JPS5848292A - Address buffer circuit - Google Patents

Address buffer circuit

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JPS5848292A
JPS5848292A JP56145465A JP14546581A JPS5848292A JP S5848292 A JPS5848292 A JP S5848292A JP 56145465 A JP56145465 A JP 56145465A JP 14546581 A JP14546581 A JP 14546581A JP S5848292 A JPS5848292 A JP S5848292A
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inverter
signal
stage
latch
buffer circuit
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JP56145465A
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Hideaki Ito
伊藤 英朗
Atsushi Suzuki
敦詞 鈴木
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the scale of an address buffer circuit, by securing the synchronism just with a latch signal for a clock synchronizing C-MOS address buffer circuit having the reduced power consumption. CONSTITUTION:A clock synchronizing C-MOS address buffer circuit contains a first stage inverter 1, the next stage inverter 2 and an FF3. The power consumption of such buffer circuit is reduced with use of the latch signal that activates the inverter 1 only for a period during which the input address signal AIN is latched. Furthermore this latch signal is used to secure the clock synchronism between the inverter 2 and the FF3. Then the mutual conductance of the transistors forming the inverter 2 is set larger than that of the transistors forming the FF3 to assure the latching action of the FF3. In such way, the synchronism is secured only with the latch signal. This can reduce the scale of an address buffer circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、相補1!MO8(0MO8)・ RAMCラ
ンダム・アクセス・メモリ)K用りるのに好適なアドレ
ス・バッファ回路に関するロ一般に%C−MO8−RA
MK於けるラッチ型のアドレス・バッフ丁@IIは、C
PU(中央処■゛1ull)*から入力アドレス信号を
、C−MO8インバータを介して、りpツク信号に同期
してラッチするものであり、ラッチされたアドレス信号
はデコーダを介してメ峰り・セルのアドレス指定に供せ
られる。C−MO8インバータは、周知の如く、pチャ
ネルトランジスタとnチャネルトランジスタを直列接続
してこれらのゲートに共通に入力信号を印加すゐよう忙
構成されており、入力レベルがこれらのトランジスタの
一方のみを導通状態にしている静止時にはリーク電R以
外の直流の通路がないので、この時の消費電流は数lO
μA以下と極めて少々いという特徴を有している0とこ
ろが、C−MOSアドレス・パラフッ回路の入力アドレ
ス信号の電位レベルは必ずしも一方のトランジスタのみ
を導通状態にするようには保証されておらず、入力アド
レス信号のレベルに依存して少なくともC−MO8O8
アドレスパラツアー初段インバータで、最高で数lo 
OsA II変の直流的な電流が流れることがある、例
えば4にビットRAMの場合、この直流電fllKよる
金体0消費電流社数mAKも遅し、C−MO8デバイス
の特質が損なわれてしまう口 水出−人は、C−MO9アドレス・パラフチ回路の初段
インバータにおける上記消費電at軽減するために、昭
和54年12月19日出願の特願昭54−165232
Kかいて、入力アドレス信号のラッチを行う期間のみ初
段インバータを動作させるためOラッチ信号を発生させ
るクロツタ回路を付加したアドレス・パラフチ胞略を提
案した。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides complementary 1! Regarding address buffer circuits suitable for use in MO8 (0MO8) RAMC random access memory)K, generally %C-MO8-RA
The latch type address buffer @II in MK is C
The input address signal is latched from the PU (central processing unit)* via the C-MO8 inverter in synchronization with the rip-tuk signal, and the latched address signal is output to the input address signal via the decoder.・Used for cell addressing. As is well known, the C-MO8 inverter is constructed in such a way that a p-channel transistor and an n-channel transistor are connected in series and an input signal is commonly applied to the gates of these transistors. Since there is no direct current path other than the leakage current R when it is at rest and is in a conductive state, the current consumption at this time is several liters of ohm.
However, the potential level of the input address signal of the C-MOS address/parameter circuit is not guaranteed to make only one transistor conductive. At least C-MO8O8 depending on the level of the input address signal
Address Paratour first stage inverter, maximum several lo
For example, in the case of a 4-bit RAM, a DC-like current of OsA II variation may flow, and the current consumption mAK due to this DC current is slow, and the characteristics of the C-MO8 device are impaired. - In order to reduce the above-mentioned power consumption at the first stage inverter of the C-MO9 address/parameter circuit, we have filed a patent application No. 54-165232 filed on December 19, 1978.
K. proposed an address/parameter architecture with an additional clock circuit that generates an O-latch signal in order to operate the first-stage inverter only during the period when the input address signal is latched.

このラッチ信号を用いる仁とにより、ラッチ期間以外で
は初段インバータが動作しないので、入力アドレス信号
のレベルの如何に関らず初段インバータを流れる直流的
な零流は零となり消費電力は大幅に低減された。
By using this latch signal, the first-stage inverter does not operate outside of the latch period, so regardless of the level of the input address signal, the direct current flowing through the first-stage inverter becomes zero, significantly reducing power consumption. Ta.

ルかしながら、上述の本出願人による先行技術によれば
、上記ラッチ信号によるり四ツク同期以外に、次段イン
バータ中うッチ用7リツプ70ツブtS作させるために
従来から用いられていたクロック信号およびその反転信
号にょるクロック同期をも行わなければならない口すな
わち、アドレ。
However, according to the above-mentioned prior art by the present applicant, in addition to the four-way synchronization, the latch signal has been conventionally used to generate a 7-lip 70-tub tS for the middle of the next-stage inverter. In other words, clock synchronization must also be performed using a clock signal and its inverted signal.

ス・パラフチ回路のり、胃ツク同期を三相のクロック信
号で行わなければならず、従って三相のクロック信号を
発生する1路が必要となり、回路規模が大きくて装置価
格が高くなるという問題かあ、る・本発明の目的は、上
述の先行技術における問題にかんがみ、入力アドレス備
考のラッチを行う期間のみ初段インバータを動作させる
ラッチ信号で次段インバータの夕はツタ同期をも行い、
かつ次段インバータを構成するトランジスタの相互コン
ダク、りどスtm tラッチ用の7リツプフロツプを構
成するMO8トランジスタの相互=ンダクタンスgmj
り大ならしめてクロック信号なしでラッチが可能なよう
にするという構想に基づき、ラッチ信号を用いて消費電
力を低減化したネタロック同期型のC−MOSアドレス
・バッフ丁回路において、単一の相のり嚢ツタ信号で同
期させることによ)回路規模の縮少化を図り、装置価格
を低減することにある〇 以下、本発明の実施例を先行技術と対比しガから添lr
図面に基づいて説明する。
The problem is that the space/parameter circuit connection and stomach synchronization must be performed using three-phase clock signals, and therefore one path that generates three-phase clock signals is required, resulting in a large circuit scale and high equipment cost. In view of the problems in the prior art described above, the purpose of the present invention is to provide a latch signal that operates the first stage inverter only during the period when input address notes are latched, and also performs vine synchronization in the evening of the next stage inverter.
And the mutual conductance of the transistors constituting the next stage inverter, the mutual conductance gmj of the MO8 transistor constituting the 7 lip flop for the latch.
Based on the idea of making latching possible without a clock signal on a larger scale, we developed a single-phase C-MOS address buffer circuit that uses a latch signal to reduce power consumption. The purpose of this invention is to reduce the circuit scale (by synchronizing with the glue bag signal) and reduce the cost of the device.Hereinafter, the embodiments of the present invention will be compared with the prior art and the following will be attached.
The explanation will be based on the drawings.

1115clは本出願人により先に提案さrtた従来の
アドレス・バッフ丁回路(特願昭I54−165232
参照)t−示す回路図であるc=I11図において、ア
ドレスバッファ回路は、入力アドレス信号A8wが入力
される初段インバータlと、初段インバータlの出力端
N、に接続された次段インバータ2と、次段インバータ
2の出力端N2に接続された7リツプ7oツブ3とを備
えている。フリップフロップ3ノ2ツ17)出力はイン
バーpINV、、INV* を介してそれぞれ出力アド
レス信号AおよびAとして図示しないデコーダに出力さ
れる。初段インバータ!を構成するpチャネルトランジ
スタQ、と電源Ye@の関ic % P f Jwネル
トランジスタQ、が挿入されている。初段インバータl
の出力端Nlと接地電源Vsmの間にnチャネルトラン
ジスタQ4が挿入されている0トランジスタQl−Q4
は、そのゲートにラッチ信号〜を受は歌るロ次段インバ
ータ2内のシチャネルトランジスタ電と電源Vecの間
には内部り■ツク信号φをゲートに受は覗るpチャネル
トランジスタQ7が挿入されており、nチャネル゛トラ
ンジスタQ、と接地電源Vsaの関には内部反転り四ツ
ク信号φtゲートに受取るnチャ゛ネルトランジスタも
が挿入されている。7リツプツロツプ3と電If Vc
 eおよび接地電源vlの間にも同様に−゛ して1クロック信号φを受取るpチャネルトランジスタ
Q+tおよびり冨ツク信号φを受取る鳳チャネルトラン
ジスタQu がそれぞれ挿入されている。
1115cl is a conventional address buffer circuit (Japanese Patent Application No. 165232/1989) previously proposed by the present applicant.
In the circuit diagram c=I11, which is a circuit diagram shown in FIG. , and a 7-lip 7o-tube 3 connected to the output terminal N2 of the next-stage inverter 2. The outputs of flip-flops 3 and 2 (17) are output to a decoder (not shown) as output address signals A and A, respectively, via inverters pINV, , INV*. First stage inverter! A p-channel transistor Q constituting the power supply Ye@ and a p-channel transistor Q constituting the power supply Ye@ are inserted. First stage inverter
0 transistor Ql-Q4 in which an n-channel transistor Q4 is inserted between the output terminal Nl and the ground power supply Vsm.
A p-channel transistor Q7 is inserted between the p-channel transistor voltage in the next stage inverter 2 and the power supply Vec, which receives the latch signal φ at its gate. An n-channel transistor is also inserted between the n-channel transistor Q and the ground power supply Vsa to receive the internal inverted four-channel signal φt gate. 7 Ripdrop 3 and Electric If Vc
Similarly, a p-channel transistor Q+t for receiving a one-clock signal φ and a high-channel transistor Qu for receiving a full-clock signal φ are inserted between the power supply e and the ground power source vl.

112図は第1図の回路の次段インバータ2およびツリ
ツブフロップ3を駆動させるための内部り四ツク惰号φ
およびその反転信号φ【発生す為内部り四ツ゛り信号発
生回路である。図から明らかなように、内部り■ツク信
号φは、入カクロック信号CEtインバータINV、〜
INV、l介する仁とにより得られ、内部反転タロツク
信号7はφをさらに一段のインバータINV、l介する
ことにより得られる。
Fig. 112 shows an internal four-wheel inertia signal φ for driving the next-stage inverter 2 and tree tube flop 3 in the circuit shown in Fig. 1.
This is an internal four-turn signal generation circuit to generate the inverted signal φ. As is clear from the figure, the internal clock signal φ is connected to the input clock signal CEt inverter INV, ~
The internal inverted tally signal 7 is obtained by further passing φ through one stage of inverters INV,1.

@3図は111図の回路の初段インバータlを駆動する
ためのラッチ信’It〜を斃生するラッチ信号発生回路
である。第3図において、内部反転クロツタ信号φはイ
ンバータINV、、INV、およびINV、に↓って増
幅および波形整形される0インバータINV、の出力端
N、と電源Vceの間KhPチャネルトランジスタQ、
dJE挿入されており、インバータINV、を構成する
nチャネルトランジスタQz。
@3 Figure is a latch signal generation circuit that generates a latch signal 'It~ for driving the first stage inverter l of the circuit in Figure 111. In FIG. 3, the internal inversion clock signal φ is amplified and waveform-shaped by the inverters INV, , INV, and INV, and the KhP channel transistor Q is connected between the output terminal N of the inverter INV and the power supply Vce.
dJE is inserted, and an n-channel transistor Qz forming the inverter INV.

と接地電源、Vssとの聞にはnチャネルトランジスタ
Qz+が挿入され啄いる。トランジスタQ8・およびQ
□のゲートは、第2Hのり党ツク信号発生回路0初段イ
ンバータINV、の出力端N4に!!続されている口こ
の構成により、インバータINV、の出力端には、内部
反転クロック411勺゛φの切替り時から所定遅延時間
だけ立下るラッチ信号へか得られるO 第4図は@1図ないし113図の回路の動作説明用波形
図である0第4図(a)はメモリを活性化するための入
力クロック信奇CE%@4図(b)は入力クロック信号
C)J応じて観2図に示した回路によって得られる内部
クロック信号φおよびφ、@4図(e)は@3図に示し
た回路によって得らnるラッチ信4I〜、114図−)
は観1図に示したアドレス・バッフ丁回路に入力される
入力アドレス信号であp。
An n-channel transistor Qz+ is inserted between the power supply and the ground power supply, Vss. Transistor Q8 and Q
The gate of □ is connected to the output terminal N4 of the first stage inverter INV of the 2nd H gate signal generation circuit 0! ! Due to the configuration of the inverter INV, a latch signal that falls for a predetermined delay time from the switching of the internal inverted clock 411 is obtained at the output terminal of the inverter INV. 0 to 113 are waveform diagrams for explaining the operation of the circuits shown in FIG. Internal clock signals φ and φ obtained by the circuit shown in Fig. 2, @4 (e) are latch signals 4I~, 114 - obtained by the circuit shown in @3)
p is the input address signal input to the address buffer circuit shown in Figure 1.

内部クロック信号φが低レベルから高レベル−に切替っ
た時点における入力アドレス信号がラッチされるべき有
効アドレス信号である0114図(・)は第11117
)回路の出力に得られるラッチさ几た出力アドレス信号
である。襖4図(C)にみられる1うに、インバータI
Nη(1142図)のみによる遅延を受けてトランジス
タQse(@ 3図)t−オフにし、トランジスタQ2
1tオンにすることによ)立下9、次いで内部クロック
反転信号φの立下シ後、インバーIINV、 〜INV
、(11311)K!る遅延の後立上る0従って、ラッ
チ信号〜は入力アドレス信号のラッチを行なう期間のみ
低レベルにあり、こO期間のみ1111図のアドレス自
バッフチー酪O初段インバータlが活性化されている口
こうして、第4図(f)K示されるように、初段インバ
ータ1tllれる直流電流はラッチ期間以外では実質的
に零であり、ラッチ期間のみ零より大音い電流xcct
wが概れゐ。この究め、ラッチ信−I尭生@IIt−設
′けない従来のアドレス拳パツフテl1lGK比べて消
費電力が大幅に低減され九〇 しかしながら、鶴1図Oアドレス・バッフ7回路では、
次段インバータ!および7リツプ70ツブ307E1ツ
タ同期は、ラッチ信号〜とは別のクロツタ信号φおよび
−を用いているOで、クロック信奇発生I略として11
211および113図に示した複雑な一路を必要とし、
*を価格が高くつくと゛いう問題がありた。
The input address signal at the time when the internal clock signal φ switches from low level to high level - is the valid address signal to be latched.
) is the latched output address signal obtained at the output of the circuit. 1. Inverter I seen in Figure 4 (C)
Transistor Qse (@Fig. 3) is turned off with a delay due to only Nη (Fig. 1142), and transistor Q2
(by turning on 1t), after the falling edge of the internal clock inverted signal φ, the inverter IINV, ~INV
, (11311)K! Therefore, the latch signal ~ is at a low level only during the period when the input address signal is latched. As shown in Fig. 4(f)K, the DC current flowing through the first stage inverter 1tll is substantially zero except during the latch period, and the current xcct which is louder than zero only during the latch period.
W is about. This study results in a significant reduction in power consumption compared to the conventional address buffer 111GK, which does not provide a latch signal.
Next stage inverter! and 7 rip 70 lub 307E1 latch synchronization is O using clock signals φ and - which are different from the latch signal ~, and clock pulse generation I is abbreviated as 11
Requires the complicated route shown in Figures 211 and 113,
There was a problem that the price was high.

本発明はζO間聞隠解決すべく提案された%t)であ〕
、以下にそO実施f1を説明すゐ口wsmは本発@O−
実施飼によるアドレス・パッ7テaIIt示す回路図で
あ為、VXS図O回路において、1111図と同一部分
に社同−符奇が付してあり、@1図と同様に、初段イン
バータ11次段インバータ2、およびフリツーフロップ
3を備えて%AゐoIll園と異なるとζろは、第6図
のアドレス拳パッフテadoptsツク同期に用いられ
るラッチ信号“七〇が、第6図に示されゐラッチ信奇l
l生@路から得られる単−V@V信号であること・st
lollllKM!hbnてeA危、次R4yA−p゛
!を活性化す!*めOトランジスタ偽、7リツプ・71
1yプ3Yt活性化すゐ究めO)ランジスメCbs−9
1、が1に5110回路では不要であること、シよび、
次段インバータ!を構成す為pチャネルトランジスタ電
シよびhチャネルFうシジスIQGO相互=ンダタIン
スgm轄、7リツプ・アロツyst構威すXIpチャネ
ルトランジスタ侶およびnチャネルトランジスタQ:、
のgmより大きく設定してあり、それKより、後述す為
ように、次段インバータ20出力端の電位変化をフリッ
プ7Wyプ3がラッチするようくしていることである0
flN@mn@Sm0YVvx−パy 7 v@Wtt
)り四ツク同期用うッチ信4#〜を発生するためのクロ
ック同期用ラッチ信号発生回路であや、基本的には第2
図およびIK3図の回路を組合せたものと同勢であるが
、内部りpツク信号−およびdco形成が不要なので、
図から明らかなように、116図01路は112図およ
び一3図を組合せた回−に比べてインバータが2段分少
なくなっている。l161!1I110翻IIKよって
、@4図(C)に示したラッチ信号〜と実質的に同等の
クロック同期用ラッチ信号vし水掃られる。
The present invention was proposed to solve the problem of ζO.
, I will explain the implementation f1 below.
This is a circuit diagram showing the address pad 7teaIIt based on the actual operation, so in the VXS diagram O circuit, the same parts as in diagram 1111 are marked with the same symbol as in diagram 1111, and as in diagram @1, the first stage inverter 11th order The latch signal "70" used for synchronizing the address pad adopts in FIG. 6 is shown in FIG. Ilatch Shinki
It must be a single-V@V signal obtained from l raw @ path・st
lolllllKM! hbnteeA crisis, next R4yA-p゛! Activate! *Me O transistor fake, 7 lip 71
1yP3Yt Activation Sui Master O) Lungesme CBS-9
1 is unnecessary in the 5110 circuit, and
Next stage inverter! To configure the p-channel transistor voltage and the h-channel transistor IQGO, the 7-channel transistor and the n-channel transistor Q:,
As will be described later, the flip 7Wy is set to be larger than the gm of the next stage inverter 20 so that the flip 3 latches the potential change at the output terminal of the next stage inverter 20.
flN@mn@Sm0YVvx-Py 7 v@Wtt
) is a latch signal generation circuit for clock synchronization to generate four clock synchronization latch signals 4#~, and is basically a latch signal generation circuit for clock synchronization.
It is similar to the circuit shown in Fig. and IK3, but it does not require the internal pck signal and dco formation.
As is clear from the figure, the number of inverters in the circuit 116 and FIG. 1161!1I110 IIK, a latch signal for clock synchronization substantially equivalent to the latch signal shown in FIG. 4 (C) is generated.

ラッチ信号くが低レベルの時のみ、初段インバータlお
よび次段インバータ2が活性化され、入力アドレス信号
ム1買が覗9込まれる。このとき、スリップ・フロップ
3はインバータ2の出力端N1の電位レベルf5tpチ
する口このラッチ動作は、トランジスタQS−QSのg
m t )うシジスタQG* QC@の1m19大にし
たことによって確実化されるCすなわち、今、次段イン
バータ2の出力端N、が高レベル、tたφ−工高レしル
従肖て71ノ?プ・フロップ3の出力端N、が低レベル
にラッテされていゐとする。このとき、71Jツブ・フ
ロップ3内のトランジスタQssは非導通、QS4は導
通、Q;け導通、QCs は非導通状態にあ〕、次段イ
ンバータ2内のトランジスタqは導通、QSは非導通状
lIKあゐ−tたφ4が高レベルにあるため、Q、は非
導通状!IIKある口従って次段インバータ2の出力端
凡線高レベルにラッチされた壕宜である。次いで、ラッ
チ信号°〈が低レベルのとIK、入力アドレス信号Aい
が高レベルから低レベルに切替ると、NtFs高レベル
となって1次段インバータ2内のトランジスタQ;が非
導通、QSが導通となるにの時トランジスタQ;も導通
状IIIKあるが、αのgmはQSのgmより大なので
出力罎凡は低レベルになり、アリツブフロップ3の動作
によってN、は低レベルに、N3は高レベルに、従りて
曝は非導通状態、Q;。は導通状態になる。この状態の
壇ま1が高レベルに変化すると、Nは低レベルに&ゐた
めQSは非導通% QGは導通。
Only when the latch signal is at a low level, the first-stage inverter 1 and the next-stage inverter 2 are activated, and the input address signal MU1 is read. At this time, the slip flop 3 checks the potential level f5tp of the output terminal N1 of the inverter 2. This latch operation is caused by the g
m t ) C ensured by making the resistor QG * QC@ 1 m 19 large, that is, the output terminal N of the next stage inverter 2 is now at a high level, and t φ - working height level follows. 71 no? Assume that the output terminal N of the flip-flop 3 is latched to a low level. At this time, the transistor Qss in the 71J tube flop 3 is non-conductive, QS4 is conductive, Q is conductive, and QCs is non-conductive], the transistor q in the next stage inverter 2 is conductive, and QS is non-conductive. Since φ4 is at a high level, Q is non-conductive! Therefore, the output end of the next stage inverter 2 is latched to a high level. Next, when the latch signal 〈〈 is at a low level and the input address signal A is switched from a high level to a low level, NtFs becomes a high level, and the transistor Q in the primary stage inverter 2 becomes non-conductive, and QS When becomes conductive, transistor Q; is also in conduction state, but since the gm of α is larger than the gm of QS, the output voltage becomes low level, and due to the operation of the flop 3, N becomes low level. N3 is at a high level, so the exposure is non-conducting, Q; becomes conductive. When stage 1 in this state changes to a high level, N goes to a low level & so QS is non-conductive% and QG is conductive.

qは非導通状態にな9、アリツブフロップ3の状態は固
定きれラッチが完了する口またφ↓が高レベルにあり、
アリツブフロップ3のi力端N3が高レベルにラッチさ
れてLQるとき、へが低レベル番で入力アドレス信号A
I)lが低レベルから高レベルに変化する場合のラッチ
動作も同様に打力われる。
q becomes non-conductive 9, the state of the flop 3 is fixed and the latch is completed, and φ↓ is at a high level.
When the input terminal N3 of the Aritz flop 3 is latched to a high level and outputs LQ, the input address signal A is at a low level.
I) The latch operation when l changes from low level to high level is similarly affected.

以上の説明から明らかたよりに、本発明により、り四ツ
ク同期型のC−MOSアドレス・バッファ回路の初段イ
ンバータを、入力アドレス信号のラッチ期間のみ活性化
するラッチ信号のみで、アドレス・バッファ回路全体の
クロック同期を取ることができるようになり、低消費電
力化のみガらず、アドレスバラフッ回路およびそのクロ
ツタ信号発生回路の回路規模が縮少されるので、装置価
格を低減できる。
As is clear from the above description, according to the present invention, the first stage inverter of a four-clock synchronized C-MOS address buffer circuit can be activated only during the latch period of the input address signal, and the entire address buffer circuit can be This not only reduces power consumption, but also reduces the circuit scale of the address balance circuit and its crotter signal generation circuit, thereby reducing the cost of the device.

なお、本発嬰は前述の実施例に限定さnるものではなく
、各種変形が考えられる。例えば、回路に含まれるイン
バータの段数は必!!に応じて適宜増減してもよい0゛
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made. For example, the number of inverter stages included in the circuit is a must! ! 0゛ may be increased or decreased as appropriate depending on

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1ryJは従来の丁ドレス・バッファ回路を示す回路
図、第2112Iおよび@3図は千れぞl第1図の回路
に用いられる内部クロツタ信号発生口路およよび一ラッ
チ信号発生回路を示す回路図、第48iilは@iml
ないし第3図の動作説明用波形図、aS図は本発@O−
実施例忙よるアドレス1バッファ回I@を示すn略図、
そして@6図はll5lIIの回路に用いられるクロッ
ク同期用ラッチ信号発生回路を示す回路図である。 図KThいて、lは、初段インパーム2は次段インバー
/−3はフリップ・フロップ、φオはラッチ信号、φ。 、φ紘内部り勘ツク信号sA1.t;を入力アドレス信
号、A、ムは出カアドレス信漫、01社入力り―ツク信
号、°へ株クロック同期用ラッチ信号である。 4許出願人 ゛富壬通株式会社 特許出願代理人 弁−士 青 木    朗 弁−士 画 値 和 之 弁−士 内 1)申 男 弁理士 山 口 昭 之
1ryJ is a circuit diagram showing a conventional address buffer circuit, and Figures 2112I and 3 each show an internal clock signal generation port and a latch signal generation circuit used in the circuit of Figure 1. Circuit diagram, No. 48iil is @iml
The waveform diagram and aS diagram for explaining the operation in Figure 3 are from this source @O-
n schematic diagram showing the address 1 buffer times I@ according to the embodiment,
Figure @6 is a circuit diagram showing a clock synchronization latch signal generation circuit used in the ll5lII circuit. In the figure KTh, l is the first stage impalm 2, the next stage invert/-3 is a flip-flop, φo is a latch signal, and φ. , φHirouchi check signal sA1. t; is an input address signal; A and MU are output address signals; 01 is an input ri-tsuk signal; 4 Patent Applicant Tomitsu Co., Ltd. Patent Application Agent Attorney: Aoki, a Japanese dialect attorney (Japanese) 1) Shino patent attorney, Akiyuki Yamaguchi

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、 り四ツク同期型の相補11Ml8ランダム・アク
セス・メモリに用いられるラッチ型のアドレス・バッフ
ァ回路に於て、アドレス信号が入力される初段C−MO
Sインバータ、該初段C−MOSインバータと電源との
間に挿入されたlll0トランジスタ、該初段C−MO
Sインバータの出力端Kli続された次段C−MOSイ
ンバータ、該次段C−MOBインバータと該電源との間
に挿入さnたIIE2のトランジスタ、骸醜lおよび箇
2のトランジスタを該入力アドレス信号Oラッチを行な
う期間Oみオンにするラッチ信号を発生するタロツク回
路、および該次段インバータの出力端に接続されたアリ
ツブフロップを具備し、該次段インバータを構成するト
ランジスタのfmt1mアリツブフロップを構成するト
ランジスタのgmよ〕大ならしめたことにより、幀ラッ
チ信号のみtクロック信号として用いるよう、にしたこ
とtvi徽とするアドレス・バッ:7yll路。
1. In a latch-type address buffer circuit used in a four-way synchronous complementary 11M18 random access memory, the first stage C-MO to which an address signal is input is
S inverter, lll0 transistor inserted between the first stage C-MOS inverter and the power supply, the first stage C-MOS
The output terminal of the S inverter is connected to the next stage C-MOS inverter, the IIE2 transistor inserted between the next stage C-MOB inverter and the power supply, the IIE2 transistor, the Kuugou I and the Part 2 transistor to the input address. It is equipped with a tarlock circuit that generates a latch signal that turns ON ON during the period when the signal O is latched, and an arrest flop connected to the output terminal of the next-stage inverter, and an fmt1m arrester for the transistors constituting the next-stage inverter. By increasing the GM of the transistors constituting the flop, we decided to use only the latch signal as the clock signal.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6252793A (en) * 1985-06-20 1987-03-07 エスジーエス―トムソン マイクロエレクトロニクス インク. Low power operation address buffer
JPH0289292A (en) * 1988-09-26 1990-03-29 Toshiba Corp Semiconductor memory
JPH02105392A (en) * 1988-10-14 1990-04-17 Nec Corp Semiconductor memory device

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