possible to achieve a pan-focus configuration in which the imaging position hardly changes.

しかし、その反面、小レンズ15の焦点丸角flfを小
さくした場合には、前記(8)式から明らかなように、
Fナンバーが大きくなるほどその検出分解能が低下する
ことになるので、この検出分解能の低下を避けるために
はラインセンサー16の各受光素子16aのピッチを細
かぐすることが要求される。
However, on the other hand, if the focal round angle flf of the small lens 15 is made small, as is clear from equation (8) above,
As the F-number increases, the detection resolution decreases, so in order to avoid this decrease in detection resolution, it is required to finely arrange the pitch of each light receiving element 16a of the line sensor 16.

このため、例えば、第9図に示すように、中心に近づく
ほど受光素子のピッチを細かくしたラインセンサー26
を用いるようにしてもよい。撮影レンズ20Fナンバー
がF1’、4 、 t12 、 r−2,8。
For this reason, for example, as shown in FIG. 9, a line sensor 26 in which the pitch of the light-receiving elements becomes finer as it approaches the center.
You may also use The photographic lens 20F numbers are F1', 4, t12, r-2, 8.

t” ’4 、 [−5,sと変化するとき、ラインセ
ンサー26が設けられている基板上に結像される射出瞳
像20.Aの領域はそれぞれA、o、A  、A  、
A  ’、A20      30     40  
    50と変化する。そして、射出瞳像2OAの直
径の変化酸は、同じiEVでもFナンバーが小さくなる
ほど大きく、すなわち、例えば、F4→F5.6よりも
Fl、4→F2の方が大きくなり、その分解能も太きい
。従って、このラインセンサー26でハ外側の受光素子
26aの配列ピッチを大きくし、中心に近づくほどピッ
チを小さくすることにより、全体として平均した検出精
度が得られろようになる。
t"'4, [-5, s, the areas of the exit pupil image 20.A formed on the substrate on which the line sensor 26 is provided are A, o, A, A, A, respectively.
A', A20 30 40
It changes to 50. The change in the diameter of the exit pupil image 2OA becomes larger as the F number decreases even at the same iEV. For example, the change in the diameter of the exit pupil image 2OA becomes larger as the F number decreases.For example, the change in the diameter of the exit pupil image 2OA becomes larger as the F number becomes smaller. . Therefore, by increasing the arrangement pitch of the light receiving elements 26a on the outer side of the line sensor 26 and decreasing the pitch toward the center, an average detection accuracy can be obtained as a whole.

また、このようなラインセンサー26を用いることによ
り、ラインセンサーの受光素子の数を減らすことができ
、このラインセンサー26の出力を読み出す際にもその
演算時間を短縮することができる。
Further, by using such a line sensor 26, the number of light receiving elements of the line sensor can be reduced, and the calculation time for reading out the output of this line sensor 26 can also be shortened.

また、上記小レンズ15の焦点距離fが一定値以上大き
くとも、従って、基板16上に結像される射出瞳@20
Aが前記第7,8図に示したように領域Aの周囲にボケ
領域Bを有する場合であっても、このボケを前提として
Fナンバーを検出するようにしてもよい。その場合、第
8図に示すように、ボケ領域■3における受光素子のな
だらかに変化する出力部分で一定レベルHoを検出する
ようにすればよい。このボケを前提とした■−ナンバー
(絞り値)検出手段についてはその一例を、第11図に
示す電気回路で説明する。
Furthermore, even if the focal length f of the small lens 15 is greater than a certain value, the exit pupil @20 that is imaged on the substrate 16
Even if A has a blur area B around area A as shown in FIGS. 7 and 8, the F number may be detected based on this blur. In that case, as shown in FIG. 8, a constant level Ho may be detected at the gently changing output portion of the light receiving element in the blur area (3). An example of the ■-number (aperture value) detection means based on this blur will be explained using the electric circuit shown in FIG.

第10図は、本発明の絞り値検出装置を用いて絞り制御
を行なうよってしたカメラの電気回路の構成の一実施例
を示ず概略回路図である3、この第10図に示す回路に
おいて、電源31と電源スィッチ32の直列回路に、上
8t)ラインセンサー16を含む絞り値検出回路63.
同絞り値検出回路33の出力((よって駆動される絞り
制御回路64およびバク−オンリセットパルス発生回路
65が接続されていて、電源スィッチ32をオンにした
とき、これらの回路が電y7;i31によって給電され
る。また、電源61と電源スィッチ32の直列回路に、
レンズ装着スイッチ36と抵抗37か−らなる直列回路
が接続され、レンズ装着スイッチ36と抵抗67との接
続点はレンズ装着検出回路68に接続されている。なお
、レンズ装着スイッチ56は、例えば、第11図に示す
よ5K、カメラ1内の所定位置に配設された常開性のス
イッチであっ−C、カメラIKJ’l!e影レンズを装
着しないときは、ボディマウント41に光軸に沿って移
動自在に設けられた押動ピン42がコイルばね43の弾
魔力により撮影レンズ側に向って突出しているので、こ
のレンズ装着スイッチ36はオフの状態にあるが、カメ
ラに撮影レンズを装着すると、第14図K 示スように
、レンズマウント44によっ2.押動ビ/42が押し動
かされその後端部がレンズ装着スイッチ36の方向に突
出し、同スイッチ36がオンの状態になる。
FIG. 10 is a schematic circuit diagram, not showing an example of the configuration of an electric circuit of a camera that performs aperture control using the aperture value detection device of the present invention.3 In the circuit shown in FIG. 8t) An aperture value detection circuit 63 including the line sensor 16 in a series circuit of the power supply 31 and the power switch 32.
The output of the aperture value detection circuit 33 ((therefore, the aperture control circuit 64 and back-on reset pulse generation circuit 65 that are driven are connected, and when the power switch 32 is turned on, these circuits In addition, in the series circuit of the power supply 61 and the power switch 32,
A series circuit consisting of a lens attachment switch 36 and a resistor 37 is connected, and a connection point between the lens attachment switch 36 and the resistor 67 is connected to a lens attachment detection circuit 68. The lens mounting switch 56 is, for example, a normally open switch disposed at a predetermined position inside the camera 1, as shown in FIG. e When the shadow lens is not attached, the push pin 42 provided on the body mount 41 so as to be movable along the optical axis protrudes toward the photographic lens side due to the elastic force of the coil spring 43, so that the lens cannot be attached. Although the switch 36 is in the OFF state, when a photographic lens is attached to the camera, the lens mount 44 causes 2. The pushing pin 42 is pushed and its rear end protrudes in the direction of the lens mounting switch 36, and the switch 36 is turned on.

上記パワーオンリセットパルス発生回路35は電源スィ
ッチ32をオンにしたときに短時間のII”パルスを発
生する回路であって、その出力端子はオアゲート39の
一力の入力帰子に接続されており、また、上記し・ンズ
装着検出回路38は電源スィッチ62をオン圧し、かつ
上記レンズ装着スイッチ36がオ/′になったときに一
定時間後に短時間の’IT”パルスを発生する回路であ
って、その出力端子はオアゲート39の他方の入力端子
に接続されている。
The power-on reset pulse generating circuit 35 is a circuit that generates a short-time II'' pulse when the power switch 32 is turned on, and its output terminal is connected to the single-power input return of the OR gate 39. Furthermore, the lens attachment detection circuit 38 is a circuit that turns on the power switch 62 and generates a short 'IT' pulse after a certain period of time when the lens attachment switch 36 is turned on/'. Its output terminal is connected to the other input terminal of the OR gate 39.

オアゲート39の出力端子は絞り制御回路54のクリア
端子CI、几に接続されている。従って、上記電源スィ
ッチ32をオンにするたびに、或いはレンズ交換を行な
うたびに、パワーオンリセットパルス発生回路35、或
いはレンズ装着検出回路38から′°H′”パルスが発
せられ、同パルスがオアゲート69を通じて絞り制御回
路64のクリア端子CL I(。
The output terminal of the OR gate 39 is connected to the clear terminal CI of the aperture control circuit 54. Therefore, each time the power switch 32 is turned on or the lens is replaced, a '°H' pulse is generated from the power-on reset pulse generation circuit 35 or the lens attachment detection circuit 38, and this pulse is applied to the OR gate. 69 to the clear terminal CLI of the aperture control circuit 64 (.

に導かれる。7絞り制御回路64はクリア端子CL I
t。
guided by. 7 The aperture control circuit 64 has a clear terminal CL I
t.

に°゛11“″パルスが導かれると、このどき出力端子
がu HI+レベルとなり、同レベルの信号を絞り値検
出回路33の人ブ月端子It、 Ic A Dに送出す
るようになっている。絞り値検出回路33は上記ライン
センサー16の出力を走査してl1li’j次取り出す
と共i9、これに処理を施して[、lナンバー(絞り値
)をカウントして検出する回路であって、上記入力端子
R,EA i)に11”ルベルの信号が導かれると、こ
のとき検出出力をラッチしてこれを出力i端子OU i
”から絞り匍j御回路34に送出するようにしている。
When the °゛11'' pulse is led to the output terminal, the output terminal becomes uHI+ level, and a signal of the same level is sent to the digital terminals It and Ic A D of the aperture value detection circuit 33. . The aperture value detection circuit 33 is a circuit that scans the output of the line sensor 16, extracts it, processes it, and counts and detects the l number (aperture value), When a signal of 11" level is introduced to the above input terminals R, EA i), the detection output is latched and outputted to the i terminal OU i
” to the aperture control circuit 34.

絞り制御回路34はこの絞り値検出回路63の出力流1
子OU Tにおける出力に基いて絞り制御を行なう。
The aperture control circuit 34 uses the output flow 1 of this aperture value detection circuit 63.
Aperture control is performed based on the output at the child OUT.

第12図は、上記第10図中の絞り値検出回路33の具
体的な回路構成を示す電気回路図である。この絞り値検
出回路33において、ラインセンサー56は、前記ライ
ンセン′す−j6に相当するもので、1列の受光素子部
56aと、転送ゲー) 561)と、この転送ゲート5
6bによって全受光素子に蓄積された電荷が転送される
アナログシフトレジスタ部56cとを有するO CT)
 (電荷結合素子)ラインイメージセンサ−である。ラ
インセンサー56の受光素子部56aには転送りロック
発生回路55かものリセットパルスφ (第14図参照
)が導かれ、リセットパルスφ、の“’ I−1”レベ
ルで受光素子部56aの電荷蓄積がリセットされて次の
電荷蓄積に備えるようになっている。転送ゲート561
)には転送りロック発生回路55からのトリガーパルス
φT(第14図参照)が導かれ、トリガーパルスφアの
’rT”レベルで転送ゲート561)が開かれて受光素
子部56aに蓄積された電荷がアナログシフトレジスタ
部56Cへ転送されるようになっている。アナログシフ
トレジスタ部56CKは転送りロック発生回路55かも
の転送りロックφ、〜φ3(第14図参照)が導かれ、
この転送りロックによってラインセンサー56の出力端
子VOUTに、上記アナログシフトレジスタ部56Cに
転送された電荷に応じた信号が順次に導出されるように
なっている。転送りロック発生回路55のクロック入力
端子には発振子53を備えたクロックパルス発生回路5
4より一定周期のクロックパルスCL K (第14図
参照)が導かれている。
FIG. 12 is an electric circuit diagram showing a specific circuit configuration of the aperture value detection circuit 33 shown in FIG. 10 above. In this aperture value detection circuit 33, the line sensor 56 corresponds to the line sensor 56, and includes a row of light receiving elements 56a, a transfer gate 561), and a transfer gate 561).
6b and an analog shift register section 56c to which charges accumulated in all the light receiving elements are transferred.
(charge coupled device) line image sensor. A reset pulse φ (see FIG. 14) of the transfer lock generation circuit 55 is guided to the light receiving element portion 56a of the line sensor 56, and the charge of the light receiving element portion 56a is The storage is reset to prepare for the next charge storage. Transfer gate 561
) is led to the trigger pulse φT (see FIG. 14) from the transfer lock generation circuit 55, and at the 'rT' level of the trigger pulse φA, the transfer gate 561) is opened and the signal is accumulated in the light receiving element section 56a. The charge is transferred to the analog shift register section 56C.The analog shift register section 56CK is led to the transfer locks φ, ~φ3 (see FIG. 14) of the transfer lock generation circuit 55.
Due to this transfer lock, signals corresponding to the charges transferred to the analog shift register section 56C are sequentially derived to the output terminal VOUT of the line sensor 56. The clock pulse generation circuit 5 equipped with an oscillator 53 is connected to the clock input terminal of the transfer lock generation circuit 55.
4, a clock pulse CL K (see FIG. 14) of a constant period is derived.

上記ラインセ:、y9−−56の出力端子はバッファア
ンプ57を介してアナログコンパレータ58の反転入力
端子に接続されている。また、バッファアンプ57の出
力I端子はアナログスイッチ59を介してパルス処理回
路600入力端子SUNに接続されている。アナログス
イッチ590制御端子には」二記転送りロック発生回路
55かものパルスφ33が導かれている。
The output terminals of the line sensors:, y9--56 are connected to the inverting input terminal of an analog comparator 58 via a buffer amplifier 57. Further, the output I terminal of the buffer amplifier 57 is connected to the pulse processing circuit 600 input terminal SUN via an analog switch 59. A pulse φ33 from the transfer lock generating circuit 55 is introduced to the control terminal of the analog switch 590.

上記パルス処理回路60の構成は、第13図に示すよう
になっている1、すなわち、このパルス処理回路600
入力端子1.Nは同回路内1(おいて、アナログスイッ
チ61を介してオペアンプ62の非反転入力端子に接続
され、アナログスイッチ61の制御端子には上記リセッ
トパルスφ□が導かれるようになっている。オペフッ1
620反転入力端子はダイオード63のアノードに接続
され、ダイオード660カソードはオペアンプ62の出
力・端子に接続され、さらに、ダイオード63のアノー
ドはコンデンサ64を介して接地されている。このオペ
アンプ62.ダイオード63およびコンデンサ64から
なる回路は、上記アナログスイッチ61を通じて人力さ
れるラインセンサー56のアナログ出力の負のピーク値
を検出するためのピーク値検出回路を形成している。
The configuration of the pulse processing circuit 60 is as shown in FIG.
Input terminal 1. N is connected to the non-inverting input terminal of an operational amplifier 62 via an analog switch 61 in the same circuit, and the reset pulse φ□ is guided to the control terminal of the analog switch 61. 1
The inverting input terminal 620 is connected to the anode of the diode 63, the cathode of the diode 660 is connected to the output/terminal of the operational amplifier 62, and the anode of the diode 63 is grounded via the capacitor 64. This operational amplifier 62. A circuit consisting of a diode 63 and a capacitor 64 forms a peak value detection circuit for detecting the negative peak value of the analog output of the line sensor 56 that is input manually through the analog switch 61.

コンデンサ64ど並列にアナログスイッチ65が接続さ
れている。このアナログスイッチ65はその制御端子に
導かれるトリガパルスφ、によってオンし、コンデンサ
64の電荷を放電してピーク値なりセントするものであ
る。上記ダイオード63のアノードはバッフ−rアンプ
66の入力端子に接続され、バッファアンプ66の出力
端子はアナログスイッチ67を介シテバッファアンプ6
90入力端子に接続されている。バッファアンプ690
入力端子はコンデンサ68を介して接地されている。ア
ナログスイッチ67およびコンデンサ68はサンプルホ
ールド回路を形成しており、アナログスイッチ67の制
御端子にパルスφ が導かれることによりアナログ出力
ッチ67がオンになると、上記ピーク値検出回路のコン
デンサ64に蓄積された電荷がパン7アアンプ66゜ア
ナログスイッチ67を通じてコンデンサ68に移行I−
て蓄積される」二うになっている。バッファアンプ69
の出力端子はこのパルス処理回路60の出力端子S O
U i’となっ“Cいる。
An analog switch 65 is connected in parallel with the capacitor 64. This analog switch 65 is turned on by a trigger pulse φ guided to its control terminal, and discharges the charge in the capacitor 64 to reach the peak value or cent. The anode of the diode 63 is connected to the input terminal of a buffer amplifier 66, and the output terminal of the buffer amplifier 66 is connected to the buffer amplifier 6 through an analog switch 67.
90 input terminal. buffer amplifier 690
The input terminal is grounded via a capacitor 68. The analog switch 67 and the capacitor 68 form a sample and hold circuit, and when the analog output switch 67 is turned on by introducing a pulse φ to the control terminal of the analog switch 67, the signal is accumulated in the capacitor 64 of the peak value detection circuit. The electric charge transferred to the capacitor 68 through the pan amplifier 66° analog switch 67 is transferred to the capacitor 68.
It is arranged as follows: buffer amplifier 69
The output terminal of this pulse processing circuit 60 is the output terminal SO
U i' becomes "C is here.

」1記パルス処理回路60の出力端子5OUTは直列に
接続された分圧用抵抗71.72を介して接地され、抵
抗71と72の接続点は」二記アナログコンパレータ5
8の非反転入力端子に接続されている。アナログコンパ
レータ58は非反転入力端子に導かれるパルス処理回路
60の出力と反転入力端子にバッファアンプ57を介し
て導かれるラインセンサー56の出力とを比較する。ラ
インセンサー56およびパルス処理回路60の出力は負
のレベルであり、このため、アナログコンパレーク58
は反転入力端子のレベルが低ければ出力端子のレベルは
゛用″レベルになる。アナログコンパレータ58の出力
はナントゲート73の一方の入力端子に導かれ、ナント
ゲート7ろの他方の入力端子には転送りロック発生回路
55からのパルスφ3aが導かれるようになっている。
The output terminal 5OUT of the pulse processing circuit 60 is grounded via series-connected voltage dividing resistors 71 and 72, and the connection point between the resistors 71 and 72 is the analog comparator 5 of the pulse processing circuit 60.
It is connected to the non-inverting input terminal of 8. The analog comparator 58 compares the output of the pulse processing circuit 60 led to the non-inverting input terminal and the output of the line sensor 56 led to the inverting input terminal via the buffer amplifier 57. The outputs of line sensor 56 and pulse processing circuit 60 are at negative levels, and therefore analog comparator 58
If the level of the inverting input terminal is low, the level of the output terminal becomes the "use" level.The output of the analog comparator 58 is guided to one input terminal of the Nandt gate 73, and transferred to the other input terminal of the Nandt gate 73. The pulse φ3a from the lock generating circuit 55 is guided thereto.

ナントゲート7乙の出力端子はカウンタ回路74の74
はそのリセット端子R,ES E ’]’  に上記ト
リガーパルスφ、が導かれるとき前回のカウント内容が
リセットされ、続いてナントゲート73を通じてシリア
ルパルスとして人力されるアナログコンパレータ58の
出力をカウントして並列パルスとしてラッチ回路75の
入力端子L I Nに導くものである。ランチ回路75
の出力端子L OU ’l’はこの絞り値検出回路33
の出力端子となっていて、絞り制御回路64の入力端子
に接続されている。絞り制御回路34の出力端子は絞り
値検出回路36の入力端子R,E A I)となって゛
いるアンドゲート76の一方の負論理入力端子に接続さ
れており、同アンドゲート76の他方の入力端子には転
送りロック発生回路55がらのパルスφ8が導かれるよ
うになっている。そして、このアンドゲート76の出力
によってラッチ回路75がラッチ動作するようになって
いる。
The output terminal of Nant Gate 7B is 74 of the counter circuit 74.
When the above-mentioned trigger pulse φ is led to the reset terminal R, ES E ']', the previous count contents are reset, and then the output of the analog comparator 58, which is manually inputted as a serial pulse through the Nant gate 73, is counted. This pulse is led to the input terminal LIN of the latch circuit 75 as a parallel pulse. Lunch circuit 75
The output terminal LOU 'l' of this aperture value detection circuit 33
The output terminal of the aperture control circuit 64 is connected to the input terminal of the aperture control circuit 64. The output terminal of the aperture control circuit 34 is connected to one negative logic input terminal of an AND gate 76, which serves as the input terminal R, E A I) of the aperture value detection circuit 36, and the other input terminal of the AND gate 76 is connected to the output terminal of the aperture value detection circuit 36. A pulse φ8 from the transfer lock generation circuit 55 is guided to the terminal. The latch circuit 75 performs a latching operation based on the output of the AND gate 76.

次に、上記絞り値検出回路63の動作を第14.1.5
図に示す各部信号のタイムチャートを用いて説明する。
Next, the operation of the aperture value detection circuit 63 will be described in 14.1.5.
This will be explained using the time chart of each part signal shown in the figure.

ラインセンサー56の受光素子部56aに撮影レンズの
射出瞳像が結像されると、この瞳像の先頃に応じた電荷
が受光素子部56aVC蓄積される。
When the exit pupil image of the photographic lens is formed on the light receiving element portion 56a of the line sensor 56, charges corresponding to the recent state of this pupil image are accumulated in the light receiving element portion 56aVC.

蓄積された電荷は、転送りロック発生部55からのトリ
ガーパルスφ7が転送ゲート56bに導かれるときこの
転送ゲー) 56bが開かれてアナログシフトレジスタ
R[i 56c K転送される。アナログシフトレジス
タ部56c、に電荷を転送された受)を素子部56aは
トリガーパルスφ工の直後に゛用″レベルになるリセッ
トパルス幅が導かれることにより内部かりセットされて
次の電荷蓄積に備える。アナログシフトレジスタ部56
cへ送られた蓄積電荷は、転送りロックφ1.φ2.φ
3に応じて移動し、転送りロックφ3の’TI”レベル
と同期してjlT次出カ端子VOUTから負の電圧出力
と1−で受光素子部56aの受光素子1,2.・・・、
I]と時系列的に導き出される。
The accumulated charge is transferred to the analog shift register R[i 56c K when the trigger pulse φ7 from the transfer lock generating section 55 is guided to the transfer gate 56b, which is opened. The device section 56a receives the charge transferred to the analog shift register section 56c, and is internally set by a reset pulse width that reaches the "use" level immediately after the trigger pulse φ, and is set for the next charge accumulation. Analog shift register section 56
The accumulated charge sent to transfer lock φ1. φ2. φ
3, and in synchronization with the 'TI' level of the transfer lock φ3, a negative voltage is output from the jlT next output terminal VOUT and the light receiving elements 1, 2 of the light receiving element section 56a are set to 1-.
I] is derived chronologically.

ラインセンサー56の出力端子V OU Tがら時系列
的に導出された負の電圧出力1はバッファアンプ57を
通じ一〇アナログコンパレータ58の反転入力端子に樽
かれると同時に、アナログスイッチ59を通シテハルス
φ カ”TI”レベルのときパルス処理a 回路60の入力端子SINに導かれる。パルス処理回路
60では、トリガーパルスφ の直後に’I−1”し、
ベルになっているリセットパルスφ、によってアナログ
スイッチ61がオン眞なっていて、オペアンプ62の非
反転入力端子には上記バッファアンプ57゜アナログス
イッチ59.61を通じて上記ラインセンサー56の出
力端子V OU ’l’の出力波形のうちパルスφ3a
の!l Huレベルの期間だけがサンプリングされて順
次導かれる。そして、オペ“アンプ62の非反転入力端
子の電位はダイオード66のアノードに導かれるので、
コンデンサ64には上記サンプリング波形信号がチャー
ジされていき、コンデンサ64の端子電圧vPは負のピ
ーク値に保持される。このピーク値電圧VPけラインセ
ンサー56のアナログシフトレジスタ部56 L)にお
けるn個の受光素子の蓄積電荷が転送りロックφ1〜φ
3によって転送されて順次、出力端子V OU E’か
ら送出されている間はアナログスイッチ67がオフにな
っているために次段には送られず、パルス処理回路60
の出力端子S OUTには、前回の転送周期にそのピー
ク値を保持されたコンデンサ68の電圧が出力されてい
る。アナログシフトレジスタ部561)におけるn個の
受光素子の蓄積電荷が全て転送されて出力端子V OU
 Tから送出されるとりセントパルスφ。がL”ルベル
となりアナログスイッチ61がオフになり、パルス処理
回路60のピーク値検出回路の人力ゲートが閉じられる
。そして、このとき、ラインセンサー56の受光素子部
56a K、射出瞳像に応じて再び光電変換が行なわれ
電荷の蓄積が行なわれる。
The negative voltage output 1 derived in time series from the output terminal V OUT of the line sensor 56 is passed through the buffer amplifier 57 to the inverting input terminal of the analog comparator 58, and at the same time is passed through the analog switch 59 to the When it is at the "TI" level, it is guided to the input terminal SIN of the pulse processing a circuit 60. The pulse processing circuit 60 performs 'I-1' immediately after the trigger pulse φ,
The analog switch 61 is turned on by the reset pulse φ which is a bell, and the output terminal V OU ' of the line sensor 56 is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 62 through the analog switch 59 and 61 of the buffer amplifier 57. Of the output waveform of l', pulse φ3a
of! Only the period of l Hu level is sampled and derived sequentially. Then, since the potential of the non-inverting input terminal of the operational amplifier 62 is guided to the anode of the diode 66,
The capacitor 64 is charged with the sampling waveform signal, and the terminal voltage vP of the capacitor 64 is maintained at a negative peak value. The accumulated charges of the n light receiving elements in the analog shift register section 56L) of the line sensor 56 with this peak value voltage VP are transferred and locked φ1 to φ.
3 and are sequentially sent out from the output terminal V OU E', the analog switch 67 is off, so the pulse is not sent to the next stage, and the pulse processing circuit 60
The voltage of the capacitor 68, whose peak value was held in the previous transfer cycle, is output to the output terminal S OUT of the capacitor 68 . All accumulated charges of the n light receiving elements in the analog shift register section 561) are transferred to the output terminal V OU.
The center pulse φ sent out from T. becomes L" level, the analog switch 61 is turned off, and the manual gate of the peak value detection circuit of the pulse processing circuit 60 is closed. At this time, the light receiving element section 56a K of the line sensor 56 Photoelectric conversion is performed again and charge is accumulated.

リセットパルスφ。がL”ルベルになった直後に’II
”レベルのパルスφ が送出されるので、それまでパル
ス処理回路60のピーク値検出回路のコンデンサ64に
保持されていたピーク値電圧VPはアナログスイッチロ
7を通じてコンデンサ68に保持され、バッファアンプ
69を通じて出力端子5OUTに出力される。こうして
、パルス処理回路60は、リセットパルスφ8が’II
”レベルになっている転送周期(N回目の転送周期)の
間、入力端子SINにラインセンサー56の出力端子V
OUTの電圧波形が導かれているとき、出力端子S’O
UTには前回の転送周期(N−1回目の転送周期)にお
けるラインセンサー56の出力端子V OU 1’の電
圧波形のうちのピーク値が出力され続けている。
Reset pulse φ. Immediately after becoming L” Lebel, 'II
” level pulse φ is sent out, the peak value voltage VP, which had been held in the capacitor 64 of the peak value detection circuit of the pulse processing circuit 60, is held in the capacitor 68 through the analog switch 7, and is transferred through the buffer amplifier 69. The pulse processing circuit 60 outputs the reset pulse φ8 to the output terminal 5OUT.
”During the transfer cycle (Nth transfer cycle) in which the output terminal V of the line sensor 56 is connected to the input terminal SIN.
When the voltage waveform of OUT is guided, the output terminal S'O
The peak value of the voltage waveform of the output terminal V OU 1' of the line sensor 56 in the previous transfer cycle (N-1th transfer cycle) continues to be output to the UT.

上記パルス処理回路60の出力端子5OUTの電圧は、
抵抗71と72により所定の分割比で分圧されるので、
N−1回目の転送周期におけるラインセンサー56の出
力波形のうちのピーク値VPを分圧した電圧値VP/が
アナログコンノくレータ58の非反転入力端子に比較判
定のための基準電圧として導かれる。そして、アナログ
コンノくレータ58の反転入力端子にはバッファアンプ
57を通じてラインセンサー56のN回目の転送周期の
出力電圧が順次導かれるので、このアナログコンノくレ
ータ58で両型圧が比較される。ラインセンサー58の
受光素子部56aに結像される射出瞳像に急激な変化が
なければ、N回目の転送周期におけるラインセンサー5
6の出力波形は上記N−1回目の転送周期におけるライ
ンセンサー56の出力波形にほに等しくなるので、ライ
ンセンサー56からアナログコンノくレータ5日に直接
時系列的に導かれるN回目の電圧波形には、上記分圧値
VP/よりも低くなる部分があり、同部分でアナログコ
ンパレータ58 id ”I(”レベルとなる。すなわ
ち、ラインセンサー56の受光素子部5.6aは射出瞳
像を受光することKよって結像光の鮮明な領域(第7,
8図に示す領域Aに相当における蓄積電荷は大きく一定
値に達し、不鮮明でボケを有する領域(第7,8図に示
す領域Bに相当)における蓄積電荷は鮮明な領域の電荷
に較べて小さく射出瞳像を受光しない領域にかけて傾斜
した値となることは前述した通りであるが、このような
ボケ量を含んだラインセンサー56の出力がアナログコ
ンパレータ58に導かれると、このアナログコンパレー
タ58で、上記ピーク値vI)全分圧した電圧値Vl)
/で基準レベル゛が決定され、このため、アナログコン
パレータ58からは、上記ボケ領域ε第7,8図に示す
領域B)において一定値を超える部分のラインセンサー
56の出力パルスに同期して”ト1“パルスが発生する
。このアナログコンパレータ58の出力がナントゲート
76に導かれると、このアナログコンパレータ58がら
の”H”パルスと転送りロック発生回路55からのノく
ルスφ3aのナンド出力がカウンタ回路74の入力端子
C’I Nに導かれ、上記アナログコンノくレータ58
から発せられる用°゛パルス数がカウントされる。カウ
ンタ回路740カウント内容は順次ラッチ回路75に導
かれる。そして、ラインセンサー56の受光素子部56
aのn個の受光素子についての蓄積電荷の転送が全て終
了″fると、転送りロック発生回路55からパルスφ8
が送出されるので、絞り制御回路64の出力端子がこの
とき°L“ルベルであれば、アンドゲート76を通じて
パルスφ、がラッチ回路75に導かれ°、上記カウンタ
回路740カウント内容がラッチ回路75にラッチされ
、その出力端子LOUTから出力−される状態となる。
The voltage at the output terminal 5OUT of the pulse processing circuit 60 is
Since the voltage is divided by the resistors 71 and 72 at a predetermined division ratio,
A voltage value VP/ which is obtained by dividing the peak value VP of the output waveform of the line sensor 56 in the N-1st transfer cycle is led to the non-inverting input terminal of the analog converter 58 as a reference voltage for comparison and determination. . Since the output voltage of the line sensor 56 in the N-th transfer cycle is sequentially led to the inverting input terminal of the analog converter 58 through the buffer amplifier 57, the analog converter 58 compares the two types of pressures. If there is no sudden change in the exit pupil image formed on the light receiving element portion 56a of the line sensor 58, the line sensor 58 in the Nth transfer cycle
Since the output waveform of No. 6 is exactly equal to the output waveform of the line sensor 56 in the N-1 transfer cycle, the N-th voltage waveform is directly chronologically derived from the line sensor 56 to the analog converter on the fifth day. There is a portion where the partial pressure is lower than the partial pressure value VP/, and in this portion, the analog comparator 58 id becomes the “I(” level. That is, the light receiving element section 5.6a of the line sensor 56 receives the exit pupil image. To do this, the clear area of the imaging light (7th,
The accumulated charge in the area A shown in Figure 8 reaches a large constant value, and the accumulated charge in the area that is unclear and blurred (corresponding to area B shown in Figures 7 and 8) is smaller than the charge in the sharp area. As mentioned above, the exit pupil image has a sloped value as it approaches the non-light receiving area, but when the output of the line sensor 56 including such a blur amount is led to the analog comparator 58, the analog comparator 58 The above peak value vI) Totally divided voltage value Vl)
Therefore, the analog comparator 58 outputs the signal ``in synchronization with the output pulse of the line sensor 56 exceeding a certain value in the area B) shown in FIGS. 7 and 8 from the analog comparator 58. 1" pulse is generated. When the output of this analog comparator 58 is led to the NAND gate 76, the "H" pulse from this analog comparator 58 and the NAND output of the Norx φ3a from the transfer lock generation circuit 55 are input to the input terminal C' of the counter circuit 74. Guided by IN, the analog controller 58
The number of pulses emitted from the machine is counted. The count contents of the counter circuit 740 are sequentially led to the latch circuit 75. Then, the light receiving element section 56 of the line sensor 56
When the transfer of all the accumulated charges for the n light receiving elements of a is completed, the transfer lock generation circuit 55 generates a pulse φ8.
is sent out, so if the output terminal of the diaphragm control circuit 64 is at L level at this time, the pulse φ is guided to the latch circuit 75 through the AND gate 76, and the count contents of the counter circuit 740 become the latch circuit 75. The signal is latched into a state where it is output from its output terminal LOUT.

絞り制御回路64が、前述したように、電源スイツチ6
20オン、或いはレンズ装着スイッチ3乙のオンにより
クリア端子CLR(第1(11図参照)に”H′′ノく
ルスが導かれるときは、その出力端子から、絞り値検出
回路36の入力端子I(EADが6H”レベルとなるこ
とによってアンドゲート76は上記ノデルスφ、のいか
んにかかわらずラッチ回路75に送出するレベルはL“
となるので、この場合はラッチ回路75の出力を固定し
、転送周期の都度ラッチ回路75の出力が変更するよう
なことはない。こうしてラッチ回路75から絞り制御回
路34に射出瞳像の大きさに応じたカウント出力、すな
わち、撮影レンズのFナンバー情報が導かれる。絞り制
御回路34はこの撮影レンズのFナンバー情報が導かれ
ると、これに基いて周知の絞り制御動作を行なう。
As mentioned above, the aperture control circuit 64
20 is turned on, or when the lens mounting switch 3B is turned on, when the "H" cross is led to the clear terminal CLR (No. 1 (see Figure 11)), the output terminal is connected to the input terminal of the aperture value detection circuit 36. I(EAD becomes 6H" level, the AND gate 76 outputs the above node φ, the level sent to the latch circuit 75 becomes L"
Therefore, in this case, the output of the latch circuit 75 is fixed, and the output of the latch circuit 75 does not change every time the transfer cycle occurs. In this way, a count output corresponding to the size of the exit pupil image, that is, F-number information of the photographic lens is guided from the latch circuit 75 to the aperture control circuit 34. When the aperture control circuit 34 receives the F-number information of the photographic lens, it performs a well-known aperture control operation based on this information.

上記第10〜12図に示す実施例では、撮影レンズ2の
開放Fナンバーが上記絞り値検出回路33で読み取られ
、これに基いて絞り制御回路34が作動するものとして
説明したが、この絞り制御回路64によって絞り込まれ
た絞り口径をさらにこの絞り値検出回路6′5で検出し
、所定の絞り値を検出することも勿論可能である。
In the embodiment shown in FIGS. 10 to 12, the aperture control circuit 34 is operated based on the aperture detection circuit 33 reading the aperture value detection circuit 33 of the aperture value of the photographing lens 2. Of course, it is also possible to further detect the aperture diameter narrowed down by the circuit 64 using the aperture value detection circuit 6'5 to detect a predetermined aperture value.

また、上記絞り値検出回路65で検出した出力は、上記
絞り制御回路34などのほかに、撮影レンズの開口径に
応じて複数の受X素子列を切換えて使用する測距装置な
どにも入力させるように構成することもでき、本発明が
適用される範囲は上記実施例に限らず広い。
Furthermore, the output detected by the aperture value detection circuit 65 is inputted to the aperture control circuit 34, etc., as well as to a distance measuring device, etc., which uses a plurality of receiving X element arrays by switching them according to the aperture diameter of the photographic lens. The present invention can be applied to a wide range of applications, not limited to the above-mentioned embodiments.

以上述べたように、本発明によれば、射出瞳像をフィル
ム面と共役な位置のラインセンサーに結像させ、ライン
センサーの受光領域から絞り値を検出しているので、非
接触式で撮影レンズの絞り値をカメラ側に検出すること
ができ、また、ラインセンサーを用いていることにより
、射出瞳や結像光学系と受光部とが偏心した場合でも、
その影響を受けることなくラインセンサーより射出瞳像
に応じた出力が得られて、正確に絞り値を検出すること
°ができ、さらに射出瞳像がぼけた場合でもその対策処
理が容易である等の優れた効果を発揮する。
As described above, according to the present invention, the exit pupil image is formed on the line sensor at a position conjugate to the film surface, and the aperture value is detected from the light receiving area of the line sensor. The aperture value of the lens can be detected on the camera side, and by using a line sensor, even if the exit pupil, imaging optical system, and light receiving section are eccentric,
It is possible to obtain an output according to the exit pupil image from the line sensor without being affected by this, making it possible to accurately detect the aperture value, and even if the exit pupil image becomes blurred, countermeasures can be easily taken. Demonstrates excellent effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の一実施例を示す絞り値検出装置を有
する一眼レフレックスカメラの要部断面図、 第2図(A) 、 (n)は、上記第1図に示された絞
り値検出装置の受光部の構成を示す拡大平面図iその断
面図、 第3図は、上記第1図における結像光学系を説明するた
めの光学原理図、 第4図は、上記第2図に示されたラインセンサーに、撮
影レンズのFナンバーに応じた射出瞳の結像領域な示す
受光部の平面図、 第5図は、上記第4図において各Fナンバーに応じてラ
インセンサーより導出される出力波形図、第6図は、撮
影レンズ或いは結像光学系とラインセンサーとが偏心し
たときの状態を説明する受光部の平面図、 第7図は、射出瞳像がラインセンサーにぼけた状態で結
像された状態を説明する受光部の平面図、第8図は、上
記第7図に示すラインセンサーより導出される出力波形
図、 第9図は、ラインセンサーの各受光素子のピッチを、射
出瞳像の領域の変化に応じて異ならせた例を示す受光部
の平面図、 第10図は、本発明の絞り値検出装置を用いて絞り制御
を行なうカメラの、電気回路の一例を示す概略回路図、 第11図は、上記第10図中のレンズ装着スイッチの一
例を示す、カメラの一部断面図、第12図は、上記第1
0図中の絞り値検出回路の回路構成を示す電気回路図、 第13図は、上記第12図中のノくルス処理回路の回路
構成を示す電気回路図、 第14 、’ 15図は、上記第12.13図に1示さ
れた電気回路の各部信号波形を示すタイムチャートであ
る。 2・、・・・・撮影レンズ 3・・・・・絞り部材 5・°・・・・フィルム 12・・・・絞り値検出装置の受光部 15・・・・小レンズ(結像手段) 16.26.56・・・・・・ラインセンサー16a 
+ 26a 、 56a・・・受光素子33・・・・絞
り値検出回路(絞り値を検出する手段)特許出願人  
  オリンパス光学工業株式会社 、。 代 理 人   藤     七  部j’、、j+1
・川 62区(A) 応2区(B)
FIG. 1 is a sectional view of a main part of a single-lens reflex camera having an aperture value detection device showing an embodiment of the present invention, and FIGS. FIG. 3 is an optical principle diagram for explaining the imaging optical system in FIG. 1, and FIG. 4 is the diagram in FIG. Figure 5 is a plan view of the light receiving section showing the image forming area of the exit pupil according to the F number of the photographing lens on the line sensor shown in Figure 4 above. Figure 6 is a plan view of the light receiving section to explain the state when the photographing lens or imaging optical system and line sensor are decentered, and Figure 7 is a diagram showing the exit pupil image blurred by the line sensor. FIG. 8 is a plan view of the light receiving unit to explain the state in which an image is formed in the above-mentioned state. FIG. 8 is a diagram of the output waveform derived from the line sensor shown in FIG. 7 above, and FIG. FIG. 10 is a plan view of a light receiving section showing an example in which the pitch is varied according to changes in the area of the exit pupil image. FIG. A schematic circuit diagram showing an example; FIG. 11 is a partial sectional view of a camera showing an example of the lens attachment switch shown in FIG. 10; FIG.
FIG. 13 is an electric circuit diagram showing the circuit configuration of the aperture value detection circuit in FIG. 12 is a time chart showing signal waveforms at various parts of the electric circuit shown in FIGS. 12 and 13. FIG. 2...Photographing lens 3...Aperture member 5...Film 12...Light receiving section of aperture value detection device 15...Small lens (imaging means) 16 .26.56... Line sensor 16a
+ 26a, 56a... Light receiving element 33... Aperture value detection circuit (means for detecting aperture value) Patent applicant
Olympus Optical Industry Co., Ltd. Agent Fuji Shichibej',,j+1
・Kawa 62nd Ward (A) O2 Ward (B)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 撮影レンズの射出瞳をフィルム面とはg共役な位置に結
像させる手段と、 この結像手段における結像面の中火に、同結像面の径方
向に治って複数個の受光素子を直線的に配列して形成し
たラインセンサーと、 このラインセンサーの、上記射出瞳の結像光を受光して
いる受光素子の数をカウントし、同カウント出力((基
いて撮影レンズの絞り値を検出する手段と、 を具備してなる絞り値検出装置。
[Claims] A means for forming an image at a position where the exit pupil of a photographic lens is g-conjugate with respect to the film surface, and a means for forming an image at a position where the exit pupil of the photographic lens is g-conjugate with respect to the film surface, A line sensor is formed by linearly arranging a plurality of light-receiving elements, and the number of light-receiving elements of this line sensor that receives the imaged light of the exit pupil is counted, and the count output ((based on An aperture value detection device comprising: means for detecting an aperture value of a photographic lens;
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