JPS58217926A - Automatic x-ray exposing device - Google Patents

Automatic x-ray exposing device

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JPS58217926A
JPS58217926A JP10177482A JP10177482A JPS58217926A JP S58217926 A JPS58217926 A JP S58217926A JP 10177482 A JP10177482 A JP 10177482A JP 10177482 A JP10177482 A JP 10177482A JP S58217926 A JPS58217926 A JP S58217926A
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JP
Japan
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signal
output
circuit
over
ray
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Pending
Application number
JP10177482A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuru Ikeda
満 池田
Makoto Konno
誠 金野
Yoichi Takenaka
陽一 竹中
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
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Publication of JPS58217926A publication Critical patent/JPS58217926A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B42/00Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
    • G03B42/02Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the formation of a photograph with low density due to the influence of halation originated from a direct line part, gas image, etc., during photographing through fluoroscopy, by discriminating over-exposure with underexposure about each channel on the basis of a fixed level. CONSTITUTION:Only analog switches 12 corresponding to a visual field of natural lighting are turned on to irradiate an examined body with X-rays, and signals Ei proportional to input light corresponding to a visible image by X-ray fluoroscopic images to respective channels CH11A-CH11N of a multiple natural lighting part 11 are supplied to an over/under detecting circuit 19, supplying OR outputs corresponding to the respective channels to a latch circuit 23 except when the respective signals Ei are all over, all under, or partially over and the remainders are under. Respective outputs of the switches 12 corresponding to the latch output are summed up at a part 13 and supplied to a dividing circuit 14. The total number of channels CHi in operation is counted by a counter 24 and supplied to the circuit 14. The sum value of the signals Ei is divided by the total number of the channels in operation to obtain a mean value per channel, thus setting optimum fluoroscopy conditions at a part 9.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、イメージインテンシファイア(以下[1,1
,Jという)の出力の一部を採光して自動的にX@露出
を制御するだめのX線自動露出装置の改良に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides an image intensifier (hereinafter [1, 1
This invention relates to an improvement in an automatic X-ray exposure device that automatically controls X@ exposure by collecting a portion of the output of the

第1図は、前記従来のX線自動露出制御装置の構成を示
した図である。図中、1はX線管、2は被検体、3はX
線フィルム、4はI、1..5は光学系、6はホトタイ
マ、7はテレビカメラ、8はテレビモニタ、9はX線撮
影条件設定回路、10はX線高電圧発生装置であり、前
記1.1.4の出力の採光視野内に採光器を設けて採光
し、それらの積分値によりホトタイマ6を動作させ被検
体2に対応したX線照射時間を決定し、これにより自動
的にX線撮影条件設定回路9を介して、X線発子装置1
0′のX線照射時間を制御してX#j!%’lからのX
線照射量を最適なものにしている。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of the conventional X-ray automatic exposure control device. In the figure, 1 is the X-ray tube, 2 is the subject, and 3 is the X-ray tube.
line film, 4 is I, 1. .. 5 is an optical system, 6 is a phototimer, 7 is a television camera, 8 is a television monitor, 9 is an X-ray photography condition setting circuit, 10 is an X-ray high voltage generator, and the lighting field of the output of 1.1.4 above. A light source is installed inside the body to take in the light, and the phototimer 6 is operated based on the integrated value to determine the X-ray irradiation time corresponding to the subject 2. Thereby, the X-ray imaging condition setting circuit 9 automatically X-ray generator 1
X#j by controlling the X-ray irradiation time of 0'! X from %'l
The radiation dose is optimized.

このような従来のX線自動露出制御装置では、採光器の
採光視野全体からの積分光量で制御しているため、その
採光視野の一部が、例えば、光量不足、光量過多等の場
合、即ち、前者の場合はX線管1から発生するX線が強
くなり、照射野全体は露出過多となる。また、後者の場
合はX線が弱くなり、露出不足となる欠点があった。
In such conventional X-ray automatic exposure control devices, control is performed using the integrated light amount from the entire lighting field of the lighting device, so if a part of the lighting field is, for example, insufficient or excessive, In the former case, the X-rays generated from the X-ray tube 1 become stronger, and the entire irradiation field becomes overexposed. Moreover, in the latter case, the X-rays are weak, resulting in insufficient exposure.

本発明は、前記欠点を除去するためになされたものであ
り、イメージインテンシファイアの出力の採光視野内に
複゛数の採光器からなる採光部を設けて、それぞれの採
光器の出力がX線露出不足及びX線露出過多であること
を検出する手段と、該手段の出力により前記X線露出不
足及びX線露出過多の条件の採光器の出力を除去する手
段と、X線露出不足検出基準値を全採光器の出力平均値
から設定するX線露出不足基準値設定手段と、X線露出
過多検出基準値を、透視管電圧が中間管電圧以上になる
と透視管電圧で設定し、中間管電圧以下になると全採光
器の出力平均値で設定するX線露出過多検出基準値設定
手段を備えたX線露出装置であって、ガス像部や直接X
線部の光が入射しだ採光器の出力信号を検出するハレー
ション信号検出手段と、該ハレーション信号検出手段に
よりハレーション信号が検出されたとき、検出されたハ
レーション信号に対応する採光器の出力信号を、前記X
線露出不足検出基準値設定手段及びX#露出過多検出基
準値設定手段の入力から除去する手段、若しくは低減せ
しめて入力する手段を備えたことにある。
The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and includes providing a lighting section consisting of a plurality of lighting devices within the lighting field of the output of the image intensifier, so that the output of each lighting device is means for detecting underexposure to X-rays and overexposure to X-rays; means for removing the output of the daylight under the condition of underexposure to X-rays and overexposure to X-rays based on the output of the means; and detecting underexposure to X-rays. An X-ray underexposure reference value setting means sets the reference value from the average output value of all daylighting devices, and an X-ray overexposure detection reference value is set using the fluoroscopy tube voltage when the fluoroscopy tube voltage becomes equal to or higher than the intermediate tube voltage. This is an X-ray exposure device that is equipped with an X-ray overexposure detection reference value setting means that sets an X-ray overexposure detection standard value using the average output value of all daylights when the tube voltage is lower than the tube voltage.
a halation signal detection means for detecting an output signal of a daylight when the light from the line part is incident; and a halation signal detection means for detecting an output signal of the daylight that corresponds to the detected halation signal when a halation signal is detected by the halation signal detection means; , said X
The present invention is provided with means for removing or reducing the input from the inputs of the line underexposure detection reference value setting means and the X# overexposure detection reference value setting means.

以下、実施例により本発明の詳細な説明する。Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to Examples.

なお、全図について、同一のものは同一記号を付しであ
る。また、以下露光−量または露出量の不足を1アンダ
ー」、過多を1オーバー」という。
In addition, the same symbols are attached to the same parts in all figures. In addition, hereinafter, an exposure amount or an underexposure amount is referred to as "1 under", and an overexposure amount is referred to as "1 over".

第2図は、本発明のX線自動露出装置の基本的な部分の
一実施例の構成を示したプロ、り図である。第2図にお
いて、11は1.I、4の出力光を     ウ採光す
るマルチ採光部であり、複数のチャンネル11A〜11
Nで構成されている。12はアナログスイッチ群であり
、複数のアへログスイッチ12八〜12Nで構成されて
いる。16は前記アナログスイッチ群12からの出力を
加算するだめの加算回路、14は加算回路13からの出
力を前記チャンネル数で割算して1チャンネル当りの平
均値を出力するための割算回路、15は出力端子であり
、第1図に示すX線撮影条件設定回路9に接続される。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of one embodiment of the basic part of the automatic X-ray exposure apparatus of the present invention. In FIG. 2, 11 is 1. It is a multi-lighting part that takes in the output light of I and 4, and has multiple channels 11A to 11.
It is composed of N. Reference numeral 12 denotes an analog switch group, which is composed of a plurality of analog switches 128 to 12N. 16 is an adder circuit for adding the outputs from the analog switch group 12; 14 is a divider circuit for dividing the output from the adder circuit 13 by the number of channels and outputting an average value per channel; 15 is an output terminal, which is connected to the X-ray imaging condition setting circuit 9 shown in FIG.

16は採光視野、即ち、前記チャンネル11A〜11N
のセレクト信号C8を入力する端子、17はう、子信号
Rを発生する回路、18は前記オーバー及びアンダーを
検出するだめの検出基準信号発生回路、19は前記各チ
ャンネル11八〜11Nの出力のオーバーかアンダーか
を検出するオーバー・アンダー検出回路である。20は
全チャンネル11A〜11Nの出力が全部オーバーであ
ることを検出するだめの検出回路、21は全チャンネル
11A〜11Nの出力が全部アンダーであることを検出
するだめの検出回路、22は全チャンネル11A〜11
Nのうち1部オーバーで残り全部がアンダーであること
を検出するための検出回路、23はう、子回路であり、
う、子信号Rによりホールド状態にされ、ホールド時は
出力が変わらないものである。24は動作しているチャ
ンネルの総数を求めるための割数回路% 25A〜25
Cはアナログスイッチであり、ノ・イ(tl )レベル
のときオフ、ロー(L) レベルのトキオンする。26
は論理和(OR)回路、27はオーバー設定信号発生回
路であり、例えば、チャンネル11Aの出力がオーバー
であるレベルの信号を発生する。28はアンダー設定信
号発生回路であり、例えば、チャンネル11Aの出力が
アンダーであるレベルの信号を発生する。29はチャン
ネル数を表わすときの「l」に相当−する信号を発生す
る「1」信号発生回路である。
16 is a lighting field, that is, the channels 11A to 11N.
17 is a circuit for generating a child signal R, 18 is a detection reference signal generating circuit for detecting the over and under conditions, and 19 is a terminal for the output of each of the channels 118 to 11N. This is an over/under detection circuit that detects whether it is over or under. 20 is a detection circuit for detecting that all outputs of all channels 11A to 11N are over, 21 is a detection circuit for detecting that all outputs of all channels 11A to 11N are under, and 22 is a detection circuit for all channels. 11A-11
A detection circuit for detecting that one part of N is over and the rest is under, 23 is a child circuit;
First, it is put into a hold state by the child signal R, and the output does not change during the hold state. 24 is a divider circuit for calculating the total number of operating channels% 25A~25
C is an analog switch, which is turned off when it is at the no-i (tl) level and turned on when it is at the low (L) level. 26
27 is a logical sum (OR) circuit, and 27 is an over setting signal generation circuit, which generates, for example, a signal at a level that indicates that the output of channel 11A is over. Reference numeral 28 denotes an under setting signal generation circuit, which generates a signal at a level such that the output of channel 11A is under, for example. 29 is a "1" signal generating circuit which generates a signal corresponding to "l" when representing the number of channels.

第3図は、第2図のマルチ採光部11の回路の具体的構
成を示した図であり、101,102はフォトダイオー
ド、111,112  はフォトダイオードの出力電流
を電圧に変換する回路である。
FIG. 3 is a diagram showing a specific configuration of the circuit of the multi-lighting section 11 shown in FIG. 2, in which 101 and 102 are photodiodes, and 111 and 112 are circuits that convert the output current of the photodiodes into voltage. .

第4図は、第2図のオーバー・アンダー検出回路19.
全チャンネルオーバー検出回路20.全ヂ、ンネルアン
ダー検出回路21及び1部オーバー残り全部アンダー検
出回路22の具体的構成を示しだ図である。図中、19
Aはオーバー検出用コンパレータであり、それぞれのコ
ンパレータには各チャンネル11A〜11NよりのX線
露出に対応した電気信号E1とオーバー条件基準信号B
FIG. 4 shows the over/under detection circuit 19 of FIG.
All channel over detection circuit 20. 3 is a diagram illustrating a specific configuration of a full-length, partial under-detection circuit 21 and a partial over-remaining total under-detection circuit 22. FIG. In the figure, 19
A is a comparator for over detection, and each comparator receives an electrical signal E1 corresponding to the X-ray exposure from each channel 11A to 11N and an over condition reference signal B.
.

が入力され E i > E、のLきハイ (11)レ
ベルの信号を出力するものである。191”lはアンダ
ー検出用コンパレータであり、それぞれのコンパレータ
には前記電気信号E1とアンダー条件基準信号りが入力
され、Ei<E−のときハイ(I])レベルの信号を出
力するものである。19C3〜19C11は各チャンネ
ルがオーバー又はアンダーであることを検出するための
論理和(OR)回路、20A、21A、22Aはそれぞ
れ採光視野セレクト用切換スイ、チであり、1枚操りの
ときは全チャンネルをオンし、2分割撮り、4分割撮り
のときはr、1.4の出力面の光のあたる部分のチャン
ネルだけオンする。使用しないチャンネルはハイBは一
致回路、30.31はインバータ、E otは全チャン
ネルオーバー信号、Eo、は1部オーバー残り全部アン
ダー信号、Eosは全チャンネルアンダー信号、E f
14はアナログスイッチ25Cをオンさせるだめの信号
である。
is input and outputs a low (11) level signal where E i > E. 191"l is a comparator for under detection, each of which receives the electrical signal E1 and the under condition reference signal, and outputs a high (I) level signal when Ei<E-. 19C3 to 19C11 are logical sum (OR) circuits for detecting whether each channel is over or under, 20A, 21A, and 22A are switching switches for lighting field selection, respectively. Turn on all channels, and for 2-split shooting or 4-split shooting, turn on only the channels that are exposed to light on the output surface of r, 1.4.For unused channels, high B is a matching circuit, 30.31 is an inverter. , E ot is all channel over signal, Eo is one part over and remaining all under signal, Eos is all channel under signal, E f
14 is a signal for turning on the analog switch 25C.

第5図は、第2図のう、子回路23の具体的構成を示し
だ図である。図中、25Aはう、チ、23Bは採光視野
セレクト用スイ、チであり、a端子側がセット、b端子
側()・イ(11)側)はリセットである。230は全
チャンネルオンセ、ト用スイ、チで、11′端子にはロ
ー(L)レベルの電圧が印加されており、L′端子は通
常のオーバー・アンダー検出用端子である。そして、前
記第4図の論理和回路19C0〜190nの出力が接続
されている。
FIG. 5 is a diagram showing a specific configuration of the child circuit 23 shown in FIG. In the figure, 25A and 23B are lighting field selection switches, and the a terminal side is set, and the b terminal side () and a (11) side) are reset. 230 is a switch for all channels, a low (L) level voltage is applied to the 11' terminal, and the L' terminal is a normal over/under detection terminal. The outputs of the OR circuits 19C0 to 190n shown in FIG. 4 are connected thereto.

次に、第2図に示す実施例の動作を説明する。Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 2 will be explained.

まず、第5図に示される採光視野セレクト用スイ、チ2
3■3を採光視野セレクト信号O8によってa端子側に
接続しアナログスイッチ群12のアナログスイッチ12
A〜12Nのうち採光視野に対応したものだけをオンに
しておく。例えば、1枚操りの場合は全チャンネルに相
当する採光視野であるから前記アナログスイッチ12A
〜12Nの全部がオン状態にされる。次にX線が被検体
2に照射され1.1.4の出力螢光面の採光視野内に設
けられているマルチ採光部11の各チャンネル11A〜
11NKX線透過像による可視像に対応した光が入力さ
れ、各チャンネル11A〜IINに入力された光量に対
応した電気信号EI が出力される。この各チャンネル
11A〜IINの各出力電気信号E1 は、第2図又は
第4図に示されるオーバー・アンダー検出回路19に入
力され、各電気信号がオーバーであるか、あるいはアン
ダーであるかを検出し、各電気信号が全部オーバー。
First, switch 2 for lighting field selection shown in Fig. 5.
3■3 is connected to the a terminal side by the lighting field selection signal O8, and the analog switch 12 of the analog switch group 12 is connected.
Among A to 12N, only those corresponding to the lighting field are turned on. For example, in the case of single-panel operation, the analog switch 12A has a lighting field that corresponds to all channels.
~12N are all turned on. Next, X-rays are irradiated onto the subject 2, and each channel 11A of the multi-lighting unit 11 provided within the lighting field of the output fluorescent surface of 1.
Light corresponding to the visible image formed by the 11NK X-ray transmission image is input, and an electrical signal EI corresponding to the amount of light input to each channel 11A to IIN is output. Each output electrical signal E1 of each channel 11A to IIN is input to an over/under detection circuit 19 shown in FIG. 2 or 4, and it is detected whether each electrical signal is over or under. However, all electrical signals exceeded.

全部アンダー及び一部オーバー残り全部アンダー以外の
ときは、それぞれ各チャンネル1’ I A〜11Nに
対応した論理和回路1961〜19Cnの出力がう、子
回路23に入力される。例えば、チャンネル11Aの論
理和回路1901の出力がハイ(H)レベル(即ち、チ
ャンネル11Aの出力は少なくともオーバー、アンダー
の条件のいずれかを含んでいることを示している)であ
れば、これがう、子回路26に入力されるので、う、チ
23Aの出力はハイ (11) レベルでアナログスイ
ッチ12Aはオフ(OF F)状態になり、チャンネル
11Aの出力はないので加算回路13への入力はない。
When all are under, some are over, and all are under, the outputs of the OR circuits 1961 to 19Cn corresponding to the respective channels 1' IA to 11N are input to the child circuit 23. For example, if the output of the OR circuit 1901 of channel 11A is at a high (H) level (that is, the output of channel 11A includes at least one of the over and under conditions), this Since the output of channel 23A is high (11), the analog switch 12A is in the OFF state, and there is no output of channel 11A, so the input to adder circuit 13 is do not have.

また、チャンネル11Bの論理和回路19C7の出力が
ロー(L)レベルであれば、これがう、子回路26に入
力されるので、ラッチ23Aの出力はロー(L)レベル
となりアナログスイッチ12Bはオン(ON)状態によ
シチャンネル11Bのアナログ出力がそのまま加算回路
13に入力される。同様にして他のチャンネルの出力も
加算回路13に人力される。このようにして、加算回路
16に入力された電気信号Eiは加算されて割算回路1
4に入力される。一方、前記ラッチ回路23の出力によ
って、動作状態にされた各チャンネル11A〜11Nの
総チャンネル数を計数回路24で計数し、割算回路14
に入力する。割算回路14では前記出力電気信号E1の
加算値をこの動作チャンネル総数で割算して1チャンネ
ル当りの平均値を出力する。この出力は出力端子15を
通して第1図に示すX線撮影条件設定回路9に送られ、
最適な透視、撮影条件が設定される。
Furthermore, if the output of the OR circuit 19C7 of the channel 11B is at a low (L) level, this is input to the child circuit 26, so the output of the latch 23A becomes a low (L) level and the analog switch 12B is turned on ( ON) state, the analog output of the channel 11B is directly input to the adder circuit 13. Similarly, the outputs of other channels are also input to the adder circuit 13. In this way, the electrical signals Ei input to the adder circuit 16 are added to the divider circuit 1.
4 is input. On the other hand, a counting circuit 24 counts the total number of channels 11A to 11N activated by the output of the latch circuit 23, and a dividing circuit 14
Enter. The division circuit 14 divides the added value of the output electrical signal E1 by the total number of operating channels and outputs an average value for each channel. This output is sent to the X-ray imaging condition setting circuit 9 shown in FIG. 1 through the output terminal 15.
Optimal fluoroscopy and imaging conditions are set.

次に、前記オーバー・アンダー検出回路19の論理和回
路19C1〜190nの出力が1部オーバー残り全部ア
ンダーの検出信号が出力されると、1部オーバー残シ全
部アンダー検出回路22の一致回路22■3から1部オ
ーバー残り全部アンダーの信号E 02が出力する。こ
の出カイ言号Eoxはう。
Next, when the logical sum circuits 19C1 to 190n of the over/under detection circuit 19 output a detection signal indicating that one part is over and the remaining parts are all under, the coincidence circuit 22 of the one part over and remaining part under detection circuit 22 is output. 3, a signal E 02 of one part over and the remaining part under is output. This outgoing word is Eox.

子回路26に入力され、第5図に示される全チャンネル
・オンセット用スイッチ25Cの全部がL端子から11
’端子に切換えられ、採光視野セレクト用スイ、チ23
B、う、チ23Aを介して、アナログスイッチ12A〜
12Nの採光視野に対応するすべてのアナログスイッチ
がオンされる。そして、前記加算1割算の動作と同様の
動作が行われる。
All channel onset switches 25C shown in FIG.
' terminal, switch for lighting field selection, 23
Analog switch 12A ~ via B, U, and Chi 23A
All analog switches corresponding to the 12N daylighting field are turned on. Then, an operation similar to the addition and division by 1 operation described above is performed.

また、オーバー・アンダー検出回路19のオーバー検゛
出用コンパレータ19Aのそれぞれの出力が全部オーく
く−となると、全チャンネルオーバー検出回路20の一
致回路20Bから全チャンネルオーバー信号E。、が出
力3され、アナログスイッチ25A及び論理和回路26
を介してアナログスイッチ250をそれぞれオンする。
Further, when the respective outputs of the over-detection comparators 19A of the over-under detection circuit 19 are all low, an all-channel over signal E is sent from the matching circuit 20B of the all-channel over detection circuit 20. , is output 3, and the analog switch 25A and OR circuit 26
The analog switches 250 are turned on via the respective analog switches 250 and 250.

これにより、オーバー設定信号発生回路27及び「1」
信号発生回路29から「1」の信号が計数回路24及び
加算回路13に入力され、加算回路13からr I J
の信号が出力され、自動露出制御から外される。
As a result, the over setting signal generation circuit 27 and "1"
A signal of "1" is input from the signal generation circuit 29 to the counting circuit 24 and the addition circuit 13, and from the addition circuit 13 r I J
signal is output and removed from automatic exposure control.

このとき、全チャンネルオルバーの出力は、前記オーバ
ー・アンダー検出回路19の論理和回路19C1〜19
0nを通って、ラッチ回路26に入力され、すべてのア
ナログスイッチ12A〜12Nをオフにする。また、オ
ーバー・アンダー検出回路190アンダー検出用コンパ
レータ19Bのそれぞれの出力が全部アンダーとなると
、全チャンネルアンダー検出回路21の一致回路21B
から全チャンネルアンダー信号Eosが出力され、アナ
ログスイッチ2513及び論理和回路26を介してアナ
ログスイッチ250をそれぞれオンする。これにより、
アンダー設定信号発生回路28及び「l」信号発生回路
29かも「1」の信号が計数回路24及び加算回路13
に入力され、加算回路16から「l」の信号が出力され
、自動露出制御から外される。このときも前記全チャン
ネルオーバーの七きと同様に全チャンネルアンダーの出
力は、前記オーバー・アンダー検出回路19の論理和回
路19C+〜190nを通してう、子回路23に入力さ
れ、すべてのアナログスイッチ12A〜12Nをオフに
する。
At this time, the outputs of all the channels are the OR circuits 19C1 to 19 of the over/under detection circuit 19.
0n and is input to the latch circuit 26, turning off all analog switches 12A to 12N. Furthermore, when the outputs of the over/under detection circuit 190 and the under detection comparator 19B are all under, the matching circuit 21B of the all channel under detection circuit 21
An all-channel under signal Eos is output from , and the analog switch 250 is turned on via the analog switch 2513 and the OR circuit 26 . This results in
The under setting signal generation circuit 28 and the "l" signal generation circuit 29 also receive the "1" signal from the counting circuit 24 and the addition circuit 13.
The addition circuit 16 outputs a signal of "l" and is removed from automatic exposure control. At this time, as in the case of all channels over, the outputs of all channels under are inputted to the child circuit 23 through the OR circuits 19C+ to 190n of the over/under detection circuit 19, and all analog switches 12A to 190n are inputted. Turn off 12N.

また、第2図に示す本発明のX線自動露出装置の基本的
な部分の実施装置では、消化器撮影におけるバリウム像
、ガス像、ハレーション像等の影響を除くために、各チ
ャンネルの信号毎にオーバーレベル、アンダーレベルを
判断している。例えば、バリウム像は、アンダーレベル
で、ガス像。
In addition, in the device that implements the basic part of the automatic X-ray exposure device of the present invention shown in FIG. 2, in order to eliminate the influence of barium images, gas images, halation images, etc. in gastrointestinal imaging, It determines whether the level is over or under. For example, a barium image is an underlevel, gas image.

ハレーション像等はオーバーレベルで判断シてこれらに
相当するチャンネルの信号は切離して残りのチャンネル
の信号を1チャンネル当りの平均値信号として、透視及
び撮影の自動露出を決めている。これは、例えば、第6
図に示すように、前週視像を3個のチャンネルの、■、
■のマルチ採光視野で受光した場合、各チャンネルの出
力信号EIは第7図のようになる。第7図は、最適条件
における各チャンネルの出力信号Ei のレベルを示す
図であL LOはオーバーレベル、LUはアンダーレベ
ルである。前記これらの出力信号Ei から、例えばガ
ス像の部位のチャンネル■で露出を決めると、全体が薄
くなりすぎ、バリウム像の部位のチャンネル■で決める
と、全体が濃くなりすぎる。
Halation images and the like are judged based on their overlevels, and the signals of channels corresponding to these are separated, and the signals of the remaining channels are used as an average value signal for each channel to determine automatic exposure for fluoroscopy and photography. This is, for example, the sixth
As shown in the figure, the last week's visual images are of three channels: ■,
When light is received in the multi-lighting field of view (2), the output signal EI of each channel is as shown in FIG. FIG. 7 is a diagram showing the level of the output signal Ei of each channel under optimal conditions, where LLO is over level and LU is under level. Based on these output signals Ei, for example, if exposure is determined by channel (2) for the gas image region, the entire image becomes too thin, and if exposure is determined by channel (2) for the barium image region, the entire image becomes too dark.

このため軟部組織像の部位のチャンネル■で受光すれば
、丁度よい濃度となる。が、このチャンネル■だけをセ
レクトするには、第7図に示すアンダーレベルLUとオ
ーバーレベルLOを設定すればよいことになる。
Therefore, if the light is received in channel ① of the area of the soft tissue image, the density will be just right. However, in order to select only this channel (2), it is sufficient to set the under level LU and over level LO shown in FIG. 7.

前記第2図に示す実施装置の方式では、この点を特に言
及せず、固定したレベルで各チャンネルのオーバー及び
アンダーを判断している。この方式では、露出が安定し
た状態では問題ないが、例A、ば、露出条件アンダーの
場合、第8図に示すような状態が生じ、そのまま安定し
てしまって最適条件まで引込めないことが起る。第8図
は、露出条件アンダーの場合の各チャンネルの信号のレ
ベルを示す図であり、Loはオーバーレベル、 LtJ
はアンダーレベルである。
In the method of the implementation apparatus shown in FIG. 2, this point is not particularly mentioned, and over and under conditions of each channel are determined based on a fixed level. With this method, there is no problem when the exposure is stable, but in Example A, if the exposure condition is under, a situation like the one shown in Figure 8 will occur, and the situation will become stable and it may not be possible to reduce the exposure to the optimum condition. It happens. FIG. 8 is a diagram showing the signal level of each channel when the exposure condition is under, Lo is over level, LtJ
is below level.

このような状態では、露出条件がオーバーの時にも生じ
、バリウムの所に露出条件が合うように上昇することが
ある。
Such a condition may occur even when the exposure conditions are over, and the barium may rise to meet the exposure conditions.

この状態u、オーバーレベルLOと7ンターレベルL 
Uの間隔を近ずければ近ずける程起こりゃすくなる。こ
のため実用的には、オーバーレベル1.0ヲ高くして、
この状態が起シにくいようにしである。
This state u, over level LO and 7inter level L
The closer the distance between U is, the more likely it is to occur. For this reason, in practice, the over level should be increased by 1.0,
This is to prevent this situation from occurring.

この結果、バリウム像の影響はよく除けるが、ガス像や
、ハレーション像の影響は除けないで像が薄くなる傾向
があった。
As a result, although the influence of the barium image can be well removed, the influence of the gas image and the halation image cannot be eliminated, and the image tends to become thinner.

そこで、本発明は、前記基本的な部分の実施装置の問題
点を解決するために、アンダーレベルを全チャンネルの
出力平均値から設定する手段と、オーバーレベルを透視
管電圧が中間管電圧以上になると透視管電圧で設定し、
中間管電圧以下になると全チャンネルの出力平均値から
設定する手段を具備し、どのようなX線条件、体位でも
常にガス像、バリウム像等を確実に判断して除くことに
より常に最適の露出が得られるようにしたものである。
Therefore, in order to solve the problems of the device implementing the basic part, the present invention provides means for setting the under level from the average output value of all channels, and means for setting the over level when the fluoroscopic tube voltage is equal to or higher than the intermediate tube voltage. Then, set the fluoroscopic tube voltage,
Equipped with a means to set the output from the average output value of all channels when the voltage falls below the intermediate tube voltage, ensuring optimal exposure is always achieved by reliably determining and excluding gas images, barium images, etc., regardless of the X-ray conditions or body position. It was made so that it could be obtained.

第9図は、その一実施例の構成を示す図であり、第2図
のオーバー・アンダー検出基準信号発生回路18から発
生されるオーバー・アンダー条件基準信号脂+E2が固
定レベルであるのを、全チャンネルの出力信号の平均値
と透視の管電圧に対応する信号から、オーバーレベルL
Oと77ダー1/ベルLUを設定する占うにしたもので
ある。
FIG. 9 is a diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention, and it is shown that the over/under condition reference signal +E2 generated from the over/under detection reference signal generation circuit 18 of FIG. 2 is at a fixed level. From the average value of the output signals of all channels and the signal corresponding to the fluoroscopic tube voltage, the over level L is calculated.
This is a fortune telling that sets O and 77 Dar 1/Bell LU.

第9図において、30は全チャンネル11A〜11Nの
出力信号E1 の平均値回路であり、各チャンネル11
A〜11Nの出力信号E1がそれぞ、、、イカ−t−6
Aカ1aR1〜Rn h”(DR11*af*    
’する第1オペアンプ60Aで構成されている。61は
全チャンネル平均値によるオーバーレベル設定回路であ
り、第1ポテンシヨンメータ61A。
In FIG. 9, 30 is an average value circuit for the output signal E1 of all channels 11A to 11N, and each channel 11
The output signals E1 of A to 11N are respectively...
Aka1aR1~Rnh” (DR11*af*
It is composed of a first operational amplifier 60A. 61 is an overlevel setting circuit based on the average value of all channels, and a first potentiometer 61A.

第1可変抵抗31B、第2オペアンプ510で構成され
、第1ポテンシヨンメータ31Aと第1可変抵抗31B
は、第2オペアンプ510の帰還回路として接続されて
いる。第1ポテンシヨンメータ31Aは、オーバーレベ
ル曲線の平行移動量を設定するものであり、第1可変抵
抗61Bは、オーバーレベル曲線の傾斜量を設定するも
のである。
Consists of a first variable resistor 31B, a second operational amplifier 510, a first potentiometer 31A and a first variable resistor 31B
is connected as a feedback circuit of the second operational amplifier 510. The first potentiometer 31A is for setting the amount of parallel movement of the overlevel curve, and the first variable resistor 61B is for setting the amount of inclination of the overlevel curve.

32は全チャンネルの平均値によるアンダーレベル設定
回路であり、第2ポテンションメータ32A、第2可変
抵抗32B、第3オペアンプ320で構成され、第2ポ
テンシ、ンメータ32Aと第2可変抵抗32Bは、第3
オペアンプ320の帰還回路として接続されている。第
2ポテンシヨンメータ32Aは、アンダーレベル曲線の
平行移動量を設定するものであシ、第2可変抵抗52B
は、アンダーレベル曲線の傾斜量を設定するものである
。66は透視の管電圧に比例したFKV信号入力端子、
64は透視の管電圧に対応したFKV信号によるオーバ
ーレベル設定回路であり、第3ポテンションメータ64
A、第3可変抵抗34B。
32 is an under level setting circuit based on the average value of all channels, and is composed of a second potentiometer 32A, a second variable resistor 32B, and a third operational amplifier 320. Third
It is connected as a feedback circuit for the operational amplifier 320. The second potentiometer 32A is for setting the amount of parallel movement of the under-level curve, and the second variable resistor 52B
is used to set the amount of slope of the underlevel curve. 66 is an FKV signal input terminal proportional to the fluoroscopic tube voltage;
64 is an overlevel setting circuit using an FKV signal corresponding to the fluoroscopic tube voltage, and a third potentiometer 64
A, third variable resistor 34B.

第4オペアンプ340で構成され、第3ポテンシヨンメ
ータ54Aと第3可変抵抗34Bは、第4オペアンプ5
40の帰還回路として接続されている。第3ポテンシヨ
ンメータ34Aは、オーバーレベル曲線の平行移動量を
設定するものであり、第3可変抵抗34Bは、オーバー
レベル曲線の傾斜量を設定する゛ものである。35は負
荷抵抗rに第1ダイオード55Aと第2ダイオード35
I3が並列に接続されたオーバーレベルセレクト回路で
あり、第1ダイオード35Aの入力は、全チャンネルの
平均値によるオーバーレベル設定回路31の出力信号で
ある。第2ダイオード35Bの入力は透視の管電圧によ
るオーバーレベル設定回路64の出力信号であり、この
第2ダイオード65■3の出力と前記第1ダイオードj
5Aの出力のうち大きい方の出力がオーバー条件基準信
号Elとして出力される。36はオーバー条件基準信号
出力端子、67はアンダー条件基準信号出力端子である
The third potentiometer 54A and the third variable resistor 34B are connected to the fourth operational amplifier 340.
40 is connected as a feedback circuit. The third potentiometer 34A is for setting the amount of parallel movement of the overlevel curve, and the third variable resistor 34B is for setting the amount of inclination of the overlevel curve. 35 is a load resistance r with a first diode 55A and a second diode 35.
I3 is an overlevel select circuit connected in parallel, and the input of the first diode 35A is the output signal of the overlevel setting circuit 31 based on the average value of all channels. The input of the second diode 35B is the output signal of the overlevel setting circuit 64 based on the fluoroscopic tube voltage, and the output of the second diode 653 and the first diode j
The larger output of the 5A outputs is output as the over condition reference signal El. 36 is an over condition reference signal output terminal, and 67 is an under condition reference signal output terminal.

次に、第9図に示す実施例の動作を説明する。Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 9 will be explained.

第9図において、全チャンネル11A〜11Nの出力信
号の平均値回路3oにより平均化する。
In FIG. 9, the output signals of all channels 11A to 11N are averaged by an average value circuit 3o.

即ち、平均値回路6oの入力信号をV、〜Vnとすると
、入力抵抗R3〜Rnと第1オペアンプ30Aの帰還抵
抗四により(次の式(1)で)平均値VAが得られる。
That is, when the input signal of the average value circuit 6o is V, ~Vn, the average value VA is obtained by the input resistors R3 to Rn and the feedback resistor 4 of the first operational amplifier 30A (by the following equation (1)).

1’t      R v1×ゼR+v、×ゼIt  十■n4/R−VA  
(1)次K、オーバーレベル設定回路31の第1ボテン
/gンメータ31Aでオーバーレベル曲線の平行移動量
を設定し、第1可変抵抗31Bでオーバーレベル曲線の
傾斜量を設定する。また、透視の管電圧に対応しだI8
 K V信号によるオーバーレベル設定回路34の第3
ポテンシヨンメータ34Aでオーバーレベル曲線の平行
移動量を設定し、第3可変抵抗34Bでオーバーレベル
曲線の傾斜量を設定する。そして、前記全チャンネル1
1A〜11Nの出力信号E1の平均値VAの信号とFK
■信号のいスレか大きい方がオーバーレベルセレクト回
路35から前記設定された平行移動量及び傾斜量に基づ
いたオーバー条件基準信号E1として出力され、オーバ
ー条件基準信号出力端子36から出力される。
1't R v1×zeR+v,×zeIt 10■n4/R-VA
(1) Next, the first button/g meter 31A of the overlevel setting circuit 31 sets the amount of parallel movement of the overlevel curve, and the first variable resistor 31B sets the amount of inclination of the overlevel curve. In addition, it corresponds to the tube voltage of fluoroscopy.
The third over level setting circuit 34 based on the KV signal
The amount of parallel movement of the overlevel curve is set by the potentiometer 34A, and the amount of inclination of the overlevel curve is set by the third variable resistor 34B. And all channels 1
Signal of average value VA of output signal E1 of 1A to 11N and FK
(2) The larger signal is output from the over-level select circuit 35 as the over-condition reference signal E1 based on the set parallel displacement amount and tilt amount, and is output from the over-condition reference signal output terminal 36.

一方、アンダーレベル設定口132の第2ポテンシヨン
メータ32Aでアンダーレベル曲線の平行移動量を設定
し、第2可変抵抗32Bでアンダーレベル曲線の傾斜量
を設定する。そして、前記全チャンネル11A〜11N
の出力信号の平均値VAの信号は、前記決定された平行
移動量及び傾斜量に基づいたアンダー条件基準信号E、
として出力され、アンダー条件基準信号出方端子37が
ら出力される。
On the other hand, the second potentiometer 32A of the underlevel setting port 132 sets the amount of parallel movement of the underlevel curve, and the second variable resistor 32B sets the amount of inclination of the underlevel curve. And all the channels 11A to 11N
The signal of the average value VA of the output signals is the under condition reference signal E based on the determined amount of parallel movement and amount of inclination.
The under condition reference signal is output from the under condition reference signal output terminal 37.

例えば、第6図に示すような前週視像の場合における各
部位の出力は、この実施例、にょると第1O図に示すよ
うなガス像しベル■、軟部組織像レベル■、バリウム像
レベル■となる。そして、全チャンネル11A〜11N
の出力信号E1の平均    。
For example, in the case of the previous week's visual image as shown in Fig. 6, the output of each region is as follows in this embodiment: the gas image level ■, the soft tissue image level ■, and the barium image level as shown in Fig. 1O. ■It becomes. And all channels 11A to 11N
The average of the output signal E1 of .

値VAの信号はこの各部位の出力と相似するので、オー
バーレベルL □ 、!mアンダーレベルLIJハ第1
0図のよのに設定することが可能となる。
Since the signal of value VA is similar to the output of each part, the overlevel L □,! m under level LIJ ha 1st
It is now possible to set it as shown in Figure 0.

一方、バリウムの被覆が非常に多い場合、例えば、4分
割圧迫撮影を行う場合は、全体の平均値信号VAとして
は下がってしまうので、オーバーレベルLO及びアンダ
ーレベルLUも下がってし捷い、バリウム像の所だけ採
光するという状態も生じる。このため、アンダーレベル
LtJは平均値VAの信号が下がっても、あまり下がら
ないよう傾斜を変更する程度で対応が可能であるが、オ
ーバーレベルLOは、軟@#I繊までオーバーレベルL
 Oと判断してしまうことになるので、このバリウム被
覆の多い圧迫撮影等は透視管電圧が被写体厚に関係なく
高くなることを利用する。即ち、圧迫等により透視管電
圧が高くなると、透視管電圧により設定したオーバーレ
ベルL Oは、全チャンネル11A〜jlNの出力信号
Eiの平均値VAの信号から設定したオーバーレベルL
Oより高くなることを利用して圧迫等によるオーバーレ
ベルLOの低下を防ぐことが可能となる。この結果、2
重造影等は、全チャンネル11A−S−11Nの出力信
号E1の平均値VAの信号により設定したオーバーレベ
ルLOとアンダーレベルLUf設定’することにより、
種々の体位や体厚に対応して確実にバリウム像やガス像
を認識し、確実に判断してこれらの影響を除くことが可
能となり、最適の透視及び撮影の自動露出が可能となる
。この被写体厚に対するオーバーレベルとアンダーレベ
ルの関係を第11図に示す。
On the other hand, when there is a large amount of barium coverage, for example when performing 4-part compression imaging, the overall average value signal VA will decrease, so the over level LO and under level LU will also decrease and the barium A situation may also occur where only the area around the statue is illuminated. Therefore, even if the average value VA signal decreases, it is possible to deal with the under level LtJ by changing the slope so that it does not decrease too much, but with the over level LO, even if the signal of the average value VA decreases, it is possible to deal with the over level LtJ.
Therefore, compression imaging with a large amount of barium coating utilizes the fact that the fluoroscopic tube voltage becomes high regardless of the thickness of the subject. That is, when the fluoroscopy tube voltage increases due to compression or the like, the overlevel L O set by the fluoroscopy tube voltage becomes the overlevel L set from the signal of the average value VA of the output signals Ei of all channels 11A to jlN.
By utilizing the fact that LO is higher than O, it is possible to prevent the overlevel LO from decreasing due to compression or the like. As a result, 2
For heavy contrast imaging, etc., by setting the over level LO and under level LUf set by the signal of the average value VA of the output signals E1 of all channels 11A-S-11N.
It becomes possible to reliably recognize barium images and gas images in response to various body positions and body thicknesses, and to make reliable judgments and remove their effects, thereby enabling optimal automatic exposure for fluoroscopy and photography. FIG. 11 shows the relationship between over-level and under-level with respect to the subject thickness.

このような第9図に示す実施装置の方式では、一般的な
撮影の場合にはよくフィルム濃度がそろうが特定の体位
、例えば、立体充盈第1斜位等で、被写体を透過せず、
X線管より1.1.4の入力面に直接に入射するX線(
以下、単に直接線とい%)が入射した部分、あるいは、
第12図に示すように、ガス像が非常に大きい場合には
、第13図に示すように、採光出力レベルの平均値りが
上昇して、ガス像の中心部のチャンネル■の出力信号は
非常に大きくなるので、このチャンネル■の出力信号は
除去されるが、この中間位にあるチャンネル■の出力信
号は、オーバーレベルLOの方カ大きくなって有効と判
断され、ガス像の一部を採光−することにより、これに
よって設定される露出条件で得られるフィルムの濃度が
薄くなるという問題があった。
In the method of the implementation apparatus shown in FIG. 9, the film density is often uniform in the case of general photography, but in certain body positions, such as the first oblique position in a three-dimensional image, the film does not pass through the subject.
X-rays that directly enter the input surface of 1.1.4 from the X-ray tube (
Hereinafter, we will simply refer to the part where the direct line (%) is incident, or
As shown in Fig. 12, when the gas image is very large, the average value of the lighting output level increases as shown in Fig. 13, and the output signal of channel Since the output signal of this channel ■ becomes very large, it is removed, but the output signal of the channel ■ located in the middle is judged to be effective because it is larger than the overlevel LO, and a part of the gas image is removed. There is a problem in that the density of the film obtained under the exposure conditions set by this lighting becomes low due to daylight.

本発明は、さらに前記問題点を解消し、ガス像や直接線
部の光が入射したチャンネルの出力信号を検出するハレ
ーション信号検出手段と、該ハレーション信号検出手段
によりハレーション信号が検出されたとき、検出された
ハレーション信号に対応するチャンネルの出力信号を前
記X線露出不足検出基準値設定手段及びX線露出過多検
出基準値設定手段の入力から除去する手段、若しくは低
減して入力する手段を具備し、採光視野の一部に直接線
の部分やガス像等があっても、検出基準レベルがあまシ
変化しないようにして、直接線の部分やガス像等による
影響を除去若しくは低減するようにしだものである。
The present invention further solves the above problems, and provides a halation signal detection means for detecting an output signal of a channel into which a gas image or a direct line part light is incident, and when a halation signal is detected by the halation signal detection means, means for removing or reducing the output signal of the channel corresponding to the detected halation signal from the input of the X-ray underexposure detection reference value setting means and the X-ray overexposure detection reference value setting means; Even if there is a direct line part, gas image, etc. in a part of the lighting field, the detection standard level should not change slightly, and the influence of the direct line part or gas image should be removed or reduced. It is something.

第14図は、その一実施例の構成を示す図であり、第9
図に示すX線露出不足検出基準値設定手段及びX線露出
過多検出基準値設定手段の平均値回路60を改良したも
のである。
FIG. 14 is a diagram showing the configuration of one embodiment, and FIG.
This is an improved version of the average value circuit 60 of the X-ray underexposure detection reference value setting means and the X-ray overexposure detection reference value setting means shown in the figure.

第14図において、40は検出基準用平均値計算回路で
あり、40A及び40Bはハレーションを起しやすい部
位に設けられたハレーション検出を行うチャンネル■、
■の出力に接続され、オペアンプ400にハレーション
信号を入力させないようにするだめのハレーション信号
除去スイッチである。41はハレーション信号検出回路
であり、ハレーション基準設定器41A、第1コンパレ
ータ41B、第2コンパレータ410及びラッチ回路4
1N)で構成されている。41gはラッチゲート信号入
力端子であり、SG、及び8G、はう、子回路411)
の出力信号である。信号SG+は第1コンパレータ41
Bがオンのとき「1」、オフのとき「0」の信号である
。また、信号SG、は第2コンパレータ41Cがオンの
ときrlJ、オフのとき「0」の信号である。
In FIG. 14, 40 is a detection standard average value calculation circuit, and 40A and 40B are channels for halation detection provided in areas where halation is likely to occur.
This is a halation signal removal switch that is connected to the output of (2) and is used to prevent a halation signal from being input to the operational amplifier 400. 41 is a halation signal detection circuit, which includes a halation standard setter 41A, a first comparator 41B, a second comparator 410, and a latch circuit 4.
1N). 41g is a latch gate signal input terminal, SG, 8G, crawl, child circuit 411)
is the output signal of The signal SG+ is the first comparator 41
The signal is "1" when B is on, and "0" when it is off. Further, the signal SG is rlJ when the second comparator 41C is on, and is "0" when the second comparator 41C is off.

次に、本実施例の動作を第14図において説明する。 
                         
 ”マス、ハレーション基準設定器41Aをハレーショ
ン基準値に設定しておく。ガス像や直接線部分が存在し
やすいところに設けられたノ・レーション検出を行うチ
ャンネル■及び■の信号と、前記設定された・・レーシ
ョン基準値とを第1コンパレータ4113及び第2コン
パレータ410で比較し、前記チャンネル■及び■の信
号がノ・レーション基準値より大きいと、第1コンパレ
ータ41B及び第2コンパレータ410がオンし、この
オン状態をう、子回路411)でう、チする。ここで、
う。
Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to FIG.

``Mass, set the halation standard setting device 41A to the halation standard value. The first comparator 4113 and the second comparator 410 compare the ration reference value with the ration reference value, and if the signals of the channels ■ and ■ are larger than the ration reference value, the first comparator 41B and the second comparator 410 are turned on. , this on state is turned on in the child circuit 411).Here,
cormorant.

子回路411)において、う、チするゲート間隔を種々
変化させることにより信号のノイズやり、プル等の影響
を除去することができる。う、子回路41Dの出力信号
SG、及びSGtによって検出基準用平均値側算回路4
0のノ・レーション信号除去スイ、ヂ40A及び40B
を制御する。信号SG。
In the child circuit 411), the effects of signal noise, pull, etc. can be removed by varying the gate spacing. U, the detection reference average value calculation circuit 4 uses the output signals SG and SGt of the child circuit 41D.
0 no-ration signal removal switch, 40A and 40B
control. Signal SG.

がr−I Jのとき、ノ・レージ、ン信号除去スイ、チ
40Aがオフして、チャンネル■の出力信号はオペアン
プ400に入力されない。また、信号SO。
When is r-IJ, the signal removal switch 40A is turned off, and the output signal of channel 2 is not input to the operational amplifier 400. Also, the signal SO.

が「1」のとき、ノ・レーン、ン信号除去スイ、チ40
I3がオフして、チrンネル■の出力信号はオペアンプ
400に入力されない。
When is "1", NO lane, N signal removal switch, CH40
I3 is turned off, and the output signal of channel R is not input to operational amplifier 400.

ココで、第1コンパレータ41Bの出力を31第2コン
パレータ410の出力をbとして、それぞれオンのとき
出力が11」、オフのとき出力が「0」になるとすると
、オペアンプ400の出力(チャンネル群11の出力平
均値) VAは、次の式(2)で表わすことができる。
Here, if the output of the first comparator 41B is 31B and the output of the second comparator 410 is b, and the output is 11'' when on and 0 when off, then the output of the operational amplifier 400 (channel group 11 (output average value) VA can be expressed by the following equation (2).

(n−2)+a十す すなわち、ハレーション信号が検出されたチャンネル以
外の信号は平均値としてオペアンプ40Cから出力され
る。前記ハレーション信号除去スイッチ40A及び40
Bがオンすると、ノ・レーション検出を行っているチャ
ンネル■及び■の出力信号は平均加算され、オフすると
、その出力信号は除外されるようになるので、ノ・レー
ション検出が行われると、平均値信号には、このノ・レ
ーション部の信号は除外されて、直接線部分やガス像に
よるハレーションの影響がなくなることになる。
(n-2)+a<+> In other words, the signals of channels other than the one in which the halation signal was detected are output from the operational amplifier 40C as an average value. The halation signal removal switches 40A and 40
When B is turned on, the output signals of channels ■ and ■ that are performing no-ration detection are averaged together, and when turned off, that output signal is excluded, so when no-ration detection is performed, the average The signal of this no-ration part is excluded from the value signal, and the influence of halation caused by the direct line part and the gas image is eliminated.

第15図は、本発明の平均値回路の他の実施例であり、
前記第14図のハレーション検出を行うチャンネル■及
び■の出力信号をバッファアンプ50A及び50Bを通
して、この信号が直接線部分やガス像等でハレーション
を起し、大きくなっても、抵抗Rとダイオード1)で構
成する上限制限回路51A及び5113により標準の信
号レベル以上にはならないように制限してやることで、
ハレーションの影響を低減させるようにしだものである
FIG. 15 shows another embodiment of the average value circuit of the present invention,
The output signals of channels ① and ① for halation detection shown in FIG. 14 are passed through buffer amplifiers 50A and 50B. ), the upper limit limiting circuits 51A and 5113 are configured to limit the signal level so that it does not exceed the standard signal level.
It is designed to reduce the effects of halation.

なお、前記上限制限回路51A及び5173は抵抗It
とダイオードで構成したが、トランジスタ等で構成して
もよく、ある信号レベル以上にならないように制限する
ものであればどのようなものでもよい。
Note that the upper limit limiting circuits 51A and 5173 are resistors It
Although it is constructed using a diode, it may also be constructed using a transistor or the like, and any type of device may be used as long as it limits the signal level so that it does not exceed a certain level.

寸だ、本発明は前記実施例に限定されることなく、その
要旨を変更しない範囲において種々変更し得ることは勿
論である。
Of course, the present invention is not limited to the embodiments described above, and can be modified in various ways without changing the gist thereof.

以上説明した如く、本発明によれば、透視撮影時に直接
線部分や〜像等によるハレーションの影響で濃度の薄い
写真が得られるのを防止することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to prevent low-density photographs from being obtained due to the effects of halation caused by direct line portions, images, etc. during fluoroscopic photography.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来のX線自動露出制御装置の構成を示す図
、第2図は、本発明の基本的な部分の一実施例の構成を
示すプロ、り図、第3図は、第2図のマルチ採光部の回
路の具体的な構成を示す図、第4図は、第2図のオーバ
ー・アンダー検出回路。 全チャンネルオーバー検出回路、全チャンネルアンダー
検出回路及び一部オーバー残シ全部アンダー検出回路の
具体的な構成を示す図、第5図は、第2図のう、チ回路
の具体的な構成を示す図、第6図〜第8図は、本発明に
係るオーバー・アンダー検出基準信号発生の原理を説明
するだめの図、第9図は、本発明に係るオーバー・アン
ダー検出基準信号発生回路の一実施例の構成を示す図、
第10図は、第9図の実施例による前週視像の場合ノ各
部位の出力とオーバーレベル、アンダーレベルを示す図
、第11図は、被写体厚対オーバー・ア・ダー・−一の
特性を示す図、第12図及び第     。 13図は、第9図の本発明に係るオーバー・アンダー検
出基準信号発生回路の問題点を説明するための図、第1
4図は、本発明のオーバー・アンダー検出基準信号発生
回路の一実施例の構成を示す図、第15図は、本発明の
オーバー・アンダー検出基準信号発生回路の他の実施例
の構成を示す図である。 40 検出基準用平均値計算回路 40A、40B ハレーションa号除去スイ、チ40Q
  オペアンプ 41 ハレーション信号検出回路 41A  ハレーンヨン基準設定器 41r3  第1コンパレータ 410  第2コンパレータ 411〕 ラッチ回路 411D  ラッチゲート信号入力端子50A、50B
 ・バッファアンプ srA、s1B  上限制限回路 代理人  弁理士 秋 1)収 喜
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a conventional X-ray automatic exposure control device, FIG. 2 is a professional diagram showing the configuration of an embodiment of the basic part of the present invention, and FIG. FIG. 2 is a diagram showing a specific configuration of the circuit of the multi-lighting section, and FIG. 4 is the over/under detection circuit of FIG. 2. FIG. 5 shows the specific configuration of the all-channel over detection circuit, the all-channel under detection circuit, and the partial over-remaining all-under detection circuit. 6 to 8 are diagrams for explaining the principle of over/under detection reference signal generation according to the present invention, and FIG. 9 is an illustration of an over/under detection reference signal generation circuit according to the present invention. A diagram showing the configuration of an example,
FIG. 10 is a diagram showing the output, over level, and under level of each part in the case of the previous week's visual image according to the embodiment of FIG. 9, and FIG. Figures 12 and 12. 13 is a diagram for explaining the problem of the over/under detection reference signal generation circuit according to the present invention shown in FIG.
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of one embodiment of the over/under detection reference signal generation circuit of the present invention, and FIG. 15 is a diagram showing the configuration of another embodiment of the over/under detection reference signal generation circuit of the present invention. It is a diagram. 40 Detection standard average value calculation circuit 40A, 40B Halation No. a removal switch 40Q
Operational amplifier 41 Halation signal detection circuit 41A Halation reference setter 41r3 First comparator 410 Second comparator 411] Latch circuit 411D Latch gate signal input terminals 50A, 50B
・Buffer amplifier srA, s1B Upper limit limit circuit agent Patent attorney Aki 1) Shu Ki

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] イメージインテンシファイアの出力の採光視野内に複数
の採光器からなる採光部を設けて、それぞれの採光器の
出力がX線露出不足及びX線露出過多であることを検出
する手段と、該手段の出力により前記X線露出不足及び
X線露出過多の条件の採光器の出力を除去する手段と、
X線露出不足検出基準値を全採光器の出力平均値から設
定するX線露出不足基準値設定手段と、X線露出過多検
出基準値を、透視管電圧が中間管電圧以上になると透視
管電圧で設定し、中間管電圧以下になると全採光器の出
力平均値で設定するX線露出過多検出基準値設定手段を
備えたX線露出装置であって、ガス像部や直接X線部の
光が入射した採光器の出力信号を検出するハレーション
信号検出手段と、該ハレーション信号検出手段により・
・レーション信号が検出されたとき、検出されたノ・レ
ージ、ン信号に対応する採光器の出力信号を、前記X線
露出不足検出基準値設定手段及びX線露出過多検出基準
値設定手段の入力から除去する手段、若しくは低減せし
めて入力する手段を備えたことを特徴とするX線自動露
出装置。
A means for providing a lighting unit consisting of a plurality of lighting devices within the lighting field of the output of the image intensifier, and detecting whether the output of each lighting device is underexposed to X-rays or overexposed to X-rays, and the means means for removing the output of the daylight under the conditions of X-ray underexposure and X-ray overexposure by the output of;
X-ray underexposure detection reference value setting means for setting an X-ray underexposure detection reference value from the average output value of all daylights; This is an X-ray exposure device equipped with an X-ray overexposure detection reference value setting means that sets an X-ray overexposure detection reference value that is set at A halation signal detection means detects the output signal of the lighting device into which the light enters, and the halation signal detection means detects the
- When the ration signal is detected, the output signal of the lighting device corresponding to the detected ration signal is input to the X-ray underexposure detection reference value setting means and the X-ray overexposure detection reference value setting means. 1. An automatic X-ray exposure device characterized by comprising means for removing or reducing and inputting an X-ray.
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