JPS5911858B2 - スパ−ク源 - Google Patents

スパ−ク源

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JPS5911858B2
JPS5911858B2 JP50021400A JP2140075A JPS5911858B2 JP S5911858 B2 JPS5911858 B2 JP S5911858B2 JP 50021400 A JP50021400 A JP 50021400A JP 2140075 A JP2140075 A JP 2140075A JP S5911858 B2 JPS5911858 B2 JP S5911858B2
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spark
capacitor
current
gap
diode
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JP50021400A
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ピ− ウオルタ−ス ジヨン
エイ バ−ニア− ジヨン
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FUITSUSHAA SAIENTEIFUITSUKU CO
UISUKONSHIN ARAMUNI RISAACHI FUAUNDEESHON
Original Assignee
FUITSUSHAA SAIENTEIFUITSUKU CO
UISUKONSHIN ARAMUNI RISAACHI FUAUNDEESHON
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Publication date
Application filed by FUITSUSHAA SAIENTEIFUITSUKU CO, UISUKONSHIN ARAMUNI RISAACHI FUAUNDEESHON filed Critical FUITSUSHAA SAIENTEIFUITSUKU CO
Publication of JPS50127688A publication Critical patent/JPS50127688A/ja
Publication of JPS5911858B2 publication Critical patent/JPS5911858B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B41/00Circuit arrangements or apparatus for igniting or operating discharge lamps
    • H05B41/14Circuit arrangements
    • H05B41/30Circuit arrangements in which the lamp is fed by pulses, e.g. flash lamp
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/67Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J17/00Gas-filled discharge tubes with solid cathode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2893/00Discharge tubes and lamps
    • H01J2893/0059Arc discharge tubes

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、各種の目的、特に分光分析用の光を発生する
ために用いるスパーク源に関する。
分析クo される物質はスパークの発生される分析用ス
パークギャップに導入される。スパークは分析する物質
を発生させその結果の蒸発気(体)を励振して、分析す
る物質の成分を決定するために分光学的に分析できる光
を発生させる。25本発明の1つの目的は、例えば米国
特許第3749975号に開示されている一般的形式の
スパーク源の改良したものを提供することである。
この米国特許に示されているものは、コンデンサが高電
圧に充電され次に分析用スパークギャップn において
放電されるようになつたスパーク源である。分析用ギャ
ップに直列に制御ギャップが設けてある。分析用スパー
クギャップにおける放電電流の波形を制御するために、
第1および第2の可変コイルまたは誘導性素子がコンデ
ンサとスパー35クギヤツプに直列に設けられる。分路
用ダイオードが分析用スパークギャップおよび第2誘導
性素子の直列結合に並列に接続される。1ハq− 上述した如き米国特許第3749975号に示されてい
るスパーク源においては、ガス入電子制御真空管が制御
ギヤツプに並列に接続される。
分析用スバークギヤツプにおけるコンデンサの放電は電
子制御真空管の制御電極に制御パルスまたは他の信号を
与えることによジ開始され、それによ)真空管は導通し
、制御ギヤツブを瞬間的に短絡させることになる。分析
用ギヤツブの端子間電圧の増加で分析用ギヤツプにおけ
るコンデンサの放電が開始される。極めて短い期間の後
制御ギヤツプもブレークダウン(絶縁破壊)し、主放電
電流がコンデンサと分析用スバークギヤツプの間に伝達
される。本発明の1つの目的にしたがえば、制御スパー
クギヤツブが除かれ、電子スィツチング真空管がコンデ
ンサと分析用スパークギヤツプの間の直列回路に直接接
続される。
真空管はその制御電極に制御パルスまたは他の信号を供
給することによシ導通する。すると分析用スバークギヤ
ツプにおける電圧増加でこのギヤツプはブレークダウン
しコンデンサはこのギヤツブで放電する。本発明の他の
目的にしたがえば、電子スイツチング真空管のカソード
が分析用スパークギヤツプの一方の電極と同じようにア
ースされている如く、スパーク源の回路が構成される。
この構成ではスイツチング真空管のカソードとカソード
ヒータはアース電位にあり、ヒータに対する電源はアー
スから絶縁する必要はない。更に、トリガインパルスの
電源を高電圧電源から隔離する必要なしに、制御パルス
をスィツチング真空管の制御電極とア (ースしたカソ
ードの間に容易に供給できる。分析用スバークギヤツプ
の一方の電極をアースすることは便利で安全であるので
好ましい。更に、分析するものが金属等であるときは、
各サンブルをアースしたスパークギヤツブ電極に取付け
てス ごパークがサンプルとアースしてない電極の間で
発生させるのが好ましい。しかしながらこの構成では、
振動放電電流の最初の半サイクル中アースしたスパーク
ギヤツプ電極はアノードとなる。分光分析に対しては、
サンプルはアノードよジカリ− 4ドとして使用される
のが好ましい。この問題を解決するために本発明は、最
初の半サイクル中導通するように順方向バイアスされた
分路用ダイオードを用いる。
好適には、第3の可ノ変コイルあるいは誘導性素子が順
方向バイアスの分路用ダイオードに直列に接続される。
第1訃よび第2誘導性素子の調整に関連して第3誘導性
素子を調整するために、最初の半サイクルの後分析用ス
パークギヤツプに単一方向の逆極性の電流を発生させる
ことができる。したがつてアースされたサンプル電極は
最初の半サイクル中アノードであるが、スパーク放電の
残bの期間中はカソードとなる。第3誘導性素子は、分
路用ダイオードがコンデンサ放電電流の最初の半サイク
ル中逆バイアスされるように方向づけられているときも
用い得る。
第3誘導性素子は放電電流の波形に対し追加の制御作用
を与える。図面において、第1図は電極13および14
を具備した分析用スパークギヤツブ12を含むスバーク
源10を示している。
スパークは、コンデンサ16を高電圧に充電し次にギヤ
ツプ12で放電させることにより、ギヤツプ12に発生
される。スパークギヤツブの一方の電極、実施例では電
極13をアースするのが好ましい。スバークギヤツプ1
2とコンデンサは直列放電回路18に接続され、好まし
くはこの放電回路18は、コンデンサ16とスパークギ
ヤツプ12の間に直列接続された第1および第2インダ
クタンスコイルすなわち誘導性素子L1卦よびL2を含
む。
好ましくは誘導性素子L1およびL2は可変あるいは調
整可能のものであう、それによ)放電電流の波形と周期
あるいは周波数を制御することができる。好適には、ス
パークギヤツプ12と第2誘導性素子L2の直列結合に
対し分路関係にあるように、分路用ダイオード20が設
けられる。好ましくは第3インダクタンスコイルあるい
は他の誘導性素子L3が分路用ダイオード20に直列に
接続される。再び、好適には第3インダクタンス素子L
3は可変あるいは調整可能のものであり、それによジス
バークギヤツプ12に訃ける電流の波形を制御すること
ができる。コンデンサ16を充電するために高電圧電源
22が設けられる。
この高電圧電源は任意周知の適切な構成のもので良い。
図面では電源22は、低電圧一次巻線26と高電圧二次
巻線28を具備した高電圧変圧器24を含む。一次巻線
26を附勢するために商用交流電源を用いることができ
る。図示の如く、一次巻線26は可変オートトランス3
0と一対の電流制限抵抗32aおよび32bを介して附
勢される。この一対の抵抗は相互に並列でオートトラン
ス30と一次巻線26に対して直列に接続されている。
明らかな如く、可変オートトランス30によ)電源22
の高電圧出力を調整することができる。二次巻線28か
らの高電圧交流はブリツジ整流回路34で整流され、こ
の整流回路はその直流出力を電流制限抵抗36a,36
bおよび36cを介してコンデンサ16へ与える。
この電流制限抵抗は相互に並列でかつブリツジ整流器3
4の負の端子とコンデンサ16の一方の端子の間に直列
に接続されている。コンデンサの他方の端子はブリツジ
整流回路34の正の出力端子に接続されている。充電用
抵抗36a,36b}よび36cはコンデンサ16が高
電圧電源22で充電される速度を調節する。本発明の1
つの態様にしたがえば、電子スィツチング真空管38が
コンデンサ放電回路18と直列に接続される。
それにより真空管38が導通するとコンデンサ16は分
析用スパークギヤツプ12に}いて放電することになる
。スイツチング真空管38は好適には、アノード38a
、熱電子放出力ソート38k1カソードヒータ38hお
よびグリツドすなわち制御電極38gを具備する。好適
にはカソード38kとアノード38aは、コンデンサ1
6と分析用スパークギヤツプ12の間でコンデンサ放電
回路18に直接接続される。アノード38aはブリツジ
整流回路34の正端子とコンデンサ16の対応端子に接
続され、後者のコンデンサ端子は電源22により正に充
電される。電子スィッチング真空管38は好適には、サ
イラトロンの如きガス封入型のものであり、イオン化可
能ガスあるいは蒸気を含み、それによ)真空管が導通す
るとアノードとカソードの間にアーク放電が形成される
。電子スイツチング真空管38は、制御電極38gとカ
ソード38kの間に正のトリガパルスまたは別の信号を
供給すると、この指令で導通する。
このパルスまたは信号は、約50〜100ボルトの正の
パルスを供給するトリガ電源40から与えられる。好適
にはこのパルスは、ガス封入スイツチング真空管38の
トリガ動作を正確に行わせるために鋭い正移行のタイミ
ングエツジを有するものである。図示の如く、セレンの
サージ抑制器(サプレツサ)42が制御電極38gとカ
ソード38kの間に接続されている。
この種のサージサプレツサとしては、ゼネラル・エレク
トリツク社製の製品番号「GRS−21−SAll−D
ll−9H」なる素子またはそれに等価なものがある。
電子スイツチング真空管38は好適には水素を封した型
のものであるが、アルゴンや水銀蒸気の如き他のガスや
蒸気を含む別の型であつても良い。
好適なものは水素を含む市販の「6279/5C22」
型である。真空管38はそのアノード38aとカソード
38kの間で一方向に電流を流す。
振動コンデンサ放電電流に対し反対方向に電流を流すた
めに、ダイオード整流器44がアノード38aとカソー
ド38kの間に接続してある。図示の如くこの整流器4
4は一組のダイオードから成う、アノード38aとカソ
ード38kの間の初期の正電圧で逆バイアスされるよう
に方向が決めている。ガス封入スイツチング真空管38
のヒータ38hは、商用交流電源に接続されるフイラメ
ント変圧器46により附勢される。
スバーク源10の回路は、ガス封入スイツチング真空管
38のカソード38kがアースされるように構成される
すなわち第1図に卦いて、カソード38kはアースリー
ドすなわち導体48に接続されている。この構成によジ
、フイラメント変圧器46の一次巻線と二次巻線の間に
特殊な高圧用絶縁を設ける必要がない。更にカソード3
8kとヒータ38hの間に高電圧が発生されることはな
い。更に、カソードに高圧が発生されないので、制御電
極38gとカソード38kの間にパルスすなわちトリガ
信号を供給するのが容易である。このため高電圧からト
リガ電源40を保護するために隔離用変圧器等を利用す
る必要がない。カソード38kをアースすることによ虱
スイツチング真空管38のアノード38aはコンデンサ
16の正端子に直接接続される。
このため真空管38は、初期放電電流をコンデンサ16
と分析用スパークギヤツブ12の間に流せるように方向
が決められる。安全および便宜のために分析用スパーク
ギヤツプ12の一方の電極をアースすることが極めて好
ましい。
実施例では電極13がアースされ、電子スイツチング真
空管のアースしたカソード38kに直接接続される。こ
の方向づけにより、コンデンサ16とスバークギヤツプ
12の間に発生される振動放電電流の初期半サイクル中
、アースした電極13はアノードとなる。第1図のスバ
ーク源10の動作を説明すると、コンデンサ16は高電
圧電源22により抵抗36a,36bおよび36cを介
して充電される。
ガス封入スイツチング真空管38が非導通であるかぎり
スパークは発生されない。ダイオード44は逆バイアス
されて非導通である。真空管38の制御電極38gとカ
ソード38kの間に正のトリガパルスまたは電圧を供給
して真空管を導通状態へトリガすることによ)、スパー
ク放電が開始される。
トリガパルスは計算機、他のプログラムされた制御装置
、あるいは他の制御手段を用いて供給できる。真空管3
8が導通すると、コンデンサ16の高電圧は分析用スパ
ークギヤツブ12へ供給され、ギヤツプをブレークダウ
ンさせスバーク放電が開始される。
放電回路に静電容量とインダクタンスが存在するので、
放電電流は振動する。振動スバーク放電電流の最初の半
サイクルは真空管が流す。第2の半サイクル中の逆方向
電流はダイオード整流器44が流す。減衰した振動放電
の残Dの期間については、順方向の電流は導通している
真空管38が流し反対の半サイクル中の逆方向電流はダ
イオード整流器44によジ流される。ガス封入スィツチ
ング真空管38の使用により、スパークを指令により発
生させかつスパークのタイミングを極めて正確に制御で
きる。
スパークの正確なタイミングに関して本発明は、従来か
ら用いられている制御ギヤツプ方式に大きな改良を加え
た。ガス封入スイツチング真空管38の正確な点弧は、
大気の変動や大気制御ギヤツプのブレークダウンに影響
する他の物理的要因で変わらない。極めて正確にスパー
クのタイミングを制御できることは本発明の重要な利点
である。更にガス封入スイツチング真空管38を用いる
ことによ)、従来使用された制御ギヤツブで飛ぶスパー
クにより発生された大きなノイズがほぼ除かれる。
ノイズの減少は極めて顕著であ如本発明]による周囲に
対する大巾な改善である。
第1図において分路用ダイオード20は、コンデンサ放
電電流の最初の半サイクル中逆バイアスされるように方
向づけられている。
この方向づけの効果については以下において説明する。
第2図は変更したスパーク源50を示しており、この実
施例では分路用ダイオード20は、振動放電電流の初期
半サイクル中順方向バイアスされるように方向が反対で
ある。
第2図のスパーク源50のその他の部分は第1図のスパ
ーク源10と同じである。分路用ダイオード20の方向
を反対にした意味を以下に述べる。第3図は、第1図の
スパーク源10に関した分析用スパークギヤツプ12に
卦けるスパーク電流の波形を示しており、分路用ダイオ
ード20はコンデンサ放電の最初の電流半サイクル中逆
バイアスされているが、L3のインダクタンスは零また
は排除されておシ、そのため回路のストレイ(漂遊)イ
ンダクタンスだけが分路用ダイオード20と直列にある
逆バイアスによりダイオード20は最初非導通であシ、
そのため、最初の半サイクル中全電流はL2を通ジスバ
ークギヤツプ12を流れる。誘導性素子L2に電流が流
れそこにエネルギーの蓄積が生じる。蓄積されたエネル
ギーによジ第2の半サイクル中スパークギヤツプ12に
弛緩電流が流れる。第3図aに}いて、最初の半サイク
ル中のスバークギヤツプにおける電流は57で示してあ
る。
第2の半サイクル中のL2の弛緩に依るスパークギヤツ
ブ12での電流は58で示してある。この電流は分路用
ダイオード20が順方向バイアスされている期間1L2
中流れる。第3図aにおいて、点線60はL2の発生す
る弛緩電流が存在しないとき第2半サイクル中スパーク
ギヤツプ12に流れる電流を表わしている。期間1L2
中にスバークギヤツプに流れる電流の波形は主振動コン
デンサ放電電流からは完全に独立している。
この電流の方向と大きさはL2の値に依存する。L2の
大きさの変更による効果は第3図A,bおよびcに示し
てある。第3図a卦よびbに示す如くL2が大きいとき
は、弛緩電流は十分に大きく放電を1つの方向に規制す
る。スパークギヤツプにおける単一方向の放電電流は第
3図aでは58で第3図bでは62で示してある。明ら
かな如く第3図bは第3図aの場合より大きなL2を用
いたときを示して卦り、波形62と58を比べれば明ら
かな如くL2の発生する弛緩電流は第3図bの場合が大
きい。第3図cはL2が比較的小さい場合を表わしてお
り、弛緩電流はスパークギヤツプに}いて単一方向の放
電電流を発生するには不十分である。
弛緩電流は64で示してあるように第2半サイクル中反
対極性の電流を減少させる。但しその電流の極性を変え
るまでにはいたらない。明らかになつた如く、スパーク
ギヤツプ12における放電電流の波形はL2の値を変え
ることにより大巾に変更され得る。第3図A,bおよび
cに示した波形の例は、分路用ダイオード20のインピ
ーダンスは順方向バイアスされているとき十分に高く放
電の全位相中分析用スパークギヤツプ12を導通状態に
維持するものと仮定している。
この仮定がないとL2からは弛緩電流は得られないであ
ろう。むしろダイオード20の作用は、特にL2が小さ
な値のとき、放電電流をクリツプするだけであろう。こ
のクリツブ作用は第3図dに66で示してある。点66
において、.順方向バイアスされている分路用ダイオー
ドの極めて低いインピーダンスにより、スパークギヤツ
プ12は導通しなくなる。クリツプ作用はダイオードが
順方向バイアスされているかぎり半サイクル中続く。こ
のクリツプ作用は、採用するダイオードの固有特性と、
例えば接続用りードの抵抗と分布インダクタンスに依る
如きダイオードに直列の残余インピーダンスに依存する
。分路用ダイオード20に直列に第3誘導性素子L3を
設けることにより、ダイオードが順方向バイアスされた
ときダイオード回路のインピーダンスを増加させること
ができる。このようにすることにより、スパークギヤツ
プにおける放電はコンデンサ放電の全位相中維持される
。このような構成は第1図のスパーク源10に示してあ
り、第3誘導性素子L3は分路用ダイオード20に直列
に接続されており、このダイオード20は第1半サイク
ル中逆バイアスされ第2半サイクル中順方向バイアスさ
れる。スパークギヤツプ12におけるスパーク電流の波
形は、第2誘導性素子L2の値に応じて第3図A,bま
たはcのようになる。したがつて、インダクタンスL3
はダイオードループに挿入された順方向ユニツトインピ
ーダンスとして作用し、分析用ギヤツプ12のブレーク
ダウンと連続的イオン化現象を制御する。L3が調整可
能であれば、この素子はプログラムされた順方向ユニツ
トインピーダンスと呼ばれる。L3の作用はダイオード
20とギヤツプ12の間での電流の分割を制御すること
である。L2が小さくダイオード20が順方向バイアス
で完全に導通しているときは、インダクタンスL3はギ
ヤツプ12を導通状態に維持する。第1図のスパーク源
10の場合は、アースされている電極13は振動放電の
第1半サイクル中アノードである。
第3図aおよびbに示す如くL2の値が十分に大きく単
一方向のスバーク電流を発生するときは、アースした電
極13は全放電期間中アノードである。この状態では、
分析するサンプルをアースした電極に取付けることが望
ましくなく、スパークはサンプルとアースしてない電極
との間で発生する。分光分析の目的に対しては、一般に
はサンプルをアノードではなくてカソードとして使用す
るのが好ましい。勿論この欠点はサンプルをアースして
ない電極14に取付けることにより克服できる。この上
記問題点を解決する別の方法は、第2図に示すように分
路用ダイオード20の極性を逆にすることである。
そのようにした極性ではダイオード20は、第1半サイ
クル中順方向バイアスされ第2半サイクル中逆バイアス
される。このようにダイオードの極性を逆にすると、新
しい放電波形が発生される。この新しい波形は実際的な
スベクトル分析化学に利用できる別の波形群となる。第
2図に示すように第3誘導性素子L3は分路用ダイオー
ド20に直列に接続されている。好ましくはL3は可変
または調整可能のもので作られ、例えば0から100マ
イクロヘンリーまでの範囲の値を取るように作られる。
ダイオードは最初に順方向バイアスされるようにすなわ
ち電流の第1半サイクルの最初の部分中順方向バイアス
されるように設けられる。インダクタンスL3がそれほ
ど小さくなければ、最初の半サイクル中ダイオード20
が順方向バイアスされ導通していてもスパークギヤツプ
12をブレークダウンさせる程度に、L3はダイオード
通路のインピーダンスを増加させる。
この場合、電流は第1半サイクル中スパークギヤツプと
分路用ダイオードの間で分割され、L2とL3は共にエ
ネルギーを蓄積される。第2半サイクル中にコンデンサ
回路の主振動放電電流の方向が逆になると、ダイオード
20は逆バイアスされ、その結果ダイオードは非導通と
なbダイオード通路は開く。
すると親の振動するコンデンサ放電電流は空気ギヤツブ
12を通る。この半サイクル中第2インダクタンスL2
だけがエネルギーを蓄積される。L2が十分に大きけれ
ば、スパーク放電電流の残)は単一方向である。第4図
aは上述した状態での波形を表わしている。第1半サイ
クル中のスパークギヤツプに訃ける分割(スプリツト)
電流は68で示してある。点70に}いて、極性は反転
されダイオード20は非導通になる。これによシ回路か
ら外れる。第2半サイクル中スパークギヤツプにおける
逆極性の全コンデンサ放電電流の波形は727!示して
ある。74で示された点の近ぐにおいてダイオード20
は再び導通し、第2インダクタンスL2の発生する弛緩
電流を通す。
この弛緩電流は76で示されているようなスパークギヤ
ツブ電流の逆転を阻止し、したがつてスパーク電流は放
電の残ク期間中単一方向である。明らかな如く、波形の
部分76は第3図aの部分58と第3図bの部分62に
対応している。但しスパーク電流の極性は反対である。
第3図aおよびbにおける如く、第4図aでは第2イン
ダクタンスL2の発生した弛緩電流により、スパーク電
流は放電の残力の期間中単一方向である。したがつて、
第2図の如く分路用ダイオード20の極性を反転し但し
第3インダクタンスL3をダイオードに直列に設けるこ
とによシ、第4図aに示す如き波形を発生することがで
きる。
第4図aでは電流は第1半サイクル中1つの極性を有し
放電の残うの期間中は反対の極性を有する。この状態は
第4図bに示してあり、この図面において78は第1半
サイクル中に発生される一方の極状のスパーク電流を表
わし、80は放電の残)の期間中の反対極性のスパーク
電流を表わしている。この形式の波形は極めて有益に利
用可能であり、第1半サイクル中の一方の極性の電流7
8は一方の電極に取付けられている分析用部材からサン
プル物質を蒸発させるのに利用できる。インダクタンス
L3が残余値に減少され、ダイオードが極めて低い順方
向バイアスインピーダンスを有していれば、スバークギ
ヤツブはコンデンサ放電電流の第1半サイクル中導通し
ないであろう。その結果、第4図bに示されているスパ
ーク電流の波形は第4図cに示すように変更される。第
1半サイクル中スパークギヤツプ電流は81に示されて
いるようにほぼ零である。放電のこの期間中スバークギ
ヤツブに通常存在する電流は、空気ギヤツプをブレーク
ダウンするのに不十分な電圧降下を生じる程度Q低イン
ピーダンスを有するダイオードを介してほぼ全部分路さ
れる。電子スイツチング真空管を用いることによシ、極
めて正確に分析用スパークのタイミングを制御すること
が可能であジ、従来のものより極めて好適である。
計算機や他の信号源から与えられる外部で発生されたパ
ルスまたは他の制御信号の正確な制御の下に、繰返しパ
ルスを容易に発生することができる。第3図および第4
図に示した波形のスバーク電流を発生し得ることは本発
明の別の重要な利点であわ、分路用ダイオード20}よ
び誘導性素子L2およびL3を含む構成に依存するもの
である。
第1図および第2図において、大きな値のりーク抵抗8
2は、スパーク源を断にするときコンデンサ16を放電
させるために空気ギヤツプ12の両端に接続される。当
業者には明らかな如くスバーク源の各種素子の値は各状
態に合うように適切に変え得る。
しかしながら、以下の値は実施例に卦いて好適であつた
ものである(なお、これら値は大巾に変更できる)。1
6−ガラスおよび油のコンデンサ群0.01マイクロフ
アラツド20−ダイオード群 24一変圧器110ボルト交流−16〜23キロボルト
(実効値)30−バリアツク 8〜15アンペア 32aおよび32b 抵抗各5オーム700ワツト巻線型 36a,36bおよび36c 抵抗100Kオーム 200ワツト巻 線型 38−サイラトロン6279/5C22型42−セレン
サージサプレツサ G−E 4pGRS−21−S−All−Dll 一9H型 44−ダイオード 48一変圧器 110−6.3ボルト 10アンペア8
2−1タグオーム 電子スイツチング真空管を用いることによ)、従来用い
られた制御ギヤツプを除き得るという利点が生じる。
このためブレークダウンすると大きなノイズを発生した
制御ギヤツプが除かれ、大巾なノイズ減少が達成される
。このようにスパーク源の使用周囲に大巾な改善がもた
らされることが本発明の大きな利点である。上述したよ
うに極めて正確にスパークのタイミングを制御できるこ
とは本発明の別の重要な利点であり、これはガス封入ス
イツチング真空管を用いた制御回路によりもたらされる
ガス封入スイツチング真空管のトリガ特性は極めて正確
であ)大気状態または他の周囲因子によつてはほとんど
影響されない。十分な大きさの正のトリガパルスまたは
信号がガス封入スイツチング真空管の制御電極に供給さ
れると、真空管は導通しスパークが最少の遅延をもつて
発生される。このようにしてスパークのタイミングは正
確に制御される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のスバーク源の回路図、第2図
は一部変更したスパーク源の部分回路図、第3図は第1
図のスバーク源の動作を示す波形図、第4図は第2図に
よるスパーク源の動作を示す波形図である。 12・・・スパークギヤツプ、16・・・コンデンサ、
18・・・コンデンサ放電回路、20・・・分路用ダイ
オード、22・・・高電圧電源、24・・・高電圧変圧
器、30・・・オートトランス、34・・・ブリツジ整
流回路、38・・・電子スィツチング真空管、40・・
・トリガ源、42・・・セレンサージサプレツサ、44
・・・ダイオード整流器、46・・・フイラメント変圧
器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アースした電極とアースしていない電極を含むスパ
    ークギャップと、正および負に充電され得ると共に正お
    よび負の端子を具備するコンデンサと、正および負の端
    子を有し前記コンデンサを充電する電源と、前記電源の
    正および負の端子を前記コンデンサの正および負の端子
    に接続する手段と、前記コンデンサの負の端子と前記ス
    パークギャップのアースしていない電極との間に接続さ
    れた放電回路と、アノード、熱電子放出カソードおよび
    制御電極を具備した電子スイッチング真空管と、前記ア
    ノードを前記コンデンサの正の端子に接続する手段と、
    前記カソードを前記スパークギャップのアースした電極
    に接続する手段と、前記熱電子放出カソードに加熱電力
    を供給するヒータ回路と、および、前記電子スイッチン
    グ真空管の制御電極とカソードの間へ制御信号を供給す
    る手段と、から成り、前記制御信号は前記スパークギャ
    ップにおいて前記コンデンサの放電を行わせるべく前記
    真空管を導通状態にさせる大きさと極性を有するもので
    あり、スパークが前記ギャップにおいて前記制御信号に
    正確にタイミングが合つて発生される構成のスパーク源
JP50021400A 1974-02-22 1975-02-20 スパ−ク源 Expired JPS5911858B2 (ja)

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JPS50127688A JPS50127688A (ja) 1975-10-07
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BR (1) BR7501054A (ja)
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GB (1) GB1487816A (ja)

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JPS50127688A (ja) 1975-10-07
BR7501054A (pt) 1975-12-02
DE2505392A1 (de) 1975-09-04
GB1487816A (en) 1977-10-05

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