JPS5877672A - 光起電半導体の電圧電流特性の測定方法 - Google Patents
光起電半導体の電圧電流特性の測定方法Info
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- JPS5877672A JPS5877672A JP56175598A JP17559881A JPS5877672A JP S5877672 A JPS5877672 A JP S5877672A JP 56175598 A JP56175598 A JP 56175598A JP 17559881 A JP17559881 A JP 17559881A JP S5877672 A JPS5877672 A JP S5877672A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光を受けて起電力を発生する光起電半導体の
電圧電流特性の測定方法に関するものである。
電圧電流特性の測定方法に関するものである。
一殻に光起電半導体における電圧電流特性の測定にお−
ては、当該光起電牛導体に太陽光と類似の光、例えばキ
七ノンショートアークランプ等のような定常光を連続し
て照射して行なわれている０即ち、光起電半導体に定常
光を一様な照度で連続して扉射した状１１にお―て、光
起電半導体に加える電圧をゆつ〈ル変化せしめながら各
電圧点における電流値をブリットして電圧電流特性の測
定が行なわれて−る。しかし、このように定常光を用い
る測定においては、定常光を連続して照射するため消費
電力が大きいものとなり、そして特に光起電半導体の大
きさが例えば１．２Ｘ０．４−と大型なものである場合
には、大きな面積を照射しなけれ（３） ばならないために定常光発生装置として光出力が大きく
て大型のものを設計しなけれ杜ならず、併せて太陽電池
の温度上昇を避けることができないために恒温化装習が
必要とされ、このためコストが非常に高いものとなって
しまう。このよう力ことから最近においては、光起電半
導体の前記特性を測定するために、定常光ではなく、瞬
時的に十分大きな光出力が得られ、しかも装置が小型で
コストの低い閃光放電灯が用いられるようＫなってきて
いる。
ては、当該光起電牛導体に太陽光と類似の光、例えばキ
七ノンショートアークランプ等のような定常光を連続し
て照射して行なわれている０即ち、光起電半導体に定常
光を一様な照度で連続して扉射した状１１にお―て、光
起電半導体に加える電圧をゆつ〈ル変化せしめながら各
電圧点における電流値をブリットして電圧電流特性の測
定が行なわれて−る。しかし、このように定常光を用い
る測定においては、定常光を連続して照射するため消費
電力が大きいものとなり、そして特に光起電半導体の大
きさが例えば１．２Ｘ０．４−と大型なものである場合
には、大きな面積を照射しなけれ（３） ばならないために定常光発生装置として光出力が大きく
て大型のものを設計しなけれ杜ならず、併せて太陽電池
の温度上昇を避けることができないために恒温化装習が
必要とされ、このためコストが非常に高いものとなって
しまう。このよう力ことから最近においては、光起電半
導体の前記特性を測定するために、定常光ではなく、瞬
時的に十分大きな光出力が得られ、しかも装置が小型で
コストの低い閃光放電灯が用いられるようＫなってきて
いる。
つまシ第１図に示すように、光起電半導体ＰＤＫ閃光放
電灯１によル閃光パルスを照射し、この閃光パルスのピ
ーク値近傍における照度一定時間内において、電圧源２
によシ光起電半導体ＰＤの電１ｋＡａＢ間Ｋ例えば０ボ
ルトから当該光起電半導体ＦＤの起電力ＶＰＤボルト程
度まての電圧を時間的に連続して変化せしめながら印加
し、光起電半導体ＦＤの電極Ａ、Ｂ関に接続して設けた
電流測定器３によル各電圧点における電流値をプロツシ
することＫよシ、当該電圧の所定数の点におけ而して前
記の如く、光起電半導体ＰＤＦｉ、第２図にその等価回
路を示すように、光起電半導体ＰＤＫＩＩ有の内部容量
ＣＰＤを持っており、この内部容量ＣＰＤＦｉ電極ム、
Ｂ間の印加電圧ｖＡＢ”変化するとこの電圧ｖＡＢの変
化率ｄｖＡＢ／ｄｔに比例的に変化するものである。然
るに閃光パルスＣように照度一定時間が１〜２０ ｍａ
Ｉｅ ｌ枠約て灼い場合Ｋｈ、前記電圧ｉ１２により電
％ｈ、Ｂ間に印加する電圧ｖＡＢを胛皮一定時間内にお
いて必要な電圧範囲に亘って急激に変化せしめなければ
ならない産め、前記変化率ａｖＡＶｄｔが相当大きいも
のとなシ、その結果前記内部容量ＣＰＤが相当大きく変
化するため、この内部容量ＣＰＤに流れる過渡電流Ｉ。
電灯１によル閃光パルスを照射し、この閃光パルスのピ
ーク値近傍における照度一定時間内において、電圧源２
によシ光起電半導体ＰＤの電１ｋＡａＢ間Ｋ例えば０ボ
ルトから当該光起電半導体ＦＤの起電力ＶＰＤボルト程
度まての電圧を時間的に連続して変化せしめながら印加
し、光起電半導体ＦＤの電極Ａ、Ｂ関に接続して設けた
電流測定器３によル各電圧点における電流値をプロツシ
することＫよシ、当該電圧の所定数の点におけ而して前
記の如く、光起電半導体ＰＤＦｉ、第２図にその等価回
路を示すように、光起電半導体ＰＤＫＩＩ有の内部容量
ＣＰＤを持っており、この内部容量ＣＰＤＦｉ電極ム、
Ｂ間の印加電圧ｖＡＢ”変化するとこの電圧ｖＡＢの変
化率ｄｖＡＢ／ｄｔに比例的に変化するものである。然
るに閃光パルスＣように照度一定時間が１〜２０ ｍａ
Ｉｅ ｌ枠約て灼い場合Ｋｈ、前記電圧ｉ１２により電
％ｈ、Ｂ間に印加する電圧ｖＡＢを胛皮一定時間内にお
いて必要な電圧範囲に亘って急激に変化せしめなければ
ならない産め、前記変化率ａｖＡＶｄｔが相当大きいも
のとなシ、その結果前記内部容量ＣＰＤが相当大きく変
化するため、この内部容量ＣＰＤに流れる過渡電流Ｉ。
がそれに応じて大きく変化する。従って電極Ａ、Ｂ間に
現われる電流値は過渡電流ＩＱ 分だ社波少したものと
なるか、この過渡電流！。の大きさが相当に大きなもの
きなるため、結局このような測定方法においては、その
測定値に過渡！流ｌＯＫよる大きな誤差が必ず含まれる
こととなシ、（５） 信頼性の高い測定値を得ることができない。
現われる電流値は過渡電流ＩＱ 分だ社波少したものと
なるか、この過渡電流！。の大きさが相当に大きなもの
きなるため、結局このような測定方法においては、その
測定値に過渡！流ｌＯＫよる大きな誤差が必ず含まれる
こととなシ、（５） 信頼性の高い測定値を得ることができない。
本発明は以上の如き事情に基φて擾されたものであって
、閃光放電灯の閃光パルスを用いる一定であっても、極
めて信頼性の高−測定結果を得ることができ２光起電半
導体の電圧電流特性の測定方法を提供することを目的と
し、その特徴とするところは、その電圧電流特性を測定
すべき光起電半導体に閃光放電灯よルの閃光パルスを照
射して、その閃光パルスの照度一定時間内にお−て、前
記光起電半導体の電極間に、電圧値が時間的に変化する
電圧を印加して前記電極間における電流値変化の測定を
行なう主測定を行な−、 暗中間において前記光起電半導体の電極間に前記主滓定
におけると同じ状態で変化する電圧を印加して前記電極
間における電流値変化の一定を行歌う第１の補助測定と
、暗中間において前記光起電半導体の電ａｒ間に第１の
補助測定におけるよ少時間的変化の割合が小さψ吠廖で
変化する電圧を印加して前記電極間にお砂る電流値変化
の測定を行なう＃Ｉ２の補助測定と、前記第１のｌｌＩ
＃涛定と（６） 前記第２の補ｗ１１１定の各々によシ得られた同一電圧
値に対応する電流値の差に基いて前記主測定にお―て得
られた測定結果の評佃又け”補正を行ηう点にある。
、閃光放電灯の閃光パルスを用いる一定であっても、極
めて信頼性の高−測定結果を得ることができ２光起電半
導体の電圧電流特性の測定方法を提供することを目的と
し、その特徴とするところは、その電圧電流特性を測定
すべき光起電半導体に閃光放電灯よルの閃光パルスを照
射して、その閃光パルスの照度一定時間内にお−て、前
記光起電半導体の電極間に、電圧値が時間的に変化する
電圧を印加して前記電極間における電流値変化の測定を
行なう主測定を行な−、 暗中間において前記光起電半導体の電極間に前記主滓定
におけると同じ状態で変化する電圧を印加して前記電極
間における電流値変化の一定を行歌う第１の補助測定と
、暗中間において前記光起電半導体の電ａｒ間に第１の
補助測定におけるよ少時間的変化の割合が小さψ吠廖で
変化する電圧を印加して前記電極間にお砂る電流値変化
の測定を行なう＃Ｉ２の補助測定と、前記第１のｌｌＩ
＃涛定と（６） 前記第２の補ｗ１１１定の各々によシ得られた同一電圧
値に対応する電流値の差に基いて前記主測定にお―て得
られた測定結果の評佃又け”補正を行ηう点にある。
以下本発明方法を具体的に説明する〇
本発明方法にお―てけ、例えば第３図に示すように、Ｉ
ｆ明用光澤としての閃光放電灯１と、その電圧電流特性
を測定すべき太陽電池、フォトトランジスタ゛等の光起
電半導体ＰＤの電極Ａ、Ｂ間に電圧を可変的に印加する
電圧源２と、前記電１１Ａ。
ｆ明用光澤としての閃光放電灯１と、その電圧電流特性
を測定すべき太陽電池、フォトトランジスタ゛等の光起
電半導体ＰＤの電極Ａ、Ｂ間に電圧を可変的に印加する
電圧源２と、前記電１１Ａ。
３間における電流値変化を計測する電流測定器３とを具
えて成る装置を用い、次のような方法により光起電半導
体ＦＤの電圧電流特性の測定を行なう。
えて成る装置を用い、次のような方法により光起電半導
体ＦＤの電圧電流特性の測定を行なう。
先ず、既述の従来にお轄ると同様に、光起電半導体ＰＤ
Ｋ閃光放電灯ＩＫよシ閃光パルスを照射し１この閃光パ
ルスのピーク値近傍における態度一定時間内においで、
電圧＊２にょ゛）光起電半導体１’Ｄの電Ｉ［ＩＡ、ｌ
＠に例えｄｏポル）がら当該光起電半導体ＦＤの起′電
力Ｖ ボルト程度までのＤ （７） 電圧を時間的に連おして変什ゼしめながら印加し、この
変化される電圧に対応する光起電半ｌｌ１体ＦＤの電極
Ａ、Ｂ間における１１Ｉ淀値変化を璽流滓定器３により
計測する主測定を行なう。例えｔｆｌｌｌ子計算−全計
算て閃光パルスの声変一定時間を例えけ時間的に５０分
側割て５０の各電圧値に対応するＷｔ淀餉を計瀞する。
Ｋ閃光放電灯ＩＫよシ閃光パルスを照射し１この閃光パ
ルスのピーク値近傍における態度一定時間内においで、
電圧＊２にょ゛）光起電半導体１’Ｄの電Ｉ［ＩＡ、ｌ
＠に例えｄｏポル）がら当該光起電半導体ＦＤの起′電
力Ｖ ボルト程度までのＤ （７） 電圧を時間的に連おして変什ゼしめながら印加し、この
変化される電圧に対応する光起電半ｌｌ１体ＦＤの電極
Ａ、Ｂ間における１１Ｉ淀値変化を璽流滓定器３により
計測する主測定を行なう。例えｔｆｌｌｌ子計算−全計
算て閃光パルスの声変一定時間を例えけ時間的に５０分
側割て５０の各電圧値に対応するＷｔ淀餉を計瀞する。
次に閃光ＩＩ灯ＩＫよる閃光パルスの照射を中止し、暗
室間にお−て、前配電ｊＦ［２により当該光起電半導体
ＰＤ１２：′電＆Ａ、Ｂ藺に印加する電圧ｖ ｔ＃記主
漫定におけると全く同じ時間的貧化ムＢ の割合で０ボルトからｖ、ＦＤボルトまで時間的に連＃
して変化せしめ、この変化される１圧ｖＡＢＫ対応する
光起電率導体ＰＤの電極ム、 Ｂ１１ｊにおける電流値
変化を１１潴渉定器３にょ）計測する第１の捕Ｗｈ測定
を行な−、更に前記絶ｌの補助貿定と同じく暗室間にお
−て、前記電圧源２により当該光起電半導体ＰＤｆ）１
！Ｉ［ｌ＋Ａ、 １間に印加する電圧ｖＡＢの時間的蜜
化の割合 ＡＢ、、ｔが小さくなるよう、即ち、当該電
圧ｖＡＢ管充分紗かに、０ボ時間をかけて変化ぜしめ、
この変化される電圧ｖＡＢに対応する光起電牛導体ＦＤ
の電極Ａ、Ｂｌ’ｌｌＫおける電流値変化を電流側定器
３にょル計測する第２の補助一定を行なう＠ そして例えば１１４ＷＪＫ示すように前記第１の婦肋測
定によシ得られた電圧電流特性の測定結果Ｑ１と前記第
２の補助濠定により得られた電圧電流特性の測定結果ｑ
２とを比較し、これら測定結果Ｑｌ、９２における同一
１圧値Ｖｉに対応する電流値の差ＪｉＫ基−て前記主測
定において得られた電圧値ＶＩＫ対応するＩＩ電流値評
価又は補正を行ない、即ち同一電圧値ｖ１に対応するＩ
Ｉ！流饋の差ａｉが零の場合は、主測定によシ得られた
測定値がそ′Ｏままで適正なものであると評価し、差Ｊ
ｌが零でない場合は、その差ＪＩを主測定にょシ得られ
た測定値に加えることによシ主測定の補正を行なう。こ
れらの評価又は補正を主測定において製電に遺んだ電圧
点のすべてに亘って行がψ、もって主滓定によシ得られ
た測定結果Ｑの評価又（９） は補正を行なう。
室間にお−て、前配電ｊＦ［２により当該光起電半導体
ＰＤ１２：′電＆Ａ、Ｂ藺に印加する電圧ｖ ｔ＃記主
漫定におけると全く同じ時間的貧化ムＢ の割合で０ボルトからｖ、ＦＤボルトまで時間的に連＃
して変化せしめ、この変化される１圧ｖＡＢＫ対応する
光起電率導体ＰＤの電極ム、 Ｂ１１ｊにおける電流値
変化を１１潴渉定器３にょ）計測する第１の捕Ｗｈ測定
を行な−、更に前記絶ｌの補助貿定と同じく暗室間にお
−て、前記電圧源２により当該光起電半導体ＰＤｆ）１
！Ｉ［ｌ＋Ａ、 １間に印加する電圧ｖＡＢの時間的蜜
化の割合 ＡＢ、、ｔが小さくなるよう、即ち、当該電
圧ｖＡＢ管充分紗かに、０ボ時間をかけて変化ぜしめ、
この変化される電圧ｖＡＢに対応する光起電牛導体ＦＤ
の電極Ａ、Ｂｌ’ｌｌＫおける電流値変化を電流側定器
３にょル計測する第２の補助一定を行なう＠ そして例えば１１４ＷＪＫ示すように前記第１の婦肋測
定によシ得られた電圧電流特性の測定結果Ｑ１と前記第
２の補助濠定により得られた電圧電流特性の測定結果ｑ
２とを比較し、これら測定結果Ｑｌ、９２における同一
１圧値Ｖｉに対応する電流値の差ＪｉＫ基−て前記主測
定において得られた電圧値ＶＩＫ対応するＩＩ電流値評
価又は補正を行ない、即ち同一電圧値ｖ１に対応するＩ
Ｉ！流饋の差ａｉが零の場合は、主測定によシ得られた
測定値がそ′Ｏままで適正なものであると評価し、差Ｊ
ｌが零でない場合は、その差ＪＩを主測定にょシ得られ
た測定値に加えることによシ主測定の補正を行なう。こ
れらの評価又は補正を主測定において製電に遺んだ電圧
点のすべてに亘って行がψ、もって主滓定によシ得られ
た測定結果Ｑの評価又（９） は補正を行なう。
以上のような方法によれば、１Ｊｌｏ神＃滓定と第２の
補！ｌＪｉ！Ｉｔ定によル得られた電圧Ｗ波特性の臂定
値間において同一電圧値ｖ１に対応する電流値に差δＩ
ｄ・あれば、その差Ｊｌの大きさけ、第１の補助法定に
おいて生じた過渡電流Ｉｓの大きさに略等しいとみなす
ことｔ二できる。即ちＪｌ！１の補Ｂｈ測定においては
、暗室間にお−て電圧Ｖ□、の時間的変化の割合ｄｖ”
Ｊ’ ａ ｔを主測定におけると全く同一にして測定を
行欧うのであるから、その測定結果は、・印加電圧ｖＡ
Ｂの曽に対応する本来の電流ｌｐｈの値から過渡電流Ｉ
ｓの値を減じた結果に対応する。然るに第２の傭助澱定
においては、第１の補［１定と同一の環境条件にお−て
、印加するｍＶＡ１１ 電圧ｖＡＢの時間的変化の割合 ／ｄｔのみを変え、
仁れを小きくして行なうため、内部客ＩＣＦＤの変化が
十分小さい状態での電流ＩＡＢの値が得られ、従ってこ
め内部容量ＣＰＩ）Ｋ流れる過波電潰Ｉｅは事実１零と
みなし得る状態となるので、この第２の補助測定とよる
測定の結果Ｑ２ Ｆｉ、印加（ｌＯ） 電圧ＶムＢの値に対応する本来の電流！ｐｈの値を表わ
すものである。従って第１の補＃測定と第２の補＃瀦定
にお社る同一電圧値Ｖｉ Ｋ対応する電流値Ｏ差Ｊ１
は、過渡電流Ｉｔ の値に対応するものであるから
、この差Ｊｌ を求めるこ七により主測定において得
られた濠定結果Ｑに含まれている過積ｗ流Ｗｅ Ｋｆｆ
ｉ因するｔ定の誤差の大きさを知ること雰でき、又主測
定における歩定結果ＱＫ前記＠ａｔ を加えることＫ
より当該誤差を確実に＃、失することがてき、適正１に
補正を確実に行なうこ２ができ、この結果極めて信頼性
の高い測定値（第４図にお−て鎖線で示す。］を得るこ
とができる。
補！ｌＪｉ！Ｉｔ定によル得られた電圧Ｗ波特性の臂定
値間において同一電圧値ｖ１に対応する電流値に差δＩ
ｄ・あれば、その差Ｊｌの大きさけ、第１の補助法定に
おいて生じた過渡電流Ｉｓの大きさに略等しいとみなす
ことｔ二できる。即ちＪｌ！１の補Ｂｈ測定においては
、暗室間にお−て電圧Ｖ□、の時間的変化の割合ｄｖ”
Ｊ’ ａ ｔを主測定におけると全く同一にして測定を
行欧うのであるから、その測定結果は、・印加電圧ｖＡ
Ｂの曽に対応する本来の電流ｌｐｈの値から過渡電流Ｉ
ｓの値を減じた結果に対応する。然るに第２の傭助澱定
においては、第１の補［１定と同一の環境条件にお−て
、印加するｍＶＡ１１ 電圧ｖＡＢの時間的変化の割合 ／ｄｔのみを変え、
仁れを小きくして行なうため、内部客ＩＣＦＤの変化が
十分小さい状態での電流ＩＡＢの値が得られ、従ってこ
め内部容量ＣＰＩ）Ｋ流れる過波電潰Ｉｅは事実１零と
みなし得る状態となるので、この第２の補助測定とよる
測定の結果Ｑ２ Ｆｉ、印加（ｌＯ） 電圧ＶムＢの値に対応する本来の電流！ｐｈの値を表わ
すものである。従って第１の補＃測定と第２の補＃瀦定
にお社る同一電圧値Ｖｉ Ｋ対応する電流値Ｏ差Ｊ１
は、過渡電流Ｉｔ の値に対応するものであるから
、この差Ｊｌ を求めるこ七により主測定において得
られた濠定結果Ｑに含まれている過積ｗ流Ｗｅ Ｋｆｆ
ｉ因するｔ定の誤差の大きさを知ること雰でき、又主測
定における歩定結果ＱＫ前記＠ａｔ を加えることＫ
より当該誤差を確実に＃、失することがてき、適正１に
補正を確実に行なうこ２ができ、この結果極めて信頼性
の高い測定値（第４図にお−て鎖線で示す。］を得るこ
とができる。
このように１光起電半導体ＰＤに固有の内部容ＩＣの値
を二不明であっても、これに起因する腔Ｄ 差の大きさをｖｉｌのＭ＃測測定第２の補助測定上によ
〕知ることができ、更に必ＷＫ応じて当該誤差を確実に
除去することもできるため、閃光放電灯１０閃光パルス
のようＫｌ！１ｆ一定時間が１〜１０朧＠＠ぐと短−場
合においても、信頼性の高い測定値を得ることがてき、
結局小型でしかもコスト（１１） の低い装置で信頼性の高い電圧電流特性の測定を行なう
ことができる。
を二不明であっても、これに起因する腔Ｄ 差の大きさをｖｉｌのＭ＃測測定第２の補助測定上によ
〕知ることができ、更に必ＷＫ応じて当該誤差を確実に
除去することもできるため、閃光放電灯１０閃光パルス
のようＫｌ！１ｆ一定時間が１〜１０朧＠＠ぐと短−場
合においても、信頼性の高い測定値を得ることがてき、
結局小型でしかもコスト（１１） の低い装置で信頼性の高い電圧電流特性の測定を行なう
ことができる。
以上のように本発明は、
その電圧電流特性を測定すべき光起電半導体に閃光放電
灯よりの閃光パルスを照射して、その閃光パルスの開度
一定時間内において、前記光起電半導体の電極間に％電
圧値が時間的に娶什する電圧を印加して前記１極間にお
ける電流値変化の測定を行なう主測定を行な≠、 暗空間において前記光起電半導体の電極間に前記主測定
にお社ると同じ伏動で変化する電圧を印加して前記電極
間における電流値変化の測定を行なう第１の補助沖１定
と、暗空間において前記光起電半導体の電極間に第１の
補助測定におけるよシ時間的変化の割合か小さψ状、態
で変化する電圧を印加して前記電極間における電流値変
化の測定を行なう第２の神助測定と、前記第１の補助測
定と前記第２の神助測定の各々により得られた同一電圧
値に対応する電流値の差に基ψて前記主滓定において得
られた測定結果の評価又は補正を行なう測定方法である
から、閃光放電灯の閃光パルスを用いる測定であっても
、極めて信頼性の高い測定結果を得る仁とができる。
灯よりの閃光パルスを照射して、その閃光パルスの開度
一定時間内において、前記光起電半導体の電極間に％電
圧値が時間的に娶什する電圧を印加して前記１極間にお
ける電流値変化の測定を行なう主測定を行な≠、 暗空間において前記光起電半導体の電極間に前記主測定
にお社ると同じ伏動で変化する電圧を印加して前記電極
間における電流値変化の測定を行なう第１の補助沖１定
と、暗空間において前記光起電半導体の電極間に第１の
補助測定におけるよシ時間的変化の割合か小さψ状、態
で変化する電圧を印加して前記電極間における電流値変
化の測定を行なう第２の神助測定と、前記第１の補助測
定と前記第２の神助測定の各々により得られた同一電圧
値に対応する電流値の差に基ψて前記主滓定において得
られた測定結果の評価又は補正を行なう測定方法である
から、閃光放電灯の閃光パルスを用いる測定であっても
、極めて信頼性の高い測定結果を得る仁とができる。
第１図は光起電半導体の電圧電流特性の測定方法に用い
られる装ＷＩＣ・−例を棲式的に示す説明図、第２図は
光起電半導体の等価回路を示す説明図、第３図及び第４
図は本発明方決の説明勿及び説明用線図である。 １・・・閃光放電灯 ２・・・電圧源３・・・
電波、測定器 ＰＤ・・・光起電半導体ＣＰＤ
・・・内部容量 Ａ、Ｂ・・・電極第１図 第３図
られる装ＷＩＣ・−例を棲式的に示す説明図、第２図は
光起電半導体の等価回路を示す説明図、第３図及び第４
図は本発明方決の説明勿及び説明用線図である。 １・・・閃光放電灯 ２・・・電圧源３・・・
電波、測定器 ＰＤ・・・光起電半導体ＣＰＤ
・・・内部容量 Ａ、Ｂ・・・電極第１図 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）その電圧電流特性を測定すべき光起電半導体に閃光
放電灯よ〕の閃光パルスを照射して、その閃光パルスの
照度一定時間内にお−て、前記光起電半導体の電極間に
、電圧値が時間的に変化する電圧を印加して前記電極間
に？ける電流値変イの測定を行なう主測定を行なψ、 暗空関において前記光起電半導体の電極間に前記主測定
におけると同じ状態で変化する電圧を印加して前記電極
間における電流値変化の測定を行なう第１の補助測定と
、暗空ｍにおいて前記光起電半導体の電極間Ｋｌｌ！１
の補助測定にお妙るよ）時間豹変化の割合が小さい状態
で変化する電圧を印加して前記電極間における電流値変
化の一測定を行なう第２の補助測定と、前記第１の補助
測定と前記第２０補助測定の各々によシ得られた同一電
圧値に対応する電流値の差に基−で前記主測定に（２） おいて得られた測定結果の評価又は補正を行なうこａｔ
＊＊ａする光起電半導体の電圧電波特性の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56175598A JPS5877672A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 光起電半導体の電圧電流特性の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56175598A JPS5877672A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 光起電半導体の電圧電流特性の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5877672A true JPS5877672A (ja) | 1983-05-11 |
Family
ID=15998881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56175598A Pending JPS5877672A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 光起電半導体の電圧電流特性の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5877672A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6192884U (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-16 | ||
| JP2002166234A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-11 | Sharp Corp | 薄形板状半導体部品の検査分類システム |
| CZ306858B6 (cs) * | 2016-10-12 | 2017-08-09 | České Vysoké Učení Technické V Praze Fakulta Elektrotechnická | Způsob rychlé analýzy fotovoltaických modulů a zařízení k jeho provádění |
| FR3089015A1 (fr) * | 2018-11-28 | 2020-05-29 | Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives | Procédé de détermination d'une courbe courant-tension corrigée caractéristique d'un système électrique |
-
1981
- 1981-11-04 JP JP56175598A patent/JPS5877672A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6192884U (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-16 | ||
| JP2002166234A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-11 | Sharp Corp | 薄形板状半導体部品の検査分類システム |
| CZ306858B6 (cs) * | 2016-10-12 | 2017-08-09 | České Vysoké Učení Technické V Praze Fakulta Elektrotechnická | Způsob rychlé analýzy fotovoltaických modulů a zařízení k jeho provádění |
| FR3089015A1 (fr) * | 2018-11-28 | 2020-05-29 | Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives | Procédé de détermination d'une courbe courant-tension corrigée caractéristique d'un système électrique |
| EP3660524A1 (fr) | 2018-11-28 | 2020-06-03 | Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives | Procédé de détermination d'une courbe courant-tension corrigée caractéristique d'un système électrique |
| US11336225B2 (en) | 2018-11-28 | 2022-05-17 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Method for determining a corrected current-voltage characteristic curve of an electrical system |
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