JPS5812719B2 - Circuit element quality determination device - Google Patents

Circuit element quality determination device

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JPS5812719B2
JPS5812719B2 JP52119009A JP11900977A JPS5812719B2 JP S5812719 B2 JPS5812719 B2 JP S5812719B2 JP 52119009 A JP52119009 A JP 52119009A JP 11900977 A JP11900977 A JP 11900977A JP S5812719 B2 JPS5812719 B2 JP S5812719B2
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JP
Japan
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thyristor
gate
exclusive
voltage
indicator
Prior art date
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Expired
Application number
JP52119009A
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Japanese (ja)
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JPS5452998A (en
Inventor
外沢照章
大宮司秀夫
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Koito Industries Ltd
Original Assignee
Koito Industries Ltd
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Publication date
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  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は現在色々な形で使われている電光表示板の表示
灯につき、その全表示灯の断芯等を検知する回路素子の
良否判定装置に係り、特に表示灯の断芯検知と文字表示
中の電光表示板においても断芯の検知を自動的に行なう
ことができると共に表示灯に直列接続されたサイリスタ
の良否を自動的に判定することができる回路素子の良否
判定装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a device for determining the quality of circuit elements for detecting breakage, etc. of all indicator lights for indicator lights of electronic display boards currently used in various forms, and in particular for indicator lights of indicator lights. A circuit element that can automatically detect core breakage in electronic display boards that are displaying characters and automatically determine the quality of thyristors connected in series with indicator lights. This invention relates to a determination device.

従来のこの種の表示灯における断芯検知装置としては種
々提案されているが、一般に回路構成が複雑になり、ま
た、収納するスペースの増大や価格の上昇が大きくなっ
て、経済的でないという欠点があり、採用することがで
きなかった。
Various conventional core breakage detection devices have been proposed for this type of indicator light, but they generally have the disadvantage of being uneconomical because the circuit configuration is complicated, the storage space increases, and the price increases. , and could not be adopted.

しかして、各種電光表示板における表示灯の断芯による
表示文字の欠落防止として従来とられてきた方法は、定
期的に保守員が巡回し、目視によって判定し、交換する
という方法が採られている。
However, the conventional method of preventing display characters from being lost due to breakage of indicator lights on various electronic display boards has been to have maintenance personnel patrol regularly, visually check, and replace them. There is.

しかし、近年、モータリゼーションの発達に伴ない、自
動車の果す役割は大きくなっている。
However, in recent years, with the development of motorization, the role played by automobiles has increased.

一方、それらに対して電光表示板による適切なる道路状
況の報知は不可欠である。
On the other hand, it is essential to provide appropriate notification of road conditions using electronic display boards.

このような状況下において電光表示板の表示灯チェック
が従来装置で行なわれることは、点検巡回間で断芯した
表示灯は不点灯のまま放置されることになり、表示灯点
灯綴りによって文字を形成している現行の電光表示板に
おいては、表示文字を誤読する恐れが増大し、必要とさ
れるドライバーへの適切なる指示が欠如する。
Under these circumstances, if the indicator lights on the electronic display board are checked using conventional equipment, indicator lights that have been broken during inspection rounds will be left unlit, and the characters may not be written correctly depending on how the indicator lights are lit. Current electronic display panels increase the risk of misreading displayed characters and lack the required proper driver instructions.

このような状態をなくすため、表示灯の断芯があった場
合、即刻指令側に通告することが最良である。
In order to eliminate this situation, it is best to notify the commanding party immediately if there is a break in the indicator light.

本発明は以上の点に鑑み、このような問題を解決すると
共に、かかる欠点を除去すべ《なされた回路素子の良否
判定装置を提供するもので、表示灯とザイリスタを直列
に接続し、サイリスタの点弧によって表示灯が点灯する
無接点表示灯点灯装置において、サイリスタのゲートに
印加する点弧用信号電圧とこのサイリスタのアノードに
現出する電圧を人力信号として動作する排他的論理和回
路を設け、その排他的論埋和回路の入力信号の変化の状
態によって生ずる出力信号の有無によって、表示灯の断
芯・サイリスタの導通破壊・サイリスタの非導通破壊を
自動的に検出するようにしたものである。
In view of the above-mentioned points, the present invention provides a device for determining the quality of a circuit element, which solves such problems and eliminates such drawbacks. In a non-contact indicator light lighting device in which an indicator light is lit by ignition, an exclusive OR circuit is provided that operates as a human input signal using the ignition signal voltage applied to the gate of the thyristor and the voltage appearing at the anode of this thyristor. This circuit is designed to automatically detect disconnection of an indicator light, conduction failure of a thyristor, and non-conduction failure of a thyristor based on the presence or absence of an output signal caused by the state of change in the input signal of the exclusive logic summation circuit. be.

以下、図面に基づき本発明の実施例を詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described in detail below based on the drawings.

図は本発明による回路素子の良否判定装置の一実施例を
示す構成図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a device for determining the quality of circuit elements according to the present invention.

図において、LPは脈流のランプ電圧PCが印加される
表示灯、SCRは表示灯LPに直列接続されたサイリス
タ、EX−ORはサイリスタSCRのゲートGに印加す
る点弧用信号電圧とサイリスタSCRのアノードAに現
出する電圧を入力信号として動作する排他論理和素子、
Mは点灯制御信号Sを入力とし、リセット信号Rによっ
てリセットされるメモリである3そして、表示灯LPと
カソードKを接地したサイリスタSCRのアノードAと
の接続点はダイオードDと抵抗R1を直列に介して排他
論理和素子EX−ORの一方のゲート入力端に接続され
、サイリスタSCRのゲートGにはメモ1Mの出力端に
接続されると共に、排他論理和素子EX−ORの他方の
ゲート入力端に接続されている。
In the figure, LP is an indicator lamp to which a pulsating lamp voltage PC is applied, SCR is a thyristor connected in series to the indicator lamp LP, and EX-OR is the ignition signal voltage applied to the gate G of thyristor SCR and the thyristor SCR. an exclusive OR element that operates using the voltage appearing at the anode A of as an input signal;
M is a memory that inputs the lighting control signal S and is reset by the reset signal R3.The connection point between the indicator light LP and the anode A of the thyristor SCR whose cathode K is grounded is a diode D and a resistor R1 connected in series. The gate G of the thyristor SCR is connected to the output terminal of the memory 1M, and the other gate input terminal of the exclusive OR element EX-OR is connected to the gate G of the thyristor SCR. It is connected to the.

また、前記抵抗R1と排他論理和素子EX−ORの一方
のゲート入力端との接続点は抵抗R2およびコンデンサ
Cを並列に介して接地され、サイリスタSCRのゲート
Gは抵抗R3を介して接地されている。
Further, the connection point between the resistor R1 and one gate input terminal of the exclusive OR element EX-OR is grounded via a resistor R2 and a capacitor C in parallel, and the gate G of the thyristor SCR is grounded via a resistor R3. ing.

つぎにこの図に示す実施例の動作を説明する。Next, the operation of the embodiment shown in this figure will be explained.

まず、一般的な無接点表示灯点灯方式としては、表示灯
LPとサイリスタSCRを直列に接続し、その両端に脈
流のランプ電圧を印加し、サイリスタSCRのゲートG
にプラス(+)の電圧が印加されたときサイリスタSC
Rが導通して表示灯LPが点灯する方式が採られている
First, as a general non-contact indicator lamp lighting method, an indicator lamp LP and a thyristor SCR are connected in series, a pulsating lamp voltage is applied to both ends of the indicator lamp, and a gate G of the thyristor SCR is applied.
When a positive (+) voltage is applied to the thyristor SC
A method is adopted in which R becomes conductive and the indicator lamp LP lights up.

ここで、以上の回路方式により、サイリスタSCRのア
ノードAに現われる電圧を見ると、サイリスタSCRが
非導通のときは脈流のランプ電圧がそのまま現出するが
、導通のときはOvとなる。
Here, when looking at the voltage appearing at the anode A of the thyristor SCR using the above circuit system, when the thyristor SCR is non-conducting, the pulsating lamp voltage appears as is, but when it is conducting, it becomes Ov.

このように、サイリスタSCRのゲートGに印加する電
圧と、アノードAに現出する電圧の有無を検出し、相互
の関連によって表示灯LPの断芯やサイリスタSCHの
良否を判定することができる。
In this way, it is possible to detect the presence or absence of the voltage applied to the gate G of the thyristor SCR and the voltage appearing at the anode A, and determine whether the indicator lamp LP is broken or the thyristor SCH is defective based on the mutual relationship.

さて、図において、メモリMの出力電圧が零の場合には
、サイリスタSCRのゲートGに電圧が印加せず、サイ
リスタSCRは非導通となり、表示灯LPは点灯しない
Now, in the figure, when the output voltage of the memory M is zero, no voltage is applied to the gate G of the thyristor SCR, the thyristor SCR becomes non-conductive, and the indicator lamp LP does not light up.

このときのサイリスタSCRのアノードAの電圧信号は
“1”である。
At this time, the voltage signal at the anode A of the thyristor SCR is "1".

そして、このアノードAの信号はダイオードDと抵抗R
1を通して排他論理和素子EX−ORのゲートの一端に
送出される。
The signal of this anode A is transmitted through diode D and resistor R.
1 to one end of the gate of exclusive OR element EX-OR.

一方、排他論理和素子EX−ORの他の入力ゲートには
メモリMの出力線が接続され、この状態における排他論
理和素子EX−ORの両入力ゲートの信号は“1”と“
0”であり、このときの排他論埋相素子EX−ORの出
力信号OUTは“1″となる。
On the other hand, the output line of the memory M is connected to the other input gate of the exclusive OR element EX-OR, and the signals at both input gates of the exclusive OR element EX-OR in this state are "1" and "
0", and the output signal OUT of the exclusive logic buried phase element EX-OR at this time becomes "1".

また、メモリMの出力信号が“1”の場合、サイリスタ
SCHのゲートGに電圧が印加し、サイリスタSCRは
導通となり、表示灯LPは点灯する。
Further, when the output signal of the memory M is "1", a voltage is applied to the gate G of the thyristor SCH, the thyristor SCR becomes conductive, and the indicator lamp LP lights up.

このときのサイリスタSCRはアノードAの電圧信号は
零となる。
At this time, the voltage signal at the anode A of the thyristor SCR becomes zero.

この状態でメモJMの出力信号“1”であるから排他論
理和素子EX−ORの両入力のゲート信号は“0”と“
1”となり、その出力信号OUTは“1”となる。
In this state, the output signal of the memo JM is "1", so the gate signals of both inputs of the exclusive OR element EX-OR are "0" and "
1", and its output signal OUT becomes "1".

前述の状態は表示灯LPおよびサイリスタSCRが正常
な動作をしているときの制御動作について説明したが、
つぎに不良状態の場合を説明する。
The above state describes the control operation when the indicator light LP and thyristor SCR are operating normally.
Next, a case of a defective state will be explained.

まず、表示灯LPに断芯が起きた場合について説明する
と、サイリスタSCRのゲート信号零のときは、サイリ
スタSCRのアノードA信号は“1”とならず“0”と
なり、排他論埋和素子EX−ORの両入力ゲート信号は
“0”と“0”になってこの排他論理和素子EX−OR
の出力信号OUTは“0”となる。
First, to explain the case where a break occurs in the indicator light LP, when the gate signal of the thyristor SCR is zero, the anode A signal of the thyristor SCR does not become "1" but becomes "0", and the exclusive logic compensation element EX Both input gate signals of -OR become "0" and "0", and this exclusive OR element EX-OR
The output signal OUT becomes "0".

また、サイリスタSCRがゲート信号“1”にもかかわ
らず点弧せず非導通になった場合には、サイリスタSC
RのアノードA信号は“1”を持続し、排他論埋和素子
EX−ORの両ゲート入力信号は゛1”と“1”となっ
てこの排他論理和素子EX−ORの出力信号OUTは“
0”となる。
In addition, if the thyristor SCR does not fire and becomes non-conductive despite the gate signal "1", the thyristor SC
The anode A signal of R continues to be "1", and both gate input signals of exclusive OR element EX-OR become "1" and "1", and the output signal OUT of this exclusive OR element EX-OR becomes "1".
0”.

このような状態変化をまとめると次表に示すようになる
A summary of these state changes is shown in the table below.

上表より明らかなように、表示灯LPまたはサイリスタ
SCRが正常なときは、排他論埋和素子EX−ORの出
力信号OUTはサイリスタSCHのゲー}Gに印加され
る信号が“0”または“1′の状態にかかわらず“1”
であるが、不良状態が発生している場合には排他論埋和
素子EX−ORの出力信号OUTが“0”となる。
As is clear from the above table, when the indicator light LP or the thyristor SCR is normal, the output signal OUT of the exclusive logic summing element EX-OR is "0" or " “1” regardless of the state of 1′
However, when a defective state occurs, the output signal OUT of the exclusive logic-add element EX-OR becomes "0".

このように、排他論理和素子EX−ORの出力信号の有
無によって、表示灯LPの断芯とサイリスタSCRの導
通破壊およびサイリスタSCRの非導通破壊を自動的に
検出することができる。
In this way, depending on the presence or absence of the output signal of the exclusive OR element EX-OR, it is possible to automatically detect the disconnection of the indicator lamp LP, the conduction failure of the thyristor SCR, and the non-conduction failure of the thyristor SCR.

なお、この排他論埋和素子EX−ORの出力信号は図示
しない他の系の出力信号と共にオアゲートを介して指令
側に通告される。
It should be noted that the output signal of this exclusivity logic summing element EX-OR is notified to the command side via an OR gate together with output signals of other systems (not shown).

以上本発明を表示灯およびサイリスタからなる回路素子
の良否を判定するため、排他論埋和素子を用いた場合を
例にとって説明したが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、アンドゲート・オアゲートの組合せによる排
他論理和回路によっても検定を行なうことができる。
The present invention has been described above using an example in which an exclusivity logic buried element is used to determine the quality of a circuit element consisting of an indicator light and a thyristor, but the present invention is not limited to this. Verification can also be performed using an exclusive OR circuit using a combination of OR gates.

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、複雑
な手段を用いることなく、サイリスタのゲートに印加す
る点弧用信号電圧とそのサイリスタのアノードに現出す
る電圧とを入力とする排他的論埋和回路を設けるという
簡単な回路構成によって表示灯の断芯検知と文字表示中
の電光表示板においても断芯の検知を自動的に行なうこ
とができると共に、サイリスクの良否判定を自動的に行
なうことができるので、実用上の効果は極めて犬である
As is clear from the above description, according to the present invention, it is possible to obtain exclusive control without using complicated means by inputting the ignition signal voltage applied to the gate of a thyristor and the voltage appearing at the anode of the thyristor. With a simple circuit configuration that includes a theoretical compensation circuit, it is possible to automatically detect core breakage in indicator lights and on electronic display boards that are displaying characters, as well as automatically judge whether the risk is good or bad. Since it can be carried out, the practical effect is extremely good.

また、従来のように周回による人為的な点検操作に頼よ
る必要がなくなるため、それにもとづ《あらゆる不便さ
を解決することができるという点においても極めて有効
であり、電光表示板における多種回路素子の良否判定装
置としては独自のものである。
In addition, it is extremely effective in that it can solve all kinds of inconveniences because it eliminates the need to rely on manual inspection operations by going around the circuit as in the past. This is a unique device for determining the quality of elements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図は本発明による回路素子の良否判定装置の一実施例を
示す構成図である。 LP・・・・・・表示灯、SCR・・・・・・サイリス
タ、EX−OR・・・・・・排他論埋和素子、M・・・
・・・メモリ。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a device for determining the quality of circuit elements according to the present invention. LP... Indicator light, SCR... Thyristor, EX-OR... Exclusion logic compensation element, M...
···memory.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 表示灯とサイリスタを直列に接続し、このサイリス
タの点弧によって表示灯が点灯する無接点表示灯点灯方
式において、前記サイリスクのゲートに印加する点弧用
信号電圧と該サイリスタのアノードに現出する電圧とを
入力する排他的論埋和回路を備え、この排他的論埋和回
路の入力信号の変化の状態に基いて生ずる出力信号の有
無によって、前記表示灯の断芯・サイリスタの導通破壊
を自動的に検出するようにしたことを特徴とする回路素
子の良否判定装置。
1 In a non-contact indicator lighting method in which an indicator light and a thyristor are connected in series and the indicator light is lit by the ignition of the thyristor, the ignition signal voltage applied to the gate of the thyristor and the voltage appearing at the anode of the thyristor are The exclusive logic summation circuit inputs the voltage of A device for determining the quality of a circuit element, characterized in that it automatically detects the
JP52119009A 1977-10-05 1977-10-05 Circuit element quality determination device Expired JPS5812719B2 (en)

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