JPS58224557A - Pulse defect phase detection circuit - Google Patents
Pulse defect phase detection circuitInfo
- Publication number
- JPS58224557A JPS58224557A JP10686782A JP10686782A JPS58224557A JP S58224557 A JPS58224557 A JP S58224557A JP 10686782 A JP10686782 A JP 10686782A JP 10686782 A JP10686782 A JP 10686782A JP S58224557 A JPS58224557 A JP S58224557A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- circuit
- signal
- output
- flip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02M—APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
- H02M1/00—Details of apparatus for conversion
- H02M1/08—Circuits specially adapted for the generation of control voltages for semiconductor devices incorporated in static converters
- H02M1/084—Circuits specially adapted for the generation of control voltages for semiconductor devices incorporated in static converters using a control circuit common to several phases of a multi-phase system
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
本発明の目的は、従来から使用されている狭巾ダブルパ
ルス出力のAPPSの欠相検出回路に簡単々論理積回路
を付加することにより、使用電源の周波数が大巾に変動
しても誤動作、誤不動作のないパルス欠相検出回路を提
供することにある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION An object of the present invention is to easily increase the frequency of the power supply used by adding an AND circuit to the open-phase detection circuit of the narrow-width double pulse output APPS that has been used in the past. It is an object of the present invention to provide a pulse phase loss detection circuit that does not malfunction or malfunction even when the phase fluctuation occurs.
第1図にサイリスタ変換器制御回路のブロック図を示す
。従来からAPPSlの出力パルスを監視するためにパ
ルス欠相検出回路2がAPPS出力回路に接続されてい
るが以下のような欠点があわ用途によっては機能を満足
しないばかシか、誤動作の原因となシかねなかった。FIG. 1 shows a block diagram of a thyristor converter control circuit. Conventionally, a pulse phase loss detection circuit 2 has been connected to the APPS output circuit in order to monitor the output pulses of the APPS1, but it has the following drawbacks. There was a risk of death.
すなわち従来のパルス欠相検出回路は1つのパルスから
次のパルスまでの時間間隔を測定、その時間間隔が、お
る定められた時間(回路定数によって定まる一定値)よ
シ長い場合には異常(欠相)と判断し、外部へ信号を出
力する方式を採用していた。In other words, conventional pulse phase loss detection circuits measure the time interval from one pulse to the next pulse, and if the time interval is longer than a predetermined time (a constant value determined by a circuit constant), an abnormality (phase loss) is detected. A method was adopted in which the signal was output to the outside.
第2図に従来から使用されているパルス入相検出回路の
ブロック図を、第3図に第2図に示された回路の動作タ
イムチャートを示す。FIG. 2 shows a block diagram of a conventionally used pulse input phase detection circuit, and FIG. 3 shows an operation time chart of the circuit shown in FIG. 2.
従来から使用されているパルス欠相検出回路はその方式
からアナログ方式とディジタル方式に分けられるが、そ
の動作原理は同一である。Conventionally used pulse phase loss detection circuits are classified into analog and digital types, but their operating principles are the same.
アナログ方式においては、CR充放電回路を使用、入力
端子にパルスが印加された場合にはコンデンサを瞬間的
に放電、入力信号が00場合には回路定数によって定ま
る時定数でコンデンサを充電、以上の充放電をサイクリ
ックに繰返しておき、入力パルスが欠相した場合には、
コンデンサの放電をやめ、その端子電圧を上昇せしめ、
比較器基準電圧VBよυ大にすることにより検出信号を
出力している。In the analog method, a CR charging/discharging circuit is used, and when a pulse is applied to the input terminal, the capacitor is instantaneously discharged, and when the input signal is 00, the capacitor is charged with a time constant determined by the circuit constant. If charging and discharging are repeated cyclically and the input pulse has an open phase,
Stops discharging the capacitor and increases its terminal voltage,
A detection signal is output by making the comparator reference voltage VB larger than υ.
ディジタル方式もアナログ方式と同様原理であるが、C
fL光放電回路のかわシに発振回路とカウンタな使用し
ている点および、比較器にディジタルコンパレータを使
用している点が異なっているのみである。The digital method has the same principle as the analog method, but C
The only difference is that an oscillation circuit and a counter are used instead of the fL photodischarge circuit, and a digital comparator is used as a comparator.
つまシミ源周波数の変動巾の小さな制御装置にAPPS
が使用されている場合は、検出機能は十分満足されてい
たが、電源周波数の変動巾の大きな制御装置(すなわち
発電機の励磁装置等にAPPSが使用された場合には、
その電源周波数の変動巾は定格値に対し一60%〜+5
0%程度となる。)に使用された場合には、APPSの
出力パルス間隔が大巾に変化するため、アナログ方式に
おける比較電圧■8、ディジタル方式における比較デー
タDsO値の設定いかんによっては誤動作または誤不動
作をおこす場合があった。APPS is used as a control device with a small fluctuation range of the toe stain source frequency.
When APPS was used, the detection function was sufficiently satisfied;
The fluctuation range of the power supply frequency is -60% to +5% of the rated value.
It will be about 0%. ), the output pulse interval of APPS changes widely, which may cause malfunction or malfunction depending on the setting of the comparison voltage (■8) in the analog system and the comparison data DsO value in the digital system. was there.
また電圧変動中の大きな場合には、前述の比較値Vs
、Daをどのように選定しても機能を満足させることが
不可能なこともあった。In addition, in the case of large voltage fluctuation, the above-mentioned comparison value Vs
, Da may not be able to satisfy the function no matter how selected.
以上のような欠点をなくすため、本発明ではパルス間隔
を計測する方式をやめ、パルス信号の有無によシ欠相検
出が実現できるよう回路構成を変更した。In order to eliminate the above-mentioned drawbacks, the present invention eliminates the method of measuring pulse intervals and changes the circuit configuration so that open phase detection can be realized depending on the presence or absence of pulse signals.
第4図に本発明のパルス欠相検出回路の1部を示す。従
来方式と異なる点はフリップフロップ31の前段に、主
パルス、補助パルスから構成されだダブルパルスから主
ノくルスのみを選択するだめのAND回路32−aを付
加している点および、前記AND回路の出力をセット信
号、リセット信号としているフリップフロップを接続し
ている点である。FIG. 4 shows a part of the pulse open phase detection circuit of the present invention. The difference from the conventional method is that an AND circuit 32-a is added before the flip-flop 31 to select only the main pulse from a double pulse consisting of a main pulse and an auxiliary pulse, and The point is that a flip-flop is connected that uses the output of the circuit as a set signal and a reset signal.
第5図に本発明の回路の動作タイムチャートをUp相を
例にと9示す。AND回路32−aの2つの入力はUp
相とVN相のパルス信号であり、その出力は第5図すで
示される如くUp相の主ノ(ルス信号となる。前記すの
パルスをフリップフロップ31のセット信号として、■
P相の主)(ルス信号b′をリセット信号として使用す
ることにより、フリップフロップは、セット、リセット
を繰返す。FIG. 5 shows an operation time chart of the circuit of the present invention, taking the Up phase as an example. The two inputs of the AND circuit 32-a are Up.
The output is the main pulse signal of the Up phase as shown in FIG.
By using the P phase main pulse signal b' as a reset signal, the flip-flop is repeatedly set and reset.
以下の動作は従来から使用されているディジタル方式と
同様、発振器と7リツプ70ツブのセット出力とのAN
Dをとり、カウンタを計数させその計数値と基準データ
DI+との大小比較を実施することにより欠相を検出し
ているが、その基本的動作は太いに異なる。The following operation is similar to the conventional digital method, and is an AN between an oscillator and a 7-lip, 70-tub set output.
Phase loss is detected by taking D, counting by a counter, and comparing the counted value with reference data DI+, but the basic operation is quite different.
すなわちいずれかの相に入相が発生した場合、セットパ
ルスのみ入力され、リセット信号が入力されないフリッ
プフロップが必ず1つ以上存在する点である。従来方式
においては、入力信号が6相パルスの和となっているた
め、上述のようなフリップフロップは存在しない。That is, when a phase input occurs in any phase, there is always one or more flip-flops to which only a set pulse is input and a reset signal is not input. In the conventional system, since the input signal is the sum of six-phase pulses, there is no flip-flop as described above.
このため検出時間は使用する最小電源周波数の1周期の
1部3以上なら任意に選択できるため、従来方式のよう
な誤動作は発生しない。逆に電源周波数が高くなった場
合でも(パルス欠相が連続した場合には)セット出力を
出力し続けるフリップフロップが存在するため誤不動作
は発生しない。Therefore, the detection time can be arbitrarily selected as long as it is 1 part 3 or more of one period of the minimum power supply frequency used, and therefore malfunctions unlike the conventional system do not occur. Conversely, even if the power supply frequency becomes high (if pulse loss occurs continuously), there is a flip-flop that continues to output the set output, so no malfunction will occur.
尚、第5図c、e、f中、点線で示した部分は、リセッ
トパルスとして使用している信号b’(Vp相主パルス
)が欠相した場合の動作を示している。Note that the portions indicated by dotted lines in FIGS. 5c, e, and f show the operation when the signal b' (Vp phase main pulse) used as the reset pulse has an open phase.
以上のように本発明の回路をAPPSのパルス欠相検出
回路に採用することによシ、従来不可能とされていた、
狭巾ダブルパルス出力を有する可変周波APP8のパル
ス欠相検出が可能と1ム制御装置の保守上非常に有利と
なる。As described above, by adopting the circuit of the present invention in the APPS pulse phase loss detection circuit, it is possible to achieve
If it is possible to detect a pulse phase loss of the variable frequency APP8 having a narrow width double pulse output, it will be very advantageous in terms of maintenance of the 1-mu control device.
同第6図は第4図の回路の変形例でアシ、カウンタにて
発振回路のパルスを計数するかわシに、フリップフロッ
プのセット信号の出力されている期間を直接タイマーに
て計測する方法をとっている。本方法によっても、本発
明の回路と同等の機能を満足させることができる。Figure 6 shows a modification of the circuit in Figure 4.Instead of counting the pulses of the oscillation circuit with a counter, a method is used in which the period during which the set signal of the flip-flop is output is directly measured with a timer. I'm taking it. This method can also satisfy the same function as the circuit of the present invention.
第1図はザイリスタ変換装置説明図。第2図は従来から
使用されているパルス欠相検出回路のブロック図。第3
図は第2図の動作を示すタイムチャート。第4図は本発
明のパルス欠相検出回路の構成図。第5図は第4図の動
作を示すタイムチャート。第6図は本発明のパルス欠相
検出回路の変形例。
31・・・フリップフロップ、32−a・・・A N
D回M、32−b・・・AND回路、33・・・発振回
路、34・・・著 /M
−272−
茅1
at pFIG. 1 is an explanatory diagram of the Zyristor conversion device. FIG. 2 is a block diagram of a conventionally used pulse phase loss detection circuit. Third
The figure is a time chart showing the operation of FIG. 2. FIG. 4 is a configuration diagram of a pulse phase loss detection circuit according to the present invention. FIG. 5 is a time chart showing the operation of FIG. 4. FIG. 6 shows a modification of the pulse phase loss detection circuit of the present invention. 31...Flip-flop, 32-a...AN
D times M, 32-b...AND circuit, 33...Oscillation circuit, 34...Author /M -272- Kaya1 at p
Claims (1)
ルス出力をもつAPPSの1相のパルスをセット信号、
前記パルスよシロ0°遅れたノくルスをリセット信号と
するフリップフロップと、該フリップ70ツブのセット
信号と発振回路の出力とのANDをとるAND回路と該
AND回路の出力を計数するカウンタ、該カウンタの計
数値がある一定値を越えたら信号を発する比較回路と、
比較回路の出力を外部へ出力するための信号出力回路と
から構成されたパルス欠相検出回路に、ダブルパルスか
ら主パルスのみを取出すよう構成されたAND回路を付
加し、前述の7リツプ70ツブにAND回路からの1主
パルスをセット信号、該信号よυ120°又は180°
遅れた相の主ノくルスをリセット信号として加えること
によシ、′電源周波数が大巾に変化しても誤動作、誤不
動作を防止するよう回路構成されたAPPSのパルス欠
相検出回路。1. Set signal for one phase pulse of APPS which has narrow width double pulse output consisting of main pulse and auxiliary pulse,
a flip-flop whose reset signal is a noculus delayed by 0° from the pulse; an AND circuit that ANDs the set signal of the flip 70-tube and the output of the oscillation circuit; and a counter that counts the output of the AND circuit; a comparison circuit that issues a signal when the counted value of the counter exceeds a certain value;
An AND circuit configured to extract only the main pulse from the double pulse is added to the pulse phase loss detection circuit consisting of a signal output circuit for outputting the output of the comparator circuit to the outside, and the above-mentioned 7-lip 70-tube Set one main pulse from the AND circuit to the signal, the signal is υ120° or 180°
By adding the main pulse of the delayed phase as a reset signal, the APPS pulse phase loss detection circuit is configured to prevent malfunctions and malfunctions even if the power supply frequency changes widely.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10686782A JPS58224557A (en) | 1982-06-23 | 1982-06-23 | Pulse defect phase detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10686782A JPS58224557A (en) | 1982-06-23 | 1982-06-23 | Pulse defect phase detection circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58224557A true JPS58224557A (en) | 1983-12-26 |
Family
ID=14444488
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10686782A Pending JPS58224557A (en) | 1982-06-23 | 1982-06-23 | Pulse defect phase detection circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58224557A (en) |
-
1982
- 1982-06-23 JP JP10686782A patent/JPS58224557A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2851596A (en) | Electronic counter | |
US6528982B1 (en) | Jitter detector, phase difference detector and jitter detecting method | |
US4112358A (en) | Digital frequency measuring device | |
US3328688A (en) | Phase comparator using bistable and logic elements | |
US5483558A (en) | Method and apparatus for detecting phase or frequency lock | |
US3673391A (en) | Digital frequency multiplying system | |
US4131856A (en) | Electrical synchronizing circuits | |
US4112381A (en) | Peak detector | |
GB1570739A (en) | Analogue-digital converters | |
US2912651A (en) | Automatic frequency control | |
US3611134A (en) | Apparatus for automatically measuring time intervals using multiple interpolations of any fractional time interval | |
US2414107A (en) | Electronic timing apparatus | |
US3016475A (en) | Phase differential indicating circuit | |
JPS58224557A (en) | Pulse defect phase detection circuit | |
JP6369866B2 (en) | Time measuring device | |
US3323053A (en) | Digital output phase meter | |
US3663955A (en) | Apparatus for detecting error direction to establish the balanced state of a bridge circuit | |
CA1123516A (en) | Digital time dependent relay circuitry | |
KR0137494B1 (en) | Phase difference detection circuit | |
KR940000450B1 (en) | Tone detector | |
JP2556038B2 (en) | Hybrid integrated circuit | |
SU1335893A1 (en) | Phase-to-code commutator converter | |
JPS585026A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JPH11237413A (en) | Momentary voltage drop detecting circuit | |
SU556437A1 (en) | Pulse frequency multiplying-separating device |