JPH1164347A - Holder supporting device in scanning probe microscope - Google Patents

Holder supporting device in scanning probe microscope

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JPH1164347A
JPH1164347A JP9222596A JP22259697A JPH1164347A JP H1164347 A JPH1164347 A JP H1164347A JP 9222596 A JP9222596 A JP 9222596A JP 22259697 A JP22259697 A JP 22259697A JP H1164347 A JPH1164347 A JP H1164347A
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JP
Japan
Prior art keywords
holder
cantilever holder
pedestal
cantilever
legs
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9222596A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Watanabe
辺 隆 渡
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP9222596A priority Critical patent/JPH1164347A/en
Publication of JPH1164347A publication Critical patent/JPH1164347A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a holder-supporting device which can securely fix a holder to a pedestal at all times. SOLUTION: At the time of fixing a cantilever holder 1 to a pedestal 22 (a mounting part 22A (22B) and a guide part), the legs 20 and 21 of the cantilever holder 1 are inserted between the pedestal 22 and a cantilever holder presser bar 27. The legs 20 and 21 are inserted between the pedestal 22 and the cantilever holder presser bar 27 until the lower surface of the cantilever holder 1 comes into contact with the mounting part 22A (22B) of the cantilever holder 1. At the time when the downward movement of the legs 20 and 21 is stopped, the cantilever holder presser bar 27 is in contact with the taper parts of grooves formed in the legs 20 and 21, and the legs 20 and 21 are pushed downward by the cantilever holder presser bar 27. By this, the cantilever holder 1 is securely fixed to the pedestal 22.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】 本発明は、原子間力顕微鏡
におけるカンチレバーホルダや走査トンネル顕微鏡にお
けるチップホルダを支持する走査プローブ顕微鏡におけ
るホルダ支持装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a holder support device in a scanning probe microscope that supports a cantilever holder in an atomic force microscope and a tip holder in a scanning tunneling microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】 原子間力顕微鏡は、カンチレバーに取
り付けられたチップと試料間に働く原子間力に基づいて
原子レベルの試料像を得る装置である。
2. Description of the Related Art An atomic force microscope is a device for obtaining an atomic-level sample image based on an atomic force acting between a sample attached to a cantilever and a sample.

【0003】図1は、従来の、原子間力顕微鏡における
カンチレバーホルダ支持装置を示したものである。図1
において、1はカンチレバーホルダであり、カンチレバ
ーホルダ1には、先端にチップ2を有するカンチレバ3
が取り付けられている。また、カンチレバーホルダ1に
は脚4,5が取り付けられており、脚4,5には溝4
a,5aがそれぞれ形成されている。
FIG. 1 shows a conventional cantilever holder support device in an atomic force microscope. FIG.
In the drawings, reference numeral 1 denotes a cantilever holder, and a cantilever holder 3 having a tip 2 at a tip is provided on the cantilever holder 1.
Is attached. The cantilever holder 1 has legs 4 and 5 attached thereto.
a and 5a are respectively formed.

【0004】6は原子間力顕微鏡の試料室中に配置され
たステージである。このステージ6には、前記カンチレ
バーホルダ1を載せる台座7が固定されており、台座7
にはガイド8が形成されている。また、ステージ6には
押さえバネ9,10が固定されており、更に、ステージ
6の前記ガイド8の両脇には脚挿入孔11,12が開け
られている。さて、前記カンチレバーホルダ1は、その
脚が台座7と押さえバネ間に差し込まれて台座7に固定
される。図2は、カンチレバーホルダ1が台座7に固定
された時の斜視図であり、図3は図2のE−F断面図で
ある。
Reference numeral 6 denotes a stage arranged in a sample chamber of an atomic force microscope. A pedestal 7 on which the cantilever holder 1 is mounted is fixed to the stage 6.
Is formed with a guide 8. Pressing springs 9 and 10 are fixed to the stage 6, and leg insertion holes 11 and 12 are formed on both sides of the guide 8 of the stage 6. Now, the cantilever holder 1 is fixed to the pedestal 7 with its legs inserted between the pedestal 7 and the holding spring. FIG. 2 is a perspective view when the cantilever holder 1 is fixed to the pedestal 7, and FIG. 3 is a sectional view taken along the line EF of FIG.

【0005】図2,3に示すように、カンチレバーホル
ダ1の脚は、カンチレバーホルダの下面が前記台座7に
当たるまで台座7と押さえバネ間に差し込まれる。カン
チレバーホルダ1の下面が台座7に当たる時には、押さ
えバネ9,10は脚4,5に形成された溝4a,5aに
それぞれ填り、脚4,5は押さえバネにより下方に押さ
れる。そのため、カンチレバーホルダ1は台座7にしっ
かりと固定される。
[0005] As shown in FIGS. 2 and 3, the leg of the cantilever holder 1 is inserted between the pedestal 7 and the holding spring until the lower surface of the cantilever holder contacts the pedestal 7. When the lower surface of the cantilever holder 1 comes into contact with the pedestal 7, the pressing springs 9, 10 are fitted into the grooves 4a, 5a formed in the legs 4, 5, respectively, and the legs 4, 5 are pressed downward by the pressing spring. Therefore, the cantilever holder 1 is firmly fixed to the pedestal 7.

【発明が解決しようとする課題】 ところで、上述した
従来のカンチレバーホルダ支持装置においては、カンチ
レバーホルダ1の脚4,5が誤って押さえバネ9,10
に当たると、押さえバネ9,10は変形してしまう。例
えば図4(a)に示すように押さえバネが変形すると、
図4(b)に示すように、脚が台座と押さえバネ間に差
し込まれた時に押さえバネ9が溝4aの上部に当たり、
脚4は押さえバネ9により上方に押される。そのため、
カンチレバーホルダ1は台座7にしっかり固定されなく
なる。本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、
その目的は、常にホルダを台座にしっかり固定できるホ
ルダ支持装置を提供することにある。
In the conventional cantilever holder supporting device described above, the legs 4, 5 of the cantilever holder 1 are erroneously pressed by the holding springs 9, 10.
, The holding springs 9 and 10 are deformed. For example, when the holding spring is deformed as shown in FIG.
As shown in FIG. 4B, when the leg is inserted between the pedestal and the holding spring, the holding spring 9 hits the upper part of the groove 4a,
The leg 4 is pushed upward by a holding spring 9. for that reason,
The cantilever holder 1 is no longer firmly fixed to the base 7. The present invention has been made in view of such a point,
An object of the present invention is to provide a holder supporting device capable of always firmly fixing a holder to a base.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】 上記目的を達成するた
めに、本発明の走査プローブ顕微鏡におけるホルダ支持
装置は、脚を有するホルダと、該ホルダを載せる台座
と、該台座に一端が取り付けられた弾性部材と、該弾性
部材の他端に取り付けられ、その弾性部材により前記台
座の方に引っ張られるホルダ押さえ棒を備え、前記ホル
ダの脚は前記台座と前記ホルダ押さえ棒で挟持されるこ
とを特徴とする。
Means for Solving the Problems To achieve the above object, a holder support device in a scanning probe microscope according to the present invention includes a holder having legs, a pedestal on which the holder is mounted, and one end attached to the pedestal. An elastic member and a holder presser bar attached to the other end of the elastic member and pulled toward the pedestal by the elastic member, wherein legs of the holder are sandwiched between the pedestal and the holder presser bar. And

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】 以下、図面を参照して本発明の
実施の形態を詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0008】図5は本発明の一例として示した、原子間
力顕微鏡のカンチレバーホルダ支持装置である。図5の
構成要素において、図1の構成要素と同一のものには図
1と同じ番号が付けられている。図5において、20,
21は、カンチレバーホルダ1に取り付けられた脚であ
り、脚20,21には溝20a,21aがそれぞれ形成
されている。
FIG. 5 shows an apparatus for supporting a cantilever holder of an atomic force microscope as an example of the present invention. 5, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals as those in FIG. In FIG. 5, 20,
Reference numeral 21 denotes a leg attached to the cantilever holder 1. The legs 20, 21 have grooves 20a, 21a, respectively.

【0009】22はステージ6に固定された台座であ
り、台座22は、カンチレバーホルダ載置部22A,2
2Bとガイド部22Cから成っている。このカンチレバ
ーホルダ載置部22A,22Bとガイド部22Cには溝
A,B,Cがそれぞれ形成されている。また、カンチレ
バーホルダ載置部22A,22Bの側面であって、溝の
上面とほぼ同じ高さの位置には引っかけ部23,24が
それぞれ取り付けられている。この引っかけ部23に
は、第1の弾性部材である引っ張りバネ25の一端が引
っかけられており、一方、前記引っかけ部24には、第
2の弾性部材である引っ張りバネ26の一端が引っかけ
られている。それらの引っ張りバネの他端は、前記溝
A,B,Cにはめ込められた断面が円形状のカンチレバ
ーホルダ押さえ棒27に引っかけられている。このカン
チレバーホルダ押さえ棒27は、引っ張りバネにより台
座の方に引っ張られ、カンチレバーホルダ1が台座に取
り付けられていない時は、前記溝A,B,Cの上面及び
側面に接している。さて、前記カンチレバーホルダ1の
台座22への固定の際には、カンチレバーホルダ1の脚
20,21が台座22とカンチレバーホルダ押さえ棒2
7間に差し込まれる。この脚20,21が台座22とカ
ンチレバーホルダ押さえ棒27間に差し込まれて行く
と、カンチレバーホルダ押さえ棒27は、図6に示すよ
うに、前記溝の側面から離れると共に、脚に接した状態
で反時計回りに回転して一時的に前記溝の上面から離れ
る。脚20,21は、カンチレバーホルダ1の下面が前
記カンチレバーホルダ載置部22A,22Bに当たるま
で台座22とカンチレバーホルダ押さえ棒27間に差し
込まれる。図7は、カンチレバーホルダ1の下面がカン
チレバーホルダ載置部22A,22Bに当たった時の状
態を示した図であり、図8(a)は図7のG−H断面
図、図8(b)は図7のI−J断面図である。
Reference numeral 22 denotes a pedestal fixed to the stage 6. The pedestal 22 is provided with cantilever holder mounting portions 22A and 22A.
2B and a guide portion 22C. Grooves A, B, and C are formed in the cantilever holder mounting portions 22A and 22B and the guide portion 22C, respectively. Hook portions 23 and 24 are attached to the side surfaces of the cantilever holder mounting portions 22A and 22B, respectively, at positions substantially at the same height as the upper surface of the groove. One end of a tension spring 25 as a first elastic member is hooked on the hook portion 23, while one end of a tension spring 26 as a second elastic member is hooked on the hook portion 24. I have. The other ends of the tension springs are hooked on cantilever holder holding rods 27 each having a circular cross section and fitted in the grooves A, B, and C. The cantilever holder holding rod 27 is pulled toward the pedestal by a tension spring, and when the cantilever holder 1 is not mounted on the pedestal, it is in contact with the upper and side surfaces of the grooves A, B, and C. When the cantilever holder 1 is fixed to the pedestal 22, the legs 20 and 21 of the cantilever holder 1 are connected to the pedestal 22 and the cantilever holder holding rod 2.
It is inserted between seven. When the legs 20, 21 are inserted between the pedestal 22 and the cantilever holder holding rod 27, the cantilever holder holding rod 27 is separated from the side surface of the groove and is in contact with the leg as shown in FIG. Rotate counterclockwise to temporarily move away from the upper surface of the groove. The legs 20 and 21 are inserted between the pedestal 22 and the cantilever holder holding rod 27 until the lower surface of the cantilever holder 1 contacts the cantilever holder mounting portions 22A and 22B. FIG. 7 is a diagram showing a state in which the lower surface of the cantilever holder 1 comes into contact with the cantilever holder mounting portions 22A and 22B. FIG. 8A is a sectional view taken along the line G-H of FIG. 8) is a sectional view taken along the line IJ in FIG.

【0010】図8(a)に示すように、カンチレバーホ
ルダ1の下面がカンチレバーホルダ載置部に当たって脚
20の下方への移動が停止した時点では、前記カンチレ
バーホルダ押さえ棒27は前記図6の状態と違ってカン
チレバーホルダ載置部22Aの溝Aの上面に接してい
る。これは、前記引っ張りバネの復元力により、カンチ
レバーホルダ押さえ棒27が前記図6の状態から反時計
回りに回転して上方に移動したためである。また、図8
(b)に示すように、脚の下方への移動が停止した時点
では、カンチレバーホルダ押さえ棒27は、脚に形成さ
れた溝20aのテーパ部Tに接しており、脚20,21
はカンチレバーホルダ押さえ棒27により下方に押され
る。そのため、カンチレバーホルダ1は台座22にしっ
かりと固定される。以上、本発明の一例を説明したが、
本発明はこれに限定されるものではない。例えば、カン
チレバーホルダ押さえ棒の一端を台座に回転可能に取り
付け、台座の引っかけ部に引っかけられた引っ張りバネ
を前記カンチレバーホルダ押さえ棒の他端に引っかけ、
カンチレバーホルダの脚を台座とカンチレバーホルダ押
さえ棒で挟持するようにしても良い。このようにすれ
ば、1つの引っ張りバネでカンチレバーホルダを固定す
ることができる。
As shown in FIG. 8A, when the lower surface of the cantilever holder 1 comes into contact with the cantilever holder mounting portion and the downward movement of the leg 20 is stopped, the cantilever holder holding rod 27 is in the state shown in FIG. Unlike this, it is in contact with the upper surface of the groove A of the cantilever holder mounting portion 22A. This is because the restoring force of the tension spring causes the cantilever holder holding rod 27 to rotate counterclockwise from the state of FIG. 6 and move upward. FIG.
As shown in (b), when the downward movement of the leg is stopped, the cantilever holder holding rod 27 is in contact with the tapered portion T of the groove 20a formed in the leg, and the legs 20, 21 are formed.
Is pressed downward by the cantilever holder holding rod 27. Therefore, the cantilever holder 1 is firmly fixed to the pedestal 22. As described above, an example of the present invention has been described.
The present invention is not limited to this. For example, one end of a cantilever holder holding rod is rotatably attached to a pedestal, and a tension spring hooked on a hook portion of the pedestal is hooked on the other end of the cantilever holder holding rod,
The leg of the cantilever holder may be held between the pedestal and the cantilever holder holding rod. With this configuration, the cantilever holder can be fixed by one tension spring.

【0011】また、走査トンネル顕微鏡のチップを備え
たホルダを台座に固定する場合にも本発明を適用するこ
とができる。
The present invention can be applied to a case where a holder having a tip of a scanning tunnel microscope is fixed to a pedestal.

【0012】[0012]

【発明の効果】 本発明のホルダ支持装置によれば、常
にカンチレバーホルダやチップホルダ等のホルダを台座
にしっかり固定することができる。
According to the holder support device of the present invention, a holder such as a cantilever holder or a tip holder can always be firmly fixed to the base.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の、原子間力顕微鏡におけるカンチレバー
ホルダ支持装置を示した図である。
FIG. 1 is a view showing a conventional cantilever holder support device in an atomic force microscope.

【図2】図1のカンチレバーホルダ支持装置において、
カンチレバーホルダを台座に固定したときの状態を示し
た図である。
FIG. 2 shows the cantilever holder supporting device of FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a state when the cantilever holder is fixed to a base.

【図3】図2のE−F断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along the line EF of FIG. 2;

【図4】図1のカンチレバーホルダ支持装置の問題を説
明するために示した図である。
FIG. 4 is a view for explaining a problem of the cantilever holder supporting device of FIG. 1;

【図5】本発明の一例として示した、原子間力顕微鏡に
おけるカンチレバーホルダ支持装置を示した図である。
FIG. 5 is a diagram showing a cantilever holder support device in an atomic force microscope, shown as an example of the present invention.

【図6】図5のカンチレバーホルダ支持装置における、
カンチレバーホルダ押さえ棒27の動作を説明するため
に示した図である。
FIG. 6 illustrates the cantilever holder supporting device of FIG.
FIG. 9 is a view shown for explaining the operation of the cantilever holder holding rod 27.

【図7】図5のカンチレバーホルダ支持装置において、
カンチレバーホルダを台座に固定したときの状態を示し
た図である。
FIG. 7 shows the cantilever holder supporting device of FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a state when the cantilever holder is fixed to a base.

【図8】図7のG−H断面及びI−J断面を示した図で
ある。
8 is a diagram showing a GH section and an IJ section of FIG. 7;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…カンチレバーホルダ、2…チップ、3…カンチレ
バ、4,5…脚、4a,5a…溝、6…ステージ、7…
台座、8…ガイド、9,10…押さえバネ、11,12
…脚挿入孔、20,21…脚、20a,21a…溝、2
2…台座、22A,22B…カンチレバーホルダ載置
部、22C…ガイド部、A,B,C…溝、23,24…
引っかけ部、25…引っ張りバネ、26…引っ張りバ
ネ、27…カンチレバーホルダ押さえ棒
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cantilever holder, 2 ... Tip, 3 ... Cantilever, 4, 5 ... Leg, 4a, 5a ... Groove, 6 ... Stage, 7 ...
Pedestal, 8 ... Guide, 9,10 ... Holding spring, 11,12
... Leg insertion holes, 20, 21 ... Legs, 20a, 21a ... Groove, 2
2. Pedestal, 22A, 22B ... Cantilever holder mounting part, 22C ... Guide part, A, B, C ... Groove, 23, 24 ...
Hook part, 25: tension spring, 26: tension spring, 27: cantilever holder holding rod

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 脚を有するホルダと、該ホルダを載せる
台座と、該台座に一端が取り付けられた弾性部材と、該
弾性部材の他端に取り付けられ、その弾性部材により前
記台座の方に引っ張られるホルダ押さえ棒を備え、前記
ホルダの脚は前記台座と前記ホルダ押さえ棒で挟持され
ることを特徴とする走査プローブ顕微鏡におけるホルダ
支持装置。
1. A holder having legs, a pedestal on which the holder is mounted, an elastic member having one end attached to the pedestal, and an elastic member attached to the other end of the elastic member. A holder support rod for the scanning probe microscope, characterized in that the holder support rod is provided and the legs of the holder are held between the pedestal and the holder retainer rod.
JP9222596A 1997-08-19 1997-08-19 Holder supporting device in scanning probe microscope Withdrawn JPH1164347A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013507627A (en) * 2009-10-16 2013-03-04 スペックス サーフェス ナノ アナリシス ゲーエムベーハー Mounting for scanning probe sensor package, scanning probe sensor package, scanning probe microscope, and method of attaching or removing scanning probe sensor package

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013507627A (en) * 2009-10-16 2013-03-04 スペックス サーフェス ナノ アナリシス ゲーエムベーハー Mounting for scanning probe sensor package, scanning probe sensor package, scanning probe microscope, and method of attaching or removing scanning probe sensor package
US8884222B2 (en) 2009-10-16 2014-11-11 Specs Surface Nano Analysis Gmbh Mount for a scanning probe sensor package, scanning probe sensor package, scanning probe microscope and method of mounting or dismounting a scanning probe sensor package

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Effective date: 20041102