JPS58117584A - Display device array substrate - Google Patents

Display device array substrate

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JPS58117584A
JPS58117584A JP57000073A JP7382A JPS58117584A JP S58117584 A JPS58117584 A JP S58117584A JP 57000073 A JP57000073 A JP 57000073A JP 7382 A JP7382 A JP 7382A JP S58117584 A JPS58117584 A JP S58117584A
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JP
Japan
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substrate
display device
switching transistor
silicon
display
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JP57000073A
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Japanese (ja)
Inventor
俊夫 柳澤
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の属する技術分野) 本発明は、スイッチング、トランジスタ/キャパシタプ
レイを用いたアクティブ・マトリックス形表示デバイス
の基板として用いるアレイ基板に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an array substrate used as a substrate for an active matrix type display device using switching and transistor/capacitor play.

(従来技術とその問題点) 表示デバイスは、CRTを中心として広く用いられてい
る。近年、−晶全中心とした平面ディスプレイが普及し
つつある。特に最近では、アクティブ・マトリックス基
板と呼ばれる表示面素毎に非線形素子を付加する種類の
表示デバイスの研究開発が盛んになってきた。なかでも
スイッチング・トランジスタ/キャパシターアレイと液
晶の組合わせが最も盛んである。第1図は、液晶表示用
スイッチング・トランジスタ/キャパシタプレイの等価
回路図で、液晶に印加する駆動電圧を蓄積する信号蓄積
キャパシタ1、およびこのキャパシタ1への駆動電圧の
供給を制御するスイッチング・トランジスタとしてのM
OS FET 2がシリコン等の半導体基板上にマトリ
ックス状に集積形成されている。Xl、X、、、・は!
J8 FIT 2のゲートを制御するアドレスライン%
Yt、Y、・・・はキャパシタ1に例えば並列画像信号
等の駆動電圧を供給するためのデータ入力ラインであり
、これらも半導体基板に形成されている。このように素
子および配線が形成された半導体基板上には絶縁膜を介
して各画素毎に分離された表示電極3が形成され、キャ
パシタ1に蓄積された駆動電圧がこの表示電極3に印加
されるようになっている。そしてこのスイッチング・ト
ランジスタ/キャパシタアレイおよび表示電極が形成さ
れた半導体基板と、透明基板上に全面木に共通の透明電
極を形成し九対向基板との間に液晶層を挾持してマトリ
ックス形液晶表示装置が構成されることになる。
(Prior art and its problems) Display devices are widely used, mainly CRTs. In recent years, planar displays with a -crystalline center are becoming popular. Particularly recently, research and development of a type of display device called an active matrix substrate in which a nonlinear element is added to each display surface element has become active. Among these, combinations of switching transistor/capacitor arrays and liquid crystals are the most popular. Figure 1 is an equivalent circuit diagram of a switching transistor/capacitor play for liquid crystal displays, including a signal storage capacitor 1 that stores the driving voltage applied to the liquid crystal, and a switching transistor that controls the supply of the driving voltage to this capacitor 1. M as
OS FETs 2 are integrated and formed in a matrix on a semiconductor substrate made of silicon or the like. Xl, X,...ha!
Address line that controls the gate of J8 FIT 2%
Yt, Y, . . . are data input lines for supplying driving voltages such as parallel image signals to the capacitor 1, and these are also formed on the semiconductor substrate. On the semiconductor substrate on which the elements and wiring are formed in this way, a display electrode 3 is formed which is separated for each pixel via an insulating film, and the drive voltage stored in the capacitor 1 is applied to the display electrode 3. It has become so. A matrix type liquid crystal display is produced by sandwiching a liquid crystal layer between the semiconductor substrate on which the switching transistor/capacitor array and display electrodes are formed, a common transparent electrode formed on the entire surface of the transparent substrate, and an opposing substrate. The device will be configured.

第2図は、84  基板を用い九場合の表示用スイッチ
ングトランジスタ/キャノくシタアレイ基板の断面図の
一例である。
FIG. 2 is an example of a cross-sectional view of a display switching transistor/capacitor array substrate using 84 substrates.

21はスイッチング・トランジスタであり、22は信号
蓄積キャパシタである。スイッチング・トランジスタ2
1は、ドレイン23、ゲート25、ソース24から成る
。ドレイン23はデータ人力ライン26に接続されてい
る。27はドレイン23、ソース24とは反対導電型の
不純物を含む半導体基板である。この場合、キャパシタ
電極29は1表示電極を兼ねている。
21 is a switching transistor and 22 is a signal storage capacitor. switching transistor 2
1 consists of a drain 23, a gate 25, and a source 24. Drain 23 is connected to data line 26 . 27 is a semiconductor substrate containing impurities of a conductivity type opposite to that of the drain 23 and source 24. In this case, the capacitor electrode 29 also serves as one display electrode.

半導体基板27としてSiの単結晶を用い、ドレイン2
3と基板27との間でPN接合の逆耐圧不良28を発生
した場合、基板27は通常接地あるいは一定の電位に保
持されているため、ドレイン23にIl!続しているデ
ータ人力ライン26の電位は基板電位に固定され、信号
蓄積キャパシタ22に電荷が蓄積されず。
A single crystal of Si is used as the semiconductor substrate 27, and the drain 2
3 and the substrate 27, the substrate 27 is usually grounded or held at a constant potential, so that the drain 23 has Il! The potential of the connected data line 26 is fixed to the substrate potential, and no charge is accumulated in the signal storage capacitor 22.

プレイ基板20上の表示材料を駆動することかで龜なく
なる。さらに基板電位に固定されたデータ入力ライン2
6に接続される全ての画素も表示不能となり、線状に表
示不能画素が連なることになる(以後、線欠陥と呼ぶ)
Driving the display material on the play board 20 eliminates the problem. Furthermore, the data input line 2 is fixed to the substrate potential.
All pixels connected to 6 also become undisplayable, resulting in a line of undisplayable pixels (hereinafter referred to as a line defect).
.

この種のPN 接合不良に起因する線欠陥は、素子間分
離法として誘電体分離を用い、各画素トランジスタの基
板を独立させることによp、PN接合不良を発生してい
る画素だけの欠陥(以後、点欠陥と呼ぶ)に抑えること
ができる。表示デバイスにおいては、線欠陥は許されな
いが、点欠陥なら0.01 Z J度は、許される。こ
の種の手法としては808(5ilicon On 8
aphire )を用いた例がある。しかしながらSO
8は、サファイヤ上に単結晶のシリコンを得らnるもの
のウエノ・−が高価(Siwaferの10倍近い)で
あり、また、工程も長くコストが高くなってしまう欠点
があった。また他の手法としては、ガラス基板上にアモ
ルファスS1、ポリS1あるいはCd8e等の化合物半
導体を用いる方法がある。
Line defects caused by this type of PN junction defect can be eliminated by using dielectric isolation as an element isolation method and making the substrate of each pixel transistor independent. (hereinafter referred to as point defects). In display devices, line defects are not allowed, but point defects of 0.01 Z J degree are allowed. This type of method is 808 (5ilicon On 8
There is an example using aphire). However, S.O.
No. 8 can obtain single-crystal silicon on sapphire, but it is expensive (nearly 10 times that of Siwafer) and has the disadvantage that the process is long and the cost is high. Another method is to use a compound semiconductor such as amorphous S1, poly S1, or Cd8e on a glass substrate.

しかしガラス基板上では単結晶は得られず荷電担体の移
動度の値は余り大きくない。従って画素のスイッチ・ト
ランジスタとしては用いることができるが、より高い周
波数で動かなければならない該アレイの駆動回路には適
用できなかった。そのため駆動回路は外部に設けなけれ
ばならず、#アレイと外部との接続数は膨大になってし
まう欠点があった。外部との接続を減らす丸めに同一基
板上に可能な限り画素アレイの駆動回路を集積化するこ
とは当然の要求である。
However, a single crystal cannot be obtained on a glass substrate, and the value of the mobility of charge carriers is not very large. Therefore, although it can be used as a pixel switch transistor, it cannot be applied to the drive circuit of the array, which must operate at a higher frequency. Therefore, the drive circuit must be provided externally, and the number of connections between the #array and the outside becomes enormous. It is a natural requirement to integrate as many pixel array drive circuits on the same substrate as possible to reduce external connections.

また、 SOSあるいは、ガラス基板上のポリないしア
モルファス半導体を用いたマトリックス・アレイに共通
の欠点として、駆動電圧蓄積キャパシタの一方の電極(
通常は、半導体層側の下側電釦を、フローティングとす
るか、下側電極どうしを接続し、外部に取シだす配線を
設けなければならなかった。下側電極をフロラティング
とする場合は蓄積キャパシタの機能が不安定であシ信頼
性に欠ける。また、下#l電極接続配線を設けると、蓄
積キャパシタ面積・容量が減少し1表示機能の低下をも
たらす、さらに、配線長・配線交差点の増加によシ、素
子製造上の工程数の増加あるいは歩留り・11頼性の低
下をまねく場合があった。
Also, a common drawback of SOS or matrix arrays using poly or amorphous semiconductors on glass substrates is that one electrode of the drive voltage storage capacitor (
Normally, the lower electric button on the semiconductor layer side had to be floating, or the lower electrodes had to be connected to each other, and wiring had to be provided to take them out to the outside. When the lower electrode is floated, the function of the storage capacitor becomes unstable and lacks reliability. In addition, if a lower #l electrode connection wiring is provided, the area and capacitance of the storage capacitor will be reduced, resulting in a deterioration of the display function.Furthermore, the wiring length and wiring intersections will increase, resulting in an increase in the number of steps in device manufacturing. In some cases, this resulted in a decrease in yield and reliability.

(発明の目的) 本発明は上記従来技術の欠点に鑑みなされ九もので、単
結晶シリコン基板上に絶縁膜および半導体層を順次設け
、咳半導体層にスイッチング・トランジスタ、シリコン
単結晶部にキャパシタを持つプレイを形成し、さらに基
板のシリコン単結晶部により速度の高い回路を設けるこ
とにより欠陥が少なく、集積度が高く、高速の周辺回路
を備え。
(Object of the Invention) The present invention has been developed in view of the drawbacks of the prior art described above, and consists of sequentially forming an insulating film and a semiconductor layer on a single-crystal silicon substrate, a switching transistor in the semiconductor layer, and a capacitor in the silicon single-crystal part. Furthermore, by forming high-speed circuits on the silicon single crystal part of the substrate, it has fewer defects, has a high degree of integration, and has high-speed peripheral circuits.

しかも価格がSi単結晶IC並みで、蓄積キャパシタ性
能が高く、信頼性の高い表示表バイス用プレイを提供す
るものである。
Moreover, the price is comparable to that of a Si single crystal IC, the performance of the storage capacitor is high, and the device provides a display device with high reliability.

(発明の実施例) 以ド、図面を参照しながら1本発明の実施例を具体的に
説明する。
(Embodiments of the Invention) Hereinafter, an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

第3図は1本発明の一実施例を示す断面図である。シリ
コン単結晶基板31上にシリコン窒化膜32を設け、そ
の上にアモルファスシリコン層33ヲ用いたスイッチン
グ・トランジスタ34のアレイを設ffる。各スイッチ
ング・トランジスタには、シリコン単結晶基板上に設け
られたキャパシタ35が接続されている。スイッチング
・トランジスタ間はシリコン窒化膜32により分離され
ている。該シリコン窒化膜32は、キャパシタ35の電
極間絶縁膜を兼ねている。基板のシリコン単結晶には、
lll1素スイツチング・トランジスタ34のゲート電
極36を駆動するためのシフト・レジスタ回路37を設
けである。この構造によシ、点欠陥はあるが、線欠陥は
無い基板が得られる。しかも画素スイッチ・トランジス
タのゲートの駆動回路を集積化できるため、外部との接
続数の少ない表示デノ(イス用プレイ基板を得ることが
できる。中ヤノくシタ35の下側電極は基板であシ、接
地されているので、新ためて下側電極配線をする必要が
ない。このプレイ基板を用いて液晶表示素子を製作すれ
ば’rvlllj儂を表示することができる。
FIG. 3 is a sectional view showing an embodiment of the present invention. A silicon nitride film 32 is provided on a silicon single crystal substrate 31, and an array of switching transistors 34 using an amorphous silicon layer 33 is provided thereon. A capacitor 35 provided on a silicon single crystal substrate is connected to each switching transistor. The switching transistors are separated by a silicon nitride film 32. The silicon nitride film 32 also serves as an interelectrode insulating film of the capacitor 35. The silicon single crystal of the substrate has
A shift register circuit 37 is provided for driving the gate electrode 36 of the switching transistor 34. With this structure, a substrate with point defects but no line defects can be obtained. Moreover, since the drive circuit for the gate of the pixel switch transistor can be integrated, it is possible to obtain a display board for a display device (chair) with fewer connections to the outside. Since it is grounded, there is no need to newly wire the lower electrode.If a liquid crystal display element is manufactured using this playback board, it is possible to display 'rvllljme'.

第4図は1本発明の他の実施例である。シリコン単結晶
基板41上にシリコン酸化膜42を設け、その上にポリ
シリコン層43を設ける。画素のスイッチング・トラン
ジスタ44は、該ポリシリコン層43上に設ける。とな
りあう画素のスイッチング・トランジスタ44は、フィ
ードシリコン酸化膜46と下地のシリコン酸化膜42に
よシ絶縁分離されている。各スイッチング・トランジス
タ44には、シリコン単結晶上に形成された駆動電圧蓄
積キャパシタ45が接続されている。キャパシタ45は
、下側電極としての基板41と、基板上に薄く形成され
た酸化膜48と、上側電極49とで、形成されている。
FIG. 4 shows another embodiment of the present invention. A silicon oxide film 42 is provided on a silicon single crystal substrate 41, and a polysilicon layer 43 is provided thereon. A pixel switching transistor 44 is provided on the polysilicon layer 43. The switching transistors 44 of adjacent pixels are insulated and separated by a feed silicon oxide film 46 and an underlying silicon oxide film 42. Connected to each switching transistor 44 is a drive voltage storage capacitor 45 formed on a silicon single crystal. The capacitor 45 is formed of a substrate 41 as a lower electrode, an oxide film 48 thinly formed on the substrate, and an upper electrode 49.

またシリコン単結晶部分には駆動回路47も形成され、
スイッチング・トランジスタ44を駆動する。この場合
、ポリシリコンは高温プロセスにも耐え潜るため、シリ
コン単結晶上の駆動回路部47とポリシリコン層43上
のスイッチング・トランジスタ44および信号蓄積キャ
パシタ45は同一のプロセスで同時に製作することがで
きる。このアレイ基板を用いて液晶表示素子を製作し、
線欠陥のない、良質な表示性能を持ったつしかも外部と
の結線数の少ない゛rv画t1表示デバイスを得ること
かで色る。
A drive circuit 47 is also formed in the silicon single crystal portion,
The switching transistor 44 is driven. In this case, since polysilicon can withstand high-temperature processes, the drive circuit section 47 on the silicon single crystal and the switching transistor 44 and signal storage capacitor 45 on the polysilicon layer 43 can be manufactured simultaneously in the same process. . A liquid crystal display element is manufactured using this array substrate,
The key is to obtain an RV image t1 display device that is free from line defects, has high quality display performance, and has a small number of external connections.

以上では、絶縁膜上の半導体層としてアモルファス・シ
リコンノーおよびポリ・シリコン層の場合について説明
してきたが、Cd8e、Q10等の化合物半導体ノーで
あっても曳い。該絶縁膜もシリコン窒化膜・シリコン酸
化膜の場合について述べてき九が。
In the above, the case where an amorphous silicon layer and a polysilicon layer are used as the semiconductor layer on the insulating film has been described, but the same applies to compound semiconductor layers such as Cd8e and Q10. The case where the insulating film is also a silicon nitride film or a silicon oxide film has been described above.

酸化アルミニウム等であっても良い。該キャノくシタの
電極間絶縁膜は、基板−トランジスタ間の絶縁膜でもよ
いし、別のプロセス、例えば、ゲート酸化工程で別途製
作してもよい、tた、表示材料としては液晶材料の場合
についてのみ説明して龜たが、エレクトロ・クロミック
°、エレクトロ・ルミネセンス、薄膜メタル蒸着?イル
ムを用いたライト・バルブ、あるいは螢光表示方式であ
っても良い。周辺駆動回路については、X軸駆動回路を
集積化した場合について述べて無だが、Y軸駆動回路を
も集積することももちろん可能である。実施例では、ゲ
ート材料については述べなかったが、通常用いられるA
lやpoiy−8iの他の陽やIIA等を用いることも
もちろん可能である。
Aluminum oxide or the like may also be used. The interelectrode insulating film of the canopy may be an insulating film between the substrate and the transistor, or may be separately manufactured by another process, for example, a gate oxidation process.Also, if the display material is a liquid crystal material. I only explained about electrochromic °, electroluminescence, thin film metal deposition? A light bulb using an ilm or a fluorescent display method may be used. Regarding the peripheral drive circuit, although the case where the X-axis drive circuit is integrated has not been described, it is of course possible to integrate the Y-axis drive circuit as well. Although the gate material was not described in the examples, commonly used A
Of course, it is also possible to use other positives such as l and poiy-8i, IIA, etc.

(発明の効果) 以上説明した様に1本発明によれば駆動回路を集積化し
た欠陥の少ない表示デバイス用アレイを提供することが
出来る。また、ウェハー1枚あたシのコストは1通常の
シリコン単結晶ICと同機度であシ1歩留シも向上する
。従って、−チップあたりのコストの低い表示デバイス
用プレイを提供することができる。また、シリコン単結
晶基板に訃いては、強い光を入射した場合、信号蓄積キ
ャパシタの基板側の°燻荷が画素スイッチング・トラン
ジスタのソースにリークすることがらつ九。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, it is possible to provide an array for display devices with fewer defects in which drive circuits are integrated. Further, the cost per wafer is the same as that of a normal silicon single crystal IC, and the yield per wafer is also improved. Therefore, it is possible to provide a play for a display device with a low cost per chip. Furthermore, when a silicon single crystal substrate is used, when strong light is incident, the smoke on the substrate side of the signal storage capacitor tends to leak to the source of the pixel switching transistor.

本発明によれば、画素スイッチング・トランジスタと信
号蓄積コンデンサを誘電分誰することができるため、上
記の光り−ク現象を防ぐことかできる。
According to the present invention, since the pixel switching transistor and the signal storage capacitor can be dielectrically divided, the above-mentioned light leakage phenomenon can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、液晶表示スイッチング・トランジスタ/キャ
パシタアレイの等価回路図、第2図は、表示用スイッチ
ング・トランジスタ/キャパシタアレイ基板の従来例の
断面図、第3図は、本発明の一実施例の断面図、第4図
は1本発明の他の実施例の断面図である。 1.22・・信号蓄積キャパシタ 2.21・・・スイッチング・トランジスタ(tvL)
8 FET)3・・・ 表示電極、23・・・ドレイン
、26・・・ データ人力ライン、28・・・PN接合
逆耐圧不31.41・・シリコン単結晶基板(キャパシ
タの下側電型) 32・・シリコン窒化膜 42・・・シリコン酸化膜 33・・・アモルファス・シリコン層、43・・・ポリ
・シリコン層 34.44・・・スイッチング・トランジスタ。 35.45・・・駆動電圧蓄積キャパシタ36  ・ゲ
ート、 46・・・フィールド酸化碩、37.47・・
・駆動回路部 48・・・薄いシリコン酸化膜 49・・キャパシタの上側電極
FIG. 1 is an equivalent circuit diagram of a liquid crystal display switching transistor/capacitor array, FIG. 2 is a sectional view of a conventional display switching transistor/capacitor array substrate, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a cross-sectional view of another embodiment of the present invention. 1.22... Signal storage capacitor 2.21... Switching transistor (tvL)
8 FET) 3...Display electrode, 23...Drain, 26...Data power line, 28...PN junction reverse breakdown voltage 31.41...Silicon single crystal substrate (lower voltage type of capacitor) 32...Silicon nitride film 42...Silicon oxide film 33...Amorphous silicon layer, 43...Poly silicon layer 34.44...Switching transistor. 35.45... Drive voltage storage capacitor 36 - Gate, 46... Field oxidation, 37.47...
・Drive circuit section 48...thin silicon oxide film 49...upper electrode of capacitor

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)  シリコン単結晶基板上に絶縁膜を介して部分
的に半導体層を設け、該半導体層に表示材料の駆動電圧
を制御するスイッチングトランジスタを。 シリコン単結晶基板上にキャパシタを持つアレイを形成
し、かつ該プレイを駆動する回路部を前記シリコン単結
晶基板に形成してなることを特徴とする表示デバイス用
アレーイ基板。
(1) A semiconductor layer is partially provided on a silicon single crystal substrate with an insulating film interposed therebetween, and a switching transistor for controlling the drive voltage of the display material is provided in the semiconductor layer. 1. An array substrate for a display device, characterized in that an array having capacitors is formed on a silicon single crystal substrate, and a circuit section for driving the play is formed on the silicon single crystal substrate.
(2)前記絶縁膜は、シリコン酸化膜であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の表示デバイス用アレ
イ基k。
(2) The array base k for a display device according to claim 1, wherein the insulating film is a silicon oxide film.
(3)  #配給縁膜は、窒化シリコン膜であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の表示デバイス用
アレイ基板。
(3) The array substrate for a display device according to claim 1, wherein the distribution edge film is a silicon nitride film.
(4)  前記半導体膜は、多結晶シリコン膜であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲$1項記載の表、示デバ
イス用アレイ基板。
(4) The array substrate for a display device according to claim 1, wherein the semiconductor film is a polycrystalline silicon film.
(5)  前記スイッチングトランジスタは、 1la
I接する他のスイッチングトランジスタおよびキャパシ
タ鰐電体分離されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の表示デバイス用アレイ基板。
(5) The switching transistor is 1la
2. The array substrate for a display device according to claim 1, wherein the other switching transistor and the capacitor in contact with each other are electrically isolated from each other.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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