JPS58181179A - Extracting device of picture feature - Google Patents

Extracting device of picture feature

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JPS58181179A
JPS58181179A JP57062969A JP6296982A JPS58181179A JP S58181179 A JPS58181179 A JP S58181179A JP 57062969 A JP57062969 A JP 57062969A JP 6296982 A JP6296982 A JP 6296982A JP S58181179 A JPS58181179 A JP S58181179A
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JP
Japan
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mask
image
information
memories
picture
Prior art date
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Application number
JP57062969A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Maeda
賢一 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/20Image preprocessing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To extract features of a picture easily and efficiently, by using masks where patterns are generated by values indicated by the Hermite polynomial weighted with Gaussian function. CONSTITUTION:Different mask patterns indicated by the Hermite polynomial weighted with Gaussian function are stored in mask memories 13a-13n, and the read of them is controlled by an address controlling part 12. Information of mask patterns read out from memories 13a-13n are selected through a selector 14, and one of them is selected and given to a product sum circuit 15. In this circuit 15, information of the selected mask pattern and picture information of a specific area read out from an original picture memory 11 are subjected to mask operation. The processing result is distributed to processed picture memories 17a-17n corresponding to memories 13a-13n through a selector and is stored in a pertinent address.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は与えられた画像の%徴を簡易に且つ効果的に抽
出することのできる画像%像抽出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an image % image extracting device that can easily and effectively extract % characteristics of a given image.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

手書文字を認識する場合、上記文字を含む画像の特徴を
抽出することにより行われる。そしてこの画像特徴抽出
には、従来より専らマスク演算や線素追跡、モーメント
財力婢の手法が用いられている。この中でも、上記マス
ク演算は、その応用性が広いことより、従来より幅広く
利用されている。
Handwritten characters are recognized by extracting features of an image containing the characters. Conventionally, mask calculation, line element tracing, and moment-based methods have been exclusively used for image feature extraction. Among these, the mask calculation described above has been used more widely than ever because of its wide applicability.

さて、このマスク演算は基本的には画像の情報gb)に
対してマスクの情報H(r、τ)を用い、なるコンゴリ
ーーション演算を施こすことにより、別の画像の情報h
(r、τ)を作成することを意味する。但し、上記式中
τは、この演算の性質に関する・ゼラメータである。こ
のマスク演算処理によって、画像の情報g(r)の成る
%徴が強調されて上記別の画像の情報h(r、τ)とし
て現われることになる。
Now, this mask operation basically uses the mask information H(r, τ) for the image information gb), and performs the following congolution operation to obtain the information h of another image.
It means to create (r, τ). However, τ in the above formula is a gelameter related to the nature of this operation. By this mask calculation processing, the percentage characteristics of the image information g(r) are emphasized and appear as the other image information h(r, τ).

さて、このようなコン?リューシ、ン演舅によって示さ
れる上記マスク演算は、実際には第1図に示すように積
和処理により行われる。即ち、画像メモリ1に格納され
た画像の注目位置2とその周辺領域3の画像情報管アク
セスして読出し、これにマスクメモリ4から読出したマ
スク・9ターンの情報を乗算器5m、5b〜5nにてそ
れぞれ画素位置対応して乗じたのち、その出力を加算器
6にて加算すると云う積和処理が行われる。そしてこの
処理結果を処理済画像メモリ7の前記注目画素位i12
に対応するアドレス8に格納して上ハ11注目画素位置
2の画像情報に対するマスク処理が完了する。以後、こ
れを順次繰返し、画像の全画素情報についてそれぞれマ
スク演舞(積和処理)を実行して画像メモリ1に格納さ
れた画像に対するマスク処理が完了する。
Well, a con like this? The above-mentioned mask calculation indicated by the equation is actually performed by a sum-of-products process as shown in FIG. That is, the image information tube of the target position 2 and its surrounding area 3 of the image stored in the image memory 1 is accessed and read out, and the mask 9 turn information read from the mask memory 4 is applied to the multipliers 5m, 5b to 5n. A sum-of-products process is performed in which the outputs are multiplied in accordance with the respective pixel positions at , and then the outputs are added at an adder 6 . Then, this processing result is applied to the pixel of interest i12 in the processed image memory 7.
The masking process for the image information of the target pixel position 2 is completed. Thereafter, this process is repeated one after another, and masking operations (product-sum processing) are performed for each of all pixel information of the image, thereby completing the masking process for the image stored in the image memory 1.

しかして、このマスク演算にあっては、マスクパターン
の値によってその処理結果が大きく異なり、従ってこの
マスクとしていかなるものを用いるかが、技術上の大き
な昧組となる。この種のマスクとして、従来例えば第2
図(a)〜(d)に示す如き線素の方向性を抽出する為
の・り一ンが多く用いられている。しかし、このような
マスクを用いて%像抽出を行っても、その結果は認識処
理において完全に満足できるものではなかった。つまり
、特徴抽出用のマスクとして(1)必要な情報が抽出で
きること、 (II)抽出された情報が相互に重複することがなく、
且つ効率が良いこと、 (ij+ )画像のノイズに対して安定であること婢の
特性が要求される。ところが、従来、このような要求を
満たすマスクを用いて画像の特徴を抽出することが甚だ
困難であった。
However, in this mask calculation, the processing results vary greatly depending on the value of the mask pattern, and therefore, what kind of mask to use is a big technical problem. Conventionally, as this type of mask, for example,
Lines such as those shown in Figures (a) to (d) are often used to extract the directionality of line elements. However, even when performing % image extraction using such a mask, the results were not completely satisfactory in recognition processing. In other words, as a mask for feature extraction, (1) the necessary information can be extracted, (II) the extracted information does not overlap with each other, and
In addition, it is required to have characteristics such as high efficiency and stability against (ij+) image noise. However, conventionally, it has been extremely difficult to extract image features using a mask that satisfies these requirements.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは・適当なマスクを用いて効率良く
、且つ簡易に画像の特徴を抽出することのできる実用性
の高い画像%像抽出装置を提供することにある。
The present invention was made in consideration of these circumstances, and its objectives are: - A highly practical image percentage that can efficiently and easily extract image features using an appropriate mask. An object of the present invention is to provide an image extraction device.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明はマス多演算に用いられるマスクとして、ガウス
(Gauss )関数で重み付けされた次数を異にする
エルミー) (H@rmit・)の多項式で表わされる
値により示される複数のマスクパタ−ンを用いるように
したものである。
The present invention uses a plurality of mask patterns represented by a value expressed by a Hermy (H@rmit) polynomial of different orders weighted with a Gaussian function as masks used in mass multi-operations. This is how it was done.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

これにより本発明によれば画像の特徴を効率良く、しか
も画像ノイズに対して安定に抽出することが可能となり
、認識処理に必要とする特徴を効果的に得ることが可能
となり、実用上絶大なる効果を奏する。
As a result, according to the present invention, it is possible to extract image features efficiently and stably against image noise, and it is possible to effectively obtain the features required for recognition processing, which is of great practical importance. be effective.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、図面を参照して本発明の一実施例につき説明する
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

本実施例に用いられるマスクのマスク・ぐターンを構成
する各lI!素の値は、ガウス関数によって重み付けさ
れたエルミートの多項式で表わされるものとなっている
。第3図(a)〜(d)はそれぞれその例を示すもので
、各格子点上の値を近似して示したものである。このエ
ルミートの多項式として示される各格子点の値Pm、n
(reτ)は次のように示される。
Each lI! that constitutes the mask pattern of the mask used in this example! The prime value is expressed by a Hermitian polynomial weighted by a Gaussian function. FIGS. 3(a) to 3(d) each show an example of this, in which the values on each lattice point are approximated. The value Pm, n of each lattice point expressed as this Hermitian polynomial
(reτ) is expressed as follows.

5− 但し、上式中rは r:Xi    yl として与えられるものであって、Hm#Hnはエルミー
トの多項式として知られるものである。
5- However, in the above formula, r is given as r:Xi yl, and Hm#Hn is known as a Hermitian polynomial.

このエルミートの多項式は、基本的には、Xに関するn
次の多項式として、 として表わされる。
This Hermitian polynomial is basically n with respect to
It is expressed as the following polynomial.

かくして、このよりなガウス関数により重み付けされた
エル1−)の多項式により表わされる値によって示され
るマスクパターンによれば、そのマスクの元になる関数
pm’!’nは次のような性6一 質を持つことになる。即ち第1に、Hm、Hnとして示
されるm、nは、その次数を示し、マスク・母ターンの
振動成分に対応する。そしてその値は、“0″から適肖
な値まで任意にとることができる。故にこれらのマスク
パターンを用いることによって、必要性に応じて複雑な
情報(特徴)を効果的に抽出することが可能となる。
Thus, according to the mask pattern represented by the value expressed by the polynomial of EL1−) weighted by this strict Gaussian function, the function pm'! 'n has the following gender 6 quality. That is, first, m and n shown as Hm and Hn indicate the order and correspond to the vibration component of the mask/mother turn. The value can be arbitrarily set from "0" to an appropriate value. Therefore, by using these mask patterns, it becomes possible to effectively extract complex information (features) according to necessity.

また第2に上記関数(P、=、)は、m、nの値の異な
りに対して相互にIn交した関係を有する。即ち今、上
記関数(P:n)の随伴関数(Pm、。)をと定義する
。このとき、その内積を * (Pm−n @Pm’、 B / ) * (Pm、n ” pm’ n’ ) ”’δmm’・δ
nn’となる。つまり、このことは、前述したように関
数(pm−)  が直交していることを意味する。
Secondly, the above functions (P,=,) have a mutually In-intersecting relationship with respect to different values of m and n. That is, now, the adjoint function (Pm, .) of the above function (P:n) is defined as follows. At this time, the inner product is * (Pm-n @Pm', B /) * (Pm, n "pm'n')"'δmm'・δ
It becomes nn'. In other words, this means that the functions (pm-) are orthogonal as described above.

従って、このような直交関係にある関数の値によって示
されるマスクパターンを用いたマスク処理を行えば、画
像の特徴を重複することなしにそれぞれ独立に抽出する
ことが可能となり、その効率が非常に高い。また第3に
、上記関数に従えば、mおよびnの値が共に”0″′で
ある場合、注目した画像位置の周囲の領域の一度に関す
る情報を効果的に抽出することができる。
Therefore, if mask processing is performed using a mask pattern indicated by the values of such orthogonal functions, it becomes possible to extract each image feature independently without duplication, and the efficiency is extremely high. expensive. Thirdly, according to the above function, when the values of m and n are both "0"', information regarding one time in the area around the image position of interest can be effectively extracted.

しかもm=0 、n=2とした場合には画像の横方向成
分に関して、またm = 2 、 n = 0としたれ
その%像情報を抽出することが可能となる。
Furthermore, when m = 0 and n = 2, it is possible to extract the % image information regarding the horizontal component of the image, and when m = 2 and n = 0.

またこのようにして抽出される方向成分の情報は、従来
のように幾何学的に解釈されるものではないから、たと
えその幾何学的情報が雑音によって乱れていても成る程
度の情報を効果的に抽出することが可能である。つまり
画像ノイズに対して安定にその%黴を抽出することが可
能となる。
In addition, the information on the direction component extracted in this way is not interpreted geometrically as in the past, so even if the geometric information is disturbed by noise, it is possible to effectively It is possible to extract In other words, it is possible to stably extract the % mold against image noise.

このように、上述したがウス関数で重み付けされてなる
エルミートの多項式で示される値によりi+量ターン形
成されるマスクを用いて画像の%像抽出を行えば、必要
とする情報を重複することなしに効率良く、シかも画像
ノイズに対して安定にその%徴を求めることができる。
In this way, as mentioned above, if the % image extraction of the image is performed using a mask that is formed by i+ amount of turns by the value expressed by the Hermitian polynomial weighted by the Uth function, the required information will not be duplicated. It is possible to efficiently and stably obtain the percentage characteristics of image noise.

さて、このような特徴抽出処理を行う本装置は、例えば
次のように構成される。第4図は実施例装置の概略構成
図である。原画像メモリ11は、特徴抽出処理に供され
る画像情報を格納するものであシ、アドレス制御部12
によシアドレス制御されて注目画素位置およびその周辺
領域の画像情報をアクセスして読出すように構成されて
いる。一方、複数のマスクメモリJB&、13b 〜1
3nは、それぞれがウス関9− 数によ如重み付けされたエルミートの多項式で示される
相異なるマスク・母ターンをそれぞれ格納しており、前
記アドレス制御部12によりその読出しが制御されてい
る。しかしてこれらl)マスクメモリ13m、13b〜
13nより読出されたマスク・量ターンの情報ハ、セレ
クタ14を介して選択され、そのマスク・量ターンの1
つが選ばれて積和回路15に与えられている。この積和
回路15にて、上記選択されたマスクパターンの情報と
前記原画像メモリ1ノがら読出された特定領域の画像情
報とのマスク演算(#和処理)が行われる。しかして、
その処理結果は、セレクタ16を介して前記マスクメモ
リ13&、13b〜13nにそれぞれ対応した処理済画
像メモ’)11m、17b〜17nに分配されて供給さ
れ、該尚アドレスに格納されるようになっている。
Now, the present apparatus that performs such feature extraction processing is configured as follows, for example. FIG. 4 is a schematic configuration diagram of the embodiment device. The original image memory 11 stores image information used for feature extraction processing, and the address control unit 12
The image information of the pixel position of interest and its surrounding area is accessed and read out under direct address control. On the other hand, a plurality of mask memories JB&, 13b ~1
3n stores different masks and mother turns each represented by a Hermitian polynomial weighted according to an Us function, and read-out thereof is controlled by the address control section 12. However, these l) mask memories 13m, 13b~
The mask/quantity turn information read from 13n is selected via the selector 14, and one of the mask/quantity turns is selected via the selector 14.
is selected and applied to the product-sum circuit 15. This product-sum circuit 15 performs a mask operation (# sum processing) between the information of the selected mask pattern and the image information of the specific area read out from the original image memory 1. However,
The processing results are distributed and supplied to the processed image memos 11m and 17b to 17n corresponding to the mask memories 13&, 13b to 13n, respectively, via the selector 16, and are stored at the corresponding addresses. ing.

ここで上記積和回路15は例えば第5図に示すように、
乗算器15*s加舅器15bそしてアキュムレータ15
cにより構成される。この10− 積和回路15け、乗算器15hで乗算処理された対応位
置の画像信号とマスク信号との乗算値を加算器15bに
供給し、アキュムレータ15aの出力である累′!J4
mに加算したのち、これを上記アキュムレータ15aに
再び格納し、これを順次繰返してぞの稍和値を求めるも
のである。
Here, the product-sum circuit 15 is, for example, as shown in FIG.
Multiplier 15*s adder 15b and accumulator 15
It is composed of c. The 15 10-product-sum circuits supply the multiplication value of the image signal at the corresponding position and the mask signal, which has been multiplied by the multiplier 15h, to the adder 15b, and add the sum '! which is the output of the accumulator 15a. J4
After adding it to m, it is stored again in the accumulator 15a, and this process is sequentially repeated to obtain the respective sum value.

またこのアキュムレータ15aけ、その処理開始時に、
前記アドレス制御部12によりリセットされ、イニシャ
ライズされるようになっている。これにより、注目画像
位置に対するマスク処理が独立に行われる。
Also, when this accumulator 15a starts its processing,
It is reset and initialized by the address control section 12. Thereby, masking processing for the image position of interest is performed independently.

一方、前記アドレス制御部12は、例えば第6図に示す
如く構成される。即ち、次元カウンタ20は、マスク幅
(横方向)に相当した計数を巡回路に行うものであり、
そのキャリー出力は別の次元カウンタ21に与えられて
いる。この次元カウンタ21により、マスク幅(縦方向
)に相当し7だ計数が行われるようになっている。
On the other hand, the address control section 12 is configured as shown in FIG. 6, for example. That is, the dimensional counter 20 performs a count corresponding to the mask width (horizontal direction) in the circuit,
Its carry output is given to another dimension counter 21. This dimension counter 21 is designed to count by 7, which corresponds to the mask width (vertical direction).

これらのカウンタ20,21によりマスク対象領域が走
査され、そのカウント値がマスクメモIJ 13 a 
、 13 b〜13nのアドレス信号として出力されて
いる。一方、定数レジスタ22には、原画像の横位置と
マスクの横位置との差の情報がセットされており、この
情報は加算器23を介してオフセットアドレスレジスタ
24に与えられるようになっている。このアドレスレジ
スタ24は前記カウンタ20によってセットされるもの
で、その値を上記加算器23に帰還し、−F記差の情報
を足し込んでこれを再び登録するようになっている。こ
のレジスタ24Vこセントされた、オフセット情報は、
加算器25゜26を順に介して後述する原画像メモリ1
1のアドレス信号として出力されるようになっている。
The mask target area is scanned by these counters 20 and 21, and the count value is stored in the mask memo IJ 13a.
, 13b to 13n are output as address signals. On the other hand, information on the difference between the horizontal position of the original image and the horizontal position of the mask is set in the constant register 22, and this information is given to the offset address register 24 via the adder 23. . This address register 24 is set by the counter 20, and its value is fed back to the adder 23, information on the -F difference is added thereto, and this is registered again. The offset information sent to this register at 24V is
Original image memory 1, which will be described later, via adders 25 and 26 in order.
It is designed to be output as a 1 address signal.

即ち、加算器25は、前記カウンタ21のキャリー信号
を受けてインクリメント動作するマスク位置カウンタ2
7の出力を前記レジスタ24の出力に足し込んでおり、
また加算器26はその値に更に前記カウンタ20の値を
加算している。これによって、原画像メモリ11は、注
目した画像位置とその周辺領域からなる特定領域の画像
を順次アクセスされるようになっている。従って、マス
クメモリ13m、13b〜13nと原画像メモリ11と
は、アドレス対応し2てアクセスされるようになってい
る。また定数レジスタ28には、マスクの横幅とその縦
幅に関する情報 (横幅×縦幅÷2) が格納されておシ、この情報が加算器29を介して前記
マスク位置カウンタ27の出力に加算されるようになっ
ている。この値が処理済画像メ−E:I)17a、17
b〜17nのアドレス制御信号として出力される。尚、
前記オフセットアドレスレジスタ24は、カウンタ21
のキャリー信号によってリセットされるものであシ、ま
たこのキャリー信号は前記積和回路15に対するリセッ
ト信号として出力されるようになっている。
That is, the adder 25 includes a mask position counter 2 which receives a carry signal from the counter 21 and performs an increment operation.
7 is added to the output of the register 24,
Further, the adder 26 further adds the value of the counter 20 to this value. As a result, the original image memory 11 is accessed sequentially for images of a specific area consisting of the image position of interest and its surrounding area. Therefore, the mask memories 13m, 13b to 13n and the original image memory 11 are accessed by corresponding addresses. Further, the constant register 28 stores information regarding the horizontal width and the vertical width of the mask (width x height ÷ 2), and this information is added to the output of the mask position counter 27 via an adder 29. It has become so. This value is the processed image mail E:I) 17a, 17
It is output as an address control signal for b to 17n. still,
The offset address register 24 has a counter 21
This carry signal is output as a reset signal to the product-sum circuit 15.

かくしてこのように構成されたアドレス制御部12によ
れば、原画像メモリ11上の注目した画像位置を基準と
して、その周辺領域の画像13− 情報が、マスクの画像情報と位置対応して順に読出され
て積和処理されることになる。
According to the address control unit 12 configured in this way, the image 13- information in the peripheral area is read out in sequence in correspondence with the image information of the mask, with the image position of interest on the original image memory 11 as a reference. Then, the sum of products is processed.

以上説明したように、本発明によれば、画像の特徴を簡
易にして効果的に抽出することができる。しかも、必要
とする特徴情報を重複することなく且つ画像ノイズに対
して安定に抽出できるので、その実用的利点は非常に大
きい。
As described above, according to the present invention, image features can be extracted easily and effectively. Moreover, the required feature information can be extracted stably without duplication and against image noise, so its practical advantage is very great.

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば積和演算を並列的に行って、その演算の高速化を図
ってもよい。またマスクのずらし幅を、ステップ的に与
えるようにしてもよい。またマスクと画像の大きさが同
じ場合には、前述したコンrリーーション演算に代えて
なる内積演算のみを行うようにしてもよい。要するに本
発明はその要旨を逸脱しない範囲で種種変形して実施す
ることができる。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments. For example, the product-sum calculation may be performed in parallel to speed up the calculation. Further, the mask shift width may be given in steps. Further, when the size of the mask and the image are the same, only an inner product operation may be performed instead of the above-mentioned conrrelation operation. In short, the present invention can be implemented with various modifications without departing from the gist thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図1従来装置の一例を示す構成図、第214− 図(、)〜(d) U従来のマスク・量ターン例を示す
図、第3図(a)〜(d)は本発明に係るマスク・リー
ン例を示す図、第4図は本発明の一実施例装置の概略構
成図、第5図は積和回路の一例を示す構成図、第6図は
ア]・”レス制御部の一例を示す構成図である。 11・・・原画像メモリ、12・・・アドレス制御部、
I Ja a 13b〜13n−・・−qスフメモリ、
14゜16・・・セレクタ、15・・・積和回路、77
m。 17b〜17n・・・処理済画像メモリ。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦15− 第1図 第2図 (a)     (b)     (c)     (
d)第: (a) (C) 3図 (b) (d)
Fig. 1 is a block diagram showing an example of a conventional device; FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a device according to an embodiment of the present invention, FIG. 5 is a configuration diagram illustrating an example of a product-sum circuit, and FIG. 6 is a diagram showing an example of such a mask lean. It is a block diagram showing an example of 11... original image memory, 12... address control section,
I Ja a 13b~13n-...-q quick memory,
14゜16... Selector, 15... Product-sum circuit, 77
m. 17b to 17n...processed image memory. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue 15- Figure 1 Figure 2 (a) (b) (c) (
d) Section: (a) (C) Figure 3 (b) (d)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ガウス関数で重み付けした次数を異にするエルミートの
多項式で表わされる値によシ示される複数の相異なる・
母ターンをそれぞれ備えた複数のマスクと、与えられた
画像の注目位置およびその周辺領域の画像情報をアクセ
スする手段と、このアクセスされた画像情報に対して前
記複数のマスクをそれぞれ用いてマスク演算する手段と
を具備したことを%徴とする画像%像抽出装置。
Multiple different polynomials represented by Hermitian polynomials of different orders weighted with Gaussian functions.
A plurality of masks each having a mother turn, a means for accessing image information of a position of interest in a given image and its surrounding area, and a mask operation using each of the plurality of masks for the accessed image information. An image extracting device characterized by comprising means for extracting an image.
JP57062969A 1982-04-15 1982-04-15 Extracting device of picture feature Pending JPS58181179A (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57062969A JPS58181179A (en) 1982-04-15 1982-04-15 Extracting device of picture feature
US06/485,061 US4543660A (en) 1982-04-15 1983-04-14 Pattern features extracting apparatus and method
EP83302101A EP0092381B1 (en) 1982-04-15 1983-04-14 Pattern features extracting apparatus and method and pattern recognition system
DE8383302101T DE3379611D1 (en) 1982-04-15 1983-04-14 Pattern features extracting apparatus and method and pattern recognition system

Applications Claiming Priority (1)

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JP57062969A JPS58181179A (en) 1982-04-15 1982-04-15 Extracting device of picture feature

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JP57062969A Pending JPS58181179A (en) 1982-04-15 1982-04-15 Extracting device of picture feature

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JP (1) JPS58181179A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01214982A (en) * 1988-02-24 1989-08-29 Agency Of Ind Science & Technol Binocular parallax detecting system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH01214982A (en) * 1988-02-24 1989-08-29 Agency Of Ind Science & Technol Binocular parallax detecting system

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