JPH113929A - Wafer alignment device and semiconductor manufacture device equipped with the device - Google Patents

Wafer alignment device and semiconductor manufacture device equipped with the device

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JPH113929A
JPH113929A JP16960297A JP16960297A JPH113929A JP H113929 A JPH113929 A JP H113929A JP 16960297 A JP16960297 A JP 16960297A JP 16960297 A JP16960297 A JP 16960297A JP H113929 A JPH113929 A JP H113929A
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JP
Japan
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wafer
cassette
transfer
transferring
base plate
Prior art date
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Application number
JP16960297A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukinori Yuya
幸則 油谷
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Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH113929A publication Critical patent/JPH113929A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To miniaturize a wafer alignment device and moreover provide a wafer alignment device corresponding to a large-sized wafer by carrying out alignment of a wafer, while keeping a wafer cassette in a horizontal position. SOLUTION: A wafer-mounting table 15 is provided rotatively to a tip part of a band-like base plate 10, a drive pulley is provided to the wafer-mounting table 15, an orientation motor 22 is provided to a base part of the base plate 10, a belt 24 is wound on a driving pulley provided to the orientation motor 22 and the driven pulley, an alignment sensor 26 is provided to the base plate 10, and a circumferential edge part of a wafer mounted on the wafer-mounting table 15 is detected according to this constitution. The wafer-mounting table 15 is rotated via a belt and a driven pulley by driving the orientation motor 22, a wafer is rotated by the rotation of the wafer mounting table 15, an orientation flat or notch is detected by the sensor 26 which detects a circumferential edge part of the wafer, rotation of the wafer-mounting table 15 is stopped upon detecting the orientation flat or notch and a wafer is aligned.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は被処理基板であるウ
ェーハの姿勢を整えるウェーハ姿勢合わせ装置、及び該
ウェーハ姿勢合わせ装置を具備した半導体製造装置に関
するものである。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a wafer position adjusting device for adjusting the position of a wafer as a substrate to be processed, and a semiconductor manufacturing apparatus provided with the wafer position adjusting device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体製造装置に設けられたウェーハ姿
勢合わせ装置としては特開平7−22495で開示され
たものがある。図10、図11に於いて該ウェーハ姿勢
合わせ装置を略述する。
2. Description of the Related Art As a wafer attitude adjusting device provided in a semiconductor manufacturing apparatus, there is one disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-22495. 10 and 11, the wafer posture adjusting device will be briefly described.

【0003】図10に示す様に半導体製造装置1の内部
正面側にはカセット授受装置2が設けられている。該カ
セット授受装置2は外部搬送装置(図示せず)と半導体
製造装置1間でのウェーハカセット3の授受を行うもの
であり、前記カセット授受装置2は外部搬送装置より垂
直姿勢のウェーハカセット3を受取り、垂直姿勢のウェ
ーハカセット3を外部搬送装置に受渡す様になってい
る。又、前記カセット授受装置2は図11に示すウェー
ハ姿勢合わせ装置8を具備している。
As shown in FIG. 10, a cassette transfer device 2 is provided on the front side inside the semiconductor manufacturing apparatus 1. The cassette transfer device 2 transfers a wafer cassette 3 between an external transfer device (not shown) and the semiconductor manufacturing apparatus 1. The cassette transfer device 2 transfers the wafer cassette 3 having a vertical posture from the external transfer device. Receiving and transferring the wafer cassette 3 in the vertical posture to an external transfer device. Further, the cassette transfer device 2 includes a wafer attitude adjusting device 8 shown in FIG.

【0004】オリエンテーションローラ4はウェーハカ
セット3内のウェーハ5に対して垂直な軸心を有し、ウ
ェーハカセット3の底部より露出するウェーハ5の下周
縁にに当接可能であり、前記オリエンテーションローラ
4はモータ6により回転される。
The orientation roller 4 has an axis perpendicular to the wafer 5 in the wafer cassette 3 and can contact the lower peripheral edge of the wafer 5 exposed from the bottom of the wafer cassette 3. Is rotated by a motor 6.

【0005】該オリエンテーションローラ4は昇降シリ
ンダ7により昇降可能であり、昇降シリンダ7により上
昇された状態で、前記ウェーハ5の下端に当接する様に
なっている。ウェーハ5には姿勢合わせを行う為のオリ
エンテーションフラット(円形の一部を切除し円周より
後退した直線)が形成されており、前記オリエンテーシ
ョンローラ4を回転させることによりウェーハ5が回転
し、オリエンテーションフラットが下側に来るとウェー
ハ5がオリエンテーションローラ4と非接触となり、ウ
ェーハ5の回転が停止し、ウェーハカセット3内のウェ
ーハ5はオリエンテーションフラットが下側位置となっ
た状態に姿勢合わせされる。
The orientation roller 4 can be moved up and down by a lifting cylinder 7, and comes into contact with the lower end of the wafer 5 while being raised by the lifting cylinder 7. The wafer 5 is provided with an orientation flat (a straight line cut off a part of the circle and receding from the circumference) for aligning the posture. By rotating the orientation roller 4, the wafer 5 is rotated, and the orientation flat is formed. Comes down, the wafer 5 comes out of contact with the orientation roller 4, the rotation of the wafer 5 is stopped, and the wafer 5 in the wafer cassette 3 is aligned with the orientation flat at the lower position.

【0006】半導体製造装置内部ではウェーハ5は水平
姿勢で搬送され、或は処理される為、前記カセット授受
装置2はウェーハカセット3を内部の機構に受渡す場合
にウェーハカセット3を水平姿勢とする為、ウェーハカ
セット3を90度回転させている。
In the semiconductor manufacturing apparatus, the wafers 5 are transported or processed in a horizontal position, and the cassette transfer device 2 sets the wafer cassettes 3 in a horizontal position when transferring the wafer cassette 3 to an internal mechanism. Therefore, the wafer cassette 3 is rotated by 90 degrees.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記した様に、従来の
ウェーハ姿勢合わせ装置ではウェーハの姿勢合わせをす
る為、カセット授受装置2が回転機構を具備していなけ
ればならず、カセット授受装置2の機構が複雑に、又大
きな占有スペースを必要としていた。又、ウェーハ姿勢
合わせ装置をカセット授受装置2以外の場所、特に半導
体製造装置内部に設けようとした場合は、前記した様に
ウェーハカセット3を垂直姿勢としなければならない
為、回転機構が必要となる。機構が複雑で且大きな占有
スペースを必要とするので、半導体製造装置内に設置す
ることは困難であった。更に、近年ウェーハ5は増々大
口径化し、ウェーハ5の大口径化に伴いウェーハカセッ
ト3も大型化しており、ウェーハカセット3を回転させ
ること自体が機械的に大きな負担となっている。
As described above, in the conventional wafer position adjusting device, in order to position the wafer, the cassette transfer device 2 must be provided with a rotating mechanism. The mechanism was complicated and required a large space. Further, when the wafer position adjusting device is to be provided in a place other than the cassette transfer device 2, especially in the semiconductor manufacturing apparatus, the wafer cassette 3 must be in the vertical position as described above, and thus a rotating mechanism is required. . Since the mechanism is complicated and requires a large occupied space, it has been difficult to install it in a semiconductor manufacturing apparatus. Further, in recent years, the diameter of the wafer 5 has been increasing, and the wafer cassette 3 has also been increased in size as the diameter of the wafer 5 has increased, so that the rotation of the wafer cassette 3 itself is a heavy mechanical burden.

【0008】本発明は斯かる実情に鑑み、ウェーハの姿
勢合わせをウェーハカセットが水平姿勢のまま行える様
にし、更にウェーハ姿勢合わせ装置の小型化を図り、半
導体製造装置内の任意な場所での設置を可能とし、設置
上の制約を受けない様にすると共にウェーハの大口径化
に対応したウェーハ姿勢合わせ装置、及びウェーハ姿勢
合わせ装置を具備した半導体製造装置を提供しようとし
するものである。
The present invention has been made in view of such circumstances, and has been made to enable the wafer orientation to be performed with the wafer cassette kept in a horizontal orientation, to further reduce the size of the wafer orientation apparatus, and to install the wafer orientation apparatus at an arbitrary place in a semiconductor manufacturing apparatus. It is an object of the present invention to provide a wafer position adjusting apparatus which does not suffer from restrictions on installation and which can cope with an increase in the diameter of a wafer, and a semiconductor manufacturing apparatus provided with the wafer position adjusting apparatus.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、帯状の台板の
先端部にウェーハ受載テーブルを回転自在に設けると共
に該ウェーハ受載テーブルに従動プーリを設け、前記台
板の基部にオリエンテーションモータを設け、該オリエ
ンテーションモータに設けた駆動プーリと前記従動プー
リとにベルトを掛回し、前記台板に姿勢合わせ用センサ
を設け、前記ウェーハ受載テーブルに受載された周縁部
を検出する様構成したウェーハ姿勢合わせ装置に係り、
又帯状の台板の先端部にウェーハ受載テーブルを回転自
在に設けると共に該ウェーハ受載テーブルに従動プーリ
を設け、前記台板の基部にオリエンテーションモータを
設け、該オリエンテーションモータに設けた駆動プーリ
と前記従動プーリとにベルトを掛回し、前記台板に姿勢
合わせ用センサを設け、前記ウェーハ受載テーブルに受
載された周縁部を検出する様構成したウェーハ姿勢合わ
せ装置を具備する半導体製造装置に係り、又ウェーハカ
セットを授受するカセット授受装置と、ウェーハカセッ
トを収納するカセット棚と、ウェーハを保持するボート
と、前記カセット授受装置とカセット棚間でウェーハカ
セットを移載するカセット移載機と、カセット棚とボー
ト間でウェーハの移載を行うウェーハ移載機とを少なく
とも有し、前記カセット棚の1区画にウェーハ姿勢合わ
せ装置を設けた半導体製造装置に係り、又ウェーハカセ
ットを授受するカセット授受装置と、ウェーハカセット
を収納するカセット棚と、ウェーハを保持するボート
と、前記カセット授受装置とカセット棚間でウェーハカ
セットを移載するカセット移載機と、カセット棚とボー
ト間でウェーハの移載を行うウェーハ移載機とを少なく
とも有し、前記カセット移載機にウェーハ姿勢合わせ装
置を併合させ設けた半導体製造装置に係り、又ウェーハ
カセットを授受するカセット授受装置と、ウェーハカセ
ットを収納するカセット棚と、ウェーハを保持するボー
トと、前記カセット授受装置とカセット棚間でウェーハ
カセットを移載するカセット移載機と、カセット棚とボ
ート間でウェーハの移載を行うウェーハ移載機とを少な
くとも有し、該ウェーハ移載機のウェーハ保持プレート
に代えウェーハ姿勢合わせ装置を設けた半導体製造装置
に係り、又更にウェーハを移載するウェーハ搬送ロボッ
トを有するウェーハ搬送室と、該ウェーハ搬送室に連設
されカセットが搬入搬出されるカセット室と、前記ウェ
ーハ搬送室に連設された反応室と、前記ウェーハ搬送室
に連設されウェーハ姿勢合わせ装置を具備する姿勢合わ
せ室とを具備する半導体製造装置に係るものである。
According to the present invention, a wafer receiving table is rotatably provided at a leading end of a band-shaped base plate, and a pulley driven by the wafer receiving table is provided. An orientation motor is provided at a base of the base plate. A belt is wrapped around a drive pulley and the driven pulley provided in the orientation motor, an attitude sensor is provided on the base plate, and a peripheral edge received on the wafer receiving table is detected. Related to the wafer alignment device
Also, a wafer receiving table is rotatably provided at the tip of the band-shaped base plate, a driven pulley is provided at the wafer receiving table, an orientation motor is provided at the base of the base plate, and a driving pulley provided at the orientation motor is provided. A semiconductor manufacturing apparatus comprising a wafer attitude aligning device configured to hang a belt around the driven pulley, provide an attitude alignment sensor on the base plate, and detect a peripheral edge received on the wafer receiving table. In addition, a cassette transfer device that transfers wafer cassettes, a cassette shelf that stores wafer cassettes, a boat that holds wafers, and a cassette transfer machine that transfers wafer cassettes between the cassette transfer device and cassette shelves, A wafer transfer device that transfers wafers between a cassette shelf and a boat; The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus in which a wafer position aligning device is provided in one section of a cassette shelf, a cassette transfer device for transferring a wafer cassette, a cassette shelf for storing a wafer cassette, a boat for holding wafers, and the cassette transfer device. A cassette transfer machine for transferring a wafer cassette between the apparatus and a cassette shelf, and a wafer transfer machine for transferring a wafer between the cassette shelf and a boat; A cassette transfer device for transferring wafer cassettes, a cassette shelf for storing wafer cassettes, a boat for holding wafers, and a wafer cassette between the cassette transfer device and cassette shelves. Cassette transfer machine to transfer, and way to transfer wafers between cassette shelf and boat A wafer transfer chamber having at least a transfer machine, and a wafer transfer chamber having a wafer transfer robot for transferring a wafer, further relating to a semiconductor manufacturing apparatus provided with a wafer orientation device instead of a wafer holding plate of the wafer transfer machine, A cassette chamber connected to the wafer transfer chamber, into which a cassette is loaded and unloaded; a reaction chamber connected to the wafer transfer chamber; and a position alignment chamber connected to the wafer transfer chamber and including a wafer position alignment device. The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus comprising:

【0010】オリエンテーションモータの駆動によりベ
ルト、従動プーリを介してウェーハ受載テーブルを回転
する。該ウェーハ受載テーブルの回転と共にウェーハが
回転し、該ウェーハの周縁部を検出している姿勢合わせ
用センサによりオリエンテーションフラット、或はノッ
チが検知され、該オリエンテーションフラット、或はノ
ッチの検知で前記ウェーハ受載テーブルの回転を停止し
てウェーハの姿勢合わせを行う。
When the orientation motor is driven, the wafer receiving table is rotated via a belt and a driven pulley. The wafer rotates with the rotation of the wafer receiving table, and an orientation flat or a notch is detected by a position alignment sensor that detects a peripheral portion of the wafer, and the wafer is detected by detecting the orientation flat or the notch. The rotation of the receiving table is stopped, and the posture of the wafer is adjusted.

【0011】半導体製造装置内のウェーハカセットの収
納場所、ウェーハの収納場所にウェーハ姿勢合わせ装置
が設けられ、ウェーハの姿勢合わせが行われ、或は半導
体製造装置内のカセット移載機に併合して、ウェーハ移
載機の構成要素の一部としてウェーハ姿勢合わせ装置が
組込まれ、ウェーハカセットに収納された状態でウェー
ハの姿勢合わせが行われ、或はウェーハの移載動作途中
でウェーハの姿勢合わせが行われる。
A wafer position adjusting device is provided at a wafer cassette storing place and a wafer storing place in the semiconductor manufacturing apparatus, and the wafer position is adjusted or combined with a cassette transfer machine in the semiconductor manufacturing apparatus. As a part of the components of the wafer transfer machine, a wafer position alignment device is incorporated and the position of the wafer is adjusted while being stored in the wafer cassette, or the position of the wafer is adjusted during the wafer transfer operation. Done.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】帯板状の台板10の上面側から該台板10
の外形に沿って周回する長円状のベルト収納溝11を刻
設し、該ベルト収納溝11の先端半円部に連続して円形
を完成する半円弧溝12を刻設する。該ベルト収納溝1
1の先端半円部、半円弧溝12の中心部に残置された円
形の突出部は従動側軸部13を形成し、該従動側軸部1
3には軸受14を介してウェーハ受載テーブル15が回
転自在に嵌合する。該ウェーハ受載テーブル15の従動
側軸部13との嵌合部分16は円環状に突出し、該嵌合
部分16には従動プーリ17が外嵌している。
From the upper surface side of the strip-shaped base plate 10,
An elliptical belt accommodating groove 11 that circulates along the outer shape of the belt engraving is formed, and a semicircular arc groove 12 that continuously completes a circle is engraved on the semicircular portion at the tip of the belt accommodating groove 11. The belt storage groove 1
1 and a circular projection left at the center of the semicircular arc groove 12 forms a driven side shaft portion 13.
A wafer receiving table 15 is rotatably fitted to 3 via a bearing 14. A fitting portion 16 of the wafer receiving table 15 with the driven-side shaft portion 13 projects in an annular shape, and a driven pulley 17 is fitted on the fitting portion 16 outside.

【0014】先端側と同様、前記ベルト収納溝11の基
端半円部に連続して円形を完成する半円弧溝18を刻設
し、中心部には駆動側軸部19を残置形成する。モータ
台21を介して前記駆動側軸部19の同軸上にオリエン
テーションモータ22を設け、該オリエンテーションモ
ータ22の出力軸に駆動プーリ23を嵌着すると共に該
駆動プーリ23を前記駆動側軸部19に軸受(図示せ
ず)を介して回転自在に外嵌する。前記駆動プーリ23
と前記従動プーリ17間にはベルト24が掛回され、前
記オリエンテーションモータ22の駆動により駆動プー
リ23、ベルト24、従動プーリ17を介して前記ウェ
ーハ受載テーブル15が回転される。
Similarly to the front end side, a semicircular groove 18 for continuously forming a circular shape is engraved in the base semicircular portion of the belt accommodating groove 11, and a driving side shaft portion 19 is formed in the center portion. An orientation motor 22 is provided coaxially with the drive shaft 19 via a motor base 21, and a drive pulley 23 is fitted on an output shaft of the orientation motor 22, and the drive pulley 23 is attached to the drive shaft 19. It is rotatably fitted via a bearing (not shown). The drive pulley 23
A belt 24 is wound between the driven pulley 17 and the driven pulley 17, and the wafer receiving table 15 is rotated by the driving of the orientation motor 22 via the driving pulley 23, the belt 24, and the driven pulley 17.

【0015】前記ウェーハ受載テーブル15にはウェー
ハ5が載置され、ウェーハ5が前記ウェーハ受載テーブ
ル15の回転によって回転される様になっている。前記
台板10のウェーハ周縁近傍位置には凹部25が形成さ
れ、該凹部25にはオリエンテーションフラット検出用
の姿勢合わせ用センサ26が固着されている。
The wafer 5 is placed on the wafer receiving table 15, and the wafer 5 is rotated by the rotation of the wafer receiving table 15. A recess 25 is formed at a position near the wafer periphery of the base plate 10, and a posture alignment sensor 26 for detecting an orientation flat is fixed to the recess 25.

【0016】該姿勢合わせ用センサ26には凹部が形成
されており、該凹部に前記ウェーハ5の縁部が通過する
様になっていると共に前記凹部を挾んで透過型光センサ
(図示せず)が設けられている。前記ウェーハ5の周縁
部は前記透過型光センサの光軸を遮り、オリエンテーシ
ョンフラットは該光軸から外れる様になっている。
A concave portion is formed in the position adjusting sensor 26, and the edge of the wafer 5 passes through the concave portion, and a transmissive optical sensor (not shown) sandwiching the concave portion. Is provided. The peripheral edge of the wafer 5 blocks the optical axis of the transmission type optical sensor, and the orientation flat is off the optical axis.

【0017】ウェーハ5の姿勢合わせは、前記台板10
をウェーハ5の下側に進入させ、ウェーハ受載テーブル
15の中心と前記ウェーハ5の中心とが一致した位置で
前記台板10を上昇させ、前記ウェーハ受載テーブル1
5にウェーハ5を受載する。前記オリエンテーションモ
ータ22を駆動して前記ウェーハ受載テーブル15を回
転させ、前記姿勢合わせ用センサ26によりオリエンテ
ーションフラットを検出する。該姿勢合わせ用センサ2
6によりオリエンテーションフラットを検出した位置で
オリエンテーションモータ22を停止し、ウェーハ受載
テーブル15の回転を停止させれば、ウェーハ5の姿勢
合わせが完了する。
The orientation of the wafer 5 is adjusted by the
Into the lower side of the wafer 5 and raise the base plate 10 at a position where the center of the wafer receiving table 15 and the center of the wafer 5 coincide with each other.
Then, the wafer 5 is received. The orientation motor 22 is driven to rotate the wafer receiving table 15, and the orientation flat sensor 26 detects an orientation flat. The posture adjustment sensor 2
When the orientation motor 22 is stopped at the position where the orientation flat is detected by 6 and the rotation of the wafer receiving table 15 is stopped, the alignment of the wafer 5 is completed.

【0018】尚、オリエンテーションモータ22の回転
停止を確実にウェーハ受載テーブル15に伝達する為に
は前記ベルト24はタイミングベルトであることが好ま
しい。又、前記姿勢合わせ用センサ26は反射型光セン
サであっても、透過型或は反射型の超音波センサであっ
てもよい。
The belt 24 is preferably a timing belt in order to reliably transmit the rotation stop of the orientation motor 22 to the wafer receiving table 15. Further, the attitude adjusting sensor 26 may be a reflection type optical sensor or a transmission type or reflection type ultrasonic sensor.

【0019】図4、図5は複数枚のウェーハ5(図示で
は3枚)を同時に姿勢合わせする様にした実施の形態を
示すものである。
FIGS. 4 and 5 show an embodiment in which a plurality of wafers 5 (three in the drawing) are simultaneously aligned.

【0020】該実施の形態では上述したウェーハ姿勢合
わせ装置を1つのユニット27として上下に3段配設
し、且前記オリエンテーションモータ22が干渉しない
様に、平面的には前記ウェーハ受載テーブル15の中心
を中心として放射状に配置した構成を有する。下段のモ
ータ台21に上段の台板10を固着して上下のユニット
を一体化する。各ユニット27,27,27の構成、作
動については前述した通りであるので説明は省略する。
In this embodiment, the above-described wafer attitude adjusting device is arranged in three stages vertically as one unit 27, and the wafer receiving table 15 is planarly arranged so that the orientation motor 22 does not interfere. It has a configuration arranged radially about the center. The upper base plate 10 is fixed to the lower motor base 21 to integrate the upper and lower units. The configuration and operation of each of the units 27, 27, 27 are as described above, and therefore description thereof is omitted.

【0021】図6で示す実施の形態は図4で示した実施
の形態と同様、複数枚のウェーハ5(図示では3枚)を
同時に姿勢合わせする様にしたものである。該実施の形
態では前述した台板10をくの字状に屈曲させ、オリエ
ンテーションモータ22の干渉を避けたものである。屈
曲箇所には前記ベルト24をガイドする為のガイドプー
リ(図示せず)が設けられていることは言う迄もない。
In the embodiment shown in FIG. 6, as in the embodiment shown in FIG. 4, a plurality of wafers 5 (three in the drawing) are simultaneously aligned. In this embodiment, the above-mentioned base plate 10 is bent in a V-shape to avoid the interference of the orientation motor 22. Needless to say, a guide pulley (not shown) for guiding the belt 24 is provided at the bent portion.

【0022】尚、図示していないがオリエンテーション
モータ22を前記台板10の下側に取付ける構成とすれ
ば、更に3組のユニット27を重ね合わせることがで
き、上述した構成で最大6組のユニットを一体化でき、
6枚のウェーハを同時に姿勢合わせすることができる。
尚、図5で示した台板10の形状を適宜変更し、オリエ
ンテーションモータの干渉を避ける様にすれば更に多数
のユニット27を一体化できることは勿論である。
Although not shown, if the configuration is such that the orientation motor 22 is attached to the lower side of the base plate 10, three sets of units 27 can be further superimposed. Can be integrated,
The postures of six wafers can be simultaneously adjusted.
Incidentally, if the shape of the base plate 10 shown in FIG. 5 is appropriately changed so as to avoid the interference of the orientation motor, a larger number of units 27 can of course be integrated.

【0023】図7は姿勢合わせ用センサ26の変形を示
すものであり、ウェーハ5間のピッチが狭くて前記姿勢
合わせ用センサ26では上側のウェーハ5に干渉する場
合に使用される。
FIG. 7 shows a deformation of the position adjusting sensor 26, which is used when the pitch between the wafers 5 is narrow and the position adjusting sensor 26 interferes with the upper wafer 5.

【0024】投光側、受光側にそれぞれ光ファイバーが
用いられ、上側の光ファイバ(図示するものは投光側光
ファイバ)28を短くした斜型ファイバセンサ30で
は、光ファイバで導いた光を上側光ファイバ28の先端
より検出光として斜に投射し、下側光ファイバ29の先
端で受光し、図示しない受光素子迄導く様にしたもので
あり、前述した姿勢合わせ用センサ26と同様ウェーハ
5の縁部が光軸を遮るか否かで前記オリエンテーション
フラットを検出する様にしたものである。
An optical fiber is used for each of the light projecting side and the light receiving side, and the oblique fiber sensor 30 in which the upper optical fiber (the optical fiber on the projecting side is shown) 28 is shortened. The detection light is obliquely projected from the tip of the optical fiber 28 as the detection light, is received by the tip of the lower optical fiber 29, and is guided to a light receiving element (not shown). The orientation flat is detected based on whether or not the edge blocks the optical axis.

【0025】図8は上記したウェーハ姿勢合わせ装置が
バッチ式の半導体製造装置に装備される状況を示すもの
である。先ず、図8で示される半導体製造装置について
略述する。
FIG. 8 shows a situation in which the above-mentioned wafer position adjusting apparatus is provided in a batch type semiconductor manufacturing apparatus. First, the semiconductor manufacturing apparatus shown in FIG. 8 will be briefly described.

【0026】半導体製造装置の内部前面側に設けられた
カセット授受装置2と対峙してカセット棚32、該カセ
ット棚32の上方にはバッファカセット棚33が設けら
れ、更に該バッファカセット棚33の背面側にはボート
34が配設され、該ボート34は図示しないボートエレ
ベータに昇降可能に支持されている。
A cassette shelf 32 is provided facing the cassette transfer device 2 provided on the front side inside the semiconductor manufacturing apparatus, and a buffer cassette shelf 33 is provided above the cassette shelf 32, and further, a back surface of the buffer cassette shelf 33 is provided. A boat 34 is disposed on the side, and the boat 34 is supported by a boat elevator (not shown) so as to be able to move up and down.

【0027】前記カセット授受装置2とカセット棚32
との間にはカセット授受装置2とカセット棚32、バッ
ファカセット棚33との間で、或はカセット棚32とバ
ッファカセット棚33との間でウェーハカセットを移載
するカセット移載機35が設けられ、前記カセット棚3
2と前記ボート34との間でウェーハ5を移載するウェ
ーハ移載機36が設けられている。前記ボート34には
ウェーハ5が水平姿勢で多段に装填され、ボート34に
保持された状態で図示しない反応炉に装入され、薄膜の
生成、不純物の拡散、或はアニール処理等所要の処理が
なされる。
The cassette transfer device 2 and the cassette shelf 32
A cassette transfer device 35 for transferring a wafer cassette between the cassette transfer device 2 and the cassette shelf 32 and the buffer cassette shelf 33 or between the cassette shelf 32 and the buffer cassette shelf 33 is provided between the cassette transfer device 2 and the cassette shelf 32. The cassette shelf 3
A wafer transfer machine 36 for transferring the wafers 5 between the boat 2 and the boat 34 is provided. The boat 5 is loaded with the wafers 5 in multiple stages in a horizontal posture, loaded into a reaction furnace (not shown) while being held by the boat 34, and subjected to necessary processing such as thin film generation, impurity diffusion, or annealing. Done.

【0028】外部搬送装置より搬入されたウェーハカセ
ット3はカセット授受装置2に受渡され、前記カセット
移載機35によりカセット棚32、或はバッファカセッ
ト棚33に移載される。前記カセット授受装置2では姿
勢合わせは行われないので、カセット授受装置2はウェ
ーハカセットを90度回転する必要がなく機構が簡略化
される。
The wafer cassette 3 carried in from the external transfer device is transferred to the cassette transfer device 2 and transferred to the cassette shelf 32 or the buffer cassette shelf 33 by the cassette transfer device 35. Since the posture is not adjusted in the cassette transfer device 2, the cassette transfer device 2 does not need to rotate the wafer cassette by 90 degrees, and the mechanism is simplified.

【0029】前記カセット移載機35は、横行可能な昇
降ガイド38に沿って昇降可能な昇降ステージ39に2
組の移載アーム41が設けられた構成であり、前記昇降
ステージ39の昇降、移載アーム41の進退でウェーハ
カセットの移載を行う。
The cassette transfer device 35 is mounted on a lift stage 39 which can be moved up and down along a vertically movable guide 38.
In this configuration, a set of transfer arms 41 is provided, and the wafer cassette is transferred by raising and lowering the elevating stage 39 and moving the transfer arm 41 forward and backward.

【0030】上述したウェーハ姿勢合わせ装置の設置箇
所は、前記カセット棚32の一区画、例えば図8中ハッ
チングを付した部分に設け、姿勢合わせを必要とするウ
ェーハカセットをハッチングを付した部分に移載する様
にしてもよい。或は、カセット移載機35に併合して設
けてもよい。即ち、前記昇降ガイド38に図1、図4、
図6で示したウェーハ姿勢合わせ装置を昇降可能に設
け、カセット移載機35がウェーハカセットの移載を行
わない場合に昇降ステージ39を待避させ、ウェーハ姿
勢合わせ装置を昇降、カセット棚32に対し進退させ、
前記ウェーハ受載テーブル15に所定のウェーハ5を受
載後、該ウェーハ5をウェーハカセット3より僅かに浮
かせ、ウェーハを引出すことなく姿勢合わせを行う様に
してもよい。
The installation position of the above-described wafer position adjusting device is provided in one section of the cassette shelf 32, for example, a hatched portion in FIG. 8, and a wafer cassette requiring the position alignment is moved to the hatched portion. It may be put on. Alternatively, it may be provided in combination with the cassette transfer machine 35. That is, FIGS.
The wafer position adjusting device shown in FIG. 6 is provided so as to be able to move up and down. When the cassette transfer device 35 does not transfer the wafer cassette, the elevating stage 39 is evacuated. Retreat,
After the predetermined wafer 5 is received on the wafer receiving table 15, the wafer 5 may be slightly lifted from the wafer cassette 3 so that the posture is adjusted without pulling out the wafer.

【0031】又、図示される如く前記ウェーハ移載機3
6は、1枚毎にウェーハを受載プレート42に保持して
移載を行う様になっているが、ウェーハ移載機36の受
載プレート42を前記台板10、ウェーハ受載テーブル
15に置換し、ウェーハ移載機36の構成の一部として
上述したウェーハ姿勢合わせ装置を組込むことも可能で
ある。この場合、ウェーハの移載と同時にウェーハ姿勢
合わせを行うことができるのでウェーハ姿勢合わせの時
間が短縮若しくは省略できるのでスループットの向上が
図れる。
Further, as shown in FIG.
6, the transfer is performed by holding the wafers one by one on the receiving plate 42, and the receiving plate 42 of the wafer transfer machine 36 is placed on the base plate 10 and the wafer receiving table 15; It is also possible to replace and incorporate the above-described wafer orientation device as a part of the configuration of the wafer transfer machine 36. In this case, the wafer alignment can be performed at the same time as the transfer of the wafer, so that the wafer alignment time can be shortened or omitted, thereby improving the throughput.

【0032】図9は前記ウェーハ姿勢合わせ装置を具備
した枚葉式の半導体製造装置を示している。
FIG. 9 shows a single-wafer type semiconductor manufacturing apparatus provided with the above-mentioned wafer position adjusting apparatus.

【0033】枚葉式半導体製造装置の概略を説明する。The outline of the single wafer type semiconductor manufacturing apparatus will be described.

【0034】気密なウェーハ搬送室45に対して放射状
にカセット室46,47及び姿勢合わせ室48,49、
更に反応室51,52がそれぞれゲート弁53,54及
びゲート弁55,56、更にゲート弁57,58を介し
て気密に連設されている。前記ウェーハ搬送室45内部
にはウェーハ搬送ロボット59設けられており、前記姿
勢合わせ室48,49内部には前述したウェーハ姿勢合
わせ装置(図8中では符号50で示す)が設けられてい
る。
The cassette chambers 46, 47 and the attitude adjusting chambers 48, 49,
Further, reaction chambers 51 and 52 are air-tightly connected via gate valves 53 and 54, gate valves 55 and 56, and gate valves 57 and 58, respectively. A wafer transfer robot 59 is provided inside the wafer transfer chamber 45, and the above-described wafer position adjustment device (indicated by reference numeral 50 in FIG. 8) is provided inside the position adjustment chambers 48 and 49.

【0035】ウェーハが装填されたウェーハカセット3
が外部よりカセット室46,47のいずれが一方に、例
えばカセット室46に搬入される。前記ゲート弁53、
ゲート弁55が開かれ、ウェーハ搬送ロボット59がウ
ェーハ5を受載し、姿勢合わせ室48のウェーハ姿勢合
わせ装置50に受載する。ウェーハ姿勢合わせ装置でウ
ェーハの姿勢合わせが行われ、姿勢合わせが完了すると
前記ウェーハ搬送ロボット59によりウェーハ5がウェ
ーハ姿勢合わせ装置50から取出される。ゲート弁5
3,55が閉じられ、ゲート弁57が開かれ、前記ウェ
ーハ搬送ロボット59により反応室51内に移載され
る。ゲート弁57が閉じられ、ウェーハに所要の処理が
行われると前記ゲート弁57,53が開かれ、前記ウェ
ーハ搬送ロボット59により反応室51からカセット室
46にウェーハ5の移載が行われる。
Wafer cassette 3 loaded with wafers
Is carried into one of the cassette chambers 46 and 47 from the outside, for example, into the cassette chamber 46. The gate valve 53,
The gate valve 55 is opened, and the wafer transfer robot 59 receives the wafer 5 and receives it on the wafer alignment device 50 in the alignment chamber 48. The wafer alignment is performed by the wafer alignment device, and when the alignment is completed, the wafer 5 is taken out of the wafer alignment device 50 by the wafer transfer robot 59. Gate valve 5
3 and 55 are closed, the gate valve 57 is opened, and the wafer is transferred into the reaction chamber 51 by the wafer transfer robot 59. When the gate valve 57 is closed and the required processing is performed on the wafer, the gate valves 57 and 53 are opened, and the wafer 5 is transferred from the reaction chamber 51 to the cassette chamber 46 by the wafer transfer robot 59.

【0036】尚、前記姿勢合わせ室48,49はウェー
ハの予熱室、或は冷却室を兼ねてもよい。
The position adjusting chambers 48 and 49 may also serve as a wafer preheating chamber or a cooling chamber.

【0037】該枚葉式半導体製造装置に於いてもウェー
ハの姿勢を変更する機構が省略できるので、機構が大幅
に簡略化できると共に半導体製造装置の設置スペースも
倹約できる。
Also in the single-wafer type semiconductor manufacturing apparatus, a mechanism for changing the attitude of the wafer can be omitted, so that the mechanism can be greatly simplified and the installation space of the semiconductor manufacturing apparatus can be saved.

【0038】尚、上記実施の形態ではオリエンテーショ
ンフラットについて説明したがウェーハにノッチが形成
されている場合にも同様に実施できることは言う迄もな
い。
In the above-described embodiment, the orientation flat has been described, but it goes without saying that the present invention can be similarly applied to a case where a notch is formed in a wafer.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、ウェー
ハが水平姿勢で姿勢合わせが行えるので、カセット回転
機構が不要であり、機構が簡単になり、特に大径のウェ
ーハを処理する場合に有効であり、更にカセット移載
機、ウェーハ移載機等の他の機構部に一体に組込むこと
が可能であり、省スペース化が図れると共に姿勢合わせ
とウェーハカセットの移載等他の動作との併合が可能と
なり、作動時間を短縮できスループットを向上させるこ
とができる。
As described above, according to the present invention, since the wafer can be aligned in a horizontal position, a cassette rotating mechanism is not required, the mechanism is simplified, and particularly when a large-diameter wafer is processed. It is effective and can be integrated into other mechanisms such as a cassette transfer machine and a wafer transfer machine.This saves space and allows for the alignment of posture and other operations such as wafer cassette transfer. Merging becomes possible, and the operation time can be shortened and the throughput can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of the present invention.

【図2】同前実施の形態を示す立断面図である。FIG. 2 is an elevational sectional view showing the first embodiment.

【図3】図2のA部拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view of a portion A in FIG. 2;

【図4】本発明の他の実施の形態を示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing another embodiment of the present invention.

【図5】同前他の実施の形態を示す立断面図である。FIG. 5 is an elevational sectional view showing another embodiment of the same.

【図6】本発明の更に他の実施の形態を示す平面図であ
る。
FIG. 6 is a plan view showing still another embodiment of the present invention.

【図7】本発明に使用される姿勢合わせ用センサの一例
を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a posture adjusting sensor used in the present invention.

【図8】本発明をバッチ式の半導体製造装置に実施した
実施の形態を示す斜視説明図である。
FIG. 8 is a perspective explanatory view showing an embodiment in which the present invention is applied to a batch type semiconductor manufacturing apparatus.

【図9】本発明を枚葉式の半導体製造装置に実施した実
施の形態を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing an embodiment in which the present invention is applied to a single-wafer type semiconductor manufacturing apparatus.

【図10】従来の半導体製造装置を示す部分斜視図であ
る。
FIG. 10 is a partial perspective view showing a conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図11】従来のウェーハ姿勢合わせ装置を示す斜視図
である。
FIG. 11 is a perspective view showing a conventional wafer attitude alignment apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体製造装置 2 カセット授受装置 3 ウェーハカセット 5 ウェーハ 10 台板 15 ウェーハ受載テーブル 17 従動プーリ 22 オリエンテーションモータ 23 駆動プーリ 24 ベルト 26 姿勢合わせ用センサ 35 カセット移載機 36 ウェーハ移載機 48 姿勢合わせ室 49 姿勢合わせ室 50 ウェーハ姿勢合わせ装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor manufacturing apparatus 2 Cassette transfer apparatus 3 Wafer cassette 5 Wafer 10 Base plate 15 Wafer receiving table 17 Follower pulley 22 Orientation motor 23 Drive pulley 24 Belt 26 Position alignment sensor 35 Cassette transfer machine 36 Wafer transfer machine 48 Position alignment Room 49 Position alignment chamber 50 Wafer alignment device

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 帯状の台板の先端部にウェーハ受載テー
ブルを回転自在に設けると共に該ウェーハ受載テーブル
に従動プーリを設け、前記台板の基部にオリエンテーシ
ョンモータを設け、該オリエンテーションモータに設け
た駆動プーリと前記従動プーリとにベルトを掛回し、前
記台板に姿勢合わせ用センサを設け、前記ウェーハ受載
テーブルに受載された周縁部を検出する様構成したこと
を特徴とするウェーハ姿勢合わせ装置。
1. A wafer receiving table is rotatably provided at a front end of a band-shaped base plate, a driven pulley is provided at the wafer receiving table, an orientation motor is provided at a base of the base plate, and the orientation motor is provided at the base motor. Wherein a belt is wound around the driven pulley and the driven pulley, an attitude sensor is provided on the base plate, and a peripheral portion received on the wafer receiving table is detected. Matching device.
【請求項2】 帯状の台板の先端部にウェーハ受載テー
ブルを回転自在に設けると共に該ウェーハ受載テーブル
に従動プーリを設け、前記台板の基部にオリエンテーシ
ョンモータを設け、該オリエンテーションモータに設け
た駆動プーリと前記従動プーリとにベルトを掛回し、前
記台板に姿勢合わせ用センサを設け、前記ウェーハ受載
テーブルに受載された周縁部を検出する様構成したウェ
ーハ姿勢合わせ装置を具備することを特徴とする半導体
製造装置。
2. A wafer receiving table is rotatably provided at the tip of a band-shaped base plate, a driven pulley is provided at the wafer receiving table, an orientation motor is provided at a base of the base plate, and the orientation motor is provided at the base. And a wafer position aligning device configured to hang a belt between the driven pulley and the driven pulley, provide a position adjusting sensor on the base plate, and detect a peripheral portion received on the wafer receiving table. A semiconductor manufacturing apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項3】 ウェーハカセットを授受するカセット授
受装置と、ウェーハカセットを収納するカセット棚と、
ウェーハを保持するボートと、前記カセット授受装置と
カセット棚間でウェーハカセットを移載するカセット移
載機と、カセット棚とボート間でウェーハの移載を行う
ウェーハ移載機とを少なくとも有し、前記カセット棚の
1区画にウェーハ姿勢合わせ装置を設けた請求項2の半
導体製造装置。
3. A cassette transfer device for transferring a wafer cassette, a cassette shelf for storing the wafer cassette,
A boat for holding wafers, a cassette transfer machine for transferring a wafer cassette between the cassette transfer device and the cassette shelf, and at least a wafer transfer machine for transferring wafers between the cassette shelf and the boat, 3. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 2, wherein a wafer position adjusting device is provided in one section of said cassette shelf.
【請求項4】 ウェーハカセットを授受するカセット授
受装置と、ウェーハカセットを収納するカセット棚と、
ウェーハを保持するボートと、前記カセット授受装置と
カセット棚間でウェーハカセットを移載するカセット移
載機と、カセット棚とボート間でウェーハの移載を行う
ウェーハ移載機とを少なくとも有し、前記カセット移載
機にウェーハ姿勢合わせ装置を併合させ設けた請求項2
の半導体製造装置。
4. A cassette transfer device for transferring a wafer cassette, a cassette shelf for storing the wafer cassette,
A boat for holding wafers, a cassette transfer machine for transferring a wafer cassette between the cassette transfer device and the cassette shelf, and at least a wafer transfer machine for transferring wafers between the cassette shelf and the boat, 3. The cassette transfer device according to claim 2, further comprising a wafer position adjusting device.
Semiconductor manufacturing equipment.
【請求項5】 ウェーハカセットを授受するカセット授
受装置と、ウェーハカセットを収納するカセット棚と、
ウェーハを保持するボートと、前記カセット授受装置と
カセット棚間でウェーハカセットを移載するカセット移
載機と、カセット棚とボート間でウェーハの移載を行う
ウェーハ移載機とを少なくとも有し、該ウェーハ移載機
のウェーハ保持プレートに代えウェーハ姿勢合わせ装置
を設けた請求項2の半導体製造装置。
5. A cassette transfer device for transferring a wafer cassette, a cassette shelf for storing the wafer cassette,
A boat for holding wafers, a cassette transfer machine for transferring a wafer cassette between the cassette transfer device and the cassette shelf, and at least a wafer transfer machine for transferring wafers between the cassette shelf and the boat, 3. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 2, wherein a wafer position adjusting device is provided in place of the wafer holding plate of said wafer transfer machine.
【請求項6】 ウェーハを移載するウェーハ搬送ロボッ
トを有するウェーハ搬送室と、該ウェーハ搬送室に連設
されカセットが搬入搬出されるカセット室と、前記ウェ
ーハ搬送室に連設された反応室と、前記ウェーハ搬送室
に連設されウェーハ姿勢合わせ装置を具備する姿勢合わ
せ室とを具備する請求項2の半導体製造装置。
6. A wafer transfer chamber having a wafer transfer robot for transferring a wafer, a cassette chamber connected to the wafer transfer chamber and loaded with a cassette, and a reaction chamber connected to the wafer transfer chamber. 3. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 2, further comprising: a posture adjusting chamber provided with a wafer posture aligning device connected to said wafer transfer chamber.
JP16960297A 1997-06-11 1997-06-11 Wafer alignment device and semiconductor manufacture device equipped with the device Pending JPH113929A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002151576A (en) * 2000-07-27 2002-05-24 Applied Materials Inc Apparatus for finding center in transfer and notch aligning for wafer handling robots
JP2006303249A (en) * 2005-04-21 2006-11-02 Ebara Corp Wafer delivery device, polishing unit, and wafer receiving method
JP2011146600A (en) * 2010-01-15 2011-07-28 Kawasaki Heavy Ind Ltd Aligner

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