JPS5872672U - 加速寿命試験装置 - Google Patents

加速寿命試験装置

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JPS5872672U
JPS5872672U JP16782081U JP16782081U JPS5872672U JP S5872672 U JPS5872672 U JP S5872672U JP 16782081 U JP16782081 U JP 16782081U JP 16782081 U JP16782081 U JP 16782081U JP S5872672 U JPS5872672 U JP S5872672U
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JP
Japan
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accelerated life
test equipment
life test
thermostatic chamber
equipment
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Pending
Application number
JP16782081U
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English (en)
Inventor
三「淵」 誠
Original Assignee
日本電気株式会社
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Publication date
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の構成を示す平面図、第2図は本考案
の実施例を示す平面図である。 1・・・恒温槽、2・・・開口部、3・・・第1の扉、
4・・・第2のJjL aa、  4a・・・ソケット

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体装置の加速寿命試験を行なう恒温槽を有する装置
    において、該恒温槽の開口部全体をそれぞれ単独で開閉
    する少くとも2以上の扉を設け、各々の扉に製品差込用
    ソケットを備えたことを特徴とする加速寿命試験装置。
JP16782081U 1981-11-11 1981-11-11 加速寿命試験装置 Pending JPS5872672U (ja)

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JP16782081U JPS5872672U (ja) 1981-11-11 1981-11-11 加速寿命試験装置

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JP16782081U JPS5872672U (ja) 1981-11-11 1981-11-11 加速寿命試験装置

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JPS5872672U true JPS5872672U (ja) 1983-05-17

Family

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JP16782081U Pending JPS5872672U (ja) 1981-11-11 1981-11-11 加速寿命試験装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59184534A (ja) * 1983-04-04 1984-10-19 Hitachi Ltd エ−ジング装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5224078A (en) * 1975-08-19 1977-02-23 Toshiba Corp Ic use measuring device

Patent Citations (1)

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