JPS5820436B2 - Focus voltage automatic adjustment device - Google Patents

Focus voltage automatic adjustment device

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Publication number
JPS5820436B2
JPS5820436B2 JP15582277A JP15582277A JPS5820436B2 JP S5820436 B2 JPS5820436 B2 JP S5820436B2 JP 15582277 A JP15582277 A JP 15582277A JP 15582277 A JP15582277 A JP 15582277A JP S5820436 B2 JPS5820436 B2 JP S5820436B2
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JP
Japan
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electron beam
scanning
focus voltage
voltage
fluorescent surface
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JP15582277A
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Japanese (ja)
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JPS5488032A (en
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宇佐美弘昭
緒方芳夫
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KASHIO KEISANKI KK
Original Assignee
KASHIO KEISANKI KK
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はCRTのフォーカス電圧自動調整装置に関し、
特に電子計算機等の端末装置としてキャラクタ−ディス
プレイに使用するCRTのフォーカス電圧自動調整装置
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an automatic focus voltage adjustment device for a CRT.
In particular, the present invention relates to an automatic focus voltage adjustment device for a CRT used in a character display as a terminal device of an electronic computer or the like.

従来のCRTのフォーカス電圧調整装置は、第1図のよ
うな回路構成となっている。
A conventional CRT focus voltage adjustment device has a circuit configuration as shown in FIG.

即ち、1は水平出力用スイッチングトランジスタ、2は
フライバックトランス、3はフライバックトランス共振
用コンデンサ、4は偏向ヨーク、5は偏向ヨーク共振用
コンデンサ、6はサイズコイル、7はリニアリティコイ
ル、8はダンパダイオード、9は電源電圧印加端子、1
0はアノード電圧整流用ダイオード、11はフォーカス
電圧整流用ダイオード、12は平滑コンデンサ、13は
固定抵抗、14は摺動抵抗、15はCRT、16はビデ
オ信号印加端子である。
That is, 1 is a horizontal output switching transistor, 2 is a flyback transformer, 3 is a flyback transformer resonance capacitor, 4 is a deflection yoke, 5 is a deflection yoke resonance capacitor, 6 is a size coil, 7 is a linearity coil, and 8 is a Damper diode, 9 is power supply voltage application terminal, 1
0 is a diode for anode voltage rectification, 11 is a focus voltage rectification diode, 12 is a smoothing capacitor, 13 is a fixed resistor, 14 is a sliding resistor, 15 is a CRT, and 16 is a video signal application terminal.

そして、このような構成で上記トランジスタ1からの水
平出力がフライバックトランス2の一次側巻線271に
印加され、ここに発生するパルス電圧をアノード電圧用
巻線2−2で昇圧し、アノード電圧整流用ダイオード1
0で整流してCRT15のアノードに印加する。
With this configuration, the horizontal output from the transistor 1 is applied to the primary winding 271 of the flyback transformer 2, and the pulse voltage generated here is boosted by the anode voltage winding 2-2, and the anode voltage is Rectifier diode 1
It is rectified with 0 and applied to the anode of the CRT 15.

一方、上記フライバックトランス2のフォーカス電圧用
巻線2−3で昇圧した電圧をフォーカス電圧整流用ダイ
オード11で整流し、コンデンサ12で平滑して所要の
フォーカス電圧より若干高い電圧を得る。
On the other hand, the voltage boosted by the focus voltage winding 2-3 of the flyback transformer 2 is rectified by the focus voltage rectifier diode 11, and smoothed by the capacitor 12 to obtain a voltage slightly higher than the required focus voltage.

この電圧を固定抵抗13と摺動抵抗14とで分圧し、上
記摺動抵抗14の摺動端子よリフオーカス電圧を得て、
CRT15のフォーカスグリッドに供給し、ビデオ信号
印加端子16からカソードに印加されたビデオ信号によ
って変調された電子ビームを制御している。
This voltage is divided between the fixed resistor 13 and the sliding resistor 14, and a refocus voltage is obtained from the sliding terminal of the sliding resistor 14.
The electron beam is supplied to the focus grid of the CRT 15 and is modulated by a video signal applied to the cathode from the video signal application terminal 16 to control the electron beam.

そして外部操作部により上記摺動抵抗14の摺動端子の
位置を調整し、最適フォーカス電圧を得る。
Then, the position of the sliding terminal of the sliding resistor 14 is adjusted using an external operation section to obtain the optimum focus voltage.

しかし、一般にCRTの最適フォーカス電圧は、電子ビ
ームがCRTの螢光面に当たったときに流れるビーム電
流の電流密度に応じて変化する。
However, in general, the optimum focus voltage of a CRT changes depending on the current density of the beam current flowing when the electron beam hits the fluorescent surface of the CRT.

この電流密度の変化によって最適のフォーカス電圧は第
2図のように変動することが知られている。
It is known that the optimum focus voltage changes as shown in FIG. 2 due to this change in current density.

而して、偏向角の大きいCRTでは、螢光面の曲り半径
と偏向中心から螢光面までの距離の差が、螢光面の周辺
部で大きくなり、螢光面の中央部と周辺部とで同一偏向
角に対する走査点の移動距離が違う。
Therefore, in a CRT with a large deflection angle, the difference between the bending radius of the fluorescent surface and the distance from the center of deflection to the fluorescent surface becomes larger at the periphery of the fluorescent surface, and the difference between the center and peripheral portions of the fluorescent surface increases. The moving distance of the scanning point for the same deflection angle is different between and.

そのため上記ビーム電流の電流密度が螢光面の中央部と
周辺部では異なってくる。
Therefore, the current density of the beam current differs between the central part and the peripheral part of the fluorescent surface.

従って、上記従来のフォーカス電圧調整装置では、螢光
面上の特定の一点についてのみしか最適のフォーカス電
圧が得らず、他の走査点においては最適なフォーカスが
得られないという欠点があった。
Therefore, the above-mentioned conventional focus voltage adjusting device has the disadvantage that the optimum focus voltage can only be obtained at one specific point on the fluorescent surface, and the optimum focus cannot be obtained at other scanning points.

この発明は上記事情に鑑みて成されたもので、螢光面の
所定の位置から電子ビームの走査点までの距離を検出し
、この距離によってフォーカス電圧を自動的に調整する
フォーカス電圧自動調整装置を提供するものである。
This invention was made in view of the above circumstances, and is an automatic focus voltage adjustment device that detects the distance from a predetermined position on a fluorescent surface to a scanning point of an electron beam, and automatically adjusts a focus voltage based on this distance. It provides:

以下本発明の一実施例につき、詳細に説明する。An embodiment of the present invention will be described in detail below.

第3図は本実施例を採用したCRTの螢光面上の文字の
配列を示したもので図aに示す如く電子ビームの主走査
方向(X方向)に96文字副走査方向(Y方向)に27
文字の表示を行なうものとする。
Figure 3 shows the arrangement of characters on the fluorescent surface of a CRT employing this embodiment.As shown in Figure a, there are 96 characters in the main scanning direction (X direction) of the electron beam (in the sub scanning direction (Y direction)). on 27
Characters shall be displayed.

螢光面上の四角は1画素を示すもので、この1画素の中
に1文字を表示する。
A square on the fluorescent surface represents one pixel, and one character is displayed within this one pixel.

1文字は同図す及びCに示すように、横方向を7ドツト
、縦方向を9ドツトすなわち63ドツトで表示する。
One character is displayed with 7 dots in the horizontal direction and 9 dots in the vertical direction, ie, 63 dots, as shown in FIGS.

また画素と画素の間のスペースは主走査方向が1ドツト
分、副走査方向が3ドツト分設けである。
Further, the space between the pixels is one dot in the main scanning direction and three dots in the sub scanning direction.

なお、Pは螢光面の中心点である。Note that P is the center point of the fluorescent surface.

第4図は本実施例の構成図であり、図中第1図と同じ部
品には同一番号を付して示す。
FIG. 4 is a block diagram of this embodiment, and the same parts as in FIG. 1 are designated by the same numbers.

同図において20は電子ビームの走査位置検出ブロック
で、上記ブロック化において、21は基準周波数で発振
する発振器である。
In the same figure, 20 is an electron beam scanning position detection block, and in the above block formation, 21 is an oscillator that oscillates at a reference frequency.

この発振器21には順次8進カウンタ221.16進カ
ウンタ222.6進カウンタ223.12進カウンタ2
31.27進カウンタ232が縦列接続されている。
This oscillator 21 sequentially includes an octal counter 221, a hexadecimal counter 222, a hexadecimal counter 223, and a hexadecimal counter 2.
31.27-decimal counters 232 are connected in cascade.

そして、上記16進カウンタ222と6進カウンタ22
3のカウント値は、減算回路24へ減数として供給され
る。
Then, the hexadecimal counter 222 and the hexadecimal counter 22
The count value of 3 is supplied to the subtraction circuit 24 as a subtracted number.

この減算回路24には、被減数として「48」のコード
を発生するコード発生器25が結合しており、その減算
結果はD−A(ディジタル−アナログ)変換回路26に
て電圧に変換されてフ七ツクIへ送られる。
This subtraction circuit 24 is coupled with a code generator 25 that generates a code of "48" as a subtractive number, and the subtraction result is converted into a voltage by a DA (digital-to-analog) conversion circuit 26 and then converted into a voltage. Sent to Nanatsuku I.

一方、上記12進カウンタ231と27進カウンタ23
2のカウント値は、減算回路27へ減数として供給され
る。
On the other hand, the decimal counter 231 and the 27-decimal counter 23
The count value of 2 is supplied to the subtraction circuit 27 as a subtracted number.

この減算回路27には、被減数として「162」のコー
ドを発生するコード発生器28が結合しており、その減
算結果はD−A変換回路29にて電圧に変換されて、ブ
ロックUへ送られる。
A code generator 28 that generates a code of "162" as the minuend is coupled to this subtraction circuit 27, and the subtraction result is converted into a voltage by a DA conversion circuit 29 and sent to block U. .

ブロックUは上記ブロックυにて検出され、電圧によっ
て表わされた電子ビームの走査位置を螢光面の中心点P
からの距離に変換するフ七ツクで、OPアンプ31を主
構成要素とする一般的によく知られている加算係数器か
ら成っており、上記D−A変換回路26.29の出力電
圧の定数倍された和電圧をブロック化」へ供給する。
The block U is detected by the block υ, and the scanning position of the electron beam represented by the voltage is set to the center point P of the fluorescent surface.
This function converts the distance from The multiplied sum voltage is supplied to "Block".

ブロック化」は上記ブロックUからの信号に応じてCR
T15のフォーカスグリッドに印加するフォーカス電圧
を調整するブロックである。
"Blocking" is CR in response to the signal from block U above.
This block adjusts the focus voltage applied to the focus grid of T15.

上記ブロックUの出力電圧は、OPアンプ41のマイナ
ス端子に接続し、このOPアンプ41のプラス端子は基
準電圧発生用の、アノードが接地されたツェナダイオー
ド42のカソードに接続している。
The output voltage of the block U is connected to a negative terminal of an OP amplifier 41, and a positive terminal of this OP amplifier 41 is connected to a cathode of a Zener diode 42 whose anode is grounded for generating a reference voltage.

上記OPアンプ41の出力はトランジスタ43のベース
に供給され、このトランジスタ43のコレクタは負荷抵
抗44に接続している。
The output of the OP amplifier 41 is supplied to the base of a transistor 43, and the collector of this transistor 43 is connected to a load resistor 44.

またこのトランジスタ43のエミッタは、抵抗45を介
してマイナス電源に接続されると共に、トランジスタ4
6のエミッタに接続している。
Further, the emitter of this transistor 43 is connected to a negative power supply via a resistor 45, and the emitter of the transistor 43 is connected to a negative power supply via a resistor 45.
It is connected to the emitter of 6.

このトランジスタ46のベースは負荷抵抗47を介して
接地され、またそのコレクタは、負荷抵抗48に接続さ
れる。
The base of this transistor 46 is grounded via a load resistor 47, and its collector is connected to a load resistor 48.

このようにトランジスタ43.46は抵抗44,45,
47.48と共に差動アンプを構成している。
In this way, the transistors 43, 46 are connected to the resistors 44, 45,
Together with 47 and 48, it constitutes a differential amplifier.

この差動アンプの出力、即ちトランジスタ46のコレク
タはトランジスタ49のベースに接続している。
The output of this differential amplifier, ie, the collector of transistor 46, is connected to the base of transistor 49.

このトランジスタ49はトランジスタ50とダーリント
ン接続されている。
This transistor 49 is Darlington connected to the transistor 50.

このダーリントン接続されたトランジスタ群49及び5
0のコレクタは抵抗51を介して上記ツェナダイオード
42のカソードに接続されると共に上記抵抗44と48
の接続点に接続し、更に抵抗52を介して上記ダイオー
ド11とコンデンサ12の交点、即ちフライバックトラ
ンス2のフォーカス電圧用巻線2−3から得られる高電
圧源に接続している。
This Darlington connected transistor group 49 and 5
The collector of 0 is connected to the cathode of the Zener diode 42 via the resistor 51 and the resistors 44 and 48.
It is further connected via a resistor 52 to the intersection of the diode 11 and the capacitor 12, that is, to a high voltage source obtained from the focus voltage winding 2-3 of the flyback transformer 2.

また上記トランジスタ50のエミッタは抵抗53を介し
て接地されると共に、CRT15のフォーカスグリッド
にフォーカス電圧を供給する。
Further, the emitter of the transistor 50 is grounded via a resistor 53 and supplies a focus voltage to the focus grid of the CRT 15.

次に上記の如く構成された実施例の動作につき説明する
Next, the operation of the embodiment configured as described above will be explained.

発振器21は例えば周波数14. MHzのクロックパ
ルスを発生している。
The oscillator 21 has a frequency of, for example, 14. Generates MHz clock pulses.

なおビデオ信号印加端子16に印加されるビデオ信号は
、このクロックパルスに同期したオン・オフ信号或いは
変調信号で構成されている。
Note that the video signal applied to the video signal application terminal 16 is composed of an on/off signal or a modulation signal synchronized with this clock pulse.

上記14MHzのクロックパルスは8進カウンタ221
でカウントされ、このカウントは電子ビームの主走査方
向の1文字分の走査に同期する。
The above 14MHz clock pulse is generated by the octal counter 221.
This count is synchronized with the scanning of one character in the main scanning direction of the electron beam.

上記8進カウンタ221から1文字分の走査毎に1個ず
つ出力されるパルスは、更に次段の16進カウンタ22
2に入力される。
The pulses output from the octal counter 221 one by one for each character scan are sent to the hexadecimal counter 22 at the next stage.
2 is input.

この16進カウンタ222の後端からは、8進カウンタ
221の出力パルス16個に1個ずつのパルスが出力さ
れる。
From the rear end of the hexadecimal counter 222, one pulse is output for every 16 output pulses of the octal counter 221.

即ち電子ビームが主走査方向に16文字分走査を完了す
ると1個の・々ルスが出力され、その出力パルスは次段
の6進カウンタ223に入力される。
That is, when the electron beam completes scanning for 16 characters in the main scanning direction, one pulse is output, and the output pulse is input to the hexadecimal counter 223 at the next stage.

6進カウンタ223では16進カウンタ222の後端か
ら出力されるパルスが6個入力されると1個パルスを出
力する。
The hexadecimal counter 223 outputs one pulse when six pulses output from the rear end of the hexadecimal counter 222 are input.

すなわち電子ビームが主走査方向に16X6=96文字
分(=1主走査分)走査を完了すると1個のパルスが出
力される。
That is, when the electron beam completes scanning for 16×6=96 characters (=1 main scanning) in the main scanning direction, one pulse is output.

なおこの6進カウンタ223からの出力パルスを水平同
期信号として利用する。
Note that the output pulse from the hexadecimal counter 223 is used as a horizontal synchronization signal.

一方6進力ウンタ223からの出力パルスは、12進カ
ウンタ231に入力され、この12進カウンタ231は
その人力パルスを12個カウントして1個のパルスを出
力する。
On the other hand, the output pulse from the hexadecimal force counter 223 is input to a hexadecimal counter 231, which counts 12 human force pulses and outputs one pulse.

このパルスは副走査方向の1文字分の走査に同期する。This pulse is synchronized with the scanning of one character in the sub-scanning direction.

12進カウンタ231からの出力パルスは次段の27進
カウンタ232に入力され、この27進カウンタでは2
7個の上記パルスのカウントごとに1個のパルスを出力
する。
The output pulse from the 12-decimal counter 231 is input to the 27-decimal counter 232 at the next stage.
One pulse is output for every seven pulses counted.

すなわち副走査方向の27文字分(=1フレーム分)の
走査が完了し1個のパルスを出力する。
That is, scanning of 27 characters (=1 frame) in the sub-scanning direction is completed and one pulse is output.

この27進カウンタ232からの出力パルスを垂直同期
信号として利用する。
The output pulse from this 27-ary counter 232 is used as a vertical synchronization signal.

以上に示したカウンタの組合せにより電子ビームの走査
位置が検出できる。
The scanning position of the electron beam can be detected by the combination of the counters shown above.

すなわち16進カウンタ222と6進カウンタ223と
の出力によりX方向の伺番目の文字を走査しているかが
明らかになり、12進カウンタ231と27進カウンタ
232との出力により何本口の副走査であるかが明らか
になる。
That is, the output from the hexadecimal counter 222 and the hexadecimal counter 223 makes it clear which character is being scanned in the X direction, and the output from the hexadecimal counter 231 and the 27-decimal counter 232 makes it clear how many sub-scans are being scanned. It becomes clear that

この16進カウンタ222と6進カウンク223の内容
を表わす信号はそれぞれ減数として減算回路24に入力
され、一方コード発生回路25より被減数48のコード
が減算回路24に入力されて、減算が実行される。
The signals representing the contents of the hexadecimal counter 222 and the hexadecimal count 223 are each input as a subtracted number to the subtraction circuit 24, while the code for the minuend 48 is input from the code generation circuit 25 to the subtraction circuit 24, and subtraction is executed. .

例えば16進カウンタ222の内容が5,6進カウンタ
223の内容が2の場合電子ビームはX方向の16X2
+5=37番目の文字を走査しており、減算回路24か
らの出力(48−37=11 )から螢光面の中心点P
から左11番目の位置であることが検出できる。
For example, if the content of the hexadecimal counter 222 is 5 and the content of the hexadecimal counter 223 is 2, the electron beam will be 16X2 in the X direction.
+5=The 37th character is being scanned, and the center point P of the fluorescent surface is determined from the output from the subtraction circuit 24 (48-37=11).
It can be detected that the position is the 11th position on the left.

また例えば16進カウンタ222の出力が10,6進カ
ウンク223の出力が4の場合、減算回路24からの出
力は(48−(16X4+10))=−26となり螢光
面の中心点から右26番目の位置であることが検出でき
る。
For example, if the output of the hexadecimal counter 222 is 10 and the output of the hexadecimal counter 223 is 4, the output from the subtraction circuit 24 is (48-(16X4+10))=-26, which is the 26th point to the right from the center point of the fluorescent surface. It can be detected that the position of

このように本実施例では螢光面の中心点Pを通る中心線
を境にして右と左の2つの領域に主走査方向を分けて位
置の表示を行なう。
As described above, in this embodiment, the position is displayed by dividing the main scanning direction into two areas, right and left, with the center line passing through the center point P of the fluorescent surface as the boundary.

更に、12進カウンタ231と27進カウンタ232の
各内容を表わす信号が、コード発生回路28より出力さ
れる被減数コード162とともに減算回路27に入力さ
れる。
Further, signals representing the contents of the hexadecimal counter 231 and the hexadecimal counter 232 are input to the subtraction circuit 27 together with the minutand code 162 output from the code generation circuit 28.

上述同様にして、例えば12進カウンク231の出力が
6,27進カウンタ232の出力が8の場合、電子ビー
ム18.8X12+6=102本目の副走査を行なって
いることが検出でき、この出力を減算回路25で減算(
162−102=60)すると螢光面の中心点Pから数
えて上側60本目であることが検出できる。
In the same way as described above, for example, if the output of the hexadecimal counter 231 is 6, and the output of the 27-decimal counter 232 is 8, it can be detected that the electron beam 18.8X12+6=102nd sub-scanning is being performed, and this output is subtracted. Subtraction in circuit 25 (
162-102=60), it is possible to detect that the 60th line is on the upper side counting from the center point P of the fluorescent surface.

また例えば12進カウンタの出力が8゜27進カウンタ
の出力が16の場合、減算回路25からの出力は(16
2−(12X16+8))=−38となり、螢光面の中
心点Pから数えて下側38本目であることが検出できる
For example, if the output of the hexadecimal counter is 8 degrees and the output of the 27-decimal counter is 16, the output from the subtraction circuit 25 is (16
2-(12X16+8))=-38, and it can be detected that this is the 38th line on the lower side counting from the center point P of the fluorescent surface.

このように本実施例では副走査方向を螢光面の中心点P
を通る中心線を境にして上、下の2領域に分けて位置の
表示を行う。
In this way, in this embodiment, the sub-scanning direction is set to the center point P of the fluorescent surface.
The position is displayed in two areas, upper and lower, with the center line passing through as the boundary.

従って本実施例では第3図に示すように螢光面を■、■
、■、■の4領域に分けて位置表示を行なう。
Therefore, in this example, as shown in FIG. 3, the fluorescent surfaces are
The position is displayed in four areas: , ■, and ■.

以上のようにして螢光面の中心点からの電子ビームの走
査位置を主走査方向と副走査方向とに分けて検出し、上
記減算回路24.27の出力をそれぞれD−A変換回路
26.29にてアナログ量(電圧)に変換する。
As described above, the scanning position of the electron beam from the center point of the fluorescent surface is detected separately in the main scanning direction and the sub-scanning direction, and the outputs of the subtraction circuits 24 and 27 are respectively detected by the DA conversion circuits 26 and 27. 29, it is converted into an analog quantity (voltage).

このようにして螢光面の中心点Pからの電子ビームの走
査位置をディジタル的に検出し、この位置検出信号をア
ナログ量即ち、所定の電圧に変換した後、この電圧をブ
ロックUで螢光面の中心点Pからの距離に対応する電圧
に変換する。
In this way, the scanning position of the electron beam from the center point P of the fluorescent surface is detected digitally, and this position detection signal is converted into an analog quantity, that is, a predetermined voltage, and then this voltage is used in the block U to generate the fluorescent light. It is converted into a voltage corresponding to the distance from the center point P of the surface.

即ちブロック亀」ではD−A変換回路26および29よ
りの入力信号をそれぞれ定数倍し、その和電圧をOPア
ンプ31より出力する。
That is, in the block turtle, the input signals from the DA conversion circuits 26 and 29 are each multiplied by a constant, and the sum voltage is outputted from the OP amplifier 31.

この電圧はブロックl」で検出された電子ビームの走査
位置例えば第3図の点Aを螢光面の中心点Pから電子ビ
ーム走査位置までの距離(XA 十YA )に相当する
電圧である。
This voltage corresponds to the distance (XA + YA) from the center point P of the fluorescent surface to the electron beam scanning position detected in block 1, for example, point A in FIG.

なおxAおよびYAは中心点Pから点AへのX方向およ
びY方向の距離である。
Note that xA and YA are the distances from the center point P to the point A in the X and Y directions.

このようにして電子ビームの走査位置を螢光面の中心点
から電子ビームの走査位置までの距離に対応する電圧値
に変換した後、この距離に対応してCRT15のフォー
カスグリッドに印加するフォーカス電圧をブロック化」
で調整する。
After converting the scanning position of the electron beam into a voltage value corresponding to the distance from the center point of the fluorescent surface to the scanning position of the electron beam in this way, a focus voltage is applied to the focus grid of the CRT 15 in accordance with this distance. "Block"
Adjust with.

フ七ツク0では、OPアンプ41にてブロックUからの
出力電圧とツェナダイオード42により発生する基準電
圧とを比較し、上記ブロックIの出力電圧の変動を検出
する。
In block 0, an OP amplifier 41 compares the output voltage from block U with a reference voltage generated by a Zener diode 42, and detects fluctuations in the output voltage of block I.

その比較出力をトランジスタ43.46よりなる差動ア
ンプにより増幅し、その差動アンプの出力をトランジス
タ49のベースに供給する。
The comparison output is amplified by a differential amplifier consisting of transistors 43 and 46, and the output of the differential amplifier is supplied to the base of transistor 49.

従ってフライバックトランス2のフォーカス電圧用巻線
2−3から抵抗52を介してダーリントン接続されたト
ランジスタ49及び50のコレクタに供給され、トラン
ジスタ50のエミッタから出力される電流がベース電流
すなわち上記差動アンプから出力される電流に応じて変
化する。
Therefore, the current is supplied from the focus voltage winding 2-3 of the flyback transformer 2 through the resistor 52 to the collectors of the transistors 49 and 50 connected in Darlington, and the current output from the emitter of the transistor 50 is the base current, that is, the differential voltage. It changes depending on the current output from the amplifier.

上記エミッタの出力電流は抵抗53に流れ、そこに発生
した電圧がフォーカス電圧としてCRT15のフォーカ
スグリッドに印加される。
The output current of the emitter flows through the resistor 53, and the voltage generated there is applied to the focus grid of the CRT 15 as a focus voltage.

現在電子ビームが螢光面の例えばA点を走査していると
すると(今、一例としてA点が主走査方向2文字目の4
ドツト目、副走査方向277文字目2ド゛ント目である
とする)、16進カウンタ222の内容を表わす信号と
して1個のパルスが減数として減算回路24に入力され
る。
Suppose that the electron beam is currently scanning a point A on the fluorescent surface (for example, point A is the 4th character of the second character in the main scanning direction).
277th character in the sub-scanning direction), one pulse is input to the subtraction circuit 24 as a subtractive number as a signal representing the contents of the hexadecimal counter 222.

一方減算回路24にはコード発生回路25より被減算数
48が入力され(48−(8X1+4))の演算が実施
される。
On the other hand, the subtraction circuit 24 receives the subtracted number 48 from the code generation circuit 25 and performs the calculation (48-(8X1+4)).

更に12進カウンタ231の内容を表わす信号として2
個のパルスが、27進カウンタ232の内容を表わす信
号として26個のパルスが、それぞれ減数として減算回
路27に入力される。
Furthermore, 2 is used as a signal representing the contents of the hexadecimal counter 231.
The 26 pulses are each input to the subtraction circuit 27 as a subtractive number as a signal representing the contents of the 27-decimal counter 232.

他方減算回路27には被減算数指令回路28より被減算
数162が入力され(162−(12X26+2))の
演算が実施される。
On the other hand, the subtraction circuit 27 receives the subtractable number 162 from the subtracted number command circuit 28, and performs the calculation (162-(12X26+2)).

減算回路24および27の演算結果「36」および[−
152JはそれぞれD−A変換回路26゜29に入力さ
れ、螢光面の中心点Pからの位置に対応する電圧情報(
XA 、 YA、 )に変換される。
The calculation results of the subtraction circuits 24 and 27 are "36" and [-
152J are respectively input to the D-A conversion circuits 26 and 29, and voltage information (
XA, YA, ).

このアナログ量に変換された電子ビーム走査位置情報(
XA 、 YA )にブロックIで螢光面の中心点から
の距離に対応する電圧情報(XA+YA)に変換し、こ
の距離情報に応じたフォーカス電圧を40で発生させて
CRT15のフォーカスグリッドに印加しするわけであ
る。
Electron beam scanning position information converted to this analog quantity (
XA, YA) is converted into voltage information (XA+YA) corresponding to the distance from the center point of the fluorescent surface in block I, and a focus voltage corresponding to this distance information is generated at 40 and applied to the focus grid of the CRT 15. That's why.

なお、上記の実施例の電子ビームの走査位置検出手段υ
において主走査方向の位置検出を文字単位で行っていた
がドツト単位で行っても良い。
Note that the electron beam scanning position detection means υ of the above embodiment
In the above, position detection in the main scanning direction was performed character by character, but it may also be performed dot by dot.

この場合コード発生回路25の被減数は%(8X96)
−384となり、8進カウンタ221のカウント信号も
減算回路24に入力すればよい。
In this case, the minuend of the code generation circuit 25 is % (8X96)
-384, and the count signal of the octal counter 221 may also be input to the subtraction circuit 24.

同様に副走査方向の位置検出も文字単位で行っても良い
Similarly, position detection in the sub-scanning direction may also be performed character by character.

この場合上記の実施例では副走査方向の表示文字数が奇
数で都合が悪いが例えば26文字ならばコード発生回路
28の被減数は26/2=13となり、27進カウンタ
232を26進カウンタにして26進カウンタのみから
減算回路27に入力すればよい。
In this case, in the above embodiment, the number of displayed characters in the sub-scanning direction is an odd number, which is inconvenient, but for example, if there are 26 characters, the minuend of the code generation circuit 28 is 26/2=13, and the 27-decimal counter 232 is converted into a 26-decimal counter. It is sufficient to input to the subtraction circuit 27 only from the digit counter.

また、ブロックU及びIの回路構成においては、上記実
施例に限ることなく、同一作用を得るための回路構成が
種々考えられる。
Further, the circuit configurations of blocks U and I are not limited to the above embodiments, and various circuit configurations can be considered to obtain the same effect.

更にまた、上記実施例においては、キャラクタ−ディス
プレイを例にとって説明したが、ディジタル駆動される
CRTすべてに応用できるものである。
Furthermore, although the above embodiment has been explained using a character display as an example, the present invention can be applied to any digitally driven CRT.

以上詳記したように、本発明はCRTのカソードに印加
するビデオ信号の搬送周波数に同期した発振周波数の発
振器からの出力信号をクロックパルスとし、このクロッ
クパルスをカウントして主走査方向および副走査方向の
電子ビームの走査位置を検出し、この検出信号に基いて
電子ビームの走査位置を螢光面の所定の位置からの位置
情報に変換し、この位置情報をアナログ信号に変換した
後、電子ビームの走査位置を螢光面の所定の位置からの
距離情報に変換し、この距離情報に基いてフォーカス電
圧を調整するフォーカス電圧自動調整装置を提供するも
のであり、各走査点毎にフォーカス電圧が最適に調整さ
れるので、全画面のフォーカスが正しくなる。
As described in detail above, the present invention uses an output signal from an oscillator with an oscillation frequency synchronized with the carrier frequency of a video signal applied to the cathode of a CRT as a clock pulse, and counts these clock pulses to perform scanning in the main scanning direction and sub-scanning direction. The scanning position of the electron beam in the direction is detected, and based on this detection signal, the scanning position of the electron beam is converted into position information from a predetermined position on the fluorescent surface. After converting this position information into an analog signal, The present invention provides an automatic focus voltage adjustment device that converts the scanning position of the beam into distance information from a predetermined position on the fluorescent surface and adjusts the focus voltage based on this distance information, and adjusts the focus voltage for each scanning point. is adjusted optimally, so the focus of the entire screen is correct.

また外部よりフォーカス電圧を調整する必要がない等の
効果がある。
Further, there is an advantage that there is no need to adjust the focus voltage from the outside.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来のフォーカス電圧調整装置、第2図はCR
Tのフォーカス電圧とビーム電流密度との関係を示した
グラフ、第3図は本発明の一実施例としての螢光面上の
文字の配列を示した螢光面の平面図、第4図は本発明の
一実施例のフォーカス電圧自動調整装置である。 υ・・・・・・電子ビーム走査位置検出ブロック、■・
・・・・・螢光面の中心点から電子ビームの走査位置ま
での距離を検出するブロック、40・・・・・・螢光面
の中心点から電子ビームの走査位置までの距離に応じて
フォーカス電圧を調整するブロック。
Figure 1 shows a conventional focus voltage adjustment device, Figure 2 shows a CR
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the focus voltage of T and the beam current density. FIG. 3 is a plan view of the fluorescent surface showing the arrangement of characters on the fluorescent surface as an embodiment of the present invention. FIG. 1 is an automatic focus voltage adjustment device according to an embodiment of the present invention. υ・・・Electron beam scanning position detection block, ■・
...Block for detecting the distance from the center point of the fluorescent surface to the scanning position of the electron beam, 40......Block that detects the distance from the center point of the fluorescent surface to the scanning position of the electron beam Block to adjust focus voltage.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 I CRTの搬送周波数に同期した発振周波数のクロ
ックパルスを発生するクロックパルス発生手段と、上記
クロックパルスをカウントして電子ビームの走査位置を
ディジタル的に検出し、この検出信号に基いて、電子ビ
ームの走査位置を螢光面の所定の位置からの位置情報に
変換する走査位置検出手段と、上記位置情報をアナログ
情報に変換した後、上記電子ビームの走査位置を螢光面
の所定の位置からの距離情報に変換する手段と、上記距
離情報に対して最適のフォーカス電圧を発生する手段と
を備えたことを特徴とするフォーカス電圧自動調整装置
。 2、特許請求の範囲第1項記載のフォーカス電圧自動調
整装置において、上記螢光面の所定の位置を螢光面の中
心点とするとともに上記走査位置検出手段を、電子ビー
ムの主走査方向に配ダルた画素数あるいはドツト数を計
数する1個あるいは複数個のカウンタと、電子ビームの
副走査方向に配夕Iルた画素数あるいは副走査線数を計
算する1個あるいは複数個のカウンタと、上記それぞれ
のカウンタからの計数信号を減数信号とし、かつ電子ビ
ームの主走査方向に配夕1ルた画素数の2分の1あるい
はドツト数の2分の1および電子ビームの副走査方向に
配夕1ルた画素数の2分の1あるいは副走査線数の2分
の1のそれぞれを被減算数としてそれぞれ入力される2
個の減算回路とにより構成したことを特徴とするフォー
カス電圧自動調整装置。
[Claims] A clock pulse generating means for generating a clock pulse with an oscillation frequency synchronized with the carrier frequency of an I CRT, a digitally detecting scanning position of the electron beam by counting the clock pulses, and a detection signal of the scanning position of the electron beam. scanning position detection means for converting the scanning position of the electron beam into positional information from a predetermined position on the fluorescent surface based on the scanning position of the electron beam; An automatic focus voltage adjustment device comprising: means for converting into distance information from a predetermined position on a surface; and means for generating an optimum focus voltage for the distance information. 2. In the automatic focus voltage adjustment device according to claim 1, the predetermined position of the fluorescent surface is set as the center point of the fluorescent surface, and the scanning position detecting means is arranged in the main scanning direction of the electron beam. One or more counters for counting the number of pixels or dots distributed in the electron beam, and one or more counters for calculating the number of pixels or sub-scanning lines distributed in the sub-scanning direction of the electron beam. , the count signal from each of the above counters is used as a subtraction signal, and one half of the number of pixels or one half of the number of dots arranged in the main scanning direction of the electron beam and one half of the number of dots arranged in the main scanning direction of the electron beam are used. 1/2 of the number of pixels or 1/2 of the number of sub-scanning lines is input as the subtracted number.
A focus voltage automatic adjustment device comprising: a subtraction circuit.
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JPS5488032A JPS5488032A (en) 1979-07-12
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0433618Y2 (en) * 1985-05-30 1992-08-12

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JPH0433618Y2 (en) * 1985-05-30 1992-08-12

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