JPH1137827A - Measuring device of load - Google Patents

Measuring device of load

Info

Publication number
JPH1137827A
JPH1137827A JP9205497A JP20549797A JPH1137827A JP H1137827 A JPH1137827 A JP H1137827A JP 9205497 A JP9205497 A JP 9205497A JP 20549797 A JP20549797 A JP 20549797A JP H1137827 A JPH1137827 A JP H1137827A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
load
temperature
curve
value
load measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9205497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshikazu Nagane
吉一 長根
Yuji Fukami
雄二 深見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
A&D Holon Holdings Co Ltd
Original Assignee
A&D Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by A&D Co Ltd filed Critical A&D Co Ltd
Priority to JP9205497A priority Critical patent/JPH1137827A/en
Publication of JPH1137827A publication Critical patent/JPH1137827A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measurement Of Force In General (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable accurate correction of temperature, in a measuring device of load, which has a temperature dependence as output characteristic. SOLUTION: In a storage means 4, data on the output characteristic of a load measuring means 1, which changes according to a change in temperature and which is expressed by two accurate curves L1 and L2 based on a hysteresis brought about corresponding to an increase and decrease of the temperature are stored. An arithmetic means 3 detects temperature T1 on the occasion when the load measuring means 1 measures a load, by a temperature detecting means 5, and a comparing means 7 compares this temperature with the previous detected temperature T2 outputted from RAM 6 and determines whether or not the present detected temperature T1 has increased beyond the previous one. Either the curve L1 or L2 of the storage beans 4 is selected, a corrective value corresponding to the detected temperature T1 on the selected curve is obtained and a measured value of the load is corrected by this corrective value and displayed in a display means 8.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は荷重を測定する装置
に係り、特に荷重測定手段から出力される測定値を温度
の変化に対応して補正することにより正確な測定値を表
示するよう構成した荷重測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for measuring a load, and more particularly to an apparatus for displaying an accurate measured value by correcting a measured value outputted from a load measuring means in accordance with a change in temperature. The present invention relates to a load measuring device.

【0002】荷重を測定する装置のうち、例えばロード
セル式秤量装置や電磁平衡式秤量装置等、荷重を電気信
号に変換しかつこの電気信号をA/D変換回路、各種演
算回路を経て秤量物の測定荷重に変換して表示する電子
式の荷重測定装置(以下特に断らない限り「荷重測定装
置」の語はこの電子式荷重測定装置を示す)が提供され
ている。この種の装置は高い測定精度を有している反
面、装置の一部に、ストレインゲージや電磁部等比較的
大きな温度依存性を有する構成部材が使用される。この
ため温度変化に対応してスパン、ゼロ点ともに変化する
ことは避けられない。即ち荷重を測定する部分から出力
される荷重測定値は温度変化に対応してその出力が変化
するという温度依存性の出力特性を有している。この特
性は装置の精度が余り高くない場合にはある程度無視す
ることも可能であるが、装置の精度の向上に対応してこ
の出力特性を補正(温度補償)して、正確な測定値を表
示する必要度が高くなる。このような要請に応じ、温度
依存性の出力特性を補正する方法が現在いくつか提案さ
れている。
[0002] Among the devices for measuring loads, for example, a load cell type weighing device and an electromagnetic balance type weighing device, the load is converted into an electric signal, and the electric signal is converted into an electric signal through an A / D conversion circuit and various arithmetic circuits. There is provided an electronic load measuring device (hereinafter, the term "load measuring device" indicates the electronic load measuring device unless otherwise specified) which is converted into a measured load and displayed. Although this type of device has high measurement accuracy, a component having relatively large temperature dependency, such as a strain gauge or an electromagnetic unit, is used as a part of the device. Therefore, it is inevitable that both the span and the zero point change in response to the temperature change. That is, the measured load value output from the load measuring portion has a temperature-dependent output characteristic that its output changes in response to a temperature change. This characteristic can be neglected to some extent if the accuracy of the device is not very high. However, this output characteristic is corrected (temperature compensated) in accordance with the improvement of the accuracy of the device, and accurate measurement values are displayed. The need to do so increases. In response to such demands, several methods for correcting the temperature-dependent output characteristics have been proposed at present.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】例えば上記出力特性を
スパンを例に考察すると、上記装置においては、機種、
構成の差はあるものの一般に温度の上昇と共に測定値出
力も上昇するようスパンが変化することが知られてい
る。この場合、温度に対するスパンの変化が直線である
ことを前提とすれば、温度変化に対する補正値が容易に
設定でき、少ない回路構成で補正が可能となる。
For example, considering the above-mentioned output characteristics by taking a span as an example, in the above-mentioned apparatus, the model,
It is known that, although there is a difference in the configuration, the span generally changes so that the measured value output increases as the temperature increases. In this case, assuming that the change in span with respect to temperature is a straight line, a correction value for temperature change can be easily set, and correction can be performed with a small circuit configuration.

【0004】しかしながら、スパンは厳密には直線的に
変化することはなく、二次曲線に近似する変化を示す。
即ち、電磁平衡式秤量装置では高分解能化に伴ってスパ
ン変化が二次曲線に近似し、同様にロードセル式秤量装
置でも例えば1万分の1以上の高分解能の装置ではスパ
ン変化が二次曲線に近似し、従って直線を前提とする補
正方法では正確な補正が困難な状況が予想される。ここ
でスパン変化の例を、本発明を説明するための図1を用
いて示すと、例えば曲線L1の如く二次曲線に近似した
曲線をもって変化する。従ってスパン変化を直線として
補正する従来方式では、高精度の荷重測定装置において
はその補正が不十分となる。
[0004] However, the span does not strictly change linearly, but shows a change approximating a quadratic curve.
That is, in the electromagnetic balance type weighing device, the span change approximates to a quadratic curve as the resolution increases, and similarly in the load cell type weighing device, the span change changes to a quadratic curve in a high resolution device of, for example, 1/10000 or more. It is expected that accurate correction will be difficult with the correction method that approximates and therefore assumes a straight line. Here, when an example of the span change is shown with reference to FIG. 1 for explaining the present invention, the span changes with a curve approximating a quadratic curve such as a curve L1. Therefore, in the conventional method in which the span change is corrected as a straight line, the correction is insufficient in a high-precision load measuring device.

【0005】更に、発明者らは後述する試験を行なうこ
とによってスパンが上記のように曲線で変化することに
加え、実際には当該スパン変化にはヒステリシスも存在
することを確認している。即ち、図1において、温度が
上昇する際のスパン変化を曲線L1で示すと、温度が下
降する際のスパン変化はこの曲線L1をたどるのではな
く、別の曲線L2をたどって変化する。このためより正
確な補正を行なうためには単に一方向の温度変化に対応
するスパン変化の曲線を得るだけではなく、ヒステリシ
スを考慮した他方向のスパン変化曲線も得る必要があ
る。なおゼロ点の変化も前記スパンの変化と同様曲線を
もって変化しかつヒステリシスも同様に有していること
を確認している。
Further, the inventors have confirmed that, in addition to the fact that the span changes in a curve as described above by performing a test described later, there is actually a hysteresis in the span change. That is, in FIG. 1, when the span change when the temperature rises is shown by a curve L1, the span change when the temperature falls does not follow this curve L1, but changes along another curve L2. Therefore, in order to perform more accurate correction, it is necessary to obtain not only a span change curve corresponding to a temperature change in one direction but also a span change curve in another direction in consideration of hysteresis. It has been confirmed that the change of the zero point also changes with the same curve as the change of the span, and also has the hysteresis.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は上述の観点に基
づき、荷重測定値の正確な補正を行なうよう構成した荷
重測定装置であって、温度検知手段により得られた温度
に基づいて、予め記憶されている温度変化に対するスパ
ン変化から補正値を選択して荷重測定値を補正する荷重
測定装置において、少なくとも一方向の温度変化に対す
る曲線的なスパンの変化を記憶する手段と、温度検知手
段と、この温度検知手段から得られた検知温度に基づ
き、前記曲線的なスパンの変化を記憶する手段から当該
検知温度に対応する補正値を得、荷重測定手段から出力
される荷重測定値をこの補正値をもって補正する演算手
段を有し、好適にはこれらに加えて、前記記憶手段は温
度の増加、減少の両方向のスパン変化曲線を記憶し、か
つ前回測定温度を記憶する手段と、この記憶した前回測
定温度と今回の測定温度とを比較して測定温度の増減を
検出する比較手段とを有し、演算部はこの比較手段から
出力される信号に基づいて前記記憶手段に記憶された曲
線のうち一方を選択し、かつ選択された曲線における当
該測定温度に対する補正値を選択して荷重測定手段から
出力される荷重測定値を補正するよう構成される。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided a load measuring apparatus configured to accurately correct a measured load value based on the above-described viewpoint. In a load measuring device that selects a correction value from a stored span change with respect to a temperature change and corrects a load measurement value, a unit that stores a change in a curvilinear span with respect to a temperature change in at least one direction, and a temperature detection unit. Based on the detected temperature obtained from the temperature detecting means, a correction value corresponding to the detected temperature is obtained from the means for storing the change in the curved span, and the load measurement value output from the load measuring means is corrected by the correction. Preferably, in addition to these, the storage means stores a span change curve in both directions of temperature increase and decrease, and stores the previously measured temperature. And comparing means for comparing the stored previous measured temperature with the current measured temperature to detect an increase or decrease in the measured temperature, and the calculating section stores the stored data based on a signal output from the comparing means. One of the curves stored in the means is selected, and a correction value for the measured temperature in the selected curve is selected to correct the load measurement value output from the load measurement means.

【0007】[0007]

【発明の実施の態様】発明者らは校正用分銅を用いて発
明者等が生産するロードセル秤の一つに対して5℃〜4
0℃までの温度域において温度増加方向および温度減少
方向で、かつ多点でスパン変化を測定した。即ち2℃間
隔で18点でスパン変化を測定した結果、温度増加方向
で曲線L1の、また減少方向で曲線L2のスパン変化の
状態を示す曲線を得た。また5℃間隔で測定したスパン
変化をプロットすることによっても上記曲線とほぼ同じ
曲線を得ることが可能であった。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The inventors use a calibration weight to load one of the load cell scales produced by the inventors at 5 ° C. to 4 ° C.
In a temperature range up to 0 ° C., a change in span was measured at multiple points in a temperature increasing direction and a temperature decreasing direction. That is, as a result of measuring the span change at 18 points at intervals of 2 ° C., a curve indicating the state of the span change of the curve L1 in the temperature increasing direction and the curve L2 in the decreasing direction was obtained. By plotting the change in span measured at intervals of 5 ° C., it was possible to obtain almost the same curve as the above curve.

【0008】演算手段は温度検知手段から出力された温
度信号と、比較手段から出力された温度の増加或いは減
少信号により、記憶手段に予め記憶されているスパン変
化曲線から、検知された温度に対応する補正値を選択
し、この選択した補正値により、測定手段から出力され
た荷重測定値を補正する。またこの場合記憶手段に、ヒ
ステリシスに対応する二本のスパン変化曲線が記憶され
ている場合には、前記比較手段において前回検知温度に
対する今回検知温度の増減を検出し、この増減に対応し
て二本のスパン変化曲線の何れかを選択し、かつ選択し
たスパン変化曲線から検知温度に対応する補正値を選択
して補正を行なう。
The calculating means responds to the detected temperature from the span change curve stored in the storage means in accordance with the temperature signal output from the temperature detecting means and the temperature increase or decrease signal output from the comparing means. The correction value to be performed is selected, and the measured load value output from the measuring means is corrected by the selected correction value. Further, in this case, when two span change curves corresponding to the hysteresis are stored in the storage means, the comparison means detects an increase or decrease in the current detection temperature with respect to the previous detection temperature, and responds to the increase or decrease. One of the span change curves is selected, and a correction value corresponding to the detected temperature is selected from the selected span change curve to perform the correction.

【0009】[0009]

【実施例】以下本発明の実施例を図面を参考に具体的に
説明する。先ず、図3に示すブロック図により本発明に
係る荷重測定装置の構成を説明する。1は荷重測定手段
であって、ロードセル式荷重測定装置でれば起歪体及び
この起歪体に設けたストレインゲージを示し、電磁平衡
式荷重測定装置であれば電磁部に対応する部分であっ
て、A/D変換部2を経て演算手段3に荷重測定信号を
出力する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings. First, the configuration of the load measuring device according to the present invention will be described with reference to the block diagram shown in FIG. Reference numeral 1 denotes a load measuring means. In the case of a load cell type load measuring device, it indicates a flexure element and a strain gauge provided in the flexure element. Then, a load measurement signal is output to the calculating means 3 via the A / D converter 2.

【0010】4は記憶手段であって、温度の変化に対し
てこの荷重測定装置のスパン及びゼロ点の変化(以下ス
パンの変化を例に説明する)を記憶している。具体的に
は当該荷重測定装置のスパンの変化が図1に示す線図で
示されるものであるとすると、この曲線で示されるスパ
ン変化が記憶手段4に記憶されている。なお、図1に示
すスパンの変化曲線を得るためには、前述の如く例えば
5℃〜40℃までの温度域において温度増加方向および
温度減少方向において多点でスパン変化を測定する必要
がある。例えば前記温度域において、2℃間隔で18点
でスパン変化を測定することにより温度増加方向におい
て曲線L1で、また減少方向では曲線L2で示されるス
パン変化の状態を示す曲線を得ることができる。
Reference numeral 4 denotes storage means for storing a change in the span and zero point of the load measuring device with respect to a change in temperature (hereinafter, a change in the span will be described as an example). Specifically, assuming that the change in span of the load measuring device is as shown by the diagram shown in FIG. 1, the change in span shown by this curve is stored in the storage means 4. In order to obtain the span change curve shown in FIG. 1, it is necessary to measure span changes at multiple points in the temperature increasing direction and the temperature decreasing direction in the temperature range of, for example, 5 ° C. to 40 ° C. as described above. For example, by measuring the span change at 18 points at 2 ° C. intervals in the above temperature range, it is possible to obtain the curve indicating the state of the span change indicated by the curve L1 in the temperature increasing direction and the curve L2 in the decreasing direction.

【0011】上記の如く、多点で荷重測定装置のスパン
変化を測定することは荷重測定装置の使用者の段階では
必ずしも容易なことではない。このため、スパン変化の
測定は荷重測定装置の装置の製造者が行い、このスパン
変化を記憶手段に記憶させた後に装置を出荷するように
するとよい。またこの場合装置の器差を考慮すれば全装
置についてスパン変化の測定を行い、この結果を個々の
荷重測定装置に記憶させることが最も望ましい方法であ
るが、同じ型式の装置であれば、例えば無作為抽出した
幾つかの装置によりスパン変化を測定し、この測定結果
を他の装置の記憶手段に記憶させる方法も可能である。
As described above, it is not always easy to measure the span change of the load measuring device at multiple points at the stage of the user of the load measuring device. Therefore, the change in span is preferably measured by the manufacturer of the load measuring device, and the change in span is stored in the storage means before the device is shipped. Also, in this case, it is the most desirable method to measure the span change for all the devices in consideration of the instrumental differences of the devices, and to store the results in the individual load measuring devices. A method is also possible in which the span change is measured by some randomly selected devices and the measurement result is stored in the storage means of another device.

【0012】5は温度検知手段、6は第2の記憶手段、
7はこの記憶手段6から出力される前回の検知温度と、
温度検知手段5から出力される今回の検知温度とを比較
する比較手段、8は演算手段において算出、補正された
荷重測定値を表示する表示手段である。
5 is a temperature detecting means, 6 is a second storage means,
7 is the last detected temperature output from the storage means 6;
Comparing means 8 for comparing the current detected temperature output from the temperature detecting means 5 with the present detected temperature, and display means 8 for displaying the measured load value calculated and corrected by the calculating means.

【0013】以上の構成の装置の作動状態を4のフロー
図も含めて次に説明する。荷重測定手段1により荷重が
測定されると同時に、温度検知手段5はこの荷重測定時
の温度T1を検知する(S1)。この検知温度T1は演
算手段3に出力されるとともに比較手段7にも出力され
る。比較手段7はこの検知温度T1と、記憶手段6から
出力(S2)される前回の検知温度T2が同じ(変化な
し)であるか否かを判断(S3)し、検知温度T1が変
化なしの場合には前回の補正値Nnをそのまま用いて
(S4)、荷重測定手段1から出力される荷重信号Wを
補正(S5)する。
The operation of the apparatus having the above configuration will be described below with reference to the flowchart of FIG. At the same time when the load is measured by the load measuring means 1, the temperature detecting means 5 detects the temperature T1 at the time of measuring the load (S1). This detected temperature T1 is output to the calculating means 3 and also to the comparing means 7. The comparing means 7 determines whether or not the detected temperature T1 and the previous detected temperature T2 output from the storage means 6 (S2) are the same (no change) (S3). In this case, the load signal W output from the load measuring means 1 is corrected (S5) using the previous correction value Nn as it is (S4).

【0014】一方、今回検知温度T1と前回検知温度T
2とが相違する場合にはT1とT2の大小を判断し(S
6)、T1が大であれば前回温度T2よりも今回検知温
度T1が増加しているので記憶手段4に記憶されたれた
曲線L1およびL2のうち曲線L1を採用し(S7)、
かつこの曲線L1から当該検知温度T1に対応する補正
値Naを選択する(S8)。また今回の検知温度T1が
小であれば前回温度T2よりも検知温度T1が減少して
いるので、記憶手段4に記憶されたれた曲線L1および
L2のうち曲線L2を採用し(S9)、かつこの曲線L
2から当該検知温度T1に対応する補正値Nbを選択す
る(S10)。このようにして所定の補正値が選択され
たならば荷重測定手段1から出力される荷重信号Wを補
正値Na又はNbを用いて補正(S5)し、補正された
荷重測定値を出力する(S11)。以上の構成により荷
重測定手段1から出力された荷重測定信号Wは温度変化
に対応して適切な補正値をもって補正され、正確な荷重
の表示が行なわれる。
On the other hand, the current detection temperature T1 and the previous detection temperature T
2 is different, the magnitude of T1 and T2 is determined (S
6) If T1 is large, the current detection temperature T1 is higher than the previous temperature T2, so the curve L1 is used among the curves L1 and L2 stored in the storage means 4 (S7).
Further, a correction value Na corresponding to the detected temperature T1 is selected from the curve L1 (S8). If the current detected temperature T1 is low, the detected temperature T1 is lower than the previous temperature T2, so the curve L2 is adopted from the curves L1 and L2 stored in the storage means 4 (S9), and This curve L
2, a correction value Nb corresponding to the detected temperature T1 is selected (S10). When the predetermined correction value is selected in this way, the load signal W output from the load measuring means 1 is corrected using the correction value Na or Nb (S5), and the corrected load measurement value is output (S5). S11). With the above configuration, the load measurement signal W output from the load measuring means 1 is corrected with an appropriate correction value in response to a temperature change, and an accurate display of the load is performed.

【0015】次に、荷重測定装置のスパン変化は上述の
温度依存性の外、経年変化によるものがある。前述の如
く記憶装置4に記憶されているスパン変化曲線は例え
ば、製品出荷時にROMとして固定的に記憶されたもの
であるため、長期間の荷重測定装置使用により装置が経
年変化し、このスパン変化曲線を用いても正確な補正が
困難になる事態が想定される。この場合には、例えば図
1に示す曲線であれば、真値の判明している校正分銅9
を用いて、例えば5℃間隔で荷重を測定し、記憶手段4
に記憶されているスパン変化曲線を用いて補正された荷
重測定値をチエックする。この際、補正されているにも
係わらず荷重測定値の表示が許容範囲以上に相違するな
らば、記憶手段4に記憶されているスパン変化曲線を用
いることはもはや妥当ではない。
Next, the change in span of the load measuring device may be due to aging, in addition to the above-described temperature dependence. As described above, since the span change curve stored in the storage device 4 is, for example, fixedly stored as a ROM at the time of product shipment, the device changes over time due to long-term use of the load measuring device, and the span change curve changes. It is assumed that accurate correction becomes difficult even if a curve is used. In this case, for example, the curve shown in FIG.
The load is measured at intervals of, for example, 5 ° C.
The corrected load measurement value is checked using the span change curve stored in. At this time, if the display of the load measurement value differs by more than the allowable range despite the correction, it is no longer appropriate to use the span change curve stored in the storage means 4.

【0016】上記の場合には、演算手段3は前記記憶手
段4に記憶されているスパン変化曲線を、今回の校正に
対応するよう書き換え、このデータを他の記憶手段(R
AM)10に記憶させる。なお、この場合、経年変化は
ロードセル式荷重測定装置ではストレインゲージの歪み
特性の僅かな変化など、ある程度限定された要素に依存
するため、スパンの変化の状態、即ちスパンの変化曲線
の形状自体には目立った変化は生じない。このため例え
ば図2に示す如く、スパン変化曲線の差替えは、曲線L
1、L2を、曲線L1´、L2´に平行移動するよう演
算処理することで対応可能であり、スパン変化曲線の差
替えの演算を簡略化することが可能である。また図3の
構成では最初のスパン変化曲線を、ROMに記憶させて
所謂ファームウエアとして構成しているが、この最初の
スパン変化曲線をRAMに記憶させ、以後校正に応じて
スパン変化曲線のデータを書き換えるように構成するこ
とも当然可能である。
In the above case, the calculation means 3 rewrites the span change curve stored in the storage means 4 so as to correspond to the current calibration, and stores this data in another storage means (R
AM) 10. In this case, since the aging depends on a certain limited element such as a slight change in the strain characteristic of the strain gauge in the load cell type load measuring device, the state of the span change, that is, the shape of the span change curve itself. No noticeable change occurs. For this reason, for example, as shown in FIG.
1, L2 can be dealt with by performing an arithmetic process so as to move in parallel to the curves L1 ′, L2 ′, and the calculation of replacing the span change curve can be simplified. In the configuration shown in FIG. 3, the first span change curve is stored in the ROM to form a so-called firmware. However, the first span change curve is stored in the RAM, and thereafter, the data of the span change curve is stored in accordance with the calibration. Of course, it is also possible to configure to rewrite.

【0017】以上本発明に係る荷重測定装置を、スパン
変化に伴う測定値補正を例に説明したが、最初に説明し
たとおりゼロ点の変化も前記スパンの変化と同様曲線を
もって変化しかつヒステリシスも同様に有しているの
で、ゼロ点の調整にも上記構成をそのまま利用すること
が可能である。
The load measuring apparatus according to the present invention has been described above by taking as an example the measurement value correction accompanying a span change. However, as described first, the change of the zero point also changes along the same curve as the change of the span, and the hysteresis also changes. Similarly, the above configuration can be used for adjusting the zero point as it is.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明は以上具体的に説明したように温
度変化に対するスパン、ゼロ点の変化が実際には曲線で
あり、かつ温度の増減に対してヒステリシスを有するこ
とを考慮して補正値を得るので、荷重測定手段から出力
された荷重測定値の補正をより正確に行なうことが可能
となり、より正確な荷重の測定値を得ることが可能とな
る。
As described above, the present invention provides a correction value in consideration of the fact that the span and the zero point change with respect to the temperature change are actually curves and have a hysteresis with respect to the increase and decrease of the temperature. Therefore, the load measurement value output from the load measurement means can be corrected more accurately, and a more accurate load measurement value can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】荷重測定手段から出力される出力と温度との関
係を、温度の増加方向および減少方向の両方から示した
線図である。
FIG. 1 is a diagram showing a relationship between an output output from a load measuring unit and a temperature in both a temperature increasing direction and a temperature decreasing direction.

【図2】前記図1に示す線図を、校正により平行移動さ
せた状態を示す線図である。
FIG. 2 is a diagram showing a state where the diagram shown in FIG. 1 is translated and moved by calibration.

【図3】本発明に係る荷重測定装置の構成の一例を示す
荷重測定装置のブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of the load measuring device showing an example of the configuration of the load measuring device according to the present invention.

【図4】本発明に係る荷重測定装置の作動状態の一例を
示すフロー図である。
FIG. 4 is a flowchart showing an example of an operation state of the load measuring device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 荷重測定手段 3 演算手段 4 (第1の)記憶手段 5 温度検知手段 6 (第2の)記憶手段 7 比較手段 REFERENCE SIGNS LIST 1 load measuring means 3 calculating means 4 (first) storing means 5 temperature detecting means 6 (second) storing means 7 comparing means

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 荷重測定手段から出力される荷重測定値
を、当該荷重測定手段の温度変化に依存する出力特性変
化のデータを用いて補正するようにした荷重測定装置お
いて、データを記憶する記憶手段には温度の変化に対応
して曲線として変化する出力特性データが記憶され、演
算手段は温度検知手段から出力される温度信号により当
該曲線のうち当該検知温度に対応する補正値を選択し、
荷重測定手段から出力される荷重測定値を当該補正値で
補正するよう構成したことを特徴とする荷重測定装置。
1. A load measuring device which corrects a measured load value output from a load measuring means using data of an output characteristic change depending on a temperature change of the load measuring means, and stores the data. Output characteristic data which changes as a curve corresponding to a change in temperature is stored in the storage means, and the calculating means selects a correction value corresponding to the detected temperature from the curve based on a temperature signal output from the temperature detecting means. ,
A load measuring device configured to correct a load measured value output from a load measuring means with the correction value.
【請求項2】 前記記憶手段には温度の増加に対応して
変化する出力特性を表す第1の曲線と、温度の減少に対
応して対応して変化する出力特性を表す第2の曲線とが
記憶され、温度検知手段には出力される検知温度のうち
少なくとも前回の検知温度T2を記憶する第2の記憶手
段が設けられ、かつ荷重測定時に測定された検知温度T
1と前回の検知温度T2とを比較する比較手段が設けら
れ、演算装置は比較手段から出力される検知温度増加信
号又は減少信号により記憶手段に記憶されている第1又
は第2の何れかの曲線を選択し、かつ選択された曲線に
おける前記検知温度T1に対応する補正値を選択し、こ
の補正値により荷重測定値を補正するよう構成したこと
を特徴とする請求項1記載の荷重測定装置。
2. The storage means includes a first curve representing an output characteristic that changes in response to an increase in temperature, and a second curve representing an output characteristic that changes in response to a decrease in temperature. The temperature detecting means is provided with a second storage means for storing at least the last detected temperature T2 of the detected temperatures outputted, and the detected temperature T measured at the time of load measurement.
A comparison means for comparing the detected temperature T1 with the previous detected temperature T2 is provided, and the arithmetic unit is configured to store the first or second stored in the storage means in accordance with a detected temperature increase signal or a decrease signal output from the comparison means. 2. The load measuring device according to claim 1, wherein a curve is selected, a correction value corresponding to the detected temperature T1 in the selected curve is selected, and the load measurement value is corrected by the correction value. .
【請求項3】 荷重測定手段には真値が判明している校
正用の荷重が付加され、演算手段には前記補正値により
当該校正用荷重の荷重測定値を補正した後の値と当該校
正用の荷重の真値とを比較する手段が付加され、当該比
較手段により補正後の荷重測定値と前記真値との差が許
容値以内であるか否かを判断し、許容値をこえる時は記
憶手段に記憶されている出力特性の曲線を新たな曲線に
差し替えるよう構成したことを特徴とする請求項1又は
2記載の荷重測定装置。
3. A load for calibration whose true value is known is added to the load measuring means, and the value obtained by correcting the load measurement value of the calibration load by the correction value and the calibration A means for comparing the true value of the load for use is added, and the comparing means determines whether the difference between the corrected measured load value and the true value is within an allowable value, and when the value exceeds the allowable value. 3. The load measuring device according to claim 1, wherein the output characteristic curve stored in the storage means is replaced with a new curve.
【請求項4】 前記荷重測定手段はロードセルおよびこ
のロードセルに設けられたストレインゲージであること
を特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の荷重測定
装置。
4. The load measuring device according to claim 1, wherein said load measuring means is a load cell and a strain gauge provided on said load cell.
【請求項5】 前記荷重測定手段は付加された荷重に見
合う電磁力を発生させる電磁部であることを特徴とする
請求項1乃至3の何れかに記載の荷重測定装置。
5. The load measuring device according to claim 1, wherein the load measuring unit is an electromagnetic unit that generates an electromagnetic force corresponding to the applied load.
JP9205497A 1997-07-16 1997-07-16 Measuring device of load Withdrawn JPH1137827A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9205497A JPH1137827A (en) 1997-07-16 1997-07-16 Measuring device of load

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9205497A JPH1137827A (en) 1997-07-16 1997-07-16 Measuring device of load

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1137827A true JPH1137827A (en) 1999-02-12

Family

ID=16507846

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9205497A Withdrawn JPH1137827A (en) 1997-07-16 1997-07-16 Measuring device of load

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1137827A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013079935A (en) * 2011-09-21 2013-05-02 Tanita Corp Weight measurement device
DE102019122383A1 (en) * 2019-08-20 2021-02-25 Schenck Process Europe Gmbh Digital measured value correction with a force measuring device built into a connection structure
DE102021104430A1 (en) 2021-02-24 2022-08-25 Schenck Process Europe Gmbh Weighing device and weighing method with a central digital measured value correction

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013079935A (en) * 2011-09-21 2013-05-02 Tanita Corp Weight measurement device
DE102019122383A1 (en) * 2019-08-20 2021-02-25 Schenck Process Europe Gmbh Digital measured value correction with a force measuring device built into a connection structure
DE102021104430A1 (en) 2021-02-24 2022-08-25 Schenck Process Europe Gmbh Weighing device and weighing method with a central digital measured value correction

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4796212A (en) Load cell type, weight-measuring device
US20090057038A1 (en) Load cell-type electronic balance
JP2001013001A (en) Electronic weighing apparatus with built-in weight
US4914611A (en) Force measuring device
JP5669551B2 (en) Load cell failure diagnosis device
JPH1137827A (en) Measuring device of load
JPH0769232B2 (en) Method and apparatus for temperature compensation of load cell
JP3953592B2 (en) Load cell span temperature compensation device
JPH11125555A (en) Load cell balance
WO2006132234A1 (en) Electronic balance
JPH07209102A (en) Temperature compensation method and device for load cell
JP3753208B2 (en) Electronic weighing device
JP2540147Y2 (en) Sensor correction device
JP2588391B2 (en) Initial calibration method of gain in digital indicator
JP2973875B2 (en) Electronic balance
JPH0746060B2 (en) Electronic balance
JPS61175527A (en) Electronic balance
JP5403793B2 (en) Weight measuring device
JPS6039521A (en) Force measuring device provided with temperature compensation
JPS5977318A (en) Scale wherein creep is automatically corrected
KR930002723B1 (en) Device for compensating for time dependent error of measuring instrument
JP2000241234A (en) Load cell scale
JPS62228119A (en) Digital display balance
JPH0339620B2 (en)
JPH0641881B2 (en) Electronic balance

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20041005