JPS5822702B2 - Accorstates query detection device - Google Patents

Accorstates query detection device

Info

Publication number
JPS5822702B2
JPS5822702B2 JP11453178A JP11453178A JPS5822702B2 JP S5822702 B2 JPS5822702 B2 JP S5822702B2 JP 11453178 A JP11453178 A JP 11453178A JP 11453178 A JP11453178 A JP 11453178A JP S5822702 B2 JPS5822702 B2 JP S5822702B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
signal
circuit
molecular
detection means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP11453178A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5542007A (en
Inventor
佐藤弌也
武捨義則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11453178A priority Critical patent/JPS5822702B2/en
Publication of JPS5542007A publication Critical patent/JPS5542007A/en
Publication of JPS5822702B2 publication Critical patent/JPS5822702B2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアコースティック・エミッション(以下AEと
略記)検出装置に係わり、信号と異なる周波数特性を有
する雑音を除去するに好適な検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an acoustic emission (hereinafter abbreviated as AE) detection device, and more particularly to a detection device suitable for removing noise having a frequency characteristic different from that of a signal.

AE計測法は、材料や構造物自体が発生する弾性波を受
信して、それら被試験体の強度評価や欠陥の検査などを
行う手法である。
The AE measurement method is a method of receiving elastic waves generated by materials or structures themselves to evaluate the strength of the test objects, inspect for defects, etc.

本計測に当って、;従来からの懸案事項として、計測中
に発生する雑音を如何にして信号と弁別するかという問
題がある。
In this measurement, there is a conventional problem of how to distinguish noise generated during measurement from a signal.

この雑音除去方法としては、信号と雑音の特性差を利用
して識別する方法がとられている。
As a method for removing this noise, a method of identifying the signal and the noise using the difference in their characteristics is used.

例えば周波数特性に有意差がある場合には、周波数フィ
ルタによる弁別手段が従来から用いられている。
For example, when there is a significant difference in frequency characteristics, discrimination means using a frequency filter has conventionally been used.

この周波数フィルタによる従来方式について、第1図に
より説明する。
The conventional system using this frequency filter will be explained with reference to FIG.

同図は引張疲労試験において、き裂の進展なAE計測に
よって監視する場合を示し、試験片1がピン2,3を介
して治具4゜5に設置されているものとする。
The figure shows a case in which crack growth is monitored by AE measurement in a tensile fatigue test, and it is assumed that the test piece 1 is installed on a jig 4.degree. 5 via pins 2 and 3.

治具4は固定され、治具5に繰返し引張荷重が加えられ
る。
The jig 4 is fixed, and a tensile load is repeatedly applied to the jig 5.

前記試験片1にはAE倍信号検出するためのセンサ6が
設置されており、その出力電圧はプリアンプTによって
増幅並びにインピーダンス変換したのちフィルタ8を通
し、さらにメインアンプ9で増幅し、信号処理回路10
で信号処理を施して記録計11に出力される。
A sensor 6 for detecting the AE multiplied signal is installed on the test piece 1, and its output voltage is amplified and impedance-converted by a preamplifier T, passed through a filter 8, further amplified by a main amplifier 9, and then sent to a signal processing circuit. 10
The signal is subjected to signal processing and output to the recorder 11.

前記フィルタ8は、いわゆる雑音除去のための周波数フ
ィルタリング機能を有する。
The filter 8 has a frequency filtering function for so-called noise removal.

また、前記信号処理回路は、AE実効値変換回路、AE
イベント化回路、AEリングダウン計数回路などの機能
を有する。
Further, the signal processing circuit includes an AE effective value conversion circuit, an AE
It has functions such as an event generation circuit and an AE ringdown counting circuit.

このような引張疲労試験の場合、試験片1のノツチ部1
cから、き裂進展に伴って第2図aに示すように突発型
AE倍信号8が発生する。
In the case of such a tensile fatigue test, the notch part 1 of the test piece 1
As the crack propagates, a sudden type AE double signal 8 is generated from c, as shown in FIG. 2a.

また、その時ピン2,3の取付部あるいは治具4,5の
取付は部から、第2図aに示すような機械的雑音enが
発生することが多々ある。
Further, at this time, mechanical noise en as shown in FIG. 2A is often generated from the mounting portions of the pins 2 and 3 or the mounting portions of the jigs 4 and 5.

これらのAE倍信号雑音は試験片や試験機の形状、材質
、大きさ等の諸因子によって振幅や周波数特性などまち
まちであるが、信号と雑音の特性に特徴差があることも
多く、それを利用して信号識別が行われる1第3図はい
わゆるAE倍信号雑音の周波数特性例を示す。
The amplitude and frequency characteristics of these AE multiplied signal noises vary depending on factors such as the shape, material, and size of the test piece and testing machine, but there are often characteristic differences between the signal and noise characteristics, and these can be Figure 3 shows an example of the frequency characteristics of so-called AE multiplied signal noise.

同図に示すように、AE倍信号8に比らべて雑音enの
周波数成分が低い方にある場合には、遮断周波数fcな
る・・イパスフィルタ(HPF)を用いることによって
、ある程度雑音を減衰させることができるが、e8とe
nが重畳している周波数領域がある限り完全に分離する
ことは不可能である。
As shown in the figure, when the frequency component of the noise en is lower than that of the AE multiplied signal 8, the cutoff frequency fc is used to attenuate the noise to some extent by using an i-pass filter (HPF). However, e8 and e
As long as there is a frequency domain in which n overlaps, complete separation is impossible.

本発明の目的は、上述のような従来技術の欠点を無くし
、効果的に正規のAE倍信号みを検出してなるアコース
ティックエミッション検出装置を提供するにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art as described above and to provide an acoustic emission detection device that effectively detects only the normal AE multiplied signal.

本発明はAE計測において妨害となる雑音の除去効果を
あげるために、AE倍信号周波数帯域を通過させる周波
数フィルタを設け、その涙液出力信号と非沢波信号の出
力比を演算し、その比例係数の大小によってアナログゲ
ート回路を制御し、信号と雑音の識別を行う方法に関す
る。
In order to improve the effect of removing noise that becomes an interference in AE measurement, the present invention provides a frequency filter that passes the AE multiplied signal frequency band, calculates the output ratio of the tear output signal and the non-sweep signal, and calculates the ratio This invention relates to a method of controlling an analog gate circuit based on the magnitude of coefficients and discriminating between signals and noise.

第4図は本発明の一実施例を示し、プリアンプ7の出力
を分子系と分母系の二基に分け、分子系はAE倍信号主
周波数帯域を通過帯域とする信号用フィルタ8a、分子
系メインアンプ9a、分子系検波回路12aからなり、
分母系は分母系メインアンプ9b、分母系検波回路12
bからなる。
FIG. 4 shows an embodiment of the present invention, in which the output of the preamplifier 7 is divided into two groups, a numerator system and a denominator system. Consisting of a main amplifier 9a and a molecular detection circuit 12a,
The denominator system is a denominator main amplifier 9b and a denominator detection circuit 12.
Consists of b.

分子系検波回路の出力電圧Ea、分母系検波回路の出力
電圧Ebを除算回路13に入れ、その出力電圧(比例係
数〕の大小により信号か雑音をかを判別する比較回路1
4を通す(これについては出願人より先願有り)。
Comparison circuit 1 which inputs the output voltage Ea of the molecular system detection circuit and the output voltage Eb of the denominator system detection circuit into a division circuit 13 and discriminates whether it is a signal or noise based on the magnitude of the output voltage (proportionality coefficient).
4 (the applicant has an earlier application for this).

一方、分子系検波出力をイベント化回路15に入れ、そ
の出力と前記比較回路14の出力を制御信号発生回路1
6に入れ制御信号パルスを作る。
On the other hand, the molecular system detection output is input to the event generation circuit 15, and the output and the output of the comparison circuit 14 are input to the control signal generation circuit 1.
6 to create a control signal pulse.

さらに、分子系メインアンプ9aの出力電圧は遅延回路
17を通したのちアナログゲート回路18の入力信号と
して与え、前記制御信号発生回路16の出力パルスを前
記アナログゲート回路の制御信号として与える。
Further, the output voltage of the molecular main amplifier 9a passes through a delay circuit 17 and is then applied as an input signal to an analog gate circuit 18, and the output pulse of the control signal generation circuit 16 is applied as a control signal to the analog gate circuit.

第5図は本発明の詳細な説明するためのタイムチャート
を示す。
FIG. 5 shows a time chart for explaining the present invention in detail.

次回より分かるように、信号の場合には除算回路出力E
a / E bが比較電圧Erより太きいため制御信
号(A7)が発生し、アナログゲート回路出力(A8)
には信号電圧が出力される。
As you will see from next time, in the case of a signal, the divider circuit output E
Since a/Eb is larger than the comparison voltage Er, a control signal (A7) is generated, and the analog gate circuit output (A8)
A signal voltage is output.

一方、゛雑音の場合には除算回路の出力(屋5)が比較
電圧Erより低いため制御信号(A7)は発生せずアナ
ログゲート回路(羨8)には出力されない。
On the other hand, in the case of "noise", the output of the divider circuit (Y5) is lower than the comparison voltage Er, so the control signal (A7) is not generated and is not output to the analog gate circuit (Y8).

このように、本発明によれば信号と雑音を完全に分離す
ることができる。
In this manner, according to the present invention, signals and noise can be completely separated.

次に、分子系検波回路12aとイベント化回路15、及
び制御毎号発生回路16についてのより具体的な実施例
を第6図に示す。
Next, a more specific example of the molecular detection circuit 12a, the event generation circuit 15, and the control number generation circuit 16 is shown in FIG.

分子系検波回路12aは、半波又は全波整流回路120
、時定数回路121とより成る。
The molecular detection circuit 12a is a half-wave or full-wave rectifier circuit 120.
, and a time constant circuit 121.

この回路12aでは、分子系メインアンプを通して得ら
れる信号のエンベロープ信号を得ている。
This circuit 12a obtains an envelope signal of the signal obtained through the molecular main amplifier.

時定数回路121はエンベロープ信号を検出するための
高周波成分除去用のローパスフィルタの役割を持つ。
The time constant circuit 121 has the role of a low-pass filter for removing high frequency components for detecting an envelope signal.

イベント化回路15は検波回路12aから得られたエン
ベロープ信号を入力とする比較回路150、アンドゲー
ト151、リドリカプルモノマルチバイブレータ(MM
)152とより成る。
The event generation circuit 15 includes a comparison circuit 150 which inputs the envelope signal obtained from the detection circuit 12a, an AND gate 151, and a lid couple mono multivibrator (MM).
)152.

比較回路150では、エンベロープ信号と基準信号vR
とを比較し、基準信号vRよりも大きいレベルの信号を
波形整形して出力している。
In the comparison circuit 150, the envelope signal and the reference signal vR
A signal having a higher level than the reference signal vR is waveform-shaped and output.

この基準信号VRは、エンベロープ信号の低レベルの信
号をカットするために設定されている。
This reference signal VR is set to cut the low level signal of the envelope signal.

比較回路150の出力はアンドゲート151の一方の入
力に印加されている。
The output of comparison circuit 150 is applied to one input of AND gate 151.

アンドゲート151の他方の入力にバクロツク信号CL
が入力している。
The backclock signal CL is applied to the other input of the AND gate 151.
is inputting.

従って、アンドゲート151からは、比較回路150の
出力が存在する時のみのクロック信号CLが出力するこ
とになる。
Therefore, the AND gate 151 outputs the clock signal CL only when the output of the comparison circuit 150 is present.

この出力はMM152に入力する。このIVIMの時定
数(発振パルス巾)は上記クロック信号CLのパルス巾
T。
This output is input to MM152. The time constant (oscillation pulse width) of this IVIM is the pulse width T of the clock signal CL.

よりも大きく設定している(To十ΔT)。(To +ΔT).

この理由は、比較回路150の出力は断続する場合があ
り、その断続時間が小さい場合には信号が信号識別周期
にあり、大きい場合には次の信号識別周期に入っている
と認定するためである。
The reason for this is that the output of the comparator circuit 150 may be intermittent, and if the intermittent time is short, it is recognized that the signal is in the signal identification period, and if it is long, it is recognized that the signal is in the next signal identification period. be.

その断続時間がT十ΔTである。これによって、比較出
力が発生し次に一時的になくなり、続いて再び比較出力
がきた際に、上記一時的に比較出力の発生がない状態の
時には、その時間がT+ΔTよりも小さければ、1周期
の比較出力が未だ続くものとして、MMI 52は出力
を発生し続ける。
The intermittent time is T+ΔT. As a result, when a comparison output is generated, then temporarily disappears, and then a comparison output is generated again, if the above-mentioned temporary comparison output does not occur, if the time is smaller than T + ΔT, one cycle is generated. The MMI 52 continues to generate outputs as the comparison outputs of .

しかし、T+ΔTよりも大きい時間にはMM152の出
力はなくなり、比較周期は終了したものと認定される。
However, the output of the MM 152 disappears for a time greater than T+ΔT, and the comparison period is recognized as having ended.

いずれにしろ、正しい比較周期の出力がMMより得られ
ることになる。
In any case, the output of the correct comparison period will be obtained from the MM.

尚、T十ΔTを設定する真の原因は、信号周期が必ずし
も一定でないためであり、信号周期が一定値である時に
は、上記の如き方法は不用となる。
Note that the true reason for setting T+ΔT is that the signal period is not necessarily constant, and when the signal period is a constant value, the above method is unnecessary.

次に、制御信号発生回路16はアンドゲート160、微
分回路161、時間差検出回路162゜フリップフロッ
プ(FF)163より成る。
Next, the control signal generation circuit 16 includes an AND gate 160, a differentiation circuit 161, a time difference detection circuit 162, and a flip-flop (FF) 163.

アンドゲート160には、比較回路14の出力とイベン
ト回路15の出力が入力している。
The output of the comparison circuit 14 and the output of the event circuit 15 are input to the AND gate 160 .

比較回路14の出力は一般にイベント化回路15の出力
に比して若干の時間遅れを持っている。
The output of the comparison circuit 14 generally has a slight time delay compared to the output of the event generation circuit 15.

ゲート160は両信号が存在する時、tt l pp比
出力発生する。
Gate 160 produces a tt l pp ratio output when both signals are present.

この出力はフリップフロップ163をその立上りでトリ
ガし、セットする。
This output triggers and sets flip-flop 163 on its rising edge.

従って、FF163はゲート出力の発生と同時に、at
l n出力を発生し、アナログゲート回路18のスイ
ッチをオンする。
Therefore, at the same time as the gate output is generated, the FF163 at
ln output is generated and the analog gate circuit 18 is switched on.

次に、FF163のリセットの仕方を述べよう。Next, we will explain how to reset the FF 163.

時間差検出回路162では、イベント出力と比較回路1
4の出力とを入力とし、両者の立上がり時間差の検出を
行っている。
In the time difference detection circuit 162, the event output and the comparison circuit 1
4 is input, and the difference in rise time between the two is detected.

上述したように、イベント出力が先に発生し、若干の遅
延時間を持って比較出力が発生する。
As described above, the event output occurs first, and the comparison output occurs after a slight delay.

この発生時間差の検出を行っている。This generation time difference is detected.

更に、この検出した時間差は記憶され。ており、微分回
路162の出力をスタートとし、上記時間差経過後トリ
ガーパルスを発生するように検出回路162は構成され
ている。
Furthermore, this detected time difference is stored. The detection circuit 162 is configured to start with the output of the differentiating circuit 162 and generate a trigger pulse after the time difference has elapsed.

従って、カウンタが主たる構成要素となる。Therefore, the counter is the main component.

さて、微分回路161はゲート出力が存在する時のみ、
イベントJ北回路15の出力の立下りの微分を行ってい
る。
Now, the differentiating circuit 161 only when there is a gate output,
The falling edge of the output of the event J north circuit 15 is differentiated.

出力の立下りとはイベント出力が終了する時であり、従
って、検出回路162ではイベント出力の終了後、時間
差に相当する時間後、FF163をリセットすることに
なり、立上りの時間差なホロ。
The fall of the output is the time when the event output ends. Therefore, the detection circuit 162 resets the FF 163 after a time corresponding to the time difference after the end of the event output.

−することができる。−Can be done.

FF163の出力によってスイッチがオンし、そのオン
の区間の遅延回路17の出力が通過する。
The switch is turned on by the output of the FF 163, and the output of the delay circuit 17 in the on period passes through.

この通過する信号は前述した如く正規の信号であり、雑
音信号はカットされる。
This passing signal is a regular signal as described above, and noise signals are cut off.

尚、遅延回路17の遅れ時間は回路伝送上の遅れと上記
時間差に相当する時間との総和であり、従って、時間差
検出回路162によって遅延時間が制御可能になってい
る。
Note that the delay time of the delay circuit 17 is the sum of the circuit transmission delay and the time corresponding to the above-mentioned time difference, and therefore, the delay time can be controlled by the time difference detection circuit 162.

尚、時間差が無視できる場合もあり、その際には時間差
検出回路は不用であり、イベント出力の立下りのみによ
ってFF163をリセットするようにすればよい。
Note that there are cases where the time difference can be ignored, and in that case, the time difference detection circuit is unnecessary, and the FF 163 may be reset only by the fall of the event output.

他の実施例として、第4図の分母系メインアンプの前に
雑音の周波数帯域を通過帯域とする雑音用フィルタを設
けると、さらに大きな効果が得られる。
As another embodiment, an even greater effect can be obtained by providing a noise filter whose passband is the noise frequency band before the denominator main amplifier shown in FIG.

また、前記第4図の除算回路において、前記分子系検波
回路の出力電圧並びに前記分母系検波回路の出力電圧を
それぞれ累乗すると、さらに大きな比較効果が得られる
Further, in the division circuit shown in FIG. 4, if the output voltage of the molecular type detection circuit and the output voltage of the denominator type detection circuit are respectively raised to powers, an even greater comparison effect can be obtained.

以上のように、本発明によれば、従来方式に比らべ得ら
れるデータの信頼性がきわめて高くなるため、AE計測
法により製品の検査や機器の異常診断監視を行う場合、
その効果は大きなものがある。
As described above, according to the present invention, the reliability of the data obtained is extremely high compared to the conventional method.
The effect is significant.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はAE計測における従来例図、第2 a sb図
は1波処理前後の波形側図、第3図はAE倍信号びに雑
音の周波数特性側図、第4図は本発明の実施例図、第5
図は第4図の動作を説明するための説明図、第6図は本
発明のより具体的な実施例図である。 6・・・センサ、7・・・プリアンプ、12a・・・分
子系検波回路、12b・・・分母系検波回路、15・・
・イベント化回路、16・・・制御信号発生回路、18
・・・アナログゲート回路。
Fig. 1 is a diagram of a conventional example of AE measurement, Fig. 2 a sb is a waveform side diagram before and after 1-wave processing, Fig. 3 is a side diagram of frequency characteristics of the AE multiplied signal and noise, and Fig. 4 is an example of the present invention. Figure, 5th
The figure is an explanatory diagram for explaining the operation of FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram of a more specific embodiment of the present invention. 6...Sensor, 7...Preamplifier, 12a...Molecular system detection circuit, 12b...Denominator system detection circuit, 15...
・Event conversion circuit, 16...control signal generation circuit, 18
...Analog gate circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 時系列なアコースティックエミッションを電気信号
として検出するセンサと、該センサ出力を増巾して分子
系と分母系とにそれぞれ出力する手段と、上記センサ出
力を入力とし信号の周波数帯域に相当する信号のみを通
過させる分子系の帯域フィルタと、該分子系の帯域フィ
ルタを通して得られる出力を検波する分子系の検波手段
と、上記センサ出力を検波する分母系の検波手段と、上
記分子系の検波手段の検波出力と分母系の検波手段の検
波出力とを入力として除算し、その大小関係により信号
と雑音とを識別する判別手段と上記分子系の検波手段の
検波出力を入力としイベント化するイベント化回路と、
該イベント化回路出力と上記判別手段の出力とを入力と
し、上記判別手段の出力が存在する時間帯を含むイベン
ト出力がある時のみ、上記センサ出力を増巾して得られ
る信号を通すゲートをオンして出力し、該出力した信号
を正規のアコースティックエミッション信号として取り
出して検出してなる検出手段と、を備えたアコースティ
ックエミッション検出装置。
1 A sensor that detects time-series acoustic emissions as an electrical signal, means for amplifying the sensor output and outputting it to the numerator system and the denominator system, respectively, and a signal corresponding to the frequency band of the signal using the sensor output as input. a molecular-based bandpass filter that only passes through the molecular-based bandpass filter, a molecular-based detection means that detects the output obtained through the molecular-based bandpass filter, a denominator-based detection means that detects the sensor output, and a molecular-based detection means that detects the sensor output. and a discriminator that divides the detection output of the denominator system detection means and the detection output of the denominator system detection means as input, and distinguishes between a signal and noise based on the magnitude relationship; circuit and
A gate that receives the output of the event generation circuit and the output of the discrimination means as input, and passes a signal obtained by amplifying the sensor output only when there is an event output that includes a time period in which the output of the discrimination means exists. An acoustic emission detection device comprising: a detection means for turning on and outputting, and extracting and detecting the outputted signal as a regular acoustic emission signal.
JP11453178A 1978-09-20 1978-09-20 Accorstates query detection device Expired JPS5822702B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11453178A JPS5822702B2 (en) 1978-09-20 1978-09-20 Accorstates query detection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11453178A JPS5822702B2 (en) 1978-09-20 1978-09-20 Accorstates query detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5542007A JPS5542007A (en) 1980-03-25
JPS5822702B2 true JPS5822702B2 (en) 1983-05-10

Family

ID=14640077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11453178A Expired JPS5822702B2 (en) 1978-09-20 1978-09-20 Accorstates query detection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5822702B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5784353A (en) * 1980-11-14 1982-05-26 Nippon Steel Corp Damage detecting method for object

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5542007A (en) 1980-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS599842B2 (en) Damage detection device for rotating bodies
JPS5850397B2 (en) Signal determination device that determines abnormal signals, etc.
JPS5822702B2 (en) Accorstates query detection device
JP3404829B2 (en) Signal discriminator
JPH073440B2 (en) Signal detector
JPS5822701B2 (en) Accorstates query discrimination device
JPH028250B2 (en)
JPS61234353A (en) Removal of noise in acoustic emission measuring system
JPH03165126A (en) Sensitivity inspection device
JPH0758610A (en) Signal discriminating circuit
JPS6223142Y2 (en)
SU1385066A1 (en) Device for acoustoemission checking of an article
JPH07134063A (en) Method for removing noise of bearing diagnosing device
RU2207561C2 (en) Facility for acoustic-emission inspection of building materials
RU1832192C (en) Device for eddy-current inspection of rotating parts
JPH0658354B2 (en) Accurate-state emission signal discrimination device
SU1272374A1 (en) Device for performing quality control of articles
JPS5836305B2 (en) Internal/external surface flaw discrimination device
JPS60155982A (en) Partial discharge measuring apparatus
JPH073383B2 (en) Machine element abnormality diagnosis method
JPH03121438A (en) Shaking signal processor for camera
JPH0722434B2 (en) Sound source direction detector
SU637663A1 (en) Acoustic emission measuring device
JPS5813643Y2 (en) Squelch signal level detection circuit
JPH0254504B2 (en)