JPH11241931A - Signal simultaneous measuring device - Google Patents
Signal simultaneous measuring deviceInfo
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- JPH11241931A JPH11241931A JP4383598A JP4383598A JPH11241931A JP H11241931 A JPH11241931 A JP H11241931A JP 4383598 A JP4383598 A JP 4383598A JP 4383598 A JP4383598 A JP 4383598A JP H11241931 A JPH11241931 A JP H11241931A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、センサや測定器
から出力される各種の信号を同時に測定可能な信号同時
測定装置に関し、例えば、トルクコンバータやハイポイ
ドギヤ等の機構部品の良否を判定する品質検査装置等に
適用して好適な信号同時測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a signal simultaneous measuring device capable of simultaneously measuring various signals output from sensors and measuring instruments, and for example, quality inspection for judging the quality of mechanical components such as a torque converter and a hypoid gear. The present invention relates to a signal simultaneous measurement device suitable for application to a device or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来から、トルクコンバータやハイボイ
ドギヤ等の機構部品の良否を判定するために、これら機
構部品、換言すれば測定対象部品には、トルクセンサ、
ロードセル、光センサ等のセンサおよび(または)回転
計、電流計等の測定器が取り付けられ、これらセンサや
測定器から同時に出力される信号を解析することで前記
機構部品の良否を判定している。2. Description of the Related Art Conventionally, in order to determine the quality of mechanical components such as a torque converter and a high void gear, these mechanical components, in other words, a component to be measured, include a torque sensor,
Sensors such as a load cell and an optical sensor and / or measuring instruments such as a tachometer and an ammeter are attached, and the quality of the mechanical parts is determined by analyzing signals output simultaneously from these sensors and the measuring instruments. .
【0003】例えば、測定対象部品から同時に出力され
る異種の信号を同時に測定する装置として、パーソナル
コンピュータ(以下、PCという。)を利用する異種信
号同時測定装置がある。For example, as a device for simultaneously measuring different types of signals simultaneously output from a component to be measured, there is a device for simultaneously measuring different types of signals using a personal computer (hereinafter, referred to as a PC).
【0004】図7は、従来技術に係る異種信号同時測定
装置2の構成を示している。FIG. 7 shows a configuration of a conventional heterogeneous signal measuring apparatus 2 according to the prior art.
【0005】この異種信号同時測定装置2は、PC4を
有し、このPC4は、プログラム6を格納するコンピュ
ータ本体8と、このコンピュータ本体8に接続されるC
RT10とキーボード12とから構成されている。The heterogeneous signal simultaneous measuring device 2 has a PC 4. The PC 4 includes a computer main body 8 storing a program 6 and a C connected to the computer main body 8.
It comprises an RT 10 and a keyboard 12.
【0006】異種信号同時測定装置2により良否を判定
される測定対象部品14には、センサ16、18および
測定器20が取り付けられ、これらの出力がAD基板
(AD変換器が搭載された基板)22、カウンタ基板
{カウンタ(CNT)が搭載された基板}24およびB
CD(2進化10進)基板(10進数をBCD符号に変
換する基板)26を通じてコンピュータ本体8のシステ
ムバス(図示していない)を介してコンピュータ本体8
に取り込まれるように構成されている。[0006] Sensors 16 and 18 and a measuring device 20 are attached to the component 14 to be measured which is judged to be good or bad by the heterogeneous signal simultaneous measuring device 2, and the output of these components is an AD board (board on which an AD converter is mounted). 22, counter board # board with counter (CNT) # 24 and B
The computer main body 8 through a system bus (not shown) of the computer main body 8 through a CD (binary-decimal decimal) board (a board for converting a decimal number into a BCD code) 26
It is configured to be taken into.
【0007】このように構成される異種信号同時測定装
置2では、コンピュータ本体8に格納されるプログラム
6として、同時に測定を行う基板22、24、26に合
わせて最適化したモジュールが格納されている。[0007] In the heterogeneous signal simultaneous measurement apparatus 2 configured as described above, a module optimized for the substrates 22, 24, and 26 to be measured simultaneously is stored as the program 6 stored in the computer main body 8. .
【0008】図8は、このプログラム6に係るフローチ
ャートを示している。FIG. 8 shows a flowchart according to the program 6.
【0009】すなわち、まず、プログラミングレベルで
の関連付けで、AD基板22、カウンタ基板24および
BCD基板26の動作を開始させる(ステップS1〜S
3)。なお、カウンタ基板24上のカウンタ(CNT)
は、出力をラッチすることにより動作が開始され、かつ
終了される。That is, first, the operations of the AD board 22, the counter board 24, and the BCD board 26 are started by association at the programming level (Steps S1 to S1).
3). The counter (CNT) on the counter substrate 24
Starts and ends by latching the output.
【0010】次に、プログラミングレベルでの関連付け
で、AD基板22に搭載されているAD変換器の変換終
了およびBCD基板26の変換終了を確認する(ステッ
プS4、S5)。Next, the end of conversion of the AD converter mounted on the AD board 22 and the end of conversion of the BCD board 26 are confirmed by association at the programming level (steps S4 and S5).
【0011】次いで、プログラミングレベルでの関連付
けで、変換が終了したADデータ、CNTデータおよび
BCDデータをコンピュータ本体8に取り込み、図示し
ていないメモリに格納する(ステップS6〜S8)。Next, the converted AD data, CNT data and BCD data are taken into the computer main body 8 and stored in a memory (not shown) (steps S6 to S8) at the programming level.
【0012】このように上記従来技術に係る異種信号同
時測定装置2では、基本的には、PC4を構成するコン
ピュータ本体8のシステムバスにAD基板22等を接続
して全体としての測定システムを構成している。このた
め、コンピュータ本体8に格納されているプログラム
6、すなわちシステムプログラムは、この測定システム
専用のものとなっている。As described above, in the heterogeneous signal simultaneous measuring apparatus 2 according to the prior art, basically, the AD board 22 and the like are connected to the system bus of the computer main body 8 constituting the PC 4 to constitute a measuring system as a whole. doing. For this reason, the program 6 stored in the computer main body 8, that is, the system program is dedicated to this measurement system.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに、システムプログラム6がコンピュータ本体8に接
続されている複数の基板22、24、26に適合してプ
ログラミングされている測定システムでは、機能の追加
や、機能の向上を含む機能の変更を行う場合、システム
プログラムとしてのコンピュータ本体8に格納されてい
るプログラム6をその都度、全て変更しなければなら
ず、きわめて窮屈な汎用性の低い測定システムになって
いる。However, as described above, in the measurement system in which the system program 6 is programmed in conformity with the plurality of boards 22, 24, and 26 connected to the computer main body 8, additional functions are added. In addition, when performing a function change including an improvement in the function, the program 6 stored in the computer main body 8 as a system program must be changed every time, so that an extremely cramped versatile measurement system is required. Has become.
【0014】すなわち、センサ16や測定器20の仕様
やこれに付随するAD基板22等の仕様に合わせて専用
のモジュールを作成する必要がある。このため、ハード
ウエア仕様やユーザの要望に基づく仕様(測定チャンネ
ル数、測定速度、測定時間、物理量変換式など)の変更
の組合せが多岐にわたる場合等には、モジュールのバグ
の排除等を含めたモジュールの作成時間(作成工数)が
多大化するという問題が発生する。That is, it is necessary to create a dedicated module in accordance with the specifications of the sensor 16 and the measuring device 20 and the specifications of the AD board 22 and the like attached thereto. For this reason, when there are a wide variety of combinations of changes in hardware specifications and specifications based on user demands (number of measurement channels, measurement speed, measurement time, physical quantity conversion formula, etc.), the elimination of module bugs, etc. There is a problem that the module creation time (man-hours) increases.
【0015】この発明はこのような課題を考慮してなさ
れたものであり、新たな機能を有する測定用基板の接続
や、測定用基板の機能内容の一部変更等に柔軟に対処す
ることを可能とする信号同時測定装置を提供することを
目的とする。The present invention has been made in view of such problems, and has been made to flexibly cope with connection of a measurement substrate having a new function, partial modification of the function of the measurement substrate, and the like. It is an object of the present invention to provide a signal simultaneous measurement device that enables the measurement.
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】この発明は、複数の信号
源にそれぞれ接続される各測定用基板が、それぞれ一方
の側に接続される機能モジュール格納部と、前記各機能
モジュール格納部の他方の側に接続され、装置全体を制
御する基本モジュール部と、前記基本モジュール部によ
り選択されて前記各機能モジュール格納部に格納される
種々の機能モジュールを有する拡張用機能モジュール部
とを有し、前記各機能モジュールは、前記各測定用基板
の測定条件を設定するためのデータ設定部と、前記各測
定用基板の測定を開始させる測定開始指令部と、前記各
測定用基板の測定の終了を確認する測定終了確認部と、
測定終了後にデータを取り込むデータ取込部とを有する
ことを特徴とする。According to the present invention, each of the measurement substrates connected to a plurality of signal sources is connected to one side of a function module storage unit, and the other of the function module storage units is connected to one of the function module storage units. Side, and has a basic module unit for controlling the entire device, and an expansion function module unit having various function modules selected by the basic module unit and stored in the function module storage units, Each of the functional modules includes a data setting unit for setting measurement conditions of each of the measurement substrates, a measurement start command unit that starts measurement of each of the measurement substrates, and a termination of measurement of each of the measurement substrates. A measurement end confirmation section for confirming,
A data capturing unit that captures data after the measurement is completed.
【0017】この発明による信号同時測定装置は、装置
全体を制御するための基本モジュール部と個々の機能を
制御するための機能モジュール部とに分割しているの
で、測定用基板に応じて機能モジュールの内容を変更す
ることにより、新たな機能を有する測定用基板の接続
や、測定用基板の機能内容の一部変更等に簡易に対処す
ることができる。The signal simultaneous measuring device according to the present invention is divided into a basic module portion for controlling the entire device and a functional module portion for controlling individual functions. , It is possible to easily deal with the connection of the measurement substrate having a new function, the partial change of the function content of the measurement substrate, and the like.
【0018】この場合、データ設定部には、データをデ
ータ取込部に取り込む際に、所望の物理量データに変換
するための物理量変換手法を設定し、データ取込部が、
データを取り込む際に、物理量変換手法に基づき所望の
物理量データに変換して取り込むようにすることで、所
望の物理量データを機能モジュールの出力として簡易に
得ることができる。In this case, the data setting section sets a physical quantity conversion method for converting the data into desired physical quantity data when the data is taken into the data taking section.
By converting data into desired physical quantity data based on a physical quantity conversion method when capturing data, the desired physical quantity data can be easily obtained as an output of the functional module.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施の形態に
ついて図面を参照して説明する。なお、以下に参照する
図面において、上記図7に示したものと対応するものに
は同一の符号を付けてその詳細な説明は省略する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the drawings referred to below, components corresponding to those shown in FIG. 7 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
【0020】図1は、この発明の一実施の形態がパーソ
ナルコンピュータに適用された信号同時測定装置31を
含む全体の構成を示している。この信号同時測定装置3
1により、測定対象部品14としての、例えば、トルク
コンバータやハイボイドギヤ等の機構部品の良否が判定
される。FIG. 1 shows an entire configuration including a signal simultaneous measurement device 31 according to an embodiment of the present invention applied to a personal computer. This signal simultaneous measurement device 3
According to 1, the quality of a mechanical component such as a torque converter or a high void gear as the measurement target component 14 is determined.
【0021】信号同時測定装置31は、基本的には、信
号同時測定装置31の全体を制御する基本モジュール部
36と、測定用基板用のモジュールとしての機能モジュ
ール61〜68が格納される拡張用機能モジュール部6
0と、測定用基板用のモジュール以外のモジュール(タ
イマ)161が格納される拡張用機能モジュール部16
0と、機能モジュールが設定される機能モジュール格納
部71〜76とから構成される。なお、モジュールと
は、機能別に分割したソフトウエアの単位をいい、各モ
ジュールによって、一定の機能が達成される。The signal simultaneous measurement device 31 basically includes a basic module section 36 for controlling the entire signal simultaneous measurement device 31 and an extension module in which function modules 61 to 68 as modules for a measurement board are stored. Function module 6
0 and an extension function module section 16 in which modules (timers) 161 other than the module for the measurement board are stored.
0 and function module storage units 71 to 76 in which function modules are set. Note that a module refers to a unit of software divided according to function, and a certain function is achieved by each module.
【0022】測定対象部品14には、それぞれが信号を
発生する信号源としてのロードセンサ、温度センサ、光
センサ等のセンサ16、17、18や、回転計、電流計
および電圧計等の測定器19が取り付けられる。The components 14 to be measured include load sensors, temperature sensors, optical sensors and other sensors 16, 17, and 18 as signal sources for generating signals, and measuring instruments such as tachometers, ammeters and voltmeters. 19 is attached.
【0023】センサ16〜18の出力側は、それぞれが
測定用基板である12ビットの分解能を有するAD基板
(AD変換器が搭載された基板で測定用基板ともい
う。)22、8ビット分解能のFFT(高速フーリエ変
換)基板(高速フーリエ変換器が搭載された基板で測定
用基板ともいう。)23、12ビットのカウンタ基板
{カウンタ(CNT)が搭載された基板で測定用基板と
もいう。}24の入力側に接続される。測定器19の出
力側は、16ビットのAD基板(測定用基板)25の入
力側に接続される。The output sides of the sensors 16 to 18 are each an AD board having a 12-bit resolution (a board on which an AD converter is mounted and also referred to as a measurement board) 22 having an 8-bit resolution, each of which is a measurement board. FFT (Fast Fourier Transform) substrate (a substrate on which a fast Fourier transformer is mounted, also referred to as a measurement substrate) 23, 12-bit counter substrate カ ウ ン タ A substrate on which a counter (CNT) is mounted, also referred to as a measurement substrate. # 24 is connected to the input side. The output side of the measuring instrument 19 is connected to the input side of a 16-bit AD board (measurement board) 25.
【0024】各測定用基板22〜25の他方の側(入力
側にも出力側にもなる。)が、入出力ポート41〜45
の中、入出力ポート41〜44を介して、それぞれ、機
能モジュール格納部71〜75の中、機能モジュール格
納部71〜74の一方の側に接続される。The other side of each of the measuring boards 22 to 25 (which may be an input side or an output side) is connected to input / output ports 41 to 45.
Are connected to one side of the function module storage units 71 to 74 among the function module storage units 71 to 75 via input / output ports 41 to 44, respectively.
【0025】機能モジュール格納部71〜75の他方の
側は、基本モジュール部36に接続される。The other side of the functional module storage units 71 to 75 is connected to the basic module unit 36.
【0026】使用していない入出力ポート45と機能モ
ジュール格納部75の系は予備用であり、入出力ポート
45に所望の測定用基板を着脱することが自由である。The unused input / output port 45 and the function module storage section 75 are reserved, and the desired measurement board can be freely attached to and detached from the input / output port 45.
【0027】また、機能モジュール格納部76には、拡
張用機能モジュール部160中の計時装置である機能モ
ジュールとしてのタイマ161が設定される。In the function module storage section 76, a timer 161 as a function module which is a time measuring device in the expansion function module section 160 is set.
【0028】残りの機能モジュール格納部71〜75に
は、拡張用機能モジュール部60に格納されている機能
モジュール61〜68の中、いずれかが基本モジュール
部36により選択されて設定される。In the remaining function module storage sections 71 to 75, one of the function modules 61 to 68 stored in the expansion function module section 60 is selected and set by the basic module section 36.
【0029】この場合、機能モジュール61は、12ビ
ットのAD変換器の機能を制御するためのモジュールで
あり、AD変換機能制御Aモジュール61ともいう。機
能モジュール62は、16ビットのAD変換器の機能を
制御するためのモジュールであり、AD変換機能制御B
モジュール62ともいう。機能モジュール63は、12
ビットのカウンタの機能を制御するためのモジュールで
あり、CNT機能制御Aモジュール63ともいう。機能
モジュール64は、16ビットのカウンタの機能を制御
するためのモジュールであり、CNT機能制御Bモジュ
ール64ともいう。機能モジュール65は、入力8ビッ
トデータを2個のBCDデータに変換するためのモジュ
ールであり、BCD変換機能制御Aモジュール65とも
いう。機能モジュール66は、入力16ビットデータを
4個のBCDデータに変換するためのモジュールであ
り、BCD変換機能制御Bモジュール66ともいう。機
能モジュール67は、10進データを8ビットの2進デ
ータ(binary data)に変換するためのモジ
ュールであり、BIN変換機能制御Aモジュール67と
もいう。機能モジュール68は、8ビットのFFTアナ
ライザの機能を制御するためのモジュールであり、FF
T変換機能制御モジュール68ともいう。In this case, the function module 61 is a module for controlling the function of a 12-bit AD converter, and is also referred to as an AD conversion function control A module 61. The function module 62 is a module for controlling the function of the 16-bit AD converter.
Also referred to as module 62. The function module 63
This is a module for controlling the function of the bit counter, and is also referred to as a CNT function control A module 63. The function module 64 is a module for controlling the function of the 16-bit counter, and is also referred to as a CNT function control B module 64. The function module 65 is a module for converting input 8-bit data into two BCD data, and is also referred to as a BCD conversion function control A module 65. The function module 66 is a module for converting input 16-bit data into four BCD data, and is also referred to as a BCD conversion function control B module 66. The function module 67 is a module for converting decimal data into 8-bit binary data, and is also called a BIN conversion function control A module 67. The function module 68 is a module for controlling the function of the 8-bit FFT analyzer.
Also called T conversion function control module 68.
【0030】図2は、機能モジュール61〜68の構成
を示している。機能モジュール61〜68は、それぞ
れ、データ設定部60a、測定開始指令部60b、測定
終了確認部60cおよびデータ取込・物理量変換部(デ
ータ取込部と物理量変換部)60dを有している。FIG. 2 shows the configuration of the function modules 61 to 68. Each of the functional modules 61 to 68 has a data setting unit 60a, a measurement start command unit 60b, a measurement end confirmation unit 60c, and a data acquisition / physical quantity conversion unit (data acquisition unit and physical quantity conversion unit) 60d.
【0031】データ設定部60aには、測定用基板22
〜25の機能を制御するための、例えば、測定速度、測
定時間、測定チャンネル、測定レンジ等の測定条件が設
定されるとともに、データ取込・物理量変換部60dに
データを取り込む際に、データを所望の物理量データに
変換するための物理量変換手法(物理量変換式や物理量
変換ルックアップテーブル)が必要に応じて設定され
る。The data setting unit 60a includes the measurement substrate 22
For example, measurement conditions such as a measurement speed, a measurement time, a measurement channel, a measurement range, and the like for controlling the functions of ~ 25 are set, and when the data is taken into the data acquisition / physical quantity conversion unit 60d, the data is acquired. A physical quantity conversion method (physical quantity conversion formula or physical quantity conversion lookup table) for converting to desired physical quantity data is set as necessary.
【0032】測定開始指令部60bは、測定用基板22
〜25に対して測定の開始指令を発行する部分である。
この場合、測定の開始指令は、AD基板22、25やF
FT基板23に対しては、AD・FFT各変換の開始指
令となり、カウンタ基板24に対しては、ラッチ指令、
すなわち測定終了指令となる。The measurement start command section 60b is connected to the measurement board 22.
This is a part for issuing a measurement start command to.
In this case, the measurement start command is issued to the AD boards 22, 25 and F
For the FT board 23, a command to start AD / FFT conversion is issued. For the counter board 24, a latch command,
That is, it is a measurement end command.
【0033】測定終了確認部60cは、AD基板22、
25やFFT基板23に対しては、測定の完了(終了)
を確認する部分であり、カウンタ基板24に対しては、
何も処理を行わない、いわゆるダミーの設定とされる。The measurement end confirmation section 60c is provided for the AD board 22,
Completion (end) of measurement for 25 and FFT substrate 23
Is a part for checking the counter substrate 24.
This is a so-called dummy setting in which no processing is performed.
【0034】データ取込・物理量変換部60dは、測定
が終了したデータを測定用基板22〜25から機能モジ
ュール格納部71〜74を介して取り込み、基本モジュ
ール部36に接続されるデータ記憶部84に格納させる
ものである。なお、データ取込・物理量変換部60d
は、データを取り込む際に、併せて前記物理量変換手法
に基づき所望の物理量データに変換してデータ記憶部8
4にデータを格納させる機能を有する。The data fetching / physical quantity conversion unit 60d fetches the data whose measurement has been completed from the measurement substrates 22 to 25 via the function module storage units 71 to 74, and the data storage unit 84 connected to the basic module unit 36. Is stored. The data acquisition / physical quantity conversion unit 60d
Is used to convert data into desired physical quantity data based on the physical quantity conversion method when data is taken in.
4 has a function of storing data.
【0035】図3は、残りの機能モジュールであるタイ
マ(機能モジュールともいう。)161の構成を示して
いる。タイマ161は、計時開始条件、計時期間等の計
時条件を設定する計時条件設定部160aと、計時開始
を指令する計時開始部160bと、計時時間をリアルタ
イムで確認する計時確認部160cとを有している。FIG. 3 shows the configuration of a timer (also referred to as a functional module) 161 as the remaining functional module. The timer 161 has a timekeeping condition setting unit 160a for setting timekeeping conditions such as a timekeeping start condition and a timekeeping period, a timekeeping start unit 160b for instructing timekeeping start, and a timekeeping confirmation unit 160c for checking the timekeeping time in real time. ing.
【0036】機能モジュール61〜68、161の機能
モジュール格納部71〜76への設定とデータ設定部6
0aへのデータの設定は、基本モジュール部36に接続
されたキーボードとマウスおよびCRT等のディスプレ
イを有する設定入力装置80を操作することにより行わ
れる。なお、測定対象部品14に対する信号同時測定装
置31による測定の開始は、実行開始スイッチ82の操
作により行われる。Setting of function modules 61 to 68 and 161 in function module storage units 71 to 76 and data setting unit 6
The setting of the data to 0a is performed by operating the setting input device 80 having a keyboard, a mouse, and a display such as a CRT connected to the basic module unit 36. Note that the measurement of the measurement target component 14 by the signal simultaneous measurement device 31 is started by operating the execution start switch 82.
【0037】図4は、図1に示した信号同時測定装置3
1中、基本モジュール部36の構成を示しており、基本
モジュール部36には、測定用基板22〜25に共通の
内容である、基板・モジュール選択用モジュール36
a、サンプリング速度・測定時間設定用モジュール36
b、トリガ機能条件設定用モジュール36c、基板・モ
ジュール管理用モジュール36d、時間管理用モジュー
ル36e、データ管理用モジュール36fが含まれてい
る。FIG. 4 shows the signal simultaneous measuring device 3 shown in FIG.
1, the configuration of a basic module unit 36 is shown. The basic module unit 36 has a module / module selection module 36 which is common to the measurement substrates 22 to 25.
a, Sampling speed / measurement time setting module 36
b, a trigger function condition setting module 36c, a board / module management module 36d, a time management module 36e, and a data management module 36f.
【0038】基板・モジュール選択用モジュール36a
は、測定用基板22〜25に対して機能モジュール61
〜68の中、対応するものを選択して、機能モジュール
格納部71〜74に設定するためのものである。Module 36a for substrate / module selection
Is a functional module 61 with respect to the measurement substrates 22 to 25.
6868 is to select a corresponding one and set it in the function module storage units 711〜74.
【0039】サンプリング速度・測定時間設定用モジュ
ール36bは、機能モジュール61〜68のデータ設定
部60aに、サンプリング速度等の測定速度やサンプリ
ング時間等の測定時間を設定するためのものである。The sampling speed / measurement time setting module 36b is for setting the measurement speed such as the sampling speed and the measurement time such as the sampling time in the data setting section 60a of the function modules 61 to 68.
【0040】トリガ機能条件設定用モジュール36c
は、スタートトリガ(開始トリガ)とエンドトリガ(終
了トリガ)をデータ設定部60aに設定するためのもの
である。Trigger function condition setting module 36c
Is for setting a start trigger (start trigger) and an end trigger (end trigger) in the data setting unit 60a.
【0041】基板・モジュール管理用モジュール36d
は、機能モジュール格納部71〜76に設定されたデー
タに矛盾がないか等を管理するためのものである。Board / Module Management Module 36d
Is for managing whether or not the data set in the function module storage units 71 to 76 is consistent.
【0042】時間管理用モジュール36eは、上述のサ
ンプリング速度等の測定速度および測定時間を管理する
ためのものである。The time management module 36e manages the measurement speed such as the sampling speed and the measurement time.
【0043】さらに、データ管理用モジュール36f
は、各測定用基板22〜25から機能モジュール格納部
71〜74を介して取得したデータを管理するためのも
のである。Further, the data management module 36f
Is for managing data acquired from the measurement boards 22 to 25 via the function module storage units 71 to 74.
【0044】次に、上述の実施の形態の動作について、
図5に示すフローチャートをも参照して説明する。な
お、このフローチャートの制御主体は、基本モジュール
部36である。Next, the operation of the above embodiment will be described.
This will be described with reference to the flowchart shown in FIG. The control entity of this flowchart is the basic module unit 36.
【0045】まず、準備段階として、測定対象部品14
に接続されたセンサ16〜18と測定器19の出力側に
所望の測定用基板22〜25を接続する。この場合、測
定用基板22〜25は、信号同時測定装置31の入出力
ポート41〜45中の任意のものを選択することができ
る。First, as a preparation stage, the part 14 to be measured
The desired measurement substrates 22 to 25 are connected to the outputs of the sensors 16 to 18 and the measuring device 19 connected to the measuring device 19. In this case, any of the input / output ports 41 to 45 of the signal simultaneous measurement device 31 can be selected as the measurement substrates 22 to 25.
【0046】次に、設定入力装置80により、基本モジ
ュール部36の基板・モジュール選択用モジュール36
aの制御下に測定用基板22、23、24、25にそれ
ぞれ対応するAD変換機能制御Aモジュール61、FF
T変換機能制御モジュール68、CNT機能制御Aモジ
ュール63およびAD変換機能制御Bモジュール62
と、タイマ161を選択し、選択した機能モジュール6
1〜63、68およびタイマ161を、それぞれ、機能
モジュール格納部71〜74および機能モジュール格納
部76に設定する(ステップS11)。Next, the setting / input device 80 allows the board / module selection module 36 of the basic module section 36 to be set.
a conversion function control A modules 61 and FFs respectively corresponding to the measurement substrates 22, 23, 24 and 25 under the control of
T conversion function control module 68, CNT function control A module 63, and AD conversion function control B module 62
And the timer 161, and the selected function module 6
1 to 63, 68 and the timer 161 are set in the function module storage units 71 to 74 and the function module storage unit 76, respectively (step S11).
【0047】次に、サンプリング速度・測定時間設定用
モジュール36bにより機能モジュール格納部71〜7
4に格納された、AD変換機能制御Aモジュール61、
FFT変換機能制御モジュール68、CNT機能制御A
モジュール63およびAD変換機能制御Bモジュール6
2のサンプリング速度、測定時間を機能モジュール6
1、68、63、62の各データ設定部60aに設定す
る(ステップS12)。Next, the function module storage units 71 to 7 are operated by the sampling speed / measurement time setting module 36b.
4, the A / D conversion function control A module 61,
FFT conversion function control module 68, CNT function control A
Module 63 and AD conversion function control B module 6
Function module 6 for sampling speed and measurement time of 2
The data is set in each of the data setting units 60a of 1, 68, 63, and 62 (step S12).
【0048】次に、機能モジュール格納部76に格納さ
れたタイマ161を初期化するとともに、ステップS1
2で入力されたサンプリング速度と測定時間とからサン
プリング回数(測定時間/サンプリング速度)を計算す
る(ステップS13)。Next, the timer 161 stored in the function module storage section 76 is initialized, and at step S1
The number of times of sampling (measurement time / sampling speed) is calculated from the sampling speed and the measurement time input in step 2 (step S13).
【0049】次に、機能モジュール格納部71〜74に
格納された、AD変換機能制御Aモジュール61、FF
T変換機能制御モジュール68、CNT機能制御Aモジ
ュール63およびAD変換機能制御Bモジュール62を
通じて、測定用基板22〜25に対して必要な初期化を
実行する(ステップS14)。このとき、機能モジュー
ル61、68、63、62の各データ設定部60aを通
じて、測定用基板22〜25が実際に接続されているか
どうかの存在確認処理、測定用基板22〜25のそれぞ
れの感度等の変換レンジ、入力結合等の入力モード等の
変換モードの設定処理、および測定用基板22〜25の
出力データのクリア処理等が行われる。Next, the A / D conversion function control A module 61 and FF stored in the function module storage units 71 to 74
Through the T conversion function control module 68, the CNT function control A module 63, and the AD conversion function control B module 62, necessary initialization is performed on the measurement substrates 22 to 25 (step S14). At this time, through the respective data setting units 60a of the function modules 61, 68, 63, and 62, the existence confirmation processing of whether or not the measurement substrates 22 to 25 are actually connected, the sensitivity of each of the measurement substrates 22 to 25, and the like are performed. , A conversion mode setting process such as an input mode such as an input coupling, a clearing process of output data of the measurement substrates 22 to 25, and the like.
【0050】このような初期設定のもとに、測定対象部
品14を作動させた後、実行開始スイッチ82を手動ま
たは自動操作することで、タイマ161によるサンプリ
ング速度の計時を開始させる(ステップS15)。After operating the measurement target component 14 based on such initial settings, the execution start switch 82 is manually or automatically operated to start measuring the sampling speed by the timer 161 (step S15). .
【0051】同時に、機能モジュール格納部71〜74
に格納されている夫々のモジュールであるAD変換機能
制御Aモジュール61、FFT変換機能制御モジュール
68、CNT機能制御Aモジュール63およびAD変換
機能制御Bモジュール62の各モジュールの測定開始指
令部60bを通じて各対応した測定用基板22〜25に
対して、機能モジュール61、68、63、62の各測
定開始指令部60bを通じて測定開始指令が送出される
(ステップS16)。この測定開始指令により、AD基
板22、25によるセンサ16の出力および測定器19
の出力に対してのAD変換が開始される。同時に、FF
T基板23によるセンサ17の出力に対するFFT処理
が開始される。また、同時に、カウンタ基板24の出力
がラッチされる。At the same time, the function module storage units 71 to 74
The A / D conversion function control A module 61, the FFT conversion function control module 68, the CNT function control A module 63, and the A / D conversion function control B module 62 which are the modules stored in A measurement start command is sent to the corresponding measurement boards 22 to 25 through the respective measurement start command units 60b of the function modules 61, 68, 63, and 62 (step S16). By the measurement start command, the output of the sensor 16 by the AD boards 22 and 25 and the measuring device 19
A / D conversion is started for the output of. At the same time, FF
The FFT processing on the output of the sensor 17 by the T substrate 23 is started. At the same time, the output of the counter substrate 24 is latched.
【0052】次いで、機能モジュール61、68、6
3、62の各測定終了確認部60cを通じて、あるサン
プリング時点(この場合には最初のサンプリング時点)
でのAD変換の終了およびFFT処理の終了が確認され
る(ステップS17)。なお、カウンタ基板24は、出
力がラッチされることで処理が終了するので、終了確認
処理はダミーの処理となる。Next, the function modules 61, 68, 6
A certain sampling point (in this case, the first sampling point) through each measurement end confirmation unit 60c of 3 and 62
The end of the AD conversion and the end of the FFT process are confirmed (step S17). The counter substrate 24 ends the process when the output is latched, and thus the end confirmation process is a dummy process.
【0053】このようにして同時に取得されたデータ
が、機能モジュール格納部71〜74に格納された、A
D変換機能制御Aモジュール61、FFT変換機能制御
モジュール68、CNT機能制御Aモジュール63およ
びAD変換機能制御Bモジュール62のデータ取込・物
理量変換部60dにより物理量(温度、圧力値等)に変
換され、時系列的にデータ記憶部84に対応付けて取り
込まれる(ステップS18)。The data obtained simultaneously in this manner is stored in the functional module storage units 71 to 74.
The data conversion / physical quantity converter 60d of the D conversion function control A module 61, FFT conversion function control module 68, CNT function control A module 63, and AD conversion function control B module 62 converts the data into physical quantities (temperature, pressure values, etc.). Are chronologically taken into the data storage unit 84 (step S18).
【0054】次に、サンプリング速度の計時終了が確認
され(ステップS19)、計時が終了していた場合に
は、サンプリング回数が確認され(ステップS20)、
ステップS13で計算されたサンプリング回数となるま
で、ステップS15〜ステップS20の処理を繰り返し
て、機能モジュール61、68、63、62の各測定終
了確認部60cを通じて測定を終了する。Next, it is confirmed that the timing of the sampling speed has been completed (step S19). If the measurement has been completed, the number of times of sampling is confirmed (step S20).
The processes in steps S15 to S20 are repeated until the number of samplings calculated in step S13 is reached, and the measurement is completed through the measurement completion confirmation units 60c of the functional modules 61, 68, 63, and 62.
【0055】なお、ステップS19の判定において、サ
ンプリング速度の計時終了が確認できなかったときに
は、エラー処理、例えば、図示していないディスプレイ
の画面上にそのことを表示して終了する(ステップS2
1)。If it is determined in step S19 that the end of the timing of the sampling speed has not been confirmed, error processing is performed, for example, the fact is displayed on a display screen (not shown), and the processing ends (step S2).
1).
【0056】このように上述の実施の形態によれば、測
定用基板22〜25の機能を制御する複数の機能モジュ
ール(AD変換機能制御Aモジュール等)61〜68を
設け、各種信号を同時に測定する際に、測定用基板22
〜25に対応する機能モジュール61、68、63、6
2を選択し、必要なデータの設定を各データ設定部60
aに対して行い、機能モジュール格納部71〜74の対
応する箇所に設定格納するようにしている。As described above, according to the above-described embodiment, a plurality of function modules (AD conversion function control A module and the like) 61 to 68 for controlling the functions of the measurement substrates 22 to 25 are provided, and various signals are simultaneously measured. When measuring, the measurement substrate 22
Function modules 61, 68, 63, 6 corresponding to .about.25
2 and set the necessary data in each data setting section 60
a, and is set and stored in corresponding locations of the function module storage units 71 to 74.
【0057】このとき、予め準備してある測定用基板2
2〜25では測定できない信号である場合には、必要な
測定用基板を追加し、追加した測定用基板用の機能モジ
ュールが拡張用機能モジュール部60内に存在すればそ
れを使用し、存在しない場合には新たに機能モジュール
を作成して拡張用機能モジュール部60に追加するよう
にしている。At this time, the measurement substrate 2 prepared in advance
If the signal cannot be measured by 2 to 25, a necessary measurement board is added, and if a function module for the added measurement board is present in the extension function module unit 60, it is used and does not exist. In such a case, a new function module is created and added to the expansion function module unit 60.
【0058】このようにすれば、拡張用機能モジュール
部60を変更することのみで、拡張用機能モジュール部
60(機能モジュール61〜68)に共通な部分のプロ
グラムが格納された基本モジュール部36(図4参照)
の内容を変更することなく、種々の信号を同時に測定す
ることが可能になるという効果が達成される。これによ
り、同時に測定が必要な信号の種類に変更が生じた場合
等において、対応する測定用プログラムの開発期間を短
縮することができる。その上、同時に測定する信号の組
合せが変更になった場合でも、配線の接続変更などが不
要であるため、単に、機能モジュール格納部71〜75
に設定する機能モジュール61〜68をソフトウエアに
より変更するだけで測定が可能となる。In this manner, only by changing the extension function module section 60, the basic module section 36 (which stores a program of a part common to the extension function module section 60 (function modules 61 to 68)) is stored. (See Fig. 4)
Thus, it is possible to measure various signals at the same time without changing the content of the signal. This makes it possible to shorten the development period of the corresponding measurement program when the types of signals that need to be measured are changed at the same time. In addition, even when the combination of signals to be measured at the same time is changed, since there is no need to change the connection of the wiring, the function module storage units 71 to 75 are simply provided.
The measurement can be performed only by changing the function modules 61 to 68 set in the software by software.
【0059】図6Aは、上述の実施の形態によるこれら
の効果を、従来技術によるものと対比して一般的に説明
するためのものであり、図6Bは、比較のために図8と
同一のフローチャートを再掲示したものである。FIG. 6A is for generally explaining these effects according to the above-described embodiment in comparison with that of the prior art, and FIG. 6B is the same as FIG. 8 for comparison. The flowchart is re-posted.
【0060】すなわち、この発明によれば、例えば、拡
張用機能モジュール部60に格納されている機能モジュ
ール中、3つの機能モジュールP、Q、Rを機能モジュ
ール格納部71〜75のいずれかに測定用基板22〜2
5に対応して設定格納する(ステップS101〜S10
2)。この際、データ設定部60aに必要なデータの設
定を行う。そして、測定開始指令部60bを通じて、機
能モジュールP、Q、Rによる変換(測定)を開始する
(ステップS104〜S106)。次いで、測定終了確
認部60cを通じて機能モジュールP、Q、Rに基づく
測定を終了する(ステップS107〜S109)。測定
終了後に、データ取込・物理量変換部60dを通じてモ
ジュールP、Q、Rからデータを取り込む。このとき必
要に応じて物理量に変換して取り込む(ステップS11
0〜S112)。That is, according to the present invention, for example, among the function modules stored in the expansion function module section 60, three function modules P, Q, and R are measured in any of the function module storage sections 71 to 75. Substrates 22-2
5 and store them (steps S101 to S10).
2). At this time, necessary data is set in the data setting unit 60a. Then, the conversion (measurement) by the functional modules P, Q, and R is started through the measurement start command unit 60b (steps S104 to S106). Next, the measurement based on the functional modules P, Q, and R is terminated through the measurement termination confirmation unit 60c (Steps S107 to S109). After the measurement is completed, data is taken from the modules P, Q, and R through the data taking / physical quantity conversion unit 60d. At this time, it is converted into a physical quantity and imported as needed (step S11).
0 to S112).
【0061】このようにすれば、測定用基板22〜25
に対応して適合する機能モジュールP、Q、Rのデータ
設定部60a、測定開始指令部60b、測定終了確認部
60cおよびデータ取込・物理量変換部60dの内容の
みを追加変更することで、基本モジュール部36を構成
する各モジュール36a〜36fの内容を変更すること
なく、測定用基板22〜25のさまざまな種類を組み合
わせて、各種の信号を同時に測定することができるとい
う効果が達成される。In this way, the measurement substrates 22 to 25
By adding and changing only the contents of the data setting unit 60a, the measurement start command unit 60b, the measurement end confirmation unit 60c, and the data acquisition / physical quantity conversion unit 60d of the function modules P, Q, and R corresponding to The effect that various signals can be simultaneously measured by combining various types of the measurement substrates 22 to 25 without changing the contents of the modules 36a to 36f constituting the module unit 36 is achieved.
【0062】なお、この発明は、上述の実施の形態に限
らず、この発明の要旨を逸脱することなく、種々の構成
を採り得ることはもちろんである。The present invention is not limited to the above-described embodiment, but can adopt various configurations without departing from the gist of the present invention.
【0063】[0063]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、信号同時測定装置を、基本的には、装置全体を制御
する基本モジュール部と機能モジュール部とに分割して
構成している。このため、測定用基板に応じて機能モジ
ュールの内容を変更することにより、新たな機能を有す
る測定用基板の接続や、測定用基板の機能内容の一部変
更等に柔軟に対処することができるという効果が達成さ
れる。As described above, according to the present invention, the signal simultaneous measuring apparatus is basically divided into a basic module section for controlling the entire apparatus and a functional module section. For this reason, by changing the content of the function module according to the measurement board, it is possible to flexibly cope with connection of the measurement board having a new function, partial change of the function content of the measurement board, and the like. The effect is achieved.
【0064】効果を具体的に説明すると、ユーザの要望
に基づく仕様(測定チャンネル数、測定速度、測定時
間、物理量変換式など)の変更に対して、機能モジュー
ルを変更することにより対処することが可能となり、信
号同時測定装置におけるモジュール作成の柔軟性が向上
するという効果が達成される。To explain the effects in detail, it is possible to cope with a change in specifications (number of measurement channels, measurement speed, measurement time, physical quantity conversion formula, etc.) based on a user's request by changing a function module. This makes it possible to achieve an effect that the flexibility of module creation in the signal simultaneous measurement device is improved.
【0065】結果として、例えば、測定対象部品の変更
に係わる測定用基板の仕様変更に対するモジュールの変
更を、きわめて狭い範囲で行えばよいため、モジュール
の作成工数が著しく低減されるという効果が達成され
る。As a result, for example, it is only necessary to change the module in response to the change of the specification of the measurement board in connection with the change of the component to be measured within a very narrow range, so that the effect of significantly reducing the number of steps for producing the module is achieved. You.
【0066】また、機能モジュールに、所望の物理量デ
ータに変換するための物理量変換手法を設定すること
で、機能モジュールの出力として所望の物理量データを
簡易に取得することができる。Further, by setting a physical quantity conversion method for converting into desired physical quantity data in the functional module, desired physical quantity data can be easily obtained as an output of the functional module.
【図1】この発明の一実施の形態の構成を示すブロック
図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.
【図2】図1例中、タイマ以外の機能モジュールの詳細
な構成を示す線図である。FIG. 2 is a diagram showing a detailed configuration of a functional module other than a timer in the example of FIG. 1;
【図3】図1例中、タイマの機能モジュールの詳細な構
成を示す線図である。FIG. 3 is a diagram showing a detailed configuration of a functional module of a timer in the example of FIG. 1;
【図4】図1例中、基本モジュールの詳細な構成を示す
線図である。FIG. 4 is a diagram showing a detailed configuration of a basic module in the example of FIG. 1;
【図5】図1例の動作説明に供されるフローチャートで
ある。FIG. 5 is a flowchart for explaining the operation of the example in FIG. 1;
【図6】図6Aは、この発明の実施の形態に係る手法の
例を示すフローチャート、図6Bは、従来技術に係るフ
ローチャートである。FIG. 6A is a flowchart illustrating an example of a method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6B is a flowchart according to a conventional technique.
【図7】従来技術の構成を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a conventional technique.
【図8】従来技術の動作説明に供されるフローチャート
である。FIG. 8 is a flowchart provided for explaining the operation of the conventional technique.
14…測定対象部品 16〜18…セン
サ 19…測定器 22〜25…測定
用基板 31…信号同時測定装置 36…基本モジュ
ール部 60…拡張用機能モジュール部 60a…データ設
定部 60b…測定開始指令部 60c…測定終了
確認部 60d…データ取込・物理量変換部 61〜68…機能
モジュール 71〜76…機能モジュール格納部14 ... Measurement target parts 16-18 ... Sensor 19 ... Measuring instrument 22-25 ... Measurement board 31 ... Signal simultaneous measurement device 36 ... Basic module part 60 ... Extension function module part 60a ... Data setting part 60b ... Measurement start command part 60c: Measurement end confirmation unit 60d: Data acquisition / physical quantity conversion unit 61-68: Function module 71-76: Function module storage unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 谷口 慎介 埼玉県狭山市新狭山1−10−1 ホンダエ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 中村 重光 埼玉県狭山市新狭山1−10−1 ホンダエ ンジニアリング株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Shinsuke Taniguchi 1-10-1 Shinsayama, Sayama City, Saitama Prefecture Inside Honda Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Shigemitsu Nakamura 1-10-1 Shinsayama, Sayama City, Saitama Prefecture Hondae Engineering Co., Ltd.
Claims (2)
用基板が、それぞれ一方の側に接続される機能モジュー
ル格納部と、 前記各機能モジュール格納部の他方の側に接続され、装
置全体を制御する基本モジュール部と、 前記基本モジュール部により選択されて前記各機能モジ
ュール格納部に格納される種々の機能モジュールを有す
る拡張用機能モジュール部とを有し、 前記各機能モジュールは、 前記各測定用基板の測定条件を設定するためのデータ設
定部と、 前記各測定用基板の測定を開始させる測定開始指令部
と、 前記各測定用基板の測定の終了を確認する測定終了確認
部と、 測定終了後にデータを取り込むデータ取込部とを有する
ことを特徴とする信号同時測定装置。1. A measurement module connected to each of a plurality of signal sources, a function module storage section connected to one side, and a function module storage section connected to the other side of each function module storage section, and the entire apparatus And an extension function module unit having various function modules that are selected by the basic module unit and stored in the function module storage units. A data setting unit for setting the measurement conditions of the measurement substrate, a measurement start command unit for starting the measurement of each measurement substrate, and a measurement end confirmation unit for confirming the end of the measurement of each measurement substrate, A signal simultaneous measurement device comprising: a data acquisition unit that acquires data after measurement is completed.
て、 前記データ設定部には、データをデータ取込部に取り込
む際に、所望の物理量データに変換するための物理量変
換手法が設定され、 前記データ取込部は、データを取り込む際に、前記物理
量変換手法に基づき所望の物理量データに変換して取り
込むことを特徴とする信号同時測定装置。2. The signal simultaneous measurement device according to claim 1, wherein the data setting unit is provided with a physical quantity conversion method for converting the data into desired physical quantity data when the data is taken into the data acquisition unit. The signal simultaneous measurement device, wherein the data acquisition unit converts the data into desired physical quantity data based on the physical quantity conversion method and takes in the data when acquiring the data.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4383598A JPH11241931A (en) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | Signal simultaneous measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4383598A JPH11241931A (en) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | Signal simultaneous measuring device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11241931A true JPH11241931A (en) | 1999-09-07 |
Family
ID=12674817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4383598A Pending JPH11241931A (en) | 1998-02-25 | 1998-02-25 | Signal simultaneous measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11241931A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109655516A (en) * | 2018-12-31 | 2019-04-19 | 深圳硅基传感科技有限公司 | The test platform of electrochemical parameter |
-
1998
- 1998-02-25 JP JP4383598A patent/JPH11241931A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109655516A (en) * | 2018-12-31 | 2019-04-19 | 深圳硅基传感科技有限公司 | The test platform of electrochemical parameter |
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