JPS5910835A - カ−ス分光法を用いた水素濃度定量分析方法 - Google Patents
カ−ス分光法を用いた水素濃度定量分析方法Info
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- JPS5910835A JPS5910835A JP11963682A JP11963682A JPS5910835A JP S5910835 A JPS5910835 A JP S5910835A JP 11963682 A JP11963682 A JP 11963682A JP 11963682 A JP11963682 A JP 11963682A JP S5910835 A JPS5910835 A JP S5910835A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/65—Raman scattering
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はカース分光法を用いた水素濃度定量分析方法
および装置に関する。
および装置に関する。
カース分光法は、高出力レーザおよびダイレーザの発達
にともなって進歩してきた非線形ラマン分光法の１橿で
、通常のラマン分光法と比較して１０−５倍程度の検出
感度を有していることからしてその応用面に多くの期待
がもたれている。
にともなって進歩してきた非線形ラマン分光法の１橿で
、通常のラマン分光法と比較して１０−５倍程度の検出
感度を有していることからしてその応用面に多くの期待
がもたれている。
このカース分光法の原理を簡単に説明すると次のように
なる。第１図に示すように物質（ラマン活性分質） Ｒ
Ｍに振動数ωヨの励起レーザ光と、物質ＲＭのストーク
ス光と同じ振動数（ストークス振動数）ω、（＝ω、−
〇、。ただしΩは物質ＲＭの分子の固有振動数）のレー
ザ光とを合せて照射すると、物質ＲＭの反ストークス光
（振動数ω、−ω１＋Ω）が共鳴的に極めて強力、かつ
ビーム状に発生する。この現象は第２図のエネルギーダ
イアダラムに示すように４光子過程としてとらえること
ができる。−またこのときの反ス［−ジス光の強度Ｉ、
は Ｉ、ｔｘ■、’・ゞ■２ ・Ｎ２ ・・・・・・・
・（１）（ただし、Ｎは物質ＲＭの密度、Ｉ＋は振動数
ω１のレーデ光の強度、■、は振動数ω、のレーザ光の
強度） で与えられる。したがって上記反ス）−ジス光の強度■
８を検出すれば物質ＲＭｌ／）＃度を検出することがで
きる。
なる。第１図に示すように物質（ラマン活性分質） Ｒ
Ｍに振動数ωヨの励起レーザ光と、物質ＲＭのストーク
ス光と同じ振動数（ストークス振動数）ω、（＝ω、−
〇、。ただしΩは物質ＲＭの分子の固有振動数）のレー
ザ光とを合せて照射すると、物質ＲＭの反ストークス光
（振動数ω、−ω１＋Ω）が共鳴的に極めて強力、かつ
ビーム状に発生する。この現象は第２図のエネルギーダ
イアダラムに示すように４光子過程としてとらえること
ができる。−またこのときの反ス［−ジス光の強度Ｉ、
は Ｉ、ｔｘ■、’・ゞ■２ ・Ｎ２ ・・・・・・・
・（１）（ただし、Ｎは物質ＲＭの密度、Ｉ＋は振動数
ω１のレーデ光の強度、■、は振動数ω、のレーザ光の
強度） で与えられる。したがって上記反ス）−ジス光の強度■
８を検出すれば物質ＲＭｌ／）＃度を検出することがで
きる。
とこ５うで、このカース分光法による検出光は、実際に
は励起レーザ光の強度の変動や光学系の条件等で大きく
変動するため、従来のカース分光法を用いた定量分析装
置（濃度測定装置）は既知の基準物質が入れられている
レファレンスセルからの信号を基準として被測定系から
の信号強度を補正し、これによって濃度を測定するよう
にしている。そして被測定物質の信号強度を基準物質の
信号強度を同時に測定するためには基準物質としてラマ
ン波数（ストークス振動数に対応する）が被測定物質の
近傍（８０Ｌ：ｒｎ−１の範囲内）にあることが要求さ
！しる。
は励起レーザ光の強度の変動や光学系の条件等で大きく
変動するため、従来のカース分光法を用いた定量分析装
置（濃度測定装置）は既知の基準物質が入れられている
レファレンスセルからの信号を基準として被測定系から
の信号強度を補正し、これによって濃度を測定するよう
にしている。そして被測定物質の信号強度を基準物質の
信号強度を同時に測定するためには基準物質としてラマ
ン波数（ストークス振動数に対応する）が被測定物質の
近傍（８０Ｌ：ｒｎ−１の範囲内）にあることが要求さ
！しる。
かかるカース分光法を用い−Ｃ水素濃度を測定する場合
を考えると水素分子は振動準位が４１６９ｃｎｒ−１と
他の物質と比較して非常に高いため上６己条件を満足す
る適当な基準分質は存在せず、基準物質を用いて測定す
ることはできなかった。基準物質による補正を行わない
と測定値は励起レーザ光の強度の変動や光学系の条件を
含んだものとなり、精度において問題があった。
を考えると水素分子は振動準位が４１６９ｃｎｒ−１と
他の物質と比較して非常に高いため上６己条件を満足す
る適当な基準分質は存在せず、基準物質を用いて測定す
ることはできなかった。基準物質による補正を行わない
と測定値は励起レーザ光の強度の変動や光学系の条件を
含んだものとなり、精度において問題があった。
この発明は上述した点に鑑みて在されたもので、畠精度
の水素濃度が測定可能彦カース分光法を用いた水素濃度
測定方法を提供することを目的とする。
の水素濃度が測定可能彦カース分光法を用いた水素濃度
測定方法を提供することを目的とする。
この発明によれば、水素の振動準位に代えて回転準位を
利用ｌ〜で水素濃度を測定することを提案する、一般に
物質の濃度測定にカース分光法を用いる場合には被測定
物質の振動準位で生じる反ストークス光を利用している
。しかし、＆動準位で生じる反スト−クス光よりは信号
強度が弱いが回転準位でも同様に反ストークス光がカー
ス分光法において発生することが知られている。この回
転勇位での反ストークス光は振動準位の反ストークス光
と比較してかなり低波数側に生じる。そこでこの発明で
はカース分光法を用いた水素濃度の測定方法において、
１ｕ転準位の反ストークス光を用いている。これによっ
て所定の条件を満足した基準物質を選択することができ
、水素濃度の測定を高精度で行うことができる。
利用ｌ〜で水素濃度を測定することを提案する、一般に
物質の濃度測定にカース分光法を用いる場合には被測定
物質の振動準位で生じる反ストークス光を利用している
。しかし、＆動準位で生じる反スト−クス光よりは信号
強度が弱いが回転準位でも同様に反ストークス光がカー
ス分光法において発生することが知られている。この回
転勇位での反ストークス光は振動準位の反ストークス光
と比較してかなり低波数側に生じる。そこでこの発明で
はカース分光法を用いた水素濃度の測定方法において、
１ｕ転準位の反ストークス光を用いている。これによっ
て所定の条件を満足した基準物質を選択することができ
、水素濃度の測定を高精度で行うことができる。
以下、この発明の一実施例を添付図面を参照して詳卸Ｉ
Ｋ説明する。
Ｋ説明する。
第３図はこの発明を実施する測定系の１例を示しだもの
で、セルＡは被測定物質である水素を含む被測定物質充
填用のセル、セルＢは基準物質充填用のセルである。こ
の実施例では励起用レーザ光としてＹＡＧレーザ光（波
長５３２ ｎｍ ） ＹＡＧを用い、この励起用レーザ
光ＹＡＧとともに測定系に加える他のレーザ光として水
素の回転準位でのストークス光の波長を含む広帯域のダ
イレーデ光Ｉ）ｙｅを用いる。またセルＢに充填される
基準物質としてハＣ２Ｈ６（エタン）ガス−１ｆｃ ハ
Ｃ６Ｈ６（ベンゼン）ガスが用いられる。このエタンガ
スおよびベンゼンガスのラマン波数を水素のラマン波数
との関係のもとに表に示すと、第１表のようになる。
で、セルＡは被測定物質である水素を含む被測定物質充
填用のセル、セルＢは基準物質充填用のセルである。こ
の実施例では励起用レーザ光としてＹＡＧレーザ光（波
長５３２ ｎｍ ） ＹＡＧを用い、この励起用レーザ
光ＹＡＧとともに測定系に加える他のレーザ光として水
素の回転準位でのストークス光の波長を含む広帯域のダ
イレーデ光Ｉ）ｙｅを用いる。またセルＢに充填される
基準物質としてハＣ２Ｈ６（エタン）ガス−１ｆｃ ハ
Ｃ６Ｈ６（ベンゼン）ガスが用いられる。このエタンガ
スおよびベンゼンガスのラマン波数を水素のラマン波数
との関係のもとに表に示すと、第１表のようになる。
第 １ 表
表から明らかのように基準物質として用いるエタンガス
−またはベンゼンガスは、水素の振動準位でのラマン波
数と比較して大きく異っているが回転準位でのラマン波
数と比較してみると所定の範囲（８０ｃｒｎ’以内）に
入っている。
−またはベンゼンガスは、水素の振動準位でのラマン波
数と比較して大きく異っているが回転準位でのラマン波
数と比較してみると所定の範囲（８０ｃｒｎ’以内）に
入っている。
ＹＡＧレーザ光ＹＡＧはミラー１２で反射されてダイク
ロイックミラー１３に専かれ、またダイレーザ光１）ｙ
ｅはダイクロイックミラー１３にＹＡＧレーザ光ＹＡＧ
と直角な方向から加えられる。ダイクロイックミラー１
３はＹＡＧレーザ光ＹＡＧを反射させるとともにダイレ
ーザ光Ｄｙｅを透過させるもので、ＹＡＧレーザ光ＹＡ
Ｇとダイレーザ光Ｄｙｅはこのグイクロイックミラー１
３により合成される。この合成−Ｘ ハレンズ１４、セ
ルＡルンズ１５、レンズ１６、セルＢルンズ１７、プリ
ズム１８を介して分光器１９に加えられ、デテクタ１９
ａによって検出される。ここでデテクタ１９ａは分光器
１９によって受光された光を各波長毎にそれぞれ異なる
チャンネルで同時に検出するいわゆるマルチチャンネル
のデテクタが用いられる。なお、レンズ１４．１５，１
６．１７はレーデ光収束用または再収束用または再収束
用のレンズで、レーデ光の収束性が保たれるのであれは
必ずしも必要ではない。
ロイックミラー１３に専かれ、またダイレーザ光１）ｙ
ｅはダイクロイックミラー１３にＹＡＧレーザ光ＹＡＧ
と直角な方向から加えられる。ダイクロイックミラー１
３はＹＡＧレーザ光ＹＡＧを反射させるとともにダイレ
ーザ光Ｄｙｅを透過させるもので、ＹＡＧレーザ光ＹＡ
Ｇとダイレーザ光Ｄｙｅはこのグイクロイックミラー１
３により合成される。この合成−Ｘ ハレンズ１４、セ
ルＡルンズ１５、レンズ１６、セルＢルンズ１７、プリ
ズム１８を介して分光器１９に加えられ、デテクタ１９
ａによって検出される。ここでデテクタ１９ａは分光器
１９によって受光された光を各波長毎にそれぞれ異なる
チャンネルで同時に検出するいわゆるマルチチャンネル
のデテクタが用いられる。なお、レンズ１４．１５，１
６．１７はレーデ光収束用または再収束用または再収束
用のレンズで、レーデ光の収束性が保たれるのであれは
必ずしも必要ではない。
第４図は、第３図に示した装置による測定例を示したも
のである。このグラフは横軸に波長を示し、縦軸に信号
強度を示す。第４図に示すグラフにおいて、ピーク（〜
は水素Ｈ２の回転準位によるものである。丑たピーク（
Ｂ）は基準物質によるものである。このピーク（〜と（
Ｂ）の強度比から被測定物質の水素濃度を知ることがで
きる。なお絶対譲ｌ屍の校正は、別の方法で測定した強
度既知の被測定物質を用いて基準物質との比を測定し、
この比を基準として行う。
のである。このグラフは横軸に波長を示し、縦軸に信号
強度を示す。第４図に示すグラフにおいて、ピーク（〜
は水素Ｈ２の回転準位によるものである。丑たピーク（
Ｂ）は基準物質によるものである。このピーク（〜と（
Ｂ）の強度比から被測定物質の水素濃度を知ることがで
きる。なお絶対譲ｌ屍の校正は、別の方法で測定した強
度既知の被測定物質を用いて基準物質との比を測定し、
この比を基準として行う。
第５図は、シラン〃゛ス５ｔＨ４中でのプラズマ放電に
よる水素濃度の変化を測定する装置にこの発明を適用し
た場合の一実施例を示したものである。
よる水素濃度の変化を測定する装置にこの発明を適用し
た場合の一実施例を示したものである。
プラズマチャンバー２０には弁２１を介してシランガス
５ＩＨ４が充填される。そしてこのときのシランガス５
ＩＨ４の絶対圧が圧力計２２によって計測される。なお
電極２３ａ、２３ｂｌｄ：プラズマ用電極、弁２４はプ
ラズマチャンバー２０内のガス排出用の弁である。また
レファレンスセル２５にはｃｏボンベ２６から弁２７．
２８を介して基準物質であるエタンガスまたはベンゼン
ガス力充填される。
５ＩＨ４が充填される。そしてこのときのシランガス５
ＩＨ４の絶対圧が圧力計２２によって計測される。なお
電極２３ａ、２３ｂｌｄ：プラズマ用電極、弁２４はプ
ラズマチャンバー２０内のガス排出用の弁である。また
レファレンスセル２５にはｃｏボンベ２６から弁２７．
２８を介して基準物質であるエタンガスまたはベンゼン
ガス力充填される。
この状態でレーデ光（ＹＡＧレーザ光ＹＡＧとダイレー
ザ光ＤＹＣの合成合光）ω１＋ω２をレンズ２９で収束
してプラズマチャンバー２０内に照射し、プラズマチャ
ンバー２０を通過した光をレンズ３゜で再収束させてレ
ファレンスセル２５に照射シ、レファレンスセル２５を
通過し、レンズ３１で収束された光のうち反ストークス
光に関するものはダイクロイ、クミラー３２でレーザ光
ω、十ω、と分離され図示しない分光器に導かれる。分
光器ではマルチチャンネルで各波長毎の受光強度を測定
することにより第５図に示すようなグラフを得る。
ザ光ＤＹＣの合成合光）ω１＋ω２をレンズ２９で収束
してプラズマチャンバー２０内に照射し、プラズマチャ
ンバー２０を通過した光をレンズ３゜で再収束させてレ
ファレンスセル２５に照射シ、レファレンスセル２５を
通過し、レンズ３１で収束された光のうち反ストークス
光に関するものはダイクロイ、クミラー３２でレーザ光
ω、十ω、と分離され図示しない分光器に導かれる。分
光器ではマルチチャンネルで各波長毎の受光強度を測定
することにより第５図に示すようなグラフを得る。
このときの被測定物質（Ｈ２）と基準物質（Ｃ２Ｈ５ま
たはＣ６Ｈ６）のピーク比が以下の水素濃度測定の基準
となる。
たはＣ６Ｈ６）のピーク比が以下の水素濃度測定の基準
となる。
次にゾラズマチャンノＺ−２０の電極２３ａ、２３ｂ間
で放′酸を起し、このときの被測定物質（Ｈ２）と基準
物質（Ｃ２Ｈ５またはＣ６Ｈ６）ピーク比を測定する。
で放′酸を起し、このときの被測定物質（Ｈ２）と基準
物質（Ｃ２Ｈ５またはＣ６Ｈ６）ピーク比を測定する。
ところでプラズマチャンバー内の水氷濃度は放電により
変化するがレファレンスセル内のＣ２Ｈ５まだはＣ６Ｈ
６＃度は変化していない。したがって上記ピーク比から
水素濃度変化を測定することができる。
変化するがレファレンスセル内のＣ２Ｈ５まだはＣ６Ｈ
６＃度は変化していない。したがって上記ピーク比から
水素濃度変化を測定することができる。
なお上記実施例ではシランガス中でのプラズマ放電中に
おける水素濃度の変化の測定にこの発明を適用した場合
を示したが、これはあくまでも１例を示したもので、こ
の発明は独々の定量分析分野に適用できることを理解す
べきである。例えばエンジン内の燃焼過程の水＊＃朋の
定量的分析にもこの弁明ば廟′効である。
おける水素濃度の変化の測定にこの発明を適用した場合
を示したが、これはあくまでも１例を示したもので、こ
の発明は独々の定量分析分野に適用できることを理解す
べきである。例えばエンジン内の燃焼過程の水＊＃朋の
定量的分析にもこの弁明ば廟′効である。
また第３図、第５図にも示した実施例においていずれも
入力レーザ光に対して被測定物質系（セルＡ筐たは！ラ
ズマチャンパー２０）、基準物質系（セルＢまたはレフ
ァレンスセル２５）の順ニ配設したが、この逆にしても
よい。すなわち入力レーデ光がまず基準物質系を通り、
次に被測定物質系に入力するように構成してもよい。
入力レーザ光に対して被測定物質系（セルＡ筐たは！ラ
ズマチャンパー２０）、基準物質系（セルＢまたはレフ
ァレンスセル２５）の順ニ配設したが、この逆にしても
よい。すなわち入力レーデ光がまず基準物質系を通り、
次に被測定物質系に入力するように構成してもよい。
まだこの発明で用いる基準物質としてはラマン振動数が
回転準位における水素のラマン振動数に充分近いもの（
励起レーザ光とともに加える他のレーデ光でカバーでき
るもの）であればいかなるものでも使用できる。
回転準位における水素のラマン振動数に充分近いもの（
励起レーザ光とともに加える他のレーデ光でカバーでき
るもの）であればいかなるものでも使用できる。
以上説明したようにこの発明によれば水素＃度金高鞘度
で測定することができ、また同転準位でのラマン振動数
を用いているので測定周波数は低周波数側に移行し測定
が容易になるという効果がある。
で測定することができ、また同転準位でのラマン振動数
を用いているので測定周波数は低周波数側に移行し測定
が容易になるという効果がある。
第１図、第２図１はこの発明で用いるカース分光法の原
理を説明する図、第３図はこの発明の一実施例を説明す
る図、第４図はこの発明による測定例を示すグラフ、第
５図はこの発明の他の実施例を示す図である。 １２・・・ミラー、１３．３２・・・ダイクロイ、クミ
ラー、１９・・・分光器、２０・・・ノラズマチャンパ
ー、２５・・・レファレンスセル、Ａ、Ｂ・・・セル。 第１図 第２図 」゛ミ絖、？＋ｔｌｉ 、ｉｌ＝ 糊１．事（！ｌの
表示 昭和５７年特ＦＦ願第１１９６３６号 １、発明の名称 カース分）Ｙ法を用いＩこ水索淵度定量分析方法ご〕、
補正をする菖 小１′ｌどの関係 １ず■許出願人 （１２３） 株式会ネ１小松製作所 １、代理人 （〒１０４）東京都中央区銀座２丁目１１番２月銀座人
作ヒル６階 電話０３−５４５−３５０８ （代表）６
、補正の内容 （１）本願の明細書、第２ページ第９行のｒｌＯ−’倍
、ＪをｒｌＯ倍」に＝Ｊ圧する。 （２）同、第８ページ第１２行の「ＣＯボ」を「ガスボ
」に訂正する。 （３）同、第９ページ第５竹の「第５図」全「第４図」
に訂正する。 （４）本願の明細書に添付した図面の第１図及び第５図
を別紙の通り訂正する。
理を説明する図、第３図はこの発明の一実施例を説明す
る図、第４図はこの発明による測定例を示すグラフ、第
５図はこの発明の他の実施例を示す図である。 １２・・・ミラー、１３．３２・・・ダイクロイ、クミ
ラー、１９・・・分光器、２０・・・ノラズマチャンパ
ー、２５・・・レファレンスセル、Ａ、Ｂ・・・セル。 第１図 第２図 」゛ミ絖、？＋ｔｌｉ 、ｉｌ＝ 糊１．事（！ｌの
表示 昭和５７年特ＦＦ願第１１９６３６号 １、発明の名称 カース分）Ｙ法を用いＩこ水索淵度定量分析方法ご〕、
補正をする菖 小１′ｌどの関係 １ず■許出願人 （１２３） 株式会ネ１小松製作所 １、代理人 （〒１０４）東京都中央区銀座２丁目１１番２月銀座人
作ヒル６階 電話０３−５４５−３５０８ （代表）６
、補正の内容 （１）本願の明細書、第２ページ第９行のｒｌＯ−’倍
、ＪをｒｌＯ倍」に＝Ｊ圧する。 （２）同、第８ページ第１２行の「ＣＯボ」を「ガスボ
」に訂正する。 （３）同、第９ページ第５竹の「第５図」全「第４図」
に訂正する。 （４）本願の明細書に添付した図面の第１図及び第５図
を別紙の通り訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） 水素を営む被測定物質が充填された第１の系
と基準物質が充填された第２の系に励起用の第１のレー
ザ光と前記被測定物質および前記基準物質のストークス
振動数をともに含む第２のレーデ光とを合せて加え、前
記第１の系および第２の系から放出された前記被測定物
質に対応するレーザ光と前記基準物質に対応するレーデ
光との強度比から前記被測定物質の水素濃度を検出する
ようｉｃしたカース分光法を用いた水素濃度定量分析方
法において、前記ストークス振動数は水素の回転卓（２
）前記基準物質はエタンガスである特許請求の範囲第（
１）項記載のカース分光法を用いた水素濃度定量分析方
法。 （３） 前記標準物質はベンゼンガスである特許請求
の範囲第（１）項記載のカース分光法を用いた水素濃度
定量分析方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11963682A JPS5910835A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | カ−ス分光法を用いた水素濃度定量分析方法 |
| GB08307878A GB2120779B (en) | 1982-03-31 | 1983-03-22 | Quantitative analysis in accordance with cars |
| DE19833311335 DE3311335A1 (de) | 1982-03-31 | 1983-03-29 | Messmethode und vorrichtung zur quantitativen analyse nach dem prinzip der kohaerenten-anti-stokes-raman-spektroskopie |
| FR8305130A FR2524635A1 (fr) | 1982-03-31 | 1983-03-29 | Procede et appareil d'analyse quantitative conformement au principe dit de " spectroscopie raman anti-stokes coherente " |
| US06/480,482 US4573792A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Method of and apparatus for quantitative analysis in accordance with CARS |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11963682A JPS5910835A (ja) | 1982-07-09 | 1982-07-09 | カ−ス分光法を用いた水素濃度定量分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5910835A true JPS5910835A (ja) | 1984-01-20 |
Family
ID=14766348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11963682A Pending JPS5910835A (ja) | 1982-03-31 | 1982-07-09 | カ−ス分光法を用いた水素濃度定量分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5910835A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005015183A1 (ja) * | 2003-08-08 | 2005-02-17 | Shikoku Research Institute Incorporated | 水素ガス及び水素火炎監視方法及び装置 |
-
1982
- 1982-07-09 JP JP11963682A patent/JPS5910835A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005015183A1 (ja) * | 2003-08-08 | 2005-02-17 | Shikoku Research Institute Incorporated | 水素ガス及び水素火炎監視方法及び装置 |
| JPWO2005015183A1 (ja) * | 2003-08-08 | 2006-10-05 | 株式会社四国総合研究所 | 水素ガス及び水素火炎監視方法及び装置 |
| US7505126B2 (en) | 2003-08-08 | 2009-03-17 | Shikoku Research Institute Incorporated | Method and device for monitoring hydrogen gas and hydrogen flame |
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