JPS59110320A - Tester for protecting relaying device - Google Patents
Tester for protecting relaying deviceInfo
- Publication number
- JPS59110320A JPS59110320A JP57218299A JP21829982A JPS59110320A JP S59110320 A JPS59110320 A JP S59110320A JP 57218299 A JP57218299 A JP 57218299A JP 21829982 A JP21829982 A JP 21829982A JP S59110320 A JPS59110320 A JP S59110320A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- output
- protective relay
- relay device
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、保護継電装置の試験装置、特に笈、力系統の
電気量を模擬して出力する保護継電装置の試験装置に関
するものである。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a test device for a protective relay device, and particularly to a test device for a protective relay device that simulates and outputs the amount of electricity in a power system. .
電力系統に使用される保護継電装置の試験には従来よシ
第1図に示すような模擬送電線設備が使用されている。Conventionally, a simulated power transmission line facility as shown in FIG. 1 has been used to test protective relay devices used in power systems.
この例は、例えば三上著「保護継電器の試験と保守」(
オーム社、1969年、p199〜212)に記載され
ている。第1図において、IAl 1Bは発電機模擬回
路、2A、2Bは変圧器模擬回路、3 A% 3 B
は送電線模擬回路(送電線をリアクタンスで模擬)、4
はCTT擬回路、5はPTT擬回路、6はしゃ断器(C
B)模擬回路であり、図示していないが他に負荷模擬回
路も構成要素の一部となる。第1図の模擬送電線設備は
前記PTT擬回路5及び前記CT模模擬回路4ニ1発生
する模型であり、PT比、CT比を実系統の縮尺に応じ
て変化するようにして、模擬送電線PT,CT2次重圧
電流は実系統と同じものが発生し、直接保護継1U.装
置に導入され、継電気を駆動するようにしたものである
。An example of this is "Testing and Maintenance of Protective Relays" by Mikami (
Ohmsha, 1969, p. 199-212). In Figure 1, IAl 1B is a generator simulation circuit, 2A and 2B are transformer simulation circuits, 3A% 3B
is a power transmission line simulation circuit (simulating a power transmission line with reactance), 4
is a CTT pseudo-circuit, 5 is a PTT pseudo-circuit, and 6 is a breaker (C
B) A simulation circuit, which also includes a load simulation circuit (not shown) as a component. The simulated transmission line equipment shown in Fig. 1 is a model in which the PTT simulated circuit 5 and the CT simulated circuit 4 are generated, and the PT ratio and CT ratio are changed according to the scale of the actual system to simulate the transmission. The secondary heavy voltage current of the electric wires PT and CT is the same as that of the actual system, and the direct protective joint 1U. It is introduced into the device to drive relay electricity.
しかし、多回線併架送電線における循現腎流覗象など被
保護対象の平行2回線送凭線が併架系より受ける影響を
模擬するには、併架系及び併架糸との相互作用を模擬す
る設備が必をと力る。これらを従来のような設備で実現
すると設イC1が大型化し費用を多く套被とする。又、
高精度な条件設定を行なうことも困φ「であシ、第1図
の枠擬送雷紳設備相当ではこのような検雑な系統現象を
模擬することが極めて困難と言える・
この種の試験設備のむ雑化に対処するため、デジタル処
理装置を用いる方法がある。−例として、特開昭56−
13393O r保護継電器の試験装置」を第2図で説
明する。However, in order to simulate the influence of parallel two-circuit droplets to be protected from the parallel system, such as circulating renal flow observation in multi-circuit parallel transmission lines, it is necessary to Equipment that simulates this is essential. If these were implemented using conventional equipment, the equipment C1 would be large and the cost would be high. or,
It is also difficult to set highly accurate conditions, and it can be said that it is extremely difficult to simulate such a complicated system phenomenon with the frame simulation lightning transmission equipment shown in Figure 1. In order to deal with the complexity of equipment, there is a method of using digital processing equipment.
13393O r protective relay testing device” will be explained with reference to FIG.
第2図において、データ入力部2oは交流波形を模擬し
たデジタルデータをメモリ21に順次格納する部分であ
る。デジタルデータは、例えば正弦波を一定周期でサン
プリングした離散形のデータである。メモリ21に蓄え
られたデータは試験開始と同時にデータコントロール部
22よシ順次り/A変換部23に送出される。アナログ
に変換されたデータは微弱な信号のため増幅器24で電
流増幅又は電圧増幅され被試験リレー25に出力される
。In FIG. 2, a data input section 2o is a section that sequentially stores digital data simulating an AC waveform in a memory 21. The digital data is, for example, discrete data obtained by sampling a sine wave at a constant period. The data stored in the memory 21 is sequentially sent from the data control section 22 to the A/A conversion section 23 at the same time as the test starts. Since the data converted to analog is a weak signal, it is current or voltage amplified by an amplifier 24 and output to a relay under test 25 .
第2図に示す試験装置は、リレー単体試験だけでなくリ
レー装置の試験も可能である。即ち、模擬送電線の電圧
、電流データを前記データ入力部20に記録しておき、
任意の時に本装置に入力し、リレー装置の試験を行なう
。The test apparatus shown in FIG. 2 is capable of testing not only a single relay but also a relay device. That is, the voltage and current data of the simulated power transmission line are recorded in the data input section 20,
Input to this device at any time and test the relay device.
ところで、リレー装置の動特性試験においては、系統事
故を模擬した電圧、電流に対するリレー装置の応動C検
証だけでなく、リレー装置の動作によるCBの開放、及
びCB開放後のリレー装置の応動検証も必要である。し
かし、第2図に示す試験装置はこの種の試験を主目的と
したものではないので、前記被試験リレー25から前記
データコントロール部22へのフィードバック信号がな
く、前記被試験リレー25の動作を伴うCBの開放及び
CB開放後の前記被試験リレー25の応動等を模擬する
ことができない。By the way, in the dynamic characteristic test of the relay device, we not only verify the response C of the relay device to voltage and current simulating a system fault, but also verify the opening of the CB by the operation of the relay device and the response of the relay device after the CB is opened. is necessary. However, since the test apparatus shown in FIG. 2 is not intended primarily for this type of test, there is no feedback signal from the relay under test 25 to the data control unit 22, and the operation of the relay under test 25 is not controlled. It is not possible to simulate the accompanying opening of the CB and the response of the relay under test 25 after the opening of the CB.
本発明は上記欠点を解決することを目的としてなされた
ものであり、複雑な系統現象の模擬が可能な保護継電装
置の試験装置を提供することを目的としている。The present invention has been made to solve the above-mentioned drawbacks, and an object of the present invention is to provide a test device for a protective relay device that can simulate complex system phenomena.
本発明では系統故障計算されたデータ、即ち、事故前の
電圧、電流データ、事故直後の過渡データ、事故後の定
常データ及びしゃ断器開放後のデータを予じめメモリ内
の適当番地に区分して格納しておき、試駆に際してこれ
らのデータをJilli次読出すことによυ、系統事故
と同一の状態出力を作シ、一連の試験を行なおうとする
ものである。In the present invention, the system failure calculated data, that is, the voltage and current data before the fault, the transient data immediately after the fault, the steady data after the fault, and the data after the circuit breaker is opened, is divided into appropriate addresses in the memory in advance. By storing these data and reading them out during a test run, the system produces the same status output as the system fault and performs a series of tests.
以下図面を参照して実施例を説明する。第3図は本発明
による保護継電装置の一実施例ブロック構成図である。Examples will be described below with reference to the drawings. FIG. 3 is a block diagram of an embodiment of the protective relay device according to the present invention.
第3図において、データ入力部31は、電力系統を模擬
する電圧・電流データ、例えば事故前データ、事故直後
の過渡データ、事故後の定常データ、及びCB開放後の
データ等をメモリ32の所定のアドレス領域に格納する
部分である。前記データ入力部31の具体的入力媒体の
例としては、紙テープ、ROM、磁気テープ、フロッピ
ーディスク等がある。電力系統を模擬するデータは、汎
用過渡現象解析プログラム(後述する)等で計算された
結果である。そしてメモリ32はデータコントロール部
33よシアドレス信号S1を入力し、該当するアドレス
のデータS2をデータコントロール部33に出力する。In FIG. 3, the data input unit 31 inputs voltage/current data simulating the power system, such as pre-fault data, transient data immediately after the fault, steady data after the fault, and data after the CB is opened, to a predetermined location in the memory 32. This is the part that is stored in the address area of . Examples of specific input media for the data input section 31 include paper tape, ROM, magnetic tape, and floppy disk. The data simulating the power system is the result of calculation using a general-purpose transient phenomenon analysis program (described later) or the like. The memory 32 receives the seat address signal S1 from the data control section 33 and outputs data S2 at the corresponding address to the data control section 33.
コントロール部33は、被試験対象の保護継電装置35
の装置出力35(例えばトリップ出力)を入力し、所定
のアドレス信号S1をメモリ32に出力し、該当するア
ドレスの前記データS2を入力して、該データS2と等
しいデジタルデータS3をD/A変換部34へ出力する
。ここでデータ入力部31、メモリ32、データコント
ロール部33をまとめて第1の装置30と呼ぶ。D/A
変換部34(第2の装置)は、データコントロール部3
3よりデジタルデータS3を入力し、デジタル/アナロ
グ変換し、アナログ信号S4を保護継電装置35へ出力
する。保護継電装置35は前記アナログ信号S4を入力
し、保饅継電器単体の応動及びシーケンスに従って、装
置出力S5をデータコントロール部33へ出力する〇
ここで汎用過渡現象プログラム(EMTP) Kつイテ
説明する。その概要は、例えばIr電気学会雑誌」(1
02巻6号、昭和57年6月、p487〜494)の雨
官著[汎用過渡現象解析プログラムEMTPJに記載さ
れている。EMTPは電力系統等の各種の定常及び過渡
現象の解析を目的としたもので、3相電力系統が対象の
場合、送電線・ケーブル、負荷、変圧器、アレスタ、電
源、回転機、スイッチ、整流素子、制御系統等の要素が
模擬可能である。入力データとして、(1)計算時間刻
み、計算終了時間、データの単位系、結果の出力形式、
(2)与えられた電気回路をノードとブランチで表現し
た′ときのブランチに関する情報、ブランチ電圧、電流
の出力形式、(3)各種スイッチ素子に関する情報、ス
イッチ端子の電圧、電流の出力形式、(4)電源の形式
、条件、(5)ノード電圧の出力形式等が必要である。The control unit 33 controls the protective relay device 35 to be tested.
inputs the device output 35 (for example, trip output), outputs a predetermined address signal S1 to the memory 32, inputs the data S2 at the corresponding address, and performs D/A conversion of digital data S3 equal to the data S2. output to section 34. Here, the data input section 31, memory 32, and data control section 33 are collectively referred to as a first device 30. D/A
The conversion unit 34 (second device) is the data control unit 3
3 inputs digital data S3, performs digital/analog conversion, and outputs an analog signal S4 to the protective relay device 35. The protection relay device 35 inputs the analog signal S4 and outputs the device output S5 to the data control unit 33 according to the response and sequence of the protection relay itself.Here, the general purpose transient phenomenon program (EMTP) will be explained in detail. . The outline is, for example, "Ir Electrical Engineers of Japan Journal" (1
Vol. 02, No. 6, June 1987, p. 487-494) written by Kan Ame [described in the general-purpose transient phenomenon analysis program EMTPJ]. EMTP is aimed at analyzing various steady and transient phenomena in power systems, etc. When targeting a three-phase power system, EMTP analyzes power transmission lines/cables, loads, transformers, arresters, power supplies, rotating machines, switches, rectifiers, etc. Elements such as elements and control systems can be simulated. As input data, (1) calculation time step, calculation end time, data unit system, result output format,
(2) Information about branches, branch voltages, and current output formats when a given electrical circuit is expressed as nodes and branches, (3) Information about various switch elements, switch terminal voltages, and current output formats; ( 4) Type and conditions of power supply, (5) Output format of node voltage, etc. are required.
出力としては、ノード電圧、ブランチ電圧・電流、スイ
ッチ端子の電圧・電流等が得られる。As outputs, node voltages, branch voltages/currents, switch terminal voltages/currents, etc. can be obtained.
又、初期潮流条件は、電源の端子電圧と位相角によシ自
動的に設定される。In addition, the initial power flow conditions are automatically set based on the terminal voltage and phase angle of the power supply.
第6図は、前記メモリ32に格納されるデータのアドレ
ス割付を示す図である。ここではデータは電圧■量(添
字v)、電流■量(i)の場合を説明する。アドレスA
。o、Aol、Ao2・・・・・・” 02nに事故前
の電圧、1b流データD 、Dvoo 100”
voj
・・・・・・” inn が格納される。次にアドレ
スA1o1A、1、A12・・・・・・、A12mに事
故直後の過渡データDvjo ” iTo ’ Dvl
l ”’ ”” ilmが格納され、アドレスA2o1
A21、A22”・−A22tK CB開放後のデータ
Dv2oXDi□。、Dv21・・・・・・Dk21が
格納される。FIG. 6 is a diagram showing address assignment of data stored in the memory 32. Here, a case will be explained in which the data is a voltage (subscript v) and a current (i). Address A
. o, Aol, Ao2..." 02n is the voltage before the accident, 1b flow data D, Dvoo 100"
voj...''inn is stored. Next, the transient data immediately after the accident Dvjo ``iTo'' Dvl is stored at addresses A1o1A, 1, A12..., A12m.
l ”' ”” ilm is stored, address A2o1
A21, A22''...-A22tK Data after CB release Dv2oXDi□., Dv21...Dk21 are stored.
又アドレスA3o”A31、A52 ”・”” !52
kにCB開放後のデータDv40 ” i30 ’ D
v31・・・”・、D、3kが格納される。Also address A3o”A31,A52 “・””! 52
Data after releasing CB to kDv40"i30'D
v31...”・, D, 3k are stored.
第5図は、データコントロール部33の処理を示すフロ
ーチャートである。ステラff1 は事故前データ出力
の処理であシ、アドレスA。oXAo1A02 ”’
・・’、A02nのデータDv00 ’ Dioo ’
DvOj ”・・・・D、。。を順次出力する。次に
ステラff2は事故直後の過渡データ出力の処理であり
、アドレスA1o1A11、A12……、A のデー
タDν1o12m
Di10% Dvll・・・・・・’ Dilm を
順次出力する。ステップf、は事故後の定常データ1サ
ンゾル分出力の処理であり、まずアドレスA 1A
のデータ20 21
Dv20 ” i20を出力する。次にステップf4
は装「1」(有)、「0」(無)の判定を行なう。「
1」の時装置出力有のため、ステラff6へ進む。又、
「OJのとき装置出カ無のためステラff5へ進む。FIG. 5 is a flowchart showing the processing of the data control unit 33. Stella ff1 is for pre-accident data output processing and is at address A. oXAo1A02 ”'
...', A02n data Dv00 'Dioo'
DvOj ”...D,... are output in sequence. Next, Stella ff2 is a process of outputting transient data immediately after the accident, and data at addresses A1o1A11, A12..., A, Dν1o12m Di10% Dvll...・' Dilm is output sequentially. Step f is the process of outputting one sansol of steady data after the accident. First, address A 1A is output.
Data 20 21 Dv20 ” i20 is output. Next, step f4
A determination is made as to whether the equipment is "1" (present) or "0" (absent). "
1", there is a device output, so proceed to Stella ff6. or,
``During OJ, there is no output from the device, so proceed to Stellar FF5.
ステラff5は出力データのメモリのアドレス更新処理
であシ、第1回目ではアドレスをA20 ”2jからA
2□、A23に更新する。そして、ステップf3へ戻シ
、次ノアトレスA22.A23ノテータDv21゜D、
21ヲ出カする。一般にはステラff5でアドレスをA
22P、A22P、+、がらA2□P+21 A22川
に更新し、ステップf3でアドレスA22P+2 ”
22F+3のデータDv2p+1 ’ Di2p+、を
出力する。なお、前記事故後の定常データはlザイクル
分用意しておきくシ返し出力する。ステラ7af6は・
電流零クロス検出の判定であり、電流データが零をクロ
スすることの検出(例、データを2の補数表現とし、最
上位ビットのroJ 、 rlJでデータの符号判定を
し、正→負、あるいは負→正を検出する方法等)を行な
い、肩のときステップf7へ進む。無のときステップf
3の処理へ戻る。ステップf6の処理は、一般にCBが
開放されるタイミングが電流=0となるときであること
に基づいている。以下ステップf1よりステップf6
をまとめてステップF1と呼ぶ。ステップf7はCB
開放後のデータ出力の処理であり、アドレスA 、A
。Stellar ff5 is a memory address update process for output data, and in the first time, the address is changed from A20 "2j to A.
2□, updated to A23. Then, return to step f3 and proceed to Noatres A22. A23 notator Dv21°D,
I'm 21 years old. Generally, the address is A on Stella FF5.
22P, A22P, +, update to A2□P+21 A22, and in step f3 address A22P+2”
The data Dv2p+1' Di2p+ of 22F+3 is output. Note that the steady data after the accident is prepared for one cycle and output again. Stella 7af6 is...
This is a judgment of current zero cross detection, and detects that the current data crosses zero (for example, the data is represented as a two's complement, and the sign of the data is determined using the most significant bits roJ and rlJ, and it is determined whether the current data is positive → negative, or (a method of detecting negative → positive, etc.), and when it is a shoulder, proceed to step f7. Step f when nothing
Return to step 3. The process of step f6 is based on the fact that the timing at which CB is generally opened is when the current becomes zero. Below step f1 to step f6
are collectively referred to as step F1. Step f7 is CB
This is data output processing after release, and addresses A, A
.
50 31 A52”””A52にのデータDv5
[+’D13ol Dv31・・・・・・、binkを
順次出力する。50 31 A52"""Data Dv5 for A52
[+'D13ol Dv31..., bink is output in sequence.
第4図は、第3図に示す各信号の時間変化をス示したも
のである。デジタルデータS3は1(1゜では、事故前
データとして電流工=Dioo・・・・・・、電圧■=
Dv0゜” vol・・・・・・の値をとる。t−t2
にて事故が発生するので前記デジタルデータS3はt、
≦t<t2では事故直後の過渡データとしてI=Dl、
。・・・・・・、v=Dv、。”Vll・・・・・・の
値をとシ、t2≦t<t3では事故後の定常データとし
てI=Di2o010XV″Dv2oIDv2111°
の値をとる。FIG. 4 shows the time change of each signal shown in FIG. 3. The digital data S3 is 1 (at 1°, the pre-accident data is current = Dioo..., voltage ■ =
Takes the value of Dv0゜” vol... t-t2
Since an accident occurs at t, the digital data S3 is
When ≦t<t2, I=Dl as transient data immediately after the accident,
. ......,v=Dv,. ``Vll......'' value, if t2≦t<t3, the steady data after the accident is I=Di2o010XV''Dv2oIDv2111°
takes the value of
1=13にて前記装置出力S5が「1」となり、ソフト
処理でこれを検出する。前記デジタルデータS3は、t
、≦tくt4では引続き事故後の定常データであp、t
=t4で電流零クロスが検出されると、t≧t4ではC
B開放後のデータとしてI : D、。・・・、v−D
v3o、Dv3.・・・・・・の値をとる。アナログ信
号S4は前記デジタルデータS3をD/A変換したもの
である。When 1=13, the device output S5 becomes "1", and this is detected by software processing. The digital data S3 is t
, ≦t. At t4, p, t is the steady data after the accident.
= When the current zero cross is detected at t4, at t≧t4, C
I: D, as data after B is released. ..., v-D
v3o, Dv3. Takes the value of... The analog signal S4 is obtained by D/A converting the digital data S3.
以上説明したように本発明によれば、第1に従来の模擬
送電設備では模擬回能な複雑な現象に対しても予じめ前
記EMTP等で計算されたデータを用いるので容易に、
かつ精度よく模擬できる。第2に保護継電装置の装置出
力を用いて、該保護継電装置への入力を変化させるので
、該保護継電装置の応動と、それに伴うCB開放、更に
CB開放後の該保護継電装置の応動検証等が可能である
。As explained above, according to the present invention, firstly, in the conventional simulated power transmission equipment, data calculated in advance by the EMTP etc. is used even for complex phenomena such as simulated power, so it is easy to
And it can be simulated with high accuracy. Second, since the device output of the protective relay device is used to change the input to the protective relay device, the response of the protective relay device, the accompanying CB opening, and the protective relaying after the CB is opened. It is possible to verify the response of the device.
第7図は本発明の他の実′JM例フローチャートである
。第7図は、第5図のフローチャートのステップF1と
ステップf7との間にステップf8の処理を追刀口した
ものである。該ステップf8は事故後の定常データムサ
イクル出力の処理(例a=1)であり、前記電流零クロ
ス検出(ステップf6)での出力データのアドレスがA
28のとき次はアドレスA29+2のデータを出力する
。又、前記サイクル数aは、CBの所要時間を模擬する
のに適当な整数値を選べばよい。FIG. 7 is a flowchart of another practical JM example of the present invention. FIG. 7 shows the process of step f8 added between step F1 and step f7 of the flowchart of FIG. The step f8 is processing of the steady datum cycle output after the accident (example a=1), and the address of the output data in the current zero cross detection (step f6) is A.
At the time of 28, data at address A29+2 is output next. Further, the cycle number a may be selected as an integer value suitable for simulating the time required for CB.
第8図は、第7図の処理1て対する各信刊の時間変化図
である。tくt3では第4図と同じである。FIG. 8 is a time change diagram of each newsletter for process 1 in FIG. txt3 is the same as FIG. 4.
1=13で装置出力s5が「1」になり、ソフト処理が
これを検出し、1=15で電流零クロスが検出される。When 1=13, the device output s5 becomes "1", which is detected by software processing, and when 1=15, a current zero cross is detected.
t2≦tくt5では前記デジタル信号s3は事故後の定
常データとしてI−Di2o町・・、V−Dv2o、D
v21・・・・・・の値をとる。t5≦t<t6におい
ても更に事故後定常データ(1サイクル分)がくり返え
される。t≧t6では、R11記デノタルデータS3は
CB開放後のデータとして工=DI、。・・・・・・、
v=Dv3o、Dv3.・・・・・・の値をとる。なお
アナログ信号S4が前記デジタルデータs3のD/A変
換したものであることは第4図と同様である。この例の
発明によれば、CBが開放するに必要な時間も精度よく
模擬することが可能である。t(にソフト処理を簡単に
するため電流零クロスの判定処理を行なわない場合を説
明する。事故後の定常データ出力からCB開放後のデー
タ出力への移行タイミングがあまり問題にならない用途
には適用可能で第9図は本発明の更に他の実施例ソフト
処理のフローチャートである。第9図が第5図と異方る
のはステップf6の処理がないことである。ステ。At t2≦t<t5, the digital signal s3 is I-Di2o town..., V-Dv2o, D as steady data after the accident.
Takes the value of v21... Also at t5≦t<t6, the post-accident steady data (for one cycle) is repeated. When t≧t6, the data S3 in R11 is the data after the CB is released, and DI=DI.・・・・・・、
v=Dv3o, Dv3. Takes the value of... Note that, as in FIG. 4, the analog signal S4 is obtained by D/A converting the digital data s3. According to this example of the invention, it is also possible to accurately simulate the time required for the CB to open. In order to simplify the software processing, we will explain the case where the current zero cross determination process is not performed.Applicable to applications where the timing of transition from steady data output after an accident to data output after CB opening is not a big problem. Fig. 9 is a flowchart of software processing in yet another embodiment of the present invention. Fig. 9 is different from Fig. 5 in that the processing of step f6 is not included.
プf4にて装置出力のイ矢出が有のときステップf7へ
進む。第10図は、第9図の処理に対応する各信号の時
間変化を示す図である。tくt3では第4図と同じであ
る。1=13にて装置出方s5が1−1」になυ、ソフ
ト処理がこれを検出するとt≧t ではデジタルデータ
s3はCB開放後のデータとしてI=D・ ・・・・
・・” ” Dv50 ’ Dv31・・・・・・の値
をと30
る。If step f4 indicates that the device output is negative, the process advances to step f7. FIG. 10 is a diagram showing temporal changes in each signal corresponding to the processing in FIG. 9. txt3 is the same as FIG. 4. When 1=13, the device output s5 becomes 1-1" υ, and when the software processing detects this, t≧t, the digital data s3 becomes I=D as the data after the CB is opened.
..."" Dv50 ' Dv31...... Calculate the value of 30.
同様に第7図のソフト処理のステップF、の中のステッ
プf60屯流零クロス検出処理がない場合も可能である
。即ち、ステップf5にて装置出力検出後、すぐにステ
ラ7°f8へ進み、事故後の定常デー 。Similarly, it is also possible that step f60 of the torrent flow zero cross detection process in step F of the software process in FIG. 7 is not performed. That is, after detecting the device output in step f5, the process immediately proceeds to Stella 7° f8, and the steady state data after the accident is started.
りaサイクル出カ処理°を行なう。これらの例によれば
ソフト処理が簡単になる。Then perform a cycle output processing. These examples simplify software processing.
以上説明した例は、予じめ前記EMTP等で計算された
データを媒体(フロッピーディスク等)に格納し1その
後第3図のデータ入力部31を介してメモリ32に入力
する場合である。次にEAfrp 等で演算を行なう計
算機を直接メモリ32に接続し、入力媒体なしにEMT
P等で計算されたデータをメモリ32に格納することが
でき、又、各試験ケースの条件を適宜計算機に設定しう
る例を示す。The example described above is a case in which data calculated by the EMTP or the like is stored in advance on a medium (such as a floppy disk) and then input into the memory 32 via the data input section 31 in FIG. 3. Next, a computer that performs calculations such as EAfrp is directly connected to the memory 32, and EMT is performed without an input medium.
An example will be shown in which data calculated by P, etc. can be stored in the memory 32, and conditions for each test case can be set in the computer as appropriate.
第11図は本発明の他の実施例構成図である。FIG. 11 is a block diagram of another embodiment of the present invention.
入力部40は計算機41がEMTP等で過渡現象割算を
行なうのに必要な入力データS6(系統条件、初期値等
)を入力する部分で、具体的には紙カードのデータ又は
スイッチ等の状態を入力する。計算機41は前記EMT
Pの他、入力データを読み込む入力処理用プログラム
(通常用いらnるスイッチ等の読み込みプログラム)を
有する。そして、泪算機41は前記入力処理用プログラ
ム等を用いて入力データS6を入力し、該入力データs
6の示す条件のもとでEMTP等で過渡計算を行ない、
得られた電圧、電流データS7をメモリ32に出力する
。このメモリ32J:#)後段の構成は第3図と同じで
ある。ここで入力部40.計算機41、メモリ32、及
びデータコントロール部33をまとめて以下第1の装置
30Aと呼ぶ。又、データコントロール部のノフトL理
は第5図、第7図、又は第9図のいずれとも同じである
。The input unit 40 is a part into which input data S6 (system conditions, initial values, etc.) necessary for the calculator 41 to perform transient phenomenon division using EMTP etc. is inputted, and specifically, data on paper cards or the status of switches, etc. Enter. The computer 41 is the EMT
In addition to P, it has an input processing program (a program for reading normally used switches, etc.) that reads input data. Then, the calculator 41 inputs the input data S6 using the input processing program, etc., and inputs the input data s.
Perform transient calculations using EMTP etc. under the conditions shown in 6.
The obtained voltage and current data S7 are output to the memory 32. The configuration of the latter stage of this memory 32J:#) is the same as that shown in FIG. Here, the input section 40. The computer 41, memory 32, and data control section 33 are hereinafter collectively referred to as a first device 30A. Further, the noft L principle of the data control section is the same as that shown in FIG. 5, FIG. 7, or FIG. 9.
この例によれは保護継電装置の滅厚、において、従来の
模擬送電線設備の場合同様必要に応じて簡易に試験条件
の設定ができる。According to this example, test conditions can be easily set as necessary in the case of conventional simulated power transmission line equipment in the case of a protective relay device.
以上のレリは予じめ過渡計算されたデータをメモリ32
に格納する場合を示した。しかし、本発明はこれに限る
ものでな(、EMTP等による過渡現象解析の演算を直
接制御することにより、装置をよ・シ簡単化し、かつ試
験条件の設定から試験開始まで時間が短縮できる例を次
に示す。The above reli stores data that has been transiently calculated in advance in the memory 32.
The case where it is stored in is shown. However, the present invention is not limited to this. (By directly controlling calculations for transient phenomenon analysis using EMTP, etc., it is possible to simplify the equipment and shorten the time from setting test conditions to starting the test.) is shown below.
第12図は、本発明の更に他の実施例構成図である。第
12図と第11図とを比べて異なるのは、第12図には
メモリ32及びコントロール部33がないことである。FIG. 12 is a configuration diagram of still another embodiment of the present invention. The difference between FIG. 12 and FIG. 11 is that FIG. 12 does not have the memory 32 and the control unit 33.
計算機41は、入力部40のデータ、又は状態を入力し
て、その入力条件のもとでEMTP等で過渡現象計算を
行ない、その結果得られる電圧、電流データをデジタル
データS7として店ろ、変換部34へ直接出力する。又
、泪n機41は保護継電装@35の装置出力S5を入力
して該装置出力S5があるとき、過渡現象計算の条件を
変更して計算し、該条件での電圧・電流データをデノタ
ルデータS7としてい変換部34へ出力する。データ入
力部40と計算機41とをまとめて以下第1の装置30
Bと呼ぶ。The calculator 41 inputs the data or state of the input section 40, performs transient phenomenon calculations using EMTP, etc. under the input conditions, and stores and converts the resulting voltage and current data as digital data S7. output directly to section 34. In addition, the machine 41 inputs the device output S5 of the protective relay @35, and when there is the device output S5, it calculates by changing the conditions for transient phenomenon calculation, and converts the voltage and current data under the conditions into digital data. It is output to the converter 34 as S7. The data input section 40 and the computer 41 are collectively referred to as the first device 30.
Call it B.
第13図は1.第12図の構成例の場合のソフト処理を
示すフローチャートである。計算機41はEMTP等の
他、入力データS6及び装置出力S5の状態を読み込む
入力処理プログラム(通鹿のスイッチ等状態を入力する
ノログラム)を有す。ステップf、。は入力処理プログ
ラム等を用いて、入力データS6を読み込む処理である
。次にステップ”11は、前記人力データS6をもとに
前記EMTP等で過渡現象計算(1)を行なう処理であ
る。ステンff12はデータ出力(1)の処理であり、
前記ステップf11で得られた電圧・電流データ(事故
前データ、事故直後の過渡データ、事故後の定常データ
等)を出力する。ステップf15は前記入力処理プログ
ラムを用いて装置出力S5の状態を読み込む処理である
。Figure 13 shows 1. 13 is a flowchart showing software processing in the case of the configuration example of FIG. 12. FIG. In addition to EMTP, the computer 41 has an input processing program (a nologogram for inputting the states of switches, etc.) that reads the input data S6 and the state of the device output S5. Step f. is a process of reading input data S6 using an input processing program or the like. Next, step "11" is a process of performing transient phenomenon calculation (1) using the EMTP etc. based on the human data S6.Sten ff12 is a process of data output (1),
The voltage/current data (pre-fault data, transient data immediately after the fault, steady data after the fault, etc.) obtained in step f11 is output. Step f15 is a process of reading the state of the device output S5 using the input processing program.
次にステップf14は装置出力検出の11J定であり、
前記装置出力S5の11」(有)、「O」(無)の判定
を行なう。これが「1」のとき、装置出力有のためステ
ップf15へ進む。又、「0」のときは、装置用力無の
ためステップf11へ戻る。ステップfisは系統過渡
計算(2)の処理であり、保護tw電装置35の装置出
力S5が肩の条件でEMT P等で過渡現象計算を行な
う。ステップf16はデータ出力(2)の処理であり、
ステラff15で得られた電圧・■υILデータ(事故
後の定常データ、CB開放後のデータ等)を出力する。Next, step f14 is 11J constant of device output detection,
It is determined whether the device output S5 is "11" (present) or "O" (absent). When this is "1", there is an output from the device, so the process advances to step f15. If the value is "0", the process returns to step f11 because the device is not available. Step fis is a process of system transient calculation (2), in which a transient phenomenon calculation is performed by EMT P or the like under the condition that the device output S5 of the protection twin electric device 35 is the shoulder. Step f16 is data output (2) processing,
Outputs the voltage/■υIL data (steady data after an accident, data after opening the CB, etc.) obtained with Stella ff15.
この例によれば、試験装置が簡単になる他に、計算機4
1がリアルタイムに過渡現象計算を行なうので試験条件
の設定から試験開始までの時間が短縮できる。なお、計
算機41としては、リアルタイム処理が可能なような高
速の計算機を用いる。According to this example, in addition to simplifying the test equipment, the computer 4
1 calculates transient phenomena in real time, so the time from setting test conditions to starting the test can be shortened. Note that as the computer 41, a high-speed computer capable of real-time processing is used.
以上説明した例は、電圧1量、電流1量の場合であった
が、電圧及び電流の出力量を各々必要な数(例、電圧4
相分、電流4相分等)にすることも可能である。これは
第3図及び第11図の構成図におけるメモリ32内に必
要な出力量だけの数のデータを用−〇しておけばよい。The example explained above was a case of one voltage and one current, but the output amount of voltage and current is the required number (for example, voltage 4
It is also possible to divide the current into two phases, four-phase current, etc.). This can be done by storing as much data as the required output amount in the memory 32 in the block diagrams of FIGS. 3 and 11.
又、第12図では、計算機41にて必要な出力量を計算
により求めることは可能である。Further, in FIG. 12, it is possible to calculate the required output amount using the computer 41.
更に、前記D/A変換器34の出力を各入増幅して保護
継電装ff135に人力することや、=1記保護継電装
置35の入力S4及び出力S5を入力し、記録、表示す
る装置を付加すること等は本発明と従来技術との組み合
わせとして容易に実現できることはいう壕でもない。Furthermore, the output of the D/A converter 34 may be input and amplified and inputted to the protective relay device ff135, and the input S4 and output S5 of the protective relay device 35 described in 1 may be input, recorded, and displayed. It is not to say that adding the above can be easily realized as a combination of the present invention and the prior art.
以上説明した様に本発明には下記のよう々効果がある。 As explained above, the present invention has the following effects.
■ 従来の模擬送電線設備では模擬することが困難な複
雑な系統現象に対しても、汎用過渡現象解析グログラム
EMTP等による計算データを用いるので、容易に、か
つ高精度に模擬可能である。■ Even complex system phenomena that are difficult to simulate with conventional simulated power transmission line equipment can be simulated easily and with high accuracy because calculation data from general-purpose transient phenomenon analysis programs such as EMTP are used.
■ 保護継電装置の装置出力を用いて、該保護継電装置
への入力を変化させるのて・、系統事故時の保護継電装
置の応動、それによるしゃ断の開放へ更にしヤ断器開放
後の保護継電装置の応動の検証が可能である。■ By using the device output of the protective relay device to change the input to the protective relay device, the protective relay device responds in the event of a system fault, thereby opening the breaker. It is possible to verify the subsequent response of the protective relay device.
■ 装置出力とし中断器開放とのタイミングの模擬につ
いては、電流零クロス検出や、しゃ断器の開放に要する
時間相当の事故後定常データの出力等の方法により、高
精度にその応動が模擬可能である。■ Regarding the simulation of the timing of equipment output and interrupter opening, it is possible to simulate the response with high accuracy by methods such as current zero cross detection and output of post-fault steady data equivalent to the time required to open the circuit breaker. be.
第1図は、従来の模擬送電設備を示す図、第2図はデジ
タル処理装置を用いた従来の試験装置を示す図、第3図
は本発明の試験装置の一実施例ブロック構成図、第4図
は応動説明図、第5図は動作説明のためのフローチャー
ト、第6図は事故データのメモリ内への割付けを示す図
、第7図は本発明の他の実施例の処理を示すフローチャ
ート、第8図は、第7図に対する応動説明図、第9図は
本発明の更に他の実施例の処理を示すフローチャート、
第10図は、第9図に対する応動説明図、第11図は不
発明の更に他の実施例ブロック構成図、第12図は本発
明の更に他の実施例ブロック(−ρJM図、第13図は
、第12図の例の処I’llを示すフローチャートであ
る。
20.31.40・・・データ入力部 21132・・
・メモリ22.33・・・テータコントロール部23.
34・・・D/A変換部 24・・・増幅器25
・・・被保護リレー 41・・・計′3A−機
(7317)代理人 弁理士 則 近 憲 イ11(
ほか1名)
児1図
第2図
帛5図
第H図
3′0A
さO
ゴ4←
−hθFIG. 1 is a diagram showing a conventional simulated power transmission facility, FIG. 2 is a diagram showing a conventional test device using a digital processing device, and FIG. 3 is a block configuration diagram of an embodiment of the test device of the present invention. 4 is a diagram for explaining response, FIG. 5 is a flowchart for explaining operation, FIG. 6 is a diagram showing allocation of accident data in memory, and FIG. 7 is a flowchart showing processing of another embodiment of the present invention. , FIG. 8 is a response explanatory diagram for FIG. 7, and FIG. 9 is a flowchart showing processing of still another embodiment of the present invention.
10 is a response explanatory diagram for FIG. 9, FIG. 11 is a block diagram of still another embodiment of the invention, and FIG. 12 is a block diagram of still another embodiment of the present invention (-ρJM diagram, FIG. is a flowchart showing the process I'll in the example of FIG. 12. 20.31.40...Data input unit 21132...
・Memory 22.33... Data control section 23.
34...D/A conversion section 24...Amplifier 25
...Protected relays 41...Total '3A-machine (7317) Agent Patent attorney Nori Chika 11 (
(and 1 other person) Child 1 Figure 2 Figure 5 Figure H Figure 3'0A SaO Go4← -hθ
Claims (7)
導入する保護継電装置の試験装置において、初数の系統
市、気邦に関する定常状態、事故発生直後の過渡状態、
事故後の定常状態及びしゃ断器開放後の状態の各デジタ
ルデータを夫々記憶するメモリ回路と、前記メモリ回路
に格納された記1.ψデータを制御し、かつ被試験保腸
継雷1装置からの装置出力を入力したとき前記被試験保
護継電装置6′に対する出力データを変化させるデータ
コントロール回路と、前記データコントロール回路によ
って読出された各記憶データをアナログデータに変換し
て被試験保護継電装置に入力するデジタル・アナログ変
換器とをそなえ゛、被試験保獲継雷1装置からの装置出
力に応じて一連の試験が可能な保Hi a型装置1°の
試験装置。(1) In a test device for a protective relay device that simulates the current state of a gravity system and introduces it into the test equipment, the initial system state, the steady state regarding the current state, the transient state immediately after the occurrence of an accident,
A memory circuit that stores each digital data of the steady state after the accident and the state after the breaker is opened, and the information stored in the memory circuit.1. a data control circuit that controls the ψ data and changes the output data to the protective relay device 6' under test when the device output from the protective relay 1 device under test is input; Equipped with a digital-to-analog converter that converts each stored data into analog data and inputs it to the protection relay device under test, it is possible to perform a series of tests according to the device output from one protection relay device under test. Naho Hi A-type device 1° test equipment.
ラムによって計算されたデジタルデータを記憶せしめる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の保護継電
装置°の試験装置。(2) The test device for a protective relay device according to claim 1, wherein the memory circuit stores digital data calculated in advance by a general-purpose transient phenomenon analysis algorithm.
により汎用過渡現象解析プログラムを用いて辺1渡現象
計算を行ない、系統電気量に関するデジタルデータを作
成することを特徴とする特許言1〜求の範囲第1項記載
の保護継電装置の試験装置。(3) Patent claims 1 to 1, which are characterized in that by providing a calculation ladder in the front stage of the memory circuit, one-sided phenomenon calculation is performed using a general-purpose transient phenomenon analysis program, and digital data regarding the amount of grid electricity is created. A test device for a protective relay device according to item 1.
れたとき、被試験保護継電装置に対する出力データを事
故データがらしゃ断器開放後データへ変化させることを
特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項又は第3項
記載の保護継電装置の試験装置。(4) When the tri-tone output from the protective relay device under test is derived, the output data for the protective relay device under test is changed from accident data to data after the breaker is opened. A test device for a protective relay device according to paragraph 1, paragraph 2, or paragraph 3.
れ、前記トリップ出方導出後の電流データの零クロスの
検出時、被試験保護継電、装置に対する出力データを事
故データからしゃ断器開放後データへ変化させることを
特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項又は第3項
記載の保持継電装置の試験装置。(5) The trip output of the protective relay device under test is derived, and when a zero cross of the current data is detected after the trip output is derived, the output data for the protective relay and device under test is determined from the accident data to open the breaker. A test device for a holding relay device according to claim 1, 2, or 3, characterized in that the test device changes to a later data.
又は電、流データの零りロス検出佐、被試験保護継電装
置に対して、事故データを所定時間出力した後にしゃ断
器開放後データへ変化させることを特徴とする特許請求
の範囲第4項又は第5項記載の保護継電装置の試験装置
。(6) After deriving the trisozoelectric output from the protective relay device under test or detecting a spill loss of current or current data, after outputting fault data for a predetermined period of time to the protective relay device under test, and after opening the breaker. A test device for a protective relay device according to claim 4 or 5, characterized in that the test device changes the data to data.
する保護継電装置の試験装置において、複数の系統電気
量に関する定常状態、事故発生直後の過渡状態、事故後
の定常状態及びしゃ回器開放後の状態の各デジタルデー
タを演算する4知能と、前記各デジタルデータを制御し
かつ被試験保護継電装置からの装置出力を入力したとき
前記被試験保護継電装置に対する出力データを変化させ
るデータコントロール機能とを夫々有する計7J−eと
、前記計算機からのデジタルデータをアナログデータに
変換して被試験保護継電装置に入力するデジタルアナロ
グ変換器とをそなえ、上記計算機は前記被試験保護継電
装置の装置出力導出前にあっては、定常状態、律故発生
直後の過渡状態及び事故後の定常状態に相当する電1圧
、電謹データを出力する第1の系統過渡計算機能を有す
ると共に、前記装置出力導出後にあっては、事故後の定
常状態及びしゃ断器開放後の状態に相当する電圧、電流
データを出力する第2の系統過渡計n機能を有すること
を特徴とする保0継電装uら″の試験数β。(7) In a test device for a protective relay device that simulates the amount of electricity in a power system and introduces it into the relay under test, it is possible to perform a steady state, a transient state immediately after an accident, a steady state after an accident, and a 4 intelligence that calculates each digital data in the state after the circuit is opened; and 4 intelligence that controls each digital data and calculates the output data to the protective relay device under test when the device output from the protective relay device under test is input. The computer is equipped with a total of 7J-e each having a data control function to change data, and a digital-to-analog converter that converts digital data from the computer into analog data and inputs it to the protective relay device under test. Before deriving the device output of the test protective relay device, the first system transient calculation is performed to output voltage and voltage data corresponding to the steady state, the transient state immediately after the fault occurs, and the steady state after the fault. and a second system transient meter function that outputs voltage and current data corresponding to a steady state after an accident and a state after the breaker is opened after deriving the device output. The number of tests β for the maintenance relay system u et al.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57218299A JPS59110320A (en) | 1982-12-15 | 1982-12-15 | Tester for protecting relaying device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57218299A JPS59110320A (en) | 1982-12-15 | 1982-12-15 | Tester for protecting relaying device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59110320A true JPS59110320A (en) | 1984-06-26 |
JPH0227886B2 JPH0227886B2 (en) | 1990-06-20 |
Family
ID=16717655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57218299A Granted JPS59110320A (en) | 1982-12-15 | 1982-12-15 | Tester for protecting relaying device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59110320A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5032944A (en) * | 1989-01-12 | 1991-07-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Membrane type magnetic head |
KR20180084079A (en) * | 2015-11-10 | 2018-07-24 | 오미크론 일렉트로닉스 게엠바하 | Battery operated relay test device 2 |
US10746800B2 (en) | 2015-11-10 | 2020-08-18 | Omicron Electronics Gmbh | Accumulator operated relay test device 1 |
-
1982
- 1982-12-15 JP JP57218299A patent/JPS59110320A/en active Granted
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5032944A (en) * | 1989-01-12 | 1991-07-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Membrane type magnetic head |
KR20180084079A (en) * | 2015-11-10 | 2018-07-24 | 오미크론 일렉트로닉스 게엠바하 | Battery operated relay test device 2 |
US10746801B2 (en) | 2015-11-10 | 2020-08-18 | Omicron Electronics Gmbh | Battery operated relay test device 2 |
US10746800B2 (en) | 2015-11-10 | 2020-08-18 | Omicron Electronics Gmbh | Accumulator operated relay test device 1 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0227886B2 (en) | 1990-06-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kezunovic et al. | Design, modeling and evaluation of protective relays for power systems | |
Tatcho et al. | A novel hierarchical section protection based on the solid state transformer for the future renewable electric energy delivery and management (FREEDM) system | |
KR102245440B1 (en) | fault simulator for protection relay and method | |
Li et al. | An integrated online dynamic security assessment system for improved situational awareness and economic operation | |
Scheibe et al. | Real time co-simulation of electromechanical and electromagnetic power system models | |
Ren et al. | Modeling and simulation tools for teaching protective relaying design and application for the smart grid | |
Williams et al. | Method of using data from computer simulations to test protection equipment | |
Kowalik et al. | Laboratory testing of process bus equipment and protection functions in accordance with IEC 61850 standard. Part I: Electrical arrangement and basic protection functions tests | |
Zhou et al. | Large-scale hybrid real time simulation modeling and benchmark for nelson river multi-infeed HVdc system | |
Sachdev et al. | A laboratory for research and teaching of microprocessor-based power system protection | |
JPS59110320A (en) | Tester for protecting relaying device | |
CN111030038A (en) | Power system relay protection setting value checking method | |
Liu et al. | Hardware-in-the-loop relay testing in dominion's blackstart plan | |
Kezunovic et al. | Digital simulator performance requirements for relay testing | |
Rudež et al. | Overcurrent protection relay testing with Real Time Digital Simulator hardware | |
Monemi et al. | A Model of System Protection in IEEE 14-bus Power Grid | |
Henville et al. | Dynamic simulations challenge protection performance | |
Paspatis et al. | Advanced hardware-in-the-loop testing chain for investigating interactions between smart grid components during transients | |
Farias et al. | Microgrid protection testing using a relay-hardware-in-the-loop testbed | |
Etezadi-Amoli | On underfrequency load shedding schemes | |
Buchholz et al. | Advanced solutions for power system analysis-computer study and real-time simulation | |
Samanta et al. | Simulation and postmortem analysis of angeles forest disturbance event | |
Melo et al. | Testing a Non-directional Overcurrent Protection Relay: Power-Hardware-in-The Loop Approach | |
Ramanathan et al. | The hybrid model: a novel approach for transitioning from the bus-branch/planning to the node-breaker/operation system model | |
Rocha‐Doria et al. | Design and implementation of a real‐time monitoring tool for power engineering education |