JPS5885143A - Heating control device for atomic absorption analysis - Google Patents

Heating control device for atomic absorption analysis

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JPS5885143A
JPS5885143A JP18260281A JP18260281A JPS5885143A JP S5885143 A JPS5885143 A JP S5885143A JP 18260281 A JP18260281 A JP 18260281A JP 18260281 A JP18260281 A JP 18260281A JP S5885143 A JPS5885143 A JP S5885143A
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temperature
current
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reference voltage
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JP18260281A
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Kikuo Sasaki
佐々木 菊夫
Kenji Kawasaki
健治 川崎
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/74Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces

Abstract

PURPOSE:To obtain heating characteristics that have good reproductivity by providing a circuit means to calibrate the output of a current sensor for temperature control in the stages of drying and ashing by means of output of a temperature sensor for temperature control in the stage of atmizing. CONSTITUTION:The output from a temperature sensor for a heating furnace is compared with a reference voltage Vr that corresponds to the maximum temperature of the heating furnace by means of a comparator 30 via a preamplifier 18. When the output exceeds the reference voltage Vr, a display device 31 is lighted to display, and when it is equal to Vr, it flickers. The output Vi of an electric current sensor for furnace heating current is inputted to an error amplifier 20 via a preamplifier 15 and a change-over switch 19, and compared with a reference voltage Er (Er=Vr) from a temperature programmer 21 and the heating current is controlled by the difference of the outputs. The output Vt of the preamplifier 18 is compared with Er in the same way by changing over the switch 19 to the B side. If Vi is not equal to Vt, the gain regulator 32 is adjusted to control the heating current until the display device 32 flickers. Accordingly heating characteristics with good reproductivity are obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は原子吸光分析用加熱制御装置、特にフレーム
レス原子吸光分析装置の原子吸光分析用加熱制御装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a heating control device for atomic absorption spectrometry, and particularly to a heating control device for atomic absorption spectrometry in a frameless atomic absorption spectrometer.

フレームレスの原子吸光分析装置には、ジュール熱やア
ーク熱により試料を加熱し原子化するものがある。第1
図にジュール熱を用いたフレームレス原子吸光分析装置
の原理図を示している。このフレームレス原子吸光分析
装置は、加熱用のチューブ、たとえばグラファイト・チ
ューブ1に圧入口2より試料5を注入し、加熱電源4よ
りグラファイトチューブ1に試料加熱用の°電流を流す
Some flameless atomic absorption spectrometers use Joule heat or arc heat to heat a sample and atomize it. 1st
The figure shows the principle of a flameless atomic absorption spectrometer that uses Joule heat. In this flameless atomic absorption spectrometer, a sample 5 is injected into a heating tube, such as a graphite tube 1, through an inlet 2, and a current for heating the sample is passed through the graphite tube 1 from a heating power source 4.

この電流値を制御することにより、試料6は乾燥・灰化
・原子化の3段階に加熱されて1分解・原子化される。
By controlling this current value, the sample 6 is heated in three stages: drying, ashing, and atomization, and is decomposed and atomized.

原子化されると、ホーローカソードランプ5からの光が
吸収されるので1分光器6を経た光束より吸光量を測定
することにより元素の定量が行なわれる。この場合、グ
ラファイト・チューブ1の加熱温度は、定量すべき目的
元素の種類や試料の性質により最適に制御される必要が
ある。
When atomized, the light from the hollow cathode lamp 5 is absorbed, and the amount of light absorbed is measured from the light flux passing through the spectroscope 6 to quantify the element. In this case, the heating temperature of the graphite tube 1 needs to be optimally controlled depending on the type of target element to be quantified and the properties of the sample.

そのためグラファイトチューブ1の近傍に温度センサ7
を配し、グラファイト・チューブ1の温度全検出し、加
熱温度を制御可能なようにしている。
Therefore, the temperature sensor 7 is installed near the graphite tube 1.
is arranged so that the entire temperature of the graphite tube 1 can be detected and the heating temperature can be controlled.

このようなフレームレヌ原子吸光分析装置において、原
子吸光分析の信頼性を増すために、多くの考慮する要素
かあるが、加/4’、tin Jiの再現性確保もその
1つである。
In such a flame Rene atomic absorption spectrometer, there are many factors to consider in order to increase the reliability of atomic absorption spectrometry, and ensuring reproducibility of addition/4' and tin Ji is one of them.

しかしながら従来のフレームレスの原子吸光分析用加熱
制御装置のあるものは、1個の温度センサ出力で乾燥・
灰化・原子化の各段階、すなわち0°〜3000’Cま
での加重温度全制御することが困難なところから温度セ
ンサの他に、加熱電源の電流を検出する篭びEセンサを
設け、乾燥・灰化の低温加熱頭載では、この電流センサ
により加熱電源の電流を検出し、@出重流に応じた信号
を加熱′電源に帰還して力[1熱制御C′屯流制御)を
行ない。
However, conventional flameless heating control devices for atomic absorption spectrometry perform drying and drying using the output of a single temperature sensor.
Since it is difficult to fully control the weighted temperature at each stage of ashing and atomization, that is, from 0° to 3000'C, in addition to the temperature sensor, we installed a basket E sensor that detects the current of the heating power source.・In the low-temperature heating overhead for ashing, this current sensor detects the current of the heating power source, and a signal according to the output heavy flow is returned to the heating power source to control the power [1 heat control C' ton current control]. Do.

原子化の高温加熱頭載(1000’C〜3000°C)
のみ温度センサで加熱チューブの1MLPi k 検出
し、この検出出力に対応した信号全加熱電源に帰還して
加勢制彷巨温度制i卸)をなすようにしているので。
High-temperature heating for atomization (1000'C to 3000°C)
Only the temperature sensor detects 1MLPik of the heating tube, and a signal corresponding to this detection output is returned to the entire heating power source to perform an assist control and a huge temperature control.

温度センサによる加燕制律jは常に温度そのものに依存
して制飢されるから問題ないが電流センサによる加熱制
御に再現性上の問題があった。すなわちいかに加熱電流
を一定値に制御しても、グラファイト・チューブの抵抗
値のバラツキ、雰囲気ガスや冷却水の流量のバラツキに
よってグラファイト・チューブの加熱温度が変るので、
一定温度値に制御できないという欠点があった。
The heating control using the temperature sensor is always controlled depending on the temperature itself, so there is no problem, but heating control using the current sensor has a problem in reproducibility. In other words, no matter how much you control the heating current to a constant value, the heating temperature of the graphite tube will change due to variations in the resistance value of the graphite tube and variations in the flow rate of atmospheric gas and cooling water.
The drawback was that the temperature could not be controlled to a constant value.

この発明の目的は、上記従来の原子吸光分析用加熱制御
装置の欠点を解消し、乾燥・灰化の低温領域を電流セン
サを用いて加熱制御し、原子化の高温領域のみを温度セ
ンサを用いて加熱制御するものにおいても、加熱温度の
再現性の高い原子吸光分析用加熱制御装置を提供するに
ある。
The purpose of this invention is to eliminate the drawbacks of the conventional heating control device for atomic absorption spectrometry as described above, to control heating in the low temperature region of drying and ashing using a current sensor, and to control the heating only in the high temperature region of atomization using a temperature sensor. It is an object of the present invention to provide a heating control device for atomic absorption spectrometry, which has high reproducibility of heating temperature even when heating is controlled by heating.

以上の目的を達成するために、この発明の原子吸光分析
用加熱制御装置は、原子化段階すなわち高温加熱時の温
度制御用の温度センサ出力で、乾燥・灰化段階すなわち
低温加熱時の加熱側両用の電流センサ出力を較正する回
路手段を91行えることを特徴としている。
In order to achieve the above object, the heating control device for atomic absorption spectrometry of the present invention uses a temperature sensor output for temperature control during the atomization stage, that is, high-temperature heating, and a temperature sensor output for temperature control during the drying/ashing stage, that is, low-temperature heating. The present invention is characterized in that circuit means 91 for calibrating the dual-use current sensor output can be implemented.

以下1図面に示す実施例に、この発明の詳細な説明する
The present invention will be described in detail below with reference to an embodiment shown in one drawing.

第2図はこの発明が実施される前提となる原子吸光分析
用加熱制御装置を構成するブロック図を示してお9.従
来の原子吸光分析用加熱制御装置に相当する。図におり
て”−源端子11a・11bに加えられた交流信号が加
熱電源トランス12を介してグラファイト・チューブ1
3に加えられるように接続されておシ、グラファイト・
チューブ16には印加信号に応じた加熱電流が流れるよ
うになっている。加熱ぽ源トラツク12の二次側12b
には電流センサ14が結合されており、電流センサ14
は加熱電流工を検出し、検出電流に応じた信号増幅用の
プリアンプ15に接続されている。
FIG. 2 shows a block diagram configuring a heating control device for atomic absorption spectrometry, which is a premise for carrying out this invention.9. This corresponds to a conventional heating control device for atomic absorption spectrometry. In the figure, the AC signal applied to the source terminals 11a and 11b is passed through the heating power transformer 12 to the graphite tube 1.
3, graphite
A heating current is caused to flow through the tube 16 in accordance with an applied signal. Secondary side 12b of heating source track 12
A current sensor 14 is coupled to the current sensor 14 .
detects the heating current and is connected to a preamplifier 15 for signal amplification according to the detected current.

まだグラファイト・チューブ16の近傍には、たとえば
ソーラセル(5olarcell )で構成される温度
センサ16が配されている。温度センサ16はグラファ
イト・チューブ16が高温加熱されることにより発光さ
れる光を受けてグラファイト・チューブ13の加熱温度
を検出するものである。グラファイト・チューブ16と
温度センサ16とで試料の加熱炉17を構成している・
温度センサ16は検出温度に応じた信号を増幅するプリ
アンプ18に接続されている。上記プリアンプ15は検
出電流に応じた出力電圧Viを導出し、この出力電圧V
iが電流制御一温度制御切換スイッチ19の端子Aに加
えられるように接続されている。他方プリアンプ18は
検出温度に応じた出力電圧Vtを導出し、この出力電圧
vtが電流制御一温度制御jの共通端子Cは誤差増幅器
20の入力の一端に接続されている。誤差増幅器2Dの
この入力端には。
Still in the vicinity of the graphite tube 16, a temperature sensor 16 composed of, for example, a solar cell is arranged. The temperature sensor 16 detects the heating temperature of the graphite tube 13 by receiving light emitted when the graphite tube 16 is heated to a high temperature. The graphite tube 16 and the temperature sensor 16 constitute a sample heating furnace 17.
The temperature sensor 16 is connected to a preamplifier 18 that amplifies a signal corresponding to the detected temperature. The preamplifier 15 derives an output voltage Vi according to the detected current, and this output voltage V
i is connected so that it is applied to terminal A of the current control/temperature control changeover switch 19. On the other hand, the preamplifier 18 derives an output voltage Vt according to the detected temperature, and the common terminal C of the current control and temperature control j is connected to one end of the input of the error amplifier 20. At this input terminal of the error amplifier 2D.

電流制御一温度制御スイッチ19が端子A(電流制御)
側に倒されているときはプリアンプ15の出力Viが、
逆に端子B(温度制御)側に倒されているときはプリア
ンプ18の出力Vtがそれぞれ加えられる。誤差増幅器
20の入力の他端には。
Current control - temperature control switch 19 is terminal A (current control)
When it is tilted to the side, the output Vi of the preamplifier 15 is
On the other hand, when the terminals are turned to the terminal B (temperature control) side, the output Vt of the preamplifier 18 is applied to each terminal. At the other end of the input of the error amplifier 20.

温度プログラマ21よりの基準電圧Erを受けるように
接続構成されている。温度プログラマ21よりの基準電
圧Erは、目的元素、試料の性質。
It is connected to receive a reference voltage Er from the temperature programmer 21. The reference voltage Er from the temperature programmer 21 depends on the target element and the properties of the sample.

乾燥・灰化・原子化の各段階等によりその値を連続的に
あるいは段階的に任意に設定できるようになっている。
The value can be arbitrarily set continuously or in stages according to each stage of drying, ashing, atomization, etc.

誤差増幅器2oは基準電圧Erとプリアンプ”15(ま
たは18)の出力電圧Vi(またはVc)の差の電圧V
Oをトリガパルス発生回路22に加える。トリガパルス
発生回路22は差電圧VOに応じたタイミングにトリガ
パルスPを発生し、このパルスPを加熱電源トランス1
2の一次側12aに接続されているトライアック23に
帰還して加え、トライアック23の点弧角を差電圧vO
に応じて制御するようにしている。
The error amplifier 2o generates a voltage V which is the difference between the reference voltage Er and the output voltage Vi (or Vc) of the preamplifier 15 (or 18).
O is applied to the trigger pulse generation circuit 22. The trigger pulse generation circuit 22 generates a trigger pulse P at a timing corresponding to the differential voltage VO, and transmits this pulse P to the heating power supply transformer 1.
2, the firing angle of the triac 23 is determined by the differential voltage vO.
I try to control it accordingly.

今、グラファイト・チューブ13の加熱につき。Now, about heating graphite tube 13.

乾燥・灰化の場合すなわち低温領域加熱を想定すると、
加熱制御は電流制御下におかれる。すなわち電流制御一
温度制御切換ヌイッチ19は端子A側に倒される。その
ため電流センサ14で加熱電流が検出され、この検出電
流に応じた信号電圧Viが電流制御一温度制御切換ヌ・
イッチ19の端子A。
In the case of drying and ashing, assuming low-temperature region heating,
Heating control is under current control. That is, the current control/temperature control switching switch 19 is pushed to the terminal A side. Therefore, the heating current is detected by the current sensor 14, and the signal voltage Vi corresponding to this detected current is applied to the current control/temperature control switching switch.
Terminal A of switch 19.

共通端子Cを経て誤差増幅器2oの入力の一端に加え少
れる。そして信号電圧Viが基準電圧Erよりも大きい
場合は加熱電流が小さくなるように。
It is added to one end of the input of the error amplifier 2o via the common terminal C. Then, when the signal voltage Vi is larger than the reference voltage Er, the heating current becomes smaller.

逆に信号電圧Viが基準電圧Erよりも小さい場合は、
加熱電流が大きくなるように、信号電圧Viと基準電圧
Erの差電圧Voに応じたタイミングのトリガパルスP
をトライアック23に加える。
Conversely, if the signal voltage Vi is smaller than the reference voltage Er,
In order to increase the heating current, a trigger pulse P is generated at a timing corresponding to the voltage difference Vo between the signal voltage Vi and the reference voltage Er.
is added to TRIAC 23.

すなわち信号電圧Viに応じた信号を加熱電源側に帰還
する。原子化段階すなわち高温領域加熱を行う場合には
、加熱制御は温度制御下におかれる。
That is, a signal corresponding to the signal voltage Vi is fed back to the heating power source side. When performing the atomization stage, ie high temperature region heating, the heating control is under temperature control.

この場合電流制御一温度制御切換スイッチ19は端子B
側に倒される。そのため温度センサ16で検出した温度
に応じた信号電圧Vtが電流制御一温度制御切換ヌイッ
チ19の端子B、共通端子Cを経て誤差増幅器20の入
力の一端に加えられる。
In this case, the current control-temperature control changeover switch 19 is connected to terminal B.
thrown to the side. Therefore, a signal voltage Vt corresponding to the temperature detected by the temperature sensor 16 is applied to one end of the input of the error amplifier 20 via the terminal B of the current control/temperature control switching switch 19 and the common terminal C.

そして信号電圧Vt、が、基準電圧Erよりも大きい場
合は加熱温度が低くなるように、逆に信号電圧Vtが基
準電圧Erよシも小さい場合は、加熱温度が高くなるよ
うに信号電圧Vtと基準電圧ErO差電圧Voに応じた
タイミングのトリガパルスPをトライアック23に加え
1点弧角を変えて加熱電流を制御することにより、加熱
温度を制御している。
Then, when the signal voltage Vt is larger than the reference voltage Er, the heating temperature is lowered, and conversely, when the signal voltage Vt is smaller than the reference voltage Er, the heating temperature is set higher. The heating temperature is controlled by applying a trigger pulse P at a timing corresponding to the reference voltage ErO differential voltage Vo to the triac 23 and controlling the heating current by changing the firing angle.

第3図はこの発明の原子吸光分析用加熱制御装置の実施
例囲路要部を示す回路ブロック図であり。
FIG. 3 is a circuit block diagram showing the main parts of an embodiment of the heating control device for atomic absorption spectrometry according to the present invention.

第2図に示す回路に付加的に接続構成されるものである
。第2図に示すものと同一番号は同一の回路である。図
において温度センサ16よりの温度検出信号が入力され
るプリアンプ18の出力端は電流制御一温度制御切換ス
イッチ19の端子Bに接続される他にコンパレータ30
の入力の一端に接続されており、コンパレータ30の入
力の他端には較正用の基準電圧Vrが加えられるように
接続されている。この基準電圧Vrは、電流制御される
温度範囲の最高温度(たとえば1000°C)に相当す
る電圧に選定される。コンパレータ60はプリアンプ1
8の出力信号電圧Vtが基準電圧Vrよジ・トさい時は
出力信号を導出しないが、信号電圧Vtが基準電圧Vr
を越えると出力電圧を導出するようになっており、この
出力信号電圧が表示器31に加えられるように出力端が
表示器31に接続されている。表示器31は信号電圧V
tが基準電圧Vrよりも小さいと点灯しないが信号電圧
vtO方が大きいと点灯表示し、信号電圧Vtと基準電
圧Vrが等しいと点滅するようになっている。また電流
センサ14よりの検出信号が入力されるプリアンプ15
にはゲイン調整器32が設けられている。
This circuit is additionally connected to the circuit shown in FIG. The same numbers as those shown in FIG. 2 refer to the same circuits. In the figure, the output terminal of the preamplifier 18 to which the temperature detection signal from the temperature sensor 16 is input is connected to the terminal B of the current control-temperature control changeover switch 19, and also to the comparator 30.
The comparator 30 is connected to one input end of the comparator 30, and is connected to the other input end of the comparator 30 so that a reference voltage Vr for calibration is applied thereto. This reference voltage Vr is selected to be a voltage corresponding to the highest temperature (for example, 1000° C.) in the current-controlled temperature range. Comparator 60 is preamplifier 1
When the output signal voltage Vt of 8 is higher than the reference voltage Vr, no output signal is derived;
The output terminal is connected to the display 31 so that the output signal voltage is applied to the display 31. The display 31 shows the signal voltage V
If t is smaller than the reference voltage Vr, it will not turn on, but if the signal voltage vtO is larger, it will turn on, and if the signal voltage Vt and the reference voltage Vr are equal, it will blink. Also, a preamplifier 15 to which a detection signal from the current sensor 14 is input.
A gain adjuster 32 is provided.

ここで、加熱電流Iをグラファイト・チューブ13に流
し1時間もの経過に対する加熱温度Tの関係を求めると
、第5図に示すように時間もの経過とともに温度Tも上
昇しその後一定の温度に落着く。この落着く湿食は流す
電流工が大なる程大となる。逆に他の条件が変らなけれ
ばrIIfす電流値が同じであれば当然同じ温度に落着
くことになる。しかし従来の加熱制御装置においては上
述したように、加熱電流工が同じであっても、グラファ
イトチューブの抵抗のバラツキや図示外の雰囲気ガス、
冷却水の流量の相違等が影響して温度Tが一定しない。
Here, when heating current I is passed through the graphite tube 13 and the relationship between the heating temperature T and the passage of one hour is determined, as shown in Fig. 5, the temperature T rises as time passes and then settles down to a constant temperature. . This settled moisture corrosion becomes more severe as the current flow increases. Conversely, if other conditions do not change and the current value rIIf is the same, the temperature will naturally settle down to the same. However, as mentioned above, in conventional heating control devices, even if the heating current is the same, there are variations in the resistance of the graphite tube, atmospheric gases not shown in the diagram,
The temperature T is not constant due to factors such as differences in the flow rate of cooling water.

たとえば■1なる加熱電流を流しても加熱炉の状況によ
9時間もと加熱温度Tの特性曲線はたとえば第6図に示
す11a、11b。
For example, even if a heating current of 1 is applied, the characteristic curves of the heating temperature T for 9 hours depending on the heating furnace condition are, for example, 11a and 11b shown in FIG.

11cのようになる。第6図に示す特性曲線は流す加熱
電流が工でも、最終的に落着く温度が11aはTr、 
■ibはTu、11cはTdでありそれぞれ加熱特性が
相違することを示している。このように同一加熱電流を
流しても常に同一加熱温度を得ることができないので第
2図に示す加熱制御装置において、電流制御で加熱7M
 )Nの再現性を確医することは困難である。そこで第
6図に示す回路を付加し、ゲイン調整器62を調節して
、温度センサ出力により電流センサ出力を較正する。
It will look like 11c. The characteristic curve shown in FIG.
(2) ib is Tu and 11c is Td, indicating that they have different heating characteristics. In this way, even if the same heating current is applied, it is not possible to always obtain the same heating temperature, so in the heating control device shown in Fig.
) It is difficult to confirm the reproducibility of N. Therefore, the circuit shown in FIG. 6 is added, the gain regulator 62 is adjusted, and the current sensor output is calibrated using the temperature sensor output.

較正は温度プログラマ21より較正基準電圧Vrに等し
い基準電圧Erを出力するとともに、電流制御一温度制
御切換スイッチ19を端子A(電流制御)側に倒した状
態で行なわれる。
Calibration is performed with the temperature programmer 21 outputting a reference voltage Er equal to the calibration reference voltage Vr, and with the current control/temperature control changeover switch 19 turned to the terminal A (current control) side.

今、加熱′厄流工1を流したときのグラファイト・チュ
ーブ13の温度がTrとなり、この温度に対応するプリ
アンプ18の出力電圧ViがVt=Vrとなる状魅を標
準状態とする。この場合加熱電流工1の検出電流に対応
するプリアンプ15の出力電圧ViもVrに等しい。加
熱制御装置がこのような標準状態にある場合すなわち第
6図の特性曲線11aの状態にある場合には安定状態で
Now, the standard state is such that the temperature of the graphite tube 13 when the heating current 1 is applied is Tr, and the output voltage Vi of the preamplifier 18 corresponding to this temperature is Vt=Vr. In this case, the output voltage Vi of the preamplifier 15 corresponding to the detected current of the heating current generator 1 is also equal to Vr. When the heating control device is in such a standard state, that is, in the state of the characteristic curve 11a in FIG. 6, it is in a stable state.

プリアンプ18の出力電圧VLと較正基準電圧Vrが等
しくな9.コンパレータ30は出力電圧を導出し1表示
器61が点滅動作するので特にゲイン調整器32を調節
する必要はない。
9. The output voltage VL of the preamplifier 18 and the calibration reference voltage Vr are equal. Since the comparator 30 derives the output voltage and the 1 indicator 61 blinks, there is no need to particularly adjust the gain adjuster 32.

次に加熱電流工1に対して加熱温度Tが標準状態時の温
度Trより高くなる場合たとえば第6図の特性曲線1.
ibの状態を想定すると、7I]熱温度Tuに対応する
プリアンプ18の出力電圧VLは較正基準電圧Vrより
も大となるので1表示器61は点灯状態となる。それゆ
えゲイン調整器32を調節してゲインを大きくし表示器
31が点滅動作状態になるまで加熱電流を下げる。電流
を下げた結果加熱電流工0で表示器31が点滅動作に至
ったとすれば、この加熱電流工0で、標準状態において
加熱電流11を流した場合と同等の加熱温度特性が得ら
れる。すなわち較正される。逆に加熱電流■1に対して
加熱温度Tが標準状態時の温度Trよp低くなる場合た
とえば第6図の特性曲線11cの状態を考えると、加熱
温度TdK対応するプリアンプ18の出力電圧Vt1d
較正基準電圧Vrよりも小となるので、コンパレータ6
0は出力型8.を導出せず、したがって表示器61は点
灯しない。それゆえゲイン調整器32を調節してゲイン
を小さくし表示器31が点滅状態となるまで加熱″「電
流を大きくする。加熱電流■2で表示器31が点滅動作
に至ったとすれば、この加熱電流■2で標準状態におい
て加熱電流■1を流した場合と同等の加熱温度特性が得
られる。すなわち較正される。
Next, when the heating temperature T of the heating electric current 1 becomes higher than the temperature Tr in the standard state, for example, the characteristic curve 1 in FIG.
Assuming the state of ib, the output voltage VL of the preamplifier 18 corresponding to the thermal temperature Tu is larger than the calibration reference voltage Vr, so the 1 indicator 61 is turned on. Therefore, the gain regulator 32 is adjusted to increase the gain and lower the heating current until the indicator 31 is in a blinking state. Assuming that the display 31 blinks when the heating current is 0 as a result of lowering the current, the same heating temperature characteristics as when the heating current 11 is applied in the standard state can be obtained when the heating current is 0. That is, it is calibrated. Conversely, when the heating temperature T becomes p lower than the temperature Tr in the standard state with respect to the heating current 1, for example, considering the state of the characteristic curve 11c in FIG. 6, the output voltage Vt1d of the preamplifier 18 corresponding to the heating temperature TdK
Since it is smaller than the calibration reference voltage Vr, the comparator 6
0 is output type 8. is not derived, so the display 61 does not light up. Therefore, adjust the gain adjuster 32 to reduce the gain and increase the heating current until the display 31 flashes.If the heating current 2 causes the display 31 to flash, then With the current (2), heating temperature characteristics equivalent to those obtained when the heating current (1) is applied in the standard state can be obtained.That is, the heating temperature characteristics are calibrated.

なお上記第6図実施例において表示器61は点灯9点滅
、無点灯の3段階表示を採用しているが。
In the embodiment shown in FIG. 6, the display 61 employs a three-stage display of lighting, 9 blinks, and non-lighting.

これは他の態様の表示たとえば色別表示であってもよい
。またさらにデジタル表示器を用いてもよい。
This may be a display in other forms, such as a color-based display. Furthermore, a digital display may also be used.

まだ上記第6図実施例において電流制御系を較正するの
に表示器とゲイン調整器を用いて手動較正しているが、
これに替えて第4図に示す回路を用いて自動1咬正全行
なってもよい。
Although the current control system is still manually calibrated using the display and gain adjuster in the embodiment shown in FIG.
Alternatively, the circuit shown in FIG. 4 may be used to automatically complete one bite.

第421に示す回路も第2図に示す加熱制御装置に付加
されて実施されるものであり、第2図のものと同一番号
は同一回路である。プリアンプ18の出力端が電流制御
一温度制御切換ヌオツチ19の端子Bに接続される他、
コンパレータ30の入力の一端に接続されており、さら
にコンパレータ30の入力の他端に較正基準電圧Vrが
加えられるように接続されている。そしてコンパレータ
30の出力端はその出力が温度プログラマ65に加えら
れるように接続されている。温度プロゲラ5,733は
、コンパレータ30よりの信号を受けて基準電圧Eri
変化して誤差増幅器20の入力の他端に加えるようにな
っている。
The circuit shown in Fig. 421 is also implemented by being added to the heating control device shown in Fig. 2, and the same numbers as those in Fig. 2 refer to the same circuits. The output terminal of the preamplifier 18 is connected to the terminal B of the current control/temperature control switching nut 19, and
It is connected to one end of the input of the comparator 30, and further connected so that the calibration reference voltage Vr is applied to the other end of the input of the comparator 30. The output terminal of the comparator 30 is connected so that its output is applied to the temperature programmer 65. The temperature proger 5, 733 receives the signal from the comparator 30 and sets the reference voltage Eri.
The signal is changed and applied to the other end of the input of the error amplifier 20.

第4図に示す実施例回路における較正は、温度プログラ
マ33より較正基準電圧Vrに等しい基準電圧Erを出
力するとともに、電流制御一温度制御切換スイッチ19
を端子A(電流制御)側に倒した状態で行なわれる。加
熱電流11を流した時温度がTrとなる標準状態では、
プリアンプ18の出力電圧vtは較正基準電圧Vrと等
しいのでコンパレータ30よりの出力電圧を受けた温度
プログラマ53は基準電圧Erを変更しないで、電流制
御における基準電圧Erとしてそのまま誤差増幅器20
に加える。
Calibration in the embodiment circuit shown in FIG. 4 is performed by outputting a reference voltage Er equal to the calibration reference voltage Vr from the temperature programmer 33, and at the same time outputting a reference voltage Er equal to the calibration reference voltage Vr.
This is done with the terminal turned to the terminal A (current control) side. In the standard state where the temperature is Tr when the heating current 11 is applied,
Since the output voltage vt of the preamplifier 18 is equal to the calibration reference voltage Vr, the temperature programmer 53 that receives the output voltage from the comparator 30 does not change the reference voltage Er and directly uses it as the reference voltage Er in the current control to the error amplifier 20.
Add to.

次に加熱電流工1に対して加熱温度が標準状態時の温度
Trよりも高くなる場合たとえば第6図の特性曲線11
bの状態のような場合であると。
Next, when the heating temperature for the heating electric current 1 becomes higher than the temperature Tr in the standard state, for example, the characteristic curve 11 in FIG.
In a case like state b.

加熱温度Tuに対応するフ”リアンプ18の出力電圧V
tは較正基準電圧Vrよりも大となるので。
Output voltage V of the free amplifier 18 corresponding to the heating temperature Tu
Since t is larger than the calibration reference voltage Vr.

コンパレータ30はVj)Vrを示す信号を温度プログ
ラマ33に与える。温度プログラマ66はV t ) 
V r f示す信号を受けるとV t = V rとな
るまで基準電圧E’ rのレベルを下げる。そしてVt
= V rとなった時の基準電圧Erを電流制御におけ
る較正された基準電圧とする。逆に加熱電流工1に対し
て加熱温度が標準状態時の温度Trより低くなる場合は
、加熱温度Tdに対応するプリアンプ18の出力電圧V
tは較正基準電圧Vrよりも小となるので、コンパレー
タ30は出力を導出しない。それゆえ、温度プログラマ
33は加熱温度が上昇してV t == V rとなる
まで基準電圧Erのレベ)lyf上げる。そしてV L
 = V rとなった時に基準電圧Erの上昇を止めそ
の時の基準電圧Erを電流制御における較正された基準
電圧とする。
Comparator 30 provides a signal indicating Vj)Vr to temperature programmer 33. The temperature programmer 66 is V t )
When receiving a signal indicating V r f, the level of reference voltage E' r is lowered until V t = V r. and Vt
The reference voltage Er when = Vr is set as the calibrated reference voltage in current control. Conversely, when the heating temperature for the heating current generator 1 is lower than the temperature Tr in the standard state, the output voltage V of the preamplifier 18 corresponding to the heating temperature Td
Since t will be less than the calibration reference voltage Vr, the comparator 30 will not derive an output. Therefore, the temperature programmer 33 increases the level of the reference voltage Er until the heating temperature rises and V t == V r. And V L
= Vr, the reference voltage Er stops rising and the reference voltage Er at that time is used as the calibrated reference voltage in current control.

以上のようにこの発明の原子吸光分析用加熱制御装置は
、原子化段階の温度制御用の温度センサ出力で、乾燥・
灰化段階の温度制御用の電流センサ出力を較正する回路
手段を備えるものであるから、たとえ加熱チューブの抵
抗やその他の要素の変動で加熱特性がバラついても、温
度較正がなされた電流制御により、再現性の良い加熱特
性を得ることができる。
As described above, the heating control device for atomic absorption spectrometry of the present invention uses the temperature sensor output for temperature control during the atomization stage to perform drying and
Since it is equipped with circuit means to calibrate the current sensor output for temperature control during the ashing stage, even if the heating characteristics vary due to variations in the resistance of the heating tube or other factors, the current control with temperature calibration will still work. , it is possible to obtain heating characteristics with good reproducibility.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はフレームレヌ原子吸光分析装置の原理的構成を
示す図、第2図はこの発明が実施される前提となる原子
吸光分析用加熱制御装置の構成を示すブロック図、第3
図はこの発明の一実施例の原子吸光分析用加熱制御装置
の回路要部を示すブロック図、第4図はこの発明の他の
実施例の原子吸光分析用加熱制御装置の回路要部を示す
ブロック図、第5図は第2図における時間−加熱温度特
性を示す図、第6図は第3図および第4図実施例回路の
較正動作を説明するだめの時間−加熱温度特性および加
熱温度−コンパレータ出力特性を示す図である。 12:加熱電源トランス、  13:グラファイト・チ
ューブ、 14:電流センサ。 15・18:プリアンプ、  16:温度センサ17:
加熱炉、  19:電流制御一温度制御切換スイッチ、
 20:誤差アンプ。 21・33:温度プログラマ、   22:)リガパル
ス発生器、  23:)ライアツク。 30:コンパレータ、 31:表示器。 32=ゲイン調整器 特許出願人     株式会社島津製作所代理人  弁
理士  中 村 茂 信 第1閉 第3図 T 集5図 第C口
Fig. 1 is a diagram showing the basic configuration of the Flame Rene atomic absorption spectrometer, Fig. 2 is a block diagram showing the configuration of the heating control device for atomic absorption spectrometry, which is a premise for implementing this invention, and Fig. 3
The figure is a block diagram showing the main circuit parts of a heating control device for atomic absorption spectrometry according to one embodiment of the present invention, and FIG. 4 shows the main circuit parts of a heating control device for atomic absorption spectrometry according to another embodiment of the invention. A block diagram, FIG. 5 is a diagram showing the time-heating temperature characteristic in FIG. 2, and FIG. 6 is a diagram showing the time-heating temperature characteristic and heating temperature characteristic shown in FIGS. 3 and 4 to explain the calibration operation of the embodiment circuit. - It is a diagram showing comparator output characteristics. 12: Heating power transformer, 13: Graphite tube, 14: Current sensor. 15/18: Preamplifier, 16: Temperature sensor 17:
Heating furnace, 19: Current control-temperature control changeover switch,
20: Error amplifier. 21/33: Temperature programmer, 22:) Trigger pulse generator, 23:) Liac. 30: Comparator, 31: Display. 32 = Gain adjuster patent applicant Shimadzu Corporation Representative Patent attorney Shigeru Nakamura Shin No. 1 Closed Figure 3 T Collection 5 Figure C Entrance

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)内部に試料が注入され、加熱電源より電流が流さ
れることにより試料に乾燥・灰化・原子化の3段階加熱
を施す加熱チューブと、この加熱チューブの温度を検出
する温度センサと、前記加熱電源の電流を検出する電流
センサと、前記乾燥・灰化の低温加熱段階では前記電流
センサの出力を前記加熱電源に帰還し、前記原子化の高
温加熱段階では前記温度センサの出力を前記加熱電源に
帰還して前記加熱チューブの温度を制御する制御回路部
とを備える原子吸光分析用加熱制御装置において。 前記温度センサの出力で前記電流センサ出力を較正する
手段を備えたことを特徴とする原子吸光分析用加熱制御
装置。
(1) A heating tube into which a sample is injected and a current applied from a heating power source to the sample to perform three-step heating of drying, ashing, and atomization, and a temperature sensor that detects the temperature of this heating tube. A current sensor detects the current of the heating power source, and the output of the current sensor is fed back to the heating power source during the low temperature heating stage of drying and ashing, and the output of the temperature sensor is fed back to the heating power source during the high temperature heating stage of atomization. A heating control device for atomic absorption spectrometry, comprising a control circuit section that returns to a heating power source and controls the temperature of the heating tube. A heating control device for atomic absorption spectrometry, comprising means for calibrating the current sensor output with the output of the temperature sensor.
JP18260281A 1981-11-14 1981-11-14 Heating control device for atomic absorption analysis Granted JPS5885143A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60253850A (en) * 1984-05-30 1985-12-14 Shimadzu Corp Atomic absorption analyzer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60253850A (en) * 1984-05-30 1985-12-14 Shimadzu Corp Atomic absorption analyzer
JPH0473093B2 (en) * 1984-05-30 1992-11-19 Shimadzu Corp

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