JPS59171824A - 力変換器 - Google Patents

力変換器

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JPS59171824A
JPS59171824A JP58047451A JP4745183A JPS59171824A JP S59171824 A JPS59171824 A JP S59171824A JP 58047451 A JP58047451 A JP 58047451A JP 4745183 A JP4745183 A JP 4745183A JP S59171824 A JPS59171824 A JP S59171824A
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JP
Japan
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diaphragm
layer
movable pin
force
package
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Application number
JP58047451A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Hirata
平田 雅規
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/14Housings
    • G01L19/147Details about the mounting of the sensor to support or covering means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/0007Fluidic connecting means
    • G01L19/0038Fluidic connecting means being part of the housing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/0061Electrical connection means
    • G01L19/0084Electrical connection means to the outside of the housing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は力変換器に関し、≠≠更に詳しくはシリコンダ
イアフラム型圧力センサを用いた力検出装置に関するも
のである。
計測分野においては、古くから所謂ロードセルと称せら
れている荷重測足器が多用されている。かかるロアード
セルは、通常、外界から与えられる荷重を機械系の歪に
変換する機構部と、該機構部に設けられた歪・電気信号
変換素子と、該変換素子から得られる電気信号を処理す
る回路部とから構成されている。これに用いられる機構
部は全域製のカンチレバーや円形ダイアプラムにより構
成されておジ、変換素子は歪ゲージと称される余端蒸着
膜の形状変化に伴なう抵抗値変化を利用する素子により
構成されている。
最近になって前記変換素子は歪φ抵抗値変化係数(所謂
ゲージ率)が大きい半導体のピエゾ抵抗効果を用いた半
導体歪ゲージが用いられるようになっている。
このロードセルにおいては、測定荷重範囲を変更するに
この機構部の剛性を変更すれば良くカンチレバーの断面
積ダイアフラム膜厚等の手段により容易に成されるが該
ロードセルは広範に用いる場合に技術的に多くの問題を
生じる。
−例として挙げるならば、前記変換素子を前記機構部に
取りつける接着剤がある。即ち、強固な接着剤を用いる
ことは不可避ではあるが、接着剤に一定の力が作用する
と、クリープと呼ばれる現象が発生し、出力信号がドリ
フトした9ヒステリシス特性が出現したジする。また、
他の一例としては前記ロードセルが機械加工により製造
されていることが摩げられる。即ち、この機械加工にお
いては素子の微小化が困難であり、高感度化が難し く
、価格の低減化も困難である。
一方、空気圧や流体圧力を測定するための圧力変換器は
プロセス機器にとして多用されている。かかる変換器は
一般に圧力を機械系の歪に変換する機構部と、該機構部
に設けられた歪・電気信号変換素子と、該変換素子から
得られる電気信号を処理する回路部とから構成されてい
る。この機械部は前記ロードセルの場合と同様に、金属
製ダイアフラムにより構成され、かつ変換素子は歪ゲー
ジにより構成されている。したがってこの圧力変換器に
おいても前述した如き欠点を有する。
更に、近年の半導体集積回路技術を背景にしてシリコン
ダイアフラム型圧力変換器が実用化されつつある。この
シリコンダイアフラム型圧力変換器は第1図に示すよう
に中央部に厚さ数10μmの薄肉のダイアフラム2が超
音波加工放電加工、異方性エツチング等の周知の手法に
より形成されている。シリコンダイ1と、該ダイの一主
面に周知の拡散工程により埋設されている複数の拡散層
3とを含む。この拡散層の導電型に、ダイと導電型を異
にするように選択され拡散層3とダイ1との間にPN接
合を形成するように成されている。当該拡散層3には、
該主面を被う酸化膜等の絶縁膜4の一部が除去された領
域を介して金属配線5が電気的に接続されている。ダイ
yは接着層6により、パッケージ7に固着されている。
パッケージ7の材質は通常の集積回路パッケージと同一
であっても良く、またダイと類似の熱膨張係数を有する
材質であっても良い。また、接着層6は、低融点ガラス
等の無機質、有機接着剤であっても良く、サラニ、ガラ
ス層ヲ介したアノ−ディックボンデインクを利用した構
造であっても良い。周知のことではあるが、接NNとパ
ッケージとは、熱歪や残留応力を考慮して選択されるべ
きである。ざらに、パッケージ7の一部には貫通穴が設
けられ、第1の圧力導入パイプ8がパッケージ7に固着
されている。キャップ9はパッケージ7の周辺部で気密
封止されその一部が第2の圧力導入パイプ10を形成し
ている。また、パッケージ7の一部には、気密封止され
た複数の導電性端子11が設けられており、前述した余
端配線5と金属細線12で接続されている。第1図の構
成において、第1および第2の圧力導入パイプを介して
流体圧力が印加される。例えば、単一の流体圧力を計測
したい時には、@2の導入パイプへ当該圧力を導びき、
第1の導入パイプは大気圧に開放されている。当該流体
圧力が大気圧と比較して、高い時にはダイアフラム2は
図中上方へ、一方、低い時には図中下方へ撓むことにな
る。かかる撓みはダイアプラムの機械的歪となり、歪に
対応した応力が該ダイアプラム部に発生する。ピエゾ抵
抗効果は、シリコン等の半導体材料に応力を誘起させた
時、応力に比例した抵抗値変化が発生する現象であり、
当該分野の技術者には周知である。前記拡散抵抗3はダ
イアフラム部応力によジその拡散7抵抗3の値が変化す
るので、当該\抗をクォーターブリッジ、ハーフブリッ
ジ、フルブリッジのいずれかに接続すれば電圧出力信号
として得られる。前記撓みが少量であるならば、圧力と
歪、歪と応力、応力と抵抗変化、抵抗変化と電圧出力と
の関係は全て直線関係となるので、圧力に比例した出力
信号が殉られることになる。
かかる動作原理により流体圧の検出が達成される。しか
るに、前述した如く、流体圧は単位面積当りの力、即ち
、 ky/cIAの単位であり、当該ダイアフラムの第
1の主面に分布荷重として印加される。
この上う力変換器では、シリコン材料を機械要素として
利用し、かつ、歪・電気信号変換素子金も一体形成され
ている特長とするが、かかる特長により、従来の前記圧
力変換器と比較して、接着剤に起因する特性劣化が無く
、かつ、集積回路の微細加工技術により小型化が容易な
ため、高感度化、低価格化も期待できることになる。
しかしながらこのシリコンダイアフラム型圧力変換器に
流体圧力(通常kg / cJの単位で表わされる)を
計測するには適しているが、力(通常ゆの単位で表わさ
れる)を計測するには適さなかった。しかるに、近年の
多品種少量生産工程で要望されている組立てロボットで
は、対象物を把握した時の触覚を検出する変換器が重要
になっている。かかる応用形態での触覚検出用変換器と
しては圧力検出ではなく、力検出が必要となる。本発明
の目的は、従来のロードセルによる種々の欠点を除去す
ると共に前記シリコンダイア72ム型圧力変換器を構成
要素とする力変換器を提供するものである。本発明の他
の目的は小型、低価格の力変換器を提供することにある
。更に本発明の他の目的は組立でロボットの分野におい
て有効な変換器を提供することにある。
本発明によればパッケージに接着され、中央部が周辺部
より薄肉である半導体ダイア72ムと、該半導体ダイア
フラムの一表面上に設ケラれた複数の拡散抵抗層と、当
該拡散抵抗層の抵抗変化を導く検出する手段と、一端が
前記半導体ダイアフラムに接触するよう配置され、前記
半導体ダイアフラムを撓ませる可動ピン機構とを備えた
力変換器が得られる。
更に本発明によれば、可動ビン機構は少なくとも1つの
突起部を有する可動ピンと、前記突起部に当接し、前記
可動ピンの動作範囲を制限するリミッタとを具備した力
変換器が得られる。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第2図は本発明の一実施例を示す。第2図において、本
実施例はパッケージ37に接N層36により接着され、
中央部が周辺部より薄肉である半導体ダイアフラム32
と、該半導体ダイアフラム32の一表面上に設けられ、
撓みによる抵抗変化を生ずる拡散抵抗層33と、前記パ
ッケージに取付けられた半導体ダイアフラム31を覆う
手段49と、一端が前記半導体ダイアフラム32に接触
するよう配置された可動ピン21を有する可動a@20
とを含む。
半導体ダイアフラム32は拡散層33が設けられており
、更にその上に絶縁膜34を介して金属配線35が設け
られている。この金属配線35は電気的に拡散層33に
接続されている。
更にこの金属配線35は金属細線42を介して導電性端
子41に接続されている。
パッケージ37は半導体ダイアフラム31の下面側に貫
通穴が設けられ、且つ圧力導入ノくイブ38が設けられ
ている。更に、パンケージ37を覆う手段49はその周
辺にて封止されたキャップで、このキャップの中央部に
貫通穴49′が設けられている。この貫通穴49 ’ 
 にはピン可動機構20が設けられている。このビン可
動機構20は可動ピン21を有しており、矢印A方向に
移動するようになっている。なお、可動ビン21は突起
22がキャップ490i11に設けられたリミッタ23
に当接し、ダイアフラム32の弾性限界以上に応力が加
わらないようになっている。上方(矢印A)から印加さ
れた力は、可動ビンの下方端を介して、ダイアフラム3
2に印加される。このダイアフラム32への力は、集中
荷重として作用し、該ダイアフラムを撓ませ、該撓みに
対応した応力をダイアフラム32中に発生せしめる。こ
の応力により、拡散層33にはピエゾ抵抗効果に従かっ
た抵抗値変化全誘起する。この拡散層33はダイアフラ
ム32の撓みが微小である場合には力と撓み、撓みと応
力、応力と抵抗f直変化量とは全て直線関係にあるので
、ピン21に印加された力に比例した抵抗値変化が端子
41から取出される。この抵抗値変化は周知のブリッジ
回路(図示せず)により電圧出力信号に変換される。
本実施例においては、可動ピン21が単に外部からの印
加力をダイアフラム32に伝達するものであるので、ダ
イアフラム32の剛性と比較して、よp剛性の高い拐質
であれば良い。しかるに、可動ビン21の下部はダイ3
1の一主面に直接排触しているので、テフロンベークラ
イト等の絶縁物で構成されるのが好ましいが、ステンレ
ス等の材質を用い、可動ビン21の下部先端に当該絶縁
物を付着させる方法を用いても良い。また、可動ビン2
1の径は、貫通穴49′内部で自由に上下できるよう選
択されるべきである。かかる自由な上下運動は、可゛動
ビン21と穴49′ との接触面に若干の空隙が存在す
ることを意味しているので、パッケージ37とキャップ
49とで囲まれる空間は流体力学的に外部の大気圧と導
通している。このためダイアフラム32の撓みはパッケ
ージ37とキャップ49とで囲まれる空間に存在する空
気圧により制限を受けることは無い。したがってキャッ
プ49とパッケージ37とはパッケージ37の周辺部に
て必ずしも気密封止されている必要はない。一方ではダ
イ31は大気圧に接触しているので、拡散層33が埋設
された一つの主面表面を保護膜で被うことによりitI
腐食性を向上させることも考えられる。かかる目的のた
めニハ、シリコーンゴム、エポキシ樹脂等を該主面上に
設ければ良い。この実施例では、ダイアフラム32の下
方は圧力導入パイプ38を介して大気圧に開放されてい
るが、前述した力変換器の動作を考慮すれば、必らずし
も大気圧に開放されている必要はない。即ち、導入パイ
プが閉ざされた構造、パッケージ37に貫通穴が無い構
造であっても良い。かかる構造においては、ダイアフラ
ム32の下方の空間には、真空、空気、窒素ガス、シリ
コーンゴム等が充填される。
さらに前述した動作、即ち、ダイアフラム32の撓みの
みが出力信号に対応することを考慮すれば、ダイアフラ
ム32の下方の空間は、ダイアフラム32の上方空間と
流体力学的に絶縁さレテイる必要は無く、接続されてい
ても良い。
即ち、接着層36は単にダイ31をパッケージ37へ強
固に固着されることのみが必要になり接M層36の一部
に流体が流れる通路が設けられていても伺ら支障は無い
。むしろ、ダイアフラム32の下方空間が大気圧に開放
されていない構造では、当該空間に充填された流体の熱
膨張により、ダイアフラム32が不要に撓むので特性劣
化を引き起こすことがあるので、接着層36の一部に前
記通路を積極的に設ける方が有利である。
第2の実施例における力1電圧の変換係数は主としてダ
イアフラム32の剛性に依存している。即ち、ダイアフ
ラム32は面積が大きい程かつ膜厚が薄い程、当該係数
は太きくなり、微小な力の検出を可能とする。素子設計
の立場から述べるならば、所要の被測定力によりダイア
フラム32は面積および膜厚のいずれか、あるいは、両
方を任意に選択すれば良いことになる。
勿論、被測定力が大きい場合には、例えば、タイアフラ
ム2の膜厚が象積回路分野で通常用いられているウェハ
ー厚よりも大きいことが要求される。かかる場合には、
可動ビン21の上下動にバネ作用を持たせ、外部からの
印加力の一部が当該バネに吸収され、残る当該印加力の
みがダイアフラム32に印加されるようにすれば良い。
第3図は可動ビンの作動範囲を制限する可動ピン機構を
示す。第3図(a)において、可動ピン機構20′は2
つの突起部22’a 、 22’bを有している可動ビ
ン21′  と、突起部22’a。
22′bの2つの突起部の間に設けられたリミッタ23
′とにより構成され、可動ビン21’に加えられる過大
な力に対して上部突起22aがリミッタ23′  に当
たり、可動ビン21′の変位を制限するようにしたもの
である。また変換器全体が天地逆になった場合は下部突
起22′bがリミッタ23′により支持され可動ピン2
1′が脱落しないように構成されている。第3図(b)
において、可動ピン機構20“は1つの突起部22″を
設けた可動ピン21“と、可動ピンに加えられる印加外
力の一部を吸収するバネ24とを有し更にバネを介して
設けられたリミッタを有する。
この可動ビン機構20″は前記バネにより吸収し切れな
いような過大な外力に対しリミッタ23”により、その
移動を停止し、ダイアフラム部の破壊を防止するように
構成されている。リミッタ23“の端部は図示されない
がキャップ49またはパッケージ37に固定されている
本発明は以上詳細に説明したように、シリコンダイアプ
ラム型圧力変換器を構成要素とする力変換器、あるいは
、ロードセルが容易に実現でき従来のロードセルにおけ
る歪ゲージ接着に起因する特性劣化が回避でき、また集
積回路技術を用いることができるので、高感度、低価格
の力変換器が実現され、ロボット等における触覚検出用
変換器として最適である。なお、本発明の実施例におい
て、シリコン半導体を例に挙げて説明したが他の半導体
、例えはGaAs 等の1− V化合物半導体、ゲルマ
ニウム、アモーファスシリコン等を用いたダイアプラム
型形状を有するものであっても良い。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のクリコンダイアフラム型圧力変換器を示
す図、第2図は本発明の一実施例を示す図、第3図は本
発明の実施例における可動ビン機構を示す図である。 20、・20′、21“・・・・・・可動ピン機構、2
1゜21’、21”・・・・・・可動ピア、22.22
’a122b122″・・・・・・突起部、23.23
’、23“・・・・・・リミッタ、24・・・・・・バ
ネ、31・・・・・・シリコンダイ、32・・・・・・
ダイアフラム、33・・・・・・拡散層、34・・・・
・・絶縁膜、35・・・・・・金属配線、36・・・・
・・接着層、37・・・・・・パッケージ、38・・・
・・・圧力導入パイプ、41・・・・・・導電性端子、
42・・・・・・金層細線、49・・・・・・キャップ
、49′・・・・・・貫通穴。 庵1場

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)パッケージに接着され、中央部が周辺部より薄肉
    である半導体ダイアフラムと、該半導体ダイアフラムの
    一表面上に設けられた複数の拡散抵抗層と、該拡散抵抗
    層の抵抗変化を導く手段と、一端が前記半導体ダイアフ
    ラムに接触するよう配置され、前記半導体ダイアフラム
    を撓ませる可動ビン機構と全備えたことを特徴とする力
    変換器。
  2. (2)  可動ピン機構は少なくとも1つの突起部を有
    する可動ビンと、前記突起部に当接し、前記可動ピンの
    動作範囲を制限するリミッタとを具備したことを特徴と
    する特許請求の範囲第(1)項記載の力変換器。
JP58047451A 1983-03-22 1983-03-22 力変換器 Pending JPS59171824A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58047451A JPS59171824A (ja) 1983-03-22 1983-03-22 力変換器

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JP58047451A JPS59171824A (ja) 1983-03-22 1983-03-22 力変換器

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JP (1) JPS59171824A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0251592A2 (en) * 1986-06-23 1988-01-07 Stc Plc Pressure sensor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0251592A2 (en) * 1986-06-23 1988-01-07 Stc Plc Pressure sensor
EP0251592A3 (en) * 1986-06-23 1989-10-11 Stc Plc Pressure sensor

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