JPS5860249A - ガス検知装置 - Google Patents

ガス検知装置

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JPS5860249A
JPS5860249A JP15819981A JP15819981A JPS5860249A JP S5860249 A JPS5860249 A JP S5860249A JP 15819981 A JP15819981 A JP 15819981A JP 15819981 A JP15819981 A JP 15819981A JP S5860249 A JPS5860249 A JP S5860249A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
detection
resistance
circuit
change
Prior art date
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Pending
Application number
JP15819981A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomokazu Domon
土門 知一
Masaki Katsura
桂 正樹
Masayuki Shiratori
白鳥 昌之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP15819981A priority Critical patent/JPS5860249A/ja
Publication of JPS5860249A publication Critical patent/JPS5860249A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0004Gaseous mixtures, e.g. polluted air
    • G01N33/0009General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
    • G01N33/0062General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the measuring method or the display, e.g. intermittent measurement or digital display
    • G01N33/0063General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the measuring method or the display, e.g. intermittent measurement or digital display using a threshold to release an alarm or displaying means

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は金属酸化物半導体を使用したガス検知装置の改
良に関する。
従来の接触燃焼型の検知素子と比べると半導体式の検知
素子は安価である上、取抄扱いが簡単で、かつ比較的低
濃度のガスをよく検知するので広く使用されて−る。例
えば爆発の危険があるガスが通常その爆発下限界濃度1
/1081度空気中に存在するだけで十分な応答を示し
、書味を発するとか元栓を閉止するなどの動作を行わせ
ることができる。
この様な使用目的は通常検知素子と電子回路とから構成
され、電子回路が常に素子の抵抗値を測定し、素□子抵
抗があらかじめ設定された抵抗値を上まわるかもしくは
下まわると回路が信号を発し善報機能もしくは元栓閉止
機構を動作させるよう設計される。−例を挙げると被検
ガスが還元性で用いる半導体素子がn型の場合ガスとの
接触により素子抵抗は低下するので上述の」路に於いて
あらかじめ設定した抵抗値を素子抵抗値が下まわれば動
作する回路とすればよい。またn型半導体素子を用いて
酸化性ガスを検出するには、あらかじめ設定しておいた
抵抗値を素子抵抗値が上まわった時に回路が動作するよ
うに設計する。もしも用−る素子がp型半導体であれば
上述の素子抵抗値の関俄を逆にすればよい◎ いずれにしても半導体型の検知素子は被検ガスの秦度に
応じた抵抗値を示す。従って目的濃度に対応する抵抗値
に素子が達した時に動作する回路を用い°ることによ艶
ガスの検出が可能である。
し必しながら上述の原理に基づく回路構成は、被測定空
間が比較的安定で微量な妨害ガスいわゆる雑ガスが存在
しない時には有効であるが、目的成分以外の雑ガスが存
在する時には雑ガスによっても動作し易く、特に目的と
するガスが通常数百ppm以上の時は比較的雑ガスの影
響が小さいがt o o ppm以下を検出しようとし
た場合、雑ガスによっても談信号を発する恐れがある。
また目的が空中の空気中のガスを検出する場合は従来の
方法でも十分実用になるが、例えば配管からの微少な漏
れ等を検出する場合、漏れ量よりも漏れ個所を特定する
ことが必要である。
この場合、検出素子を配管等に沿って移動させながら微
少なガスを検出するため微少な検知素子の抵抗変化をす
ばやく検出する事が必要である。
半導体素子はガスに対する感度、即ち抵抗変化は大きい
がその変化には一定の時間を要す。
通常数百ppm以上のガスに対して半導体素子が十分な
応答を示すには1)秒程度を要す。従って雰−気のゆる
やかな変化に対する検出には十分であるが、配管に沿っ
て漏れ個所を特定するためには応答が遅すぎ、目的を達
することはできない。
本発明は、この従来方法の応答性を改良し、配管等の漏
れ個所を特定するのに適した、応答速度が連く、かつゆ
るやかな雑ガスの変動には動作しな―ガス検知装置を提
供することを目的とする。
本発明は、すなわち、金属酸化物半導体よりなるガス検
知素子とこの検知素子の抵抗値変化を検出する検知回路
とを具備し、前記検知回路が前記検知素子の抵抗値変化
速度を検出応動することを特徴とするガス検知装置に関
するものである。
ガスの量による従来の検出−路では、前述の如く実用的
な速度でガス漏れ個所を検出特定する事はできない。し
かしながらガスの漏れ量が極めて少くとも、検出素子自
身は抵抗炭化を起して−るのでdR/dt (R:素子
抵抗、t;時間)は素子にガスが接触した瞬間より比較
的大きな値をもつ。しかも一般的にdR/dtの変化は
素子にガスが接触した瞬間が最も大きく、その後次第に
減少する。この概念を示す曲線図を第1v!:i(+!
L) 、 (b)に示す。#!1図(a)はRのガス接
触による時間変化、第1図(′b)はdR/d tの同
じく時間変化を示す。即ち第1図(&)のようなゆるや
かな抵抗値変化に対し、その微分出力は急激に変化する
従って第1図中)で点線で示した如< dR/dtの一
定値をあらかじめ設定しておけばガスの漏れに伴い極め
て速かにガス漏れを検出できる。また一般にガスの濃度
に比例的に抵抗変化速度は大となるので第1図中)に於
けるpのレベルの高低からガス濃度を測定できる。
第1図でみる限り第1図(&)の方法でも速かな検出を
する事は原理的に可能である。そのためには第1図(a
)に於ける検出レベルの点線を上方に設定すればよい。
しかしながら、その場合、雰−気の雑ガスによるゆるや
かなRの変動を信号として入力してしまい、実際には誤
報が多く使用に耐えない。従って微量なガス漏れを配管
等に沿って検知素子を移動さぜ検出するには本発明によ
るQ/dtを検出する方法が適している。
実際にdPy’dtを用いてガス漏れを検出する場合、
第1図の)の如自応答波廖がIl!測される。点線で示
した設定レベルをdR,/d tが越えている間、警報
はtoだけ発せられる。この時間が十分に長、4い場合
は問題な−が、短い場合は認知できぬことがある。そこ
で7リツププロツプ回路を出力側に入れ、dR/dtの
変化が起った場合の入力を受けて、その状態を持続させ
る事もできる。その場合、ガス除去に伴ってdVdtは
逆方向のビータがでる事を利用し、これをトリガーとし
て7リツプ70ツブの状態を元に戻す事ができる。
さらに雰囲気に被検ガス以外の雑ガスが存在し、ゆるや
かに変動する場合、検出素子の出力を微分する回路の時
定数を適当に選択する事によりこれらのノイズをある程
度除去できる。
図面によって説明すれば第2図は抵抗値Rの挙動を示し
たもので図中点線で示したものは理想的な清浄空気中に
被検ガスが漏れた場合を表す。ところが実際には微量の
雑ガスが存在し、最悪の場合同図の実線で示す如く雑ガ
スによる抵抗変化が被検ガスレベルを越える事がある。
この場合、従来方法の回路では誤報となる。
また同図に雑ガスが存在する中で被検ガスを検出する場
合を一点鎖線で示す。この場合も被検ガスに応じて素子
抵抗は減少するものの最悪時には雑ガスのみで検知レベ
ルを越えてしまうので実際には被検ガスと雑ガスの区別
はっかない。
一方、本発明による抵抗値の変化の検知装置に於いては
第3図に示す如く、ゆっくりとした雑ガスによる変動に
対してdR/dtは小さくあられれ、被検ガスの漏れに
検知素子が接するとdR/dtは大きい変化となるので
、第3図の如く明獣な出力が得られる。
従って本発明による検出方式は通常のゆつ〈抄した雰囲
気の変化には応答せず配管等の漏れ個所に検知素子が遭
遇したときのみ大きな出力が得られるのでガス漏れ個所
の検出器としては極めて適した方式である。
本発明の実施例を、図面によって説明すれば、第4図に
おいて、金属酸化物半導体よ抄なるガス検知素子41の
抵抗変化を増幅回路42で増幅し、更に微分回路43を
通して微分した後比較−路44でその変化の大小を判別
して表示器45で表示するものである。表示器としては
液晶、LED、ブザー等の周知のものが使用できる。
ガスを検知した後、その表示を継続するためには、第5
図に示すように、前記第4図の比較回路44、表示器4
5の中間に7リツププロツプ111656を介装し、増
幅器42よりの出力の一部を微分回路53、比較回路5
4を経てパルス発生1m1657に導入しこの出力を再
び7リツプ70ツブ回路56に人力するリセット回路5
8を設ければ、表示は続行される。第6FI!Jは、#
I4゛図の具体的な回路を説明する実施例の回路図で、
加熱ヒータ60を有する検知素子61はガスにより抵抗
値は減少しこの変化は増幅器62によって増幅され、出
力はコンデン?63が抵抗64.65よやなる微分回路
を経てインバータ66に加えられる。インバータ66の
出力電位は通常低電位に保たれているが、ガス検知によ
る抵抗値の変化によ艶高電位に変化し、抵抗67を通り
トランジスタ68のペースエミッタ間の電位は減少し、
コレクタ接地間に接続され発光中の発光ダイオード69
を消灯させてガスを検知したことを知らせる。他方前記
増幅器62よりの出力をコンデンサ70、抵抗71゜7
2よ抄なる微分回路を経て、さらに、インバータ73,
74の直列回路を経゛て抵抗75を通9トランジスタ7
6のベースに加えればインバータ74の出力電位は通常
低電位になっているが、検知素子の抵抗変化がガスとの
接触によ抄増加する場合はトランジスタ76のコレクタ
に点灯している発光ダイオ−F77を消灯しガスを検知
したことを示す。このとき、前記発光ダイオード69は
点灯し慶侭である。表示を継続させる丸めにはインバー
タ66及びフ4の後に7リツプ70ツブ回路を設ければ
よい。この回路は電源78、ダイオ−)79、抵抗80
、定電圧ダイオード81によって電力が供給される。
以上説明したごとく本発明によれば検知素子の抵抗値の
変化を検知して信号を錫化ずるので、ガス漏れ個所の検
知装置として有利なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は検知素子の抵抗変化を示す曲線図、第2Wiは
被検ガスと繍ガスの混入による検知素子の抵抗と時間の
変化を示す曲線図、第3図は本発明の検知回路によって
得られるdt%/dtの波形図、第4Wiは本発明の実
施例の回路構成図、第511は本発明の他の実施例の回
路構成図、第61i1は本発明の実施例のaSWiであ
る。 41 、61−・・検知素子、42.62−増幅器、4
3.53・・・微分回路、44 、54−・比較回路、
45・・・表示器、56−・・7リツプ70ツブ回路、
57・・・パルス発生回路、58・・・リセット回路、
63.70・・・コンデンサ、64,65,71,72
゜67.75.80・・・抵抗、66.73.74・・
・インバータ、68.76・・・トランジスタ、69゜
77・・・発光ダイオード、79・・・ダイオード、7
8・・・電源、81・・・定電圧ダイオード。 (b)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属酸化物半導体よ抄なるガス検知素子とこの検知素子
    の抵抗値変化を検出する検知回路とを具備し、前記検知
    回路が前記検知素子の抵抗値変化速度を検出応動するこ
    とを特徴とするガス検知装置。
JP15819981A 1981-10-06 1981-10-06 ガス検知装置 Pending JPS5860249A (ja)

Priority Applications (1)

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JP15819981A JPS5860249A (ja) 1981-10-06 1981-10-06 ガス検知装置

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JP15819981A JPS5860249A (ja) 1981-10-06 1981-10-06 ガス検知装置

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JPS5860249A true JPS5860249A (ja) 1983-04-09

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ID=15666433

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JP15819981A Pending JPS5860249A (ja) 1981-10-06 1981-10-06 ガス検知装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01117557U (ja) * 1988-02-04 1989-08-08

Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS567056B2 (ja) * 1973-10-03 1981-02-16

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