JPS58166498A - Automatic measuring apparatus - Google Patents
Automatic measuring apparatusInfo
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- JPS58166498A JPS58166498A JP4941982A JP4941982A JPS58166498A JP S58166498 A JPS58166498 A JP S58166498A JP 4941982 A JP4941982 A JP 4941982A JP 4941982 A JP4941982 A JP 4941982A JP S58166498 A JPS58166498 A JP S58166498A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 本発明は、自動測定装置に関するものであって。[Detailed description of the invention] (1) Technical field of the invention The present invention relates to an automatic measuring device.
特に処j!装置(CPU)を内破する計測器や試験機に
おいて、アセンブラヤペーシツクなどの言語で作成され
るソフトプログラムを用いることなく。Especially the place! In measuring instruments and test machines that implode the equipment (CPU), without using software programs written in languages such as assembler and Python.
表示データおよび試験仕様を系統的にコード化しこのコ
ード化したデータを入力するだけで目的の11定を自動
的に行えるようにした自動測定装置に関する。The present invention relates to an automatic measuring device in which display data and test specifications are systematically coded and a desired 11 constant can be automatically performed simply by inputting the coded data.
°−(2)−技術の背景 ゛
fll、ttfコイルやトランスのような一気部品やプ
リント板及びユニットのような電気機器が製造されると
、これらO電気機器や電気部品は仕様書に定められ九規
格に合格するかどうか検査される。°-(2)-Technical background When electrical equipment such as full and ttf coils and transformers, printed circuit boards, and units are manufactured, these electrical equipment and parts are specified in the specifications. It will be inspected to see if it passes nine standards.
この検査を行うために、′試験対象となる機器中部品の
種類に応じているいろな測定項目が設けられ。In order to perform this inspection, various measurement items are set up depending on the type of equipment component to be tested.
それぞれの項目毎にそれぞれの測定条件のもとて測定値
が求められ、この測定値が測定規格内のものであるかど
うかが判定される。例えばコイルやトランスには一次側
、二次側にそれぞれ一対の端子を有するもののほかに、
それぞれの側に中間タップ1kl又は2以上設は九攬々
の構造のものがあるが、これらのそれぞれの構造を有す
るもの毎K。A measured value is obtained for each item under the respective measurement conditions, and it is determined whether this measured value is within the measurement standard. For example, in addition to coils and transformers that have a pair of terminals on the primary and secondary sides,
There are nine types of intermediate taps with one or more intermediate taps on each side, but each type has each of these structures.
所定の組合せの端子間の直流抵抗、インダクタンス、巻
数比、極性、インピーダンス、絶縁抵抗。DC resistance, inductance, turns ratio, polarity, impedance, and insulation resistance between terminals for a given combination.
絶縁耐圧などが測定される。この際、この測定に当って
は、どのような治具を用いるか又測定項目や印加電圧2
周波数、測定端子などのようにするか、などの測定条件
が定められる。このようにコイルやトランスの検査には
多くの時間を要するので能率的に検査を行える測定装置
が必要とされる。Dielectric strength voltage, etc. are measured. At this time, it is important to know what kind of jig to use for this measurement, as well as the measurement items and applied voltage.
Measurement conditions such as frequency, measurement terminal, etc. are determined. As described above, it takes a lot of time to inspect coils and transformers, so there is a need for a measuring device that can perform inspections efficiently.
(3)従来技術と問題点
このように能率的に検査を行える計測器や試験機には、
従来、CPUt内破した測定装置が使用されている。し
かしながら、この従来の測定装置を動作させるためには
9例えばコイルやトランスの場合、それぞれの構造の種
類毎に測定項目、測定規格、測定条件をもり込んだソフ
トプログラムを作成しなければならない、このソフトプ
ログラム作成のためにベーシックやアセンブラの言語を
使用する必要があるので、プログラム作成に長時間t−
要し、しかも上記言語を理解する尋問技術者を必要とす
る問題点があった。(3) Conventional technology and problems Measuring instruments and testing machines that can perform inspections efficiently in this way include:
Conventionally, measurement devices with a CPUt imploded have been used. However, in order to operate this conventional measuring device9, for example, in the case of coils and transformers, it is necessary to create a software program that incorporates measurement items, measurement standards, and measurement conditions for each type of structure. Since it is necessary to use basic and assembler languages to create software programs, it takes a long time to create programs.
Moreover, there was a problem in that an interrogation technician who understood the above language was required.
(4)発明の目的
本発明は1以上のように、従来のCPU内蔵測定装置で
は藺単に測定結果を得られないという問題点を改善する
ために9表示データおよび試験仕様tコード化したデー
タを入力するだけで所望の測定結果が得られるようにし
た自動測定装#t−提供するものである。(4) Purpose of the Invention As stated above, the present invention aims to solve the problem of not being able to easily obtain measurement results with the conventional CPU built-in measuring device, by converting 9-display data and test specification T-coded data into data. The present invention provides an automatic measuring device #t that allows desired measurement results to be obtained simply by inputting information.
(5)発明の構成
この目的を遂行するために本発明の自動測定装置は、コ
ーディングデータを記憶する第1記憶手段と、被試験体
の時定項目、試験条件および試験仕様について予め設定
したテスト項目?:記憶する第2記憶手段と、上記第1
記憶手段から読出したデータにもとづいて第2記憶手段
からテスト項目tl−選択する項目選択手段と、この選
択されたテスト項目から実行プログラムを作成する実行
プログラム作成手段と、この実行プログラムにもとづい
て制匈される測定手段と、この測定手段による測定値ト
上記コーディングデータのうちの測定許容値とを比較す
る比較手段と、上記第1記憶手段。(5) Structure of the Invention In order to achieve this object, the automatic measuring device of the present invention includes a first storage means for storing coding data, and a test device that stores preset time items, test conditions, and test specifications for the test object. item? : a second storage means for storing, and the first
an item selection means for selecting a test item tl from the second storage means based on the data read from the storage means; an execution program creation means for creating an execution program from the selected test item; and an execution program creation means for creating an execution program from the selected test item; a measuring means to be measured; a comparing means for comparing a measured value by the measuring means with a measurement tolerance value of the coding data; and the first storage means.
第2記憶手段、テスト項目選択手段、実行プログラム作
成手段、測定手段および比較手段を制御するCPUを具
備することt−%徴とする。It is a t-% feature to include a CPU that controls the second storage means, the test item selection means, the execution program creation means, the measurement means, and the comparison means.
(6)発明の実施例
本発明の一実施例を詳述するに先立って本発明の原理を
簀単に説明する。(6) Embodiment of the Invention Before describing an embodiment of the invention in detail, the principle of the invention will be briefly explained.
例えばトランスの試験をする場合、この図書で被試験体
を特定しその回路番号で試験体の回路を特定し、上記の
ように試験条件を定めて仕様書を作り、これにより所定
のmsの試験が試験仕様にしたがって行われる。とζろ
で上記のような被試験体の特定項目、試験条件シよび試
験仕様は、予め考える全ての場合についてこれらをテー
ブル化しておくことができる。このようにテーブル化す
ることができれば、このテーブルのそれぞれの項目に対
応する回路などの表示データや試験仕様に沿つ九試験を
行うために必要な測定装置、治具等を予め外部メモ17
K記憶しておき、その必要部分のみを表示データ等記
憶部に読出して、これらの表示データや測定装置等をテ
ーブルによ抄読出して組合せれば1つの試験用の実行プ
ログラムが作成できる。この際テーブルの項目を、仕様
書に記載するデータをエントリーして選択できるように
すればベーシックヤア七ンプラなどのソフトプログラム
作成のための特別の言語を必要としない。For example, when testing a transformer, use this book to identify the device under test, use its circuit number to identify the circuit of the test device, set the test conditions as above, create a specification sheet, and use this to test the specified ms. is performed according to the test specifications. The specific items of the test object, test conditions, and test specifications as described above can be prepared in a table for all cases considered in advance. If it is possible to create a table in this way, the display data such as circuits corresponding to each item in this table and the measuring equipment, jigs, etc. necessary to perform nine tests in accordance with the test specifications can be stored in external memo 17 in advance.
One test execution program can be created by storing K and reading out only the necessary parts to the display data etc. storage section, extracting and reading out these display data, measuring devices, etc. in a table and combining them. At this time, if the items in the table can be selected by entering data to be written in the specifications, there is no need for a special language for creating a software program such as Basic Yaa Seven Pla.
そして上記実行プログラムにもとづいて試験を自動的に
行うことができる。The test can then be automatically performed based on the above execution program.
次に本発明の一実施例を第1図ないし第4図にもとづい
て説明する。Next, one embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 4.
餉1図(イ)は本実施例に使用するコーディング・シー
トの一例を示す図、同図(ロ)はコイル・トランス類に
関する回路テーブルの一例、同図t−tはそのシートに
記入される回路の1例を示す図、第2図は本実施例の概
略構成図、第3図はその詳細構成図。Figure 1 (A) is a diagram showing an example of a coding sheet used in this embodiment, Figure 1 (B) is an example of a circuit table related to coils and transformers, and t-t in the figure are written on the sheet. A diagram showing one example of a circuit, FIG. 2 is a schematic configuration diagram of this embodiment, and FIG. 3 is a detailed configuration diagram thereof.
第4図はそのフローチャートを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the flowchart.
第1図(イ)のコーディング・シートは、試験が自動的
に行なうようにするデータを記載するものであって、被
試験試料の表示項目、試験条件をコード化して記載する
コメント部と、試験仕様をコード化して記載する仕様部
から構成されている。このコーディング・シートの記載
に当っては、コメント部では例えば第1欄に図番◆1;
の後に図番分拳とファイル名t−r KS45M−04
72J のように記載し、第2欄に回路φ2;の後に
第1図()の回路を示すコードを「Ol」のように記載
する。The coding sheet shown in Figure 1 (a) is used to record data for automatic testing, and includes a comment section where display items for the test sample and test conditions are coded and recorded, and a It consists of a specification section that encodes and describes specifications. When writing this coding sheet, in the comment section, for example, put the figure number ◆1 in the first column;
After the figure number and file name t-r KS45M-04
72J, and in the second column, after the circuit φ2; write a code indicating the circuit in FIG. 1 () as "Ol".
以下同様に版数、このシートの作成日・氏名、必要な治
具の種類、絶縁針や耐圧針の設定値(例えばDC250
V、100MΩ; AC250V)、さらには組立図番
、コア図番、トリマ図番、端子番号などがそれぞれの項
目の表示につづく「φ番号(符号);」の後にコードで
記載される。Similarly, the version number, the date and name of this sheet, the type of jig required, the setting values for insulated needles and pressure-resistant needles (for example, DC250
V, 100 MΩ; AC 250 V), assembly drawing numbers, core drawing numbers, trimmer drawing numbers, terminal numbers, etc. are written in codes after "φ number (symbol);" following the display of each item.
また仕様部では1例えば第1欄にRDC(直流抵抗)の
項が設けられ、第1行、にSliの記載の後にCO,l
O< 0.30 )のように許容できる測定値の最大
最小値の範囲が記載され、つづいて測定単位オームを示
す(0) (測定単位かにΩのときけ■が記入)、さら
には第1および第2端子間の測定値であることを示す「
1−2」が記載される。なお端子3−4についても同様
な測定を行うときは第2行目に同様なことが記載される
。このように量大5行まで記載できる。同様に第2欄に
L(インダクタンス)の項目が設けられ、s2;の後に
測定値許容限界(2,000<6.000 )、単位を
示すヘンリー0.試験に使用するLCRの指定(F1a
。In addition, in the specification section, for example, a term for RDC (direct current resistance) is provided in the first column, and after the description of Sli in the first line, CO, l
The range of maximum and minimum allowable measurement values is described, such as O < 0.30), followed by the unit of measurement (0) (fill in the unit of measurement or Ω), and then the " indicates that the value is measured between terminals 1 and 2.
1-2" is described. Note that when similar measurements are made for the terminal 3-4, the same information is written on the second line. In this way, you can write up to 5 lines. Similarly, an item for L (inductance) is provided in the second column, and after s2; the measurement value tolerance limit (2,000<6.000) and the unit are Henry 0. Designation of LCR used for testing (F1a
.
M3)、端子の指定1−2が記載される。以下同様にN
(巻数)・P(極性)、2(インピーダンス)、IR(
絶縁抵抗)、WV(周波数)の項目が各欄毎に設けられ
、それぞれ「$番号;」の後にそれぞれの仕様の明細が
記載される。M3), terminal designation 1-2 is written. Similarly, N
(number of turns), P (polarity), 2 (impedance), IR (
Items such as insulation resistance) and WV (frequency) are provided in each column, and details of each specification are written after "$ number;".
第2図及び第3図中、1はRAMである。このRAM1
は、主プログラム記憶部la、 φ記憶部・$記憶部l
h1表示データ・項目テーブル記憶部lc、実行プログ
ラム記憶部1d、測定値記憶部l−から構成されている
。In FIGS. 2 and 3, 1 is a RAM. This RAM1
are main program storage section la, φ storage section/$ storage section l
It is composed of an h1 display data/item table storage section lc, an execution program storage section 1d, and a measured value storage section l-.
主プログラム記憶部1aFi、主プログラムを記憶する
ものである。この主プログラムは、上記コーディング・
シートに記載され九データにもとづいて実行プログラム
を作成し、この実行プログラムにもとづいて試験を実行
させ、さらKこの試験結果の測定値の合否の判定を行う
全体を糸線化するプログラムである。The main program storage section 1aFi stores the main program. This main program is based on the above coding and
This is a program that creates an execution program based on the data written on the sheet, executes a test based on this execution program, and then determines the pass/fail of the measured value of the test result.
φ記憶部・$記憶部1には、第1図に示すコーディング
シートの各データをコメント部、仕様部別にそれぞれ記
憶するものである。The φ storage unit/$ storage unit 1 stores each data of the coding sheet shown in FIG. 1 separately for the comment section and the specification section.
表示データ・項目テーブル記憶部1cは、上記コーディ
ングシートのデータにもとづいて選択された表示データ
および1項目を試験するのに必要な試験装置や治具等を
示すテーブルを記憶するものである。The display data/item table storage unit 1c stores display data selected based on the data of the coding sheet and a table indicating test equipment, jigs, etc. necessary for testing one item.
実行プログラム記憶部ldは、後述の実行プログラム作
成部によって作成された実行プログラムを記憶するもの
である・
測定値記憶部l−は、実行プログラムの実行により後述
の測定部によ抄測定され九測定値を記憶するものである
。The execution program storage unit ld stores an execution program created by the execution program creation unit described below.The measurement value storage unit l- stores nine measurements that are extracted and measured by the measurement unit described below by executing the execution program. It stores values.
2はCPUである。このCPU2は第3図に示すように
中央制御部2a、主プログラム解読部24、 φ・$解
読部2c、表示データ・プログラム選択部2d、実行プ
ログラム作成部2−2実行プログラム解読部2ft有す
る。2 is a CPU. As shown in FIG. 3, the CPU 2 has a central control section 2a, a main program decoding section 24, a φ/$ decoding section 2c, a display data/program selection section 2d, an execution program creation section 2-2 and an execution program decoding section 2ft.
中央制御部2aは、CPU2における各種制御を行うも
のである。The central control unit 2a performs various controls on the CPU 2.
主プログラム解読部2bは、上記主プログラムを解読す
るものである・
φ・$解読部2Cは、上記φ記憶部、S記憶部1bに記
憶したデータを解読するものである。The main program decoding section 2b decodes the main program. The φ/$ decoding section 2C decodes the data stored in the φ storage section and the S storage section 1b.
表示データ・項目テーブル選択部2dは、上記φ・$解
読部2Cの解読にしたがってそのコメント部及び仕様部
に対応する表示事項や項目テーブルを、あらかじめフロ
ッピィディスク3から選択して、これを表示データ・項
目テーブル記憶部1CK記入しておくものである。The display data/item table selection section 2d selects display items and item tables corresponding to the comment section and specification section from the floppy disk 3 in advance according to the decoding by the φ/$ decoding section 2C, and converts them into display data. -Item table storage section 1CK is to be filled in.
実行プログラム作成部2−は、上記主プログラムの解読
にしたがって上記選択された表示データ及び項目テーブ
ルから必要事項を抽出し実行プログラムに編成するもの
である・
実行プログラム解読部2fは、上記実行プログラムを順
次読出し、解読するものである。The execution program creation section 2- extracts necessary items from the selected display data and item table according to the decoding of the main program and organizes them into an execution program.The execution program decoding section 2f decodes the execution program. It is read out and decoded sequentially.
3はフロッピーディスクである。このフロッピーディス
ク3は上記主プログラム、コーディングシートのコメン
ト部、仕様部に記載されるデータに対して予め定められ
た表示データおよび項目テーブルを記憶しているもので
ある0例えば表示データには図書名や回路図などかあり
1項目テーブルには1例えばRDCの試験の場合測定規
格の最小値と最大値及び規格値に対する単位としてオー
ム0.キロオーム■、メグオームMなどの指定及び測定
端子番号が記入されているものである。3 is a floppy disk. This floppy disk 3 stores predetermined display data and item tables for the data written in the main program, the comment section of the coding sheet, and the specification section. For example, the display data includes book names. For example, in the case of RDC testing, the minimum value and maximum value of the measurement standard and the unit for the standard value are ohms 0. The designation of kiloohm ■, megohm M, etc. and the measurement terminal number are written on it.
4はキーボードである。このキーボード4#i。4 is a keyboard. This keyboard 4#i.
上記コーディングシートのデータを入力するとき使用さ
れる。Used when inputting data on the above coding sheet.
5はペーパテープリーグである。このは−パテープリー
ダ6も上記キーボード4と同様に上記コーディングシー
トのデータの入力のために使用される。5 is a paper tape league. Similar to the keyboard 4, this keyboard reader 6 is also used for inputting data on the coding sheet.
6はコントローラである。このコントローラ6は実行プ
ログラムの指示にもとづいて1表示データを後述のCR
Tあるいはプリンターに表示させるとともに、後述の測
定部およびスキャナ一部を制御して例えば印加電圧など
の試験条件を具体的にセットし、このセットした条件の
中で試験を行わせるものである0
7#i測定部であり、コーディング・シートに記される
各種試験に必要な各種試験装置と必要な治具が格納され
ている。測定部γは上記コントローラ6の指示にしたが
って試験を実行する。この試験結果の測定値は上記測定
値記憶部1−に記憶される。6 is a controller. This controller 6 converts one display data into CR (to be described later) based on the instructions of the execution program.
In addition to displaying on the T or printer, test conditions such as applied voltage are specifically set by controlling a part of the measurement unit and scanner described later, and the test is performed under the set conditions0 7 #i This is the measurement section, and stores various test devices and necessary jigs necessary for various tests written on the coding sheet. The measurement unit γ executes the test according to instructions from the controller 6. The measured value of this test result is stored in the measured value storage section 1-.
8#iスキヤナ一部である。このスキャナ一部8は上記
コントローラ6の指示にしたがって試料Sの端子及び測
定部γの端子を選択的に接続して。8#i scanner part. This scanner part 8 selectively connects the terminal of the sample S and the terminal of the measurement part γ according to instructions from the controller 6.
試料8に対して必要なテストをこれに応じた測定装置と
必要に応じて治具を使用して遂行するものである。Necessary tests are performed on the sample 8 using a corresponding measuring device and a jig if necessary.
9は比較器である。この比較器9は主プログラムの指示
にしたがって上記測定値と上記$記憶部16に記憶した
最大最小の許容値とを比較するものである。9 is a comparator. The comparator 9 compares the measured value with the maximum and minimum allowable values stored in the $ storage section 16 in accordance with instructions from the main program.
10は判定部である。この判定部10は主プログラムに
し九がって上ik!比較69の結果にもとづσ1て測定
値を許容値の範囲内であれば合格、それ以外は不合格と
判定するものである。10 is a determination section. This determination section 10 is based on the main program. Based on the result of the comparison 69, if the measured value of σ1 is within the allowable range, it is determined to pass, and otherwise it is determined to be rejected.
11はディスプレイとして作用するCRTである。この
CRT11#′i上記表示データを表示するとともに、
上記試験結果の合否をi示するものである。11 is a CRT that functions as a display. This CRT11#'i displays the above display data, and
This indicates the pass/fail of the above test results.
12はプリンタである。このプリンタ12は上記CRT
11に表示したものを印刷できるようにしたものである
。12 is a printer. This printer 12 is the above-mentioned CRT.
11 can be printed.
次に麺2図および第3図に示す本発明の一実施例の動作
をIIEI図のコーディング・シートを用い友場合につ
いて第4図にもとづき説明する。Next, the operation of the embodiment of the present invention shown in FIGS. 2 and 3 will be explained using the coding sheet shown in FIG.
■ 試験を遂行するに先立ち、IPL等によりあらかじ
9主プログラムを70ツレ−ディスク3から主プログラ
ム記憶部1aに格納して門〈。③ Prior to carrying out the test, store the 9 main programs from the 70-ray disk 3 into the main program storage section 1a using IPL or the like.
■ 第1図(イ)に示すコーディングシートのデータは
予めキーボード4から入力し、フロッピーディスクに格
納しておき、試験実施時フロッピーディスクよりφ記憶
部@$記憶部lhに記憶する。このとき、第1図eうに
示す変成器をテストする場合には、試料Sである変成器
をスキャナ一部8にセットしておく。(2) The data on the coding sheet shown in FIG. 1(A) is input in advance from the keyboard 4 and stored on a floppy disk, and is stored from the floppy disk in the φ storage unit @$ storage unit lh when the test is carried out. At this time, when testing the transformer shown in FIG.
■ 中央制御部2aKより主プログラム解読部2bを動
作させ、仁れにより主プログラムによる制御が行われる
。◆記憶部会$記憶部1bに記憶されたデータが、主プ
ログラム解読部2bKよ松アクセスされ、そのデータt
φ・S解読部2Cにより解読する。(2) The main program decoding section 2b is operated by the central control section 2aK, and control by the main program is performed in response. ◆Memory Section $ The data stored in the storage section 1b is accessed by the main program decoding section 2bK, and the data t
It is decoded by the φ·S decoder 2C.
@ 上記解読にもとづいて◆記憶部のデータに対応し次
表示データ名、$記憶部のデータに対応して項目テーブ
ル名が表示データ・項目テーブル選択部2dにより選択
され、幽該表示データ名中項目テーブル名に対応した表
示データおよび項目テーブルが表示データ1項目テーブ
ル記憶部IC[配憶される。@ Based on the above decoding, ◆ The next display data name corresponding to the data in the storage section and the item table name corresponding to the data in the $ storage section are selected by the display data/item table selection section 2d, and the next display data name is selected in accordance with the data in the storage section. The display data and item table corresponding to the item table name are stored in the display data 1 item table storage unit IC.
■ 王プログラムの指示にしたがって、φ・$解読部2
Cは表示データ・項目テーブル記憶部lCから必要とす
る表示データおよび項目テーブルが読出され、これらが
実行プログラム作成部2−により実行プログラムに編成
される。■ According to the instructions of the King program, φ/$ decoder 2
In C, necessary display data and item tables are read from the display data/item table storage section 1C, and these are organized into an execution program by the execution program creation section 2-.
■ 主プログラムにし友がって、上記実行プログラムが
解読され、これによりコントローラ6が動作され、この
コントローラ6により図番9回路などがCRTIIに表
示されるとともに、 ill定部7.スキャナ一部8が
セットされ、試料Sの測定が行われる。この測定値は測
定値記憶部1aに記憶される。- Along with the main program, the execution program is decoded, and the controller 6 is thereby operated, and the controller 6 displays the circuit with figure number 9 on the CRTII, and also displays the illumination section 7. The scanner part 8 is set and the sample S is measured. This measured value is stored in the measured value storage section 1a.
■ 主プログラムにしたがって上記測定値と上記◆記憶
部・$記憶部1hのS記憶部に記憶された測定杵容値が
読出され、これらが比較器9により比較される。(2) According to the main program, the above measured value and the measured punch capacity value stored in the S storage section of the ◆ storage section/$ storage section 1h are read out, and these are compared by the comparator 9.
■ この比較の結果は判定部lOにより判定され。(2) The result of this comparison is determined by the determination unit IO.
この結果がCRTII上に表示される。このよ・:1
うにしてCRTII上にファイル名1回路図などととも
に試験結果の合否が表示される。この場合、必要に応じ
てプリンタ12により印刷しても良い。This result is displayed on the CRTII. In this way, the pass/fail test result is displayed on the CRTII along with the file name 1 circuit diagram, etc. In this case, it may be printed by the printer 12 if necessary.
なお上記実施例ではデータ入力にキーボードを使用した
がベーパテープリーグ番を使用しても良い。その場合外
部タイプライタなどによりデータを紙テープパンチにペ
ーパーリーダ4よね入力する丸め、開発のための自動測
定装置のダウンタイムが少くてすむ・
また主プログラムはフロッピィディスクから主プログラ
ム記憶部に記入する例について説明し九が、あらかじめ
ROMに格納しておいてもよい。In the above embodiment, a keyboard is used for data input, but a vapor tape league number may also be used. In this case, the downtime of the automatic measuring device for development can be reduced by inputting the data using an external typewriter or the like using a paper tape punch and a paper reader 4.In addition, the main program is written from a floppy disk to the main program storage unit. 9 may be stored in the ROM in advance.
(7)発明の効果
以上述べたように、結局本発明によれば、コーディング
・シートに所定事項を記入し、これを入力するだけで所
定の機器や部品の試験を自動的に行えるようにしたので
、ベーシックやアセンブラのようなCPUt!t−理解
しなくても簡単なコーディングルールを覚えるだけで良
い。そのためソフト開発のために多くの時間を要するこ
となく迅速に検査ができるととも罠、熟練し九プログラ
マ−を必要としない、さらに例えば必要条件を盛り込ん
だものを予めコーディングシートに印刷しておけば初心
者によるコーディングが可能であり。(7) Effects of the Invention As stated above, according to the present invention, it is possible to automatically test a given device or component simply by filling in the specified items on a coding sheet and inputting the information. So, CPUt like basic or assembler! t-You don't have to understand it, just remember some simple coding rules. Therefore, it is possible to quickly test without requiring a lot of time for software development, and it does not require a highly skilled programmer. Furthermore, for example, if the necessary conditions are printed on a coding sheet in advance, Coding is possible for beginners.
極めて便利である。開発データ(コーディングデータ)
はフロッピーディスクに保存され、使用時は図番名呼出
しとなる。なお上記の場合Vi試料Sとしての変成器を
テストする例について説明したが2本発明は勿論これら
に限定されず、各種の機器や部品に対してテスト可能で
ある。Extremely convenient. Development data (coding data)
is saved on a floppy disk, and when used, the figure number name is called. In the above case, an example of testing a transformer as the Vi sample S has been described, but the present invention is of course not limited to these, and can be tested on various devices and parts.
第1図(イ)は本発明の一実施例の装置に使用するコー
ディング・シー)t−示す図、同図(ロ)Fiそのシー
トに記入される回路の1例を示す図、第2図は本実施例
の概略構成図、第3図はそOW#細構成図。
第4図は本実施例のフローチャートを示す図である。
図中、1はRAM、1gは主プログラム記憶部。
lAはす記憶部・S記憶部、1cFi表示データ・項目
テーブル記憶部、1jij実行プログラム記憶部、1−
は測定値配憶部、2はCPU、2αは中央制御部、27
は主プログラム解読部、2c#i表示データ・項目テー
ブル選択部、2dは実行プログラム作成部、2−は実行
プログラム解読部、3はフロッピーディスク、4はキー
ボード、5はに−パテープリーダ、6はコントローラ、
7は測定部、8はスキャナ一部、9は比較器、10は判
定部、1lFicRT、12はプリンタ、 sI/i
試料である。
特許出願人 富士通電装株式会社
代珊人弁理士 山 谷 晧 栄+ 4 図
手続補正書(方式)
%式%
1、事件の表示 昭和57年特許願第49419 号
2、発明の名称 自動測定装置
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
4o代理人
6、補正により増加する発明の数 なし補 正 の
内 容
1、 明細書第’17頁第11行に記載の「同図(ロ)
は」を、「同図(ロ)及び(ハ)は」と補正する。
以上Figure 1 (a) is a diagram showing the coding sheet used in the device according to an embodiment of the present invention, Figure 1 (b) is a diagram showing an example of the circuit written on the sheet, and Figure 2 is a diagram showing an example of the circuit written on the sheet. 3 is a schematic configuration diagram of this embodiment, and FIG. 3 is a detailed configuration diagram thereof. FIG. 4 is a diagram showing a flowchart of this embodiment. In the figure, 1 is a RAM, and 1g is a main program storage unit. lA lotus storage unit/S storage unit, 1cFi display data/item table storage unit, 1jij execution program storage unit, 1-
is the measured value storage unit, 2 is the CPU, 2α is the central control unit, 27
is the main program decoding section, 2c#i display data/item table selection section, 2d is the execution program creation section, 2- is the execution program decoding section, 3 is the floppy disk, 4 is the keyboard, 5 is the computer tape reader, 6 is the controller,
7 is a measurement section, 8 is a part of the scanner, 9 is a comparator, 10 is a judgment section, 1lFicRT, 12 is a printer, sI/i
It is a sample. Patent applicant: Fujitsu Denso Co., Ltd. Patent attorney Akira Yamatani + 4 Drawing procedure amendment (method) % formula % 1. Indication of incident Patent application No. 49419 of 1982 2. Title of invention Automatic measuring device 3 , Relationship with the case of the person making the amendment Patent applicant 4o Attorney 6, Number of inventions increased by the amendment None Contents of the amendment 1.
``is'' is corrected to ``(b) and (c) of the same figure''. that's all
Claims (1)
と、被試験体の測定項目、試験条件および試験仕様につ
いて予め設定したテスト項目を記憶する第2記憶手段と
、上記第1記憶手段から読出したデータにもとづいヤ第
3記憶手段からテスト項目を選択する項目選択手段と、
この選択され九テスト項目から実行プログラムを作成す
る奥行プログラム作成手段と、この奥行プロゲームにも
とづいて制御される測定手段と、この測定手段による測
定値と上記コーディングデータのうちの測定許容値とを
比較する比較手段と、上記第1記憶手段。 第2記憶苧段、テスト項I遥択手段、奥行プログラム作
成手段 m定手lI!および比較手段を制御する処理装
置を具備す◆ことを管機とする自動測定装置。(1) A first storage means for storing coding data, a second storage means for storing test items set in advance regarding measurement items, test conditions and test specifications of the test object, and data read from the first storage means. item selection means for selecting test items from the third storage means based on the
A depth program creation means for creating an execution program from the selected nine test items, a measurement means controlled based on this depth pro game, a measurement value by this measurement means, and a measurement tolerance value of the coding data. Comparison means for comparison, and the first storage means. Second memory step, test item I selection means, depth program creation means m fixed hand lI! ◆An automatic measuring device, which is a tube machine, and is equipped with a processing device that controls the comparison means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4941982A JPS58166498A (en) | 1982-03-27 | 1982-03-27 | Automatic measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4941982A JPS58166498A (en) | 1982-03-27 | 1982-03-27 | Automatic measuring apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58166498A true JPS58166498A (en) | 1983-10-01 |
JPH0222885B2 JPH0222885B2 (en) | 1990-05-22 |
Family
ID=12830547
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4941982A Granted JPS58166498A (en) | 1982-03-27 | 1982-03-27 | Automatic measuring apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58166498A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6379188A (en) * | 1986-09-23 | 1988-04-09 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Environment measuring data processing system |
JPH01240906A (en) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Yokogawa Electric Corp | Universal measuring system |
JPH0244421A (en) * | 1988-06-14 | 1990-02-14 | Tektronix Inc | Generation of task train |
JP2010032228A (en) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Yokogawa Electric Corp | Measurement system |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5194850A (en) * | 1975-02-18 | 1976-08-19 | Fukusuno hishikensochioshikensuruhoho | |
JPS5322757A (en) * | 1976-08-13 | 1978-03-02 | Mitsubishi Electric Corp | Testing apparatus of electric a ppliances |
JPS56125617A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-02 | Hitachi Ltd | Automatic tester which takes counter measure against power failure |
JPS5871414A (en) * | 1981-10-23 | 1983-04-28 | Hitachi Ltd | Device for instructing checking work |
-
1982
- 1982-03-27 JP JP4941982A patent/JPS58166498A/en active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5194850A (en) * | 1975-02-18 | 1976-08-19 | Fukusuno hishikensochioshikensuruhoho | |
JPS5322757A (en) * | 1976-08-13 | 1978-03-02 | Mitsubishi Electric Corp | Testing apparatus of electric a ppliances |
JPS56125617A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-02 | Hitachi Ltd | Automatic tester which takes counter measure against power failure |
JPS5871414A (en) * | 1981-10-23 | 1983-04-28 | Hitachi Ltd | Device for instructing checking work |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6379188A (en) * | 1986-09-23 | 1988-04-09 | Yamatake Honeywell Co Ltd | Environment measuring data processing system |
JPH01240906A (en) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Yokogawa Electric Corp | Universal measuring system |
JPH0244421A (en) * | 1988-06-14 | 1990-02-14 | Tektronix Inc | Generation of task train |
JP2010032228A (en) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Yokogawa Electric Corp | Measurement system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0222885B2 (en) | 1990-05-22 |
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