JPH11236678A - Apparatus for forming metallic thin film pattern - Google Patents

Apparatus for forming metallic thin film pattern

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JPH11236678A
JPH11236678A JP3935498A JP3935498A JPH11236678A JP H11236678 A JPH11236678 A JP H11236678A JP 3935498 A JP3935498 A JP 3935498A JP 3935498 A JP3935498 A JP 3935498A JP H11236678 A JPH11236678 A JP H11236678A
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JP
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aqueous solution
substrate
mixed
thin film
metal
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Application number
JP3935498A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiro Takagi
良博 高木
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Fujifilm Electronic Materials Co Ltd
Original Assignee
Fujifilm Electronic Materials Co Ltd
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0091Apparatus for coating printed circuits using liquid non-metallic coating compositions
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/18Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
    • H05K3/181Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating
    • H05K3/187Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material by electroless plating means therefor, e.g. baths, apparatus

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for forming metallic thin film patterns capable of inexpensively and easily manufacturing the pattern images of the fine metallic thin films having the high uniformity of the film thickness of the metallic thin films to a high degree with the decreased fluctuations in line width. SOLUTION: This apparatus has an aq. soln. mixing system 10 which has a housing region 11 separately housing an aq. soln. A contg. at least a water-soluble metal compd. and an aq. soln. B contg. a reducing compd. and a mixing region 12 for mixing both aq. solns. and a treatment tray 30 which has a heating section 32 for heating a substrate having the fine resist pattern formed by using a photoresist material on the surface and has a liquid mixture contact means 31 for bringing the aq. soln. mixture supplied from the aq. soln. mixing system 10 into successive contact with the substrate 20 from the prescribed surface side.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子工業分野にお
けるプリント配線基板、半導体の回路、液晶やプラズマ
デスプレーなどのフラット画像表示装置の金属配線で代
表される微細な金属薄膜パターンの作成を行うことがで
きる装置に関するものである。さらに詳しくは高感度で
高解像力のレジストパターンを忠実に再現できる高精度
の金属薄膜パターン形成装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a fine metal thin film pattern typified by a printed wiring board, a semiconductor circuit, and a metal wiring of a flat image display device such as a liquid crystal display or a plasma display in the field of the electronics industry. The present invention relates to a device capable of performing the following. More specifically, the present invention relates to a high-precision metal thin-film pattern forming apparatus capable of faithfully reproducing a resist pattern with high sensitivity and high resolution.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年の電子工業分野においては、プリン
ト配線基板、半導体の電気回路、各種電子画像表示の画
像素子への電気配線などに微細な金属パターンの回路が
用いられる。ディスプレー装置は、大型化の傾向が進ん
でおり、例えばプラズマディスプレーのような大型ディ
スプレー用の電気回路用に適する大型ではあるが、微細
で高密度且つ高速の金属電気回路のパターン作製方法の
早急な開発と改良が要望されている。
2. Description of the Related Art In the recent field of electronics industry, fine metal pattern circuits are used for printed wiring boards, semiconductor electric circuits, electric wiring to image elements for various electronic image displays, and the like. Display devices have been increasing in size, and are large, suitable for use in electric circuits for large displays such as plasma displays. Development and improvement are required.

【0003】微細な金属パターンの回路の形成方法に関
しては、印刷手法の応用や蒸着、スパッタリングなどの
手段が使用されている。印刷法は、パターン状にAgペ
ーストを印刷する例に代表されるように簡易な方法では
あるが、そのパターンの微細化には限界があり、線が細
くなると断線し易いなど寸法精度の不足という弱点があ
る。また蒸着法やスパッタリング法は、フォトレジスト
やドライフィルムなどで微細パターンを形成した後、基
板表面に金属を気相で沈着させて金属回路のパターンを
形成させる方法であるが、装置が高価であることや、大
面積な基板になると金属の沈着膜厚が均一になるように
制御するのが難しいことが弱点である。
With respect to a method of forming a circuit having a fine metal pattern, means such as application of a printing method, vapor deposition, and sputtering are used. The printing method is a simple method typified by an example in which an Ag paste is printed in a pattern, but there is a limit to miniaturization of the pattern. There are weak points. In addition, the vapor deposition method or the sputtering method is a method of forming a fine pattern with a photoresist or a dry film and then depositing a metal in a gas phase on a substrate surface to form a pattern of a metal circuit, but the apparatus is expensive. The weak point is that it is difficult to control the deposited metal thickness to be uniform when the substrate has a large area.

【0004】このように既存の方法では、安価ではある
が、パターニングの精度が悪く欠陥の多いパターンしか
得られない方法か、または精度がよくても小型のパター
ンに限られでしまい、かつ高価な方法かのいずれかで、
パターン回路の精度が高く、大型化が可能で、安価であ
るという3つの要望に応えられる金属パターン生成可能
な装置がなかった。
As described above, the existing method is inexpensive, but the patterning accuracy is poor, and only a pattern with many defects can be obtained. In one of the ways,
There has been no apparatus capable of generating a metal pattern that can meet the three demands of high accuracy of the pattern circuit, large size, and low cost.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記の印刷
法や蒸着、スパッタリング法による金属配線パターン作
製方法の問題点を解決し、金属薄膜の膜厚の均一性が高
く、線幅の変動も少ない高度に微細な金属薄膜のパター
ン画像を安価で簡易に作製できる金属薄膜パターン形成
装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the problems of the above-described method of producing a metal wiring pattern by a printing method, a vapor deposition method, and a sputtering method, and has a high uniformity of the thickness of a metal thin film and a variation in a line width. It is an object of the present invention to provide a metal thin film pattern forming apparatus capable of easily and inexpensively producing a pattern image of a highly fine metal thin film with less.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者は、金属配線を
構成する金属薄線を液・液反応による溶液系からの自発
的還元析出あるいは固・液反応系からの自発的沈析すな
わち無電解メッキによって作製することが安価で高精度
のパターン製作につながると考えて鋭意検討を重ねて本
発明に至った。すなわち、本発明は、次の構成からな
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The inventor of the present invention has proposed a method of spontaneously reductive precipitation of a thin metal wire constituting a metal wiring from a solution system by liquid-liquid reaction or spontaneous precipitation from a solid-liquid reaction system. The inventor of the present invention has conducted intensive studies on the belief that the production by electrolytic plating leads to the production of an inexpensive and highly accurate pattern. That is, the present invention has the following configuration.

【0007】1.少なくとも水溶性金属化合物を含有す
る水溶液と還元性化合物を含有する水溶液とを別々に収
容する収容領域ならびに該両水溶液を混合する混合領域
とを備える水溶液混合系と、フォトレジスト材料を用い
て形成させた微細なレジストパターンを表面に有する基
板を加熱する加熱部を備えかつ前記水溶液混合系から供
給される混合水溶液を、前記基板に対して所定面側から
順次接触させる混合液接触手段を備える処理トレーと、
を備えることを特徴とする金属薄膜パターン形成装置。 2.前記処理トレーでの処理後に基板上に残留する混合
水溶液を除去する洗浄部と、該洗浄後に前記レジストパ
ターン部のみを剥離する剥離部と、を備えることを特徴
とする上記1に記載の金属薄膜パターン形成装置。
[0007] 1. An aqueous solution mixing system including a storage region for separately storing an aqueous solution containing at least a water-soluble metal compound and an aqueous solution containing a reducing compound, and a mixing region for mixing both aqueous solutions, and a photoresist material. Tray having a heating unit for heating a substrate having a fine resist pattern on its surface, and a mixed liquid contacting means for sequentially contacting the mixed aqueous solution supplied from the aqueous solution mixing system with the substrate from a predetermined surface side When,
An apparatus for forming a metal thin film pattern, comprising: 2. The metal thin film according to claim 1, further comprising: a cleaning unit that removes the mixed aqueous solution remaining on the substrate after the processing in the processing tray; and a peeling unit that peels off only the resist pattern portion after the cleaning. Pattern forming device.

【0008】3.前記混合液接触手段は、前記基板の幅
以上な長さを有する部材であって、前記基板に対して前
記混合水溶液を供給する供給口が対面し、且つ基板面に
対してほぼ平行に前記処理トレー上を移動可能に構成さ
れたことを特徴とする上記1又は2に記載の金属薄膜パ
ターン形成装置。 4.前記供給口がスリットに構成されたことを特徴とす
る上記3に記載の金属薄膜パターン形成装置。
[0008] 3. The mixed liquid contacting means is a member having a length equal to or greater than the width of the substrate, and a supply port for supplying the mixed aqueous solution to the substrate faces the processing liquid and the processing liquid is substantially parallel to the substrate surface. 3. The apparatus for forming a metal thin film pattern according to the above 1 or 2, wherein the apparatus is configured to be movable on a tray. 4. 4. The metal thin film pattern forming apparatus according to the above item 3, wherein the supply port is formed as a slit.

【0009】5.少なくとも水溶性金属化合物を含有す
る水溶液と還元性化合物を含有する水溶液と別々に収容
する収容領域ならびに該両水溶液を別々に供給する供給
管とを備える水溶液供給系と、フォトレジスト材料を用
いて形成させた微細なレジストパターンを表面に有する
基板を加熱する加熱部を備えかつ前記水溶液供給系から
供給される各水溶液を、前記基板に対して所定面側から
噴霧して液混合しながら順次接触させる液接触手段を備
える処理トレーと、 6.前記処理トレーでの処理後に基板上に残留する混合
水溶液を除去する洗浄部と、該洗浄後に前記レジストパ
ターン部のみを剥離する剥離部と、を備えることを特徴
とする上記5に記載の金属薄膜パターン形成装置。
[0009] 5. An aqueous solution supply system including a storage area for separately storing an aqueous solution containing at least a water-soluble metal compound and an aqueous solution containing a reducing compound, and a supply pipe for separately supplying both aqueous solutions, and formed using a photoresist material. A heating unit for heating a substrate having a fine resist pattern formed on the surface thereof, and each aqueous solution supplied from the aqueous solution supply system being sprayed from the predetermined surface side to the substrate and brought into contact sequentially while mixing and mixing the liquids 5. a processing tray provided with liquid contact means; The metal thin film according to claim 5, further comprising: a cleaning unit that removes the mixed aqueous solution remaining on the substrate after the processing in the processing tray; and a peeling unit that peels off only the resist pattern portion after the cleaning. Pattern forming device.

【0010】ここで、本発明の作用を説明する。上記水
溶液混合系では、少なくとも水溶性金属化合物を含有す
る水溶液と還元性化合物を含有する水溶液とを別々に収
容する収容領域ならびに該両水溶液をアルカリ性水溶液
(金属沈析用処理液と呼ぶこともある)として混合す
る。そして、予めレジストパターンが形成された上記基
板に対して、処理トレー上で上記混合液を混合液接触手
段により所定面側から順次接触させて適用する。この
後、この処理トレーに備えられた加熱部により所定温度
にまで加熱し、それによって金属沈析が主に基板上で金
属パターンを形成するように開始する。
Here, the operation of the present invention will be described. In the aqueous solution mixed system, a storage area for separately storing at least an aqueous solution containing a water-soluble metal compound and an aqueous solution containing a reducing compound, and both aqueous solutions are referred to as alkaline aqueous solutions (sometimes referred to as a metal precipitation treatment liquid). ). Then, the mixed solution is applied to the substrate on which the resist pattern is formed in advance from a predetermined surface side by a mixed solution contact means on a processing tray. Thereafter, the processing tray is heated to a predetermined temperature by a heating unit provided on the processing tray, whereby metal precipitation starts to form a metal pattern mainly on the substrate.

【0011】この温度は室温〜90°Cの範囲のそれぞ
れの酸化・還元系の適した温度で行われる。また、処理
時間もそれに応じて適当な時間が選ばれる。通常数秒以
上で10分以内程度に金属沈析完了となるような反応条
件が選択されるのが好ましい。処理時間が短すぎるの
は、金属沈析液の活性が強すぎることを示しており、こ
のような場合には基板でない部分にも金属が沈析した
り、金属沈析液の中で金属微粒子が析出したりする。金
属沈析液の活性は、以下に記載する水溶性金属化合物、
錯形成化合物、還元剤のそれぞれの濃度や溶液のpHを
調節することによって沈析速度を調節できる。金属パタ
ーンの形成の後の洗浄後、レジストのパターンを剥離液
で剥離して、微細な金属薄膜パターンを完成させる。上
記の自然な沈析によって金属パターンが形成される条件
は、水溶性金属化合物と還元剤とを含有する水溶液であ
って、還元剤の酸化電位が水溶性金属化合物の還元電位
よりも卑(低電位)であることである。
This temperature is in the range from room temperature to 90 ° C. at a suitable temperature for each oxidation and reduction system. An appropriate time is also selected for the processing time. Usually, it is preferable to select reaction conditions such that the metal precipitation is completed within about 10 minutes within several seconds or more. If the treatment time is too short, it indicates that the activity of the metal precipitant is too strong.In such a case, the metal is precipitated on a portion other than the substrate, or the metal fine particles are contained in the metal precipitant. Precipitates. The activity of the metal precipitant is the water-soluble metal compound described below,
The precipitation rate can be adjusted by adjusting the respective concentrations of the complex forming compound and the reducing agent and the pH of the solution. After washing after the formation of the metal pattern, the resist pattern is stripped with a stripper to complete a fine metal thin film pattern. The condition under which the metal pattern is formed by the natural precipitation is an aqueous solution containing a water-soluble metal compound and a reducing agent, and the oxidation potential of the reducing agent is lower (lower) than the reduction potential of the water-soluble metal compound. Potential).

【0012】本発明の対象となる水溶性金属化合物は、
金属パターンとして使用できる金属ならいずれでもよ
い。つまり後に述べるように、希望する金属を沈析させ
る条件は還元剤とpHの選定によって調節できるので、
導電性回路として実用性のある金属の化合物ならいずれ
でも本発明の対象となる。
The water-soluble metal compound to be used in the present invention is:
Any metal can be used as the metal pattern. In other words, as described later, the conditions for precipitating the desired metal can be adjusted by selecting the reducing agent and the pH.
Any metal compound that is practical as a conductive circuit is an object of the present invention.

【0013】次に本発明の水溶性金属化合物に適用でき
る金属酸化物に付いて説明する。多数の還元性化合物の
中から還元剤を選定すること、あるいは選定した上でそ
の酸化電位を整えることは比較的容易であるので、金属
化合物の選定には、上記したような金属パターンの実用
目的に照らして適切な任意の金属の金属化合物を用いる
ことが可能である。実用価値があって本発明の適用対象
として好都合な金属は、電気抵抗が少なく、かつ腐食し
にくい安定な金属であり、したがって本発明に好ましく
適用できる水溶性金属化合物を構成する金属元素は、そ
のイオン化傾向がクロミウム元素よりも低い、つまり貴
であるものである。これらの金属元素にはクロミウム、
コバルト、ニッケル、錫、チタン、鉛、鉄(III)、銅、
モリブデン、タングステン、ロジウム、イリジウム、パ
ラジウム、水銀、銀、白金、金である。
Next, the metal oxide applicable to the water-soluble metal compound of the present invention will be described. Since it is relatively easy to select a reducing agent from among a large number of reducing compounds, or to adjust the oxidation potential after selection, the practical purpose of the metal pattern as described above is used in selecting a metal compound. It is possible to use metal compounds of any suitable metal in light of the above. Metals that have practical value and are suitable for the application of the present invention are stable metals having low electric resistance and hard to corrode. It has a lower ionization tendency than the chromium element, that is, is noble. These metal elements include chromium,
Cobalt, nickel, tin, titanium, lead, iron (III), copper,
Molybdenum, tungsten, rhodium, iridium, palladium, mercury, silver, platinum and gold.

【0014】その中でも特に好ましい金属化合物を構成
する金属元素は、銀、銅、ニッケル、鉛、パラジュウ
ム、金、白金、タングステン、チタン、コバルト、クロ
ミウムであり、より好ましいのは、電気抵抗の低さ、酸
化に対する安定性、微細な金属回路を形成する際の強靱
性や柔軟性などの実用上の必要特性をすべて満たしてい
る金、銀及び銅である。
Among these, particularly preferred metal elements constituting the metal compound are silver, copper, nickel, lead, palladium, gold, platinum, tungsten, titanium, cobalt, and chromium. Gold, silver and copper satisfy all practical requirements such as stability against oxidation, toughness and flexibility in forming fine metal circuits.

【0015】次に水溶性金属化合物と組み合わせられる
還元剤について説明する。還元剤の条件としては、当該
水溶液の系における組み合わせられる金属化合物の還元
電位よりも還元剤の酸化電位が卑であることであるが、
その実際的な意味は、金属化合物の還元波の極大電位よ
りも還元性化合物の酸化波の極大電位が負側(卑側)で
あることである。より好ましくは、金属化合物の還元電
位は還元性化合物の酸化電位より少なくとも20mv以
上貴であることがよい。この還元剤の具体例としては、 (1)糖類及び炭水化物 糖類やそれが重合した形の澱粉を始めとする炭水化物
は、本発明には好適な還元剤である。本来その還元性は
齢と考えられているが、アルカリ性の環境ではその還元
性は貴金属塩や重金属塩を十分に還元する。しかも高濃
度に存在させることができて還元反応が均一に進行する
ので微細なパターンでも精度よく形成指せることが可能
である。好ましい化合物としてはデキストリン類が挙げ
られるが、その他の単糖類、多糖類を使用することもで
きる。 (2)アルデヒド類 フェーリング溶液の例から考えられるように本発明に用
いる還元剤としては、アルデヒドも使用できる。 (3)現像主薬 写真用現像主薬として知られている、ハイドロキノン
類、カテコール類、カテコール類等が使用される。この
現像主薬と付随して、錯形成化合物が使用される。この
銀イオンに対する錯形成性化合物に関しては、T.H.Jame
s 著「The theoryof photographic processes 4th ed.
(McMillan 社) 」の8 〜11頁に記載されている。
Next, the reducing agent combined with the water-soluble metal compound will be described. The condition of the reducing agent is that the oxidation potential of the reducing agent is lower than the reduction potential of the metal compound to be combined in the aqueous solution system,
The practical meaning is that the maximum potential of the oxidation wave of the reducing compound is more negative (base side) than the maximum potential of the reduction wave of the metal compound. More preferably, the reduction potential of the metal compound is more noble than the oxidation potential of the reducing compound by at least 20 mv. Specific examples of the reducing agent include: (1) Saccharides and carbohydrates Saccharides and carbohydrates such as starch in a polymerized form thereof are suitable reducing agents in the present invention. Originally, its reducing property is considered to be age, but in an alkaline environment, its reducing property sufficiently reduces noble metal salts and heavy metal salts. In addition, since it can be present at a high concentration and the reduction reaction proceeds uniformly, it is possible to accurately form even a fine pattern. Preferred compounds include dextrins, but other monosaccharides and polysaccharides can also be used. (2) Aldehydes As can be considered from examples of Fehling's solution, aldehydes can be used as the reducing agent used in the present invention. (3) Developing agents Hydroquinones, catechols, catechols and the like, which are known as photographic developing agents, are used. In conjunction with this developing agent, a complex forming compound is used. Regarding the complexing compound for this silver ion, THJame
s, The theory of photographic processes 4th ed.
(McMillan) "on pages 8-11.

【0016】ここで、水溶性金属化合物の水溶液、還元
剤のアルカリ水溶液、あるいは両者が混合した組成の金
属沈析用処理液とも呼ぶアルカリ水溶液には、適当なp
Hとするためのアルカリ剤及び必要に応じてそのpHを
安定に維持するためのpH緩衝剤が添加される。アルカ
リ剤あるいは緩衝剤としては、アルカリ金属水酸化物、
アルカリ土類金属水酸化物、炭酸塩、リン酸塩、ホウ酸
塩、四ホウ酸塩、ヒドロキシ安息香酸塩、グリシル塩、
N,N−ジメチルグリシン塩、ロイシン塩、ノルロイシ
ン塩、グアニン塩、3,4−ジヒドロキシフェニルアラ
ニン塩、アラニン塩、アミノ酪酸塩、2−アミノ−2−
メチル−1, 3−プロパンジオール塩、バリン塩、プロ
リン塩、トリスヒドロキシアミノメタン塩、リシン塩な
どを用いることができる。特に炭酸塩、リン酸塩、四ホ
ウ酸塩、ヒドロキシ安息香酸塩は、pH 9.0以上の高pH領
域での緩衝能に優れている。
Here, an aqueous solution of a water-soluble metal compound, an alkaline aqueous solution of a reducing agent, or an alkaline aqueous solution also called a treating solution for metal precipitation having a composition in which both are mixed, have an appropriate pH value.
An alkali agent for adjusting to H and, if necessary, a pH buffering agent for maintaining the pH stably are added. As the alkali agent or buffer, alkali metal hydroxide,
Alkaline earth metal hydroxides, carbonates, phosphates, borates, tetraborates, hydroxybenzoates, glycyl salts,
N, N-dimethylglycine salt, leucine salt, norleucine salt, guanine salt, 3,4-dihydroxyphenylalanine salt, alanine salt, aminobutyrate, 2-amino-2-
Methyl-1,3-propanediol salt, valine salt, proline salt, trishydroxyaminomethane salt, lysine salt and the like can be used. In particular, carbonate, phosphate, tetraborate, and hydroxybenzoate have excellent buffering capacity in a high pH region of pH 9.0 or more.

【0017】水溶性金属化合物と還元剤を含み、さらに
好ましくは金属に対する錯形成剤をも含んでいるアルカ
リ性水溶液には、さらに金属の沈析を均一かつ円滑に進
め、形成される金属パターンの精度を向上させるために
界面活性剤を添加することができる。界面活性剤類は、
水溶液と基板材料との接触角を低下させるものであれ
ば、ノニオン系及びアニオン系(いずれも両性を含
む)、あるいはカチオン系のいずれの界面活性剤でもよ
い。また、水溶性高分子を添加してもよい。
In an alkaline aqueous solution containing a water-soluble metal compound and a reducing agent, and more preferably also containing a complexing agent for the metal, the precipitation of the metal is further promoted uniformly and smoothly, and the precision of the formed metal pattern is improved. A surfactant can be added to improve the viscosity. Surfactants,
Any nonionic, anionic (both amphoteric), or cationic surfactants may be used as long as they reduce the contact angle between the aqueous solution and the substrate material. Further, a water-soluble polymer may be added.

【0018】基板としては、ガラス基板、シリコンウエ
ファ−、プラスチック基板が用いられる。ガラス基板
は、通常のソーダガラスのほか、目的に応じて各種の光
学ガラス、耐熱ガラスなど既知のガラスを用いることが
できる。
As the substrate, a glass substrate, a silicon wafer, or a plastic substrate is used. As the glass substrate, besides ordinary soda glass, various kinds of known glass such as optical glass and heat-resistant glass can be used according to the purpose.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る金属薄膜パタ
ーン形成装置の実施の形態について説明する。なお、図
1は本発明に係る金属薄膜パターン形成装置の第1の実
施の形態を示す概略図である。図2は、図1における接
触手段の裏面を示すための要部拡大斜視図である。図3
は、本発明に係る金属薄膜パターン形成装置における第
2の実施の形態にを示す概略図である。図4は、図3に
おける接触手段の裏面を示すための要部拡大斜視図であ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a metal thin film pattern forming apparatus according to the present invention will be described below. FIG. 1 is a schematic view showing a first embodiment of a metal thin film pattern forming apparatus according to the present invention. FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main part showing a back surface of the contact unit in FIG. FIG.
FIG. 2 is a schematic view showing a second embodiment of the metal thin film pattern forming apparatus according to the present invention. FIG. 4 is an enlarged perspective view of a main part showing a back surface of the contact unit in FIG.

【0020】(第1の実施の形態)本実施の形態の金属
薄膜パターン形成装置1は、図1に示すように、水溶液
混合系10と、処理トレー20と、洗浄部40と、剥離
部50とを有している。水溶液混合系10は、水溶性金
属化合物を含有する水溶液Aと還元性化合物を含有する
水溶液Bと別々に収容する収容領域11を有し、この両
水溶液A,Bは、適宜配管14,15を介して混合領域
12に供給され、この供給領域12にて、両水溶液A,
Bが混合される。
(First Embodiment) As shown in FIG. 1, a metal thin film pattern forming apparatus 1 of the present embodiment comprises an aqueous solution mixing system 10, a processing tray 20, a cleaning unit 40, and a peeling unit 50. And The aqueous solution mixing system 10 has a storage area 11 for separately storing an aqueous solution A containing a water-soluble metal compound and an aqueous solution B containing a reducing compound. The aqueous solution A is supplied to the mixing region 12 through the supply region 12.
B is mixed.

【0021】処理トレー20は、フォトレジスト材料を
用いて形成させた微細なレジストパターンを表面に有す
る一枚の基板20を加熱する加熱部32を備えている。
この加熱部32は、一枚の基板20の裏側に接近して設
けられており、該基板20を、金属薄膜の形成に適した
温度に、性格かつ迅速にするための加熱手段である。さ
らにまた、前記水溶液混合系10から供給される混合水
溶液を、基板20に対して所定面側において移動(矢印
X方向の移動)しながら順次接触させる混合液接触手段
31を備えている。
The processing tray 20 has a heating unit 32 for heating one substrate 20 having a fine resist pattern formed on the surface thereof using a photoresist material.
The heating unit 32 is provided close to the back side of one substrate 20, and is a heating means for rapidly and precisely setting the substrate 20 to a temperature suitable for forming a metal thin film. Further, there is provided a mixed liquid contact means 31 for sequentially bringing the mixed aqueous solution supplied from the aqueous solution mixing system 10 into contact with the substrate 20 while moving (moving in the direction of the arrow X) on the predetermined surface side.

【0022】洗浄部40は、処理トレー30での処理後
に基板20上に残留する混合水溶液を除去するための洗
浄構造を有していれば、例えば、水洗層に水が溜められ
た構成や、洗浄水をシャワーのように供給する構成など
適宜構成を採用することができる。
If the cleaning section 40 has a cleaning structure for removing the mixed aqueous solution remaining on the substrate 20 after the processing in the processing tray 30, for example, a structure in which water is stored in a water washing layer, An appropriate configuration such as a configuration in which washing water is supplied like a shower can be adopted.

【0023】剥離部50は、レジストパターンを剥離す
る領域であり、例えば剥離液を収容した適宜大きさの剥
離液槽52を備えており、上記洗浄部40によって洗浄
された基板20がパターン形成面を上にしてトレー内に
載置され、剥離液槽52から伸びるノズル54により剥
離液を吹き付けられる。この剥離液の化学反応作用と吹
き付け圧力との相乗作用によりレジストの剥離を実施す
る。
The stripping section 50 is an area where the resist pattern is stripped. The stripping section 50 includes, for example, a stripping solution tank 52 of an appropriate size containing a stripping solution. Is placed in the tray with the top facing upward, and the stripping liquid is sprayed by a nozzle 54 extending from the stripping liquid tank 52. The resist is stripped by the synergistic action of the chemical reaction of the stripping liquid and the blowing pressure.

【0024】ここで混合液接触手段31は、図1に示す
ように、基板20の幅以上の長さを有する部材であっ
て、この基板20に対して混合水溶液を供給する供給口
31aが、図2に示すように対面している。また、混合
液接触手段31は、基板20の面に対してほぼ平行に処
理トレー30上を移動(矢印X方向への移動)可能に適
宜保持(図示せず)されている。なお、X方向への移動
は、図示しない駆動系により適宜行われる。
As shown in FIG. 1, the mixed liquid contact means 31 is a member having a length equal to or greater than the width of the substrate 20, and a supply port 31a for supplying the mixed aqueous solution to the substrate 20 is provided. They are facing as shown in FIG. Further, the mixed solution contacting means 31 is appropriately held (not shown) so as to be movable on the processing tray 30 (moving in the direction of the arrow X) substantially parallel to the surface of the substrate 20. The movement in the X direction is appropriately performed by a drive system (not shown).

【0025】本実施の形態においては、混合液接触手段
31は、図2に示すような例えば、細長い棒状の部材と
して構成することができ、その長手方向に沿って供給口
31aが、スリット状に構成されている。すなわち、配
管16によって供給された混合水溶液は、スリット状の
供給口31aによって、カーテン状の薄い膜となって送
出され、基板20上に供給される。したがって、混合水
溶液は、薄膜形成処理に必要な領域にのみ供給されるの
で、混合水溶液の無駄がなく、効果的な処理を実施する
ことができる。また、両水溶液A,Bは、温度及びpH
のバランスの関係で、混合された時点で若干の金属析出
が発生する場合もあるが、混合されてから直ぐに基板2
0上に供給されるので、金属析出の度合いも小さく、液
の不測の変質や淀みも少なく、従って濃度変化の小さい
水溶液を供給することができる。なお、配管16は、フ
レキシブルな素材にて構成されている。したがって、混
合液接触手段31の移動を許容することができる。
In the present embodiment, the mixed liquid contact means 31 can be constituted, for example, as an elongated rod-shaped member as shown in FIG. 2, and the supply port 31a is formed in a slit shape along the longitudinal direction. It is configured. That is, the mixed aqueous solution supplied by the pipe 16 is sent out as a curtain-like thin film by the slit-like supply port 31 a and supplied onto the substrate 20. Therefore, since the mixed aqueous solution is supplied only to a region required for the thin film forming process, the mixed aqueous solution can be effectively processed without waste. In addition, both aqueous solutions A and B are temperature and pH.
Due to the balance between the two, some metal deposition may occur at the time of mixing, but immediately after mixing, the substrate 2
Since it is supplied above zero, the degree of metal precipitation is small, the unexpected deterioration and stagnation of the liquid are small, and therefore, an aqueous solution with a small concentration change can be supplied. The pipe 16 is made of a flexible material. Therefore, the movement of the mixed liquid contact means 31 can be allowed.

【0026】次に上記の装置1を用いた処理方法につい
て概略説明をする。まず、フォトレジスト材料を用いて
形成させた微細なレジストパターンを表面に有する基板
20を処理トレー30内に置く。これは図示していない
が、基板のアーム搬送、トレー30ごとのコンベヤ搬送
などにより実施される。その後、混合液接触手段31の
位置では、水溶性金属化合物を含有する水溶液Aと還元
性化合物を含有する水溶液Bとを混合した混合水溶液を
混合液接触手段31に供給しながら、該混合液接触手段
31を、基板20に対して相対的に平行に移動させる。
この移動により、基板20の片側面の全面に混合液を接
触させることができる。ここで、加熱部32によりトレ
ー30の下部から所定温度まで昇温し、金属析出を開始
させる。その後、処理トレー30で処理した基板20
を、該処理トレー30から取り出して洗浄部40に移動
し、基板20上に残留する混合水溶液を適宜洗浄除去す
る。その後、洗浄処理された基板20を、レジストパタ
ーンを剥離する剥離部50へと移動し、剥離処理を行
う。このような、操作を順次繰り返すことにより、精度
の高い正確な金属薄膜の形成処理ができる。
Next, a processing method using the above-described apparatus 1 will be briefly described. First, the substrate 20 having a fine resist pattern formed on the surface using a photoresist material is placed in the processing tray 30. Although not shown, this is carried out by arm transfer of the substrate, conveyor transfer for each tray 30 or the like. Thereafter, at the position of the mixed liquid contacting means 31, while supplying the mixed aqueous solution obtained by mixing the aqueous solution A containing the water-soluble metal compound and the aqueous solution B containing the reducing compound to the mixed liquid contacting means 31, The means 31 is moved relatively parallel to the substrate 20.
By this movement, the mixed liquid can be brought into contact with the entire surface of one side surface of the substrate 20. Here, the temperature is raised from the lower part of the tray 30 to a predetermined temperature by the heating unit 32 to start metal deposition. After that, the substrate 20 processed in the processing tray 30
Is removed from the processing tray 30 and moved to the cleaning unit 40, and the mixed aqueous solution remaining on the substrate 20 is appropriately cleaned and removed. After that, the substrate 20 having been subjected to the cleaning process is moved to a peeling section 50 where the resist pattern is peeled, and a peeling process is performed. By repeating such operations sequentially, a highly accurate and accurate metal thin film forming process can be performed.

【0027】(第2の実施の形態)第2の実施の形態の
金属薄膜パターン形成装置13は、図3に示すように、
水溶液供給系70(液接触手段71を含む)と、処理ト
レー20と、洗浄部40と、剥離部50とを有してい
る。なお、本実施の形態において、前掲の第1の実施の
形態と同じ構成部分には同じ符号を付して、説明を適宜
省略する。
(Second Embodiment) As shown in FIG. 3, a metal thin film pattern forming apparatus 13 according to a second embodiment
It has an aqueous solution supply system 70 (including the liquid contact means 71), a processing tray 20, a cleaning unit 40, and a peeling unit 50. Note that, in this embodiment, the same components as those in the above-described first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

【0028】第2の実施の形態において、水溶液供給系
70は、水溶性金属化合物を含有する水溶液Aと還元性
化合物を含有する水溶液Bと別々に収容する収容領域1
1を有し、この両水溶液A,Bは、適宜配管14,15
を介して分配器14A,15Bに供給される。分配器1
4Aには複数の配管60Aが設けられ、この配管60A
が液接触手段71に接続されている。一方、分配器15
Bには複数の配管60Bが設けられ、この配管60B
が、配管60Aと交互に液接触手段71に接続されてい
る。
In the second embodiment, an aqueous solution supply system 70 is provided in an accommodation area 1 for separately containing an aqueous solution A containing a water-soluble metal compound and an aqueous solution B containing a reducing compound.
1, and the two aqueous solutions A, B
Are supplied to the distributors 14A and 15B via the. Distributor 1
4A is provided with a plurality of pipes 60A.
Are connected to the liquid contact means 71. Meanwhile, the distributor 15
B is provided with a plurality of pipes 60B.
Are alternately connected to the liquid contact means 71 with the pipe 60A.

【0029】第2の実施の形態においては、液接触手段
71は、図4に示すような例えば、細長い棒状の部材と
して構成することができ、その長手方向に沿って配管6
0Aに繋がった噴霧口62と配管60Bにつながった噴
霧口63とが交互に配置されている。したがって、各配
管60A,60Bによって供給された両水溶液A,B
は、噴霧口から噴霧されながら混合噴霧液をつくり、こ
の混合噴霧液が基板20上に供給される。基板全面に液
を適用した後に加熱部32により昇温し、金属析出を開
始させる。
In the second embodiment, the liquid contacting means 71 can be constituted, for example, as an elongated rod-like member as shown in FIG.
The spray ports 62 connected to 0A and the spray ports 63 connected to the pipe 60B are arranged alternately. Therefore, the two aqueous solutions A, B supplied by the respective pipes 60A, 60B
Forms a mixed spray liquid while being sprayed from the spray port, and the mixed spray liquid is supplied onto the substrate 20. After the liquid is applied to the entire surface of the substrate, the temperature is raised by the heating unit 32 to start metal deposition.

【0030】このように、基板20に供給される水溶液
は、基板20への水溶液供給と同時にA,B両水溶液が
混合されるので、薄膜形成処理に必要な領域にのみ供給
でき、該水溶液の無駄がなく、効果的な処理を実施する
ことができる。また、両水溶液A,Bは、混合されなが
ら基板20上に供給されるので、液の不測の変質や淀み
が発生することがなく、また濃度変化もなく安定した質
の水溶液を供給することができる。
As described above, since the aqueous solution supplied to the substrate 20 is mixed with the aqueous solutions A and B simultaneously with the supply of the aqueous solution to the substrate 20, the aqueous solution can be supplied only to a region necessary for the thin film forming process. Effective processing can be performed without waste. In addition, since both aqueous solutions A and B are supplied onto the substrate 20 while being mixed, it is possible to supply an aqueous solution of a stable quality without any unexpected alteration or stagnation of the liquid and without a change in concentration. it can.

【0031】ここで、第2の実施の形態では、処理トレ
ー30の下面に配置された加熱部32により昇温を実施
しているが、これ以外にも、液接触手段71に加熱手段
を配置することができる。この様な構成にすると、両水
溶液A,Bは噴射された直後に混合状態となっているの
で、この時点で金属析出を開始することとなる。
Here, in the second embodiment, the temperature is raised by the heating unit 32 disposed on the lower surface of the processing tray 30. In addition, a heating unit is disposed on the liquid contact unit 71. can do. With such a configuration, since the aqueous solutions A and B are in a mixed state immediately after being injected, metal deposition is started at this time.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上のべたように、本発明の請求項1に
係る装置によれば、混合液接触手段が、基板幅に対応す
る混合液の供給口を有し、この混合水溶液を、カーテン
状の薄い膜として排出して基板上に供給できるので、混
合水溶液は、薄膜形成処理に必要な領域にのみ供給さ
れ、該混合水溶液の無駄がなく、効果的な処理を実施す
ることができる。また、両水溶液A,Bが、混合されて
から直ぐに基板上に供給されるので、液の不測の変質や
淀みがなく、また濃度変化もなく安定した質の水溶液を
供給することができる。
As described above, according to the apparatus of the first aspect of the present invention, the mixed liquid contact means has a supply port for the mixed liquid corresponding to the substrate width, and the mixed aqueous solution is supplied to the curtain. Since the thin film can be discharged as a thin film and supplied onto the substrate, the mixed aqueous solution is supplied only to a region necessary for the thin film forming process, and the mixed aqueous solution can be effectively processed without waste. Further, since the two aqueous solutions A and B are supplied to the substrate immediately after being mixed, a stable quality aqueous solution can be supplied without any unexpected alteration or stagnation of the liquid and without a change in concentration.

【0033】さらに、本発明の請求項5に係る装置によ
れば、基板に供給される水溶液は、基板への水溶液供給
と同時にA,B両水溶液が混合されるので、薄膜形成処
理に必要な領域にのみ供給でき、該水溶液の無駄がな
く、効果的な処理を実施することができる。また、両水
溶液A,Bは、混合されながら基板20上に供給される
ので、液の不測の変質や淀みが発生することがなく、ま
た濃度変化もなく安定した質の水溶液を供給することが
できる。したがって、本発明によれば、従来の印刷法や
蒸着、スパッタリング法による金属配線パターン作製方
法の問題点を解決し、金属薄膜の膜厚の均一性が高く、
線幅の変動も少ない高度に微細な金属薄膜のパターン画
像を安価で簡易に作製できる金属薄膜パターン形成装置
を提供することができる。
Further, according to the apparatus according to the fifth aspect of the present invention, since the aqueous solution supplied to the substrate is mixed with the aqueous solutions A and B simultaneously with the supply of the aqueous solution to the substrate, it is necessary for the thin film forming process. The solution can be supplied only to the region, and the effective treatment can be performed without wasting the aqueous solution. In addition, since both aqueous solutions A and B are supplied onto the substrate 20 while being mixed, it is possible to supply an aqueous solution of a stable quality without any unexpected alteration or stagnation of the liquid and without a change in concentration. it can. Therefore, according to the present invention, it is possible to solve the problems of the conventional printing method, vapor deposition, metal wiring pattern manufacturing method by sputtering method, high uniformity of the metal thin film thickness,
It is possible to provide a metal thin film pattern forming apparatus capable of easily and inexpensively forming a pattern image of a highly fine metal thin film with little variation in line width.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る金属薄膜パターン形成装置の第1
の実施の形態にを示す概略図である。
FIG. 1 shows a first example of a metal thin film pattern forming apparatus according to the present invention.
It is a schematic diagram showing an embodiment.

【図2】図1における接触手段の裏面を示すための要部
拡大斜視図である。
FIG. 2 is an enlarged perspective view of a main part showing a back surface of a contact unit in FIG. 1;

【図3】本発明に係る金属薄膜パターン形成装置におけ
る第2の実施の形態にを示す概略図である。
FIG. 3 is a schematic view showing a metal thin film pattern forming apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図3における接触手段の裏面を示すための要部
拡大斜視図である。
FIG. 4 is an enlarged perspective view of a main part showing a back surface of a contact unit in FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,13 金属薄膜パターン形成装置 10 混合系 11 液収容領域 12 混合領域 20 基板 30 加熱部 32 加熱部 31,71 接触手段 40 洗浄部 50 剥離部 70 水溶液供給系 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 13 Metal thin film pattern forming apparatus 10 Mixing system 11 Liquid accommodating area 12 Mixing area 20 Substrate 30 Heating part 32 Heating part 31, 71 Contact means 40 Cleaning part 50 Peeling part 70 Aqueous solution supply system

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも水溶性金属化合物を含有する
水溶液と還元性化合物を含有する水溶液とを別々に収容
する収容領域ならびに該両水溶液を混合する混合領域と
を備える水溶液混合系と、フォトレジスト材料を用いて
形成させた微細なレジストパターンを表面に有する基板
を加熱する加熱部を備えかつ前記水溶液混合系から供給
される混合水溶液を、前記基板に対して所定面側から順
次接触させる混合液接触手段を備える処理トレーと、を
備えることを特徴とする金属薄膜パターン形成装置。
1. An aqueous solution mixing system comprising: a storage region for separately storing an aqueous solution containing at least a water-soluble metal compound and an aqueous solution containing a reducing compound; and a mixing region for mixing both aqueous solutions, and a photoresist material. A mixed solution contacting unit that includes a heating unit that heats a substrate having a fine resist pattern formed on the surface of the substrate, and sequentially contacts a mixed aqueous solution supplied from the aqueous solution mixing system to the substrate from a predetermined surface side And a processing tray comprising means.
【請求項2】 前記処理トレーでの処理後に基板上に残
留する混合水溶液を除去する洗浄部と、該洗浄後に前記
レジストパターン部のみを剥離する剥離部と、を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の金属薄膜パターン形
成装置。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising: a cleaning unit that removes the mixed aqueous solution remaining on the substrate after the processing in the processing tray; and a peeling unit that peels off only the resist pattern portion after the cleaning. 2. The metal thin film pattern forming apparatus according to 1.
【請求項3】 前記混合液接触手段は、前記基板の幅以
上な長さを有する部材であって、前記基板に対して前記
混合水溶液を供給する供給口が対面し、且つ基板面に対
してほぼ平行に前記処理トレー上を移動可能に構成され
たことを特徴とする請求項1又は2に記載の金属薄膜パ
ターン形成装置。
3. The mixed liquid contacting means is a member having a length equal to or greater than the width of the substrate, wherein a supply port for supplying the mixed aqueous solution to the substrate faces, and 3. The metal thin film pattern forming apparatus according to claim 1, wherein the apparatus is configured to be movable on the processing tray substantially in parallel.
【請求項4】 前記供給口がスリットに構成されたこと
を特徴とする請求項3に記載の金属薄膜パターン形成装
置。
4. The apparatus according to claim 3, wherein the supply port is formed as a slit.
【請求項5】 少なくとも水溶性金属化合物を含有する
水溶液と還元性化合物を含有する水溶液と別々に収容す
る収容領域ならびに該両水溶液を別々に供給する供給管
とを備える水溶液供給系と、フォトレジスト材料を用い
て形成させた微細なレジストパターンを表面に有する基
板を加熱する加熱部を備えかつ前記水溶液供給系から供
給される各水溶液を、前記基板に対して所定面側から噴
霧して液混合しながら順次接触させる液接触手段を備え
る処理トレーと、
5. An aqueous solution supply system comprising: a storage area for separately storing an aqueous solution containing at least a water-soluble metal compound and an aqueous solution containing a reducing compound; and a supply pipe for separately supplying both aqueous solutions; A heating unit for heating a substrate having a fine resist pattern formed on the surface thereof using a material is provided, and each aqueous solution supplied from the aqueous solution supply system is sprayed onto the substrate from a predetermined surface side to mix the liquid. A processing tray provided with liquid contact means for sequentially contacting while
【請求項6】 前記処理トレーでの処理後に基板上に残
留する混合水溶液を除去する洗浄部と、該洗浄後に前記
レジストパターン部のみを剥離する剥離部と、を備える
ことを特徴とする請求項5に記載の金属薄膜パターン形
成装置。
6. A cleaning section for removing a mixed aqueous solution remaining on a substrate after processing on the processing tray, and a peeling section for peeling off only the resist pattern section after the cleaning. 6. The metal thin film pattern forming apparatus according to 5.
JP3935498A 1998-02-20 1998-02-20 Apparatus for forming metallic thin film pattern Withdrawn JPH11236678A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009507135A (en) * 2005-08-31 2009-02-19 ラム リサーチ コーポレーション System and method for forming patterned copper wire by electroless copper plating

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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