JPH11189746A - Antistatic treating agent, its utilization and article coated therewith - Google Patents

Antistatic treating agent, its utilization and article coated therewith

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JPH11189746A
JPH11189746A JP9359672A JP35967297A JPH11189746A JP H11189746 A JPH11189746 A JP H11189746A JP 9359672 A JP9359672 A JP 9359672A JP 35967297 A JP35967297 A JP 35967297A JP H11189746 A JPH11189746 A JP H11189746A
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JP
Japan
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group
bond
treatment agent
antistatic treatment
acid
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Application number
JP9359672A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiro Saida
義弘 齊田
Shigesane Wakazawa
栄実 若沢
Shinsuke Abe
進翼 阿部
Yoshio Kinoshita
芳夫 木下
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Resonac Holdings Corp
Original Assignee
Showa Denko KK
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for utilizing an antistatic treating agent comprising a self-dope type electroconductive polymer, capable of improving normal temperature stability of antistatic treatment and utilizing the effect and obtain an article coated with the antistatic treating agent. SOLUTION: A new antistatic treating solution capable of preventing lowering of pH in a solution and lowering of conductivity (raising of resistance of a coating film prepared from the solution) is produced by adding a mixture containing at least carboxylic acid derivative and an amine derivative and having pH buffering action to a solution of a self dope type conductive polymer having an aromatic sulfonic acid group in the molecule.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、自己ドープ型導電
性高分子成分を含み常温で長期間保存しても極めて安定
である帯電防止処理剤およびその利用方法、被覆物品に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an antistatic treatment agent which contains a self-doping type conductive polymer component and is extremely stable even when stored at room temperature for a long time, a method of using the same, and a coated article.

【0002】[0002]

【従来の技術】π電子共役系の発達した重合体は、導電
性のみならず金属/半導体転移における状態変化などの
特異な物性のために工業的に注目され、多くの研究がな
されてきた。特にポリアセチレンやポリチオフェン、ポ
リピロール、ポリパラフェニレン等の多くの導電性高分
子は、剛直な主鎖骨格のため不溶不融である(Skotheim
著、"Handbook of Conducting Polymers" 誌、Mercer D
ekker 社発行、1986年)が、その側鎖にアルキル基等の
置換基を導入した重合体は可溶性となり、その易加工性
のため工業的に注目されてきている。
2. Description of the Related Art Polymers having a π-electron conjugated system have attracted industrial attention because of their unique physical properties such as a change in state at the metal / semiconductor transition as well as conductivity, and many studies have been made. In particular, many conductive polymers such as polyacetylene, polythiophene, polypyrrole, and polyparaphenylene are insoluble and infusible due to a rigid main chain skeleton (Skotheim
Author, "Handbook of Conducting Polymers", Mercer D
ekker Co., Ltd., 1986), but a polymer having a substituent such as an alkyl group introduced into its side chain becomes soluble and has attracted industrial attention because of its easy processability.

【0003】具体的な例としては、ポリチオフェン環の
側鎖に長鎖アルキル基を導入して有機溶媒に可溶とした
重合体(K.Jen ら、Journal of Chemical Society, Che
mical Communication 誌、1346頁、1986年)や、スルホ
アルキル基を導入した水溶性の重合体(A.O.Patil ら、
Journal of American Chemical Society誌、109 巻、18
58頁、1987年)などが知られている。後者の例は水溶性
の自己ドープ型ポリマーとして知られ、一般にはブレン
ステッド酸基がπ電子共役系ポリマーの主鎖に直接、ま
たはスペーサーを介して間接的に共有結合されており、
外来ドーパントの寄与なしに導電状態を示す点でも注目
されてきた。このような例の報告としては他にも、E.E.
Havinga らのポリチオフェン誘導体(Polymer Bulletin
誌、18巻、277 頁、1987年)、Aldissi のポリチオフェ
ン誘導体やポリピロール誘導体(米国特許4,880,508 号
公報)、ポリアニリン芳香環に置換基としてカルボキシ
ル基を共有結合させた重合体(特表平1-500835号公
報)、ピロールのN位にスルホプロピル基が置換した重
合体(Journal of Chemical Society, Chemical Commun
ication 誌、621 頁、1987年)、N位にスルホプロピル
基が置換したポリアニリン重合体(Journal of Chemica
l Society, Chemical Communication 誌、180 頁、1990
年、および Synthetic Metal誌、31巻、369 頁、1989
年)、芳香環に直接スルホン酸基が置換したポリアニリ
ン誘導体(Journal of American Chemical Society誌、
112 巻、2800頁、1990年)、スルホン酸基を置換したイ
ソチアナフテン重合体(特開平6 −49183 号公報および
特開平7 −48436 号公報)などが製造法とともに開示さ
れている。これらは水溶性であること、外来ドーパント
の寄与なしに良好な導電状態を示すこと、容易に薄膜化
できることなどから工業的に多くの利点がある。
As a specific example, a polymer which is soluble in an organic solvent by introducing a long-chain alkyl group into a side chain of a polythiophene ring (K. Jen et al., Journal of Chemical Society, Che.
mical Communication, p. 1346, 1986), and water-soluble polymers with sulfoalkyl groups (AOPatil et al.,
Journal of American Chemical Society, Volume 109, 18
58, 1987). The latter example is known as a water-soluble self-doped polymer, in which Bronsted acid groups are generally covalently bonded directly to the main chain of a π-electron conjugated polymer or indirectly via a spacer,
It has also been noted that it exhibits a conductive state without the contribution of extraneous dopants. Other reports of such cases include the EE
Havinga's polythiophene derivative (Polymer Bulletin
Journal, Vol. 18, p. 277, 1987), polythiophene derivatives and polypyrrole derivatives of Aldissi (US Pat. No. 4,880,508), and polymers in which a carboxyl group is covalently bonded as a substituent to a polyaniline aromatic ring (Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-500835). Publication), a polymer in which a sulfopropyl group is substituted at the N-position of pyrrole (Journal of Chemical Society, Chemical Commun
ication magazine, p. 621, 1987), polyaniline polymer substituted with a sulfopropyl group at the N-position (Journal of Chemica
l Society, Chemical Communication, 180, 1990
Year, and Synthetic Metal, 31, 369, 1989
Year), a polyaniline derivative in which an aromatic ring is directly substituted with a sulfonic acid group (Journal of American Chemical Society,
112, 2800, 1990), and isothianaphthene polymers substituted with a sulfonic acid group (JP-A-6-49183 and JP-A-7-48436), as well as the production method. These have many industrial advantages because they are water-soluble, exhibit good conductivity without the contribution of foreign dopants, and can be easily formed into thin films.

【0004】しかしながら、自己ドープ型導電性高分子
のなかでも芳香環に直接スルホン酸の置換した自己ド−
プ型導電性高分子は、常温下溶液中で保存すると溶液の
pHの低下や溶液から作製した塗膜の抵抗値上昇(導電
性の低下)等の物性変化があることが知られていた。そ
して、このような物性変化は、例えば特開平4−328
48号公報に記載のように荷電粒子線を照射する工程に
おける帯電現象を防止する用途で使われる場合には極め
て影響が大きく、改良が求められる。通常、こうした帯
電現象を防止するには表面抵抗値が5×107 Ω/□以
下であることが求められている(電子材料誌1990年
12月号、48頁〜54頁)。
[0004] However, among self-doping conductive polymers, self-doping in which aromatic ring is directly substituted with sulfonic acid is used.
It has been known that, when stored in a solution at room temperature, the conductive polymer has a change in physical properties such as a decrease in the pH of the solution and an increase in the resistance value (decrease in conductivity) of a coating film formed from the solution. Such a change in physical properties is described in, for example, JP-A-4-328.
As described in JP-A-48-48, when used for the purpose of preventing a charging phenomenon in a step of irradiating a charged particle beam, the effect is extremely large, and improvement is required. Usually, in order to prevent such a charging phenomenon, the surface resistance is required to be 5 × 10 7 Ω / □ or less (Electronic Materials Magazine, December 1990, pp. 48-54).

【0005】前記、物性変化を改善する方法としては、
特開平8−259673号公報において、溶液中の酸素
を除去する方法が開示されている。しかしながら、この
脱酸素処理等は製造工程および容器中での保存の点で特
別の工夫が必要であり、帯電防止処理剤自体の安定化が
要求される。また、産業上、半導体製造における荷電粒
子線を照射する工程において、最近感光性材料として化
学増幅系レジスト材料が使用されるようになり、pH変
動の少ない帯電防止処理剤が要求されている。一方、帯
電防止剤の使用ではないが、特表平6−511283号
公報には、ポリピロール類等の導電性高分子を製造する
際に、前駆体モノマーの重合性を制御するためにpH緩
衝液を添加する製造方法が開示されているが、導電性高
分子の安定性付与のためにpH緩衝液を利用した例はこ
れまで知られていなかった。
[0005] As a method of improving the change in physical properties,
Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-259573 discloses a method for removing oxygen from a solution. However, this deoxygenation treatment or the like requires special measures in terms of the production process and storage in a container, and requires stabilization of the antistatic treatment agent itself. In addition, chemically amplified resist materials have recently been used as photosensitive materials in the process of irradiating a charged particle beam in semiconductor manufacturing in semiconductor manufacturing, and antistatic treatment agents with small pH fluctuations are required. On the other hand, although not using an antistatic agent, Japanese Patent Publication No. Hei 6-511283 discloses a pH buffer solution for controlling the polymerizability of the precursor monomer when producing a conductive polymer such as polypyrrole. Is disclosed, but an example using a pH buffer solution for imparting stability to the conductive polymer has not been known so far.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、自己
ドープ型導電性高分子を含む常温放置において安定性に
優れた帯電防止処理剤およびその利用方法、該被覆物品
を提供することにある。具体的には、特定の縮合ヘテロ
多環式化合物骨格またはイミノフェニレン骨格を有する
自己ドープ型導電性高分子を含み、常温放置において長
期間安定性に優れた帯電防止処理剤、およびその利用方
法、それらを用いて製造した被覆物品を提供することに
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an antistatic treatment agent containing a self-doping type conductive polymer which is excellent in stability when left at room temperature, a method of using the same, and a coated article. . Specifically, it includes a self-doping type conductive polymer having a specific fused heteropolycyclic compound skeleton or iminophenylene skeleton, and has excellent long-term stability at room temperature, and its use, An object of the present invention is to provide a coated article manufactured by using them.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者らは鋭意研究の
結果、pH緩衝作用を有する混合物(化合物も含む)を
併用することによって、芳香族スルホン酸基を有する自
己ド−プ型導電性高分子含有帯電防止処理剤が、自己ド
ープ状態等の特性に変動(脱ド−プまたは酸化)を起こ
すことなく、該高分子の塗膜の導電性低下を特異的に抑
制できることを見いだし、本発明に至った。本発明にお
ける前記芳香族スルホン酸基を有する自己ド−プ型導電
性高分子とは、芳香族環にスルホン酸基が直接置換され
てなるπ電子共役系高分子であって、そのスルホン酸基
とπ電子共役主鎖との間にzwitterion構造を形成してな
る自己ド−プ型導電性高分子であれば良く、化学構造の
一次構造には特に制限されない。具体的な繰り返し構造
単位の例としては、特定構造の縮合ヘテロ多環式化合物
のスルホン酸置換体及びアニリンスルホン酸置換誘導体
の各二価基または前記構造体の各種塩類の化学構造であ
る。即ち、高分子形態としては、前記繰り返し構造から
なる重合体(ホモポリマー)または該構造体を含む共重
合体(コポリマー)である。該共重合体における前記繰
り返し構造以外の二価基としては、高分子主鎖構造にお
いてπ電子共役構造を形成できるものなら何でも良く、
例えば、フェニレン、ピロリレン、チエニレン、ビニレ
ン、アセチレン、イミノフェニレン、イソチアナフテニ
レン、フリレン、カルバゾリレン等の二価基が挙げら
れ、好ましくはイソチアナフテニレン及びイミノフェニ
レン基が選ばれる。
Means for Solving the Problems As a result of intensive studies, the present inventors have found that by using a mixture having a pH buffering action (including a compound) together, a self-doping type conductive compound having an aromatic sulfonic acid group can be obtained. The present inventors have found that a polymer-containing antistatic treatment agent can specifically suppress a decrease in the conductivity of a coating film of the polymer without causing a change (de-doping or oxidation) in characteristics such as a self-doping state. Invented the invention. The self-doped conductive polymer having an aromatic sulfonic acid group in the present invention is a π-electron conjugated polymer in which an aromatic ring is directly substituted with a sulfonic acid group, and the sulfonic acid group Any self-doped conductive polymer having a zwitterion structure formed between it and the π-electron conjugated main chain may be used, and the primary structure of the chemical structure is not particularly limited. Specific examples of the repeating structural unit include the chemical structure of each divalent group of a sulfonic acid-substituted product and a anilinesulfonic acid-substituted derivative of a condensed heteropolycyclic compound having a specific structure or various salts of the above-mentioned structure. That is, the polymer form is a polymer (homopolymer) having the above-mentioned repeating structure or a copolymer (copolymer) containing the structure. The divalent group other than the repeating structure in the copolymer may be anything that can form a π-electron conjugated structure in the polymer main chain structure,
For example, divalent groups such as phenylene, pyrrolylene, thienylene, vinylene, acetylene, iminophenylene, isothianaphthenylene, furylene, and carbazolylene are exemplified, and isothianaphthenylene and iminophenylene groups are preferably selected.

【0008】以下、本発明を詳細に説明する。本発明で
使用する前記特定構造の縮合ヘテロ多環式化合物のスル
ホン酸置換体の二価基としては、下記一般式(1)
Hereinafter, the present invention will be described in detail. As the divalent group of the sulfonic acid-substituted product of the fused heteropolycyclic compound having the specific structure used in the present invention, the following general formula (1)

【化3】 (式中、R1 、R2 、R3 、R4 及びR5 は、それぞれ
独立にH、または炭素数1乃至20の直鎖状もしくは分
岐状の飽和または不飽和の炭化水素基、炭素数1乃至2
0の直鎖状もしくは分岐状の飽和または不飽和のアルコ
キシ基、水酸基、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、
クロロメチル等のトリハロメチル基、フェニル基及び置
換フェニル基またはSO3 -1 基等の一価基を表し、M
1 は、H+、アルカリ金属イオン、またはN(R7
(R8 )(R9 )(R10+ (第4級アンモニウムイオ
ン)、P(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ 、As
(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ で表わされるVb
族元素の第4級カチオンを表す。R7 、R8 、R9 、R
10はそれぞれ独立にH、炭素数1乃至30の直鎖状もし
くは分岐状の置換もしくは非置換のアルキル基、または
置換もしくは非置換のアリール基を表わし、アルコキシ
基、ヒドロキシル基、オキシアルキレン基、チオアルキ
レン基、アゾ基、アゾベンゼン基、p−ジフェニレンオ
キシ基のごとき炭素、水素以外の元素を含む基を含むア
ルキル基またはアリール基であってもよい。R1 、R
2 、R3 、R4 及びR5 の置換基のうち、隣合う置換基
が炭化水素基であるときは該炭化水素鎖は、互いに任意
の位置で結合して、かかる基により置換を受けている炭
素原子と共に、少なくとも1つ以上の飽和または不飽和
の3乃至7員環の環状構造を形成する二価鎖を少なくと
も1つ以上形成してもよい。Lは、Xを構成員とする縮
合系5員環と、同5員環から離れた縮合6員環に挟まれ
た縮合6員環の数を表し、0乃至3の整数値である。ま
た、Xはヘテロ原子を表しS、O、Se、TeまたはN
6 である。R6 はH、炭素数1乃至20の直鎖状もし
くは分岐状の炭化水素基、または炭素数6乃至20の置
換もしくは非置換の芳香族炭化水素基を表す。上記のR
1 、R2 、R3 、R4 およびR5 のアルキル基、アルコ
キシ基またはアルキルエステル基の鎖中には、カルボニ
ル結合、エーテル結合、エステル結合、スルホン酸エス
テル結合、アミド結合、スルホンアミド結合、スルフィ
ド結合、スルフィニル結合、スルホニル結合、イミノ結
合、チオエテール結合を任意に含有してもよい。)、
Embedded image (Wherein, R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 are each independently H, or a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms; 1 or 2
0 linear or branched saturated or unsaturated alkoxy, hydroxyl, halogen, nitro, cyano,
Trihalomethyl groups such as chloromethyl, phenyl group and substituted phenyl group or a SO 3 - represents a monovalent group such as M 1 group, M
1 is H + , an alkali metal ion, or N (R 7 )
(R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + (quaternary ammonium ion), P (R 7 ) (R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + , As
(R 7) (R 8) (R 9) (R 10) + in represented by Vb
Represents a quaternary cation of a group III element. R 7 , R 8 , R 9 , R
10 independently represents H, a linear or branched substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aryl group, and is an alkoxy group, a hydroxyl group, an oxyalkylene group, It may be an alkyl group or an aryl group including a group containing an element other than carbon and hydrogen such as an alkylene group, an azo group, an azobenzene group, and a p-diphenyleneoxy group. R 1 , R
When the substituents adjacent to each other among the substituents of 2 , R 3 , R 4 and R 5 are hydrocarbon groups, the hydrocarbon chains are bonded to each other at any position and are substituted by such groups. With at least one carbon atom, at least one or more divalent chains forming at least one or more saturated or unsaturated 3- to 7-membered cyclic structure may be formed. L represents the number of a fused 6-membered ring sandwiched between a fused 5-membered ring having X as a member and a fused 6-membered ring separated from the 5-membered ring, and is an integer of 0 to 3. X represents a heteroatom; S, O, Se, Te or N
R 6 . R 6 represents H, a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms. R above
In the chain of the alkyl group, alkoxy group or alkyl ester group of 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 , a carbonyl bond, an ether bond, an ester bond, a sulfonic ester bond, an amide bond, a sulfonamide bond, It may optionally contain a sulfide bond, a sulfinyl bond, a sulfonyl bond, an imino bond, and a thioether bond. ),

【0009】または、下記一般式(2)で表されるアニ
リンスルホン酸置換誘導体の二価基、
Or a divalent group of an anilinesulfonic acid-substituted derivative represented by the following general formula (2):

【化4】 (式中、R11、R12及びR13は、それぞれ独立にH、ま
たは炭素数1乃至20の直鎖状もしくは分岐状の飽和ま
たは不飽和の炭化水素基、炭素数1乃至20の直鎖状も
しくは分岐状の飽和または不飽和のアルコキシ基、水酸
基、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、クロロメチル
等のトリハロメチル基、フェニル基及び置換フェニル基
またはSO3 -2 基等の一価基を表し、R14は、それぞ
れ独立にH、または炭素数1乃至20の直鎖状もしくは
分岐状の飽和または不飽和の炭化水素基、フェニル基及
び置換フェニル基からなる群の一価基を表す。M2 は、
+、アルカリ金属イオン、またはN(R7 )(R8
(R9 )(R10+ (第4級アンモニウムイオン)、P
(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ 、As(R7
(R8 )(R9 )(R10+ で表わされるVb族元素の
第4級カチオンを表す。R7 、R8 、R9 、R10はそれ
ぞれ独立にH、炭素数1乃至30の直鎖状もしくは分岐
状の置換もしくは非置換のアルキル基、または置換もし
くは非置換のアリール基を表わし、アルコキシ基、ヒド
ロキシル基、オキシアルキレン基、チオアルキレン基、
アゾ基、アゾベンゼン基、p−ジフェニレンオキシ基の
ごとき炭素、水素以外の元素を含む基を含むアルキル基
またはアリール基であってもよい。また、上記のR11
12、R13、R14のアルキル基、アルコキシ基またはア
ルキルエステル基の鎖中には、カルボニル結合、エーテ
ル結合、エステル結合、スルホン酸エステル結合、アミ
ド結合、スルホンアミド結合、スルフィド結合、スルフ
ィニル結合、スルホニル結合、イミノ結合、チオエテー
ル結合を任意に含有してもよい。)である。
Embedded image (In the formula, R 11 , R 12 and R 13 are each independently H, or a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a linear chain having 1 to 20 carbon atoms. Jo or branched, saturated or unsaturated alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, a nitro group, a cyano group, a trihalomethyl group such as chloromethyl, phenyl group and substituted phenyl group or a SO 3 - monovalent radical such as M 2 group And R 14 independently represents H or a monovalent group of a group consisting of a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a phenyl group and a substituted phenyl group. .M 2 is,
H + , alkali metal ion, or N (R 7 ) (R 8 )
(R 9 ) (R 10 ) + (quaternary ammonium ion), P
(R 7) (R 8) (R 9) (R 10) +, As (R 7)
A quaternary cation of a group Vb element represented by (R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + . R 7 , R 8 , R 9 , and R 10 each independently represent H, a linear or branched, substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aryl group; Group, hydroxyl group, oxyalkylene group, thioalkylene group,
It may be an alkyl group or an aryl group including a group containing an element other than carbon and hydrogen such as an azo group, an azobenzene group, and a p-diphenyleneoxy group. In addition, R 11 ,
A carbonyl bond, an ether bond, an ester bond, a sulfonic acid ester bond, an amide bond, a sulfonamide bond, a sulfide bond, a sulfinyl bond are present in the chain of the alkyl group, alkoxy group or alkyl ester group of R 12 , R 13 and R 14. , A sulfonyl bond, an imino bond, and a thioether bond. ).

【0010】ここで、R1 、R2 、R3 、R4 、R5
11、R12及びR13として特に有用な例としては、H
(水素)、アルキル基、アルコキシ基、アルキルエステ
ル基、フェニルおよび置換フェニル基、スルホン酸基が
挙げられる。これらの置換基を更に詳しく例示すれば、
アルキル基としてはメチル、エチル、プロピル、アリ
ル、イソプロピル、ブチル、1−ブテニル、ペンチル、
ヘキシル、ヘプチル、オクチル、ノニル、デシル、ウン
デシル、ドデシル、テトラデシル、ヘキサデシル、エト
キシエチル、メトキシエチル、メトキシエトキシエチ
ル、アセトニル、フェナシル等、アルコキシ基としては
メトキシ、エトキシ、プロポキシ、イソプロポキシ、ブ
トキシ、ペンチルオキシ、ヘキシルオキシ、オクチルオ
キシ、ドデシルオキシ、メトキシエトキシ、メトキシエ
トキシエトキシ等、アルキルエステル基としては、メト
キシカルボニル、エトキシカルボニル、ブトキシカルボ
ニル等のアルコキシカルボニル基、アセトキシ、ブチロ
イルオキシ等のアシルオキシ基、置換フェニル基として
はフロロフェニル基、クロロフェニル基、ブロモフェニ
ル基、メチルフェニル基、メトキシフェニル基等が挙げ
られる。上記のR1 、R2、R3 、R4 、R5 のアルキ
ル基、アルコキシ基の鎖中には、カルボニル結合、エー
テル結合、エステル結合、スルホン酸エステル結合、ア
ミド結合、スルホンアミド結合、スルフィド結合、スル
フィニル結合、スルホニル結合、イミノ結合、チオエテ
ール結合を任意に含有してもよい。
Here, R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 ,
Particularly useful examples of R 11 , R 12 and R 13 include H
(Hydrogen), alkyl groups, alkoxy groups, alkyl ester groups, phenyl and substituted phenyl groups, and sulfonic acid groups. Illustrating these substituents in more detail,
Examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, allyl, isopropyl, butyl, 1-butenyl, pentyl,
Hexyl, heptyl, octyl, nonyl, decyl, undecyl, dodecyl, tetradecyl, hexadecyl, ethoxyethyl, methoxyethyl, methoxyethoxyethyl, acetonyl, phenacyl, etc., and alkoxy groups such as methoxy, ethoxy, propoxy, isopropoxy, butoxy, pentyloxy , Hexyloxy, octyloxy, dodecyloxy, methoxyethoxy, methoxyethoxyethoxy and the like, alkyl ester groups, methoxycarbonyl, ethoxycarbonyl, butoxycarbonyl and the like alkoxycarbonyl group, acetoxy, butoxyloxy and the like acyloxy group, substituted phenyl group Represents a fluorophenyl group, a chlorophenyl group, a bromophenyl group, a methylphenyl group, a methoxyphenyl group or the like. In the chain of the alkyl group or alkoxy group of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , and R 5 , a carbonyl bond, an ether bond, an ester bond, a sulfonic acid ester bond, an amide bond, a sulfonamide bond, and a sulfide It may optionally contain a bond, a sulfinyl bond, a sulfonyl bond, an imino bond, and a thioether bond.

【0011】一般式(1)中のR1 、R2 、R3 、R
4 、R5 、R11、R12及びR13において、前記置換基の
中で、H、炭素数1乃至20の直鎖状もしくは分岐状の
アルキル基またはアルコキシ基が望ましく、また、Hま
たは炭素数1乃至20の直鎖状もしくは分岐状のアルコ
キシ基が特に望ましい。また、隣合うR1 、R2
3、R4 、R5 から選ばれる置換基は、互いに任意の
置換位置で結合して、該置換基により置換されている原
子を含む飽和または不飽和の環状構造(例えば炭化水
素)または複素環を形成する二価基を形成してもよく、
かかる二価基の例としてはブチレン、ペンチレン、ヘキ
シレン、ブタジエニレン、置換ブタジエニレン、メチレ
ンジオキシ、エチレンジオキシなどが挙げられる。
In the general formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R
In R 4 , R 5 , R 11 , R 12 and R 13 , among the above-mentioned substituents, H, a linear or branched alkyl group or an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms is preferable. A linear or branched alkoxy group of the formulas 1 to 20 is particularly desirable. Also, adjacent R 1 , R 2 ,
The substituents selected from R 3 , R 4 , and R 5 are bonded to each other at an arbitrary substitution position to form a saturated or unsaturated cyclic structure (eg, a hydrocarbon) or a heterocyclic structure containing an atom substituted by the substituent. A divalent group forming a ring may be formed,
Examples of such divalent groups include butylene, pentylene, hexylene, butadienylene, substituted butadienylene, methylenedioxy, ethylenedioxy and the like.

【0012】一般式(1)中のR6 及び一般式(2)中
のR14は、それぞれ独立にH、炭素数1乃至20の直鎖
状もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和炭化水素基、フ
ェニル基及び置換フェニル基からなる群の一価基から選
ばれ、該置換基の好ましい置換基の具体例は、前記R
1 、R2 、R3 、R4 、R5 と同じである。
R 6 in the general formula (1) and R 14 in the general formula (2) each independently represent H, a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, A monovalent group selected from the group consisting of a phenyl group and a substituted phenyl group is preferred.
Same as 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 .

【0013】一般式(1)および一般式(2)におい
て、M1 およびM2 は、H+ 、N(R7 )(R8 )(R
9 )(R10+ で表わされる第4級アンモニウムのカチ
オン、P(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ 、As
(R7 )(R8 )(R9 )(R10)+ で表わされるVb
族元素の第4級カチオン、あるいはNa+ 、Li+ 、K
+等のアルカリ金属イオンを表わし、M1 およびM2
前記カチオンを一種類以上含む混合物であっても良い。
7 、R8 、R9 、R10はそれぞれ独立にH、炭素数1
乃至30の直鎖状もしくは分岐状の置換もしくは非置換
のアルキル基、または置換もしくは非置換のアリール基
を表わし、アルコキシ基、ヒドロキシル基、オキシアル
キレン基、チオアルキレン基、アゾ基、アゾベンゼン
基、p−ジフェニレンオキシ基のごとき炭素、水素以外
の元素を含む基を含むアルキル基またはアリール基であ
ってもよい。
In the general formulas (1) and (2), M 1 and M 2 are H + , N (R 7 ) (R 8 ) (R
9 ) a quaternary ammonium cation represented by (R 10 ) + , P (R 7 ) (R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + , As
(R 7) (R 8) (R 9) (R 10) + in represented by Vb
Quaternary cation of group element, or Na + , Li + , K
Represents an alkali metal ion such as + , and M 1 and M 2 may be a mixture containing one or more kinds of the cations.
R 7 , R 8 , R 9 , and R 10 are each independently H, having 1 carbon atom.
Represents from 30 to 30 linear or branched substituted or unsubstituted alkyl groups, or substituted or unsubstituted aryl groups, and includes an alkoxy group, a hydroxyl group, an oxyalkylene group, a thioalkylene group, an azo group, an azobenzene group, p And an alkyl group or an aryl group including a group containing an element other than carbon and hydrogen such as a diphenyleneoxy group.

【0014】かかるN(R7 )(R8 )(R9
(R10+ で表わされる第4級アンモニウムのカチオン
としては、例えばNH4 +、NH(CH33 +、NH(C
653 + 、N(CH32 (CH2 OH)(CH2
−Z)+ 等の非置換またはアルキル置換もしくはアリー
ル置換型カチオン(但し、Zは化学式量が600以下の
任意の置換基を表し、例えば、フェノキシ基、p−ジフ
ェニレンオキシ基、p−アルコキシジフェニレンオキシ
基、p−アルコキシフェニルアゾフェノキシ基等の置換
基である。)、複素環アミンの第4級カチオン(ピリジ
ニウムイオン、ピペリジニウムイオン)が用いられる。
また、P(R7 )(R8 )(R9 )(R10+、As
(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ で表わされるVb
族元素の第4級カチオンとしては、例えばPH4 +、PH
(CH33 +、PH(C653 +、AsH4 +、AsH
(CH33 +、AsH(C653 +等の非置換または
アルキル置換もしくはアリール置換型カチオンが用いら
れる。特定カチオンに変換するために、通常のイオン交
換樹脂を用いてもよい。
Such N (R 7 ) (R 8 ) (R 9 )
Examples of the quaternary ammonium cation represented by (R 10 ) + include NH 4 + , NH (CH 3 ) 3 + , and NH (C
6 H 5) 3 +, N (CH 3) 2 (CH 2 OH) (CH 2
-Z) + and other unsubstituted or alkyl-substituted or aryl-substituted cations (Z represents an arbitrary substituent having a chemical formula of 600 or less, for example, phenoxy, p-diphenyleneoxy, p-alkoxydi Substituents such as phenyleneoxy group and p-alkoxyphenylazophenoxy group), and quaternary cations of a heterocyclic amine (pyridinium ion, piperidinium ion).
P (R 7 ) (R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + , As
(R 7) (R 8) (R 9) (R 10) + in represented by Vb
Examples of quaternary cations of group elements include PH 4 + , PH
(CH 3 ) 3 + , PH (C 6 H 5 ) 3 + , AsH 4 + , AsH
Unsubstituted or alkyl-substituted or aryl-substituted cations such as (CH 3 ) 3 + and AsH (C 6 H 5 ) 3 + are used. In order to convert to a specific cation, an ordinary ion exchange resin may be used.

【0015】R7 、R8 、R9 、R10のアルキル基の鎖
中には、カルボニル結合、エーテル結合、エステル結
合、アミド結合、スルフィド結合、スルフィニル結合、
スルホニル結合、イミノ結合等を任意に含んでもよい。
一般式(1)において、望ましいM+ の例としては、H
+ やN(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ で表わされ
る第4級アンモニウムイオン、及びNa+ 、Li+ また
はK+ 等のアルカリ金属イオンであり、特にN(R7
(R8 )(R9 )(R10+ が望ましい。
In the chain of the alkyl group of R 7 , R 8 , R 9 and R 10 , a carbonyl bond, an ether bond, an ester bond, an amide bond, a sulfide bond, a sulfinyl bond,
It may optionally contain a sulfonyl bond, an imino bond and the like.
In the general formula (1), a desirable example of M + is H
+ And N (R 7) (R 8 ) (R 9) (R 10) + with a quaternary ammonium ion represented, and Na +, an alkali metal ion Li + or K + and the like, especially N (R 7 )
(R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + is desirable.

【0016】本発明で使用する一般式(1)で表される
縮合ヘテロ多環式化合物の二価基は、例えば、5−スル
ホイソチアナフテン−1,3−ジイル、4−スルホイソ
チアナフテン−1,3−ジイル、4−メチル−5−スル
ホイソチアナフテン−1,3−ジイル、6−メチル−5
−スルホイソチアナフテン−1,3−ジイル、6−メチ
ル−4−スルホイソチアナフテン−1,3−ジイル、5
−メチル−4−スルホイソチアナフテン−1,3−ジイ
ル、6−エチル−5−スルホイソチアナフテン−1,3
−ジイル、6−プロピル−5−スルホイソチアナフテン
−1,3−ジイル、6−ブチル−5−スルホイソチアナ
フテン−1,3−ジイル、6−ヘキシル−5−スルホイ
ソチアナフテン−1,3−ジイル、6−デシル−5−ス
ルホイソチアナフテン−1,3−ジイル、6−メトキシ
−5−スルホイソチアナフテン−1,3−ジイル、6−
エトキシ−5−スルホイソチアナフテン−1,3−ジイ
ル、6−クロロ−5−スルホイソチアナフテン−1,3
−ジイル、6−ブロモ−5−スルホイソチアナフテン−
1,3−ジイル、6−トリフルオロメチル−5−スルホ
イソチアナフテン−1,3−ジイル、5−スルホイソベ
ンゾフラン−1,3−ジイル、5−スルホイソインドー
ル−1,3−ジイル、6−スルホナフト[2,3−c]
チオフェン−1,3−ジイル等の酸型化合物もしくはそ
れらのリチウム塩、ナトリウム塩、アンモニウム塩、メ
チルアンモニウム塩、エチルアンモニウム塩、ジメチル
アンモニウム塩、ジエチルアンモニウム塩、トリメチル
アンモニウム塩、トリエチルアンモニウム塩、テトラメ
チルアンモニウム塩、テトラエチルアンモニウム塩等を
挙げることができる。
The divalent group of the condensed heteropolycyclic compound represented by the general formula (1) used in the present invention is, for example, 5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 4-sulfoisothianaphthene -1,3-diyl, 4-methyl-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-methyl-5
-Sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-methyl-4-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 5
-Methyl-4-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-ethyl-5-sulfoisothianaphthene-1,3
-Diyl, 6-propyl-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-butyl-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-hexyl-5-sulfoisothianaphthene-1, 3-diyl, 6-decyl-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-methoxy-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-
Ethoxy-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 6-chloro-5-sulfoisothianaphthene-1,3
-Diyl, 6-bromo-5-sulfoisothianaphthene-
1,3-diyl, 6-trifluoromethyl-5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl, 5-sulfoisobenzofuran-1,3-diyl, 5-sulfoisoindole-1,3-diyl, 6 -Sulfonaphtho [2,3-c]
Acid type compounds such as thiophene-1,3-diyl and the like, lithium salts, sodium salts, ammonium salts, methyl ammonium salts, ethyl ammonium salts, dimethyl ammonium salts, diethyl ammonium salts, trimethyl ammonium salts, triethyl ammonium salts, tetramethyl Ammonium salts, tetraethylammonium salts and the like can be mentioned.

【0017】一般式(2)で表される化学構造の好まし
い具体例としては、2−スルホ−1,4−イミノフェニ
レン、3−メチル−2−スルホ−1,4−イミノフェニ
レン、5−メチル−2−スルホ−1,4−イミノフェニ
レン、6−メチル−2−スルホ−1,4−イミノフェニ
レン、5−エチル−2−スルホ−1,4−イミノフェニ
レン、5−ヘキシル−2−スルホ−1,4−イミノフェ
ニレン、3−メトキシ−2−スルホ−1,4−イミノフ
ェニレン、5−メトキシ−2−スルホ−1,4−イミノ
フェニレン、6−メトキシ−2−スルホ−1,4−イミ
ノフェニレン、5−エトキシ−2−スルホ−1,4−イ
ミノフェニレン、2−スルホ−N−メチル−1,4−イ
ミノフェニレン、2−スルホ−N−エチル−1,4−イ
ミノフェニレン等の酸型化合物、もしくはそのリチウム
塩、ナトリウム塩、アンモニウム塩、メチルアンモニウ
ム塩、エチルアンモニウム塩、ジメチルアンモニウム
塩、ジエチルアンモニウム塩、トリメチルアンモニウム
塩、トリエチルアンモニウム塩、テトラメチルアンモニ
ウム塩、テトラエチルアンモニウム塩等を挙げることが
できる。
Preferred specific examples of the chemical structure represented by the general formula (2) include 2-sulfo-1,4-iminophenylene, 3-methyl-2-sulfo-1,4-iminophenylene, 5-methyl -2-sulfo-1,4-iminophenylene, 6-methyl-2-sulfo-1,4-iminophenylene, 5-ethyl-2-sulfo-1,4-iminophenylene, 5-hexyl-2-sulfo- 1,4-iminophenylene, 3-methoxy-2-sulfo-1,4-iminophenylene, 5-methoxy-2-sulfo-1,4-iminophenylene, 6-methoxy-2-sulfo-1,4-imino Phenylene, 5-ethoxy-2-sulfo-1,4-iminophenylene, 2-sulfo-N-methyl-1,4-iminophenylene, 2-sulfo-N-ethyl-1,4-iminophenylene and the like Acid type compounds, or lithium salts, sodium salts, ammonium salts, methyl ammonium salts, ethyl ammonium salts, dimethyl ammonium salts, diethyl ammonium salts, trimethyl ammonium salts, triethyl ammonium salts, tetramethyl ammonium salts, tetraethyl ammonium salts thereof, and the like. be able to.

【0018】前記、一般式(1)または一般式(2)で
表される自己ドープ型導電性高分子の繰り返し化学構造
は、通常、それぞれ重合体の全繰り返し単位中、100
モル%〜50モル%、好ましくは100モル%〜80モ
ル%を含む範囲であり、また共重合成分として2種〜5
種の繰り返し単位の異なったものからなる共重合体組成
であってもよい。前記共重合体は、繰り返し単位か連続
して含むブロック共重合体に限定されず、ランダムコポ
リマーのような不規則な共重合体であってもよい。
The repeating chemical structure of the self-doping type conductive polymer represented by the general formula (1) or (2) usually has 100 repeating units in all the repeating units of the polymer.
Mol% to 50 mol%, preferably 100 mol% to 80 mol%, and 2 to 5 mol% as a copolymer component.
It may be a copolymer composition comprising different kinds of repeating units. The copolymer is not limited to a block copolymer containing a repeating unit or a continuous unit, and may be an irregular copolymer such as a random copolymer.

【0019】本発明に用いられる自己ドープ型導電性高
分子の分子量は、構成する繰り返し単位の化学構造によ
って異なるため一概に規定することはできないが、本発
明の目的に適うものであればよく特に限定されない。通
常、主鎖を構成する繰り返し単位数(重合度)によって
表せば、通常、5〜2000の範囲、好ましくは10〜
1000の範囲である。
The molecular weight of the self-doping type conductive polymer used in the present invention cannot be specified unconditionally because it differs depending on the chemical structure of the constituent repeating unit. Not limited. Usually, when represented by the number of repeating units (degree of polymerization) constituting the main chain, it is usually in the range of 5 to 2,000, preferably 10 to 2,000.
It is in the range of 1000.

【0020】本発明に用いられるスルホン酸基を有する
自己ドープ型導電性高分子の特に好ましい具体例とし
て、 i)一般式(1)中、L=0で表される化学構造の一例
として、5−スルホイソチアナフテン−1,3−ジイル
の重合体の酸構造、及びそのリチウム塩、ナトリウム
塩、アンモニウム塩、トリエチルアンモニウム塩、 ii)前項i)記載の化学構造を80モル%以上含有した
ランダムコポリマー、即ちポリ(5−スルホイソチアナ
フテン−1,3−ジイル−co−イソチアナフテン−
1,3−ジイル)の酸構造、及びそのリチウム塩、ナト
リウム塩、アンモニウム塩、トリエチルアンモニウム
塩、 iii )一般式(2)で表される化学構造の一例として、
2−スルホ−1,4−イミノフェニレンを50モル%以
上含有するランダムコポリマー、即ちポリ(2−スルホ
−1,4−イミノフェニレン−co−1,4−イミノフ
ェニレン)の酸構造、及びそのリチウム塩、ナトリウム
塩、アンモニウム塩、トリエチルアンモニウム塩 を挙げることができる。
Particularly preferred specific examples of the self-doping type conductive polymer having a sulfonic acid group used in the present invention include: i) In the general formula (1), as an example of a chemical structure represented by L = 0, 5 -Sulfoisothianaphthene-1,3-diyl polymer acid structure and its lithium salt, sodium salt, ammonium salt, triethylammonium salt, ii) random containing at least 80 mol% of the chemical structure described in i) above. Copolymers, i.e. poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl-co-isothianaphthene-
Examples of the acid structure of 1,3-diyl) and its lithium salt, sodium salt, ammonium salt, triethylammonium salt, and iii) an example of the chemical structure represented by the general formula (2):
Acid structure of random copolymer containing 2-sulfo-1,4-iminophenylene in an amount of 50 mol% or more, that is, poly (2-sulfo-1,4-iminophenylene-co-1,4-iminophenylene), and lithium thereof Salts, sodium salts, ammonium salts, and triethylammonium salts.

【0021】本発明の帯電防止処理剤中に混入される弱
酸とは、塩基との混合物を形成した時にpH緩衝作用を
発現するものであれば良く、特に限定されるものではな
い。また、塩基も同じく限定されない。弱酸の例とし
て、例えばカルボン酸誘導体、燐酸誘導体、ホウ酸誘導
体等が挙げられ、中でもカルボン酸誘導体が望ましい。
前記弱酸を具体的に例示すれば、炭酸、蟻酸、酢酸、プ
ロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、シク
ロヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デ
カン酸、ウンデカン酸、ドデカン酸、トリデカン酸、テ
トラデカン酸、ペンタデカン酸、ヘキサデカン酸、ヘプ
タデカン酸、オクタデカン酸、ノナデカン酸、メタクリ
ル酸、アクリル酸、クロトン酸、オレイン酸等の直鎖状
および分岐状の脂肪族飽和もしくは不飽和のモノカルボ
ン酸、またはシュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル
酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン
酸、セバシン酸等の脂肪族飽和ジカルボン酸、もしくは
マレイン酸、フマル酸、メサコン酸、シトラコン酸等の
脂肪族不飽和ジカルボン酸、さらには安息香酸、フェニ
ル酢酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ナフ
タレンカルボン酸等の芳香族カルボン酸並びにこれらの
置換誘導体が挙げられる。また、同様に燐酸、亜燐酸、
ポリ燐酸、ホウ酸等が挙げられる。本発明において好ま
しくは、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、
ヘキサン酸、シクロヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン
酸、ノナン酸、デカン酸等の直鎖状および分岐状のモノ
カルボン酸である。
The weak acid mixed into the antistatic treatment agent of the present invention is not particularly limited as long as it exhibits a pH buffering action when formed into a mixture with a base. Further, the base is not limited either. Examples of the weak acid include a carboxylic acid derivative, a phosphoric acid derivative, a boric acid derivative, and the like. Among them, a carboxylic acid derivative is preferable.
Specific examples of the weak acid include carbonic acid, formic acid, acetic acid, propionic acid, butanoic acid, pentanoic acid, hexanoic acid, cyclohexanoic acid, heptanoic acid, octanoic acid, nonanoic acid, decanoic acid, undecanoic acid, dodecanoic acid, and tridecane. Linear and branched aliphatic saturated or unsaturated monocarboxylic acids such as acids, tetradecanoic acid, pentadecanoic acid, hexadecanoic acid, heptadecanoic acid, octadecanoic acid, nonadecanoic acid, methacrylic acid, acrylic acid, crotonic acid, and oleic acid Or oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, pimelic acid, suberic acid, azelaic acid, aliphatic saturated dicarboxylic acids such as sebacic acid, or maleic acid, fumaric acid, mesaconic acid, citraconic acid, etc. Aliphatic unsaturated dicarboxylic acids, furthermore benzoic acid, phenylacetic acid, phthalic acid Isophthalic acid, terephthalic acid, and aromatic carboxylic acids and their substituted derivatives such as naphthalene carboxylic acid. Similarly, phosphoric acid, phosphorous acid,
Examples include polyphosphoric acid and boric acid. In the present invention, preferably acetic acid, propionic acid, butanoic acid, pentanoic acid,
Linear and branched monocarboxylic acids such as hexanoic acid, cyclohexanoic acid, heptanoic acid, octanoic acid, nonanoic acid, and decanoic acid.

【0022】一方、前記塩基として、アンモニア以外に
も飽和または不飽和の脂肪族アミノ化合物、芳香族アミ
ノ化合物および含窒素複素環化合物が好ましい。かかる
脂肪族アミノ化合物を具体的に例示すれば、メチルアミ
ン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、ジ
メチルアミン、ジエチルアミン、トリメチルアミン、ト
リエチルアミン、アニリン、メチルアニリン、ベンジル
アミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、
トリエタノールアミン、モルホリン、ピリジン、ピペリ
ジン、シクロヘキシルアミン、1,4−ブタンジアミン
等を挙げることができる。
On the other hand, as the base, in addition to ammonia, a saturated or unsaturated aliphatic amino compound, aromatic amino compound and nitrogen-containing heterocyclic compound are preferable. Specific examples of such an aliphatic amino compound include methylamine, ethylamine, propylamine, butylamine, dimethylamine, diethylamine, trimethylamine, triethylamine, aniline, methylaniline, benzylamine, monoethanolamine, diethanolamine,
Examples thereof include triethanolamine, morpholine, pyridine, piperidine, cyclohexylamine, and 1,4-butanediamine.

【0023】芳香族アミノ化合物を具体的に例示すれ
ば、アニリン、4ーメチルアニリン、4−メトキシアニ
リン、4−クロロアニリン、4−ニトロアニリン、4−
シアノアニリン、N−メチルアニリン、N−エチルアニ
リン、ジフェニルアミン、トリフェニルアミン、ベンジ
ルアミン、ナフチルアミン、ナフタレンジアミン等を挙
げることができる。含窒素複素環化合物の具体例とし
て、ピロール、テトラヒドロピロール、チアゾール、オ
キサゾール、トリアゾール、ピリジン、ピペラジン、ピ
ラジン、ピリミジン、ピリダジン、トリアジン、インド
ール、イソインドール、インドリジン、プリン、キノリ
ン、イソキノリン、キノキサリン、フェナジン等を挙げ
ることができる。
Specific examples of aromatic amino compounds include aniline, 4-methylaniline, 4-methoxyaniline, 4-chloroaniline, 4-nitroaniline, and 4-nitroaniline.
Examples thereof include cyanoaniline, N-methylaniline, N-ethylaniline, diphenylamine, triphenylamine, benzylamine, naphthylamine, and naphthalenediamine. Specific examples of the nitrogen-containing heterocyclic compound include pyrrole, tetrahydropyrrole, thiazole, oxazole, triazole, pyridine, piperazine, pyrazine, pyrimidine, pyridazine, triazine, indole, isoindole, indolizine, purine, quinoline, isoquinoline, quinoxaline, and phenazine. And the like.

【0024】本発明の帯電防止処理剤に用いられる溶媒
は、一般式(1)または一般式(2)に示される構造単
位を含む重合体及び、弱酸、塩基を溶解する溶媒であれ
ば特に限定されるものではない。例えば具体的には、水
または水と混合可能な溶媒系が好ましい。前記溶媒の具
体例としては、1,4−ジオキサンやテトラヒドロフラ
ン等のエーテル類、ジメチルカーボネート、ジエチルカ
ーボネート、エチレンカーボネート、プロピレンカーボ
ネート等のカーボネート類、アセトニトリルやベンゾニ
トリル等のニトリル類、メタノール、エタノール、プロ
パノール、イソプロパノールなどのアルコール類、N,
N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N
−メチル−2−ピロリドンなどの非プロトン性極性溶媒
等を用いることができる。
The solvent used in the antistatic treatment agent of the present invention is not particularly limited as long as it is a solvent that dissolves a polymer containing a structural unit represented by the general formula (1) or (2) and a weak acid or base. It is not something to be done. For example, specifically, water or a solvent system miscible with water is preferred. Specific examples of the solvent include ethers such as 1,4-dioxane and tetrahydrofuran, dimethyl carbonate, diethyl carbonate, ethylene carbonate, carbonates such as propylene carbonate, nitriles such as acetonitrile and benzonitrile, methanol, ethanol, and propanol. , Alcohols such as isopropanol, N,
N-dimethylformamide, dimethylsulfoxide, N
An aprotic polar solvent such as -methyl-2-pyrrolidone can be used.

【0025】本発明の帯電防止処理剤として用いられる
前記一般式(1)または一般式(2)で表される化合物
及び弱酸、塩基の各濃度は、それぞれ成分濃度として
0.001g/L〜500g/Lが好ましく、より好ま
しくは0.01g/L〜50g/Lである。
The concentration of the compound represented by the general formula (1) or the general formula (2), the weak acid and the base used as the antistatic treatment agent of the present invention is 0.001 g / L to 500 g, respectively, as the component concentration. / L is preferred, and more preferably 0.01 g / L to 50 g / L.

【0026】本発明の帯電防止処理剤は、前記自己ドー
プ型導電性高分子化合物、弱酸および塩基の他、少なく
とも一種の界面活性剤を含んでもよい。界面活性剤とし
ては、例えば、アニオン界面活性剤、カチオン界面活性
剤、非イオン界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、フ
ッ素系界面活性剤、両性界面活性剤等が挙げられる。か
かる界面活性剤を用いる場合には、該自己ドープ型導電
性高分子化合物に対して重量比で0.001〜95倍
量、望ましくは0.005〜20倍量、更に望ましくは
0.01〜5倍量用いる。界面活性剤の量が0.001
倍量未満であると、界面活性剤添加の効果がなくなる場
合がある。95倍量より多いと良好な電子伝導性が確保
できない場合がある。
The antistatic treatment agent of the present invention may contain at least one surfactant in addition to the self-doping type conductive polymer compound, weak acid and base. Examples of the surfactant include an anionic surfactant, a cationic surfactant, a nonionic surfactant, a silicone-based surfactant, a fluorine-based surfactant, and an amphoteric surfactant. When such a surfactant is used, the weight ratio is 0.001 to 95 times, preferably 0.005 to 20 times, more preferably 0.01 to 100 times the weight of the self-doping type conductive polymer compound. Use 5 times the amount. The amount of surfactant is 0.001
If the amount is less than twice, the effect of adding the surfactant may be lost. If the amount is more than 95 times, good electron conductivity may not be secured.

【0027】本発明の帯電防止処理剤は、弱酸と塩基と
の混合比や帯電防止処理剤中に含まれる添加量を変化さ
せることにより、酸性からアルカリ性の範囲で任意のp
H値に設定することが可能である。また、弱酸と塩基を
それぞれ独立に一種類以上を混在させることも可能であ
る。前記帯電防止処理剤は、塗布等により物品表面に導
電性被膜として被覆する為に使用することもできる。塗
布等の方法としては、具体的には、前記帯電防止処理剤
の水溶液を物品に塗布する、あるいはその物品を該水溶
液にディッピング(浸漬する)、あるいは物品に吹きつ
ける等、物品や仕様目的に応じて様々な方法が挙げられ
る。さらには、物品上に塗布する際、塗布性能を改善す
るために、少なくとも一種の前記記載の界面活性剤を一
種以上含む水溶液を用いることができる。
The antistatic treatment agent of the present invention can be added to any p-acid in an acidic to alkaline range by changing the mixing ratio of a weak acid and a base and the amount of addition contained in the antistatic treatment agent.
It can be set to the H value. It is also possible to independently mix one or more kinds of weak acids and bases. The antistatic treatment agent can also be used to coat an article surface as a conductive film by coating or the like. As a method of application or the like, specifically, an aqueous solution of the antistatic treatment agent is applied to an article, or the article is dipped (immersed) in the aqueous solution or sprayed on the article, for example, for the purpose of the article or specification. Various methods may be used depending on the case. Further, when the composition is applied on an article, an aqueous solution containing at least one kind of the above-mentioned surfactants can be used in order to improve the application performance.

【0028】前記帯電防止処理剤により帯電を防止され
る物品としては、帯電防止が要求される物品であれば特
に制限されないが、具体的基体物品としては、繊維、不
繊布、ダンボ−ル紙や上質紙および再生紙等の紙類、ポ
リエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリアク
リロニトリル、ポリメチルメタクリレート、ポリメタク
リレート、ポリアクリレート、ポリビニルアルコール、
ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレ
ート、ポリアリレート、ポリアセタール類、ポリスルホ
ン類、ポリエーテルスルホン類、ポリエーテルエーテル
ケトン類、ポリカーボネート類、ポリエーテル類、ポリ
イミド類、ポリアミドイミド類、ポリウレタン系プラス
チック、ジエン系プラスチック、天然ゴム系プラスチッ
ク、セルロース系プラスチック、ポリ四フッ化エチレ
ン、ポリフッ化ビニル、ポリフッ化ビニリデン、フッ素
樹脂等のフィルムや成形加工品および前記プラスチック
類の表面改質処理により親水化したフィルムや成形加工
品、アクリル酸・ビニルアルコール共重合体、アクリル
酸・アクリルアミド共重合体等の吸水性高分子およびそ
のフィルムや成形加工品、シリコーン樹脂、液晶および
液晶ポリマー、半導体製造に用いられるフォトマスク、
ペリクル、位相シフター材料、表面にレジスト層を有す
るシリコン、シリコン酸化膜、酸化マグネシウム等の金
属酸化物、LiNbO3 等の酸化物単結晶、AsGaや
InP等の化合物半導体、石英ガラスおよび軟質ガラ
ス、CRT基板等が挙げられる。これらの物品に使用さ
れる帯電防止処理剤は、必要に応じて水洗等の方法によ
り除去することも可能である。
The article to be prevented from being charged by the antistatic treatment agent is not particularly limited as long as it is an article required to be prevented from being charged. Specific examples of the base article include fiber, non-woven cloth, cardboard paper and the like. Paper such as high-quality paper and recycled paper, polyethylene, polypropylene, polystyrene, polyacrylonitrile, polymethyl methacrylate, polymethacrylate, polyacrylate, polyvinyl alcohol,
Polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyarylate, polyacetals, polysulfones, polyethersulfones, polyetheretherketones, polycarbonates, polyethers, polyimides, polyamideimides, polyurethane plastics, diene plastics, natural Films and molded products such as rubber-based plastics, cellulose-based plastics, polytetrafluoroethylene, polyvinyl fluoride, polyvinylidene fluoride, and fluororesins, and films and molded products that have been hydrophilized by surface modification of the plastics, Water-absorbing polymers such as acrylic acid / vinyl alcohol copolymers, acrylic acid / acrylamide copolymers and their films and molded products, silicone resins, liquid crystals and liquid crystal polymers, semiconductors Photomask used in the manufacture,
Pellicle, phase shifter material, silicon having a resist layer on the surface, silicon oxide film, metal oxide such as magnesium oxide, oxide single crystal such as LiNbO 3 , compound semiconductor such as AsGa or InP, quartz glass and soft glass, CRT Substrates and the like are included. The antistatic treatment agent used for these articles can be removed by a method such as washing with water, if necessary.

【0029】[0029]

【実施例】以下、本発明を実施例および比較例を用いて
詳細に説明するが、以下の実施例は本発明の範囲を制限
するものではない。水溶液の水素イオン濃度(pH)
は、ガラス電極式水素イオン濃度計((株)堀場製作所
製、pH METER F−13型)にて測定した。ま
た塗布膜の表面抵抗値は、スピンナー(協栄セミコンダ
クター(株)製 1H−III型)を用いて、水溶液を
ガラス基板に1500rpmで回転塗布し作製した塗布
膜の表面抵抗を表面抵抗測定器メガレスタ(シシド静電
気(株)製、MODEL HT−301型)にて測定し
た。また、バーコート塗布は、基板上に塗布液を垂ら
し、バーコーター(ネジの様な溝のついた棒)を基板表
面に沿って滑らしたり、転がしたりする事によって溝に
溜まった塗布液を均一に基板に塗布する方法であり、バ
ーコーターとしてS.ETO & CO.製の装置を用
いた。
EXAMPLES The present invention will be described below in detail with reference to examples and comparative examples, but the following examples do not limit the scope of the present invention. Hydrogen ion concentration (pH) of aqueous solution
Was measured with a glass electrode type hydrogen ion concentration meter (manufactured by HORIBA, Ltd., pH METER F-13). Further, the surface resistance of the coating film was measured by using a spinner (1H-III type manufactured by Kyoei Semiconductor Co., Ltd.) to spin-coat the aqueous solution on a glass substrate at 1500 rpm, and measure the surface resistance of the coating film produced by a surface resistance measuring instrument Megaresta. (Model HT-301, manufactured by Shisido Electrostatic Co., Ltd.). In addition, bar coating is performed by dripping the coating liquid on the substrate and sliding the bar coater (a rod with a groove like a screw) along the surface of the substrate, or rolling the coating liquid to evenly coat the coating liquid. Is a method of applying the composition to a substrate. ETO & CO. Was used.

【0030】(実施例1)一般式(1)におけるR1
2 、R3 、R4 、R5 およびM1 がそれぞれH、X=
S、L=0で表される繰り返し構造単位の化学構造を含
む自己ドープ型導電性高分子化合物であり、弱酸が酢
酸、塩基がアンモニアである帯電防止処理剤の製造方
法。特開平7−48436号公報で開示されている方法
を参考にして合成したポリ(5−スルホイソチアナフテ
ン−1, 3−ジイル)の酸型ポリマー、0. 6(w/
w)%水溶液100mlに酢酸5. 6mlを含む1N−
アンモニア水15mlを添加して攪拌混合することによ
り、目的の帯電防止処理剤を得た。本帯電防止処理剤の
調合直後の水素イオン濃度(pH値)は、3. 6であっ
た。また、前記、帯電防止処理剤3mlをガラス基板に
スピン塗布した後、乾燥することによってガラス表面に
帯電防止処理剤の薄膜を作成しその表面抵抗値を測定し
たところ、5. 4×105 Ω/□であった。上記帯電防
止処理剤を常温下に放置し、経時的にサンプリングして
そのpH値、および上記と同様にガラス塗膜を作成し表
面抵抗値(Rs)を調べたところ、一ヶ月後ではpH=
3. 5、Rs=2. 9×106 Ω/□、2ヶ月後ではp
H=3. 2、Rs=2. 7×107 Ω/□、3ヶ月後で
はpH=3. 1、Rs=4. 7×107 Ω/□であっ
た。
(Example 1) In the general formula (1), R 1 ,
R 2 , R 3 , R 4 , R 5 and M 1 are each H, X =
A method for producing an antistatic treatment agent which is a self-doping conductive polymer compound containing a chemical structure of a repeating structural unit represented by S and L = 0, wherein acetic acid is a weak acid and ammonia is a base. An acid-type polymer of poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) synthesized with reference to the method disclosed in JP-A-7-48436, 0.6 (w /
w) 1N- containing 5.6 ml of acetic acid in 100 ml of a% aqueous solution
By adding 15 ml of aqueous ammonia and mixing with stirring, an intended antistatic treatment agent was obtained. The hydrogen ion concentration (pH value) immediately after the preparation of the antistatic treatment agent was 3.6. Further, after spin-coating 3 ml of the antistatic treatment agent on a glass substrate and drying, a thin film of the antistatic treatment agent was formed on the glass surface, and the surface resistance was measured. The result was 5.4 × 10 5 Ω. / □. The antistatic treatment agent was left at room temperature, sampled with time, and its pH value was measured, and a glass coating film was prepared in the same manner as above to examine the surface resistance value (Rs).
3.5, Rs = 2.9 × 10 6 Ω / □, p after 2 months
H = 3.2, Rs = 2.7 × 10 7 Ω / □, pH = 3.1 after 3 months, Rs = 4.7 × 10 7 Ω / □.

【0031】(実施例2)実施例1と同様にして合成し
たポリ(5−スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイ
ル)の酸型ポリマー、0. 6(w/ w)%水溶液100
mlに酢酸5. 4mlを含む1N−アンモニア水14.
4mlおよびドデシルベンゼンスルホン酸0. 1gを添
加して攪拌混合することにより、目的の帯電防止処理剤
を得た。本帯電処理剤の調合直後の水素イオン濃度(p
H値)は、3. 6であった。また、前記、帯電防止処理
剤3mlをガラス基板にスピン塗布して、乾燥すること
によってガラス表面に帯電防止処理剤の薄膜を作成しそ
の表面抵抗値を測定したところ、5. 0×105 Ω/□
であった。上記帯電防止処理剤を常温下に放置し、経時
的にサンプリングしてそのpH値、および上記と同様に
ガラス塗膜を作成しその表面抵抗値を調べたところ、一
ヶ月後ではpH=3. 5、Rs=2. 9×106Ω/
□、2ヶ月後ではpH=3. 2、Rs=2. 3×107
Ω/□、3ヶ月後ではpH=3. 1、Rs=4. 3×1
7 Ω/□であった。
Example 2 An acid-type polymer of poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) synthesized in the same manner as in Example 1, a 0.6 (w / w)% aqueous solution 100
1N-ammonia water containing 5.4 ml of acetic acid per ml 14.
4 ml and 0.1 g of dodecylbenzenesulfonic acid were added and mixed with stirring to obtain a desired antistatic treatment agent. The hydrogen ion concentration (p
H value) was 3.6. Also, 3 ml of the antistatic treatment agent was spin-coated on a glass substrate and dried to form a thin film of the antistatic treatment agent on the glass surface, and the surface resistance was measured. The result was 5.0 × 10 5 Ω. / □
Met. The antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature, sampled with time, and its pH value, and a glass coating film was prepared in the same manner as above to examine its surface resistance value. 5, Rs = 2.9 × 10 6 Ω /
□ After 2 months, pH = 3.2, Rs = 2.3 × 10 7
Ω / □, pH = 3.1 after 3 months, Rs = 4.3 × 1
0 7 Ω / □.

【0032】(実施例3)実施例1と同様にして合成し
たポリ(5−スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイ
ル)の酸型ポリマー、0. 8(w/ w)%水溶液100
mlに酢酸3. 5mlを含む1N−アンモニア水15m
lおよびドデシルベンゼンスルホン酸0. 1gを添加し
て攪拌混合することにより目的とする帯電防止処理剤を
得た。本帯電処理剤の調合直後の水素イオン濃度(pH
値)は、4. 1であった。また、前記、帯電防止処理剤
3mlをガラス基板にスピン塗布して、乾燥することに
よってガラス表面に帯電防止処理剤の薄膜を作成しその
表面抵抗値を測定したところ、2. 7×105 Ω/□で
あった。上記帯電防止処理剤を常温下に放置し、経時的
にサンプリングしてそのpH値、および上記と同様にガ
ラス塗膜を作成しその表面抵抗値を調べたところ、一ヶ
月後ではpH=4. 0、Rs=2. 6×106 Ω/□、
2ヶ月後ではpH=3. 9、Rs=3. 3×107 Ω/
□、3ヶ月後ではpH=3. 8、Rs=4. 6×107
Ω/□であった。
Example 3 Acidic polymer of poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) synthesized in the same manner as in Example 1, 0.8 (w / w)% aqueous solution 100
15 ml of 1N ammonia water containing 3.5 ml of acetic acid in ml
1 and 0.1 g of dodecylbenzenesulfonic acid were added and mixed by stirring to obtain the desired antistatic treatment agent. The hydrogen ion concentration (pH
Value) was 4.1. Also, 3 ml of the antistatic treatment agent was spin-coated on a glass substrate and dried to form a thin film of the antistatic treatment agent on the glass surface, and the surface resistance was measured. The result was 2.7 × 10 5 Ω. / □. The antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature, sampled with time, and its pH value, and a glass coating film was prepared in the same manner as above to examine its surface resistance value. 0, Rs = 2.6 × 10 6 Ω / □,
After 2 months, pH = 3.9, Rs = 3.3 × 10 7 Ω /
□ After 3 months, pH = 3.8, Rs = 4.6 × 10 7
Ω / □.

【0033】(実施例4)実施例1と同様にして合成し
たポリ(5−スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイ
ル)の酸型ポリマー、0. 8(w/ w)%水溶液100
mlに酪酸1. 7mlを含む1N−アンモニア水7. 5
mlを添加して攪拌混合することにより目的とする帯電
防止処理剤を得た。本帯電処理剤の調合直後の水素イオ
ン濃度(pH値)は、4. 3であった。また、前記、帯
電防止処理剤3mlをガラス基板にスピン塗布して、乾
燥することによってガラス表面に帯電防止処理剤の薄膜
を作成しその表面抵抗値を測定したところ、2. 1×1
5 Ω/□であった。上記帯電防止処理剤を常温下に放
置し、経時的にサンプリングしてそのpH値、および上
記と同様にガラス塗膜を作成しその表面抵抗値を調べた
ところ、一ヶ月後ではpH=4. 2、Rs=2. 0×1
6 Ω/□、2ヶ月後ではpH=4. 1、Rs=2. 6
×107 Ω/□、3ヶ月後ではpH=4. 0、Rs=
4. 0×107 Ω/□であった。
Example 4 Poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) acid-type polymer synthesized in the same manner as in Example 1, 0.8 (w / w)% aqueous solution 100
1N-aqueous ammonia containing 1.7 ml of butyric acid in 7.5 ml
Then, the desired antistatic treatment agent was obtained by adding and mixing with stirring. The hydrogen ion concentration (pH value) immediately after the preparation of this charge treating agent was 4.3. Also, 3 ml of the antistatic treatment agent was spin-coated on a glass substrate and dried to form a thin film of the antistatic treatment agent on the glass surface, and the surface resistance was measured.
0 5 Ω / □. The antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature, sampled with time, and its pH value, and a glass coating film was prepared in the same manner as above to examine its surface resistance value. 2, Rs = 2.0 × 1
0 6 Ω / □, in the two months after pH = 4. 1, Rs = 2. 6
× 10 7 Ω / □, pH = 4.0 after 3 months, Rs =
It was 4.0 × 10 7 Ω / □.

【0034】(実施例5)特開平7−48436号公報
で開示されている方法を参考にして合成したポリ(5−
スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイル−co−イソ
チアナフテン)(80モル%:20モル%)の酸型ポリ
マー、0. 6(w/ w)%水溶液100mlに酢酸6.
8mlを含む1N−アンモニア水18mlを添加して攪
拌混合することにより目的とする帯電防止処理剤を得
た。本帯電処理剤の調合直後の水素イオン濃度(pH
値)は、3. 7であった。また、前記、帯電防止処理剤
3mlをガラス基板にスピン塗布して、乾燥することに
よってガラス表面に帯電防止処理剤の薄膜を作成しその
表面抵抗値を測定したところ、5. 5×105 Ω/□で
あった。上記帯電防止処理剤を常温下に放置し、経時的
にサンプリングしてそのpH値、および上記と同様にガ
ラス塗膜を作成しその表面抵抗値を調べたところ、一ヶ
月後ではpH=3. 6、Rs=2. 3×106 Ω/□、
2ヶ月後ではpH=3.5、Rs=2. 9×107 Ω/
□、3ヶ月後ではpH=3. 5、Rs=3. 9×107
Ω/□であった。
(Example 5) Poly (5-) synthesized by referring to the method disclosed in JP-A-7-48436.
Acid type polymer of sulfoisothianaphthene-1,3-diyl-co-isothianaphthene (80 mol%: 20 mol%), acetic acid in 100 ml of a 0.6 (w / w)% aqueous solution.
18 ml of 1N-ammonia water containing 8 ml was added and mixed by stirring to obtain a desired antistatic treatment agent. The hydrogen ion concentration (pH
Value) was 3.7. Further, 3 ml of the antistatic treatment agent was spin-coated on a glass substrate and dried to form a thin film of the antistatic treatment agent on the glass surface, and the surface resistance was measured. The result was 5.5 × 10 5 Ω. / □. The antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature, sampled with time, and its pH value, and a glass coating film was prepared in the same manner as above to examine its surface resistance value. 6, Rs = 2.3 × 10 6 Ω / □,
After 2 months, pH = 3.5, Rs = 2.9 × 10 7 Ω /
□ After 3 months, pH = 3.5, Rs = 3.9 × 10 7
Ω / □.

【0035】(実施例6)一般式(1)におけるR1
2 、R3 、R4 、R5 およびM1 がそれぞれH、X=
S、L=1で表される繰り返し構造単位の化学構造を含
む自己ドープ型導電性高分子化合物であり、弱酸が酢
酸、塩基がアンモニアである帯電防止処理剤の製造方
法。標記化学構造の重合体として、ポリ(ナフト[2,
3−c]チオフェン−6−スルホン酸)を選び、特開平
8−188777号公報記載の方法を参考に合成して、
0.6(w/w)%水溶液を準備した。これを本実施例
においては、前記実施例1記載のポリ(5−スルホイソ
チアナフテン−1, 3−ジイル)の酸型ポリマーの替わ
りに変更した以外は、実施例1記載の処理と同じ処理を
行い目的の帯電防止処理剤を得た。そして、以下の特性
を確認した。本帯電防止処理剤の調合直後の水素イオン
濃度(pH値)は、3. 6であり、ガラス表面に作成し
た薄膜の表面抵抗値は、5. 9×105 Ω/□であっ
た。実施例1と同じように上記帯電防止処理剤を常温下
に放置し、経時的にサンプリングしてそのpH値と表面
抵抗値(Rs)を調べたところ、一ヶ月後ではpH=
3. 5、Rs=2. 2×106 Ω/□、2ヶ月後ではp
H=3. 2、Rs=2. 5×107 Ω/□、3ヶ月後で
はpH=3. 1、Rs=4. 2×107 Ω/□であっ
た。
Example 6 R 1 in the general formula (1),
R 2 , R 3 , R 4 , R 5 and M 1 are each H, X =
A method for producing an antistatic treatment agent which is a self-doping conductive polymer compound containing a chemical structure of a repeating structural unit represented by S and L = 1, wherein acetic acid is a weak acid and ammonia is a base. As a polymer having the title chemical structure, poly (naphtho [2,
3-c] thiophene-6-sulfonic acid) and synthesized with reference to the method described in JP-A-8-188777.
A 0.6 (w / w)% aqueous solution was prepared. This embodiment is the same as the embodiment 1 except that the poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) acid type polymer described in the above embodiment 1 is changed. To obtain the desired antistatic treatment agent. Then, the following characteristics were confirmed. The hydrogen ion concentration (pH value) immediately after the preparation of this antistatic treatment agent was 3.6, and the surface resistance value of the thin film formed on the glass surface was 5.9 × 10 5 Ω / □. As in Example 1, the antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature and sampled over time to examine its pH value and surface resistance value (Rs).
3.5, Rs = 2.2 × 10 6 Ω / □, p after 2 months
H = 3.2, Rs = 2.5 × 10 7 Ω / □, pH = 3.1 after 3 months, Rs = 4.2 × 10 7 Ω / □.

【0036】(実施例7)一般式(1)におけるR1
2 、R3 、R4 、R5 およびM1 がそれぞれH、X=
NCH3 、L=0で表される繰り返し構造単位の化学構
造を含む自己ドープ型導電性高分子化合物であり、弱酸
が酢酸、塩基がアンモニアである帯電防止処理剤の製造
方法。標記化学構造の重合体として、ポリ(N−メチル
−5−スルホイソインドール−1, 3−ジイル)を選
び、特開平6−49183号公報記載の方法を参考に合
成して、0. 6(w/w)%水溶液を準備した。これを
本実施例においては、前記実施例1記載のポリ(5−ス
ルホイソチアナフテン−1, 3−ジイル)の酸型ポリマ
ーの替わりに変更した以外は、実施例1記載の処理と同
じ処理を行い目的の帯電防止処理剤を得た。そして、以
下の特性を確認した。本帯電防止処理剤の調合直後の水
素イオン濃度(pH値)は、3. 6であり、ガラス表面
に作成した薄膜の表面抵抗値は、7. 2×105 Ω/□
であった。実施例1と同じように上記帯電防止処理剤を
常温下に放置し、経時的にサンプリングしてそのpH値
と表面抵抗値(Rs)を調べたところ、一ヶ月後ではp
H=3. 5、Rs=4. 0×106 Ω/□、2ヶ月後で
はpH=3. 2、Rs=1. 8×107 Ω/□、3ヶ月
後ではpH=3. 1、Rs=2. 8×107 Ω/□であ
った。
Example 7 R 1 in the general formula (1),
R 2 , R 3 , R 4 , R 5 and M 1 are each H, X =
A method for producing an antistatic treatment agent comprising NCH 3 , a self-doping conductive polymer compound having a chemical structure of a repeating structural unit represented by L = 0, wherein the weak acid is acetic acid and the base is ammonia. Poly (N-methyl-5-sulfoisoindole-1,3-diyl) was selected as the polymer having the title chemical structure, and was synthesized with reference to the method described in JP-A-6-49183 to obtain 0.6 ( A w / w)% aqueous solution was prepared. This embodiment is the same as the embodiment 1 except that the poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) acid type polymer described in the above embodiment 1 is changed. To obtain the desired antistatic treatment agent. Then, the following characteristics were confirmed. The hydrogen ion concentration (pH value) immediately after the preparation of the present antistatic treatment agent was 3.6, and the surface resistance of the thin film formed on the glass surface was 7.2 × 10 5 Ω / □.
Met. As in Example 1, the antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature and sampled over time to examine its pH value and surface resistance value (Rs).
H = 3.5, Rs = 4.0 × 10 6 Ω / □, pH = 3.2 after 2 months, Rs = 1.8 × 10 7 Ω / □, pH = 3.1 after 3 months, Rs = 2.8 × 10 7 Ω / □.

【0037】(実施例8)一般式(1)におけるR1
10O−、R2 、R3 およびM1 がそれぞれH、X=
S、L=0で表される繰り返し構造単位の化学構造を含
む自己ドープ型導電性高分子化合物であり、弱酸が酢
酸、塩基がアンモニアである帯電防止処理剤の製造方
法。標記化学構造の重合体として、ポリ(5−デシルオ
キシ−6−スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイル)
を選び、特開平8−259673号公報記載の方法を参
考に合成して、0. 6(w/w)%水溶液を準備した。
これを本実施例においては、前記実施例1記載のポリ
(5−スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイル)の酸
型ポリマーの替わりに変更した以外は、実施例1記載の
処理と同じ処理を行い目的の帯電防止処理剤を得た。そ
して、以下の特性を確認した。本帯電防止処理剤の調合
直後の水素イオン濃度(pH値)は、3. 6であり、ガ
ラス表面に作成した薄膜の表面抵抗値は、2. 3×10
6 Ω/□であった。実施例1と同じように上記帯電防止
処理剤を常温下に放置し、経時的にサンプリングしてそ
のpH値と表面抵抗値(Rs)を調べたところ、一ヶ月
後ではpH=3. 5、Rs=4. 6×106 Ω/□、2
ヶ月後ではpH=3. 2、Rs=1. 6×107 Ω/
□、3ヶ月後ではpH=3. 1、Rs=4. 3×107
Ω/□であった。
(Embodiment 8) In the general formula (1), R 1 =
C 10 O—, R 2 , R 3 and M 1 are each H, X =
A method for producing an antistatic treatment agent which is a self-doping conductive polymer compound containing a chemical structure of a repeating structural unit represented by S and L = 0, wherein acetic acid is a weak acid and ammonia is a base. Poly (5-decyloxy-6-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) as a polymer having the title chemical structure
Was synthesized with reference to the method described in JP-A-8-259873 to prepare a 0.6 (w / w)% aqueous solution.
This embodiment is the same as the embodiment 1 except that the poly (5-sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) acid type polymer described in the above embodiment 1 is changed. To obtain the desired antistatic treatment agent. Then, the following characteristics were confirmed. The hydrogen ion concentration (pH value) immediately after the preparation of this antistatic treatment agent was 3.6, and the surface resistance of the thin film formed on the glass surface was 2.3 × 10 3
It was 6 Ω / □. As in Example 1, the antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature and sampled over time to examine its pH value and surface resistance value (Rs). Rs = 4.6 × 10 6 Ω / □, 2
After months, pH = 3.2, Rs = 1.6 × 10 7 Ω /
□ After 3 months, pH = 3.1, Rs = 4.3 × 10 7
Ω / □.

【0038】(実施例9)前記、一般式(2)における
11、R12、R13、R14およびM2 がそれぞれHで表さ
れる繰り返し構造単位の化学構造を含む自己ドープ型導
電性高分子化合物、弱酸が酢酸、塩基がアンモニアであ
る帯電防止処理剤の製造方法。Macromolecu
les誌、29巻、3950−3955頁(1996
年)記載の方法を参考にして合成したポリ(2−スルホ
−1, 4−イミノフェニレン−co−1, 4−イミノフ
ェニレン)(50モル%:50モル%)の酸型ポリマ
ー、3. 0(w/ w)%水溶液100mlに酢酸6. 8
mlを含む1N−アンモニア水18mlを添加して攪拌
混合することにより、目的の帯電防止処理剤を得た。本
帯電処理剤の調合直後の水素イオン濃度(pH値)は、
3. 7であった。また、上記帯電防止処理剤3mlをガ
ラス基板にスピン塗布して、乾燥することによってガラ
ス表面に帯電防止処理剤の薄膜を作成しその表面抵抗値
を測定したところ、2. 1×106 Ω/□であった。上
記帯電防止処理剤を常温下に放置し、経時的にサンプリ
ングしてそのpH値、および上記と同様にガラス塗膜を
作成しその表面抵抗値を調べたところ、一ヶ月後ではp
H=3. 6、Rs=8.9×106 Ω/□、2ヶ月後で
はpH=3. 5、Rs=2. 1×107 Ω/□、3ヶ月
後ではpH=3. 4、Rs=4. 3×107 Ω/□であ
った。
(Example 9) The self-doping conductivity including the chemical structure of a repeating structural unit in which R 11 , R 12 , R 13 , R 14 and M 2 in the general formula (2) are each represented by H. A method for producing an antistatic treatment agent comprising a polymer compound, acetic acid as a weak acid and ammonia as a base. Macromolecu
Les Magazine, Vol. 29, pp. 3950-3955 (1996)
Year)), an acid-type polymer of poly (2-sulfo-1,4-iminophenylene-co-1,4-iminophenylene) (50 mol%: 50 mol%) synthesized by referring to the method described in 3.0). Acetic acid 6.8 in 100 ml of (w / w)% aqueous solution
The desired antistatic treatment agent was obtained by adding 18 ml of 1N aqueous ammonia containing water and stirring and mixing. The hydrogen ion concentration (pH value) immediately after the preparation of this charging agent is
3.7. Further, 3 ml of the above antistatic treatment agent was spin-coated on a glass substrate and dried to form a thin film of the antistatic treatment agent on the glass surface, and the surface resistance was measured. As a result, 2.1 × 10 6 Ω / It was □. The antistatic treatment agent was allowed to stand at room temperature, and its pH value was sampled over time, and a glass coating film was prepared in the same manner as above to examine the surface resistance value.
H = 3.6, Rs = 8.9 × 10 6 Ω / □, pH = 3.5 after 2 months, Rs = 2.1 × 10 7 Ω / □, pH = 3.4 after 3 months, Rs = 4.3 × 10 7 Ω / □.

【0039】(実施例10)実施例2で製造した帯電防
止処理剤3mlをノボラックおよびジアゾナフトキノン
から成るポジ型電子線レジスト塗膜上に1500rpm
で回転塗布し、膜厚0.02μmの帯電防止被膜を作製
した。Journal of VacuumScien
ce Technology誌、B7巻、1519頁
(1989年)に記載の方法で、電子線を照射し、現像
後位置ずれを測定したところ、位置ずれ量は0.05μ
m以下であり、帯電による影響は全く観測されなかっ
た。導電性被膜を用いなかった場合、帯電による位置ず
れ量は2μm以上であった。なお帯電防止被膜は現像と
同時に剥離除去できた。
Example 10 3 ml of the antistatic treatment agent prepared in Example 2 was applied onto a positive electron beam resist coating film composed of novolak and diazonaphthoquinone at 1500 rpm.
To form an antistatic coating having a thickness of 0.02 μm. Journal of VacuumScien
According to the method described in ce Technology magazine, volume B7, p. 1519 (1989), electron beam irradiation was performed, and the displacement after development was measured. The displacement was 0.05 μm.
m or less, and no effect due to charging was observed. When no conductive film was used, the displacement due to charging was 2 μm or more. The antistatic film could be peeled and removed at the same time as the development.

【0040】(実施例11)実施例3で製造した帯電防
止処理剤3mlをレジストとしてノボラック系レジス
ト、感光剤およびブロモメチル基を有する酸発生剤から
成るネガ型の化学増幅系電子線レジスト(シプレイ社製
商品名SAL601)を用いた他は、実施例10と全く
同様にレジスト上に回転塗布し位置ずれを測定した。位
置ずれ量は0.05μm以下であり、帯電防止効果は実
施例10と同様であった。なお、帯電防止被膜を形成し
たレジストに電子線を照射した後のベーク処理は、帯電
防止被膜を剥離除去する前に行われ、帯電防止被膜は水
洗により完全に剥離除去することや、現像時に現像液に
より剥離除去することが可能であった。
Example 11 A negative-type chemically amplified electron beam resist composed of a novolak type resist, a photosensitizer and an acid generator having a bromomethyl group as a resist using 3 ml of the antistatic treatment agent produced in Example 3 as a resist (Shipley Co., Ltd.) Except for using SAL601) (product name), the resist was spin-coated on the resist in exactly the same manner as in Example 10 to measure the displacement. The amount of displacement was 0.05 μm or less, and the antistatic effect was the same as in Example 10. The bake treatment after irradiating the resist on which the antistatic film is formed with an electron beam is performed before the antistatic film is peeled and removed, and the antistatic film can be completely removed by washing with water or developed during development. It was possible to remove and remove with a liquid.

【0041】(実施例12)実施例3と同様の方法で製
造した帯電防止処理剤0.5mlにベンコット1枚(旭
化成製ガーゼ、サイズ150mm×150mm)を1分
間浸した後、水洗乾燥して青色の繊維表面に帯電防止処
理剤が担持され帯電防止処理された材料が得られた。こ
の材料の表面抵抗値は8.4×107 Ω/□であった。
(Example 12) One bencot (a gauze made by Asahi Kasei, size 150 mm x 150 mm) was immersed in 0.5 ml of the antistatic treatment agent produced in the same manner as in Example 3 for 1 minute, washed with water and dried. An antistatic treatment material was obtained in which an antistatic treatment agent was carried on the surface of the blue fiber to obtain a material. The surface resistance of this material was 8.4 × 10 7 Ω / □.

【0042】(実施例13)実施例3と同様の方法で製
造した帯電防止処理剤8mlを市販の紙製ダンボール箱
(サイズ60cm×40cm×40cm)の表面にスプ
レー塗布して乾燥して得られた帯電が防止された材料の
表面抵抗値は2.4×107 Ω/□であった。
Example 13 8 ml of an antistatic treatment agent produced in the same manner as in Example 3 was spray-coated on the surface of a commercially available paper cardboard box (size 60 cm × 40 cm × 40 cm) and dried. The surface resistance of the material whose charge was prevented was 2.4 × 10 7 Ω / □.

【0043】(実施例14)実施例2と同様の方法で製
造した帯電防止処理剤1mlを、表面が親水化処理され
たポリエチレンテレフタレートフィルム(サイズ:10
cm×10cm×100μm)にバーコーター8番でバ
ーコート塗布した。そして、乾燥して得られた帯電が防
止された材料の表面抵抗値は1.5×105 Ω/□であ
った。
Example 14 1 ml of an antistatic treatment agent produced in the same manner as in Example 2 was applied to a polyethylene terephthalate film (size: 10
(cm × 10 cm × 100 μm) with a bar coater No.8. The surface resistance of the dried antistatic material was 1.5 × 10 5 Ω / □.

【0044】(実施例15)実施例2と同様の方法で製
造した帯電防止処理剤1mlを、表面が親水化処理され
たポリ塩化ビニルフィルム(サイズ:10cm×10c
m×100μm)にバーコーター8番でバーコート塗布
した。そして、乾燥して得られた帯電が防止された材料
の表面抵抗値は1.6×105 Ω/□であった。
(Example 15) 1 ml of an antistatic treatment agent produced in the same manner as in Example 2 was applied to a polyvinyl chloride film (size: 10 cm × 10 c
m × 100 μm) using a bar coater No. 8 to apply a bar coat. The surface resistance of the dried antistatic material was 1.6 × 10 5 Ω / □.

【0045】(実施例16)実施例2と同様の方法で製
造した帯電防止処理剤1mlを、表面が親水化処理され
たポリアクリレート板(サイズ:10cm×10cm×
5mm)にバーコーター8番でバーコート塗布した。そ
して、乾燥して得られた帯電が防止された材料の表面抵
抗値は1.4×105 Ω/□であった。
Example 16 1 ml of an antistatic treatment prepared in the same manner as in Example 2 was applied to a polyacrylate plate (size: 10 cm × 10 cm ×
5 mm) using a bar coater No. 8. The surface resistance of the dried antistatic material was 1.4 × 10 5 Ω / □.

【0046】(比較例)pH緩衝剤を使用しない比較例
を以下に示す。実施例1と同様にして合成したポリ(5
−スルホイソチアナフテン−1, 3−ジイル)の酸型ポ
リマー、0. 6(w/ w)%水溶液に1N−アンモニア
水3. 2mlを添加してpH値を5. 0に調製した。本
帯電防止処理剤を常温下に放置し、経時的にサンプリン
グして、pH値および、実施例1と同様にガラス塗膜を
作成し表面抵抗値を調べたところ、初期値でRs=4.
5×105 Ω/□、1カ月後はpH=4.2、Rs=
4.7×107 Ω/□、3カ月後ではpH=3.8、R
s=5.0×108 Ω/□であった。ここで得られた水
溶液は、常温で水溶液状態で放置するとpHは大きく低
下し、またガラス塗膜の表面抵抗値が上昇した。電子材
料誌(1990年、12月号、48頁〜54頁)によれ
ば、荷電粒子線を照射する工程における帯電現象を防止
するには塗膜の表面抵抗値が5×107 Ω/□以下であ
ることが求められているので、pH=5.0の水溶液は
1ヵ月常温放置後にはその効果が十分ではなくなること
がわかる。
Comparative Example A comparative example using no pH buffer is shown below. Poly (5) synthesized in the same manner as in Example 1
-Sulfoisothianaphthene-1,3-diyl) acid solution, a 0.6% (w / w)% aqueous solution, was adjusted to pH 5.0 by adding 3.2 ml of 1N aqueous ammonia. The antistatic treatment agent was left at room temperature, sampled with time, and a pH value and a glass coating film were prepared in the same manner as in Example 1, and the surface resistance value was examined.
5 × 10 5 Ω / □, pH = 4.2 after one month, Rs =
4.7 × 10 7 Ω / □, pH = 3.8 after 3 months, R
s = 5.0 × 10 8 Ω / □. When the aqueous solution obtained here was allowed to stand in an aqueous solution state at normal temperature, the pH was greatly reduced and the surface resistance of the glass coating film was increased. According to Electronic Materials Magazine (1990, December, pp. 48-54), in order to prevent the charging phenomenon in the step of irradiating the charged particle beam, the surface resistance of the coating film is 5 × 10 7 Ω / □. Since the following is required, it can be seen that the effect of the aqueous solution having a pH of 5.0 is not sufficient after one month at room temperature.

【0047】[0047]

【発明の効果】分子内に芳香族スルホン酸基を有する自
己ドープ型導電性高分子化合物の水溶液に、pH緩衝作
用を有する化合物(例えば弱酸と塩基を含む混合物)を
含有させることによって、大気中常温下でも該水溶液の
pH低下が抑止でき、その結果塗膜の表面抵抗値の上昇
を極端に抑制できる効果をはじめて見いだした。本発明
の安定性の優れた帯電防止処理剤は、塗布法等の簡便な
方法によって産業上帯電防止の必要な各種用途に対して
優れた帯電防止効果及びその方法を提供できる。また、
本発明の帯電防止処理剤は、半導体製造工程における帯
電防止の必要な被覆物品を提供できるだけでなく、導電
性材料として加工性の要求される電極、湿度センサー、
バイオセンサー等に用いられる電極活物質、ECD等の
エレクトロニクス表示素子、非線形光学素子材料等の光
学材料に幅広く利用できる。
According to the present invention, a compound having a pH buffering action (for example, a mixture containing a weak acid and a base) is contained in an aqueous solution of a self-doping conductive high molecular compound having an aromatic sulfonic acid group in a molecule, whereby the air It has been found for the first time that the pH of the aqueous solution can be prevented from lowering even at room temperature, and as a result, the increase in the surface resistance of the coating film can be extremely suppressed. ADVANTAGE OF THE INVENTION The antistatic treatment agent excellent in stability of this invention can provide the excellent antistatic effect and the method for various uses which need industrial antistatic by a simple method, such as a coating method. Also,
The antistatic treatment agent of the present invention can provide not only a coated article requiring antistatic in a semiconductor manufacturing process, but also an electrode which is required to be workable as a conductive material, a humidity sensor,
It can be widely used for an electrode active material used for a biosensor, an electronic display element such as an ECD, and an optical material such as a nonlinear optical element material.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G01T 1/28 G01T 1/28 H01L 21/027 H01L 21/30 528 (72)発明者 木下 芳夫 福島県河沼郡河東町大字東長原字長谷地 111 昭和電工株式会社東長原工場内──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification symbol FI G01T 1/28 G01T 1/28 H01L 21/027 H01L 21/30 528 (72) Inventor Yoshio Kinoshita Daito Higashi Nagahara, Kawato-cho, Kawanuma-gun, Fukushima Prefecture Haseji 111 Showa Denko Co., Ltd.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 分子内に芳香族スルホン酸基を有する自
己ド−プ型導電性高分子とpH緩衝作用を有する混合物
を少なくとも含むことを特徴とする帯電防止処理剤。
1. An antistatic treatment agent comprising at least a mixture having a self-doping type conductive polymer having an aromatic sulfonic acid group in a molecule and a pH buffering action.
【請求項2】 請求項1記載のpH緩衝作用を有する混
合物が弱酸と塩基から構成されることを特徴とする帯電
防止処理剤。
2. The antistatic treatment agent according to claim 1, wherein the mixture having a pH buffering action comprises a weak acid and a base.
【請求項3】 請求項2記載の弱酸と塩基から構成され
る混合物がカルボン酸誘導体とアミン誘導体を少なくと
も含むことを特徴とする帯電防止処理剤。
3. An antistatic treatment agent, wherein the mixture comprising a weak acid and a base according to claim 2 contains at least a carboxylic acid derivative and an amine derivative.
【請求項4】 塩基またはアミン誘導体がアンモニアで
あることを特徴とする前記請求項2または3記載の帯電
防止処理剤。
4. The antistatic treatment agent according to claim 2, wherein the base or the amine derivative is ammonia.
【請求項5】 分子内に芳香族スルホン酸基を有する自
己ド−プ型導電性高分子が、下記一般式(1) 【化1】 (式中、R1 、R2 、R3 、R4 及びR5 は、それぞれ
独立にH、または炭素数1乃至20の直鎖状もしくは分
岐状の飽和または不飽和の炭化水素基、炭素数1乃至2
0の直鎖状もしくは分岐状の飽和または不飽和のアルコ
キシ基、水酸基、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、
クロロメチル等のトリハロメチル基、フェニル基及び置
換フェニル基またはSO3 -1 基等の一価基を表し、M
1 は、H+、アルカリ金属イオン、またはN(R7
(R8 )(R9 )(R10+ (第4級アンモニウムイオ
ン)、P(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ 、As
(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ で表わされるVb
族元素の第4級カチオンを表す。R7 、R8 、R9 、R
10はそれぞれ独立にH、炭素数1乃至30の直鎖状もし
くは分岐状の置換もしくは非置換のアルキル基、または
置換もしくは非置換のアリール基を表わし、アルコキシ
基、ヒドロキシル基、オキシアルキレン基、チオアルキ
レン基、アゾ基、アゾベンゼン基、p−ジフェニレンオ
キシ基のごとき炭素、水素以外の元素を含む基を含むア
ルキル基またはアリール基であってもよい。R1 、R
2 、R3 、R4 及びR5 の置換基のうち、隣合う置換基
が炭化水素基であるときは該炭化水素鎖は、互いに任意
の位置で結合して、かかる基により置換を受けている炭
素原子と共に、少なくとも1つ以上の飽和または不飽和
の3乃至7員環の環状構造を形成する二価鎖を少なくと
も1つ以上形成してもよい。Lは、Xを構成員とする縮
合系5員環と、同5員環から離れた縮合6員環に挟まれ
た縮合6員環の数を表し、0乃至3の整数値である。ま
た、Xはヘテロ原子を表しS、O、Se、TeまたはN
6 である。R6 はH、炭素数1乃至20の直鎖状もし
くは分岐状の炭化水素基、または炭素数6乃至20の置
換もしくは非置換の芳香族炭化水素基を表す。上記のR
1 、R2 、R3 、R4 およびR5 のアルキル基、アルコ
キシ基またはアルキルエステル基の鎖中には、カルボニ
ル結合、エーテル結合、エステル結合、スルホン酸エス
テル結合、アミド結合、スルホンアミド結合、スルフィ
ド結合、スルフィニル結合、スルホニル結合、イミノ結
合、チオエテール結合を任意に含有してもよい。)、ま
たは一般式(2) 【化2】 (式中、R11、R12及びR13は、それぞれ独立にH、ま
たは炭素数1乃至20の直鎖状もしくは分岐状の飽和ま
たは不飽和の炭化水素基、炭素数1乃至20の直鎖状も
しくは分岐状の飽和または不飽和のアルコキシ基、水酸
基、ハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、クロロメチル
等のトリハロメチル基、フェニル基及び置換フェニル基
またはSO3 -2 基等の一価基を表し、R14は、それぞ
れ独立にH、または炭素数1乃至20の直鎖状もしくは
分岐状の飽和または不飽和の炭化水素基、フェニル基及
び置換フェニル基からなる群の一価基を表す。M2 は、
+、アルカリ金属イオン、またはN(R7 )(R8
(R9 )(R10+ (第4級アンモニウムイオン)、P
(R7 )(R8 )(R9 )(R10+ 、As(R7
(R8 )(R9 )(R10+ で表わされるVb族元素の
第4級カチオンを表す。R7 、R8 、R9 、R10はそれ
ぞれ独立にH、炭素数1乃至30の直鎖状もしくは分岐
状の置換もしくは非置換のアルキル基、または置換もし
くは非置換のアリール基を表わし、アルコキシ基、ヒド
ロキシル基、オキシアルキレン基、チオアルキレン基、
アゾ基、アゾベンゼン基、p−ジフェニレンオキシ基の
ごとき炭素、水素以外の元素を含む基を含むアルキル基
またはアリール基であってもよい。また、上記のR11
12、R13、R14のアルキル基、アルコキシ基またはア
ルキルエステル基の鎖中には、カルボニル結合、エーテ
ル結合、エステル結合、スルホン酸エステル結合、アミ
ド結合、スルホンアミド結合、スルフィド結合、スルフ
ィニル結合、スルホニル結合、イミノ結合、チオエテー
ル結合を任意に含有してもよい。)の繰り返し構造単位
を含むことを特徴とする請求項1〜4記載の帯電防止処
理剤。
5. A self-doping type conductive polymer having an aromatic sulfonic acid group in a molecule is represented by the following general formula (1). (Wherein, R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 are each independently H, or a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms; 1 or 2
0 linear or branched saturated or unsaturated alkoxy, hydroxyl, halogen, nitro, cyano,
Trihalomethyl groups such as chloromethyl, phenyl group and substituted phenyl group or a SO 3 - represents a monovalent group such as M 1 group, M
1 is H + , an alkali metal ion, or N (R 7 )
(R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + (quaternary ammonium ion), P (R 7 ) (R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + , As
(R 7) (R 8) (R 9) (R 10) + in represented by Vb
Represents a quaternary cation of a group III element. R 7 , R 8 , R 9 , R
10 independently represents H, a linear or branched substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aryl group, and is an alkoxy group, a hydroxyl group, an oxyalkylene group, It may be an alkyl group or an aryl group including a group containing an element other than carbon and hydrogen such as an alkylene group, an azo group, an azobenzene group, and a p-diphenyleneoxy group. R 1 , R
When the substituents adjacent to each other among the substituents of 2 , R 3 , R 4 and R 5 are hydrocarbon groups, the hydrocarbon chains are bonded to each other at any position and are substituted by such groups. With at least one carbon atom, at least one or more divalent chains forming at least one or more saturated or unsaturated 3- to 7-membered cyclic structure may be formed. L represents the number of a fused 6-membered ring sandwiched between a fused 5-membered ring having X as a member and a fused 6-membered ring separated from the 5-membered ring, and is an integer of 0 to 3. X represents a heteroatom; S, O, Se, Te or N
R 6 . R 6 represents H, a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms. R above
In the chain of the alkyl group, alkoxy group or alkyl ester group of 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 , a carbonyl bond, an ether bond, an ester bond, a sulfonic ester bond, an amide bond, a sulfonamide bond, It may optionally contain a sulfide bond, a sulfinyl bond, a sulfonyl bond, an imino bond, and a thioether bond. ) Or the general formula (2) (In the formula, R 11 , R 12 and R 13 are each independently H, or a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a linear chain having 1 to 20 carbon atoms. Jo or branched, saturated or unsaturated alkoxy group, a hydroxyl group, a halogen atom, a nitro group, a cyano group, a trihalomethyl group such as chloromethyl, phenyl group and substituted phenyl group or a SO 3 - monovalent radical such as M 2 group And R 14 independently represents H or a monovalent group of a group consisting of a linear or branched saturated or unsaturated hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a phenyl group and a substituted phenyl group. .M 2 is,
H + , alkali metal ion, or N (R 7 ) (R 8 )
(R 9 ) (R 10 ) + (quaternary ammonium ion), P
(R 7) (R 8) (R 9) (R 10) +, As (R 7)
A quaternary cation of a group Vb element represented by (R 8 ) (R 9 ) (R 10 ) + . R 7 , R 8 , R 9 , and R 10 each independently represent H, a linear or branched, substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, or a substituted or unsubstituted aryl group; Group, hydroxyl group, oxyalkylene group, thioalkylene group,
It may be an alkyl group or an aryl group including a group containing an element other than carbon and hydrogen such as an azo group, an azobenzene group, and a p-diphenyleneoxy group. In addition, R 11 ,
A carbonyl bond, an ether bond, an ester bond, a sulfonic acid ester bond, an amide bond, a sulfonamide bond, a sulfide bond, a sulfinyl bond are present in the chain of the alkyl group, alkoxy group or alkyl ester group of R 12 , R 13 and R 14. , A sulfonyl bond, an imino bond, and a thioether bond. The antistatic treatment agent according to any one of claims 1 to 4, further comprising:
【請求項6】 請求項1〜5記載の帯電防止処理剤成分
の他に、第3成分として界面活性剤を含むことを特徴と
する請求項1〜5記載の帯電防止処理剤。
6. The antistatic treatment agent according to claim 1, further comprising a surfactant as a third component in addition to the antistatic treatment agent component according to claim 1.
【請求項7】 請求項1〜6記載の帯電防止処理剤が水
溶液系であることを特徴とする請求項1〜6記載の帯電
防止処理剤。
7. The antistatic treatment agent according to claim 1, wherein the antistatic treatment agent according to claim 1 is an aqueous solution.
【請求項8】 請求項1〜7記載の帯電防止処理剤を基
板上に形成してなることを特徴とする導電性高分子被覆
物品。
8. An article coated with a conductive polymer, wherein the antistatic treatment agent according to claim 1 is formed on a substrate.
【請求項9】 請求項8記載の基板が高分子基体である
ことを特徴とする導電性高分子被覆物品。
9. A conductive polymer-coated article, wherein the substrate according to claim 8 is a polymer substrate.
【請求項10】 請求項8記載の基板が荷電粒子線照射
により位相シフタパターンが形成された位相シフトマス
クであることを特徴とする導電性高分子被覆物品。
10. A conductive polymer-coated article, wherein the substrate according to claim 8 is a phase shift mask on which a phase shifter pattern is formed by irradiation with a charged particle beam.
【請求項11】 請求項8記載の基板が荷電粒子線照射
により位相シフタパターンが形成された位相シフトレチ
クルであることを特徴とする導電性高分子被覆物品。
11. A conductive polymer-coated article, wherein the substrate according to claim 8 is a phase shift reticle on which a phase shifter pattern is formed by irradiation with a charged particle beam.
【請求項12】 請求項8記載の基体が荷電粒子線照射
に感受性のあるレジスト材料を含むことを特徴とする導
電性高分子被覆物品。
12. A conductive polymer-coated article, wherein the substrate according to claim 8 contains a resist material which is sensitive to charged particle beam irradiation.
【請求項13】 基板上に請求項1〜7記載の帯電防止
処理剤を形成する工程及び該基板に荷電粒子線を照射す
る工程を有することを特徴とする荷電粒子線照射方法。
13. A method for irradiating a charged particle beam, comprising a step of forming the antistatic treatment agent according to claim 1 on a substrate and a step of irradiating the substrate with a charged particle beam.
【請求項14】 基板が被観察または被測定試料であ
り、上記荷電粒子線照射による反射電子または上記被観
察または被測定試料から放出された放射線を検出する工
程を有し、請求項13記載の荷電粒子線照射方法を用い
ることを特徴とする検出方法。
14. The substrate according to claim 13, wherein the substrate is a sample to be observed or measured, and further comprising a step of detecting backscattered electrons due to the irradiation of the charged particle beam or radiation emitted from the sample to be observed or measured. A detection method characterized by using a charged particle beam irradiation method.
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