JPS58179998A - Analog memory - Google Patents

Analog memory

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JPS58179998A
JPS58179998A JP57061066A JP6106682A JPS58179998A JP S58179998 A JPS58179998 A JP S58179998A JP 57061066 A JP57061066 A JP 57061066A JP 6106682 A JP6106682 A JP 6106682A JP S58179998 A JPS58179998 A JP S58179998A
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JP
Japan
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address
signal
memory
circuit
cell
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Pending
Application number
JP57061066A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazumasa Matsui
松井 一征
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C27/00Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values

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  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the disturbance of noise due to uneven characteristics of cell, by changing the position of a memory cell and the correspondence of time series of signals recorded to a memory in terms of time. CONSTITUTION:The input signals are supplied to a basic memory cell group 2 and a redundant memory cell group 3 via a line 1. The output of each cell group is sent to a common line 4. At the same time, both writing and reading are controlled by a common writing and reading control lines 5 and 6 respectively. The cells of the group 3 are selected by redundant cell selecting lines 8-1-8-m (m: number of cells of group 2). An address circuit 9 produces signals to cell selecting lines 7i and 8i for reading and writing with signals applied from address lines 10-1-10-l and address control lines 11-1-11-k. The signal applied to a selecting line 10i designates (n) units of memory cells in response to the time series of the signal. The signal applied to a line 11 changes the correspondence with line 10, 7 and 8 in terms of time.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアナログメモリ、史に詳しく百えは、画像信号
のブングル唾寺をコンデンサとスイッチ會組曾せた多数
のアナログ信号記憶素子に記憶す□るアナログメモリに
係る。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to an analog memory, and in detail, relates to an analog memory in which image signals are stored in a large number of analog signal storage elements having a combination of capacitors and switches. .

テレビジョン信号等の画像信号処理回路においては多重
の画素情報を記録するメモリが必要な場合がある。
In image signal processing circuits for television signals and the like, a memory for recording multiple pixel information is sometimes required.

このような要求を満すものとして、コンデンサとスイッ
チを組合せてアナログメモリ素子を構成し、この菓子會
多数組合せたアナログメモリ装置が知られている。特に
スイッチとコンデン+jをMO8巣横技術?使用して実
境することができるため、小型、低コストのアナログメ
モリが実現でき今後の発辰が子側される。
As a device that satisfies such requirements, an analog memory device is known in which an analog memory element is constructed by combining a capacitor and a switch, and a large number of such confectionery devices are combined. Especially MO8 Suyoko technology for switch and condenser +j? Since it can be used in actual applications, a small, low-cost analog memory can be realized, and future developments will be made possible.

しかし、このようなアナログメモリをテレビジョン信号
のような画像信号に1史川する場合、多数のアナログメ
モリ素子の特性(谷を頃等)が同一でない場合、読出し
信号の雑音となり、外生画面のかとなってしIう。この
雑音はメモリ素子固有の特性によって発生するものでめ
シ、画面上の特定の位置に1定して発生するため目につ
きやすく、画質fr著しく劣化してしまう。
However, when converting such an analog memory into an image signal such as a television signal, if the characteristics of many analog memory elements (e.g., troughs, etc.) are not the same, noise will occur in the readout signal, and extraneous screen I'll be standing next to you. This noise is generated due to the unique characteristics of the memory element, and since it occurs constantly at a specific position on the screen, it is easily noticeable and significantly deteriorates the image quality fr.

このような欠点會除くためには、多重のコンデンサやス
イッチの特性ケ同一にする必要があるが、このような容
量の値?高い精度で一致させることは候造上非幇に難し
く、製造コスト會尚くしてしまう。
In order to eliminate such drawbacks, it is necessary to make the characteristics of multiple capacitors and switches the same, but what is the value of such capacitance? It is extremely difficult to match with high precision due to the structure, which increases manufacturing costs.

したがって、本発明の目的は経済的アナログメモリセル
境すること、すなわち、アナログメモリ素子(セル)の
特性の不揃いは許容して、その不揃いに基ずく雑音が再
生画像上においては人の目につきにくいようにしたアナ
ログメモリを爽埃することである。
Therefore, an object of the present invention is to create an economical analog memory cell, that is, to tolerate irregularities in the characteristics of analog memory elements (cells), so that noise due to the irregularities is less noticeable to the human eye on reproduced images. The purpose is to refresh the analog memory that has been used in the past.

本発明は上記目的を達成するため、アナログメモリ會楕
成するメモリセルの位置とメモリに記録される信号の時
間的系列の対応関係を時間的に夏えること(たとえは画
像信号の一画面内で、画面上の領域に応じて変える)こ
とにより、メモリセルの不揃による雑音の妨否を軽減す
るようにした。
In order to achieve the above object, the present invention temporally maintains the correspondence between the positions of memory cells forming an analog memory group and the time series of signals recorded in the memory (for example, within one screen of an image signal). (changes depending on the area on the screen) to reduce interference caused by noise caused by misalignment of memory cells.

すなわち、本発明では雑音による0fII(2)上の偽
の形態が、動き?含めて規則的な場合は見え易く、不規
則(2ンダム)なJa付には見えVこくく、規則的なも
のでも縞(ストライプ)状のものは見え易く、市松状の
ものは目立たないという人間の視覚特性を利用している
That is, in the present invention, the false form on 0fII(2) due to noise is caused by motion? It is said that if it is regular, it is easy to see, if it is irregular (2 random), it is visible if it is V-dense, if it is regular, it is easy to see if it is striped, and if it is checkered, it is not noticeable. It takes advantage of human visual characteristics.

以下一本発明を図面を用いて叶細に説明する。The present invention will be explained in detail below using the drawings.

m1図は本発明によるアナログメモリの一実施例の全体
的構成ケチす図である。同図において、入力信号は入力
線l會介して基本メモリーセル群2と冗長メモリーセル
群3に入力される。基本メモリーセル群2r1.、入力
1百号を配憶し処理するのに性情十分な個数たとえはテ
レビジョン信号の一ラインの11jI索叔のセルを含む
ものであり、冗長セル群3は、本発明の目的を央境する
ために追加したセルで、基本セル群2のものと同じ仕様
のセルで、基本セル群2の数より少ないセル数のセル?
含むものである。これらのセル群のセルの出力は共通の
出力#4に出力されて出力信号となる。両セル群は、ま
た、共通の誉込割御@5と続出制御N6によシ瞥込と続
出を制御される。
Figure m1 is a schematic diagram of the overall configuration of an embodiment of an analog memory according to the present invention. In the figure, an input signal is input to a basic memory cell group 2 and a redundant memory cell group 3 via an input line 1. Basic memory cell group 2r1. , a sufficient number of cells to store and process the 100 inputs, for example 11jI of one line of a television signal, and the redundant cell group 3 is intended to serve as a central Is the cell added to do this, a cell with the same specifications as basic cell group 2, but with a smaller number of cells than the number of basic cell group 2?
It includes. The outputs of the cells in these cell groups are output to a common output #4 and become an output signal. Both cell groups are also controlled to receive and continue to appear by a common honor control @5 and successive generation control N6.

基本メモリーセル群2のセルは、基本セル選択7−1.
7−2. ・7−n (nは基本セル群lに含まれるセ
ルの数)によシ選択され、冗長メモリーセル群3のセル
は、冗長セル選択縁s−i、s−2,・・・g−m(m
は冗長メモリーセル群2に含まれるセルの数)により赤
択される。アドレス回路9はアドレス巌10−1.10
−2.・・・10−lとアドレス匍」御線11−1.1
1−2.・・・11−kから加えられた信号によって、
絖込みあるいは絖田しのために上6己セル選択#7−1
.・・・7−n、8−1.・・・g−mの1に信号ケ発
生するため−の回路である。
The cells of basic memory cell group 2 are selected from basic cell selection 7-1.
7-2. 7-n (n is the number of cells included in basic cell group l), and the cells of redundant memory cell group 3 are selected by redundant cell selection edges s-i, s-2, ... g- m(m
is selected as red depending on the number of cells included in redundant memory cell group 2). Address circuit 9 is address Iwao 10-1.10
-2. ...10-l and address 匍" gosen 11-1.1
1-2. ...by the signal added from 11-k,
Top 6 cell selection for inserting or inserting #7-1
.. ...7-n, 8-1. ... This is a circuit for generating a signal at 1 of g-m.

セル選択@!7と8ケ介してカロえられる信gは、それ
らのうちのハイレベルになった信号に対応したセルを選
択するものであり(0−レベルにより選択する場合もあ
る)、多数個のセル會同時に選択する場曾もMり得るが
通常は1個だけ選択する。
Cell selection @! The signal g that is passed through signals 7 and 8 selects the cell corresponding to the signal that becomes high level among them (selection may also be made by 0-level), and is used to select a cell corresponding to a signal that becomes high level. Although it is possible to select them at the same time, usually only one is selected.

したがって、1本の信号だけが選択を指定するレベルと
なる。アドレス練10に加えられる信号は、信号の時間
的糸例に対応してn個のメモリーセルを指定するための
信号であり、2値信号の場合には、tはzog 、 n
よりも大きいか等しい整数である。
Therefore, only one signal has a level that designates selection. The signal applied to the address training 10 is a signal for specifying n memory cells corresponding to the temporal thread of the signal, and in the case of a binary signal, t is zog, n
is an integer greater than or equal to .

アドレス制御$11に加えられる信号は、時間的に(画
像信号では、画面上の位l11あるいはフレームによっ
て)アドレスNlOとセル選択#M7と8である。この
実施例ではテレビジョン画像信号ケ処理するため、−走
査線の画像?記録、d出しを行なう、すな待ち一走査m
遅延回路を構成する。
The signals applied to the address control $11 are the address NlO and cell selections #M7 and #8 in terms of time (in the case of image signals, by position l11 or frame on the screen). In this embodiment, since the television image signal is processed, - the image of the scanning line? Perform recording and output, i.e. wait and scan m
Configure a delay circuit.

従来考えられていた、走査練上の画素の位置と、アナロ
グメモリの記録しておくメモリ素子の位置が1建的に対
応したもので1よ、メモリ素子の特性が同一でないとき
、例えばメモリーセルにほぼP個周期のばらつきがある
と、出力画面上には、第4図に示すようVC縦じま(ス
トライプ)状の同友パタン雑音が生じてしまう。これに
対して、本実施例は同一のメモリ倉使用して、第5図の
ように上記縦縞が市松模様となるようしたものでめる。
It was previously thought that the position of a pixel on a scanning plane corresponds to the position of a memory element for recording in an analog memory.1 However, when the characteristics of the memory elements are not the same, If there is a variation of approximately P periods in , VC vertical stripe pattern noise will occur on the output screen as shown in FIG. On the other hand, in this embodiment, the same memory storage is used, and the vertical stripes are arranged in a checkered pattern as shown in FIG.

第2図の構成、動作を説明する前に第3図によって、6
1g1因のメモリ2および3の記録、続出しのモードを
説明する。第3図は説明の都合上、上記−次元的に配列
されたメモリ2および3の素子を円形に配列して示した
ものである。
Before explaining the configuration and operation of FIG.
The recording and continuous output modes of memories 2 and 3 of 1g1 will be explained. For convenience of explanation, FIG. 3 shows the elements of the memories 2 and 3 arranged in the above-mentioned dimension in a circular arrangement.

第N4に目の走査線の有功な画素数nがメモリ2に記録
されているとする。次の走査1IiA(N+1番目)の
とき上d己N査目の一己録された信号がメモリ2の■、
■、■、・・・@の順に絖出さjLる(図中RNで示す
)。−力同時VcN+1着目の走査信号がメモリ3の■
′を起点に頑にメモリ2の@−mまで66にされ(WN
)、−走f#の処jlJ了fる。同様に炭の走肴期間で
は、メモリ3の1′ケ期点とし@まで読み出され(RN
+1 ) 、その間に次の走f縁N+2着目の信号がn
−mを短点として誓き込まれる(Ws+、J。このよう
ンこして読出しメモリセルのアドレスよ!!7m116
1!#したアドレスのメモリに書き込まれる動作が巡回
的に行なわれる。
It is assumed that the effective number n of pixels of the N4th scanning line is recorded in the memory 2. During the next scan 1IiA (N+1st), the signal recorded in the upper Nth scan is stored in the memory 2,
The wires are laid out in the order of ■, ■, . . . (indicated by RN in the figure). - Force simultaneous VcN + 1st scanning signal is in memory 3
' is stubbornly set to 66 until memory 2 @-m (WN
), - The process of running f# is completed. Similarly, during the charcoal running period, the memory 3 is read out from the 1' period until @ (RN
+1), during which the next running f edge N+2 signal of interest is n
It is sworn with -m as a dot (Ws+, J. This is the address of the read memory cell!! 7m116
1! The operation of writing to the memory at the # address is performed cyclically.

これらの動作は第2凶のアドレス回路9において次のよ
うに行なわれる。同図において、アドレス16号$11
0−1.10−2. ・ 10−tにはnれる。ディジ
タル加減算回路12は、〃口臭人力と激臭入力の(n+
(−、])を法とする差倉出カするものである。ディジ
タル加減算回路12の減算入力としては、ディジタル刀
OJ!回路13とレジスり14からなる(n+(i))
を法とするディジタル積算回路15の出力がf/j略1
6i介して入力法とする刀n算回路で、その一方の入力
はレジスター40田刀が入り、その出力16はレジスタ
ー40入力となるとともVC、ディジタル積算回路15
の出力となる。レジスター4のクロック人力には、ブラ
ンキング期間に1個のパルスが発生する走査線パルスP
が与えられる。
These operations are performed in the second worst address circuit 9 as follows. In the same figure, address No. 16 $11
0-1.10-2.・10-t is n. The digital addition/subtraction circuit 12 inputs (n+
It is a difference output with modulus (-, ]). As the subtraction input of the digital addition/subtraction circuit 12, the digital sword OJ! Consists of circuit 13 and register 14 (n+(i))
The output of the digital integration circuit 15 modulo is f/j approximately 1
6i is an input method, one input is a register 40, and its output 16 becomes a register 40 input, and a VC and a digital integration circuit 15.
The output is The clock input in register 4 includes a scanning line pulse P that generates one pulse during the blanking period.
is given.

テイジタル卯鼻回路13の他方の入力、すなわち、ディ
ジタル積算回路15の入力には、アドレス制御線ll(
第1図のアドレス制御信号11−1、  l l−2,
・l 1−kK対応スル。ただし、k=1)によシ制御
されるディジタル信号発生回路20からのディジタル信
号が加えられる。このディジタル信号はその2進数とし
ての値か、アドレス?1+lJI&41信号11がハイ
レベルのとき(−23、ローレベルのとき零となるよう
に制麹される。
The other input of the digital Uohana circuit 13, that is, the input of the digital integration circuit 15, is connected to the address control line ll(
Address control signals 11-1, l l-2, in FIG.
・l 1-kK compatible. However, a digital signal from a digital signal generation circuit 20 controlled by k=1) is added. Is this digital signal its binary value or address? When the 1+lJI&41 signal 11 is at a high level (-23), the koji is controlled so that it becomes zero when it is at a low level.

ディジタル加減算回路12の出力81,82゜・ 8t
+l(n+[)くztiらば、を十i 1lttで良い
)は、デコーダ回路22によシセル選択巌7−1.7−
2. ・7−nと8−1.8−2. ・、。
Output 81, 82° of digital addition/subtraction circuit 12 8t
+l(n+[), then 1ltt is sufficient) is selected by the decoder circuit 22.7-1.7-
2.・7-n and 8-1.8-2.・、.

8−[−)に刀lえられる。デコード回路221よ、の
信号r会わせて一連番号1〜n+[’)v付けるものと
して、ディジタル加算回路12の出力Sの2進数の値に
一致しfc番号の信号たけをハイレベル(または、ロー
レベル)として選択する回路である。デコード回路22
は、ディジタルメモリで用いられているデコード回路と
同じもので良い。
8-[-] is attacked. Assuming that the signal r of the decoding circuit 221 is combined with the serial number 1 to n+[')v, the signal with the fc number that matches the binary value of the output S of the digital adder circuit 12 is set to a high level (or This circuit is selected as low level). Decode circuit 22
may be the same decoding circuit used in digital memory.

アドレス制御線11信号は、!@6図に走imパルスP
とともに示すように変化させる。すなわち、ブランキン
グ期間終了後、メモリーセルの続出しくR)の揚台ロー
レベル、書込み(W)の橘合ハイレベルとなるようにす
る。このようKfると、ディジタル加激臭回路12の出
力Sは、2進数としての1直が書込み(W)のとき読出
しのときより〔−〕蒼号の小さな(絖出しは終ってぃゐ
)セルに行なわれる。次に、読出し書込が光子してブラ
ンキング期間VCなると、アドレス制御118号11は
ハイレベルにされる。このとき、足前パルスPが発生し
、レジスター4にディジタル加算回路の出力16が保持
され、ディジタル積算回路15の田力16が(i)だけ
増加すめ。したがって、ディジタル加減算回路の出力P
は、〔ア〕たけ減少することになり、次の走X=では、
書込みに対応したセルが続出されることになる。また、
セルの釜PP      P したがって、もし、−z=(i)でnが〔i〕の倍数〔
恢渚の条件は、画面に境われない時間の画素も営めてn
ヶ少し大きくすることによって容易に成立させられる〕
ならは、第5図に示すように出力信号4による両凹の1
足バタン雑音は、市松状になり見えにくくなる。なお、
前記の条件が厳密に成立しなくても、市松の形が少し斜
めになる程度で、雑音が見えにくくなる効果は有効であ
る。
The address control line 11 signal is ! @ Figure 6 shows running im pulse P
and change as shown. That is, after the blanking period ends, the stage R) is set to a low level when memory cells are successively written, and the stage is set to a high level during writing (W). With Kf in this manner, the output S of the digital odor enhancer circuit 12 is a cell whose number is [-] bluer when writing (W) as a binary number than when reading (the output has finished). It will be held in Next, when the reading/writing is photon and the blanking period VC occurs, the address control number 118 is set to a high level. At this time, the front pulse P is generated, the output 16 of the digital addition circuit is held in the register 4, and the power 16 of the digital integration circuit 15 is increased by (i). Therefore, the output P of the digital addition/subtraction circuit
will decrease by [a], and in the next run X=,
Cells corresponding to writing will be output one after another. Also,
Cell pot PP P Therefore, if -z=(i) and n is a multiple of [i]
The condition of the beach is to be able to work on pixels of time that are not bounded by the screen.
This can be easily achieved by making it slightly larger.]
Then, as shown in FIG.
The foot slam noise becomes checkered and difficult to see. In addition,
Even if the above conditions are not strictly met, the effect of making the noise less visible is effective even if the checkerboard shape is slightly slanted.

なお、第2図において、レジスター 4 vc強制初期
設芝慎龍を付加して、画像のフレームの開始時点毎に、
〔Σ〕たけずれた初期1i!?レジス月4に設足してや
れは、フレーム毎に第5図の市松状の固定パタン雑音は
、明暗が入れ替ることになり、眼の積分効果でさらに見
えにくくなる。
In addition, in Fig. 2, register 4 VC forced initial setup Shiba Shinryu is added, and at each frame start point of the image,
[Σ] Unsuccessful initial 1i! ? If it is added to Regis Month 4, the checkered fixed pattern noise shown in Figure 5 will alternate in brightness and darkness for each frame, making it even more difficult to see due to the eye's integral effect.

このように、走査線毎に一足のセル数だけセルの選択r
丁らす方法は、メモリーセル群が、動作速度を等価的に
尚めるために直列−並列一直列及換により一足の個数の
セルグループに分けられているような場合の固定バタン
雑音ケ見えにくくするのにも適している。
In this way, cells are selected by the number of cells r for each scanning line.
This method is used to eliminate the fixed slam noise that occurs when a group of memory cells is divided into a single number of cell groups by series-parallel-series conversion to equivalently improve the operating speed. It is also suitable for making it difficult.

第7図は、上記の直列−並列一直列質侯に些因する固定
バタン雑音を走査載毎に変侠の位相1Fr変侠の牛周期
だけずらすことにより見えにくくする走査線遅延回路用
メモリーの実施例の構成r示す図である。
FIG. 7 shows a memory for a scan line delay circuit that makes the fixed buzz noise caused by the above series-parallel series quality difficult to see by shifting the phase of the phase by 1Fr period for each scan. It is a diagram showing the configuration of an example.

入力dlから加えられた走:i巌信号は、(q−k)個
(q:正の!!故、k:0を含むqより小さいII数)
以上のメモリーセルと上記メモリーセルに対応するアド
レス回路を含むセルグループ2−1.2−2. ・ 2
−rK並列に)Ju見られる(r:2以上の正整数)。
The number of running:i signals added from the input dl is (q-k) (q: positive!! Therefore, k: II number smaller than q including 0)
Cell group 2-1.2-2 including the above memory cells and address circuits corresponding to the above memory cells.・2
-rK parallel) Ju can be seen (r: positive integer of 2 or more).

セルグループ2−1.2−2゜・・・2−rはそれぞれ
、書込制御信号5−1.5−2 ・5− r 、続出制
御信号6−1.6−2・6−rl アドレス16号7−
1.7−2. ・7−rVcXり割s1され、グループ
出力信号4−1.4−2゜・・・4−rk切切回回路2
3出力する。切換回路23は、切換制御信号a VCよ
り、グループ出力信号4−1.4−2.・・・4−rの
うちの一つを遣損して縦続接続されたクロック遅延回路
24−1゜・・・24−1VctB力する。クロック遅
延回路24−1、・ 24−1(t:はぼ(−H十k 
)rの値数)は%lll1累クロックパルスbにより駆
動されて、切換−#623の出力’+tクロック(tl
i紫)遅延させて出力信号Cとする。クロック遅延回路
24−1.・・・24−tとしては、標本化保持回路な
どを用いることができる。
Cell groups 2-1.2-2゜...2-r respectively have write control signals 5-1.5-2, 5-r and successive control signals 6-1.6-2, 6-rl addresses. No. 16 7-
1.7-2.・7-rVcX divided by s1, group output signal 4-1.4-2°...4-rk switching circuit 2
Outputs 3. The switching circuit 23 outputs group output signals 4-1, 4-2. . . . 24-1 VctB is output to the cascade-connected clock delay circuits 24-1° . Clock delay circuit 24-1, 24-1 (t:habo(-H0k
) r value number) is driven by the %lll1 cumulative clock pulse b, and the output '+t clock (tl
i Purple) Delay and use as output signal C. Clock delay circuit 24-1. ...24-t, a sampling and holding circuit or the like can be used.

アドレス信号di、d2.・・・dmは、それぞれディ
ジタルレジスタ25−1.25−2.・・・25−mに
よシ共通のアドレス信号e’=iHアドレスレジスタク
ロックパルスfl、f2.・・・fmで保持シて与えら
れる。共通のアドレス信号eは、アドレスクロックパル
スgt(Q−k)個周期でカウントするアドレスカウン
タ26の出力によって与えられる。アドレスクロックパ
ルスgij、走査周波数に周期した走査パルスhを逓倍
回路27で2 (2Q +1 ) 倍に逓倍したパルス
テロ、6゜書込制御1信号5−1.5−2.−5−m、
d出側6に1信号6−1.6−2.−6−r、7ドvス
vジスタクロックパルス:x、iz、・・・1rllそ
れぞれアドレスクロックパルスgからr相りロックパル
ス発生回路28.29.30で発生させたr個の等間隔
位相のパルスである。両糸りロンクパルスbri、入力
信号lの画素に対応したクロックパルスで、アドレスク
ロックパルスgtn倍回s31でr逓倍したパルスであ
る。また、切換制御信号aは画素クロックパルスbfr
r個周期でカウントする切換カウンタ32によシ発生さ
せられる。
Address signals di, d2. . . . dm are digital registers 25-1, 25-2, . . . 25-m common address signal e'=iH address register clock pulse fl, f2 . ... It is held and given by fm. The common address signal e is given by the output of an address counter 26 that counts every cycle of address clock pulses gt (Q-k). Address clock pulse gij, pulse terror generated by multiplying the scanning pulse h periodic to the scanning frequency by 2 (2Q +1) times by the multiplier circuit 27, 6° write control 1 signal 5-1.5-2. -5-m,
d 1 signal on output side 6 6-1.6-2. -6-r, 7 dovsu v register clock pulses: x, iz, . . . 1rll each address clock pulse g to r phase, r equally spaced phases generated by lock pulse generation circuit 28, 29, 30 This is the pulse of The double thread long pulse bri is a clock pulse corresponding to the pixel of the input signal l, which is a pulse multiplied by r by the address clock pulse gtn times s31. Moreover, the switching control signal a is the pixel clock pulse bfr
This is generated by a switching counter 32 that counts r cycles.

切換カウンタ32は、その動作がアドレスクロックパル
スgと一足の位相関係になるようにアドレスクロックパ
ルスgvこより同期がとられている。
The switching counter 32 is synchronized with the address clock pulse gv so that its operation is in a phase relationship with the address clock pulse g.

次に、第8図のタイムチャート図會参照して第7因の走
査Ivj!遅姑川アナ用グメモリーの動作を説明する。
Next, referring to the time chart diagram of FIG. 8, scan Ivj of the seventh factor! I will explain the operation of Gmemory for Sagagawa Announcer.

第8図は、アドレスクロックパルスgの周期において、
’に4とした場合の主要部の時間関係?示している。ア
ドレスクロックパルスgの周期中に、画素クロックパル
スbは、r個(4個)生じる。共通アドレス信号eは、
アドレスクロックパルスgに同期しており、アドレスレ
ジスタクロックパルスix、iz、ta、inによシ、
1/4 周期ずつ位相會遅らされてアドレス信号di、
 d2.ct3.d4となる。アドレスレジスタクロッ
クパルスil、iz、ta、  i4はそれぞれアドレ
ス信号d1.d2.d3.d4の変化点に相当する時点
で発生するようにされている。
FIG. 8 shows that in the period of the address clock pulse g,
What is the time relationship of the main part when ' is set to 4? It shows. During the period of the address clock pulse g, r number of pixel clock pulses b (four) occur. The common address signal e is
It is synchronized with the address clock pulse g, and depending on the address register clock pulses ix, iz, ta, in,
The address signal di, whose phase is delayed by 1/4 period,
d2. ct3. It becomes d4. Address register clock pulses il, iz, ta, i4 are respectively address signals d1. d2. d3. It is arranged to occur at a time point corresponding to the change point of d4.

軒店制御信号5−1μ、アドレス信号dl■周期の前半
で発生し、読田し制御信号6−1は、後半で発生するよ
うにされている。他の薔込?Irll8a信号と続出制
御信号は、アドレス信号に対応して順次位相が遅れるよ
うにされている。このようVCセルグループ2−1.2
−2.2−a、2−4を駆動すれば、セルグループ出力
4−1.4−2.4−3.4−4ti、対応するアドレ
ス信号の周期の最後の部分で正しい読出し信号を出力す
る。したがって、第8図に示すようVこ、切換回路23
が、アドレス信号du、d2.d3.d4の各周期の最
後の部分Vこ対応して出力を選択するようVこすれば、
セルグループの動作速度はアドレスクロック/<ルス周
期で全体としては4倍鍋速な画素クロックツくルス周期
で動作するメモリー回路會構戎できる。
The store control signal 5-1.mu. and the address signal dl2 are generated in the first half of the cycle, and the reading control signal 6-1 is generated in the second half. Other roses? The phase of the Irll8a signal and the successive control signal are sequentially delayed in accordance with the address signal. Like this VC cell group 2-1.2
-2.2-a, 2-4, the cell group output 4-1.4-2.4-3.4-4ti outputs the correct read signal at the last part of the period of the corresponding address signal. do. Therefore, as shown in FIG.
However, the address signals du, d2 . d3. If we rub V to select the output corresponding to the last part of each cycle of d4, we get
The operating speed of the cell group is the address clock pulse cycle, and the memory circuit structure can be constructed so that the cell group operates at the pixel clock pulse cycle, which is four times faster as a whole.

次に、走査線遅延回路として第7図ケ見ると、アドレス
クロックパルスgの周波数が走査周波数の半分の奇数倍
であるので、アドレス信号dl。
Next, when looking at FIG. 7 as a scanning line delay circuit, since the frequency of the address clock pulse g is an odd multiple of half the scanning frequency, the address signal dl.

d2.d3.・・・drの位相は、隣り合う走査株間で
半周期ずれることになる。したがって、セルグループ2
−1.2−2. ・・・2−rVJ間の直tfE、 I
hN差などで生じる固疋バタン雑音は、第5図に示すよ
うな市松形となり見えにくくなる。なお、クロック遅延
回路24−1・・・24−tは、セルグループだけでは
走査−に対して(7i+k)r画素たけ遅延が足りなく
なるのケ補償するためのものであり、これらは、入力信
号NlO詞に入れても艮い。また、k=0とすれば、ク
ロック遅延回路のfiケ絨少にできるので、一般的には
これが望ましい。
d2. d3. ...The phase of dr is shifted by half a cycle between adjacent scanning stocks. Therefore, cell group 2
-1.2-2. ...Direct tfE between 2-rVJ, I
The static bang noise caused by the hN difference takes on a checkered pattern as shown in FIG. 5 and becomes difficult to see. Note that the clock delay circuits 24-1...24-t are for compensating for the fact that the delay of (7i+k)r pixels is insufficient for scanning by using only the cell group. It doesn't matter if you include it in NlO lyrics. Further, if k=0, the amount of fi of the clock delay circuit can be reduced, which is generally desirable.

また、走査線遅延回路ではなくて、たとえは、走査線の
前半で書込んで後半で読出すようなメモリーとして使う
胸倉には、嬉7図の構成において、書込制御信号を走査
線の前半だけで発生させ、絖出し制御信号を後半だけで
発生させて、遅延時間に対応させてアドレスカウンタ2
6のカウント周期1短かくずれは良い。なお、この場合
、遅砥量を画素単位で決めなくても良ければ、クロック
遅延回路24−1.・・・24−tは必賛ない。ざらに
、逓倍回路27の逓倍数?qとした場合には、アドレス
信号が走査線Vこ対して揃うので%  rlElクロッ
クパルス発生回路28,29.30と切換カウンタ32
を走査−毎に制御して、一つおきの走査線で共通のアド
レス信号eに対する先験がアドレス信号ej(J+iに
近い整数)となるようにすれば良い。
In addition, in the configuration shown in Figure 7, the write control signal is sent to the chest space not as a scanning line delay circuit, but as a memory that is written in the first half of the scanning line and read out in the second half. The headset control signal is generated only in the second half, and the address counter 2 is generated in accordance with the delay time.
It is good if the count period of 6 is 1 short or broken. In this case, if the amount of delayed polishing does not need to be determined for each pixel, the clock delay circuit 24-1. ...24-t is a must-have. Roughly speaking, the multiplier of the multiplier circuit 27? In the case of q, since the address signals are aligned across the scanning line V,
may be controlled for each scan so that the prior for the common address signal e in every other scan line becomes the address signal ej (an integer close to J+i).

また、以上の走査線遅延回路用メモリーの説明では、固
定バタン雑音が周期的な場合について説明したが、周期
的でない場合でも、走査線にょうて、セルの選択ケラン
ダムにずらすことで固定ノくタン雑音ケ見えにくくする
ことができる。この場合は、ディジタル信号発生器20
が走査線毎にランダムに変化する2進数を発生するよう
にすれば良い。
In addition, in the above explanation of the memory for the scanning line delay circuit, we have explained the case where the fixed bang noise is periodic, but even if it is not periodic, it can be fixed by randomly shifting the cell selection depending on the scanning line. Tan noise can be made less visible. In this case, the digital signal generator 20
It is only necessary to generate a binary number that changes randomly for each scanning line.

なお、走査線遅延回路以外の応用で、固定ノくタン雑音
が1画面に固定しない場合−Cも、セルの選択r時間的
VC震化させることにより、見えやすかった雑音のバタ
ンと時間的な賀化倉見えにくくなるようにすることも可
能である。
In addition, in applications other than scanning line delay circuits, when the fixed knock noise is not fixed to one screen - C, by changing the cell selection r temporal VC vibration, the easily visible noise slam and temporal It is also possible to make it difficult to see Gakakura.

これまでの己明では、画1象信号を対象にしたが、音声
信号等のその他の信号でも、メモリーセルとアドレス信
号との対応を時間的に変化させることによυ、雑音ケよ
り妨吾が少ない雑音に変えることができる。
So far, we have focused on image signals, but we can also use other signals such as audio signals to reduce interference by changing the correspondence between memory cells and address signals over time. can be changed to less noise.

以上説明したように本発明によれば、メモリーセルのば
らつきによる雑音の妨菩を減らすことができるので、ア
ナログメモリーの集積度、尖角り1上げることができ、
アナログメモリーの応用範囲會拡大できる。
As explained above, according to the present invention, it is possible to reduce noise interference caused by variations in memory cells, so that the degree of integration and cusp angle of analog memory can be increased by 1.
The application range of analog memory can be expanded.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の実施例のアナログメモリーの構成図
、第2図は、@i因のアナログメモリーで用い得るアド
レス回路の構成図、5g3図は上記第2図のアドレス回
路の動作モードを説明する図、ji!44図は、従来の
アナログメモリーにより画面に発生する雑音パタンの例
、第5図は、第2図のアドレス回路を用いた第1図の本
発明のアナログメモリーにより画mlに発生する雑音パ
タンの例、第6図は、第2因のアドレス回路のアドレス
制御信号の時間変化の例倉示す波形図、第7図は、本発
明の他の実施例のアナログメモリーの構成図、第8図は
、第6図のアナログメモリの動作を示す波形図である。 l・・・入力信号線、2・・・基本メモリーセル群、3
・・・冗長メモリーセル群、7−1〜7−n・・・基本
セル選択信号、8−1〜8−m・・・冗長セル選択信号
、9・・・アドレス回路、10−1−10−1・・・ア
ドレス信号、111・・・アドレス制御信号、12・・
・ディジタル加減算回路、13・尋デイジタルカロ算回
路、14・・・レジスタ、15・・・ディジタル積算回
路、20・・・ディジタル信号発生回路、22・・・デ
コード回路、23・・・切換回路、24−1〜24−l
・・・クロック)!!延回路、26・・・アドレスカウ
ンタ、27゜31・・・逓倍回路、28,29.30・
・・m相パルス児  II¥] 第 3  図
Fig. 1 is a block diagram of an analog memory according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of an address circuit that can be used in @i cause analog memory, and Fig. 5g3 is an operational mode of the address circuit shown in Fig. 2 above. A diagram explaining ji! Fig. 44 shows an example of the noise pattern generated on the screen by a conventional analog memory, and Fig. 5 shows an example of the noise pattern generated on the screen by the analog memory of the present invention shown in Fig. 1 using the address circuit of Fig. 2. For example, FIG. 6 is a waveform diagram showing an example of the time change of the address control signal of the address circuit of the second cause, FIG. 7 is a configuration diagram of an analog memory according to another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a waveform diagram showing the operation of the analog memory of FIG. 6. FIG. l...Input signal line, 2...Basic memory cell group, 3
... Redundant memory cell group, 7-1 to 7-n... Basic cell selection signal, 8-1 to 8-m... Redundant cell selection signal, 9... Address circuit, 10-1-10 -1...address signal, 111...address control signal, 12...
・Digital addition/subtraction circuit, 13. Digital calo calculation circuit, 14... Register, 15... Digital integration circuit, 20... Digital signal generation circuit, 22... Decoding circuit, 23... Switching circuit, 24-1 to 24-l
···clock)! ! Extension circuit, 26... Address counter, 27° 31... Multiplier circuit, 28, 29.30.
...m-phase pulse child II¥] Fig. 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、  f、[のアナログメモリセルと上記複数のアナ
ログメモリセルへの信号の書込みおよび絖出し全時系列
に選択して行なうアドレス回路とからなるアナログメモ
リであって、上記アドレス回路が上記信号の時系列とメ
モリセルの対応1時間的に変化してメモリセルを選択す
る如く構成されたことを特徴とするアナログメモリ。
1, f, and [, and an address circuit for selectively writing and starting signals to the plurality of analog memory cells in all time series, wherein the address circuit writes the signals to the plurality of analog memory cells and An analog memory characterized in that the correspondence between time series and memory cells is configured such that memory cells are selected by changing temporally.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50126140A (en) * 1974-03-22 1975-10-03
JPS5165857A (en) * 1974-12-04 1976-06-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd Kondensa memori
JPS53120223A (en) * 1977-03-30 1978-10-20 Toshiba Corp Picture recording device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50126140A (en) * 1974-03-22 1975-10-03
JPS5165857A (en) * 1974-12-04 1976-06-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd Kondensa memori
JPS53120223A (en) * 1977-03-30 1978-10-20 Toshiba Corp Picture recording device

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