JPH11316253A - Electromagnet disturbing wave measuring device - Google Patents
Electromagnet disturbing wave measuring deviceInfo
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- JPH11316253A JPH11316253A JP13750298A JP13750298A JPH11316253A JP H11316253 A JPH11316253 A JP H11316253A JP 13750298 A JP13750298 A JP 13750298A JP 13750298 A JP13750298 A JP 13750298A JP H11316253 A JPH11316253 A JP H11316253A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、不要輻射の多い電
子部品が実装されたプリント配線基板の電磁波ノイズの
発生源を解析することができる電磁妨害波測定装置に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electromagnetic interference wave measuring apparatus capable of analyzing a source of electromagnetic noise on a printed circuit board on which electronic components having a large amount of unnecessary radiation are mounted.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、特開平6−58970号公報に記
載されている「両面妨害波測定装置」においては、複数
のループアンテナを碁盤目次に並べ近傍磁界を測定する
方法、あるいは直線ステージでループアンテナの位置制
御を行って近傍磁界を測定する方法等が提案されてお
り、時間平均的な大まかな近傍磁界の強度分布を調べる
のに利点を有していた。2. Description of the Related Art Conventionally, in a "double-sided interfering wave measuring apparatus" described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-58970, a method of arranging a plurality of loop antennas in a grid and measuring a near-field magnetic field, or a method of looping with a linear stage. A method of measuring the near magnetic field by controlling the position of the antenna has been proposed, and has an advantage in examining a time-averaged approximate near-field intensity distribution.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
「両面妨害波測定装置」に用いられる測定手法にあって
は、ディジタル回路の近傍磁界を調べる場合、ディジタ
ル回路の電流波形が非周期的な波形であるため、近傍磁
界の強度分布をより詳細に調べることができないといっ
た問題があった。However, in the measurement method used in the conventional "double-sided interference wave measuring device", when the magnetic field near the digital circuit is examined, the current waveform of the digital circuit has an aperiodic waveform. Therefore, there is a problem that the intensity distribution of the near magnetic field cannot be examined in more detail.
【0004】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的としては、測定対象であるディジタル回路の電
磁波ノイズをより詳細に測定することができる電磁妨害
波測定装置を提供することにある。[0004] The present invention has been made in view of the above,
An object of the present invention is to provide an electromagnetic interference wave measuring device capable of measuring electromagnetic wave noise of a digital circuit to be measured in more detail.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
上記課題を解決するため、プリント配線基板に実装され
ているデジタル回路からクロック信号を入力するクロッ
ク信号入力手段と、このプリント配線基板に実装されて
いるデジタル回路を含む電子部品から発生される不要輻
射の磁界信号を検知する磁界検知手段と、この磁界検知
手段を前記プリント配線基板上の指定位置に移動する検
知位置移動手段と、前記クロック信号入力手段からのク
ロック信号と、前記磁界検知手段からの磁界信号とを量
子化する量子化手段と、この量子化手段により量子化さ
れたクロック信号及び磁界信号に基づいて、指定される
測定時間内に1回のクロック周期毎に磁界信号の周波数
成分を解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段
で解析された磁界信号の周波数成分パターンを類似度に
応じて分類して評価する類似度評価手段と、この類似度
評価手段により評価された周波数成分パターンを記憶す
る記憶手段と、前記検知位置移動手段に指定位置を設定
するとともに、前記周波数解析手段に測定時間を設定す
る制御手段とを備えたことを要旨とする。According to the first aspect of the present invention,
In order to solve the above problems, a clock signal input unit for inputting a clock signal from a digital circuit mounted on a printed wiring board, and unnecessary radiation generated from electronic components including the digital circuit mounted on the printed wiring board Magnetic field detecting means for detecting a magnetic field signal of the following; a detecting position moving means for moving the magnetic field detecting means to a designated position on the printed wiring board; a clock signal from the clock signal input means; A quantizing means for quantizing the magnetic field signal, and a frequency component of the magnetic field signal for each clock cycle within a designated measurement time based on the clock signal and the magnetic field signal quantized by the quantizing means. The frequency analysis means to be analyzed and the frequency component pattern of the magnetic field signal analyzed by the frequency analysis means are classified and evaluated according to the similarity. Similarity evaluation means, storage means for storing frequency component patterns evaluated by the similarity evaluation means, and control for setting a designated position in the detection position moving means and setting a measurement time in the frequency analysis means. And the means.
【0006】請求項2記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記周波数解析手段は、指定された周波数を含
まない周波数成分パターンの生成を禁止することを要旨
とする。According to a second aspect of the present invention, in order to solve the above problem, the frequency analysis means prohibits generation of a frequency component pattern that does not include a specified frequency.
【0007】請求項3記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記記憶手段は、前記プリント配線基板上の少
なくとも2つ以上の指定位置で検知した磁界信号の類似
度によるグループの発生順序に基づいて、相関の高い周
波数成分パターンを関連付けて記憶することを要旨とす
る。According to a third aspect of the present invention, in order to solve the above-mentioned problem, the storage means stores the groups based on the similarity of the magnetic field signals detected at at least two or more designated positions on the printed wiring board. The gist of the present invention is to store frequency component patterns having a high correlation in association with each other based on the correlation.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。 (第1の実施の形態)図1は、本発明の第1の実施の形
態に係る電磁妨害波測定装置の構成を示す図である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an electromagnetic interference wave measuring device according to a first embodiment of the present invention.
【0009】図1に示すように、本実施の形態における
電磁妨害波測定装置は、ディジタル回路を含む電子部品
を有する測定対象物としてのプリント配線基板1と、プ
リント配線基板1に実装されているデジタル回路からク
ロック信号を入力するクロック測定プローブ2と、プリ
ント配線基板1に実装されているデジタル回路を含む電
子部品から発生される不要輻射の磁界信号を検知する磁
界センサ3と、磁界センサ3をプリント配線基板1上の
指定位置に移動するセンサ位置移動部4と、クロック測
定プローブ2からのクロック信号と、磁界センサ3から
の磁界信号とをアナログ/ディジタル変換して量子化す
るデジタイザ5,6と、デジタイザ5,6により量子化
されたクロック信号及び磁界信号に基づいて、指定され
た測定時間内に1回のクロック周期毎に磁界信号の周波
数成分を高速フーリエ変換FFTを用いて解析する周波
数解析部7と、周波数解析部7で解析された磁界信号の
周波数成分パターンを類似度に応じて分類して評価する
類似度評価部8と、センサ位置移動部4に指定位置を設
定するとともに、周波数解析部7に測定時間を設定する
中央制御部9と、類似度評価部8により分類された周波
数成分パターンを記憶するデータ記憶部10とから構成
されている。As shown in FIG. 1, an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to the present embodiment is mounted on a printed wiring board 1 as an object to be measured having electronic components including a digital circuit, and on the printed wiring board 1. A clock measurement probe 2 for inputting a clock signal from a digital circuit, a magnetic field sensor 3 for detecting a magnetic field signal of unnecessary radiation generated from electronic components including the digital circuit mounted on the printed wiring board 1, and a magnetic field sensor 3 Digitizers 5 and 6 that perform analog / digital conversion of the clock signal from clock measurement probe 2 and the magnetic field signal from magnetic field sensor 3 to quantize by sensor / position moving unit 4 that moves to a designated position on printed wiring board 1. And a clock signal and a magnetic field signal quantized by the digitizers 5 and 6, and Frequency analysis unit 7 that analyzes the frequency component of the magnetic field signal using the fast Fourier transform FFT for each clock cycle of the clock signal, and classifies and evaluates the frequency component pattern of the magnetic field signal analyzed by the frequency analysis unit 7 according to the similarity. A similarity evaluation unit 8, a designated position in the sensor position moving unit 4, a central control unit 9 for setting a measurement time in the frequency analysis unit 7, and a frequency component pattern classified by the similarity evaluation unit 8. And a data storage unit 10 for storing.
【0010】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。まず、中央制御部9は、磁界
センサ3をプリント配線基板1上の指定位置に移動する
ために、センサ位置移動部4に位置指定信号を出力す
る。次に、センサ位置移動部4は、この位置指定信号に
応じてプリント配線基板1上の指定位置に磁界センサ3
を移動する。一方、クロック測定プローブ2は、プリン
ト配線基板1のクロック部分に接続しており、ク口ック
信号をデジタイザ5に送れるようになっている。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. First, the central control unit 9 outputs a position designation signal to the sensor position movement unit 4 in order to move the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1. Next, the sensor position moving unit 4 moves the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1 in accordance with the position designation signal.
To move. On the other hand, the clock measurement probe 2 is connected to the clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5.
【0011】デジタイザ5,6は、中央制御部9からの
制御信号に応じて、クロック測定プローブにより入力し
たクロック信号、磁界センサ3により入力した磁界信号
をアナログ/デジタル変換して量子化し、このデータを
周波数解析部7に送る。Digitizers 5 and 6 convert the clock signal input by the clock measurement probe and the magnetic field signal input by the magnetic field sensor 3 from analog to digital in accordance with a control signal from the central control unit 9 to quantize the data. To the frequency analysis unit 7.
【0012】周波数解析部7は、中央制御部9で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換FF
Tを用いてクロック信号の1周期毎に周波数成分の解析
を行なう。この結果、図2に示すように、時系列毎にa
1,b1,c1,a2,b2,c2,c3,a3,c4
のタイムスペクトラムパターンが生成される。The frequency analysis unit 7 converts the magnetic field signal for a fixed measurement time determined by the central control unit 9 into a fast Fourier transform FF.
The frequency component is analyzed for each cycle of the clock signal using T. As a result, as shown in FIG.
1, b1, c1, a2, b2, c2, c3, a3, c4
Is generated.
【0013】次に、類似度評価部8は、それぞれのタイ
ムスペクトラムパターンの類似度を評価し、図3に示す
ように、グループa,グループb,グループcの3つの
グループに分類してデータ記憶部10に記憶する。ここ
で、電磁妨害波のVCCI規格では、繰り返しの多い電
磁妨害波が強く評価されるので、類似度評価部8は、発
生頻度の高いグループCから評価を行なう。これによ
り、プリント配線基板1で1クロックの周期の間でもタ
イムスペクトラムが変動する電磁波ノイズをより詳細に
測定することができる。Next, the similarity evaluation section 8 evaluates the similarity of each time spectrum pattern, and classifies the data into three groups, ie, a group a, a group b, and a group c, as shown in FIG. The information is stored in the unit 10. Here, according to the VCCI standard for electromagnetic interference waves, an electromagnetic interference wave having a large number of repetitions is strongly evaluated. Therefore, the similarity evaluation unit 8 performs an evaluation from the group C having a high frequency of occurrence. This makes it possible to measure in more detail the electromagnetic wave noise whose time spectrum fluctuates even during one clock cycle on the printed wiring board 1.
【0014】(第2の実施の形態)本発明の第2の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図1に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Second Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to a second embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 1, and a description of the configuration will be omitted.
【0015】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ2は、プ
リント配線基板1のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ5,6に送れるようになってい
る。デジタイザ5,6は、中央制御部9からの制御信号
によりクロック信号、磁界信号をアナログ/デジタル変
換して量子化し、周波数解析部7にデータを送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. On the other hand, the clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizers 5 and 6. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0015】周波数解析部7は、中央制御部9で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換FF
Tを用いてクロック信号の1周期毎に周波数成分の解析
を行なう。The frequency analysis unit 7 converts the magnetic field signal for a fixed measurement time determined by the central control unit 9 into a fast Fourier transform FF.
The frequency component is analyzed for each cycle of the clock signal using T.
【0016】ここで、一般には規制値を超える電磁波ノ
イズの周波数は予め分かっているので、中央制御部9は
この該当周波数を周波数解析部7に設定する。次に、周
波数解析部7は、このような該当周波数を含まないタイ
ムスペクトラムパターンの生成を禁止する。そして、類
似度評価部8は、タイムスペクトラムパターンの類似度
を評価し、グループに分類して、データ記憶部10に記
憶する。Here, since the frequency of the electromagnetic noise exceeding the regulation value is generally known in advance, the central control unit 9 sets this frequency in the frequency analysis unit 7. Next, the frequency analysis unit 7 prohibits the generation of such a time spectrum pattern that does not include the corresponding frequency. Then, the similarity evaluation unit 8 evaluates the similarity of the time spectrum patterns, classifies them into groups, and stores them in the data storage unit 10.
【0017】このように、周波数解析部7が該当周波数
を含まないタイムスペクトラムパターンの生成を禁止す
ることで、該当周波数を含まないタイムスペクトラムの
類似度評価処理に要する計算時間を省くことができる。As described above, by prohibiting the generation of the time spectrum pattern not including the corresponding frequency by the frequency analysis unit 7, the calculation time required for the similarity evaluation processing of the time spectrum not including the corresponding frequency can be omitted.
【0018】(第3の実施の形態)図4は、本発明の第
3の実施の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成を示す
図である。図4に示すように、本実施の形態における電
磁妨害波測定装置の特徴は、磁界センサ3とは別に磁界
センサ11を格子状の任意の位置に移動して測定を行な
うことにある。(Third Embodiment) FIG. 4 is a diagram showing a configuration of an electromagnetic interference wave measuring device according to a third embodiment of the present invention. As shown in FIG. 4, the characteristic of the electromagnetic interference wave measuring apparatus according to the present embodiment is that the magnetic field sensor 11 is moved to an arbitrary position in a grid form in addition to the magnetic field sensor 3 to perform the measurement.
【0019】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3,11をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上
の指定位置にそれぞれ移動する。この時、図5に示すよ
うに、プリント配線基板1のクロック回路あるいは中央
演算処理部の近傍に一方の磁界センサ3を置き、他方の
磁界センサ11を格子状の任意の位置に移動して測定を
行なうようにする。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensors 3 and 11 to designated positions on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4, respectively. At this time, as shown in FIG. 5, one magnetic field sensor 3 is placed in the vicinity of the clock circuit or the central processing unit of the printed wiring board 1, and the other magnetic field sensor 11 is moved to an arbitrary position in a grid to measure. To do.
【0020】一方、クロック測定プローブ2は、プリン
ト配線基板1のクロック部分に接続しており、クロック
信号をデジタイザ5に送れるようになっている。デジタ
イザ5,6は、中央制御部9からの制御信号によりクロ
ック信号、磁界信号をアナログ/デジタル変換して量子
化し、周波数解析部7にデータを送る。On the other hand, the clock measuring probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0021】ここで、磁界センサ3のデータを標準磁界
データ、磁界センサ11のデータを測定磁界データとす
ると、周波数解析部7は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部9で決められたー定時間の磁界信号
の周波数成分を解析する。周波数解析は、短時間だけ高
速フーリエ変換FFTを用いてクロック信号の1周期毎
に標準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析
を行なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパ
ターンが生成され、類似度評価部8で標準磁界データに
ついてタイムスペクトラムパターンの類似度が評価さ
れ、グループに分類され対応する測定磁界データがデー
タ記憶部10に記憶される。Here, assuming that the data of the magnetic field sensor 3 is the standard magnetic field data and the data of the magnetic field sensor 11 is the measured magnetic field data, the frequency analysis unit 7 determines the data determined by the central control unit 9 using the clock signal as a reference. Analyze the frequency component of the time magnetic field signal. In the frequency analysis, the frequency component is analyzed for the standard magnetic field and the measured magnetic field data for each period of the clock signal using the fast Fourier transform FFT for a short time. As a result, each time spectrum pattern is generated, the similarity evaluation section 8 evaluates the similarity of the time spectrum pattern with respect to the standard magnetic field data, and the data storage section 10 stores the measured magnetic field data classified into groups and corresponding. .
【0022】このように、磁界センサを1つ追加し、1
つは測定対象物のクロック回路部の近傍に置き、タイム
スペクトルパターンを分類する時に測定対象物のクロッ
ク回路近傍の磁界センサからのタイムスペクトルパター
ンを用いて分類することで、測定対象であるディジタル
回路のクロック回路部から離れた測定位置の磁界データ
をもクロック信号に同期した状態で測定することができ
る。As described above, one magnetic field sensor is added,
First, the digital circuit to be measured is placed near the clock circuit section of the measurement object, and the time spectrum pattern is classified using the time spectrum pattern from the magnetic field sensor near the clock circuit of the measurement object. Magnetic field data at a measurement position distant from the clock circuit unit can be measured in synchronization with the clock signal.
【0023】(第4の実施の形態)本発明の第4の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図4に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Fourth Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to a fourth embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 4, and a description of the configuration will be omitted.
【0024】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3,11をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上
の指定位置に移動する。この時、図5に示すように、プ
リント配線基板1のクロック回路あるいは中央演算処理
部の近傍に磁界センサ3を置く一方、センサ11を格子
状の任意の位置で測定を行なうようにする。クロック測
定プローブ2は、プリント配線基板1のクロック部分に
接続しており、クロック信号をデジタイザ5に送れるよ
うになっている。デジタイザ5,6は、中央制御部9か
らの制御信号によりクロック信号、磁界信号をアナログ
/デジタル変換して量子化し、周波数解析部7にデータ
を送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensors 3 and 11 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. At this time, as shown in FIG. 5, the magnetic field sensor 3 is placed near the clock circuit or the central processing unit of the printed wiring board 1, and the sensor 11 is measured at an arbitrary position in a lattice. The clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0025】ここで、磁界センサ3のデータを標準磁界
データ、磁界センサ11のデータを測定磁界デー夕とす
ると、周波数解析部7は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部9で決められたー定時間の磁界信号
の波数成分を解析する。周波数解析は、時間だけ高速フ
ーリエ変換FFTを用いてクロック信号の1周期毎に標
準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析を行
なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパター
ンが生成され、類似度評価部8は、標準磁界データ、測
定磁界データについてタイムスペクトラムパターンの類
似度を評価し、標準磁界データ、測定磁界データのうち
類似度の高いデータをグループに分類してデータ記憶部
10に記憶する。Here, assuming that the data of the magnetic field sensor 3 is standard magnetic field data and the data of the magnetic field sensor 11 is measured magnetic field data, the frequency analysis unit 7 is determined by the central control unit 9 using the clock signal as a reference. Analyze the wave number component of a fixed-time magnetic field signal. In the frequency analysis, the frequency component is analyzed for the standard magnetic field and the measured magnetic field data for each period of the clock signal using the fast Fourier transform FFT for the time. As a result, each time spectrum pattern is generated, and the similarity evaluation unit 8 evaluates the similarity of the time spectrum pattern with respect to the standard magnetic field data and the measured magnetic field data. The data is classified into groups and stored in the data storage unit 10.
【0026】このように、磁界センサを1つ追加し、1
つは測定対象物のクロック回路の近傍に置き、タイムス
ペクトルパターンを分類する時に、定対象物のクロック
回路の近傍の磁界センサからのパターンと、もう1つの
磁界センサからのパターンのうち、もってデータ記憶部
10に記憶されているパターンとの類似度が高い方のパ
ターンを記憶することで、2つある磁界センサを用い
て、よりクロック信号に同期した方の電磁波ノイズを測
定することができる。As described above, one magnetic field sensor is added and 1
One is placed near the clock circuit of the measurement object, and when classifying the time spectrum pattern, the data from the pattern from the magnetic field sensor near the clock circuit of the fixed object and the pattern from the other magnetic field sensor By storing the pattern having the higher similarity to the pattern stored in the storage unit 10, it is possible to measure the electromagnetic wave noise in synchronization with the clock signal using two magnetic field sensors.
【0027】(第5の実施の形態)本発明の第5の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図1に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Fifth Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to a fifth embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 1, and a description of the configuration will be omitted.
【0028】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ2は、プ
リント配線基板1のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ5に送れるようになっている。デ
ジタイザ5,6は、中央制御部9からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ/デジタル変換して
量子化し、周波数解析部7にデータを送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. On the other hand, the clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0029】周波数解析部7は、中央制御部9で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換FF
Tを用いてクロック信号の1周期毎に周波数成分の解析
を行なう。この結果、周波数解析部7でタイムスペクト
ラムパターンが生成される。そして、類似度評価部8
は、このタイムスペクトラムパターンの類似度を評価
し、類似度があるー定値を超えたタイムスペクトラムパ
ターンをグループに分類し、データ記憶部10に記憶す
る。一方、類似度評価をおこなう場合に、類似度がある
一定値を超えないときには、データ記憶部10に記憶し
ないようにする。The frequency analysis unit 7 converts the magnetic field signal for a fixed measurement time determined by the central control unit 9 into a fast Fourier transform FF.
The frequency component is analyzed for each cycle of the clock signal using T. As a result, a time spectrum pattern is generated by the frequency analysis unit 7. Then, the similarity evaluation unit 8
Evaluates the similarity of the time spectrum patterns, classifies the time spectrum patterns in which the similarity exceeds a certain value into groups, and stores them in the data storage unit 10. On the other hand, when performing the similarity evaluation, if the similarity does not exceed a certain value, the data storage unit 10 does not store the similarity.
【0030】このように、類似度評価を行う場合に、あ
る一定値を超えないときには、データ記憶部10に記憶
しないことで、測定された電磁波ノイズがクロック信号
に同期していない場合は類似度評価処理に要する無駄な
計算を省くことができる。As described above, when the similarity evaluation is performed, when the measured electromagnetic wave noise is not synchronized with the clock signal, it is not stored in the data storage unit 10 when the measured value does not exceed a certain value. Useless calculations required for the evaluation process can be omitted.
【0031】(第6の実施の形態)本発明の第6の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図4に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Sixth Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to a sixth embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 4, and a description of the configuration will be omitted.
【0032】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3,11をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上
の指定位置に移動する。この時、図5に示すように、プ
リント配線基板1のクロック回路あるいは中央演算処理
部の近傍に磁界センサ3を置く一方、磁界センサ11を
格子状の任意の位置で測定を行なうようにする。クロッ
ク測定プローブ2は、プリント配線基板1のクロック部
分に接続しており、クロック信号をデジタイザ5に送れ
るようになっている。デジタイザ5,6は、中央制御部
9からの制御信号によりクロック信号、磁界信号をアナ
ログ/デジタル変換して量子化し、周波数解析部7にデ
ータを送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensors 3 and 11 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. At this time, as shown in FIG. 5, the magnetic field sensor 3 is placed near the clock circuit or the central processing unit of the printed wiring board 1, and the magnetic field sensor 11 is measured at an arbitrary position in a lattice. The clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0033】ここで、磁界センサ3のデータを標準磁界
データ、磁界センサ11のデータを測定磁界データとす
ると、周波数解析部7は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部9で決められたー定時間の磁界信号
の周波数成分を解析する。周波数解析は、短時間だけ高
速フーリエ変換FFTを用いてクロック信号の1周期毎
に標準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析
を行なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパ
ターンが生成され、標準磁界データについてのタイムス
ペクトラムパターンの類似度が評価される。Here, assuming that the data of the magnetic field sensor 3 is the standard magnetic field data and the data of the magnetic field sensor 11 is the measured magnetic field data, the frequency analysis unit 7 determines the data determined by the central control unit 9 using the clock signal as a reference. Analyze the frequency component of the time magnetic field signal. In the frequency analysis, the frequency component is analyzed for the standard magnetic field and the measured magnetic field data for each period of the clock signal using the fast Fourier transform FFT for a short time. As a result, each time spectrum pattern is generated, and the similarity of the time spectrum pattern with respect to the standard magnetic field data is evaluated.
【0034】ここで、図6(1)に、磁界センサ11を
ある指定位置に移動した時の標準磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを示す。なお、a1,a2,a3,
は類似度の高いパターンとする。また、図6(2)に、
別の指定位置に移動した時の標準磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを示す。ここで、類似度の高いパタ
ーンの発生順序が同じものの測定磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを関連づけてデータ記憶部10に記
憶する。FIG. 6A shows a time spectrum pattern of the standard magnetic field data when the magnetic field sensor 11 is moved to a specified position. In addition, a1, a2, a3,
Is a pattern having a high degree of similarity. Also, in FIG. 6 (2),
7 shows a time spectrum pattern of the standard magnetic field data when moved to another designated position. Here, the data storage unit 10 stores the time spectrum pattern of the measured magnetic field data in the same generation order of the patterns having the high similarity in association with each other.
【0035】このように、ある指定位置で測定した磁界
データの類似度によるグループの発生順序と、別の指定
位置で測定した磁界データの類似度によるグループの発
生順序に基づいて、相関の高いタイムスペクトラムパタ
ーンの方を関連付けてデータ記憶部10に記憶すること
で、同じグループのタイムスペクトラムでも発生順序に
応じて対応づけることができる。As described above, based on the generation order of the groups based on the similarity of the magnetic field data measured at a certain specified position and the generation order of the groups based on the similarity of the magnetic field data measured at another specified position, a time having a high correlation is determined. By storing the spectrum patterns in the data storage unit 10 in association with each other, the time spectra of the same group can be associated with each other in accordance with the order of occurrence.
【0036】(第7の実施の形態)本発明の第7の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図1に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Seventh Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to a seventh embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 1, and a description of the configuration will be omitted.
【0037】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ2は、プ
リント配線基板1のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ5に送れるようになっている。デ
ジタイザ5,6は、中央制御部9からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ/デジタル変換して
量子化し、周波数解析部7にデータを送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. On the other hand, the clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0038】周波数解析部7は、中央制御部9で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換FF
Tを用いてクロック信号の1周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、図7(1)のように、周波数解析部
7から出力されたタイムスペクトラムパターンは、a
1,b1,c1,a2,b2. . . となってい
る。類似度評価部8でタイムペクトラムパターンを評価
する場合に、図7(2)に示すように、グループaには
a1,a2が、グループbにはb1,b2が、グループ
cにはc1,c2,c3が分類されているとする。そこ
で、新たにパターンa3の類似度を評価する場合には、
グループaに属するa1,a2を平均した平均パターン
を用いて類似度を評価して、データ記憶部10に記憶す
る。The frequency analysis unit 7 converts the magnetic field signal for a fixed measurement time determined by the central control unit 9 into a fast Fourier transform FF.
The frequency component is analyzed for each cycle of the clock signal using T. Here, as shown in FIG. 7A, the time spectrum pattern output from the frequency analysis unit 7 is a
1, b1, c1, a2, b2. . . It has become. When the similarity evaluation unit 8 evaluates the time spectrum pattern, as shown in FIG. 7B, a1 and a2 are assigned to the group a, b1 and b2 are assigned to the group b, and c1 and c2 are assigned to the group c. , C3 are classified. Therefore, when newly evaluating the similarity of the pattern a3,
The similarity is evaluated using an average pattern obtained by averaging a1 and a2 belonging to the group a and stored in the data storage unit 10.
【0039】このように、類似度によってデータ記憶部
10にグループ化されたタイムスペクトラムパターン
と、新たな測定データのタイムスペクトラムパターンの
類似度評価を行なう場合に、グループ化されたタイムス
ペクトラムパターンの平均パターンと評価を行うこと
で、より正確な類似度評価を行うことができる。As described above, when evaluating the similarity between the time spectrum pattern grouped in the data storage unit 10 based on the similarity and the time spectrum pattern of the new measurement data, the average of the grouped time spectrum patterns is obtained. By performing the evaluation with the pattern, a more accurate similarity evaluation can be performed.
【0040】(第8の実施の形態)本発明の第8の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図1に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Eighth Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to an eighth embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 1, and a description of the configuration will be omitted.
【0041】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上の指定
位置に移動する。クロック測定プローブ2は、プリント
配線基板1のクロック部分に接続しており、クロック信
号をデジタイザ5に送れるようになっている。デジタイ
ザ5,6は中央制御部9からの制御信号によりクロック
信号、磁界信号をアナログ/デジタル変換して量子化
し、周波数解析部7にデータを送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring device will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. The clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize them, and send data to the frequency analysis unit 7.
【0042】周波数解析部7は、中央制御部9で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換FF
Tを用いてクロック信号の1周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、生成したタイムスペクトルパターン
について類似度評価部8で類似度の評価を行なうが、実
際はかなり複雑な計算となってしまう。そこで、生成し
たタイムスペクトルパターンについて、ある基準値を超
えたものを1、超えないものを0として図8(1)、
(2)に示す01パターンを生成する。このパターンに
ついて、例えば論理積の和をとれば類似度を簡単に求め
ることができる。そして、このパターンをグループに分
類し、データ記憶部10に記憶する。The frequency analysis section 7 converts the magnetic field signal for a fixed measurement time determined by the central control section 9 into a fast Fourier transform FF.
The frequency component is analyzed for each cycle of the clock signal using T. Here, the similarity evaluation unit 8 evaluates the similarity of the generated time spectrum pattern, but in practice, the calculation is considerably complicated. Therefore, regarding the generated time spectrum patterns, those exceeding a certain reference value are set to 1 and those not exceeding the reference value are set to 0, as shown in FIG.
The 01 pattern shown in (2) is generated. For this pattern, for example, a similarity can be easily obtained by taking the sum of logical products. Then, the patterns are classified into groups and stored in the data storage unit 10.
【0043】このように、タイムスペクトラムパターン
を01パターンに変換し、論理積の和をとることで、類
似度評価の処理を簡略化することができる。As described above, by converting the time spectrum pattern into the 01 pattern and calculating the sum of the logical product, the processing of the similarity evaluation can be simplified.
【0044】(第9の実施の形態)本発明の第8の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図1に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。(Ninth Embodiment) The configuration of an electromagnetic interference wave measuring apparatus according to an eighth embodiment of the present invention is the same as the configuration shown in FIG. 1, and a description of the configuration will be omitted.
【0045】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部9は、磁界センサ
3をセンサ位置移動部4でプリント配線基板1上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ2は、プ
リント配線基板1のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ5に送れるようになっている。デ
ジタイザ5,6は、中央制御部9からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ/デジタル変換して
量子化し、周波数解析部7にデータを送る。Next, the operation of the thus configured electromagnetic interference wave measuring apparatus will be described. The central control unit 9 moves the magnetic field sensor 3 to a designated position on the printed wiring board 1 by the sensor position moving unit 4. On the other hand, the clock measurement probe 2 is connected to a clock portion of the printed wiring board 1 so that a clock signal can be sent to the digitizer 5. The digitizers 5 and 6 convert the clock signal and the magnetic field signal into analog / digital signals by a control signal from the central control unit 9, quantize the signals, and send the data to the frequency analysis unit 7.
【0046】周波数解析部7は、中央制御部9で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換FF
Tを用いてクロック信号の1周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、生成したタイムスペクトルパターン
について類似度評価部8で類似度の評価を行ない、グル
ープに分類してデータ記憶部10に記憶する。The frequency analysis unit 7 converts the magnetic field signal for a fixed measurement time determined by the central control unit 9 into a fast Fourier transform FF.
The frequency component is analyzed for each cycle of the clock signal using T. Here, the similarity evaluation unit 8 evaluates the similarity of the generated time spectrum patterns, classifies the groups into groups, and stores them in the data storage unit 10.
【0047】図9に示すように、(1)、(2)、
(3)のタイムスペクトラムパターンがデータ記憶部1
0に記憶されているとする。それぞれのパターンの共通
部分は「共通部分1〜3」、差異は「差異部分1〜3」
となっている。そして、図9の(4)のように差異部分
を強調して再度、データ記憶部10に記憶する。As shown in FIG. 9, (1), (2),
The time spectrum pattern of (3) is the data storage unit 1
It is assumed that it is stored in 0. The common part of each pattern is “common part 1 to 3”, and the difference is “difference part 1 to 3”.
It has become. Then, the difference is emphasized as shown in FIG. 9D and stored in the data storage unit 10 again.
【0048】このように、データ記憶部10に記憶した
グループ化されたタイムスペクトラムパターンについ
て、それぞれのパターンの差異部分のパターンの値を大
きくして再度、データ記憶部10に記憶することで、以
たようなタイムスペクトラムパターンでも、より正確に
類似度を評価することができる。As described above, with respect to the grouped time spectrum patterns stored in the data storage unit 10, the value of the pattern of the difference part between the respective patterns is increased and stored in the data storage unit 10 again. Even with such a time spectrum pattern, the similarity can be evaluated more accurately.
【0049】[0049]
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1記載の
本発明によれば、測定対象であるディジタル回路の1ク
ロックの周期でもスぺクトラムが変動する電磁波ノイズ
をより詳細に測定することができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, it is possible to measure in more detail the electromagnetic noise whose spectrum varies even with one clock cycle of the digital circuit to be measured. Can be.
【0050】請求項2記載の本発明によれば、該当周波
数を含まないタイムスペクトラムの計算時間を省くこと
ができる。According to the second aspect of the present invention, it is possible to save time for calculating a time spectrum not including the corresponding frequency.
【0051】請求項3記載の本発明によれば、同じグル
ープのタイムスペクトラムでも発生順序に応じて対応づ
けることができる。According to the third aspect of the present invention, the time spectra of the same group can be associated with each other in accordance with the order of occurrence.
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る電磁妨害波測
定装置の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an electromagnetic interference wave measuring device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】時系列毎に並べられた生成後のタイムスペクト
ラムパターンを示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a generated time spectrum pattern arranged for each time series.
【図3】グループに分類されたタイムスペクトラムパタ
ーンを示す図である。FIG. 3 is a diagram showing time spectrum patterns classified into groups.
【図4】本発明の第3の実施の形態に係る電磁妨害波測
定装置の構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of an electromagnetic interference wave measuring device according to a third embodiment of the present invention.
【図5】プリント配線基板1のクロック回路あるいは中
央演算処理部の近傍に一方の磁界センサ3を置き、他方
の磁界センサ11を格子状の任意の位置に移動して測定
を行なう様子を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a state in which one magnetic field sensor 3 is placed in the vicinity of a clock circuit or a central processing unit of a printed wiring board 1 and the other magnetic field sensor 11 is moved to an arbitrary position in a grid to perform measurement. It is.
【図6】磁界センサ11をある位置に移動した時の標準
磁界データのタイムスペクトラムパターンを示す図
(1)と、別の位置に移動した時の標準磁界データのタ
イムスペクトラムパターンを示す図(2)である。FIG. 6 is a diagram showing a time spectrum pattern of standard magnetic field data when the magnetic field sensor 11 is moved to a certain position, and FIG. 6 is a diagram showing a time spectrum pattern of standard magnetic field data when the magnetic field sensor is moved to another position (2). ).
【図7】周波数解析部7から出力されたタイムスペクト
ラムパターン(1)と、類似度評価部8で3つのグルー
プに分類された様子を示す図(2)である。FIG. 7 is a diagram (2) illustrating a time spectrum pattern (1) output from a frequency analysis unit 7 and a state of being classified into three groups by a similarity evaluation unit 8;
【図8】類似度評価部8で01パターンが生成される様
子を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a state in which a 01 pattern is generated by a similarity evaluation section 8;
【図9】データ記憶部10に記憶されている「共通部分
1〜3」、「差異部分1〜3」を示す図(1),
(2),(3)及び、差異部分を強調した様子を示す図
(4)である。FIG. 9 is a diagram (1) showing “common parts 1 to 3” and “difference parts 1 to 3” stored in a data storage unit 10;
(2), (3) and (4) showing a state in which the difference is emphasized.
1 ディジタル回路 2 クロック測定プローブ 3 磁界センサ 4 センサ位置移動部 5 デジタイザ 6 デジタイザ 7 周波数解析部 8 類似度評価部 9 中央制御部 10 データ記憶部 11 磁界センサ Reference Signs List 1 digital circuit 2 clock measurement probe 3 magnetic field sensor 4 sensor position moving unit 5 digitizer 6 digitizer 7 frequency analysis unit 8 similarity evaluation unit 9 central control unit 10 data storage unit 11 magnetic field sensor
Claims (3)
タル回路からクロック信号を入力するクロック信号入力
手段と、 このプリント配線基板に実装されているデジタル回路を
含む電子部品から発生される不要輻射の磁界信号を検知
する磁界検知手段と、 この磁界検知手段を前記プリント配線基板上の指定位置
に移動する検知位置移動手段と、 前記クロック信号入力手段からのクロック信号と、前記
磁界検知手段からの磁界信号とを量子化する量子化手段
と、 この量子化手段により量子化されたクロック信号及び磁
界信号に基づいて、指定される測定時間内に1回のクロ
ック周期毎に磁界信号の周波数成分を解析する周波数解
析手段と、 この周波数解析手段で解析された磁界信号の周波数成分
パターンを類似度に応じて分類して評価する類似度評価
手段と、 この類似度評価手段により評価された周波数成分パター
ンを記憶する記憶手段と、 前記検知位置移動手段に指定位置を設定するとともに、
前記周波数解析手段に測定時間を設定する制御手段とを
備えたことを特徴とする電磁妨害波測定装置。1. A clock signal input means for inputting a clock signal from a digital circuit mounted on a printed wiring board, and a magnetic field of unnecessary radiation generated from an electronic component including the digital circuit mounted on the printed wiring board. Magnetic field detecting means for detecting a signal; detecting position moving means for moving the magnetic field detecting means to a designated position on the printed wiring board; a clock signal from the clock signal input means; and a magnetic field signal from the magnetic field detecting means. And a frequency component of the magnetic field signal is analyzed for each clock cycle within a designated measurement time based on the clock signal and the magnetic field signal quantized by the quantizing means. A frequency analyzing means, and a class for classifying and evaluating a frequency component pattern of the magnetic field signal analyzed by the frequency analyzing means according to the similarity. A degree evaluation means, storage means for storing a frequency component pattern was evaluated by the similarity evaluating means sets a designated position in said detecting position moving means,
An electromagnetic interference wave measuring apparatus, comprising: a control means for setting a measurement time in the frequency analysis means.
を禁止することを特徴とする請求項1記載の電磁妨害波
測定装置。2. The electromagnetic interference wave measuring apparatus according to claim 1, wherein said frequency analysis unit prohibits generation of a frequency component pattern not including a designated frequency.
置で検知した磁界信号の類似度によるグループの発生順
序に基づいて、相関の高い周波数成分パターンを関連付
けて記憶することを特徴とする請求項1記載の電磁妨害
波測定装置。3. The storage means associates frequency component patterns with a high correlation with each other based on the order of generation of groups based on the similarity of magnetic field signals detected at at least two or more designated positions on the printed wiring board, and stores them. The electromagnetic interference wave measuring device according to claim 1, wherein:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13750298A JP3603143B2 (en) | 1998-05-01 | 1998-05-01 | Electromagnetic interference measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13750298A JP3603143B2 (en) | 1998-05-01 | 1998-05-01 | Electromagnetic interference measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11316253A true JPH11316253A (en) | 1999-11-16 |
JP3603143B2 JP3603143B2 (en) | 2004-12-22 |
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ID=15200174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13750298A Expired - Fee Related JP3603143B2 (en) | 1998-05-01 | 1998-05-01 | Electromagnetic interference measuring device |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP3603143B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006071428A (en) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Sony Corp | Method for specifying generation source of radio wave interference signal |
JPWO2014065032A1 (en) * | 2012-10-24 | 2016-09-08 | 日本電気株式会社 | Electromagnetic field feature classification presentation device |
-
1998
- 1998-05-01 JP JP13750298A patent/JP3603143B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006071428A (en) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Sony Corp | Method for specifying generation source of radio wave interference signal |
JPWO2014065032A1 (en) * | 2012-10-24 | 2016-09-08 | 日本電気株式会社 | Electromagnetic field feature classification presentation device |
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---|---|
JP3603143B2 (en) | 2004-12-22 |
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