JPS58113747A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS58113747A JPS58113747A JP56213027A JP21302781A JPS58113747A JP S58113747 A JPS58113747 A JP S58113747A JP 56213027 A JP56213027 A JP 56213027A JP 21302781 A JP21302781 A JP 21302781A JP S58113747 A JPS58113747 A JP S58113747A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- amplitude
- band
- probe
- echo
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/34—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/348—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with frequency characteristics, e.g. single frequency signals, chirp signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/0289—Internal structure, e.g. defects, grain size, texture
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は構造材等の被探傷部材の健全性を超音波を用い
て非破壊検査する髄音波探傷装置Ｋ係り、％に欠陥像の
表示手段の改良に関する。
て非破壊検査する髄音波探傷装置Ｋ係り、％に欠陥像の
表示手段の改良に関する。
発明の技術的背景
一般にこの種の超音波探傷装置は、共損型の欠陥あるい
は構造物の境界等から反射してくるエコーパルスを受信
してその時間と捩輪を測定し、これを計算楯などの信号
！＆理装置によって処理することＫより、欠陥の大きさ
と位置を求め、これを表示装置に線画として表示し欠陥
の評価を行なう如く構成されている。
は構造物の境界等から反射してくるエコーパルスを受信
してその時間と捩輪を測定し、これを計算楯などの信号
！＆理装置によって処理することＫより、欠陥の大きさ
と位置を求め、これを表示装置に線画として表示し欠陥
の評価を行なう如く構成されている。
背景技術の間一点
上記ｌｌｌ成の従来の装置には次のような問題がある。
すなわち探触子から超音波パルスを発信すると、欠陥の
ほかに溶接線あるいは母材の底面さらには部材中の粒子
などで反射した種々の情報を含むエコーが受信されるが
、この受信したエコーをそのまま表示しても欠陥像と共
に擬似エコーによる雑音傷が１なって表示されるだけで
被探傷部材の組織像を適確に表示することはできない。
ほかに溶接線あるいは母材の底面さらには部材中の粒子
などで反射した種々の情報を含むエコーが受信されるが
、この受信したエコーをそのまま表示しても欠陥像と共
に擬似エコーによる雑音傷が１なって表示されるだけで
被探傷部材の組織像を適確に表示することはできない。
なお被探傷部材の組織を示す情報は比較的高い周波数成
分により伝播されるが、周知の如く高い周波数成分は被
探傷部材中での減衰が太きい。したがって比較的低い周
波数成分によって伝えられる欠陥情報に比べると、受信
エネルギーが小さく、上記低周波成分にマスタされる状
態となる。−万・、周波数帯域の挟い探触子を使用して
いることから、得られる情報歓も少ない、かくして従来
の装置による欠陥像はリアル性に乏しく、欠陥評価に際
し溶接部あるいは溶接部近傍の熱的形番な・受けた部分
と欠陥ｉの位置関係や、被探傷部材の組織の変化状態と
欠陥との関係等について評価することが困難であった。
分により伝播されるが、周知の如く高い周波数成分は被
探傷部材中での減衰が太きい。したがって比較的低い周
波数成分によって伝えられる欠陥情報に比べると、受信
エネルギーが小さく、上記低周波成分にマスタされる状
態となる。−万・、周波数帯域の挟い探触子を使用して
いることから、得られる情報歓も少ない、かくして従来
の装置による欠陥像はリアル性に乏しく、欠陥評価に際
し溶接部あるいは溶接部近傍の熱的形番な・受けた部分
と欠陥ｉの位置関係や、被探傷部材の組織の変化状態と
欠陥との関係等について評価することが困難であった。
したがって欠陥に対する構造強度的な評価を下し得ない
不都合があった。
不都合があった。
発明の目的
本発明の目的は欠陥およびその周辺の形状あるいは組織
の状態をリアルに表示でき、欠陥の評価を十分適確に行
なえる超音波探傷装置を提供することである。
の状態をリアルに表示でき、欠陥の評価を十分適確に行
なえる超音波探傷装置を提供することである。
発明の概要
本発明は上記目的を達成するために、次の如く構成した
仁とを特徴としている。すなわち本発明は探触子として
広い周波数帯域の超音波を送受信する探触子を用い、と
の探触子にそ得られる多くの情報を含むニー−信号を分
波器によって欠陥情報、組織情報部の６種情報をそれぞ
れ含む複数の特定量波数帯域ごとの信号に分ける。しか
るのち上記分波された各エコー信号の振幅補正器によっ
てそれぞれ所要振幅に補正する１例えば周波数に対する
エコー信号エネルギーが均一化するようはエコー信号の
振幅を補正する。そして上記の如く補正された信号と前
記探触子の位置信号とを用い前記各特定量波数帯域ごと
の１１！１１僧信号をＩＩＩＩ像信号“形成器によって
形成し、との画像信号から得られるｐｒ因像を表示器に
よって合成して表示する。かくして被探傷部材の内部組
織を示す情報を含む比較的高い局＃ＩＬｔＩｌ！帯域の
エコー信号を強調して表示するヒとにより、欠ｒ＠倫の
リアル性の向上をはかるようにしたことを特徴としてい
る。
仁とを特徴としている。すなわち本発明は探触子として
広い周波数帯域の超音波を送受信する探触子を用い、と
の探触子にそ得られる多くの情報を含むニー−信号を分
波器によって欠陥情報、組織情報部の６種情報をそれぞ
れ含む複数の特定量波数帯域ごとの信号に分ける。しか
るのち上記分波された各エコー信号の振幅補正器によっ
てそれぞれ所要振幅に補正する１例えば周波数に対する
エコー信号エネルギーが均一化するようはエコー信号の
振幅を補正する。そして上記の如く補正された信号と前
記探触子の位置信号とを用い前記各特定量波数帯域ごと
の１１！１１僧信号をＩＩＩＩ像信号“形成器によって
形成し、との画像信号から得られるｐｒ因像を表示器に
よって合成して表示する。かくして被探傷部材の内部組
織を示す情報を含む比較的高い局＃ＩＬｔＩｌ！帯域の
エコー信号を強調して表示するヒとにより、欠ｒ＠倫の
リアル性の向上をはかるようにしたことを特徴としてい
る。
発明の実施例
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図で、１はたと
えばステンレス−などの構造物からなる被探傷部材であ
り、−母材２の一部に溶接部１′を有している。上記母
材２と麹接部１との境界に）Ｑ背轡的ネ遥続部である溶
接線４が存在しており、さらに詳細にみると、溶接−一
と母材１との間に溶接時の入熱による島影−＠ｉｓ。
えばステンレス−などの構造物からなる被探傷部材であ
り、−母材２の一部に溶接部１′を有している。上記母
材２と麹接部１との境界に）Ｑ背轡的ネ遥続部である溶
接線４が存在しており、さらに詳細にみると、溶接−一
と母材１との間に溶接時の入熱による島影−＠ｉｓ。
５ｂが存在している。この−熱影響１１４１ｍ、ｌｂは
母材２に比べて金属組織が粗である。なお被探傷部材１
中に示しである矢印ｅは欠陥６およびその近傍から反射
される超音波パルスのエコーを示している。１は広い周
波数帯域に亘って感度のよい広帯域超音波探触子であっ
て後述する制御装置によって瞬動され被探傷部材１上を
走査しながら超音波パルスを発信すると共Ｋ。
母材２に比べて金属組織が粗である。なお被探傷部材１
中に示しである矢印ｅは欠陥６およびその近傍から反射
される超音波パルスのエコーを示している。１は広い周
波数帯域に亘って感度のよい広帯域超音波探触子であっ
て後述する制御装置によって瞬動され被探傷部材１上を
走査しながら超音波パルスを発信すると共Ｋ。
欠陥Ｃや溶接線４等から反射してくるエコーを受信する
。なお上記探触子１の周波数帯域としては、下限をたと
えばステンレス鋼溶接部のように超音波の減衰が大きく
しかも金属組織が帆で散乱勢が大きい部分に存在してい
る欠陥をも適ＮＫ検出できる程度の一波数とし、上限を
母材２あゐいは熱影響部１ｍ、ｌｂの金属組織からのエ
コーが確実に得られゐ程度の周波数とする。したがって
例えば１ＭＨｇ〜１０ＭＨｇ程度の周波数帯域が望まし
い。
。なお上記探触子１の周波数帯域としては、下限をたと
えばステンレス鋼溶接部のように超音波の減衰が大きく
しかも金属組織が帆で散乱勢が大きい部分に存在してい
る欠陥をも適ＮＫ検出できる程度の一波数とし、上限を
母材２あゐいは熱影響部１ｍ、ｌｂの金属組織からのエ
コーが確実に得られゐ程度の周波数とする。したがって
例えば１ＭＨｇ〜１０ＭＨｇ程度の周波数帯域が望まし
い。
制御装置゛は次の如く構成されている。第１図中はぼ中
央に示されているＩイきング信号発生器１１はメイオン
ダ値号ＩＩＩ、８３，８３゜Ｓ４を送出し、装置全体の
時間割鉛を行なうものである。このタイミング信号発生
器１１から送出されるタイミング信号８Ｊは励信信号と
して発振器１２に与えられる。発振器１２は所定鳩枝数
の高゛罐圧パルスを探触子１に印加し超音波を発生させ
る。増幅器１３は送信時のパルスを除き探触子７で受信
されたエコー信号だけを増幅し、第１の記憶器１４に与
える。
央に示されているＩイきング信号発生器１１はメイオン
ダ値号ＩＩＩ、８３，８３゜Ｓ４を送出し、装置全体の
時間割鉛を行なうものである。このタイミング信号発生
器１１から送出されるタイミング信号８Ｊは励信信号と
して発振器１２に与えられる。発振器１２は所定鳩枝数
の高゛罐圧パルスを探触子１に印加し超音波を発生させ
る。増幅器１３は送信時のパルスを除き探触子７で受信
されたエコー信号だけを増幅し、第１の記憶器１４に与
える。
−万タイミング信号発生器１１から送出されるタイミン
グ信号８２は位置制御１１に与えられる。この位置制御
器１５は上記タイミング信号Ｓ２に応じた位置制御信号
を走査機構１σに与える。走査機構１６は上記制ａ器１
５からの位置制ｉ１１信号に応じて図中破線で示す如く
、探触子１ケ走査する。
グ信号８２は位置制御１１に与えられる。この位置制御
器１５は上記タイミング信号Ｓ２に応じた位置制御信号
を走査機構１σに与える。走査機構１６は上記制ａ器１
５からの位置制ｉ１１信号に応じて図中破線で示す如く
、探触子１ケ走査する。
第１の記憶器１４は前記増幅器１１で増幅さ［１゜
れたエコー信号と探触子１の位置を示す位置制御器１５
からの位置信号とをタイミング信号８１に同期して一時
的に記憶するメモリである。
からの位置信号とをタイミング信号８１に同期して一時
的に記憶するメモリである。
この第１の紀僅器１４から送出されゐニーー信４！η分
波器１１に与えられる。この分波器１１は複数の特定周
波数帯域をそれぞれの通過帯域トスるバンドパスフィル
タからなりタイきング信号８４に同期してエコー信号を
複数の周波数帯域に分波し、振幅補正器１１に与える。
波器１１に与えられる。この分波器１１は複数の特定周
波数帯域をそれぞれの通過帯域トスるバンドパスフィル
タからなりタイきング信号８４に同期してエコー信号を
複数の周波数帯域に分波し、振幅補正器１１に与える。
４１ＩＩ幅補正器１１は分波器１１から与えられる分波
された各エコー信号の振幅をエネルギー強度が均一化す
るように補正し、ｔｉｎ信号形成器１＃に与える。１ｌ
Ｉｉｉ倫信号形成器１９は振幅補正器ＩＪによって振幅
を補正された特定−波数帯域ごとのエコー信号と、第１
の記憶器から与えられる探触子ｒの位置信号とカーら、
各特定周波数帯域ごとの掃傷結果な画＊にするための一
書信号を形成し、第２の記憶器２０に与える。第２の記
憶器２０は上記画像信号を一時的に記憶し適時表示器２
１へ出力する。表示器１１はたとえば′１１ 陰極線管表示器であり、第２の記憶器ｊｏから読出され
る各特定帯域ごとのｍ＊信号を与えられると、上記各−
儂信号から得られる各１ｌＩｌ僧を合成して表示する。
された各エコー信号の振幅をエネルギー強度が均一化す
るように補正し、ｔｉｎ信号形成器１＃に与える。１ｌ
Ｉｉｉ倫信号形成器１９は振幅補正器ＩＪによって振幅
を補正された特定−波数帯域ごとのエコー信号と、第１
の記憶器から与えられる探触子ｒの位置信号とカーら、
各特定周波数帯域ごとの掃傷結果な画＊にするための一
書信号を形成し、第２の記憶器２０に与える。第２の記
憶器２０は上記画像信号を一時的に記憶し適時表示器２
１へ出力する。表示器１１はたとえば′１１ 陰極線管表示器であり、第２の記憶器ｊｏから読出され
る各特定帯域ごとのｍ＊信号を与えられると、上記各−
儂信号から得られる各１ｌＩｌ僧を合成して表示する。
次に上記の如く構成された本装置の動作および作用を第
２図、第３図を適時参照しながら説明する。
２図、第３図を適時参照しながら説明する。
タイミング信号発生器１１からタイミング信号８２が送
出されると位置制御器ＩＪが作動し、位置制御信号な探
触子走査機構ＩＩＫ与える。
出されると位置制御器ＩＪが作動し、位置制御信号な探
触子走査機構ＩＩＫ与える。
このため走査機構１６が作動し、探触子１を被探傷部材
１の上面に沿って二次元的に走査する。
１の上面に沿って二次元的に走査する。
今、探触子ｒが所定位置上に走査された場合において、
タイ２ング信号発生器１１から発振器１ｊｒｃ信号８１
が与えられると、発振器１１が作動し、所定用波数の高
這圧パルスな探触子１に印加する。このため探触子１か
ら被探傷部材１内に超音波パルスが発信される。被探傷
部材１の欠陥６、溶接線４、熱影畳部１ｍ、ｉｂ勢□か
ら反射した各種情報を含んだエコーｅは探触子１に受信
される。受信されたエコー信号は増−５１１により増幅
されたのち、第１の記憶器１４に人力する。この記憶器
１４に入力したエコー信号は位置制御器１５からの位置
信号と対応づけられて記憶される。
タイ２ング信号発生器１１から発振器１ｊｒｃ信号８１
が与えられると、発振器１１が作動し、所定用波数の高
這圧パルスな探触子１に印加する。このため探触子１か
ら被探傷部材１内に超音波パルスが発信される。被探傷
部材１の欠陥６、溶接線４、熱影畳部１ｍ、ｉｂ勢□か
ら反射した各種情報を含んだエコーｅは探触子１に受信
される。受信されたエコー信号は増−５１１により増幅
されたのち、第１の記憶器１４に人力する。この記憶器
１４に入力したエコー信号は位置制御器１５からの位置
信号と対応づけられて記憶される。
上記エコー信号の闇波数に対するエネルギーの大きさは
同波数帯域ｆ’Ｌ〜ｆ輩において第２図中実線で示すよ
うに変化する。すなわち−波数の高い帯域においては超
音波、の減衰が大きく、エネルギー強度は漸次低下して
いる。なお、定性的には第２図に示すｆＬ−、ｆＭなる
周波数帯域において、欠陥情報は■の帯域に含まれてお
り、溶接部情報は■の帯域に含まれており、熱影響部情
報は０の帯域に含まれてお′す、母材情報は■の帯域に
含まれてい為といえる。
同波数帯域ｆ’Ｌ〜ｆ輩において第２図中実線で示すよ
うに変化する。すなわち−波数の高い帯域においては超
音波、の減衰が大きく、エネルギー強度は漸次低下して
いる。なお、定性的には第２図に示すｆＬ−、ｆＭなる
周波数帯域において、欠陥情報は■の帯域に含まれてお
り、溶接部情報は■の帯域に含まれており、熱影響部情
報は０の帯域に含まれてお′す、母材情報は■の帯域に
含まれてい為といえる。
第１の記憶器１４に記憶されているエコー信号はタイ建
ング信号８４に同期して作動する分岐器１１によって上
記各帯域■■０■別に分波される。第３図ム、Ｂ、０．
Ｄは上記各帯域■■■■をそれぞれ通過したニー−信号
の波形を示す。上記の如く分波された各エコー信号は振
幅補正！ＩＪ” Ｊ Ｋよって、そのエネルギー強度が
第２図中破線で示すようにほぼ均一化す為ように振幅を
補正される。上記振幅を補足された各帯域ごとのエコー
信号は画像信号形成器１９に入力し、ここで位置信号と
の関係から４つの画像信号が形成される。上記の４つの
画像信号は第２の記憶器２−に一旦記憶され、表示器２
１に与えられる。したがって表示器２１により上記４つ
の画像信号が合成され一つの画像として表示される。
ング信号８４に同期して作動する分岐器１１によって上
記各帯域■■０■別に分波される。第３図ム、Ｂ、０．
Ｄは上記各帯域■■■■をそれぞれ通過したニー−信号
の波形を示す。上記の如く分波された各エコー信号は振
幅補正！ＩＪ” Ｊ Ｋよって、そのエネルギー強度が
第２図中破線で示すようにほぼ均一化す為ように振幅を
補正される。上記振幅を補足された各帯域ごとのエコー
信号は画像信号形成器１９に入力し、ここで位置信号と
の関係から４つの画像信号が形成される。上記の４つの
画像信号は第２の記憶器２−に一旦記憶され、表示器２
１に与えられる。したがって表示器２１により上記４つ
の画像信号が合成され一つの画像として表示される。
かくして、表示器２１に表示される１像は、前記４つの
情報がほぼ同じ強さで表示される結果、欠陥Ｃを含めた
各情報が部材１の内部繊維の差として表示されＡ、した
がって従来Ｋ Ｌａｘリアルな一書が得られる。つまり
、欠−６がその一辺の金職組織と同時に明瞭に表示され
るのでリアル性が著しく向上する。その結果、欠陥の定
置的評価ができる。また１ｉｌ囲の組織の状態から、欠
陥であるか否かを正確に判断することが可能になるので
、欠陥の検品”精度が向上すみ。
情報がほぼ同じ強さで表示される結果、欠陥Ｃを含めた
各情報が部材１の内部繊維の差として表示されＡ、した
がって従来Ｋ Ｌａｘリアルな一書が得られる。つまり
、欠−６がその一辺の金職組織と同時に明瞭に表示され
るのでリアル性が著しく向上する。その結果、欠陥の定
置的評価ができる。また１ｉｌ囲の組織の状態から、欠
陥であるか否かを正確に判断することが可能になるので
、欠陥の検品”精度が向上すみ。
さらに広い鴫波数帯域のエコー信号を用い【いるので、
狭い帯域別の探傷動作を繰返して行なう必譬はなく、探
傷所要時間を大幅に短縮できる利点がある。
狭い帯域別の探傷動作を繰返して行なう必譬はなく、探
傷所要時間を大幅に短縮できる利点がある。
なお、本発明は上述した一実施例に限定されるものでは
なく、次のように変形して実施することができる。
なく、次のように変形して実施することができる。
■ ニス−信号の振幅補正量ｌを検査対象に応じて適宜
設定しつるように擬幅補正器ＪＪＫ補正量１節手段を付
加する。
設定しつるように擬幅補正器ＪＪＫ補正量１節手段を付
加する。
■ 各情報側の帯域は０００■の４つに限らず分割数お
よび周波数を可変設定しうるように、分波器１ｒのバン
ドパスフィルタを選択設電しうる手段を設ける。
よび周波数を可変設定しうるように、分波器１ｒのバン
ドパスフィルタを選択設電しうる手段を設ける。
■ 第１の記憶器１４と、分波器１ｒと、横幅補正器１
１と、画像信号形成器１＃と、第２の記憶＠ＳＯとを、
マイク一コンビ二一メ等の形算機に置換えて、同勢の機
能を発揮させるようにすゐ。
１と、画像信号形成器１＃と、第２の記憶＠ＳＯとを、
マイク一コンビ二一メ等の形算機に置換えて、同勢の機
能を発揮させるようにすゐ。
■ 分液器１１をミーの帯域可変プイルメーで構成し、
このフィル！−の通過帯域な順次変化させ、時系列で分
波を行なうようにすゐ。
このフィル！−の通過帯域な順次変化させ、時系列で分
波を行なうようにすゐ。
このほか、本発−の要旨を変えない範囲で種々啄変形実
施可能であるのは勿論である。
施可能であるのは勿論である。
発明の効果
本発明によれば、被探傷部材の内部組織を示す情報を含
んだ比較的高い鴫波数帯域のエコー信号が強調された状
態で表示されるので、欠陥適確に行なえる躯音波探傷装
置を提供できる。
んだ比較的高い鴫波数帯域のエコー信号が強調された状
態で表示されるので、欠陥適確に行なえる躯音波探傷装
置を提供できる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すプ襲ツク図、第
２図は同実施例の周波数に対するエネルギー強度の関係
を示す特性図、第３図は同実施例の分波された各エコー
信号の波形を示す接−１１ｍ、ａｈ・・・熱影響部、ｅ
・・・欠陥、ｒ・・・超奮ｔ１１探触子、１１・・・タ
イさング信号発生器、１１・・・発振器、１１・・・増
幅器、１４・・・第１の記憶器、１ｊ・・・位置制御器
、１−・・・探触子、ＩＦ・・・分波器、１１・・・振
幅補正器、１１・・・画像信号形成器、２０・・・第２
の記憶器、２１・・・表示器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 廖第２１ｍ ｆｔ−、、収 餉 □糟−藺 手続補正書 昭和５，７年、３ 月−５。 特許庁長官 島 １）春 樹 殿１、事件の大小 特願１）１４５６−２１３０２７号 ２ 発明の名称 超音波探傷装置 ３、補ＩＥをする者 事件との関係 特許出鵬人 （３０７） 東京芝浦竜気株式会社 ４、代理人 住所 東京都港区虎ノ門１丁目届番５＠ 第１７森ピル
５ 自発補正 明細書の浄書（門番に変更な′シ）
２図は同実施例の周波数に対するエネルギー強度の関係
を示す特性図、第３図は同実施例の分波された各エコー
信号の波形を示す接−１１ｍ、ａｈ・・・熱影響部、ｅ
・・・欠陥、ｒ・・・超奮ｔ１１探触子、１１・・・タ
イさング信号発生器、１１・・・発振器、１１・・・増
幅器、１４・・・第１の記憶器、１ｊ・・・位置制御器
、１−・・・探触子、ＩＦ・・・分波器、１１・・・振
幅補正器、１１・・・画像信号形成器、２０・・・第２
の記憶器、２１・・・表示器。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 廖第２１ｍ ｆｔ−、、収 餉 □糟−藺 手続補正書 昭和５，７年、３ 月−５。 特許庁長官 島 １）春 樹 殿１、事件の大小 特願１）１４５６−２１３０２７号 ２ 発明の名称 超音波探傷装置 ３、補ＩＥをする者 事件との関係 特許出鵬人 （３０７） 東京芝浦竜気株式会社 ４、代理人 住所 東京都港区虎ノ門１丁目届番５＠ 第１７森ピル
５ 自発補正 明細書の浄書（門番に変更な′シ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１１ 超音波を用いて被探傷部材を探傷し＋Ｓ僧と
して表示する超音波探傷装置において、広いｉ！１１波
数帯域の超音波を送受信する探触子と、との探触子によ
り受信されたエコー信号を欠陥情報２組織情勢等の各情
報をそれぞれ含む複数の轡定鳴波数帯域ごとの信号に分
ける分波器と、この分波器で分波された各エコー信号の
振幅をそれぞれ所要振幅に補正する振幅補正器と、この
振幅補正器により振幅を補正された各エコー信号と前記
探触子の位置信号とから前記各特定局波数帯域ごとの１
ｉｌｌ像信号を形成する１１！４１ｇ１信号形成器と、
との画像信号形成器で形成されたｌｉｔ像信号から得ら
れる各ＩＮＪ１１１を合成して表示する表示器とを其備
したことを特徴とする麺會ＩＨＬ徐傷装置。 （２１分波器はａｈのバンドパスフィルタにて構成され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第（１１項記載
の超音波探傷装置。 （３）振幅補正器は周波数に対するエコー信号エネルギ
ーが均一化するようにエコー信号の振幅を補正するもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載
の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56213027A JPS58113747A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56213027A JPS58113747A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58113747A true JPS58113747A (ja) | 1983-07-06 |
Family
ID=16632290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56213027A Pending JPS58113747A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58113747A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60144660A (ja) * | 1983-12-14 | 1985-07-31 | エヌ・ベー・フイリツプス・フルーイランペンフアブリケン | 超音波エコーグラフイによる物体の検査装置 |
| JPS62288566A (ja) * | 1986-06-09 | 1987-12-15 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 溶接部の探傷方法 |
| JP2011002458A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Georgia Tech Research Corp | 溶接構造体における欠陥を検出する方法およびシステム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56158974A (en) * | 1980-04-22 | 1981-12-08 | Smith Kline Instr | Ultrasonic imaging apparatus |
-
1981
- 1981-12-26 JP JP56213027A patent/JPS58113747A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56158974A (en) * | 1980-04-22 | 1981-12-08 | Smith Kline Instr | Ultrasonic imaging apparatus |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60144660A (ja) * | 1983-12-14 | 1985-07-31 | エヌ・ベー・フイリツプス・フルーイランペンフアブリケン | 超音波エコーグラフイによる物体の検査装置 |
| JPS62288566A (ja) * | 1986-06-09 | 1987-12-15 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 溶接部の探傷方法 |
| JP2011002458A (ja) * | 2009-06-19 | 2011-01-06 | Georgia Tech Research Corp | 溶接構造体における欠陥を検出する方法およびシステム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9228980B2 (en) | Non-destructive evaluation methods for aerospace components | |
| JP4705568B2 (ja) | 被検体の超音波無破壊試験のための方法 | |
| JP6905422B2 (ja) | 超音波探触子、超音波探傷装置及び方法 | |
| Ni et al. | Non-destructive laser-ultrasonic Synthetic Aperture Focusing Technique (SAFT) for 3D visualization of defects | |
| Harvey et al. | Finite element analysis of ultrasonic phased array inspections on anisotropic welds | |
| JP2013242202A (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
| Juengert et al. | Advanced ultrasonic techniques for nondestructive testing of austenitic and dissimilar welds in nuclear facilities | |
| JPS58113747A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP2013019715A (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
| Kažys et al. | Ultrasonic detection of defects in strongly attenuating structures using the Hilbert–Huang transform | |
| JPH01244357A (ja) | 超音波画像形成方法 | |
| Hecht | Time of Flight Diffraction Technique (ToFD)–an ultrasonic testing a method for all applications | |
| CN115728393A (zh) | 一种基于脉冲反转技术的非线性超声系数修正方法 | |
| JP6026245B2 (ja) | 超音波検査方法及び超音波検査装置 | |
| JPS6326343B2 (ja) | ||
| Bolotina et al. | Ultrasonic testing method for quality control of mold castings | |
| Bertocci et al. | Design of medical ultrasound probe: Measurement system for the characterization of reverberations | |
| Alers et al. | Visualization of surface elastic waves on structural materials | |
| DE102019205581A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ultraschallprüfung eines Objektes | |
| Schallert et al. | Phased array techniques for an optimized inspection of dissimilar welds | |
| Furr | AWS D1. 1 and D1. 5 phased array examination | |
| Šimeková et al. | Phased array ultrasonic testing of thin DP steel electron beam weld joints | |
| Sawrav et al. | ELIMINATION OF FAILURES OF NARROW GROOVE WELD JOINTS, THOROUGH PHASE ARRAY INVESTIGATION | |
| andEd Ginzel | TFMiTM: Using Intermodal Analysis to Improve TFM Imaging | |
| Klanke et al. | ULTRASONIC ECHO TOMOGRAPHY, A NEW PROCEDURE FOR DEFECT PRESENTATION |