JPS5811877A - 交流通電寿命試験回路 - Google Patents
交流通電寿命試験回路Info
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- JPS5811877A JPS5811877A JP56109313A JP10931381A JPS5811877A JP S5811877 A JPS5811877 A JP S5811877A JP 56109313 A JP56109313 A JP 56109313A JP 10931381 A JP10931381 A JP 10931381A JP S5811877 A JPS5811877 A JP S5811877A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/54—Testing for continuity
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子部品の交流通電寿命試験回路に関するもの
である。
である。
従来は多数の電子部品の交流通電寿命を試験する場合１
例えば第１図に示されているように１各軍子部品を並列
に結線し、交流の定電圧電源から電力を供給するように
した回路で行なっていた。図において、１αｌ”ｌ”ｌ
・・・・・・は所定の抵抗値を有する電子部品の試料、
２は交流の定電圧電源、３α、３ｈ、３ｃ・・・・・・
・は電流計である。
例えば第１図に示されているように１各軍子部品を並列
に結線し、交流の定電圧電源から電力を供給するように
した回路で行なっていた。図において、１αｌ”ｌ”ｌ
・・・・・・は所定の抵抗値を有する電子部品の試料、
２は交流の定電圧電源、３α、３ｈ、３ｃ・・・・・・
・は電流計である。
今、このような回路で試料１α、１ｂ、・・・の寿命を
試験している間に、試料１αの抵抗値が異常に大きくな
ったりあるいは断線したとすると、試料１αを通る電流
が少なくなり、電流計３αの針のふれが小さくなる。し
たがって、従来は、電流計の針のふれの大きさにより、
試料に寿命がきたかどうかの判断をしていた。
試験している間に、試料１αの抵抗値が異常に大きくな
ったりあるいは断線したとすると、試料１αを通る電流
が少なくなり、電流計３αの針のふれが小さくなる。し
たがって、従来は、電流計の針のふれの大きさにより、
試料に寿命がきたかどうかの判断をしていた。
しかしながら、上記の従来回路では、各試料に流れる電
流は試料の初期抵抗値のばらつきに従ってばらつくこと
になる。すなわち、初期抵抗値の小さな試料には大きな
電流が流れ、初期抵抗値の小さな試料は他の初期抵抗値
の大きな試料に比べてより苛酷な条件で試験されること
になる。このため、従来回路は試料の初期特性の差を強
調、加速して寿命試験を行なうことになるという欠点が
あった。
流は試料の初期抵抗値のばらつきに従ってばらつくこと
になる。すなわち、初期抵抗値の小さな試料には大きな
電流が流れ、初期抵抗値の小さな試料は他の初期抵抗値
の大きな試料に比べてより苛酷な条件で試験されること
になる。このため、従来回路は試料の初期特性の差を強
調、加速して寿命試験を行なうことになるという欠点が
あった。
本発明の目的は、評価されるべき大量の電子部品の初期
特性のばらつきにより、各試料に流れる電流が、まちま
ちになるという従来の検出技術の欠点をなくし、各試料
に流れる電流を等１しくして、寿命の適正な評価および
解析を容易に行なえるようにした交流通°也寿命試験回
路を提供するにある。
特性のばらつきにより、各試料に流れる電流が、まちま
ちになるという従来の検出技術の欠点をなくし、各試料
に流れる電流を等１しくして、寿命の適正な評価および
解析を容易に行なえるようにした交流通°也寿命試験回
路を提供するにある。
本発明は、直列に結線され几試料に交流の定電流電源に
よって電力を供給することにより、各試料に流れる電流
を等しくし、かつ各試料に並列にバイパス回路とそれＫ
’ＰＩＩ流が流れたことを報知する報知手段を設けて
、試料に寿命かきたとき、このバイパス回路に１直流が
流れるようにすることにより、故障に至らない試料の通
電状態に悪影響を与えることなく通電寿命試験を続行で
きるようにすると共に試料に寿命がきたことを報知する
ようにした点に特徴がある。
よって電力を供給することにより、各試料に流れる電流
を等しくし、かつ各試料に並列にバイパス回路とそれＫ
’ＰＩＩ流が流れたことを報知する報知手段を設けて
、試料に寿命かきたとき、このバイパス回路に１直流が
流れるようにすることにより、故障に至らない試料の通
電状態に悪影響を与えることなく通電寿命試験を続行で
きるようにすると共に試料に寿命がきたことを報知する
ようにした点に特徴がある。
以下に、本発明を実施例によって説明する。
第２図は本発明の一実施例を示し、故障モードが断線、
半断線あるいは抵抗増の電子部品において初期のノミナ
ル（公称値）抵抗が２００の電子部品２０個の交流通電
寿命試験を行う場合の回路を示す。図において、２０個
の試料１は直列に接続されて、交流の定電流電源５に結
線されている。各サンプル１には、並列に双方向のパワ
ー素子、例えばリードリレー４、および逆並列に接続さ
れたホトサイリスタカプラ６中のＬＥＤの両端に逆直列
に挿入された所定のトリガ電圧を有するトリガダイオー
ド５から成る交流回路が接続されている。また各ホトサ
イリスタカブラ乙のホトサイリスタに直列に表示用ＬＥ
Ｄ７が接続された２０個の直流回路が直流の定電圧電源
９に並列に結線式れている。ここに、表示用ＬＥＤ７は
前記双方向のパワー素子４とトリガダイ第−ド５によっ
て構成されるバイパス回路に電流が流れたととを報知す
る働きをする。
半断線あるいは抵抗増の電子部品において初期のノミナ
ル（公称値）抵抗が２００の電子部品２０個の交流通電
寿命試験を行う場合の回路を示す。図において、２０個
の試料１は直列に接続されて、交流の定電流電源５に結
線されている。各サンプル１には、並列に双方向のパワ
ー素子、例えばリードリレー４、および逆並列に接続さ
れたホトサイリスタカプラ６中のＬＥＤの両端に逆直列
に挿入された所定のトリガ電圧を有するトリガダイオー
ド５から成る交流回路が接続されている。また各ホトサ
イリスタカブラ乙のホトサイリスタに直列に表示用ＬＥ
Ｄ７が接続された２０個の直流回路が直流の定電圧電源
９に並列に結線式れている。ここに、表示用ＬＥＤ７は
前記双方向のパワー素子４とトリガダイ第−ド５によっ
て構成されるバイパス回路に電流が流れたととを報知す
る働きをする。
このような回路において、寿命試験の開始時には、直列
に結線された２０個の試料１はインピーダンス２０Ωで
全て導通状態にあるものとす谷また交流の定電流電源６
は実効値で１００ｍ、４を供給するように設定されてい
るものとする。したがって、各試料１の両端には２ｒｒ
１ｎＩの電圧が発生しているととＫなり、正常な通電状
態のときには、各試料には最大約２８ＶＯｐの電圧がか
かる。
に結線された２０個の試料１はインピーダンス２０Ωで
全て導通状態にあるものとす谷また交流の定電流電源６
は実効値で１００ｍ、４を供給するように設定されてい
るものとする。したがって、各試料１の両端には２ｒｒ
１ｎＩの電圧が発生しているととＫなり、正常な通電状
態のときには、各試料には最大約２８ＶＯｐの電圧がか
かる。
ホトサイリスタカプラ６中のＬＥＤとトリガダイオード
５の順方向降下電圧Ｖｙを考慮して、トリガダイオード
５としてツェナーダイオードを用いた場合のツェナー電
圧を４ｒ程度に設定すると、いずれかのサンプルが、断
線、半断線あるいは抵抗増（本実施例では、初期の２倍
の４０ｔ）になったとき、そのときの交流の相によって
上下いずれかのトリガダイオード５が導通する。そうす
ると、ホトサイリスタカブラ６が導通してリードリレー
４が閉じ、異常試料をバイパスすると同時にＬＥＤ７が
点灯し、異常試料を表示する。
５の順方向降下電圧Ｖｙを考慮して、トリガダイオード
５としてツェナーダイオードを用いた場合のツェナー電
圧を４ｒ程度に設定すると、いずれかのサンプルが、断
線、半断線あるいは抵抗増（本実施例では、初期の２倍
の４０ｔ）になったとき、そのときの交流の相によって
上下いずれかのトリガダイオード５が導通する。そうす
ると、ホトサイリスタカブラ６が導通してリードリレー
４が閉じ、異常試料をバイパスすると同時にＬＥＤ７が
点灯し、異常試料を表示する。
本実施例においてトリガダイオードとしてのツェナーダ
イオードのツェナー電圧を変更すれば抵抗増モードの寿
命のスレシーホールドの変更が可能である。また、いず
れかの試料が寿命に達して、バイパス回路が動作すると
き、急激な電圧変動があるので、故障に至らない試料を
保護するためリードリレー４に並列に第３図で示す抵抗
、およびコンデンサからなる保護回路１０αを挿入する
のが望ましい。
イオードのツェナー電圧を変更すれば抵抗増モードの寿
命のスレシーホールドの変更が可能である。また、いず
れかの試料が寿命に達して、バイパス回路が動作すると
き、急激な電圧変動があるので、故障に至らない試料を
保護するためリードリレー４に並列に第３図で示す抵抗
、およびコンデンサからなる保護回路１０αを挿入する
のが望ましい。
第４図は本発明の第２実施例である。本実施例は前記第
１実施例のリードリレー４の代りに双方向サイリスタ１
１を用い九場合の例である。
１実施例のリードリレー４の代りに双方向サイリスタ１
１を用い九場合の例である。
第４図には試料１とその並列回路の１ブロツクのみが記
されており、第２図に記されている交流の定電流電源３
や他のブロックの試料およびその並列回路は省略されて
いる。
されており、第２図に記されている交流の定電流電源３
や他のブロックの試料およびその並列回路は省略されて
いる。
本実施例の回路では試料１に並列に双方向サイリスタ１
１が接続され、さらにこの双方向サイリスタ１１をトリ
ガするためのダイオード１２α。
１が接続され、さらにこの双方向サイリスタ１１をトリ
ガするためのダイオード１２α。
１２ｈおよびトリガダイオード５が接続されている。今
、例えば、試料１に寿命がきてその端子間電圧が上った
とすると、その端子間電圧はそのサイクル毎にダイオー
ド１２α、１２ｂを通ってトリガダイオード５に印加さ
れ、トリガダイオードとしてツェナーダイオードを使用
した場合のツェナ電圧以上の電圧が印加されたとき、ト
リガダイオード５は導通する。トリガダイオード５が導
通すると、ホトサイリスタカプラ６はオンになると共に
双方向サイリスタ１１はトリガされる。これによって、
故障した試料１はバイパスされ、残りの正常な試料に適
正な電流が供給され続けるので、正常な試料の寿命試験
当初と同じ条件の下で続行することができろ。
、例えば、試料１に寿命がきてその端子間電圧が上った
とすると、その端子間電圧はそのサイクル毎にダイオー
ド１２α、１２ｂを通ってトリガダイオード５に印加さ
れ、トリガダイオードとしてツェナーダイオードを使用
した場合のツェナ電圧以上の電圧が印加されたとき、ト
リガダイオード５は導通する。トリガダイオード５が導
通すると、ホトサイリスタカプラ６はオンになると共に
双方向サイリスタ１１はトリガされる。これによって、
故障した試料１はバイパスされ、残りの正常な試料に適
正な電流が供給され続けるので、正常な試料の寿命試験
当初と同じ条件の下で続行することができろ。
ホトサイリスタカプラ６は一度オンにされると、その状
態が保持されるので、直流電源９から電力を供給されて
いるＬＥＩ）７は発光１〜続ける。
態が保持されるので、直流電源９から電力を供給されて
いるＬＥＩ）７は発光１〜続ける。
したがって、ＬＥＤ７の発光により、それに対応した試
料１に寿命が来たことを知ることができる本実施例は、
上記のような回路講成であるの − で、第１実施例の双方向ホトサイリスタカブラ６に代え
て単方向のホトサイリスタカブラ又はホトトランジスタ
カプラを用いることができもまた本実施例の場合、双方
向サイリスタ１１が導通する前後で、急激な電圧変動が
ある。故障に至らない試料が少くなってくるに従ってと
の傾向は激しくなるので、やはりｗＪｓ図に示すような
保護回路１０αを必ず双方向サイリスタ１１に並列に結
線する必要がある。
料１に寿命が来たことを知ることができる本実施例は、
上記のような回路講成であるの − で、第１実施例の双方向ホトサイリスタカブラ６に代え
て単方向のホトサイリスタカブラ又はホトトランジスタ
カプラを用いることができもまた本実施例の場合、双方
向サイリスタ１１が導通する前後で、急激な電圧変動が
ある。故障に至らない試料が少くなってくるに従ってと
の傾向は激しくなるので、やはりｗＪｓ図に示すような
保護回路１０αを必ず双方向サイリスタ１１に並列に結
線する必要がある。
第５図は本発明の第６実施例を示し、単一の交流定電流
電源で、試料の試験とＬＥＤの発光を行なわせたもので
ある。第５図には第４図と同様試料１とその並列回路の
１ブロツクのみが示されており、第２図に記されている
交流の定電流電源６や他のブロックの試料およびその並
列回路は省略されている。
電源で、試料の試験とＬＥＤの発光を行なわせたもので
ある。第５図には第４図と同様試料１とその並列回路の
１ブロツクのみが示されており、第２図に記されている
交流の定電流電源６や他のブロックの試料およびその並
列回路は省略されている。
今、試料１に寿命がきてその端子間電圧が上昇したとす
ると、整流器１３をへてトリガダイオード５に印加され
る電圧が上昇し、トリガダイオードとしてツェナーダイ
オードを使用した場８ ・ 合その電圧がツェナ電圧をこえると、トリガダイオード
５はオンになる。このため、サイリスタ１４はオンにな
り、試料１けバイパスされる。
ると、整流器１３をへてトリガダイオード５に印加され
る電圧が上昇し、トリガダイオードとしてツェナーダイ
オードを使用した場８ ・ 合その電圧がツェナ電圧をこえると、トリガダイオード
５はオンになる。このため、サイリスタ１４はオンにな
り、試料１けバイパスされる。
したがって、残りの正常な試料には所定の電流が供給さ
れ、残りの試料の寿命試験が適正な状態で続行される。
れ、残りの試料の寿命試験が適正な状態で続行される。
一方、サイリスタ１４がオンすると、 ＬＥ、Ｄ７は発
光し、このＬＥｍに対応した試料に寿命がきたことを報
知する。
光し、このＬＥｍに対応した試料に寿命がきたことを報
知する。
本実施例においても、第２実施例と同様にサイリスタ１
４がスイッチオンする前後の電圧変動が激しいので、第
６図に示すような保護回路１０Ａをサイリスタ１４に並
列に接続することか望ましい。
４がスイッチオンする前後の電圧変動が激しいので、第
６図に示すような保護回路１０Ａをサイリスタ１４に並
列に接続することか望ましい。
以上のように本発明の交流通７に寿命試験回路によれば
、大量の試料に最初から最後まで同一の電流を供給して
、通電投合の試験を行なうことができ、しかも寿命に達
１−た試料を途中で除去することなく継続して試験する
ことが可能であるという効果がある。
、大量の試料に最初から最後まで同一の電流を供給して
、通電投合の試験を行なうことができ、しかも寿命に達
１−た試料を途中で除去することなく継続して試験する
ことが可能であるという効果がある。
第１図は従来の交流通電寿命試験回路の回路図、第２図
、第４図および第５図はそれぞれ本発明の実施例の回路
図、第３図および第６図は急激な電圧の変動を防止する
回路の回路図を示す。 １・・・試料、 ３・・・交流の定電流電源
、 ４・・・リードリレー、 ５・・・定電圧ダイオード、７・・・ＬＥＤ ０代理人
弁理士 薄 １）利、−蚕、
、第４図および第５図はそれぞれ本発明の実施例の回路
図、第３図および第６図は急激な電圧の変動を防止する
回路の回路図を示す。 １・・・試料、 ３・・・交流の定電流電源
、 ４・・・リードリレー、 ５・・・定電圧ダイオード、７・・・ＬＥＤ ０代理人
弁理士 薄 １）利、−蚕、
Claims (3)
- （１）交流定電流電源と、該交流定電流電源に直列に接
続された複数個の試料と、パワー素子と交流の１サイク
ル中の正負両方向の電圧が所定電圧以上になったとき前
記パワー素子をトリガするトリガ素子とを含む該試料の
各々に並列に接続されたバイパス回路と、該バイパス回
路に電流が流れたことを報知する報知手段とを具備した
ことを特徴とする交流通電寿命試験回路。 - （２）前記報知手段が前記交流定電流電源から電力を受
けるようにされていることを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の交流通電寿命試験回路。 - （３）前記報知手段・が前記交流定電流電源とは別電源
から電力を受けるようにされていることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の交流通電寿命試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56109313A JPS5811877A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 交流通電寿命試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56109313A JPS5811877A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 交流通電寿命試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5811877A true JPS5811877A (ja) | 1983-01-22 |
Family
ID=14507037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56109313A Pending JPS5811877A (ja) | 1981-07-15 | 1981-07-15 | 交流通電寿命試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5811877A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4936693A (en) * | 1985-05-28 | 1990-06-26 | Tokyo Electric Co., Ltd. | Label printing device |
| WO2007095887A2 (de) * | 2006-02-23 | 2007-08-30 | Obo Bettermann Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur überprüfung einer elektrotechnischen platine mit einer leiterbahn |
-
1981
- 1981-07-15 JP JP56109313A patent/JPS5811877A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4936693A (en) * | 1985-05-28 | 1990-06-26 | Tokyo Electric Co., Ltd. | Label printing device |
| WO2007095887A2 (de) * | 2006-02-23 | 2007-08-30 | Obo Bettermann Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur überprüfung einer elektrotechnischen platine mit einer leiterbahn |
| WO2007095887A3 (de) * | 2006-02-23 | 2007-12-06 | Bettermann Obo Gmbh & Co Kg | Vorrichtung zur überprüfung einer elektrotechnischen platine mit einer leiterbahn |
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