JPH11278983A - Cutting of crystal - Google Patents
Cutting of crystalInfo
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- JPH11278983A JPH11278983A JP10026398A JP10026398A JPH11278983A JP H11278983 A JPH11278983 A JP H11278983A JP 10026398 A JP10026398 A JP 10026398A JP 10026398 A JP10026398 A JP 10026398A JP H11278983 A JPH11278983 A JP H11278983A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、CZ法により製造
されるシリコン等の単結晶から製品を採取するために用
いられる結晶切断方法に関する。The present invention relates to a crystal cutting method used for collecting a product from a single crystal such as silicon produced by the CZ method.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体デバイスの素材として使用される
シリコン単結晶は、工業的には主にCZ法により製造さ
れる。CZ法とは、周知の如く、石英坩堝内に収容され
たシリコンの原料融液に種結晶を漬け、種結晶及び石英
坩堝を逆方向に回転させながら種結晶を引き上げること
により、種結晶の下にシリコンの単結晶を育成する方法
である。2. Description of the Related Art A silicon single crystal used as a material of a semiconductor device is industrially manufactured mainly by a CZ method. The CZ method is, as is well known, a method in which a seed crystal is immersed in a silicon raw material melt contained in a quartz crucible, and the seed crystal is pulled up while rotating the seed crystal and the quartz crucible in opposite directions. In this method, a single crystal of silicon is grown.
【0003】ところで、シリコン単結晶の品質として
は、比抵抗及び酸素濃度が重要である。このため、ユー
ザー側からのこれら特性に対する要望は非常に細かく且
つ厳しいものになっており、このため、メーカー側で製
造する製品の種類は非常に多岐に及んでいる。そして、
メーカー側では、受注状況に応じ、要求品質を満足する
品種(狙い品種)の製品を、複数の引き上げ炉を使用し
て工業的に製造している。これが単結晶の基本的な量産
状況である。Incidentally, specific resistance and oxygen concentration are important as the quality of a silicon single crystal. For this reason, demands for these characteristics from the user side are very fine and severe, and therefore, the types of products manufactured by the manufacturers are extremely diverse. And
On the manufacturer side, products of the type that satisfies the required quality (target type) are manufactured industrially using multiple pulling furnaces according to the order status. This is the basic situation of mass production of single crystals.
【0004】しかしながら、ユーザー側が要求する品質
の製品を経済的に製造することは、非常に困難な技術で
ある。なぜなら、育成された1本の単結晶のなかで要求
品質を満たす部分が少なく、その要求品質を満たさない
多くの部分がロス(経済価値の少ない溶解原料)として
処理されため、製品採取における歩留りが非常に低いか
らである。[0004] However, it is a very difficult technology to economically produce a product of the quality required by the user. This is because, in a single grown single crystal, few parts satisfy the required quality, and many parts that do not meet the required quality are treated as loss (dissolved raw material with low economic value), so that the yield in product extraction is low. Because it is very low.
【0005】すなわち、CZ法を用いたシリコン単結晶
の製造では、図1(a)又は図1(b)に示すように、
引き上げの進行に伴うドーピング元素の偏析により、育
成された単結晶の比抵抗が引き上げ軸方向において変化
する。また、引き上げの進行に伴う融液量の減少等によ
り、単結晶の酸素濃度も引き上げ軸方向において変化す
る。これらのため、比抵抗及び酸素濃度の両方について
要求品質を満足する部分(狙い品種の部分)は非常に少
なく、通常は50%前後である。That is, in the production of a silicon single crystal using the CZ method, as shown in FIG. 1A or FIG.
Due to the segregation of the doping element as the pulling proceeds, the specific resistance of the grown single crystal changes in the pulling axis direction. In addition, the oxygen concentration of the single crystal also changes in the pulling axis direction due to a decrease in the amount of the melt as the pulling proceeds. For these reasons, there are very few parts (target parts) that satisfy the required quality in both the specific resistance and the oxygen concentration, and usually about 50%.
【0006】この問題を解決するために、例えば育成さ
れた1本の単結晶から、要求品質が異なる複数種類の製
品を採取することが考えられている。即ち、製品の要求
品質が多種多様なことを利用して、1本の単結晶を複数
種類の製品に振り分けるのである。そして、この振り分
けを、出願人は以下のようにして行っていた。In order to solve this problem, for example, it has been considered to collect a plurality of types of products having different required qualities from one grown single crystal. That is, one single crystal is distributed to a plurality of types of products by utilizing the variety of required quality of products. Then, the applicant has made this distribution as follows.
【0007】図5に示すように、育成された単結晶40
の両端の形状不良部を切断除去する。残った形状健全部
を所定長さ(例えば200mm)のブロック41,42
・・に等分切断する。各切断位置で酸素濃度を実測し、
各ブロックの両端面の酸素濃度を求める。[0007] As shown in FIG.
Is cut and removed. Blocks 41 and 42 of predetermined length (for example, 200 mm)
・ Cut equally. Measure the oxygen concentration at each cutting position,
Obtain the oxygen concentration at both end faces of each block.
【0008】今、ブロック41,42では両端面の酸素
濃度が狙い品種の酸素スペックを満足し、ブロック43
では一方の端面の酸素濃度のみが狙い品種の酸素スペッ
クを満足し、他方の端面の酸素濃度が狙い品種の酸素ス
ペックを外れたと仮定する。そうした場合、ブロック4
1,42は狙い品種としてそのまま採取される。ブロッ
ク43については、他方の端面から一端側へ戻った位置
でブロック43を再切断する。この再切断は切り戻しと
呼ばれ、その切断代Lは酸素濃度の要求スペックからの
外れ率に基づいて決定される。つまり、外れ率が大きい
場合は大きく切り戻し、外れ率が小さい場合は小さく切
り戻すのである。Now, in blocks 41 and 42, the oxygen concentration at both end surfaces satisfies the oxygen specification of the target product, and block 43
Then, it is assumed that only the oxygen concentration at one end surface satisfies the oxygen specification of the target variety, and the oxygen concentration at the other end surface deviates from the oxygen specification of the target variety. If you do, block 4
1, 42 are directly collected as target varieties. As for the block 43, the block 43 is cut again at a position where it returns to the one end from the other end surface. This re-cutting is called cutback, and the cutting margin L is determined based on the rate of deviation of the oxygen concentration from the required specifications. That is, when the deviation rate is large, the cutback is made large, and when the deviation rate is small, the cutback is reduced.
【0009】切り戻しが終わると、その切断位置で再度
酸素濃度を実測する。実測値が要求スペックを満足した
場合は、本体部43aを狙い品種として採取する。実測
値が要求スペックを満足しない場合は、本体部43aに
対して再び切り戻しを行う。このようにしてブロック4
3から狙い品種を採取する。切り戻しに伴って派生する
薄厚部43bは、他のブロック44・・と共に他の品種
に回す。ここでも適宜切り戻しを行う。When the cutting back is completed, the oxygen concentration is measured again at the cutting position. If the measured value satisfies the required specifications, the main unit 43a is collected as a target product. If the measured value does not satisfy the required specifications, the main unit 43a is switched back again. Thus block 4
Collect the target variety from 3. The thin portion 43b derived from the cutback is transferred to another type together with other blocks 44. Here, switching back is performed appropriately.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】このような製品採取法
によると、一応は1本の単結晶から複数品種の製品が採
取され、狙い品種のみを採取する場合に比べると歩留り
が向上する。しかしながら、1本の単結晶に対して繰り
返し切断を行うために、非能率であるだけでなく、切断
刃の損耗が激しく、刃物コストが増大する。加えて、切
り戻しに伴って厚みの薄いブロックが多量に生じる。こ
れらの薄厚ブロックは、そのままではウエーハに切断で
きないことが多いので、複数枚を貼り合わせ十分な厚み
を持ったブロックとして切断に供せられるが、その貼り
合わせに手数がかかる。According to such a product sampling method, a plurality of types of products are sampled from a single single crystal, and the yield is improved as compared with a case where only the target type is sampled. However, since cutting is repeatedly performed on one single crystal, not only is it inefficient, but also the cutting blade is severely worn and the cutting tool cost is increased. In addition, a large number of thin blocks are generated along with the cutback. Since these thin blocks often cannot be cut into wafers as they are, a plurality of thin blocks are laminated and provided for cutting as a block having a sufficient thickness, but the lamination requires time and effort.
【0011】本発明の目的は、製品採取の際の切断回数
を大幅に低減でき、合わせて切断に伴う薄厚品の派生を
回避できる結晶切断方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide a crystal cutting method capable of greatly reducing the number of cuts at the time of product sampling and also avoiding the derivation of a thin product accompanying the cutting.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】ところで、CZ法による
単結晶の量産では、前述したように、同一品種の製品を
製造するために複数の引き上げ炉を使用するが、各炉で
育成された単結晶の軸方向の品質分布、とりわけ酸素濃
度分布は、図1(a)(b)に示すように、大きく異な
るものとなる。これは部品の劣化、炉体特性の僅かな違
い、計器の狂いなどが原因であるが、その原因はともか
く、各炉で同一特性の製品を引き上げようとしても、引
き上げられる単結晶の軸方向の酸素濃度分布は大きく異
なるものとなり、しかも、同一炉でさえ引き上げごとに
その酸素濃度分布は変化する。このため、単結晶の酸素
濃度分布を正確に推定することは不可能とされ、従っ
て、単結晶からの製品採取では、前述した通り切断によ
ってその酸素濃度が実際に測定されていた。In the mass production of single crystals by the CZ method, as described above, a plurality of pulling furnaces are used to manufacture products of the same kind, but the single crystals grown in each furnace are used. The quality distribution in the axial direction of the crystal, particularly the oxygen concentration distribution, differs greatly as shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b). This is due to deterioration of parts, slight differences in furnace body characteristics, and inaccuracies in instruments, but regardless of the cause, even if it is attempted to pull up products with the same characteristics in each furnace, the axial The oxygen concentration distribution is greatly different, and even in the same furnace, the oxygen concentration distribution changes with each pulling. For this reason, it is considered impossible to accurately estimate the oxygen concentration distribution of the single crystal. Therefore, in the case of collecting a product from the single crystal, the oxygen concentration was actually measured by cutting as described above.
【0013】しかし、その酸素濃度分布の炉間のばらつ
きや同一炉での変化を詳細に調査したところ、各炉での
過去の操業データを使用すれば、各炉の酸素濃度分布特
性が明らかとなり、その結果、単結晶の製品振り分けに
活用できる程度の高い精度で単結晶の酸素濃度分布を推
定できることが判明し、本発明を完成させるに至った。However, when the variation in the oxygen concentration distribution among furnaces and the change in the same furnace were investigated in detail, the oxygen concentration distribution characteristics of each furnace became clear by using the past operation data of each furnace. As a result, it has been found that the oxygen concentration distribution of a single crystal can be estimated with such high accuracy that it can be used for sorting single crystals, and the present invention has been completed.
【0014】本発明の単結晶切断方法は、CZ法により
単結晶を育成すると共に、育成される単結晶の軸方向の
酸素濃度分布を過去の操業実績から推定し、推定された
酸素濃度分布に基づいて切断位置を決定することを構成
上の特徴点とする。According to the single crystal cutting method of the present invention, a single crystal is grown by the CZ method, and the oxygen concentration distribution in the axial direction of the single crystal to be grown is estimated from past operation results. Determining the cutting position based on this is a structural feature.
【0015】本発明の結晶切断方法においては、育成さ
れた単結晶から酸素濃度スペックが異なる複数種類の製
品が採取されるように、切断位置を決定することが好ま
しい。In the crystal cutting method of the present invention, it is preferable that the cutting position is determined so that a plurality of types of products having different oxygen concentration specifications are collected from the grown single crystal.
【0016】また、複数の引き上げ炉において結晶軸方
向の酸素濃度分布特性を把握しておき、その特性から予
測される単結晶の酸素濃度分布に基づいて切断位置を決
定することが好ましい。It is preferable that the oxygen concentration distribution characteristics in the crystal axis direction are grasped in a plurality of pulling furnaces, and the cutting position is determined based on the oxygen concentration distribution of the single crystal predicted from the characteristics.
【0017】その場合、単結晶の酸素濃度分布の実測デ
ータを用いて、単位回数の引き上げごとに各引き上げ炉
の酸素濃度分布特性を更新することが好ましい。In this case, it is preferable to update the oxygen concentration distribution characteristics of each pulling furnace every time the unit is pulled up by using the actually measured data of the oxygen concentration distribution of the single crystal.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0019】本発明の実施形態に係る結晶切断方法は、
単結晶の生産管理、より具体的には、複数の引き上げ炉
で育成される単結晶からの効率的な製品採取に用いられ
る。この生産管理は、図2に示すように、コンピュータ
10により実行される。コンピュータ10はホストコン
ピュータ20と接続されており、ホストコンピュータ2
0との間で情報の授受を行い、図3の処理を行うことに
より、最終的に単結晶の切断位置を指示する。その指示
情報は、複数の処理端末30,30・・に伝送される。The crystal cutting method according to the embodiment of the present invention comprises:
It is used for production control of single crystals, and more specifically, for efficient product extraction from single crystals grown in a plurality of pulling furnaces. This production management is executed by the computer 10 as shown in FIG. The computer 10 is connected to the host computer 20 and the host computer 2
By exchanging information between the two, the processing of FIG. 3 is performed to finally indicate the cutting position of the single crystal. The instruction information is transmitted to the plurality of processing terminals 30, 30,.
【0020】ホストコンピュータ20から受け入れる情
報としては、受注状況、製品仕掛かり状況、品質実績、
操業データ、製品仕様等がある。また、ホストコンピュ
ータ20へ転送する情報としては、単結晶切断位置情
報、品質サンプル抜き取り情報、引き当て指示情報等が
ある。The information received from the host computer 20 includes the order status, the product in process status, the quality record,
There are operation data, product specifications, etc. Information transferred to the host computer 20 includes single crystal cutting position information, quality sample extraction information, assignment instruction information, and the like.
【0021】また、ホストコンピュータ20から受け入
れた操業に必要な各種情報や、酸素濃度分布等のコンピ
ュータ10内で生成した情報、操業処理実績データ等を
格納するために、コンピュータ10はデータベースを備
えている。The computer 10 includes a database for storing various information necessary for the operation received from the host computer 20, information generated in the computer 10 such as oxygen concentration distribution, operation processing result data, and the like. I have.
【0022】管理者は、受注した製品の品質仕様、量及
び希望納期をコンピュータ10に逐次入力する。操業で
は、現在の受注状況から優先順位の最も高い品種を決
め、これを狙い品種として、その品種の受注量を満たす
べく複数の引き上げ炉で結晶育成を行う。そして管理者
は、その狙い品種を製造するための各炉における操業条
件をコンピュータ10に入力し、製品の振り分けを指示
する。そうすると、コンピュータ10は、ホストコンピ
ュータ20から必要な情報を取り出し、図3に示された
3のプログラム、即ち優先順位データ生成、酸素濃度テ
ーブル生成及び結晶生産システムを実行する。The manager successively inputs the quality specification, quantity and desired delivery date of the ordered product into the computer 10. In operation, the type with the highest priority is determined based on the current order status, and as a target type, the crystal is grown in multiple pulling furnaces to satisfy the order quantity of the type. Then, the manager inputs the operating conditions of each furnace for producing the target product to the computer 10 and instructs the distribution of the products. Then, the computer 10 extracts necessary information from the host computer 20 and executes the three programs shown in FIG. 3, that is, the priority data generation, the oxygen concentration table generation, and the crystal production system.
【0023】優先順位データ生成では、製品の希望納期
及び育成の難易度等から優先順位が決定される。決定さ
れた優先順位はコンピュータ10のデータベースに格納
される。In the generation of the priority data, the priority is determined based on the desired delivery date of the product, the difficulty of the training, and the like. The determined priorities are stored in the database of the computer 10.
【0024】酸素濃度テーブル作成では、各炉で育成さ
れる単結晶の内部品質として酸素濃度分布が推定され
る。以下にこの工程を詳細に説明する。なお、製品の内
部品質としては比抵抗及び酸素濃度が重要であるが、説
明の便宜上、管理が最も困難な酸素濃度についてのみ詳
細な説明を行う。In preparing the oxygen concentration table, the oxygen concentration distribution is estimated as the internal quality of the single crystal grown in each furnace. Hereinafter, this step will be described in detail. Although the specific resistance and the oxygen concentration are important as the internal quality of the product, for convenience of explanation, only the oxygen concentration which is most difficult to manage will be described in detail.
【0025】ホストコンピュータ20には、各炉におけ
る過去の操業実績(操業条件及び酸素濃度分布等)が格
納されている。狙い品種を製造するための各炉の操業条
件が入力されると、コンピュータ10は、各炉ごとに、
操業条件に対応する操業実績をホストコンピュータ20
から受け入れてデータベースに格納する。次いで、その
操業実績を用いて酸素濃度分布特性(酸素濃度分布推定
用のテーブル)を作成し、作成した各炉の酸素濃度分布
特性(酸素濃度分布推定用のテーブル)を用いて、育成
される単結晶の軸方向の酸素濃度分布を推定する。The host computer 20 stores past operation results (operation conditions, oxygen concentration distribution, etc.) in each furnace. When operating conditions of each furnace for manufacturing a target product are input, the computer 10
The operation results corresponding to the operation conditions are stored in the host computer 20.
And store it in the database. Next, an oxygen concentration distribution characteristic (table for estimating the oxygen concentration distribution) is created using the operation results, and cultivation is performed using the oxygen concentration distribution characteristic (a table for estimating the oxygen concentration distribution) of each furnace. The oxygen concentration distribution in the axial direction of the single crystal is estimated.
【0026】具体的には、品質実績データと引き上げ実
績データとから、炉別・酸素スペック別にそれぞれ10
バッチ分の酸素スペック、酸素実績、仕様部品サイズ、
仕込み量を編集した中間データを生成する。中間データ
から、炉別・酸素スペック別に酸素実績データの平均値
をとり、単結晶の軸方向に並べ代えて、テーブルデータ
として登録する。登録された酸素濃度テーブルを運用し
て、酸素濃度分布を例えば1mmごとに推定する。作成
された酸素濃度テーブルの一例を表1に示し、そのテー
ブルから推定された酸素濃度分布を図4(a)に示す。Specifically, based on the quality performance data and the pulling performance data, 10
Oxygen specifications for batches, actual oxygen results, specification component sizes,
Generate intermediate data with edited feed amount. From the intermediate data, the average value of the actual oxygen data is obtained for each furnace / oxygen specification, rearranged in the axial direction of the single crystal, and registered as table data. By operating the registered oxygen concentration table, the oxygen concentration distribution is estimated, for example, every 1 mm. An example of the created oxygen concentration table is shown in Table 1, and the oxygen concentration distribution estimated from the table is shown in FIG.
【0027】[0027]
【表1】 [Table 1]
【0028】結晶生産システムでは、推定された内部品
質分布と、決定された優先順位とを用いて製品の振り分
けが行われる。In the crystal production system, products are sorted using the estimated internal quality distribution and the determined priorities.
【0029】即ち、今、コンピュータ10に記憶されて
いる製品の品質仕様を表2とし、推定された酸素濃度分
布を図4(a)とすると、振り分けは次のようにして実
行される。That is, assuming that the quality specifications of the products stored in the computer 10 are shown in Table 2 and the estimated oxygen concentration distribution is shown in FIG. 4A, the distribution is performed as follows.
【0030】[0030]
【表2】 [Table 2]
【0031】品種Aは所定の酸素濃度を指定された主品
種(狙い品種)で、優先度の最も高いものである。品種
a,b,c,d・・・はそれぞれ所定の酸素濃度を指定
された副品種で、主品種Aに比べて優先度が順に小さい
ものである。The type A is a main type (target type) designated with a predetermined oxygen concentration and has the highest priority. Each of the types a, b, c, d,... Is a sub-type designated with a predetermined oxygen concentration, and has lower priority than the main type A in order.
【0032】製品の振り分けでは、コンピュータ10は
先ず、図4(b)に示すように、受注した製品の品質仕
様(酸素濃度分布)と推定された酸素濃度範囲とから、
単結晶において製品化が可能な範囲を決定する。狙い品
種である品種Aは、単結晶のトップ近傍から中間部にか
けて採取可能である。優先順位が第2位の品種aは、酸
素濃度が高く、単結晶のトップ部から採取可能である。
優先順位が第3,5位の品種b,dは、酸素濃度が比較
的低く、単結晶の中間部からボトム近傍にかけて採取可
能であり、特に品種bは酸素濃度のレンジが狭く品質仕
様の厳しい品種である。優先順位が第4位の品種cは、
酸素濃度が最も低く、単結晶のボトム部近傍から採取可
能である。優先順位が第6位の品種eは、酸素濃度のレ
ンジが広く、単結晶のほぼ全長から採取可能である。In the product distribution, the computer 10 first determines the quality specification (oxygen concentration distribution) of the ordered product and the estimated oxygen concentration range as shown in FIG.
Determine the range in which a single crystal can be commercialized. The target variety A can be collected from near the top of the single crystal to the middle. The product type a having the second highest priority has a high oxygen concentration and can be collected from the top of the single crystal.
The varieties b and d having the third and fifth priorities have a relatively low oxygen concentration and can be collected from the middle part of the single crystal to the vicinity of the bottom. In particular, the varieties b have a narrow range of oxygen concentration and strict quality specifications. It is a variety. Variety c with the fourth highest priority is
It has the lowest oxygen concentration and can be collected from the vicinity of the bottom of the single crystal. The product e having the sixth priority has a wide range of oxygen concentration and can be collected from almost the entire length of the single crystal.
【0033】製品化の可能な範囲が決定されると、図4
(c−1)に示すように、受注量を考慮しつつ優先順位
から製品の最終的な振り分けを行う。即ち、狙い品種で
ある品種Aは、採取可能位置の全部に振り当てる。優先
順位が第2位の品種aは、品種Aとの重複部分を避けて
単結晶のトップ部に振り当てる。優先順位が第3位の品
種bは、残りの部分に優先的に振り当てる。続けて、優
先順位が第4,5,6位の品種c,d,eは、残りの部
分に順に優先的に振り当てる。Once the possible range of commercialization is determined, FIG.
As shown in (c-1), the final distribution of the products is performed from the priority order while taking the order quantity into consideration. That is, the variety A, which is the target variety, is allotted to all the available positions. The type a having the second priority is assigned to the top of the single crystal avoiding the overlapping part with the type A. The product type b having the third highest priority is preferentially allocated to the remaining portion. Subsequently, the varieties c, d, and e having the fourth, fifth, and sixth priorities are preferentially allocated to the remaining parts.
【0034】品種eの受注量が多い場合は、図4(c−
2)に示すように、品種cの一部を品種eに置き換え
る。また、品種dの受注量が多い場合は、図4(c−
3)に示すように、品種cの一部を品種dに置き換え
る。In the case where the order quantity of the product e is large, FIG.
As shown in 2), part of the type c is replaced with the type e. In addition, when the order quantity of the product type d is large, FIG.
As shown in 3), part of the type c is replaced with the type d.
【0035】かくして、単結晶の全体から製品が受注状
況に応じて余すことなく採取され、単結晶から製品を採
取するときの歩留りが飛躍的に向上し、且つ受注に対す
る過不足も生じない。Thus, the product is completely extracted from the entire single crystal in accordance with the order status, the yield when extracting the product from the single crystal is remarkably improved, and there is no excess or deficiency in the order.
【0036】加えて、各炉では品種Aを狙って単結晶を
育成するものの、それらの酸素濃度分布は同じではない
ので、ある炉では採取できない製品も他の炉では採取で
きることになり、各炉で育成される単結晶に対して総合
的な振り分けを行うことにより、実際の操業でも、受注
に対する過不足を生じることなく、単結晶から製品が殆
ど余すことなく採取される。In addition, in each furnace, single crystals are grown aiming at the type A, but since their oxygen concentration distributions are not the same, products that cannot be collected in one furnace can be collected in another furnace. By comprehensively sorting the single crystals grown in step (1), even in actual operation, products are collected from the single crystals with little or no excess or deficiency with respect to orders.
【0037】各炉で単結晶が育成されると、決定された
振り分けに従って、単結晶を切断する。また、切断位置
で単結晶の酸素濃度を測定し、そのデータをコンピュー
タ10にフィードバックする。When a single crystal is grown in each furnace, the single crystal is cut according to the determined distribution. Further, the oxygen concentration of the single crystal is measured at the cutting position, and the data is fed back to the computer 10.
【0038】各炉における酸素濃度分布特性(酸素濃度
分布推定用のテーブル)は、厳密には1本の単結晶を育
成するごとに変化する。このために、最新の実測データ
をコンピュータ10にフィードバックする。コンピュー
タ10は、常に最近の所定数のデータ(例えば最新から
10個のデータ)を用いて酸素濃度分布特性(酸素濃度
分布推定用のテーブル)を作成する。これにより、各炉
で育成される単結晶の酸素濃度分布が高精度に推定され
る。Strictly speaking, the oxygen concentration distribution characteristic (table for estimating the oxygen concentration distribution) in each furnace changes every time one single crystal is grown. For this purpose, the latest measured data is fed back to the computer 10. The computer 10 always creates an oxygen concentration distribution characteristic (a table for estimating the oxygen concentration distribution) using a predetermined number of latest data (for example, the latest 10 data). Thereby, the oxygen concentration distribution of the single crystal grown in each furnace is estimated with high accuracy.
【0039】[0039]
【発明の効果】以上に説明した通り、本発明の結晶切断
方法は、CZ法により単結晶を育成すると共に、育成さ
れる単結晶の軸方向の品質分布を過去の操業実績から推
定し、推定された品質分布に基づいて、単結晶の切断位
置を決定することにより、単結晶から製品を採取する際
に、酸素濃度の要求スペックが異なる複数種類の製品を
過不足なくダイレクトに切り出すことができるので、単
結晶の酸素濃度を実測するための等長切断を必要とせ
ず、切り戻しも必要としない。従って、製品採取の際の
切断回数を大幅に低減でき、その切断での刃物コストを
大幅に低減できる。また、切断に伴う薄厚品の派生を回
避できるので、単結晶をウエーハに切断する際の工数を
低減できる。As described above, according to the crystal cutting method of the present invention, a single crystal is grown by the CZ method, and the quality distribution in the axial direction of the grown single crystal is estimated from past operation results. By determining the cutting position of the single crystal based on the obtained quality distribution, it is possible to directly cut out multiple types of products with different required oxygen concentration specifications when collecting products from the single crystal without excess or deficiency. Therefore, there is no need for equal-length cutting for actually measuring the oxygen concentration of the single crystal, and no need for cutting back. Therefore, the number of cuts at the time of product sampling can be greatly reduced, and the cost of the cutting tool for the cut can be significantly reduced. Further, since the derivation of a thin product due to the cutting can be avoided, the number of steps for cutting a single crystal into a wafer can be reduced.
【図1】単結晶の比抵抗分布及び酸素濃度分布を模式的
に示す図表である。FIG. 1 is a chart schematically showing a specific resistance distribution and an oxygen concentration distribution of a single crystal.
【図2】本発明の実施形態に係る結晶切断方法を用いた
生産管理システムの装置構成図である。FIG. 2 is an apparatus configuration diagram of a production management system using a crystal cutting method according to an embodiment of the present invention.
【図3】同生産管理システムのソフトウエアを示すフロ
ーチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing software of the production management system.
【図4】同生産管理システムにおける結晶切断方法の概
念図である。FIG. 4 is a conceptual diagram of a crystal cutting method in the production management system.
【図5】従来の結晶切断方法の概念図である。FIG. 5 is a conceptual diagram of a conventional crystal cutting method.
10 コンピュータ 20 ホストコンピュータ 30 情報端末 40 単結晶 41,42・・ ブロック DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Computer 20 Host computer 30 Information terminal 40 Single crystal 41, 42 .. block
Claims (4)
育成される単結晶の軸方向の酸素濃度分布を過去の操業
実績から推定し、推定された酸素濃度分布に基づいて切
断位置を決定することを特徴とする結晶切断方法。1. A method for growing a single crystal by the CZ method,
A crystal cutting method characterized by estimating the oxygen concentration distribution in the axial direction of a single crystal to be grown from past operation results and determining a cutting position based on the estimated oxygen concentration distribution.
が異なる複数種類の製品を採取するべく、切断位置を決
定することを特徴とする請求項1に記載の結晶切断方
法。2. The crystal cutting method according to claim 1, wherein a cutting position is determined in order to collect a plurality of types of products having different oxygen concentration specifications from the grown single crystal.
酸素濃度分布特性を把握しておき、その特性から予測さ
れる単結晶の酸素濃度分布に基づいて切断位置を決定す
ることを特徴とする請求項1又は2に記載の結晶切断方
法。3. The cutting position is determined based on the oxygen concentration distribution characteristics in the crystal axis direction in a plurality of pulling furnaces and based on the oxygen concentration distribution of the single crystal predicted from the characteristics. Item 3. The crystal cutting method according to Item 1 or 2.
いて、単位回数の引き上げごとに各引き上げ炉の酸素濃
度分布特性を更新することを特徴とする請求項3に記載
の結晶切断方法。4. The crystal cutting method according to claim 3, wherein the oxygen concentration distribution characteristics of each of the pulling furnaces are updated every time the unit is pulled up, using the actually measured data of the oxygen concentration distribution of the single crystal.
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JP10026398A JPH11278983A (en) | 1998-03-27 | 1998-03-27 | Cutting of crystal |
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