JPH11316257A - Method for measuring water tree length at water tree degraded part, method for measuring conductivity and dielectric constant of water tree degraded part - Google Patents

Method for measuring water tree length at water tree degraded part, method for measuring conductivity and dielectric constant of water tree degraded part

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JPH11316257A
JPH11316257A JP5725798A JP5725798A JPH11316257A JP H11316257 A JPH11316257 A JP H11316257A JP 5725798 A JP5725798 A JP 5725798A JP 5725798 A JP5725798 A JP 5725798A JP H11316257 A JPH11316257 A JP H11316257A
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JP
Japan
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water tree
capacitance
insulator
conductance
dielectric constant
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JP5725798A
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Japanese (ja)
Inventor
Suguru Ri
英 李
Junichi Shinagawa
潤一 品川
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SWCC Corp
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Showa Electric Wire and Cable Co
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure water tree length and conductivity and dielectric constant of water tree degraded part without slicing an insulator. SOLUTION: A pre-determined parameter required for calculation element for water tree length, conductivity σW and dielectric constant εW at water tree degraded part of an insulator sample 10 is calculated by measuring complex impedance of the insulator sample 10 through measurement of voltage and current at different frequencies applied to the insulator sample 10, at measurement of water tree length of the insulator sample 10 and conductivity σW and dielectric constant εW of water tree degraded part through conversion of the insulator sample 10 where water tree occurring into an equivalent circuit 20 wherein a water tree degraded part 11 where capacitance CW and conductance GW are connected in parallel is connected to a sound part 12 which is capacitance CP in series while the entire of insulator sample 10 into an equivalent circuit 30 wherein capacitance C and conductance G are connected in series.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、絶縁体に発生し
た水トリーの長さ、水トリー劣化部の導電率および誘電
率を非破壊的に測定する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for non-destructively measuring the length of a water tree generated in an insulator, the conductivity and the dielectric constant of a water tree deteriorated portion.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、絶縁体の水トリーの発生状
況、特に、水トリー長、水トリー劣化部の導電率および
誘電率を求めるには、図3(a)、(b)に示すよう
に、水トリーが発生した絶縁体試料10を薄くスライス
して水トリー長lWを目視にて顕微鏡観察したり、この
スライス片10aから、直接、導電率および誘電率を測
定する方法が提案されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, to determine the state of occurrence of water trees in an insulator, in particular, the water tree length, the conductivity and the dielectric constant of a water tree deteriorated portion, as shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b). Then, a method of thinly slicing the insulator sample 10 in which a water tree is generated, visually observing the water tree length l W with a microscope, or directly measuring the conductivity and the dielectric constant from the sliced piece 10a has been proposed. ing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな測定方法では、絶縁体試料10がスライスされてい
るので、その後に電気試験を行うことができず、また、
水トリー劣化部の導電率や誘電率は含水量に対する依存
性が強いので、絶縁体試料10をスライスすると含水量
が変化して正確な導電率・誘電率測定ができなくなる難
点があった。
However, in such a measuring method, since the insulator sample 10 is sliced, an electrical test cannot be performed thereafter, and
Since the conductivity and the dielectric constant of the water tree deteriorated portion strongly depend on the water content, when the insulator sample 10 is sliced, the water content changes and it is difficult to measure the conductivity and the dielectric constant accurately.

【0004】本発明はこのような従来の難点を解決する
ためになされたもので、絶縁体をスライスすることなく
水トリー長、水トリー劣化部の導電率および誘電率を測
定することができる方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem, and a method for measuring a water tree length, a conductivity of a water tree deteriorated portion and a dielectric constant without slicing an insulator. The purpose is to provide.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
る本発明の水トリー劣化部の水トリー長測定方法は、水
トリーの発生した絶縁体をキャパシタンスおよびコンダ
クタンスを並列接続した水トリー劣化部と、キャパシタ
ンスである健全部とを直列接続した等価回路に、且つ絶
縁体試料全体をキャパシタンスとコンダクタンスとを直
列接続した等価回路にそれぞれ換算して、絶縁体の水ト
リー劣化部の水トリー長を測定する測定方法であって、
絶縁体に印加する異なる周波数での電圧および電流を測
定して、当該絶縁体の複素インピーダンスを演算し、該
複素インピーダンスから各周波数ごとのキャパシタンス
およびコンダクタンスを演算し、該各周波数ごとのキャ
パシタンスおよびコンダクタンスから予め決定された演
算要素
In order to achieve the above object, a method for measuring the water tree length of a water tree deterioration section according to the present invention is to provide a water tree deterioration section in which an insulator having water trees is connected in parallel with a capacitance and a conductance. And an equivalent circuit in which a sound part which is a capacitance is connected in series, and the entire insulator sample is converted into an equivalent circuit in which a capacitance and a conductance are connected in series. A measuring method for measuring,
Measure the voltage and current at different frequencies applied to the insulator, calculate the complex impedance of the insulator, calculate the capacitance and conductance for each frequency from the complex impedance, and calculate the capacitance and conductance for each frequency Arithmetic element determined in advance from

【0006】[0006]

【数11】 [Equation 11]

【0007】によって健全部のキャパシタンスを演算
し、該健全部のキャパシタンスから予め決定された演算
要素
[0007] The capacitance of the sound part is calculated according to the following formula, and a calculation element determined in advance from the capacitance of the sound part.

【0008】[0008]

【数12】 (Equation 12)

【0009】(但し、Sは水トリーの発生面積、ε0
真空誘電率、εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によ
って水トリー劣化部の水トリー長を測定するものであ
る。また、本発明の水トリー劣化部の導電率測定方法
は、水トリーの発生した絶縁体をキャパシタンスおよび
コンダクタンスを並列接続した水トリー劣化部と、キャ
パシタンスである健全部とを直列接続した等価回路に、
且つ絶縁体試料全体をキャパシタンスとコンダクタンス
とを直列接続した等価回路にそれぞれ換算して、絶縁体
の水トリー劣化部の導電率を測定する測定方法であっ
て、絶縁体に印加する異なる周波数での電圧および電流
を測定して、当該絶縁体の複素インピーダンスを演算
し、該複素インピーダンスから各周波数ごとのキャパシ
タンスおよびコンダクタンスを演算し、該各周波数ごと
のキャパシタンスおよびコンダクタンスから予め決定さ
れた演算要素
(Where S is the area where water trees are generated, ε 0 is the vacuum dielectric constant, and ε P is the relative dielectric constant of the insulating material.) The water tree length of the water tree deteriorated portion is measured. In addition, the method for measuring the conductivity of a water tree deteriorated portion of the present invention is an equivalent circuit in which an insulator in which a water tree is generated is connected in series with a water tree deteriorated portion in which capacitance and conductance are connected in parallel, and a sound portion which is capacitance is connected in series. ,
A method of measuring the conductivity of the water tree deteriorated portion of the insulator by converting the entire insulator sample into an equivalent circuit in which the capacitance and the conductance are connected in series. A voltage and a current are measured, a complex impedance of the insulator is calculated, a capacitance and a conductance for each frequency are calculated from the complex impedance, and a calculation element determined in advance from the capacitance and the conductance for each frequency

【0010】[0010]

【数13】 (Equation 13)

【0011】[0011]

【数14】 [Equation 14]

【0012】によって健全部のキャパシタンスと水トリ
ー劣化部のコンダクタンスとを演算し、健全部のキャパ
シタンスから予め決定された演算要素
The capacitance of the sound part and the conductance of the water tree deteriorated part are calculated by the above, and a calculation element determined in advance from the capacitance of the sound part.

【0013】[0013]

【数15】 (Equation 15)

【0014】(但し、Sは水トリーの発生面積、ε0
真空誘電率、εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によ
って水トリー劣化部の水トリー長を演算し、該水トリー
劣化部の水トリー長と水トリー劣化部のコンダクタンス
とから予め決定された演算要素
(Where S is the area where the water tree is generated, ε 0 is the vacuum dielectric constant, ε P is the relative dielectric constant of the insulating material), and the water tree length of the water tree deteriorated portion is calculated. Calculation element predetermined from water tree length of deteriorated part and conductance of water tree deteriorated part

【0015】[0015]

【数16】 (Equation 16)

【0016】によって水トリー劣化部の導電率を測定す
るものである。また、本発明の水トリー劣化部の誘電率
測定方法は、水トリーの発生した絶縁体をキャパシタン
スおよびコンダクタンスを並列接続した水トリー劣化部
と、キャパシタンスである健全部とを直列接続した等価
回路に、且つ絶縁体試料全体をキャパシタンスとコンダ
クタンスとを直列接続した等価回路にそれぞれ換算し
て、絶縁体の水トリー劣化部の誘電率を測定する測定方
法であって、絶縁体に印加する異なる周波数での電圧お
よび電流を測定して、当該絶縁体の複素インピーダンス
を演算し、該複素インピーダンスから各周波数ごとのキ
ャパシタンスおよびコンダクタンスを演算し、該各周波
数ごとのキャパシタンスおよびコンダクタンスから予め
決定された演算要素
The conductivity of the water tree deteriorated portion is measured by the above method. Further, the method for measuring the dielectric constant of the water tree deteriorated portion of the present invention is an equivalent circuit in which an insulator in which water tree is generated is connected in series with a water tree deteriorated portion in which capacitance and conductance are connected in parallel, and a sound portion which is capacitance is connected in series. And a method of measuring the dielectric constant of the water tree deteriorated portion of the insulator by converting the entire insulator sample into an equivalent circuit in which the capacitance and the conductance are connected in series, and using different frequencies applied to the insulator. , The complex impedance of the insulator is calculated, the capacitance and conductance of each frequency are calculated from the complex impedance, and the calculation element is determined in advance from the capacitance and conductance of each frequency.

【0017】[0017]

【数17】 [Equation 17]

【0018】[0018]

【数18】 (Equation 18)

【0019】によって健全部のキャパシタンスと水トリ
ー劣化部のキャパシタンスとを演算し、健全部のキャパ
シタンスから予め決定された演算要素
By calculating the capacitance of the sound part and the capacitance of the water tree deterioration part, the operation element determined in advance from the capacitance of the sound part

【0020】[0020]

【数19】 (Equation 19)

【0021】(但し、Sは水トリーの発生面積、ε0
真空誘電率、εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によ
って水トリー劣化部の水トリー長を演算し、該水トリー
劣化部の水トリー長と水トリー劣化部のキャパシタンス
とから予め決定された演算要素
(Where S is the area where the water tree is generated, ε 0 is the vacuum dielectric constant, and ε P is the relative dielectric constant of the insulating material). Calculation element determined in advance from the water tree length of the deteriorated part and the capacitance of the water tree deteriorated part

【0022】[0022]

【数20】 (Equation 20)

【0023】によって水トリー劣化部の誘電率を測定す
るものである。これらによれば、異なる周波数の電圧を
印加して複素インピーダンスを測定することにより、水
トリー長、水トリー劣化部の導電率および誘電率を求め
る演算要素に必要なパラメータを算出できるので、絶縁
体試料をスライスせずに水トリー長、水トリー劣化部の
導電率および誘電率を測定することができる。
Is used to measure the dielectric constant of the water tree deteriorated portion. According to these, by applying voltages of different frequencies and measuring the complex impedance, it is possible to calculate the parameters necessary for the calculation elements for calculating the water tree length, the conductivity and the dielectric constant of the water tree deteriorated part, The water tree length, the conductivity and the dielectric constant of the water tree deteriorated portion can be measured without slicing the sample.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下、本発明の水トリー劣化部の
水トリー長測定方法、水トリー劣化部の導電率測定方法
および誘電率測定方法の実施の一形態について、図面を
参照して説明する。本発明の測定方法が適用される測定
装置は、例えば図1に示すように、主に交流発生器2、
検出抵抗R1および演算処理部3から構成されている。
交流発生器2は一方の端子が絶縁体試料10の一方の面
10aに接続するための測定端子4に、他方の端子が検
出抵抗R1の一端にそれぞれ接続されている。検出抵抗
R1の他端は絶縁体試料10の他方の面10bに接続す
るための測定端子5に接続されている。なお、交流発生
器2の他方の端子はアースに接続されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of a method for measuring the water tree length of a water tree deteriorated portion, a method for measuring the conductivity of a water tree deteriorated portion, and a method for measuring a dielectric constant according to the present invention will be described below with reference to the drawings. I do. The measuring apparatus to which the measuring method of the present invention is applied mainly includes, for example, as shown in FIG.
It comprises a detection resistor R1 and an arithmetic processing unit 3.
The AC generator 2 has one terminal connected to a measurement terminal 4 for connection to one surface 10a of the insulator sample 10, and the other terminal connected to one end of a detection resistor R1. The other end of the detection resistor R1 is connected to a measurement terminal 5 for connecting to the other surface 10b of the insulator sample 10. The other terminal of the AC generator 2 is connected to the ground.

【0025】検出抵抗R1は電流IejQ(但し、Q=θ+
φとする。以下、この実施の形態において同じ。)を検
出するもので演算処理部3に接続されている。この演算
処理部3は、絶縁体試料10に発生した水トリーの長
さ、水トリー劣化部の導電率および誘電率を演算処理す
るものである。具体的には図2(a)に示すように、水
トリーが発生した絶縁体試料10を水トリー劣化部11
と健全部12とに分けることができると仮定して演算処
理する。このように仮定すると、健全部12の導電率σ
Pは実質的にゼロになるので、図2(b)に示すよう
に、絶縁体試料10をキャパシタンスCWおよびコンダ
クタンスGWを並列接続した水トリー劣化部11と、キ
ャパシタンスCPである健全部12とを直列接続した等
価回路20に換算することができる。さらに、図2
(c)に示すように、絶縁体試料10全体をキャパシタ
ンスCとコンダクタンスGとを直列接続した等価回路3
0に換算する。
The detection resistor R1 is connected to a current IejQ (where Q = θ +
φ. Hereinafter, the same applies to this embodiment. ) And is connected to the arithmetic processing unit 3. The arithmetic processing section 3 performs arithmetic processing on the length of the water tree generated in the insulator sample 10 and the conductivity and the dielectric constant of the water tree deteriorated portion. More specifically, as shown in FIG.
The arithmetic processing is performed on the assumption that it can be divided into the sound part 12 and the sound part 12. Assuming this, the conductivity σ of the sound part 12
Since P is substantially zero, FIG. As shown in 2 (b), water tree degradation unit 11 where the insulator samples 10 are connected in parallel capacitance C W and conductance G W, healthy part is the capacitance C P 12 can be converted to an equivalent circuit 20 in which the capacitors 12 and 12 are connected in series. Further, FIG.
As shown in (c), an equivalent circuit 3 in which the capacitance C and the conductance G are connected in series with the entire insulator sample 10
Convert to 0.

【0026】このような各等価回路20、30より、From each of the equivalent circuits 20 and 30,

【0027】[0027]

【数21】 [Equation 21]

【0028】から成る関係式が成り立つ。この関係式の
実部と虚部から、
The following relational expression holds. From the real and imaginary parts of this relation,

【0029】[0029]

【数22】 [Equation 22]

【0030】[0030]

【数23】 [Equation 23]

【0031】から成る2つの複素数方程式が得られる。
この2つの複素数方程式に基づき健全部12のキャパシ
タンスCPおよび水トリー劣化部11のコンダクタンス
W、キャパシタンスCWを演算するために、絶縁体試料
10に印加する異なる周波数ω1、ω2での電圧Ve
jK(但し、K=θとする。以下、この実施の形態におい
て同じ)および電流IejQを測定して当該絶縁体試料1
0の複素インピーダンスZを演算して、各周波数ω1
ω2ごとのキャパシタンスC1、C2およびコンダクタン
スG1、G2を演算すれば、健全部12のキャパシタンス
Pおよび水トリー劣化部11のコンダクタンスGW、キ
ャパシタンスCWは、
[0031] Two complex numbers are obtained.
In order to calculate the capacitance C P of the sound part 12 and the conductance G W and the capacitance C W of the water tree deterioration part 11 based on the two complex equations, different frequencies ω 1 and ω 2 applied to the insulator sample 10 are used. Voltage Ve
jK (where K = θ; hereinafter the same in this embodiment) and current Ie jQ are measured, and the insulator sample 1 is measured.
By calculating a complex impedance Z of 0, each frequency ω 1 ,
By calculating the capacitances C 1 and C 2 and the conductances G 1 and G 2 for each ω 2 , the capacitance C P of the sound part 12 and the conductance G W and the capacitance C W of the water tree deterioration part 11 are as follows.

【0032】[0032]

【数24】 [Equation 24]

【0033】[0033]

【数25】 [Equation 25]

【0034】[0034]

【数26】 [Equation 26]

【0035】となる。ここで、ω=ω1の時はG=G1
あり、ω=ω2の時はG=G2である。したがって、この
式(4)、(5)、(6)は、絶縁体試料10の複素イ
ンピーダンスZから健全部12のキャパシタンスCP
よび水トリー劣化部11のキャパシタンスCW、コンダ
クタンスGWを算出するための予め決定された演算要素
となる。
## EQU1 ## Here, when ω = ω 1 , G = G 1 , and when ω = ω 2 , G = G 2 . Therefore, the equation (4), (5), (6) calculates the capacitance C W, the conductance G W capacitance C P and the water tree degradation portion 11 of the sound unit 12 from the complex impedance Z of the insulator samples 10 Is a predetermined calculation element for the calculation.

【0036】このように予め決定された演算要素で演算
された絶縁体試料10の健全部12のキャパシタンスC
Pおよび水トリー劣化部11のキャパシタンスCW、コン
ダクタンスGWを予め決定された演算要素
As described above, the capacitance C of the sound part 12 of the insulator sample 10 calculated by the predetermined calculation element
P and the capacitance C W and the conductance G W of the water tree deterioration unit 11 are predetermined arithmetic elements.

【0037】[0037]

【数27】 [Equation 27]

【0038】[0038]

【数28】 [Equation 28]

【0039】[0039]

【数29】 [Equation 29]

【0040】により演算して、水トリー劣化部11の水
トリー長lW(図3(b))、水トリー劣化部11の導電
率σWおよび誘電率εWを求める。但し、Sは水トリーの
発生面積(図3(a))であり、予め何らかの方法で求
めておくことが必要である。また、ε0は真空誘電率、
εPは絶縁材料の比誘電率とする。なお、演算処理部3
は交流発生器2に接続され、交流発生器2で発生させる
交流電圧Vの周波数を変化させる機能も兼備している。
The water tree length l W of the water tree deterioration section 11 (FIG. 3B), the conductivity σ W and the dielectric constant ε W of the water tree deterioration section 11 are obtained. However, S is the area where the water tree is generated (FIG. 3A) and needs to be obtained in advance by some method. Ε 0 is the vacuum permittivity,
ε P is the relative dielectric constant of the insulating material. The arithmetic processing unit 3
Is connected to the AC generator 2 and has a function of changing the frequency of the AC voltage V generated by the AC generator 2.

【0041】このように構成された測定装置1で、絶縁
体試料10の水トリー長、水トリー劣化部の導電率およ
び誘電率を測定する方法について説明する。まず、測定
装置1の測定端子4を絶縁体試料10の一方の面10a
に、測定端子5を絶縁体試料10の他方の面10bにそ
れぞれ接続させておく。そして、演算処理部3で異なる
周波数ω1、ω2を設定し、交流発生器2で絶縁体試料1
0に印加した異なる周波数ω1、ω2での電圧VejKおよ
び電流IejQを測定し、各周波数ω1、ω2ごとの複素イ
ンピーダンスZを演算処理し、この各複素インピーダン
スZから各周波数ω1、ω2ごとのキャパシタンスC1
2およびコンダクタンスG1、G2を演算処理し、この
各周波数ω1、ω2ごとのキャパシタンスC1、C2および
コンダクタンスG1、G2を予め決定された演算要素であ
る式(4)、(5)、(6)、(7)、(8)、(9)
に代入して演算処理することにより、水トリー長lW、水
トリー劣化部11の導電率σWおよび誘電率εWを測定す
ることができる。
A method of measuring the water tree length of the insulator sample 10, the conductivity of the water tree deteriorated portion, and the dielectric constant with the measuring apparatus 1 configured as described above will be described. First, the measuring terminal 4 of the measuring device 1 is connected to one surface 10a of the insulator sample 10.
Next, the measuring terminals 5 are connected to the other surface 10b of the insulator sample 10, respectively. Then, different frequencies ω 1 and ω 2 are set in the arithmetic processing unit 3, and the insulator sample 1 is set in the AC generator 2.
0 different frequencies omega 1 is applied to, omega voltage Ve jK and current Ie jQ measured at 2, each frequency omega 1, omega complex impedance Z and processing of every two, each frequency omega from the respective complex impedance Z 1 , the capacitance C 1 per ω 2 ,
C 2 and conductances G 1 , G 2 are arithmetically processed, and the capacitances C 1 , C 2 and conductances G 1 , G 2 for each of the frequencies ω 1 , ω 2 are calculated in advance by equation (4). , (5), (6), (7), (8), (9)
, The water tree length l W , the conductivity σ W and the dielectric constant ε W of the water tree deterioration section 11 can be measured.

【0042】[0042]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明の測定方
法によれば、異なる周波数の電圧を印加して複素インピ
ーダンスを測定することにより、水トリー長、水トリー
劣化部の導電率および誘電率を求める演算要素に必要な
パラメータを算出できるので、絶縁体試料をスライスせ
ずに水トリー長、水トリー劣化部の導電率および誘電率
を測定できるようになる。したがって、絶縁体試料を測
定後に電気試験を行うことができ、また、水トリー劣化
部の含水量が変化しないため、より正確な導電率および
誘電率を求めることができる。さらに、電力ケーブルの
絶縁劣化診断にも適用させることができる。
As described above, according to the measuring method of the present invention, by applying voltages of different frequencies and measuring the complex impedance, the water tree length, the conductivity of the water tree deteriorated portion and the dielectric Since the parameters required for the calculation element for calculating the rate can be calculated, the water tree length, the conductivity of the water tree deteriorated portion, and the dielectric constant can be measured without slicing the insulator sample. Therefore, an electrical test can be performed after measuring the insulator sample, and the water content of the water tree deteriorated portion does not change, so that more accurate conductivity and dielectric constant can be obtained. Further, the present invention can be applied to diagnosis of insulation deterioration of a power cable.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の測定方法が適用される測定装置の実施
の一形態を示す回路図。
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of a measuring device to which a measuring method of the present invention is applied.

【図2】水トリー劣化した絶縁体試料の等価回路図。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of an insulator sample having undergone water tree deterioration.

【図3】従来の水トリー長を測定する方法を示す説明図
で、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A断面図。
3A and 3B are explanatory diagrams showing a conventional method for measuring a water tree length, where FIG. 3A is a plan view and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line AA of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・・・絶縁体試料 11・・・・・水トリー劣化部 12・・・・・健全部 20・・・・・水トリー劣化部と健全部とを直列接続した等
価回路 30・・・・・絶縁体試料全体の等価回路 ω1、ω2・・・・・異なる周波数 VejK・・・・・電圧 IejQ・・・・・電流 lW・・・・・水トリー長 σW・・・・・水トリー劣化部の導電率 εW・・・・・水トリー劣化部の誘電率
10 Insulator sample 11 Water deteriorating part 12 Sound part 20 Equivalent circuit in which water tree deteriorating part and sound part are connected in series 30 ... Equivalent circuit of the whole insulator sample ω 1 , ω 2 ... Different frequencies Ve jK ... Voltage Ie jQ ... Current l W ... Water tree length σ W ···· Electrical conductivity of water tree deteriorated part ε W ···· Dielectric constant of water tree deteriorated part

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】水トリーの発生した絶縁体をキャパシタン
ス(CW)およびコンダクタンス(GW)を並列接続した
水トリー劣化部と、キャパシタンス(CP)である健全
部とを直列接続した等価回路に、且つ前記絶縁体試料全
体をキャパシタンス(C)とコンダクタンス(G)とを
直列接続した等価回路にそれぞれ換算して、前記絶縁体
の水トリー劣化部の水トリー長を測定する測定方法であ
って、 前記絶縁体に印加する異なる周波数(ω1、ω2)での電
圧(VejK(但し、K=θとする。))および電流(Ie
jQ(但し、Q=θ+φとする。))を測定して、当該絶縁
体の複素インピーダンス(Z)を演算し、該複素インピ
ーダンスから各周波数ごとのキャパシタンス(C1
2)およびコンダクタンス(G1、G2)を演算し、該
各周波数ごとのキャパシタンスおよびコンダクタンスか
ら予め決定された演算要素 【数1】 によって前記健全部の前記キャパシタンスを演算し、該
健全部の前記キャパシタンスから予め決定された演算要
素 【数2】 (但し、Sは水トリーの発生面積、ε0は真空誘電率、
εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によって前記水ト
リー劣化部の水トリー長(lW)を測定することを特徴
とする水トリー劣化部の水トリー長測定方法。
1. An equivalent circuit in which a water tree deteriorated portion in which an insulator having water tree generated is connected in parallel with a capacitance (C W ) and a conductance (G W ) and a sound portion which is a capacitance (C P ) are connected in series. And measuring the water tree length of the water tree deteriorated portion of the insulator by converting the entire insulator sample into an equivalent circuit in which a capacitance (C) and a conductance (G) are connected in series. The voltage ( VejK (where K = θ)) and current (Ie) at different frequencies (ω 1 , ω 2 ) applied to the insulator.
jQ (where Q = θ + φ)) is measured to calculate the complex impedance (Z) of the insulator, and the capacitance (C 1 , C 1 ,
C 2 ) and conductances (G 1 , G 2 ) are calculated, and a calculation element determined in advance from the capacitance and conductance for each frequency is: The capacitance of the sound part is calculated by the following equation, and a calculation element determined in advance from the capacitance of the sound part (However, S is the area where water tree occurs, ε 0 is the vacuum dielectric constant,
ε P is the relative dielectric constant of the insulating material. A) measuring the water tree length (l W ) of the water tree deteriorated section according to (1).
【請求項2】水トリーの発生した絶縁体をキャパシタン
ス(CW)およびコンダクタンス(GW)を並列接続した
水トリー劣化部と、キャパシタンス(CP)である健全
部とを直列接続した等価回路に、且つ前記絶縁体試料全
体をキャパシタンス(C)とコンダクタンス(G)とを
直列接続した等価回路にそれぞれ換算して、前記絶縁体
の水トリー劣化部の導電率を測定する測定方法であっ
て、 前記絶縁体に印加する異なる周波数(ω1、ω2)での電
圧(VejK(但し、K=θとする。))および電流(Ie
jQ(但し、Q=θ+φとする。))を測定して、当該絶縁
体の複素インピーダンス(Z)を演算し、該複素インピ
ーダンスから各周波数ごとのキャパシタンス(C1
2)およびコンダクタンス(G1、G2)を演算し、該
各周波数ごとのキャパシタンスおよびコンダクタンスか
ら予め決定された演算要素 【数3】 【数4】 によって前記健全部の前記キャパシタンスと前記水トリ
ー劣化部の前記コンダクタンスとを演算し、前記健全部
の前記キャパシタンスから予め決定された演算要素 【数5】 (但し、Sは水トリーの発生面積、ε0は真空誘電率、
εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によって前記水ト
リー劣化部の水トリー長(lW)を演算し、該水トリー
劣化部の前記水トリー長と前記水トリー劣化部の前記コ
ンダクタンスとから予め決定された演算要素 【数6】 によって前記水トリー劣化部の導電率(σW)を測定す
ることを特徴とする水トリー劣化部の導電率測定方法。
2. An equivalent circuit in which a water tree deteriorated portion in which an insulator having water tree generated is connected in parallel with a capacitance (C W ) and a conductance (G W ) and a sound portion which is a capacitance (C P ) are connected in series. And measuring the conductivity of the water tree deteriorated portion of the insulator by converting the entire insulator sample into an equivalent circuit in which a capacitance (C) and a conductance (G) are connected in series. The voltage ( VejK (where K = θ)) and the current (Ie) at different frequencies (ω 1 , ω 2 ) applied to the insulator.
jQ (where Q = θ + φ)) is measured to calculate the complex impedance (Z) of the insulator, and the capacitance (C 1 , C 1 ,
C 2 ) and conductances (G 1 , G 2 ) are calculated, and a calculation element determined in advance from the capacitance and conductance for each frequency is (Equation 4) The capacitance of the sound part and the conductance of the water tree deterioration part are calculated by the following formula, and a calculation element predetermined from the capacitance of the sound part is (However, S is the area where water tree occurs, ε 0 is the vacuum dielectric constant,
ε P is the relative dielectric constant of the insulating material. ) To calculate the water tree length (l W ) of the water tree deterioration section, and a calculation element predetermined from the water tree length of the water tree deterioration section and the conductance of the water tree deterioration section. Measuring the conductivity (σ W ) of the water tree deteriorated portion by using the method.
【請求項3】水トリーの発生した絶縁体をキャパシタン
ス(CW)およびコンダクタンス(GW)を並列接続した
水トリー劣化部と、キャパシタンス(CP)である健全
部とを直列接続した等価回路に、且つ前記絶縁体試料全
体をキャパシタンス(C)とコンダクタンス(G)とを
直列接続した等価回路にそれぞれ換算して、前記絶縁体
の水トリー劣化部の誘電率を測定する測定方法であっ
て、 前記絶縁体に印加する異なる周波数(ω1、ω2)での電
圧(VejK(但し、K=θとする。))および電流(Ie
jQ(但し、Q=θ+φとする。))を測定して、当該絶縁
体の複素インピーダンス(Z)を演算し、該複素インピ
ーダンスから各周波数ごとのキャパシタンス(C1
2)およびコンダクタンス(G1、G2)を演算し、該
各周波数ごとのキャパシタンスおよびコンダクタンスか
ら予め決定された演算要素 【数7】 【数8】 によって前記健全部の前記キャパシタンスと前記水トリ
ー劣化部の前記キャパシタンスとを演算し、該健全部の
前記キャパシタンスから予め決定された演算要素 【数9】 (但し、Sは水トリーの発生面積、ε0は真空誘電率、
εPは絶縁材料の比誘電率とする。)によって前記水ト
リー劣化部の水トリー長(lW)を演算し、該水トリー
劣化部の前記水トリー長と前記水トリー劣化部の前記キ
ャパシタンスとから予め決定された演算要素 【数10】 によって前記水トリー劣化部の誘電率(εW)を測定す
ることを特徴とする水トリー劣化部の誘電率測定方法。
3. An equivalent circuit in which a water tree deteriorated portion in which an insulator in which water tree is generated is connected in parallel with a capacitance (C W ) and a conductance (G W ) and a sound portion which is a capacitance (C P ) are connected in series. And measuring the dielectric constant of the water-tree-deteriorated portion of the insulator by converting the entire insulator sample into an equivalent circuit in which a capacitance (C) and a conductance (G) are connected in series. The voltage ( VejK (where K = θ)) and the current (Ie) at different frequencies (ω 1 , ω 2 ) applied to the insulator.
jQ (where Q = θ + φ)) is measured to calculate the complex impedance (Z) of the insulator, and the capacitance (C 1 , C 1 ,
C 2 ) and conductance (G 1 , G 2 ) are calculated, and a calculation element determined in advance from the capacitance and conductance for each frequency is (Equation 8) The capacitance of the sound part and the capacitance of the water tree deterioration part are calculated according to the following formula. (However, S is the area where water tree occurs, ε 0 is the vacuum dielectric constant,
ε P is the relative dielectric constant of the insulating material. ) Is used to calculate the water tree length (l W ) of the water tree deterioration section, and a calculation element determined in advance from the water tree length of the water tree deterioration section and the capacitance of the water tree deterioration section is Measuring the dielectric constant (ε W ) of the water tree deteriorated portion by using the method.
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