JPH11212105A - Liquid crystal display panel - Google Patents
Liquid crystal display panelInfo
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- JPH11212105A JPH11212105A JP917598A JP917598A JPH11212105A JP H11212105 A JPH11212105 A JP H11212105A JP 917598 A JP917598 A JP 917598A JP 917598 A JP917598 A JP 917598A JP H11212105 A JPH11212105 A JP H11212105A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は液晶表示パネルに
関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display panel.
【0002】[0002]
【従来の技術】図5に示したように、液晶表示パネル
は、複数の走査信号配線3と、複数の映像信号配線2
と、これらの配線2、3が交差する位置に存在する透明
導電膜(ITO)にて形成された画素電極6とによって
構成されている。その画素電極6の一つ一つの液晶セル
に印加する電圧をTFTトランジスタにより制御して、
画像表示を行っている。7はガラス基板である。2. Description of the Related Art As shown in FIG. 5, a liquid crystal display panel comprises a plurality of scanning signal lines 3 and a plurality of video signal lines 2.
And a pixel electrode 6 formed of a transparent conductive film (ITO) at a position where these wirings 2 and 3 intersect. The voltage applied to each liquid crystal cell of the pixel electrode 6 is controlled by a TFT transistor,
The image is displayed. 7 is a glass substrate.
【0003】図示の液晶表示パネルは、チップオングラ
ス工法(COG)で作成されたものであり、液晶を駆動
させるための回路としてのゲートドライバ4やソースド
ライバ5がガラス基板7の上に実装されている。The illustrated liquid crystal display panel is manufactured by a chip-on-glass method (COG). A gate driver 4 and a source driver 5 as circuits for driving liquid crystal are mounted on a glass substrate 7. ing.
【0004】このような液晶表示パネルの製造工程にお
いては、ダストによるパターニング異常や、静電気等に
よる素子破壊など、様々な原因で不良が発生するおそれ
がある。そこで、液晶駆動用LSIに実装する電極の全
数に検査用プローブ電極を接触させて、製造工程で複数
回の検査を実施している。[0004] In the manufacturing process of such a liquid crystal display panel, there is a possibility that a defect may occur due to various causes such as patterning abnormality due to dust and element destruction due to static electricity or the like. Therefore, a plurality of inspections are performed in the manufacturing process by bringing the inspection probe electrodes into contact with all the electrodes mounted on the liquid crystal driving LSI.
【0005】しかし、近年、表示品位の向上のために液
晶表示パネルの高精細化が進んでおり、画素数が増加す
る傾向がある。そのため液晶駆動用LSIの実装電極間
隔は狭くなり、上記で述べたように製造過程で複数回の
検査をするための検査用プローブ電極の接触間隔も狭く
なる。[0005] However, in recent years, the definition of liquid crystal display panels has been improved to improve the display quality, and the number of pixels tends to increase. Therefore, the interval between the mounting electrodes of the liquid crystal driving LSI is reduced, and the contact interval between the inspection probe electrodes for performing the inspection a plurality of times in the manufacturing process is also reduced as described above.
【0006】すると、映像信号配線2や走査信号配線3
の一本一本にプローブ電極を接触することは、その作製
費用が非常に高価なものとなり、また作製期間も長くな
るうえに、プローブ電極の接触の安定性に問題が生じ、
しかもプローブ電極の保守などが大変困難である。特に
液晶駆動用LSIドライバを直接ガラス基板7上に実装
するチップオングラス工法を用いた液晶表示パネルは、
電極パッドへの直接のコンタクトは不可能である。その
ため、プローブなどの開発費を抑制したり、その開発期
間を短縮したり、簡易な信号かつ簡易なプローブで検査
できるようにしたりすることが望まれている。Then, the video signal wiring 2 and the scanning signal wiring 3
Contacting the probe electrodes one by one increases the production cost of the probe electrode very much, increases the production period, and causes a problem in the stability of contact between the probe electrodes.
Moreover, maintenance of the probe electrode is very difficult. In particular, a liquid crystal display panel using a chip-on-glass method in which an LSI driver for driving a liquid crystal is directly mounted on a glass substrate 7 is:
Direct contact to the electrode pads is not possible. Therefore, it is desired to reduce the development cost of a probe or the like, to shorten the development period, and to make it possible to perform inspection with a simple signal and a simple probe.
【0007】そこで、簡易な検査方法として、図5に示
したように、液晶表示パネルにおける複数の映像信号配
線2と複数の走査信号配線3との少なくとも一方に対応
して、これらの配線2、3に接続した共通バス配線1を
設け、この共通バス配線1に検査用電極端子9を形成し
ている。そして、この端子9に検査用プローブを立てて
検査用信号10を供給し、それによって液晶表示パネル
の検査を行い、その良否を判定している。また、検査に
おいて線欠陥などがある場合は、その線欠陥のある信号
配線2、3と補助信号配線11とをレーザー光によって
ショートさせることで、欠陥救済を行っている。Therefore, as a simple inspection method, as shown in FIG. 5, at least one of a plurality of video signal lines 2 and a plurality of scanning signal lines 3 in a liquid crystal display panel, The common bus wiring 1 connected to the common bus wiring 3 is provided with an electrode terminal 9 for inspection. Then, an inspection probe is set up at the terminal 9 and an inspection signal 10 is supplied, whereby the inspection of the liquid crystal display panel is performed, and the quality is determined. Further, if there is a line defect in the inspection, the defect is relieved by short-circuiting the signal wirings 2 and 3 having the line defect and the auxiliary signal wiring 11 with a laser beam.
【0008】その後に、液晶画面8よりも外側に設けた
共通バス配線1に接続するそれぞれ複数の映像信号配線
2と走査信号配線3との少なくともどちらか一方を、図
示の領域14A、14Bでレーザー光で切断することに
よって、液晶表示パネルの最終形態を得ている。Thereafter, at least one of the plurality of video signal wirings 2 and the scanning signal wirings 3 connected to the common bus wiring 1 provided outside the liquid crystal screen 8 is laser-adjusted in the areas 14A and 14B shown in the figure. By cutting with light, the final form of the liquid crystal display panel is obtained.
【0009】[0009]
【発明が解決しようとする課題】しかし、液晶画面8の
大型化が進むにつれて、以下のような課題がある。すな
わち、映像信号配線2と走査信号配線3との少なくとも
どちらか一方を領域14A、14Bでレーザー光で切断
すると、そのときのレーザー光の強さや、配線の飛び散
りなどで、隣接ショートが発生している。特に液晶画面
8の大型化が進むと、走査信号配線3や映像信号配線2
の数は増えるので、レーザーカットによる不良が多発し
て生産性の向上につながらない。また装置が大型にな
り、ロスコスト削減につながらない。However, as the size of the liquid crystal screen 8 increases, there are the following problems. That is, when at least one of the video signal wiring 2 and the scanning signal wiring 3 is cut by the laser light in the regions 14A and 14B, an adjacent short circuit occurs due to the intensity of the laser light at that time or the scattering of the wiring. I have. In particular, as the size of the liquid crystal screen 8 increases, the scanning signal wiring 3 and the video signal wiring 2
However, the number of defects increases due to laser cutting, which does not lead to an improvement in productivity. In addition, the size of the device is increased, which does not lead to reduction of loss cost.
【0010】また、複数の映像信号配線2および走査信
号配線3と補助信号配線11とが交差する部分が多くな
ることから、これらの配線が交差する部分で形成される
静電容量が補助信号配線11の負荷となり、補助信号配
線11の信号遅延による信号歪みが生じている。しか
も、ソース信号の変動により、上述の静電容量を介して
補助信号配線11の信号にノイズを重畳させている。特
に映像信号配線が3000本を超えるXGA対応のコン
ピュータ用途の液晶表示パネルでは、この信号歪みと映
像信号配線からの容量結合による飛び込みノイズとが無
視できなくなり、救済処理をしても信号電圧が不正規と
なり、元の欠陥ラインが正常な表示をしなくなる。よっ
て歩留まり向上につながらないという事態が発生してい
る。Since the number of intersections between the plurality of video signal wirings 2 and scanning signal wirings 3 and the auxiliary signal wirings 11 increases, the capacitance formed at the intersections between these wirings is reduced by the auxiliary signal wirings. 11, the signal distortion due to the signal delay of the auxiliary signal wiring 11 occurs. Moreover, noise is superimposed on the signal of the auxiliary signal wiring 11 via the above-mentioned capacitance due to the fluctuation of the source signal. In particular, in a liquid crystal display panel for an XGA-compatible computer having more than 3,000 video signal lines, the signal distortion and the jump noise due to capacitive coupling from the video signal lines cannot be ignored, and the signal voltage is not reduced even when the rescue process is performed. The original defective line is not displayed normally. Therefore, there is a situation where the yield is not improved.
【0011】したがって、この発明の目的は、上記従来
の課題を解決して、レーザー光での切断工程を行わない
簡易な検査を行うことができ、なおかつ欠陥救済処理が
行える液晶表示パネルを提供することである。Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a liquid crystal display panel which can perform a simple inspection without performing a cutting step with a laser beam and can perform a defect relief process. That is.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めこの発明は、複数の映像信号配線と複数の走査信号配
線との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通バス
配線を設け、前記信号配線と、対応する共通バス配線と
を半導体配線で接続したものである。According to the present invention, a common bus line is provided outside a liquid crystal screen corresponding to at least one of a plurality of video signal lines and a plurality of scanning signal lines. The signal wiring and the corresponding common bus wiring are connected by a semiconductor wiring.
【0013】これによれば、半導体配線は通常は絶縁膜
になっているため、他の映像信号配線や走査信号配線に
電気的に接続することはない。検査時に半導体配線にに
光を当てると、光電導が起って検査用信号が通るように
なり、検査が可能となる。したがって、従来のようなレ
ーザー光で切断する工程はいらなくなり、現状プロセス
で対応でき、ロスコストの削減になる。また、レーザー
光での切断時に発生していた不良なども低減でき、生産
性の向上につながる。According to this, since the semiconductor wiring is usually an insulating film, it is not electrically connected to other video signal wiring or scanning signal wiring. When light is applied to the semiconductor wiring at the time of inspection, photoelectric conduction occurs and an inspection signal passes, thereby enabling inspection. Therefore, there is no need for a step of cutting with a laser beam as in the related art, and it is possible to cope with the current process, thereby reducing the loss cost. In addition, defects that occur when cutting with laser light can be reduced, leading to an improvement in productivity.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】請求項1記載の液晶表示パネル
は、複数の映像信号配線と複数の走査信号配線との少な
くとも一方に対応して液晶画面外に共通バス配線を設
け、前記信号配線と、対応する共通バス配線とを半導体
配線で接続したことを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display panel having a common bus line outside a liquid crystal screen corresponding to at least one of a plurality of video signal lines and a plurality of scanning signal lines. And a corresponding common bus wiring is connected by a semiconductor wiring.
【0015】上記の構成によれば、半導体配線は通常で
は絶縁膜になっているため、他の映像信号配線や走査信
号配線と電気的に接続することはない。検査時に半導体
層に光を当てると、光電導が起こって検査用信号が通る
ようになり検査が可能となる。したがって、レーザー光
で切断する工程はいらなくなり、現状プロセスで対応で
き、ロスコストの削減になる。また、レーザー光での切
断時に発生していた不良なども低減でき、生産性の向上
につながる。According to the above configuration, since the semiconductor wiring is usually an insulating film, it is not electrically connected to another video signal wiring or scanning signal wiring. When light is applied to the semiconductor layer at the time of inspection, photoelectric conduction occurs and an inspection signal passes, thereby enabling inspection. Therefore, there is no need to perform a step of cutting with a laser beam, and the present process can cope with the process, thereby reducing the loss cost. In addition, defects that occur when cutting with laser light can be reduced, leading to an improvement in productivity.
【0016】請求項2記載の液晶表示パネルは、液晶画
面と、信号配線および共通バス配線および半導体配線と
の間に、欠陥のある信号配線をショートさせて欠陥救済
を行うための補助信号配線を設け、この補助信号配線の
少なくとも1本を半導体配線に対し交差させて配置した
ことを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display panel, wherein an auxiliary signal line for short-circuiting a defective signal line and performing defect repair is provided between the liquid crystal screen and the signal line, the common bus line, and the semiconductor line. And at least one of the auxiliary signal wirings is disposed so as to cross the semiconductor wiring.
【0017】上記の構成によれば、補助信号配線の少な
くとも1本を半導体配線と交差させて配置すると、その
部分では静電容量を持たなくなる。すなわち、結果的に
信号配線と補助信号配線との交差する部分の数を減らす
ことで、信号歪みと映像信号配線からの容量結合による
飛び込みノイズとを無視できることになり、したがって
救済処理を行っても信号電圧が正規となり、元の欠陥ラ
インが正常な表示をするようになる。よって上記の簡易
な検査を行った場合においても欠陥を確実に救済するこ
とができ、生産性の向上につながる。According to the above arrangement, when at least one of the auxiliary signal lines is arranged to cross the semiconductor line, the portion has no capacitance. That is, by reducing the number of intersections between the signal wiring and the auxiliary signal wiring, the signal distortion and the noise caused by the capacitive coupling from the video signal wiring can be neglected. The signal voltage becomes normal, and the original defective line is displayed normally. Therefore, even when the above simple inspection is performed, the defect can be reliably relieved, which leads to an improvement in productivity.
【0018】請求項3記載の液晶表示パネルは、チップ
オングラス工法で作製されたパネルであることを特徴と
する。すなわち、液晶表示パネルが、液晶駆動用LSI
やドライバICを直接ガラス基板上に実装するチップオ
ングラス工法で作製されていると、液晶駆動用LSIの
実装間隔はさらに狭くなり、直接ICをのせるためプロ
ーブ形状も複雑になり、また実装部を傷つけてしまうの
で直接検査用プローブの針を置くことはできない。した
がって、上記のように半導体配線によって接続する構成
をとることが有効である。A liquid crystal display panel according to a third aspect is a panel manufactured by a chip-on-glass method. That is, the liquid crystal display panel is a liquid crystal driving LSI
And the driver IC are mounted directly on a glass substrate by the chip-on-glass method, the mounting interval of the LSI for driving the liquid crystal becomes even narrower, the probe shape becomes complicated to mount the IC directly, and the mounting part Therefore, the needle of the inspection probe cannot be directly placed. Therefore, it is effective to adopt a configuration in which connection is made by semiconductor wiring as described above.
【0019】次に、この発明の第1の実施の形態の液晶
表示パネルを、図1および図2にもとづいて説明する。
図1はこの発明の第1の実施の形態における液晶表示パ
ネルの半導体配線で接続する部分の拡大図を示し、図5
に示した液晶表示パネルと同一の構成部分には同一符号
を付している。Next, a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is an enlarged view of a portion connected by semiconductor wiring of a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention.
The same components as those of the liquid crystal display panel shown in FIG.
【0020】この液晶表示パネルは、図5に示した液晶
表示パネルと同様に、複数の映像信号配線2と複数の走
査信号配線3との少なくとも一方に対応して、液晶画面
外に共通バス配線1が設けられている。そして、信号配
線2、3と共通バス配線1とが、半導体配線12で接続
されている。This liquid crystal display panel has a common bus wiring outside the liquid crystal screen corresponding to at least one of the plurality of video signal wirings 2 and the plurality of scanning signal wirings 3, similarly to the liquid crystal display panel shown in FIG. 1 is provided. The signal lines 2 and 3 and the common bus line 1 are connected by a semiconductor line 12.
【0021】図2は図1におけるa−a部分の断面構造
を拡大して示す。この部分においては、ガラス基板7の
上にゲート絶縁膜13が形成され、その上に、信号配線
2、3と、この信号配線2、3に設けられた半導体配線
12とが形成されている。FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view taken along the line aa in FIG. In this portion, the gate insulating film 13 is formed on the glass substrate 7, and the signal wirings 2, 3 and the semiconductor wiring 12 provided on the signal wirings 2, 3 are formed thereon.
【0022】具体的には、ゲート絶縁膜13は、スパッ
タにて成膜した膜厚50nmの酸化タンタル膜と、プラ
ズマCVDで生成した膜厚350nmの窒化珪素膜とに
よる2層構造とされている。映像信号配線2は、スパッ
タにて成膜した膜厚350nmのアルミニウムと膜厚5
0nmのチタン50とによって形成されている。その映
像信号を接続するための半導体配線12は、プラズマC
VDで生成した膜厚50nmの非晶質珪素にて形成され
ている。さらに、半導体配線12のための耐薬液性保護
膜として、プラズマCVDで成膜した膜厚100nmの
窒化珪素が形成されている。Specifically, the gate insulating film 13 has a two-layer structure of a 50 nm-thick tantalum oxide film formed by sputtering and a 350 nm-thick silicon nitride film formed by plasma CVD. . The video signal wiring 2 is made of aluminum having a thickness of 350 nm formed by sputtering and a film thickness of 5
0 nm of titanium 50. The semiconductor wiring 12 for connecting the video signal is a plasma C
It is formed of amorphous silicon with a thickness of 50 nm generated by VD. Further, as a chemical-resistant protective film for the semiconductor wiring 12, a 100-nm-thick silicon nitride film formed by plasma CVD is formed.
【0023】この構成において、信号配線2、3は途中
で切断されたような構成になり、この部分を接続する半
導体配線12に電流が流れなければ、導通しないような
状態になる。In this configuration, the signal wirings 2 and 3 are cut off in the middle, and if no current flows through the semiconductor wiring 12 connecting this portion, the signal wirings 2 and 3 do not conduct.
【0024】このように構成された液晶表示パネルにお
いて、共通バス配線1に検査用電極端子を形成し、この
端子に検査用プローブを立てて検査用信号を供給した場
合に、図示の状態のままでは、半導体配線12に電流が
流れないので検査は不可能である。しかし、半導体配線
12に光を照射すると、その半導体層に光電導が生じて
電流が流れるようになることで、検査が可能となる。よ
って以上のように構成された液晶表示パネルは、簡易な
検査が可能であり、レーザー光による配線の切断にもと
づき発生する不良をなくすことができる。したがって、
生産性の向上につながることになる。In the liquid crystal display panel configured as described above, when an inspection electrode terminal is formed on the common bus wiring 1 and an inspection probe is set up on this terminal to supply an inspection signal, the state shown in FIG. In this case, since no current flows through the semiconductor wiring 12, inspection is impossible. However, when the semiconductor wiring 12 is irradiated with light, photoelectric conduction occurs in the semiconductor layer and a current flows, so that the inspection can be performed. Therefore, the liquid crystal display panel configured as described above can perform a simple inspection, and can eliminate a defect that occurs based on the disconnection of the wiring by the laser beam. Therefore,
This will lead to increased productivity.
【0025】液晶表示パネルが、図4に示すものと同様
にチップオングラス工法で作製されている場合には、液
晶駆動用LSIの実装間隔が狭くなり、直接ICをのせ
るためプローブ形状も複雑になり、また実装部を傷つけ
てしまうので直接検査用プローブの針を置くことはでき
ない。したがって、その場合には、上述のように半導体
配線12によって接続する構成をとることが特に有効で
ある。When the liquid crystal display panel is manufactured by the chip-on-glass method similarly to the one shown in FIG. 4, the mounting interval of the liquid crystal driving LSI becomes narrow, and the probe shape is complicated because the IC is directly mounted. In addition, since the mounting portion is damaged, the needle of the inspection probe cannot be directly placed. Therefore, in such a case, it is particularly effective to adopt a configuration in which the semiconductor wiring 12 is used for connection as described above.
【0026】この発明の第2の実施の形態を示す液晶表
示パネルを、図3および図4にもとづいて説明する。図
3において、液晶表示パネルの厚さ方向における液晶画
面と半導体配線12との間に、複数本の補助信号配線1
1が、映像信号配線2と交差するように設けられてい
る。そして、その複数本の補助信号配線11のうちの少
なくとも1本が、半導体配線12と交差するように構成
されている。A liquid crystal display panel according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In FIG. 3, a plurality of auxiliary signal lines 1 are provided between a liquid crystal screen and a semiconductor line 12 in the thickness direction of the liquid crystal display panel.
1 is provided so as to intersect with the video signal wiring 2. At least one of the plurality of auxiliary signal wirings 11 is configured to intersect with the semiconductor wiring 12.
【0027】図4は、図3におけるb−b部分の断面構
造を拡大して示す。この部分においては、ガラス基板7
上にスパッタにて成膜した膜厚200nmのアルミニウ
ム補助信号配線11が形成され、その上に、図2に示し
たものと同様の、ゲート絶縁膜13と、半導体配線12
と、信号配線2、3とが形成されている。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view taken along the line bb in FIG. In this part, the glass substrate 7
A 200 nm-thick aluminum auxiliary signal wiring 11 formed by sputtering is formed thereon, and a gate insulating film 13 and a semiconductor wiring 12 similar to those shown in FIG.
And signal wirings 2 and 3 are formed.
【0028】この構成においては、補助信号配線11と
信号配線2、3とが交差する部分は静電容量をもつが、
補助信号配線11と半導体配線12とが交差する部分で
は、信号配線2、3がなく、静電容量を持たなくなる。
よって信号配線2、3と補助信号配線11とが交差する
部分の数を減らすことでき、信号歪みと映像信号配線か
らの容量結合による飛び込みノイズとを無視できること
になり、したがって救済処理をしたときに信号電圧が正
規となり、元の欠陥ラインが正常な表示をするようにな
る。よって上記の簡易な検査を行った場合においても確
実に欠陥を救済することができ、生産性の向上につなが
る。In this configuration, a portion where the auxiliary signal wiring 11 intersects with the signal wirings 2 and 3 has a capacitance,
At a portion where the auxiliary signal wiring 11 and the semiconductor wiring 12 intersect, there are no signal wirings 2 and 3 and thus there is no capacitance.
Therefore, the number of intersections between the signal wirings 2 and 3 and the auxiliary signal wiring 11 can be reduced, and signal distortion and jump noise due to capacitive coupling from the video signal wiring can be ignored. The signal voltage becomes normal, and the original defective line is displayed normally. Therefore, even when the above simple inspection is performed, the defect can be surely relieved, which leads to an improvement in productivity.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、複数の映
像信号配線と複数の走査信号配線との少なくとも一方に
対応して液晶画面外に共通バス配線を設け、前記信号配
線と、対応する共通バス配線とを半導体配線で接続した
ため、従来行っていた検査後のレーザー光による切断が
不要になり、現状の設備のままで簡易に検査を行え、ロ
スコスト削減を図ることができる。また、レーザー光で
の切断時に発生する不良などを低減でき、生産性の向上
につながるという効果を有する。As described above, according to the present invention, a common bus wiring is provided outside a liquid crystal screen corresponding to at least one of a plurality of video signal wirings and a plurality of scanning signal wirings. Since the common bus wiring is connected to the common bus wiring by a semiconductor wiring, it is not necessary to cut by a laser beam after the inspection, which has been conventionally performed, so that the inspection can be easily performed with the current equipment, and the loss cost can be reduced. In addition, it is possible to reduce defects and the like generated at the time of cutting with laser light, which has the effect of improving productivity.
【図1】この発明の第1の実施の形態の液晶表示パネル
における半導体配線で接続する部分の拡大図である。FIG. 1 is an enlarged view of a portion connected by semiconductor wiring in a liquid crystal display panel according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1におけるa−a部分の断面構造を拡大して
示す図である。FIG. 2 is an enlarged view showing a cross-sectional structure taken along the line aa in FIG.
【図3】この発明の第2の実施の形態の液晶表示パネル
における半導体配線と補助信号配線の交差する部分の拡
大図である。FIG. 3 is an enlarged view of a portion where a semiconductor wiring and an auxiliary signal wiring intersect in a liquid crystal display panel according to a second embodiment of the present invention.
【図4】図3におけるb−b部分の断面構造を拡大して
示す図である。FIG. 4 is an enlarged view showing a cross-sectional structure taken along a line bb in FIG. 3;
【図5】従来の液晶表示パネルの構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of a conventional liquid crystal display panel.
1 共通バス配線 2 映像信号配線 3 走査信号配線 11 補助信号配線 12 半導体配線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Common bus wiring 2 Video signal wiring 3 Scanning signal wiring 11 Auxiliary signal wiring 12 Semiconductor wiring
Claims (3)
線との少なくとも一方に対応して液晶画面外に共通バス
配線を設け、前記信号配線と、対応する共通バス配線と
を半導体配線で接続したことを特徴とする液晶表示パネ
ル。A common bus wiring is provided outside a liquid crystal screen corresponding to at least one of a plurality of video signal wirings and a plurality of scanning signal wirings, and the signal wiring and the corresponding common bus wiring are connected by a semiconductor wiring. A liquid crystal display panel characterized by the following.
線および半導体配線との間に、欠陥のある信号配線をシ
ョートさせて欠陥救済を行うための補助信号配線を設
け、この補助信号配線の少なくとも1本を半導体配線に
対し交差させて配置したことを特徴とする請求項1記載
の液晶表示パネル。2. An auxiliary signal line for short-circuiting a defective signal line to remedy a defect is provided between a liquid crystal screen, a signal line, a common bus line, and a semiconductor line. 2. The liquid crystal display panel according to claim 1, wherein one of the lines is arranged so as to cross the semiconductor wiring.
ルであることを特徴とする請求項1または2記載の液晶
表示パネル。3. The liquid crystal display panel according to claim 1, wherein the panel is manufactured by a chip-on-glass method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP917598A JPH11212105A (en) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | Liquid crystal display panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP917598A JPH11212105A (en) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | Liquid crystal display panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11212105A true JPH11212105A (en) | 1999-08-06 |
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ID=11713245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP917598A Pending JPH11212105A (en) | 1998-01-21 | 1998-01-21 | Liquid crystal display panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11212105A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100439978C (en) * | 2003-03-07 | 2008-12-03 | 友达光电股份有限公司 | LCD Panel testing method and equipment thereof |
KR100965586B1 (en) | 2003-12-30 | 2010-06-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | The dual gate driving liquid crystal display device and the method for fabricating the same |
-
1998
- 1998-01-21 JP JP917598A patent/JPH11212105A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100439978C (en) * | 2003-03-07 | 2008-12-03 | 友达光电股份有限公司 | LCD Panel testing method and equipment thereof |
KR100965586B1 (en) | 2003-12-30 | 2010-06-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | The dual gate driving liquid crystal display device and the method for fabricating the same |
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