JPH11281499A - Temperature detecting circuit - Google Patents

Temperature detecting circuit

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JPH11281499A
JPH11281499A JP8399098A JP8399098A JPH11281499A JP H11281499 A JPH11281499 A JP H11281499A JP 8399098 A JP8399098 A JP 8399098A JP 8399098 A JP8399098 A JP 8399098A JP H11281499 A JPH11281499 A JP H11281499A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reliably detect disconnection of a thermistor by holding end-to-end voltage of the thermistor as a sample in a temperature measuring mode, outputting sample hold voltage in a disconnection detecting mode, and comparing the end-to-end voltage of the thermistor with threshold value voltage. SOLUTION: A thermistor 20 having a negative temperature coefficient characteristic is connected to one pole of a DC power source, and a reference resistance 21 is connected to the other pole between it and the other end of the thermistor 20 so as to be switched. Next, end-to-end voltage of the thermistor 20 is sampled in the prescribed timing by a sample hold means 22 to be held up to the next sample time. Next, a comparing means 23 compares the end- to-end voltage of the thermistor 20 with predetermined threshold value voltage, and a latch means 24 latches output of the comparing means 23 in the prescribed timing. A command generating means 25 outputs a switching command and a sample command switched between a temperature measuring mode and a disconnection detecting mode in which a resistance value of a reference resistance 21 is a first/second resistance values.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は温度検出回路に係わ
り、特にサーミスタによる温度検出精度を維持するとと
もにサーミスタの断線を確実に検出することの可能な温
度検出回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature detection circuit, and more particularly to a temperature detection circuit capable of maintaining a temperature detection accuracy of a thermistor and reliably detecting a disconnection of the thermistor.

【0002】[0002]

【従来の技術】温度の変化に応じてその抵抗値が大きく
変化するサーミスタを使用して温度を計測する技術は周
知である。図1はサーミスタを使用した温度測定のため
の基本回路であって、サーミスタ10として温度の上昇
に応じてその抵抗値が減少するNTC(Negative Tempe
rature Coefficient)サ−ミスタを使用する。
2. Description of the Related Art A technique for measuring a temperature using a thermistor whose resistance value largely changes in accordance with a change in temperature is well known. FIG. 1 shows a basic circuit for temperature measurement using a thermistor. As a thermistor 10, an NTC (Negative Tempe) whose resistance decreases as the temperature rises.
rature Coefficient) Thermistor is used.

【0003】サーミスタ10の一端は基準抵抗11を介
して直流電源バスVCCに接続され、他の一端は接地され
ている。そして、基準抵抗11とサーミスタ10との接
続点の電位を例えばA/Dコンバータであるサンプル/
ホールド手段12によって計測することによりサーミス
タ10の抵抗値の変化、即ち温度を検出することが可能
となる。
One end of the thermistor 10 is connected to a DC power supply bus V CC via a reference resistor 11, and the other end is grounded. Then, the potential at the connection point between the reference resistor 11 and the thermistor 10 is set to, for example, a sample / A / D converter /
The measurement by the holding means 12 makes it possible to detect a change in the resistance value of the thermistor 10, that is, a temperature.

【0004】電気ヒータの発熱量制御において比較的高
温(例えば摂氏100度程度)の雰囲気を制御する場合
は、その温度範囲におけるサーミスタ10の抵抗値は数
KΩであるため基準抵抗11の抵抗値も数KΩに設定さ
れることが普通である。この場合、サーミスタ10自体
またはサーミスタ10への接続配線が断線したときおよ
び周囲温度が摂氏0度近傍にまで低下したときは、とも
にサーミスタ10両端の抵抗値はMΩのオーダまで増加
するため、断線状態と周囲温度が摂氏0度近傍にまで低
下した状態とを区別することは困難である。
When controlling the atmosphere of a relatively high temperature (for example, about 100 degrees Celsius) in controlling the amount of heat generated by the electric heater, the resistance of the thermistor 10 in the temperature range is several KΩ, so that the resistance of the reference resistor 11 is also small. Usually, it is set to several KΩ. In this case, when the thermistor 10 itself or the connection wiring to the thermistor 10 is disconnected, and when the ambient temperature is reduced to near 0 degrees Celsius, the resistance value at both ends of the thermistor 10 increases to the order of MΩ. It is difficult to distinguish between a state in which the ambient temperature has dropped to around 0 degrees Celsius.

【0005】このため、実際に断線が発生した状態で発
熱量制御を動作させると温度が上昇してもサーミスタ1
0の抵抗値は低下せず、電気ヒータによる加熱が継続さ
れるおそれがある。この課題を解決するために、サーミ
スタ10の両端の抵抗値が所定の閾値以上に増加した場
合に電気ヒータは断線したものとして電気ヒータへの通
電を中止するフェールセーフ機能を設けることが普通で
ある。
For this reason, if the heating value control is operated in a state where the disconnection actually occurs, even if the temperature rises, the thermistor 1
The resistance value of 0 does not decrease, and heating by the electric heater may be continued. In order to solve this problem, it is common to provide a fail-safe function in which when the resistance value at both ends of the thermistor 10 exceeds a predetermined threshold value, the electric heater is assumed to be disconnected and the energization to the electric heater is stopped. .

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、周囲温
度が摂氏零度近傍にまで低下したときもサーミスタ10
の両端の抵抗値はMΩのオーダに増加するため、フェー
ルセーフ機能が動作してしまうという課題が生じる。基
準抵抗11の抵抗値を1MΩ程度に設定すれば、断線状
態と周囲温度が摂氏零度近傍である状態とを区別するこ
とは可能となるが、この場合には常用温度範囲における
温度の検出分解能が低下し温度制御精度が悪化してしま
う。
However, even when the ambient temperature drops to near zero degrees Celsius, the thermistor 10 can be used.
The resistance value at both ends increases to the order of MΩ, which causes a problem that the fail-safe function operates. If the resistance value of the reference resistor 11 is set to about 1 MΩ, it is possible to distinguish between a disconnection state and a state in which the ambient temperature is near zero degrees Celsius. In this case, the detection resolution of the temperature in the normal temperature range is reduced. As a result, the temperature control accuracy deteriorates.

【0007】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
って、温度検出精度を維持するとともにサーミスタの断
線を確実に検出することの可能な温度検出回路を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above problems, and has as its object to provide a temperature detection circuit that can maintain the temperature detection accuracy and can reliably detect a disconnection of a thermistor.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】図2は本発明に係る温度
検出回路の基本構成図であって、直流電源の一方の極に
その一端が接続される負温度係数特性を有するサーミス
タ20と、直流電源の他方の極にその一端が接続されと
サーミスタ20の他の一端との間に接続されその抵抗値
を第1の抵抗値と第1の抵抗値より大きい第2の抵抗値
との間で切替可能な基準抵抗21と、サーミスタ20の
両端の電圧を所定のタイミングでサンプルし次のサンプ
ル時までホールドするサンプル/ホールド手段22と、
サーミスタ20の両端の電圧を予め定められた閾値電圧
と比較する比較手段23と、比較手段23の出力を所定
のタイミングでラッチするラッチ手段24と、基準抵抗
21の抵抗値が第1の抵抗値である温度測定モードと基
準抵抗21の抵抗値が第2の抵抗値である断線検出モー
ドとの間で切替える切替指令、温度測定モード期間中に
サンプル/ホールド手段24に対してサンプル指令、な
らびに断線検出モード期間中にラッチ手段26にラッチ
指令を出力する指令発生手段27と、を具備する。
FIG. 2 is a diagram showing a basic configuration of a temperature detecting circuit according to the present invention, wherein a thermistor 20 having one end connected to one pole of a DC power supply and having a negative temperature coefficient characteristic; One end is connected to the other pole of the DC power supply, and is connected between the other end of the thermistor 20 and the resistance between the first resistance and a second resistance larger than the first resistance. And a sample / hold means 22 for sampling the voltage across the thermistor 20 at a predetermined timing and holding the voltage until the next sampling,
Comparing means 23 for comparing the voltage between both ends of the thermistor 20 with a predetermined threshold voltage, latch means 24 for latching the output of the comparing means 23 at a predetermined timing, and a resistance value of the reference resistor 21 being a first resistance value , And a switching command for switching between the disconnection detection mode in which the resistance value of the reference resistor 21 is the second resistance value, a sample command to the sample / hold means 24 during the temperature measurement mode, and a disconnection. Command generation means 27 for outputting a latch command to the latch means 26 during the detection mode period.

【0009】本発明に係る温度検出回路にあっては、温
度測定モードにおいてサーミスタ両端の電圧がサンプル
ホールドされ、断線検出モードにおいてサンプルホール
ドされた電圧を出力するともにサーミスタ両端の電圧と
閾値電圧とを比較してサーミスタの断線を検出する。
In the temperature detection circuit according to the present invention, the voltage across the thermistor is sampled and held in the temperature measurement mode, the sampled and held voltage is output in the disconnection detection mode, and the voltage across the thermistor and the threshold voltage are compared. The disconnection of the thermistor is detected by comparison.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】図3は、本発明に係る温度検出回
路が適用される磁気印写装置の基本構成図である。磁気
ドラム1を矢印11の方向に高速回転し、磁気ヘッド2
を磁気ドラム1の回転軸に沿って移動させると、磁気ヘ
ッド3は磁気ドラム1上を円周方向に主走査し、回転軸
方向に副走査することとなる。従って、主走査および副
走査に応じて磁気ヘッドに記録信号を供給すると磁気ド
ラム1上に磁気潜像が記録される。
FIG. 3 is a basic configuration diagram of a magnetic printing apparatus to which a temperature detecting circuit according to the present invention is applied. The magnetic drum 1 is rotated at a high speed in the direction of arrow 11 and the magnetic head 2 is rotated.
Is moved along the rotation axis of the magnetic drum 1, the magnetic head 3 performs main scanning in the circumferential direction on the magnetic drum 1 and performs sub-scanning in the rotation axis direction. Therefore, when a recording signal is supplied to the magnetic head in accordance with the main scanning and the sub-scanning, a magnetic latent image is recorded on the magnetic drum 1.

【0011】記録終了後磁気ヘッド2を待機位置に移動
させるとともに、磁気ドラム1を低速回転させて磁気潜
像を現像器3により現像すると、磁気トナーが磁気ドラ
ム1上に吸着される。記録紙4が高電圧の印加された転
写ローラ5と磁気ドラムとに挟まれて搬送されると、磁
気ドラム1上の磁気トナーは静電気により記録紙4に転
写される。そして記録紙4に転写された磁気トナー像は
定着ローラ61および62によって定着される。
After the recording is completed, the magnetic head 2 is moved to the standby position, and the magnetic drum 1 is rotated at a low speed to develop the magnetic latent image by the developing device 3, so that the magnetic toner is attracted onto the magnetic drum 1. When the recording paper 4 is transported between the transfer roller 5 to which a high voltage is applied and the magnetic drum, the magnetic toner on the magnetic drum 1 is transferred to the recording paper 4 by static electricity. Then, the magnetic toner image transferred to the recording paper 4 is fixed by fixing rollers 61 and 62.

【0012】磁気ドラム1上の余剰の磁気トナーはクリ
ーナー装置71、72により磁気ドラム1から除去され
る。上記の現像、給紙、転写および定着プロセスを繰り
返すことにより、複数枚の複写を高速に作成することが
可能となる。新たな磁気潜像を記録するときには、前も
って消去ヘッド8により磁気ドラム上の潜像を消去す
る。
Excess magnetic toner on the magnetic drum 1 is removed from the magnetic drum 1 by cleaner devices 71 and 72. By repeating the above-described developing, feeding, transferring, and fixing processes, it is possible to make a plurality of copies at high speed. When recording a new magnetic latent image, the latent image on the magnetic drum is erased by the erasing head 8 in advance.

【0013】現像器3は磁気トナー31、矢印の方向に
回転するスリーブ32、スリーブ32中に固定配置され
た現像マグネット33、磁気トナー31の高さを規定す
る規定板35および以上を収納するハウジング36から
構成される。なお、現像マグネット33中に記載された
1 、S1 、N2 、S2 は現像マグネット33の極性を
表す。
The developing unit 3 includes a magnetic toner 31, a sleeve 32 rotating in the direction of the arrow, a developing magnet 33 fixedly arranged in the sleeve 32, a regulating plate 35 for regulating the height of the magnetic toner 31, and a housing for accommodating the above. 36. Note that N 1 , S 1 , N 2 , and S 2 described in the developing magnet 33 represent the polarity of the developing magnet 33.

【0014】図4は定着ローラ周辺の詳細図であって、
記録紙4は搬送ベルト20によって搬送され、通紙ガイ
ド72および74によって加熱ローラ61と加圧ローラ
62の間に導かれ、磁気トナーは記録紙4に定着され
る。定着の完了した記録紙4は剥離爪28によって剥離
され、通紙ガイド76および78ならびに紙センサ80
を介して排紙ローラ30によって排出される。離型材塗
布装置84は加熱ローラ61に接して配置され、加熱ロ
ーラ61からの記録紙4の剥離を促進するために加熱ロ
ーラ61に離型材に塗布する。
FIG. 4 is a detailed view around the fixing roller.
The recording paper 4 is conveyed by the conveyance belt 20, guided between the heating roller 61 and the pressure roller 62 by the paper passing guides 72 and 74, and the magnetic toner is fixed on the recording paper 4. The recording paper 4 on which the fixing is completed is peeled off by the peeling claw 28, and the paper passing guides 76 and 78 and the paper sensor 80
And is discharged by the paper discharge roller 30 via the The release material application device 84 is disposed in contact with the heating roller 61, and applies the release material to the heating roller 61 in order to promote the separation of the recording paper 4 from the heating roller 61.

【0015】確実に定着を行うために加熱ローラ61は
加熱ローラ61の回転軸に沿って加熱ヒータ23が設置
されている。そして、加熱ローラ61の表面温度を一定
に制御するために、加熱ローラ61に接して温度センサ
82が設置されている。なお、本実施例において温度セ
ンサ82は通紙ガイド72に取り付けられているが、加
熱部22のローラ側板(図示せず)等加熱ローラ61に
対して相対的に位置が固定されている位置であって、記
録紙4の移動を阻害しない他の位置に取り付けることも
可能である。
The heating roller 61 is provided with a heater 23 along the rotation axis of the heating roller 61 in order to reliably perform fixing. In order to control the surface temperature of the heating roller 61 to be constant, a temperature sensor 82 is provided in contact with the heating roller 61. In this embodiment, the temperature sensor 82 is attached to the paper passing guide 72, but at a position where the position is fixed relative to the heating roller 61 such as a roller side plate (not shown) of the heating unit 22. Therefore, the recording paper 4 can be attached to another position that does not hinder the movement.

【0016】また、紙センサ80は剥離爪28の下流側
に配置されており、通紙ガイド76および78の間の記
録紙4の移動を検出する。本実施例においては機械的に
記録紙4の移動を検出するセンサを使用しているが、透
過型あるいは反射型光センサを使用することも可能であ
る。温度センサ82はサーミスタを適用したものであっ
て、その出力信号は本発明に係る温度検出回路25に導
かれる。温度検出回路25の出力は制御部26に導か
れ、制御部26はソリッドステートスイッチSSR21
を介して加熱ローラ61の中心に差し込まれた加熱ヒー
タ23に供給される電力を制御する。
A paper sensor 80 is arranged downstream of the peeling claw 28 and detects the movement of the recording paper 4 between the paper passing guides 76 and 78. In the present embodiment, a sensor for mechanically detecting the movement of the recording paper 4 is used, but a transmission type or reflection type optical sensor may be used. The temperature sensor 82 employs a thermistor, and its output signal is guided to the temperature detection circuit 25 according to the present invention. The output of the temperature detection circuit 25 is guided to a control unit 26, which controls the solid state switch SSR21.
To control the electric power supplied to the heater 23 inserted into the center of the heating roller 61 via the.

【0017】図5は、上記磁気印写装置で使用される本
発明に係る温度検出回路の回路図であって、サーミスタ
Sの一端はスイッチング素子Qおよび第1の基準抵抗R
1 の直列接続を介して直流バスVCCに接続され、他の一
端は接地されている。さらに、スイッチング素子Qおよ
び第1の基準抵抗R1 と並列に第2の基準抵抗R2 が接
続されている。
FIG. 5 is a circuit diagram of a temperature detecting circuit according to the present invention used in the magnetic printing apparatus. One end of the thermistor S has a switching element Q and a first reference resistor R.
It is connected to the DC bus V CC via one series connection, and the other end is grounded. Furthermore, the second reference resistance R 2 is connected in parallel with the reference resistor R 1 of the switching element Q and the first.

【0018】ここで第1の基準抵抗R1 はサーミスタS
を使用しての温度測定のために使用される基準抵抗であ
って、数KΩから数十KΩの比較的低抵抗値とする。こ
れに対し第2の基準抵抗R2 はサーミスタSの断線検出
のために使用される基準抵抗であって、1MΩ以上の比
較的高抵抗値とする。第1の基準抵抗R1 および第2の
基準抵抗R2 とサーミスタSとの接続点は第1の演算増
幅器A1 の非反転入力端子に接続される。第1の演算増
幅器A1 はいわゆるボルテージフォロアを構成するた
め、その出力は反転入力端子に直接フィードバックされ
る。
Here, the first reference resistor R 1 is a thermistor S
Is a reference resistance used for temperature measurement by using a relatively low resistance value of several KΩ to several tens KΩ. On the other hand, the second reference resistor R 2 is a reference resistor used for detecting disconnection of the thermistor S, and has a relatively high resistance value of 1 MΩ or more. The connection points between the first reference resistor R 1 and the second reference resistor R 2 and the thermistor S are connected to the non-inverting input terminal of the first operational amplifier A 1 . Since the first operational amplifier A 1 is that a so-called voltage follower, the output is directly fed back to the inverting input terminal.

【0019】第1の演算増幅器A1 の出力は2つに分岐
し、一方はサンプラSWを介して第2の演算増幅器A2
の非反転入力端子に接続される。なお、非反転入力端子
はホールト用コンデンサCを介して接地されている。ま
た、第2の演算増幅器A2 もボルテージフォロアを構成
するため、サーミスタSにより検出された温度に比例す
るその出力は反転入力端子に直接フィードバックされ
る。
The output of the first operational amplifier A 1 branches into two, one of which is connected via a sampler SW to the second operational amplifier A 2.
Is connected to the non-inverting input terminal. The non-inverting input terminal is grounded via the halt capacitor C. Further, since the second operational amplifier A 2 also constitutes a voltage follower, the output proportional to the temperature detected by the thermistor S is directly fed back to the inverting input terminal.

【0020】第1の演算増幅器A1 の他の一方の出力は
コンパレータを構成する第3の演算増幅器A3 の非反転
入力端子に接続される。第3の演算増幅器A3 の反転入
力端子には基準電圧源Vref が接続される。第3の演算
増幅器A3 の出力は第3の抵抗R3 、第4の抵抗R4
第1のダイオードD1 および第2のダイオードD2 を介
して単安定フリップフロップFFのデータ入力端子に接
続される。
The other output of the first operational amplifier A 1 is connected to a non-inverting input terminal of a third operational amplifier A 3 constituting a comparator. A reference voltage source V ref is connected to a third inverting input terminal of the operational amplifier A 3. The output of the third operational amplifier A 3 is a third resistor R 3 , a fourth resistor R 4 ,
It is connected to a data input terminal of a monostable flip-flop FF via a first diode D 1 and a second diode D 2 .

【0021】なお、第3の抵抗R3 、第4の抵抗R4
第1のダイオードD1 および第2のダイオードD2 は第
3の演算増幅器A3 の出力レベルと単安定フリップフロ
ップFFの入力レベルを一致させるためのものである。
そして、スイッチング素子Q、サンプラSWおよび単安
定フリップフロップFFは制御信号発生部Gから出力さ
れる制御信号によって制御される。
Note that the third resistor R 3 , the fourth resistor R 4 ,
The first diode D 1 and the second diode D 2 are for matching the output level of the third operational amplifier A 3 with the input level of the monostable flip-flop FF.
The switching element Q, the sampler SW, and the monostable flip-flop FF are controlled by a control signal output from the control signal generator G.

【0022】図6は本発明に係る温度検出回路のタイミ
ング図であって、上から順に制御信号発生部Gから出力
される第1の制御信号MODE、第1の演算増幅器A1
の非反転入力端子電圧V1 、制御信号発生部Gから出力
される第2の制御信号SMPL、第2の演算増幅器A2
の非反転入力端子電圧V2 、単安定フリップフロップF
Fのデータ入力端子電圧V4 、制御信号発生部Gから出
力される第3の制御信号LATCHおよび単安定フリッ
プフロップFFの出力電圧ALMを表す。
FIG. 6 is a timing chart of the temperature detection circuit according to the present invention, in which the first control signal MODE output from the control signal generator G and the first operational amplifier A 1 in order from the top.
The non-inverting input terminal voltage V 1, the second control signal SMPL output from the control signal generator G, the second operational amplifier A 2 of
Non-inverting input terminal voltage V 2 , monostable flip-flop F
F represents the data input terminal voltage V 4 of the F, the third control signal LATCH output from the control signal generator G, and the output voltage ALM of the monostable flip-flop FF.

【0023】第1の制御信号MODEは所定の期間ごと
に高・低を繰り返すパルスであり、MODEが高となっ
てスイッチング素子Qがオフとなると、サーミスタSと
第2の抵抗R2 とが直列接続された断線検出モードとな
る。逆にMODEが低となってスイッチング素子Qがオ
ンとなると、サーミスタSと第1の抵抗R1 とが直列接
続された温度測定モードとなる。なお、第1の抵抗R1
の抵抗値<<第2の抵抗R2 の抵抗値であるので、温度
測定モードでは第2の抵抗R2 の影響は無視できる。
The first control signal MODE is a pulse that alternates between high and low at predetermined intervals. When MODE becomes high and the switching element Q is turned off, the thermistor S and the second resistor R 2 are connected in series. The connected disconnection detection mode is set. When the switching element Q is turned in the opposite MODE becomes low, the thermistor S and the temperature measuring mode in which the first resistor R 1 are connected in series. Note that the first resistor R 1
Since a resistance value << second resistance value of the resistor R 2, a temperature measuring mode the effect of the second resistor R 2 is negligible.

【0024】制御信号発生部Gから出力される第1の制
御信号MODEが低であるときに、即ち温度測定モード
であり第1の演算増幅器V1 が安定した後、制御信号発
生部Gは第2の制御信号SMPLを出力する。このSM
PLが高であるときにサンプラSWは閉となり、第1の
演算増幅器A1 の出力、即ち、サーミスタSの両端の電
圧がコンデンサCに保持される。
When the first control signal MODE output from the control signal generator G is low, that is, after the temperature is in the temperature measurement mode and the first operational amplifier V 1 is stabilized, the control signal generator G is turned on. 2 is output. This SM
When PL is high, the sampler SW is closed, and the output of the first operational amplifier A1, that is, the voltage across the thermistor S, is held in the capacitor C.

【0025】制御信号発生部Gから出力される第1の制
御信号MODEが高である間、即ち断線検出モードであ
る間は、サンプラSWは開となりコンデンサCに保持さ
れた電圧がサーミスタSによって測定された温度信号T
EMPとして出力される。さらに断線検出モードである
間に、制御信号発生部Gからは第3の制御信号LATC
Hが出力される。このLATCHは単安定フリップフロ
ップFFのクロック端子に導かれ、単安定フリップフロ
ップFFはLATCHが高となったときのデータ入力端
子電圧V4 をラッチする。
While the first control signal MODE output from the control signal generator G is high, that is, in the disconnection detection mode, the sampler SW is opened and the voltage held in the capacitor C is measured by the thermistor S. Temperature signal T
Output as EMP. Further, during the disconnection detection mode, the third control signal LATC is output from the control signal generator G.
H is output. The LATCH is led to the clock terminal of the monostable flip-flop FF, the monostable flip-flop FF latches data input terminal voltage V 4 when the LATCH becomes high.

【0026】基準電圧源Vref の電圧は直流バスVCC
電圧よりわずかに低い電圧に設定されており、サーミス
タSが正常であるときには断線検出モードであっても第
1の演算増幅器A1 の出力電圧V1 は基準電圧源Vref
以下となる。従って、サーミスタSが正常である限りコ
ンパレータを構成する第3の演算増幅器A3 の出力は負
の電源電圧近傍の電圧に維持され、単安定フリップフロ
ップFFの出力ALMは論理 "0" に維持される。
The voltage of the reference voltage source V ref is set to a slightly lower voltage than the voltage of the DC bus V CC, the operational amplifier A 1 be a disconnection detection mode first when the thermistor S is normal output voltages V 1 is the reference voltage source V ref
It is as follows. Therefore, as long as the thermistor S is normal, the output of the third operational amplifier A3 constituting the comparator is maintained at a voltage near the negative power supply voltage, and the output ALM of the monostable flip-flop FF is maintained at logic "0". You.

【0027】サーミスタSに断線が発生したときには、
第1の演算増幅器A1 の出力電圧V 1 は基準電圧源V
ref 以上となり第3の演算増幅器A3 の出力は正の電源
電圧近傍の電圧に反転する。従って、サーミスタSに断
線が発生した後に断線検出モードに移行してLATCH
が出力されると、単安定フリップフロップFFの出力A
LMは論理 "1" となり、サーミスタSが断線したこと
を出力する。
When a disconnection occurs in the thermistor S,
First operational amplifier A1Output voltage V 1Is the reference voltage source V
refThus, the third operational amplifier AThreeThe output of the positive power supply
Invert to a voltage near the voltage. Therefore, thermistor S is turned off.
After a line is generated, the mode shifts to the disconnection detection mode and LATCH
Is output, the output A of the monostable flip-flop FF is output.
LM becomes logic "1" and thermistor S is disconnected.
Is output.

【0028】なお、コンデンサCに保持された電荷はホ
ールド期間中に漏洩するため、次回の温度測定モードに
おいてサンプリングしたときには第2の演算増幅器A2
の出力がドループ電圧だけ急上昇する現象が発生する。
しかし、この現象は温度測定モードと断線検出モードと
の切替間隔と回路定数を適当に設定することにより無視
できる程度に小さくすることができる。
Since the electric charge held in the capacitor C leaks during the hold period, when sampling is performed in the next temperature measurement mode, the second operational amplifier A 2
A phenomenon occurs in which the output of the device rapidly rises by the droop voltage.
However, this phenomenon can be reduced to a negligible level by appropriately setting the switching interval and the circuit constant between the temperature measurement mode and the disconnection detection mode.

【0029】図7は単安定フリップフロップFF周りの
構成の変更例であって、図2の回路はサーミスタSの断
線が検出された後に断線が検出されなくなった場合に出
力ALMもリセットされる点を解決するものであって、
いったんサーミスタSの断線が検出されたときは断線が
検出されなくなっても出力ALMを出力し続ける。即
ち、単安定フリップフロップFFの出力である出力AL
MをアンドゲートANDの反転入力端子にフィードバッ
クする。アンドゲートANDの非反転入力端子には制御
信号発生部Gから出力される第3の制御信号LATCH
を接続する。そして、アンドゲートANDの出力によっ
て単安定フリップフロップFFを制御する。
FIG. 7 shows a modification of the configuration around the monostable flip-flop FF. The circuit of FIG. 2 is such that the output ALM is also reset when the disconnection is not detected after the thermistor S is detected. Which solves
Once the disconnection of the thermistor S is detected, the output ALM continues to be output even if the disconnection is no longer detected. That is, the output AL which is the output of the monostable flip-flop FF
M is fed back to the inverting input terminal of the AND gate AND. A non-inverting input terminal of the AND gate AND has a third control signal LATCH output from the control signal generator G.
Connect. Then, the monostable flip-flop FF is controlled by the output of the AND gate AND.

【0030】この構成によれば、単安定フリップフロッ
プFFの出力ALMが論理 "0" である限り、即ちサー
ミスタSの断線が検出されない限り単安定フリップフロ
ップFFは第3の制御信号LATCHによって制御され
る。そしていったんサーミスタSの断線が検出がされ、
単安定フリップフロップFFの出力ALMが論理 "1"
に反転すると第3の制御信号LATCHはアンドゲート
ANDによって阻止されるため、その後サーミスタSの
断線が検出されなくなっても単安定フリップフロップF
Fの出力ALMは論理 "1" を維持し続ける。
According to this configuration, the monostable flip-flop FF is controlled by the third control signal LATCH as long as the output ALM of the monostable flip-flop FF is logic "0", that is, unless the disconnection of the thermistor S is detected. You. Then, once the disconnection of the thermistor S is detected,
Output ALM of monostable flip-flop FF is logic "1"
, The third control signal LATCH is blocked by the AND gate AND, so that even if the disconnection of the thermistor S is no longer detected, the monostable flip-flop F
The output ALM of F keeps logic "1".

【0031】この実施例によれば、サーミスタSを接続
するコネクタの接触不良等断線および断線からの復帰が
繰り返し検出される場合の不安定な動作を確実に防止で
きる。上記実施例においてはサンプラSWならびにコン
デンサCおよび第2の演算増幅器A2 によって構成され
るサンプル/ホールド回路によってサンプル/ホールド
手段を実施しているが、第1の演算増幅器A1 の出力を
直接A/Dコンバータに導き、制御信号発生部Gから出
力される第2の制御信号SMPLによってA/Dコンバ
ータを動作させ、A/Dコンバータ自体をサンプル/ホ
ールド手段として使用することによりサンプル/ホール
ド回路を省略することも可能である。
According to this embodiment, unstable operation can be reliably prevented when disconnection such as poor contact of the connector to which the thermistor S is connected and return from disconnection are repeatedly detected. While performing sample / hold means by configured sample / hold circuit by a sampler SW and a capacitor C and a second operational amplifier A 2 in the above embodiment, the first output of the operational amplifier A 1 directly A The A / D converter is operated by the second control signal SMPL output from the control signal generator G, and the A / D converter itself is used as a sample / hold means, thereby forming a sample / hold circuit. It can be omitted.

【0032】さらに、上記実施例においてはスイッチン
グ素子QとしてFETを使用しているが、アナログスイ
ッチあるいはトランジスタ等他のスイッチング素子を使
用することも可能である。また、上記実施例のサンプル
/ホールド回路に代えてトラック/ホールド回路を使用
すれば、第1の制御信号MODEのパルス波形を温度計
測モード期間を長く、断線検出モード期間が短くなるよ
うに設定することにより、断線検出のための温度ホール
ド時間を短くすることも可能である。
Further, in the above embodiment, an FET is used as the switching element Q. However, other switching elements such as an analog switch or a transistor can be used. Also, if a track / hold circuit is used instead of the sample / hold circuit of the above embodiment, the pulse waveform of the first control signal MODE is set so that the temperature measurement mode period is longer and the disconnection detection mode period is shorter. Thus, the temperature hold time for disconnection detection can be shortened.

【0033】なお、上記実施例では温度測定モードにお
いて第1の基準抵抗R1 と第2の基準抵抗R2 とが並列
接続されることとしているが、第2の基準抵抗を切り離
すようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the first reference resistor R 1 and the second reference resistor R 2 are connected in parallel in the temperature measurement mode. However, the second reference resistor may be disconnected. Good.

【0034】[0034]

【発明の効果】本発明に係る温度検出回路によれば、温
度測定モードにおいてサーミスタによる正確な温度測定
が可能となり、断線検出モードにおいてサーミスタ自体
およびその周辺の配線の断線を確実に検出することが可
能となる。
According to the temperature detecting circuit of the present invention, accurate temperature measurement by the thermistor can be performed in the temperature measuring mode, and the disconnection of the thermistor itself and its peripheral wiring can be reliably detected in the disconnection detecting mode. It becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】サーミスタを使用した温度測定のための基本回
路である。
FIG. 1 is a basic circuit for temperature measurement using a thermistor.

【図2】本発明に係る温度検出回路の基本構成図であ
る。
FIG. 2 is a basic configuration diagram of a temperature detection circuit according to the present invention.

【図3】磁気印写装置の基本構成図である。FIG. 3 is a basic configuration diagram of a magnetic printing apparatus.

【図4】定着ローラ周辺の詳細図である。FIG. 4 is a detailed view around a fixing roller.

【図5】本発明に係る温度検出回路の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of a temperature detection circuit according to the present invention.

【図6】本発明に係る温度検出回路のタイミング図であ
る。
FIG. 6 is a timing chart of the temperature detection circuit according to the present invention.

【図7】単安定フリップフロップ周りの構成の変更例で
ある。
FIG. 7 is a modified example of a configuration around a monostable flip-flop.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

S…サーミスタ Q…スイッチング素子 R1 …第1の基準抵抗 R2 …第2の基準抵抗 A1 …第1の演算増幅器 A2 …第2の演算増幅器 A3 …第3の演算増幅器 SW…サンプラ C…コンデンサ Vref …基準電圧 FF…単安定フリップフロップ G…制御信号発生部S: Thermistor Q: Switching element R 1 : First reference resistor R 2 : Second reference resistor A 1 : First operational amplifier A 2 : Second operational amplifier A 3 ... Third operational amplifier SW: Sampler C: capacitor Vref : reference voltage FF: monostable flip-flop G: control signal generator

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 直流電源の一方の極にその一端が接続さ
れる負温度係数を有するサーミスタと、 前記直流電源の他の一方の極と前記サーミスタの他の一
端との間に接続され、その抵抗値を第1の抵抗値と第1
の抵抗値より大きい第2の抵抗値との間で切替可能な基
準抵抗と、 前記サーミスタの両端の電圧を所定のタイミングでサン
プルし、次のサンプル時までホールドするサンプル/ホ
ールド手段と、 前記サーミスタの電圧を予め定められた閾値電圧と比較
する比較手段と、 前記比較手段の出力を所定のタイミングでラッチするラ
ッチ手段と、 前記基準抵抗の抵抗値が第1の抵抗値である、温度測定
モードと第2の抵抗値である断線検出モードとの間で切
替える切替指令、温度測定モード期間中に前記サンプル
/ホールド手段に対してサンプル指令、ならびに断線検
出モード期間中に前記ラッチ手段にラッチ指令を出力す
る指令発生手段と、を具備する温度検出回路。
1. A thermistor having a negative temperature coefficient, one end of which is connected to one pole of a DC power supply; and a thermistor connected between one other pole of the DC power supply and another end of the thermistor; The resistance value is set to the first resistance value and the first resistance value.
A reference resistance switchable between a second resistance value larger than the first resistance value, a sample / hold means for sampling a voltage between both ends of the thermistor at a predetermined timing, and holding the voltage until the next sampling time; Comparing means for comparing the voltage with a predetermined threshold voltage; latch means for latching the output of the comparing means at a predetermined timing; and a temperature measurement mode in which the resistance value of the reference resistor is a first resistance value. And a switching command for switching between a disconnection detection mode as a second resistance value, a sample command to the sample / hold means during the temperature measurement mode, and a latch command to the latch means during the disconnection detection mode. A temperature detection circuit comprising: a command generation unit that outputs the command.
【請求項2】 一方の端子が接地される負温度係数特性
を有するサーミスタと、 直流電源の正極と前記サーミスタの他の一方の端子との
間に配置されるスイッチング素子と第1の基準抵抗との
直列接続と、 前記直列接続と並列に配置される前記第1の基準抵抗の
抵抗値より大きい抵抗値を有する第2の基準抵抗と、 前記サーミスタの両端の電圧を検出する電圧検出手段
と、 前記電圧検出手段の出力電圧を所定のタイミングでサン
プルし、次のサンプル時までホールドするサンプル/ホ
ールド手段と、 前記電圧検出手段の出力電圧を予め定められた閾値電圧
と比較する比較手段と、 前記比較手段の出力を所定のタイミングでラッチするラ
ッチ手段と、 前記スイッチング素子がオン状態である温度測定モード
と、前記スイッチング素子がオフ状態である断線検出モ
ードとの間で切替える切替指令、温度測定モード期間中
に前記サンプル/ホールド手段に対してサンプル指令、
ならびに断線検出モード期間中に前記ラッチ手段にラッ
チ指令を出力する指令発生手段と、を具備する温度検出
回路。
2. A thermistor having a negative temperature coefficient characteristic in which one terminal is grounded; a switching element disposed between a positive electrode of a DC power supply and another terminal of the thermistor; A second reference resistor having a resistance value greater than a resistance value of the first reference resistor disposed in parallel with the series connection; and a voltage detection unit for detecting a voltage across the thermistor; Sample / hold means for sampling the output voltage of the voltage detection means at a predetermined timing and holding until the next sampling time; comparison means for comparing the output voltage of the voltage detection means with a predetermined threshold voltage; Latch means for latching the output of the comparison means at a predetermined timing; temperature measurement mode in which the switching element is on; and switching off of the switching element. Switching command to switch between a state in which disconnection detection mode, a sample command to said sample / hold means in the temperature measuring mode period,
And a command generation means for outputting a latch command to the latch means during a disconnection detection mode period.
【請求項3】 直流電源の一方の極にその一端が接続さ
れる負温度係数特性を有するサーミスタと、 前記直流電源の他方の極にその一端が接続される第1の
基準抵抗と、 前記直流電源の他方の極にその一端が接続され、前記第
1の基準抵抗の抵抗値より大きい抵抗値を有する第2の
基準抵抗と、 前記サーミスタの他の一端を前記第1の基準抵抗の他の
一端または前記第2の基準抵抗の他の一端に選択的に接
続する切替手段と、 前記サーミスタの両端の電圧を所定のタイミングでサン
プルし、次のサンプル時までホールドするサンプル/ホ
ールド手段と、 前記サーミスタの両端の電圧を予め定められた閾値電圧
と比較する比較手段と、 前記比較手段の出力を所定のタイミングでラッチするラ
ッチ手段と、 前記切替手段を前記サーミスタと前記第1の基準抵抗と
が接続される温度測定モードと、前記サーミスタと前記
第2の基準抵抗とが接続される断線検出モードとの間で
切替える切替指令、温度測定モード期間中に前記サンプ
ル/ホールド手段に対してサンプル指令、ならびに断線
検出モード期間中に前記ラッチ手段にラッチ指令を出力
する指令発生手段と、を具備する温度検出回路。
3. A thermistor having one end connected to one pole of a DC power supply and having a negative temperature coefficient characteristic; a first reference resistor having one end connected to the other pole of the DC power supply; A second reference resistor having one end connected to the other pole of the power supply and having a resistance value larger than the resistance value of the first reference resistor; and the other end of the thermistor connected to the other end of the first reference resistor. A switching unit selectively connected to one end or the other end of the second reference resistor; a sample / hold unit that samples a voltage between both ends of the thermistor at a predetermined timing and holds the voltage until the next sampling time; Comparing means for comparing the voltage between both ends of the thermistor with a predetermined threshold voltage; latch means for latching an output of the comparing means at a predetermined timing; A switching command for switching between a temperature measurement mode in which a first reference resistor is connected and a disconnection detection mode in which the thermistor and the second reference resistor are connected; and the sample / hold during the temperature measurement mode And a command generation means for outputting a latch command to the latch means during a disconnection detection mode.
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