JPH11214782A - Energy control device of excimer laser device - Google Patents

Energy control device of excimer laser device

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JPH11214782A
JPH11214782A JP10023802A JP2380298A JPH11214782A JP H11214782 A JPH11214782 A JP H11214782A JP 10023802 A JP10023802 A JP 10023802A JP 2380298 A JP2380298 A JP 2380298A JP H11214782 A JPH11214782 A JP H11214782A
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energy
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pulse
oscillation
control
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JP10023802A
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Tomokazu Takahashi
知和 高橋
Shoichi Sakanishi
昇一 坂西
Hiroaki Nakarai
宏明 半井
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Komatsu Ltd
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Komatsu Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an energy control device which is capable of lessening the effects of random surges of energy outputted from an excimer laser, so as to make each pulse energy small in deviation. SOLUTION: This energy control device of an excimer laser device is equipped an output control 10 to control pulse energy via a manner where learning control is carried out in an initial stage of each continuous pulse oscillation when continuous pulse oscillation and interrupt of pulse oscillation made for a prescribed time are alternately carried out, an i-th command voltage Vi is calculated, based on the oscillation result of an i-th pulse in the preceding continuos pulse oscillation, and thereafter each pulse is controlled, a command voltage VI is calculated basing on the immediately preceding oscillation result in the same continuous pulse oscillation to oscillate pulses. The output control 10 adds a correction ΔE calculated based on the deviation of na energy target value Ed from an energy measurement E to the energy target value Ed, and a command voltage VI is calculated basing on the corrected energy target value Edo. The correction ΔE is integrated and obtained through an integrator 20a or a first order lag element 20b.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、主に逐次移動型縮
小投影露光装置(以下、ステッパと呼ぶ)の光源として
用いられ、放電励起によりレーザ発振させるエキシマレ
ーザ装置の出力エネルギーを一定に制御するエネルギー
制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is mainly used as a light source of a successively moving reduction projection exposure apparatus (hereinafter referred to as a "stepper"), and controls the output energy of an excimer laser apparatus which oscillates laser by discharge excitation. The present invention relates to an energy control device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体のウェハ等を露光するステッパ
は、その露光量を一定に制御することが非常に重要であ
る。この露光用の光源としては、最近の半導体回路の高
集積密度の要求に対応するため、エキシマレーザ装置が
広く用いられている。ところが、エキシマレーザ装置
は、いわゆるパルス放電励起ガスレーザであるために、
その発振するレーザ光の1パルス毎のパルスエネルギー
に様々な要因によるばらつきが生じ、この結果露光量が
安定しないという問題がある。したがって、従来から、
ステッパ等に用いられるエキシマレーザ装置では、この
ばらつきを小さくして露光量を一定値に安定化させるた
めに、複数回のパルス発振を連続して行う、いわゆる複
数パルス露光による露光量制御を行うものがある。この
複数パルス露光量制御によって、全体としての露光量ば
らつきを所定値以下にでき、所望の露光量精度を得るよ
うになっている。
2. Description of the Related Art It is very important for a stepper for exposing a semiconductor wafer or the like to constantly control the exposure amount. As a light source for this exposure, an excimer laser device is widely used in order to meet recent demands for high integration density of semiconductor circuits. However, since the excimer laser device is a so-called pulse discharge excitation gas laser,
The pulse energy of each pulse of the oscillating laser light varies due to various factors, resulting in a problem that the exposure amount is not stable. Therefore, conventionally,
An excimer laser device used in a stepper or the like performs exposure amount control by so-called multiple pulse exposure in which pulse oscillation is continuously performed a plurality of times in order to reduce this variation and stabilize the exposure amount to a constant value. There is. By this plural-pulse exposure amount control, the exposure amount variation as a whole can be made equal to or less than a predetermined value, and a desired exposure amount accuracy can be obtained.

【0003】また、ステッパでは、露光と、ウェハが設
置されたステージの移動とが交互に繰り返されるので、
上記のエキシマレーザ装置はいわゆるバーストモードで
運転されている。このバーストモードとは、レーザ光を
所定回数連続してパルス発振させた後、所定時間パルス
発振を休止させる運転を繰り返し行うことを言う。とこ
ろが、このバーストモードでの運転時の特徴として、図
5に示すように、所定時間休止した後の各連続パルス発
振(以後、バースト発振と呼ぶ)の初期には発振が安定
した状態となって比較的高いパルスエネルギーが得られ
るが、パルス発振を続けると、レーザガスの密度擾乱
や、放電電極の表面の局所的な温度上昇等によって、徐
々に各パルス発振が不安定となり、同図のA部で示すよ
うに出力パルスエネルギーが低下してゆく、いわゆるス
パイキング現象が見られる。
In a stepper, exposure and movement of a stage on which a wafer is placed are alternately repeated.
The above excimer laser device is operated in a so-called burst mode. The burst mode refers to repeatedly performing an operation in which the laser beam is pulsed continuously for a predetermined number of times and then stopped for a predetermined time. However, as a characteristic of the operation in the burst mode, as shown in FIG. 5, at the beginning of each continuous pulse oscillation (hereinafter referred to as a burst oscillation) after a pause for a predetermined time, the oscillation is in a stable state. Although relatively high pulse energy can be obtained, if pulse oscillation is continued, each pulse oscillation becomes gradually unstable due to disturbance of the density of the laser gas, local temperature rise on the surface of the discharge electrode, etc., and the portion A in FIG. The so-called spiking phenomenon, in which the output pulse energy is reduced as shown by, is seen.

【0004】この問題を解決するために、本出願人は、
例えば特開平7−106678号公報等によって、出力
パルスエネルギーの大きさが充電電圧の大きさにほぼ比
例するという性質を利用して、図6に示すように、各バ
ースト発振時の最初のパルスの充電電圧を小さくし、こ
の後次第に各パルスの充電電圧を大きくして行くような
制御により、スパイキング現象によるバースト発振初期
のエネルギー上昇を防止する技術を開示している。この
従来技術によると、図5に示した発振休止時間tsや、
パワーロック(商標)電圧(レーザガスの劣化に応じて
決定される充電電圧)などの各種パラメータを考慮し
て、バースト発振の各パルスエネルギーを所望の目標値
にする充電電圧データを、バースト発振の各パルス毎に
予め記憶するとともに、前回のバースト発振までに既に
出力された各バースト発振の各パルス毎のエネルギー計
測値を記憶し、このエネルギー計測値とパルスエネルギ
ー目標値との比較結果に基づいて、前記記憶されている
各パルスに対応する充電電圧データを補正するようにし
ている。この補正による制御を、以後スパイクキラー制
御と呼ぶ。
[0004] In order to solve this problem, the present applicant has
For example, according to Japanese Patent Application Laid-Open No. H07-106678, utilizing the property that the magnitude of the output pulse energy is substantially proportional to the magnitude of the charging voltage, as shown in FIG. A technique is disclosed in which the charging voltage is reduced, and thereafter the charging voltage of each pulse is gradually increased, thereby preventing an increase in energy at the beginning of burst oscillation due to a spiking phenomenon. According to this conventional technique, the oscillation pause time ts shown in FIG.
In consideration of various parameters such as a power lock (trademark) voltage (a charging voltage determined according to the deterioration of the laser gas), charging voltage data for setting each pulse energy of the burst oscillation to a desired target value is stored in each burst oscillation. While storing in advance for each pulse, storing the energy measurement value for each pulse of each burst oscillation already output until the previous burst oscillation, based on a comparison result of this energy measurement value and the pulse energy target value, The charge voltage data corresponding to each of the stored pulses is corrected. Control based on this correction is hereinafter referred to as spike killer control.

【0005】このような技術によると、各バースト発振
において、発振開始時のスパイク領域に加えて、その後
発振が安定化して来るプラトー領域及び定常領域(図5
参照)でも、前記スパイクキラー制御を行うことにな
る。スパイク領域では前述のように休止時間tsの長さ
の影響を受けやすく、同じ充電電圧でも他の領域に比べ
て大きなパルスエネルギーが出力される。ところが、プ
ラトー領域や定常領域では、休止時間tsの影響より
も、同じバースト発振内の直前までのパルス発振の影響
(例えば、電極温度の上昇や、レーザガスの乱れ等)を
強く受けていると考えられる。したがって、スパイク領
域以外の領域では、前記スパイクキラー制御によるパル
スエネルギーのばらつきの抑制効果が十分ではないとい
う問題が発生する。
According to such a technique, in each burst oscillation, in addition to a spike region at the start of oscillation, a plateau region and a steady region where the oscillation is stabilized thereafter (FIG. 5).
), The spike killer control is performed. As described above, the spike region is easily affected by the length of the pause time ts, and even at the same charging voltage, a larger pulse energy is output than in other regions. However, in the plateau region and the steady region, it is considered that the influence of the pulse oscillation (for example, an increase in the electrode temperature and the disorder of the laser gas) immediately before the same burst oscillation is more strongly affected by the pause time ts than by the effect of the pause time ts. Can be Therefore, in a region other than the spike region, there is a problem that the effect of suppressing the variation in pulse energy by the spike killer control is not sufficient.

【0006】このような問題を解決するために、同出願
人は、特開平9−248682号公報によって以下のよ
うなレーザ装置を提案している。すなわち、各バースト
発振の初期のスパイク領域では、各パルス発振の際の充
電電圧を、発振休止時間、同じバースト発振内でのパル
スの順番、及び出力されたパルスエネルギーの計測値
(モニタ値)に対応させて記憶すると共に、前記スパイ
ク領域以降では、各パルス発振の際の充電電圧を、出力
されたパルスエネルギーの計測値に対応させて記憶する
ようにしている。そして、前記各バースト発振を行う際
には、前記スパイク領域では、前記記憶した過去のパル
ス発振のデータのうち、発振休止時間、及びバースト発
振内のパルスの順番が等しく、かつ、今回のバースト発
振のエネルギー目標値に近い前記出力パルスエネルギー
の計測値とその時のパルスの充電電圧を少なくとも1組
読み出し、この読み出した値に基づいて今回のパルス発
振の際の充電電圧を演算し、この演算した充電電圧に基
づいてパルス発振(前記スパイクキラー制御に相当)を
行う。(以後、このような制御を学習制御と呼ぶ)ま
た、前記スパイク領域以降の領域では、前記既に記憶し
た今回のバースト発振内で直前に出力されたパルスのパ
ルスエネルギー計測値及びその時の充電電圧を読み出
し、この読み出した値に基づいて今回のパルス発振の際
の充電電圧を演算し、この演算した充電電圧に基づいて
パルス発振(以後、毎パルス制御と呼ぶ)を行うように
している。
In order to solve such a problem, the applicant of the present application has proposed the following laser device in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-248682. That is, in the initial spike region of each burst oscillation, the charging voltage at the time of each pulse oscillation is set to the oscillation pause time, the order of the pulses in the same burst oscillation, and the measured value (monitor value) of the output pulse energy. At the same time, after the spike region, the charging voltage at the time of each pulse oscillation is stored in association with the measured value of the output pulse energy. When performing each of the burst oscillations, in the spike region, among the stored past pulse oscillation data, the oscillation pause time and the order of the pulses in the burst oscillation are equal, and the current burst oscillation is performed. At least one set of a measured value of the output pulse energy close to the energy target value and a charging voltage of the pulse at that time is read, and a charging voltage at the time of the current pulse oscillation is calculated based on the read value. Pulse oscillation (corresponding to the spike killer control) is performed based on the voltage. (Hereinafter, such control is referred to as learning control.) In the region after the spike region, the pulse energy measurement value of the pulse output immediately before in the previously stored burst oscillation and the charging voltage at that time are stored. The charge is calculated at the time of the current pulse oscillation based on the read value, and pulse oscillation (hereinafter referred to as pulse control) is performed based on the calculated charge voltage.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の学習制御と毎パルス制御によるエネルギー制御にお
いても、例えば図7に示したように休止時間後に各バー
スト発振を開始した時の先頭の数十パルスではパルスエ
ネルギーのばらつきが大きくてエネルギー目標値よりも
低くなってしまう現象が生じている。ただし、発振が継
続すれば、エネルギー目標値に収束する。そして、各バ
ースト発振内の連続したある領域でのパルスエネルギー
に着目すると、このばらつきはそれ程大きくない。この
ため、従来まではこの程度のパルスエネルギーのばらつ
きがあっても問題とはならなかった。しかし、ステッパ
装置においては近年の半導体のさらなる高集積化仕様に
対応するばらつき精度の要求が非常に厳しくなって来て
おり、このばらつきの影響を無視することができなくな
っている。
However, in the above-described conventional energy control based on learning control and pulse control, for example, as shown in FIG. 7, several tens of pulses at the beginning when each burst oscillation starts after a pause time. In this case, a phenomenon occurs in which the pulse energy varies greatly and becomes lower than the energy target value. However, if oscillation continues, it converges to the energy target value. Focusing on the pulse energy in a continuous region in each burst oscillation, this variation is not so large. For this reason, heretofore, there was no problem even if there was such a variation in pulse energy. However, in the stepper device, the demand for the accuracy of variation corresponding to the recent higher integration specification of semiconductors has become extremely strict, and the influence of this variation cannot be ignored.

【0008】上記のようなエネルギー低下現象となる原
因は、レーザを発振させた時のスパイキング現象と、そ
の後に続く出力エネルギーの低下と、出力エネルギーの
ランダムなうねりにあると考えられる。すなわち、例え
ば、図8に示すように、充電電圧指令値を一定にして間
欠的にバースト発振させた場合、休止後の発振開始先頭
時から出力エネルギーは急激に減少していく。エネルギ
ーを一定に保つためには、この出力エネルギーの変化を
打ち消すように、充電電圧指令を大きくしていかなけれ
ばならない。(図6を参照)学習制御を適用する範囲を
なるべく短くしてパルスエネルギーが変動している範囲
で毎パルス制御を適用した場合には、毎パルス制御が本
質的には前述のようにフィードバック制御であるので、
エネルギーの目標値と計測値との偏差の発生が避けられ
ないことになる。また、充電電圧指令値を一定にして間
欠的にバースト発振させた場合のバースト毎の出力エネ
ルギーを観測すると、図8に示したように休止後の発振
開始先頭時を除いてランダムにうねりのようなものが重
畳されている。すなわち、各バースト発振内でのパルス
順番が同じでも、各バースト発振毎に、つまりNバース
ト目と(N+1)バースト目とで、パルスエネルギーの
変動が大きく異なったものとなる。このため、パルスエ
ネルギーが変動している範囲にわたって学習制御を適用
することは困難である。そして、前述のように、従来は
問題とされていなかったこの変動及び偏差量は、エキシ
マレーザ装置の応用分野(例えば、ステッパ装置等)か
らの要求が高度になるにつれ、無視できなくなって来て
いる。
It is considered that the cause of the above-described energy reduction phenomenon is a spiking phenomenon when the laser is oscillated, a subsequent decrease in output energy, and a random swell of the output energy. That is, for example, as shown in FIG. 8, when the charge voltage command value is fixed and burst oscillation is performed intermittently, the output energy sharply decreases from the beginning of the oscillation start after the pause. In order to keep the energy constant, the charging voltage command must be increased so as to cancel this change in output energy. (Refer to FIG. 6) When the range in which the learning control is applied is made as short as possible and the pulse control is applied in a range in which the pulse energy fluctuates, the pulse control is essentially performed by the feedback control as described above. So that
The deviation between the target value of energy and the measured value is inevitable. In addition, when the output energy for each burst is observed when the charge voltage command value is kept constant and burst oscillation is performed intermittently, as shown in FIG. Are superimposed. In other words, even if the pulse order in each burst oscillation is the same, the pulse energy varies greatly for each burst oscillation, that is, for the Nth burst and the (N + 1) th burst. For this reason, it is difficult to apply the learning control over the range where the pulse energy fluctuates. As described above, these fluctuations and deviations, which have not conventionally been considered as problems, cannot be ignored as the demands from the application fields of the excimer laser device (for example, stepper devices) increase. I have.

【0009】本発明は、上記の問題点に着目してなされ
たものであり、出力エネルギーのランダムなうねりの影
響を受けずに各パルスエネルギーの偏差量を小さくでき
るエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置を提供する
ことを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has an energy control apparatus for an excimer laser apparatus capable of reducing the deviation amount of each pulse energy without being affected by random swell of output energy. It is intended to provide.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段、作用及び効果】上記の目
的を達成するために、請求項1に記載の発明は、所定時
間の連続パルス発振と所定時間の休止とを交互に繰り返
すバースト運転モードでパルス発振するとき、各連続パ
ルス発振の初期の所定数のパルス発振に対して学習制御
を行い、この学習制御の後は毎パルス制御を行い、前記
学習制御時は、発振開始からi番目のパルス発振の際
に、前回の連続パルス発振時のi番目パルスの電圧指令
値Vi、及び、エネルギー目標値Edとこのi番目の電
圧指令値Viに対応して発振したパルスのエネルギー計
測値Eとの偏差値に応じて、今回のi番目の電圧指令値
Viを演算して出力し、また前記毎パルス制御時は、発
振開始からI番目のパルス発振の際には、同一回の連続
パルス発振内でのI−1番目のパルス発振の電圧指令値
VI-1 、及び、エネルギー目標値EdとこのI−1番目
の電圧指令値VI-1 に対応して発振したパルスのエネル
ギー計測値Eとの偏差値に応じて、I番目の電圧指令値
VI を演算して出力し、パルス発振させる出力制御部1
0を備え、前記電圧指令値Vi,VI に基づいて放電電
圧を制御してレーザのパルスエネルギーを制御するエキ
シマレーザ装置のエネルギー制御装置において、前記出
力制御部10は、毎パルス制御時に、前記エネルギー目
標値Edと前記エネルギー計測値Eとの偏差値に基づい
て演算した補正値ΔEを前記エネルギー目標値Edに加
算して補正し、この補正した新たなエネルギー目標値E
d0に基づいて電圧指令値VI を演算して出力するように
している。
In order to achieve the above object, a first aspect of the present invention is a burst operation mode in which continuous pulse oscillation for a predetermined time and pause for a predetermined time are alternately repeated. When pulse oscillation is performed, learning control is performed for a predetermined number of pulse oscillations at the initial stage of each continuous pulse oscillation, and after this learning control, pulse control is performed. At the time of pulse oscillation, the voltage command value Vi of the i-th pulse during the previous continuous pulse oscillation, the energy target value Ed, and the energy measurement value E of the pulse oscillated in response to the i-th voltage command value Vi The current i-th voltage command value Vi is calculated and output in accordance with the deviation value of the above. In the above-described pulse control, the same continuous pulse oscillation is performed at the time of the I-th pulse oscillation from the start of oscillation. I within According to the voltage command value VI-1 of the first pulse oscillation and the deviation between the energy target value Ed and the energy measurement value E of the pulse oscillated in response to the (I-1) th voltage command value VI-1. The output control unit 1 calculates and outputs the I-th voltage command value VI and performs pulse oscillation.
0, wherein the output control unit 10 controls the discharge voltage based on the voltage command values Vi and VI to control the pulse energy of the laser. A correction value ΔE calculated based on a deviation value between the target value Ed and the energy measurement value E is added to the energy target value Ed for correction, and the corrected new energy target value E is corrected.
The voltage command value VI is calculated and output based on d0.

【0011】請求項1に記載の発明によると、例えばス
テッパ等の外部制御装置から入力したエネルギー目標値
Edと、エネルギー計測値Eとの偏差値の大きさに応じ
て、補正値ΔEを演算し、エネルギー目標値Edに加算
して補正する。この補正された新たなエネルギー目標値
Ed0を毎パルス制御時のエネルギー目標値として電圧指
令値を演算し、演算した電圧指令値をレーザ電源部へ出
力してパルスエネルギーを制御する。これによって、パ
ルス発振時のうねりによりパルスエネルギーが変動して
偏差が大きくなったときには、この偏差に応じてエネル
ギー目標値が補正されるので、電圧指令値も補正される
ことになる。したがって、前記偏差量が小さくなり、パ
ルスエネルギーを安定して一定値に制御できる。
According to the first aspect of the present invention, the correction value ΔE is calculated in accordance with the magnitude of the deviation between the energy target value Ed input from an external control device such as a stepper and the measured energy value E. , And is corrected by adding to the energy target value Ed. A voltage command value is calculated using the corrected new energy target value Ed0 as an energy target value for each pulse control, and the calculated voltage command value is output to the laser power supply unit to control pulse energy. Thus, when the pulse energy fluctuates due to undulation during pulse oscillation and the deviation increases, the energy target value is corrected in accordance with the deviation, so that the voltage command value is also corrected. Therefore, the deviation amount becomes small, and the pulse energy can be stably controlled to a constant value.

【0012】請求項2に記載の発明は、請求項1記載の
エキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、前
記補正値ΔEは、積分器20aにより、前記エネルギー
目標値Edとエネルギー計測値Eとの偏差値を積算さ
れ、この積算値に応じて演算される。
According to a second aspect of the present invention, in the energy control apparatus of the excimer laser device according to the first aspect, the correction value ΔE is obtained by calculating the deviation between the energy target value Ed and the energy measurement value E by an integrator 20a. The values are integrated and calculated according to the integrated value.

【0013】請求項2に記載の発明によると、前記入力
したエネルギー目標値Edと、エネルギー計測値Eとの
偏差値を積分器により積算し、この積算値の大きさに応
じて前記補正値ΔEを演算してエネルギー目標値Edに
加算し、この補正された新たなエネルギー目標値Ed0を
毎パルス制御時のエネルギー目標値として電圧指令値を
演算する。これによって、うねりによりパルスエネルギ
ーが変動して偏差値の積算値が大きくなったときには、
この積算値に応じてエネルギーエネルギー目標値が補正
されるので、電圧指令値が補正される。したがって、前
記偏差量が小さくなり、全体としてパルスエネルギーを
安定して一定値に制御できる。
According to the second aspect of the present invention, a deviation value between the input energy target value Ed and the energy measurement value E is integrated by an integrator, and the correction value ΔE is calculated according to the magnitude of the integrated value. Is calculated and added to the energy target value Ed, and the voltage command value is calculated using the corrected new energy target value Ed0 as the energy target value for each pulse control. Thereby, when the pulse energy fluctuates due to the swell and the integrated value of the deviation value becomes large,
Since the energy energy target value is corrected according to the integrated value, the voltage command value is corrected. Therefore, the deviation amount becomes small, and the pulse energy can be stably controlled to a constant value as a whole.

【0014】請求項3に記載の発明は、請求項1記載の
エキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、前
記補正値ΔEは、1次遅れ要素20bにより、前記エネ
ルギー目標値Edとエネルギー計測値Eとの偏差値を時
間的に古い偏差値の影響を小さくして積算され、この積
算値に応じて演算される。
According to a third aspect of the present invention, in the energy control device of the excimer laser device according to the first aspect, the correction value ΔE is determined by the first-order lag element 20b to determine the energy target value Ed and the energy measurement value E. Are integrated by reducing the influence of the temporally older deviation value, and the calculation is performed according to the integrated value.

【0015】請求項3に記載の発明によると、前記入力
したエネルギー目標値Edとエネルギー計測値Eとの偏
差値は1次遅れ要素により積算される。この1次遅れ要
素では、時間的に古い偏差値は積算値に対する影響度
(加算される度合い)が時間に応じて小さくなるように
して積算される。したがって、前記演算された積算値の
大きさに応じて演算された補正値ΔEは時間的に新しい
偏差値がより考慮されたものとなる。この結果、この補
正値ΔEにより補正された新たなエネルギー目標値Ed0
を毎パルス制御時のエネルギー目標値として電圧指令値
を演算することにより、前述のような純粋な積分器で補
正した場合に比べてより安定的にパルスエネルギーを一
定値に制御できる。
According to the third aspect of the invention, the deviation between the input energy target value Ed and the energy measurement value E is integrated by a first-order lag element. In this first-order lag element, the deviation values that are older in time are integrated such that the degree of influence (the degree of addition) on the integrated value decreases with time. Therefore, the correction value ΔE calculated in accordance with the magnitude of the calculated integrated value is a value in which a temporally new deviation value is further considered. As a result, a new energy target value Ed0 corrected by the correction value ΔE
By calculating the voltage command value as the energy target value at the time of each pulse control, the pulse energy can be more stably controlled to a constant value as compared with the case where the correction is performed by a pure integrator as described above.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して実施形態を
説明する。図1は、本発明に係わるエキシマレーザ装置
のエネルギー制御装置が用いられるステッパの構成例を
示したブロック構成図である。同図において、エキシマ
レーザ装置1のレーザチャンバ2の内部には、レーザガ
スが封入されている。また、レーザチャンバ2の内部に
配設された図示しない電極に、レーザ電源8から所定の
放電電圧が印加され、この電極間で放電が行われる。こ
の放電で励起された前記レーザガスによりレーザ発振が
行われ、発振したレーザ光はグレーティング、プリズム
などといった狭帯域化素子6とフロントミラー7とを有
する光共振器により共振し、フロントミラー7からレー
ザ光4として出射される。このレーザ光4はビームスプ
リッタ3を透過してステッパ30に導かれると共に、レ
ーザ光4の一部はビームスプリッタ3でサンプリングさ
れて出力モニタ部のエネルギーセンサ5に入射され、エ
ネルギーセンサ5によりレーザ光4の1パルス当たりの
エネルギー、つまりパルスエネルギーが計測される。こ
のエネルギー計測値Eは、出力制御部10にフィードバ
ックされている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a stepper in which an energy control device of an excimer laser device according to the present invention is used. In FIG. 1, a laser gas is sealed in a laser chamber 2 of the excimer laser device 1. Further, a predetermined discharge voltage is applied from a laser power supply 8 to an electrode (not shown) provided inside the laser chamber 2, and a discharge is performed between the electrodes. Laser oscillation is performed by the laser gas excited by the discharge, and the oscillated laser light resonates by an optical resonator having a band-narrowing element 6 such as a grating or a prism and a front mirror 7. It is emitted as 4. The laser beam 4 passes through the beam splitter 3 and is guided to the stepper 30. A part of the laser beam 4 is sampled by the beam splitter 3 and is incident on the energy sensor 5 of the output monitor. 4, energy per pulse, that is, pulse energy is measured. This energy measurement value E is fed back to the output control unit 10.

【0017】また、縮小投影露光装置としてのステッパ
30は露光制御装置31を備えており、露光制御装置3
1は取り込んだ前記レーザ光4を露光対象のウェハに照
射したり、このウェハが搭載されたステージを逐次所定
距離ずつ移動させるのを制御している。そして、この露
光制御装置31は、所望の露光量を得るために、前記出
力制御部10に、発振パルスの1パルス当たりのエネル
ギー目標値Edを出力し、また、各バースト発振内のト
ータル発振パルス数imを出力している。
The stepper 30 as a reduction projection exposure apparatus includes an exposure control device 31.
Reference numeral 1 controls the irradiation of the captured laser beam 4 onto a wafer to be exposed and the movement of a stage on which the wafer is mounted by a predetermined distance. The exposure control device 31 outputs an energy target value Ed per one pulse of the oscillation pulse to the output control unit 10 in order to obtain a desired exposure amount, and outputs a total oscillation pulse in each burst oscillation. The number im is output.

【0018】出力制御部10は、出力するパルスエネル
ギーが前記入力したエネルギー目標値Edに等しくなる
ように、後述する所定の制御アルゴリズムにより、エネ
ルギー目標値Edと前記エネルギー計測値Eとの偏差値
に基づいて各パルス毎に電圧指令値Vを演算し、レーザ
電源部8に前記演算した電圧指令値Vを出力する。これ
により、所定の放電電圧で放電されてレーザ光4が発振
される。このとき、出力パルス数が前記トータル発振パ
ルス数imに達するまでパルス発振する。なお、出力制
御部10は、例えばマイクロコンピュータなどのコンピ
ュータ装置を主体にして構成することができる。
The output control unit 10 calculates a deviation between the energy target value Ed and the measured energy value E by a predetermined control algorithm described later so that the output pulse energy becomes equal to the input energy target value Ed. A voltage command value V is calculated for each pulse based on the calculated voltage command value V, and the calculated voltage command value V is output to the laser power supply unit 8. Thereby, the laser beam 4 is oscillated by being discharged at a predetermined discharge voltage. At this time, pulse oscillation is performed until the number of output pulses reaches the total oscillation pulse number im. The output control unit 10 can be configured mainly by a computer device such as a microcomputer, for example.

【0019】図2は、本発明に係わる前記出力制御部1
0の内部の基本的な制御機能構成をイメージ的に表わす
制御ブロック図を示している。同図において、目標値補
正演算部20は、前記エネルギー目標値Edとエネルギ
ー計測値Eとの偏差値Hに基づいてエネルギー目標値E
dの補正値ΔEを演算する。この補正値ΔEは上記エネ
ルギー目標値Edに加算され、この加算値は毎パルス制
御部12にエネルギー目標値Ed0として入力される。
FIG. 2 shows the output control unit 1 according to the present invention.
0 is a control block diagram schematically showing a basic control function configuration inside 0. In the figure, a target value correction calculator 20 calculates an energy target value E based on a deviation value H between the energy target value Ed and the energy measurement value E.
The correction value ΔE of d is calculated. The correction value ΔE is added to the energy target value Ed, and the added value is input to the pulse control unit 12 as the energy target value Ed0.

【0020】学習制御部11は、各バースト発振時の初
期のスパイク領域(図5参照)において、学習制御によ
ってスパイクキラー制御を行うものである。すなわち、
予め所定のエネルギー目標値Edに対応する電圧指令値
のテーブル(電圧テーブルと言う)を記憶しておく。初
回目のバースト発振のときには、先頭パルスからi番目
のパルス発振の際に、この記憶している初期の電圧テー
ブルのi番目の電圧指令値Viを読み出してレーザ電源
部8に出力する。この後、前記エネルギー目標値Edと
レーザ発振時に計測されたエネルギー計測値Eとの偏差
値Hに基づいて、前記読み出した電圧指令値Viを更新
し(これを学習と言う)、この更新した電圧指令値Vi
を電圧テーブルのi番目の電圧指令値Viとして記憶す
る。そして、以後、この更新された電圧テーブルは、次
回のバースト発振の際に使用し、i番目のパルス発振の
時に対応するi番目の電圧指令値Viを読み出してレー
ザ電源部8に出力する。なお、所定のi0 番目の発振を
終了したら、最終の電圧指令値Vi0を毎パルス制御部1
2に送信する。
The learning control section 11 performs spike killer control by learning control in an initial spike region (see FIG. 5) at the time of each burst oscillation. That is,
A table (referred to as a voltage table) of a voltage command value corresponding to a predetermined energy target value Ed is stored in advance. At the time of the first burst oscillation, the i-th voltage command value Vi in the stored initial voltage table is read out and output to the laser power supply unit 8 at the time of the i-th pulse oscillation from the first pulse. Thereafter, based on the deviation value H between the energy target value Ed and the energy measurement value E measured at the time of laser oscillation, the read voltage command value Vi is updated (this is referred to as learning), and the updated voltage command value Vi is updated. Command value Vi
Is stored as the i-th voltage command value Vi in the voltage table. Thereafter, the updated voltage table is used at the time of the next burst oscillation, and the i-th voltage command value Vi corresponding to the i-th pulse oscillation is read and output to the laser power supply unit 8. When the predetermined i0-th oscillation is completed, the final voltage command value Vi0 is set to each pulse control unit 1.
Send to 2.

【0021】毎パルス制御部12は、前記スパイク領域
以降の各パルス発振の際に、各パルスエネルギーのばら
つきを小さくする制御を行うものである。すなわち、毎
パルス制御部12は、バースト発振の先頭からi番目の
パルス発振の際に、同一のバースト発振内における直前
の、つまり(i−1)番目のパルス発振時の電圧指令値
Vi-1、及び、前記入力したエネルギー目標値Ed0とこ
れに対するエネルギー計測値Eとの偏差値Hを参照し
て、今回の電圧指令値Viとしてレーザ電源部8に出力
している。この後、毎パルス制御部12は、このとき発
振したパルスのエネルギー目標値Ed0とエネルギー計測
値Eとの偏差値Hに基づいて、前記i番目の電圧指令値
Viを更新し、この更新した電圧指令値Viを記憶す
る。この記憶したi番目の電圧指令値Viが同一バース
ト発振の(i+1)番目のパルス発振時に出力されるの
で、基本的にはフィードバック制御を行っていることに
なる。なお、学習制御から毎パルス制御に切り換わった
時は、前記学習制御部11から入力した電圧指令値Vi0
を毎パルス制御時の初期値としている。
The pulse control section 12 performs control to reduce variations in pulse energy during each pulse oscillation after the spike region. That is, at the time of the i-th pulse oscillation from the beginning of the burst oscillation, each pulse control unit 12 sets the voltage command value Vi-1 immediately before in the same burst oscillation, that is, at the time of the (i-1) -th pulse oscillation. And the deviation value H between the input energy target value Ed0 and the energy measurement value E corresponding thereto is output to the laser power supply unit 8 as the current voltage command value Vi. Thereafter, each pulse control unit 12 updates the i-th voltage command value Vi based on the deviation value H between the energy target value Ed0 of the pulse oscillated at this time and the measured energy value E, and updates the updated voltage value Vi. The command value Vi is stored. Since the stored i-th voltage command value Vi is output at the time of the (i + 1) -th pulse oscillation of the same burst oscillation, the feedback control is basically performed. When the control is switched from the learning control to the pulse control, the voltage command value Vi0 input from the learning control unit 11 is output.
Is an initial value at the time of each pulse control.

【0022】セレクタ13は、現在の制御処理がスパイ
ク領域に対するものか、あるいはこれ以降の領域かを判
断し、スパイク領域での制御時には学習制御部11から
出力された電圧指令値Viを選択して出力し、この領域
以降の制御時には毎パルス制御部12から出力された電
圧指令値Viを選択して出力する。
The selector 13 determines whether the current control process is for the spike region or a region after the spike region, and selects the voltage command value Vi output from the learning control unit 11 when controlling in the spike region. During the control after this region, the voltage command value Vi output from the pulse control unit 12 is selected and output.

【0023】つぎに、前記目標値補正演算部20の実施
例を説明する。図3は、この目標値補正演算部20に積
分器20aを備えた例を示している。すなわち、この積
分器20aは、各バースト発振の度に、入力しているエ
ネルギー目標値Edとエネルギー計測値Eとの偏差値H
を積算して行き、この積算値Mに基づいて次の数1によ
り補正値ΔEを求める。
Next, an embodiment of the target value correction calculator 20 will be described. FIG. 3 shows an example in which the target value correction calculator 20 includes an integrator 20a. That is, the integrator 20a provides a deviation H between the input energy target value Ed and the input energy measurement value E at each burst oscillation.
, And a correction value ΔE is obtained by the following equation 1 based on the integrated value M.

【数1】補正値ΔE=K×M ここで、Kは所定の定数である。## EQU1 ## where K is a predetermined constant.

【0024】この構成によると、エネルギー目標値Ed
とエネルギー計測値Eとの偏差値Hの積算値に応じた前
記補正値ΔEにより、エネルギー目標値Edが補正さ
れ、これにより補正されたエネルギー目標値Ed0が毎パ
ルス制御部12に入力される。したがって、パルスエネ
ルギーが前記うねり等の影響を受けて変動している場合
には、毎パルス制御時のフィードバック制御の遅れを補
正するので、前記偏差が小さくなる。また、パルスエネ
ルギーが安定して来たら、偏差の平均値が0に近くな
り、よって前記偏差の積算値Mが小さくなるので、補正
値ΔEによる補正は働かなくなる。
According to this configuration, the energy target value Ed
The energy target value Ed is corrected by the correction value ΔE according to the integrated value of the deviation value H between the energy measurement value E and the energy target value Ed0, and the corrected energy target value Ed0 is input to the pulse control unit 12. Therefore, when the pulse energy fluctuates under the influence of the undulation or the like, the delay is reduced because the delay of the feedback control at the time of each pulse control is corrected. Further, when the pulse energy becomes stable, the average value of the deviation becomes close to 0, and the integrated value M of the deviation becomes small, so that the correction by the correction value ΔE does not work.

【0025】また、図4は目標値補正演算部20に1次
遅れ要素20bを用いた例を示している。この1次遅れ
要素20bは、入力しているエネルギー目標値Edとエ
ネルギー計測値Eとの偏差値Hに基づいて、以下の数2
により補正値ΔEを求めている。
FIG. 4 shows an example in which a first-order lag element 20b is used in the target value correction calculation section 20. The first-order lag element 20b is based on a deviation value H between the input energy target value Ed and the energy measurement value E, and
The correction value ΔE is obtained by the following equation.

【数2】ΔEn+1 =A×Hn +(1−A)ΔEn ここで、ΔEn はn番目のパルス発振時の補正値ΔEで
あり、Hn はn番目のパルス発振時の偏差値Hであり、
Aは0から1までの範囲の所定の定数とする。この数2
によると、過去の時間的に古い偏差値Hn をその経過時
間に応じて忘れながら、すなわち経過時間に応じて積算
値に対する古い偏差値Hn の影響度を小さくしながら積
算して行き、この積算値を補正値ΔEとしている。
ΔEn + 1 = A × Hn + (1−A) ΔEn where ΔEn is a correction value ΔE at the time of the n-th pulse oscillation, and Hn is a deviation value H at the time of the n-th pulse oscillation. ,
A is a predetermined constant in the range from 0 to 1. This number 2
According to the above, while accumulating the deviation value Hn in the past in time according to the elapsed time, that is, reducing the influence of the old deviation value Hn on the integrated value in accordance with the elapsed time, the integration is performed. Is the correction value ΔE.

【0026】この構成によると、エネルギー目標値Ed
とエネルギー計測値Eとの偏差値Hの積算値に応じて補
正値ΔEが求められ、これによりエネルギー目標値Ed
が補正されて新たなエネルギー目標値Ed0として毎パル
ス制御部12に入力される。このとき、1次遅れ要素に
よって、時間的に古い偏差値Hの影響を小さくしている
ので、前述のような純粋な積分器よりも制御系全体で安
定し、パルスエネルギーの偏差が小さくなる。
According to this configuration, the energy target value Ed
A correction value ΔE is obtained in accordance with an integrated value of a deviation value H between the energy measurement value E and the energy target value Ed.
Is corrected and input to the pulse control unit 12 as a new energy target value Ed0. At this time, the influence of the temporally old deviation value H is reduced by the first-order lag element, so that the entire control system is more stable than the pure integrator as described above, and the deviation of the pulse energy is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わるエキシマレーザ装置のエネルギ
ー制御装置が用いられるステッパの構成例を示したブロ
ック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a stepper using an energy control device of an excimer laser device according to the present invention.

【図2】出力制御部の内部の基本的な制御機能構成をイ
メージ的に表わす制御ブロック図を示す。
FIG. 2 is a control block diagram schematically showing a basic control function configuration inside an output control unit.

【図3】目標値補正演算部に積分器を備えた例を示す。FIG. 3 shows an example in which an integrator is provided in a target value correction operation unit.

【図4】目標値補正演算部に1次遅れ要素を用いた例を
示す。
FIG. 4 shows an example in which a first-order lag element is used in a target value correction calculation unit.

【図5】従来技術に係わるバースト発振時のパルスエネ
ルギーの変化の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a change in pulse energy during burst oscillation according to the related art.

【図6】スパイクキラー制御時の充電電圧の出力例を示
す。
FIG. 6 shows an output example of a charging voltage during spike killer control.

【図7】従来技術に係わるスパイクキラー制御時のパル
スエネルギーの変動例を示す。
FIG. 7 shows an example of pulse energy fluctuation during spike killer control according to the related art.

【図8】従来技術に係わるスパイクキラー制御時の充電
電圧一定制御でのパルスエネルギーのうねりの説明図で
ある。
FIG. 8 is an explanatory diagram of the swell of pulse energy in the constant charging voltage control during the spike killer control according to the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…エキシマレーザ装置、4…レーザ光、5…エネルギ
ーセンサ、8…レーザ電源部、10…出力制御部、11
…学習制御部、12…毎パルス制御部、20…目標値補
正演算部、20a…積分器,20b…1次遅れ要素、3
0…ステッパ、Vi…電圧指令値、ΔE…補正値、Ed
…エネルギー目標値、E…エネルギー計測値。
REFERENCE SIGNS LIST 1 excimer laser device 4 laser light 5 energy sensor 8 laser power supply unit 10 output control unit 11
... Learning control unit, 12 ... Pulse control unit, 20 ... Target value correction calculation unit, 20a ... Integrator, 20b ... Primary delay element, 3
0: stepper, Vi: voltage command value, ΔE: correction value, Ed
... energy target value, E ... energy measurement value.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定時間の連続パルス発振と所定時間の
休止とを交互に繰り返すバースト運転モードでパルス発
振するとき、各連続パルス発振の初期の所定数のパルス
発振に対して学習制御を行い、この学習制御の後は毎パ
ルス制御を行い、前記学習制御時は、発振開始からi番
目のパルス発振の際に、前回の連続パルス発振時のi番
目パルスの電圧指令値(Vi)、及び、エネルギー目標値(E
d)とこのi番目の電圧指令値(Vi)に対応して発振したパ
ルスのエネルギー計測値(E) との偏差値に応じて、今回
のi番目の電圧指令値(Vi)を演算して出力し、また前記
毎パルス制御時は、発振開始からI番目のパルス発振の
際には、同一回の連続パルス発振内でのI−1番目のパ
ルス発振の電圧指令値(VI-1)、及び、エネルギー目標値
(Ed)とこのI−1番目の電圧指令値(VI-1)に対応して発
振したパルスのエネルギー計測値(E) との偏差値に応じ
て、I番目の電圧指令値(VI)を演算して出力し、パルス
発振させる出力制御部(10)を備え、前記電圧指令値(V
i),(VI)に基づいて放電電圧を制御してレーザのパルス
エネルギーを制御するエキシマレーザ装置のエネルギー
制御装置において、 前記出力制御部(10)は、毎パルス制御時に、前記エネル
ギー目標値(Ed)と前記エネルギー計測値(E) との偏差値
に基づいて演算した補正値( ΔE)を前記エネルギー目標
値(Ed)に加算して補正し、この補正した新たなエネルギ
ー目標値(Ed0)に基づいて電圧指令値(VI)を演算して出
力することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギ
ー制御装置。
When performing pulse oscillation in a burst operation mode in which continuous pulse oscillation for a predetermined time and pause for a predetermined time are alternately performed, learning control is performed for an initial predetermined number of pulse oscillations of each continuous pulse oscillation, After this learning control, pulse control is performed. At the time of the learning control, at the time of the i-th pulse oscillation from the start of oscillation, the voltage command value (Vi) of the i-th pulse during the previous continuous pulse oscillation, and Energy target value (E
The current i-th voltage command value (Vi) is calculated according to the deviation value between d) and the measured energy value (E) of the pulse oscillated in response to the i-th voltage command value (Vi). During the pulse control, at the time of the I-th pulse oscillation from the start of oscillation, the voltage command value (VI-1) of the (I-1) -th pulse oscillation in the same continuous pulse oscillation is output. And energy targets
(Id) and the I-th voltage command value (VI) according to the deviation value between the energy measurement value (E) of the pulse oscillated corresponding to the I-1st voltage command value (VI-1). An output control unit (10) for calculating, outputting and oscillating pulses is provided, and the voltage command value (V
i) In an energy control device of an excimer laser device that controls a pulse voltage of a laser by controlling a discharge voltage based on (VI), the output control unit (10) performs the energy target value ( Ed) and a correction value (ΔE) calculated based on a deviation value between the energy measurement value (E) and the energy target value (Ed). An energy control device for an excimer laser device, wherein a voltage command value (VI) is calculated and output based on the data.
【請求項2】 請求項1記載のエキシマレーザ装置のエ
ネルギー制御装置において、 前記補正値( ΔE)は、積分器(20a) により、前記エネル
ギー目標値(Ed)とエネルギー計測値(E) との偏差値を積
算され、この積算値に応じて演算されることを特徴とす
るエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置。
2. The energy control device for an excimer laser device according to claim 1, wherein the correction value (ΔE) is obtained by calculating an energy target value (Ed) and an energy measurement value (E) by an integrator (20a). An energy control device for an excimer laser device, wherein a deviation value is integrated and calculated according to the integrated value.
【請求項3】 請求項1記載のエキシマレーザ装置のエ
ネルギー制御装置において、 前記補正値( ΔE)は、1次遅れ要素(20b) により、前記
エネルギー目標値(Ed)とエネルギー計測値(E) との偏差
値を時間的に古い偏差値の影響を小さくして積算され、
この積算値に応じて演算されることを特徴とするエキシ
マレーザ装置のエネルギー制御装置。
3. The energy control device for an excimer laser device according to claim 1, wherein the correction value (ΔE) is a value of the energy target value (Ed) and the energy measurement value (E) by a first-order lag element (20b). Is integrated by reducing the influence of the older deviation value in time,
An energy control device for an excimer laser device, wherein the energy control device is operated in accordance with the integrated value.
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