JPH11166953A - Testing device of pulse power supply - Google Patents

Testing device of pulse power supply

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JPH11166953A
JPH11166953A JP9333967A JP33396797A JPH11166953A JP H11166953 A JPH11166953 A JP H11166953A JP 9333967 A JP9333967 A JP 9333967A JP 33396797 A JP33396797 A JP 33396797A JP H11166953 A JPH11166953 A JP H11166953A
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JP
Japan
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transformer
pulse
resistor
capacitor
load
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JP9333967A
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Inventor
Masayuki Tani
政幸 谷
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Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a continuous and stable simulation load test according to a pulse power supply by providing a diode and a capacitor in series with the resistor of a simulation load, and preventing the short-circuiting of the coil winding of a transformer against the magnetic reset current of the transformer after a load discharge and returning the transformer to a non-saturated state. SOLUTION: A simulation load 4B, a diode D, a resistor R, and a saturable reactor Sin are connected in series and a peaking capacitor Cn is connected in parallel. The ground side of the capacitor Cn is charged by a pulse current In-1 from the final stage of a magnetic pulse compression circuit 3, the reactor Sin is saturated and is discharged, and energy is consumed by the resistor R. After the discharging operation of the load 4B, a magnetic reset current for returning the transformer to a non-saturation state is supplied. Although the resistor R of the load 4B is included at the secondary coil winding side of the transformer, the diode D prevents the both edges of the coil winding from being short-circuited due to the resistor R against the polarity of a reset current, thus positively returning the transformer to a non-saturated state and hence achieving a continuous and stable simulation test.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電力用半導体スイ
ッチを用いたパルス発生回路と磁気パルス圧縮回路を組
み合わせ、高い繰り返しで狭幅の大電流パルスを発生す
るパルス電源に係り、特に負荷となるレーザ発振装置に
代えて模擬負荷を使ったパルス電源の試験装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pulse power supply that combines a pulse generation circuit using a power semiconductor switch and a magnetic pulse compression circuit to generate a large current pulse with a narrow width and a high repetition, and particularly becomes a load. The present invention relates to a pulse power supply test device using a simulated load instead of a laser oscillation device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のトランス昇圧形パルス電源例を図
3に示す。パルス発生回路1は、電力用の初段コンデン
サC0を設け、このコンデンサC0を高圧充電器2により
初期充電しておき、半導体スイッチSWのオン制御でコ
ンデンサC0から可飽和リアクトルSI0を通してパルス
トランスPTにパルス電流を供給する。
2. Description of the Related Art FIG. 3 shows an example of a conventional transformer step-up type pulse power supply. Pulse generating circuit 1, the provided first stage capacitor C 0 of the power, leave initial charging the capacitor C 0 by the high-pressure charger 2, pulses through the saturable reactor SI 0 from the capacitor C 0 ON control of the semiconductor switch SW A pulse current is supplied to the transformer PT.

【0003】可飽和リアクトルSI0は、コンデンサC0
からパルストランスPTへの放電に磁気スイッチ動作
し、半導体スイッチSWが完全にオン動作した後に放電
電流を流すことで半導体スイッチSWのスイッチング損
失を軽減する磁気アシスト手段になる。
The saturable reactor SI 0 is connected to a capacitor C 0
A magnetic switch operation is performed when the semiconductor switch SW is completely turned on, and a magnetic current is supplied to the pulse transformer PT.

【0004】磁気パルス圧縮回路2は、パルストランス
PTの二次側に(n−1)段の磁気パルス圧縮回路が縦
続接続され、初段の磁気パルス圧縮回路ではパルストラ
ンスPTで昇圧したパルス電流I0でコンデンサC1が高
圧充電され、このコンデンサC1の充電電圧で可飽和リ
アクトルST1が磁気スイッチ動作することにより磁気
パルス圧縮した狭幅のパルス電流を次段の磁気パルス圧
縮回路に供給する。同様に、可飽和リアクトルST2
STn-1の磁気スイッチ動作と、コンデンサC2〜Cn-1
の組み合わせ回路により、パルス幅の磁気パルス圧縮を
行う。
In the magnetic pulse compression circuit 2, an (n-1) -stage magnetic pulse compression circuit is cascaded on the secondary side of the pulse transformer PT. In the first stage magnetic pulse compression circuit, a pulse current I boosted by the pulse transformer PT is used. 0 capacitor C 1 is high charged with supplies pulse current narrow that magnetic pulse compression by saturable reactor ST 1 at the charging voltage of the capacitor C 1 is operated magnetic switch to the next stage of the magnetic pulse compression circuit . Similarly, saturable reactors ST 2-
ST n-1 magnetic switch operation and capacitors C 2 to C n-1
, The magnetic pulse compression of the pulse width is performed.

【0005】最終段の磁気パルス圧縮回路のパルス出力
は、レーザ発振装置のヘッドになる負荷4に狭幅・高電
圧のパルス電流を供給する。負荷4は、主放電電極LH
に並列にピーキングコンデンサCnが設けられ、パルス
電流でピーキングコンデンサCPが一定電圧レベルまで
充電されたときに主放電電極LHに主放電を得る。
The pulse output of the magnetic pulse compression circuit at the last stage supplies a narrow-width, high-voltage pulse current to a load 4 serving as a head of a laser oscillation device. The load 4 is a main discharge electrode LH
Is peaking capacitor C n is provided in parallel to obtain a main discharge in the main discharge electrodes LH when peaking capacitor C P at pulse current is charged to a predetermined voltage level.

【0006】図4は、コンデンサC0及びC1〜Cn-1
nの充放電電圧のうち、電圧Vn-2〜Vnの波形を示
し、磁気パルス圧縮動作により、後段になるほど磁気パ
ルス圧縮されることで負荷4には狭幅の放電電流出力を
得る。
FIG. 4 shows capacitors C 0 and C 1 to C n-1 ,
Of discharge voltage of C n, indicates a waveform of the voltage V n-2 ~V n, the magnetic pulse compression operation, obtaining a discharge current output of the narrow width to the load 4 by being magnetic pulse compression as will later stage .

【0007】このようにパルス圧縮されたエネルギー
は、レーザ装置により光エネルギーとして放出され、エ
キシマレーザやCO2レーザとして使用される。
[0007] The pulse-compressed energy is emitted as light energy by a laser device and used as an excimer laser or a CO 2 laser.

【0008】なお、パルストランスPTは、放電動作後
に未飽和状態に戻すための外部の磁気リセット回路から
リセット電流(直流)が供給される。また、可飽和リア
クトルSI0〜SIn-1は、飽和動作後に逆極性の飽和状
態に戻すための磁気リセット回路が設けられる。
The pulse transformer PT is supplied with a reset current (DC) from an external magnetic reset circuit for returning to an unsaturated state after the discharging operation. Further, saturable reactors SI 0 ~SI n-1, the magnetic reset circuit for returning the saturation opposite polarity after saturation operation is provided.

【0009】また、パルス発生回路1や磁気パルス圧縮
回路3の構成は、パルストランスPTを可飽和トランス
とするなど、種々の変形例が提案されている。
Various modifications of the pulse generating circuit 1 and the magnetic pulse compression circuit 3 have been proposed, such as using a saturable transformer for the pulse transformer PT.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】従来のパルス電源にお
いて、電源としての評価方法は、最終段のコンデンサの
ピーク電圧及びコンデンサからレーザヘッドに流れるパ
ルス電流幅等で評価するが、パルス電流を実際に負荷に
流すための試験方法として、レーザ発振装置と組み合わ
せた実機による試験方法と、レーザ発振装置のヘッド部
を模擬した模擬負荷試験方法がある。
In a conventional pulse power supply, the evaluation method as a power supply is based on the peak voltage of the last-stage capacitor, the pulse current width flowing from the capacitor to the laser head, and the like. As a test method for flowing to a load, there are a test method using an actual device combined with a laser oscillation device, and a simulated load test method simulating a head portion of the laser oscillation device.

【0011】前者の実機による試験方法は、実際にレー
ザ発振させるための各種の設備が必要となる。例えば、
XeCIエキシマレーザの場合、ヘッド部にXe、HC
I及びバッファーガス(Ne又はHe)を3〜4気圧に
充満させて試験するが、繰り返し周波数が高く安定な発
振を得るためには、前回の放電で主放電電極領域に発生
した荷電粒子や不純物を次の放電までに放電領域から取
り除くための循環用の設備が必要となる。
The former test method using actual equipment requires various facilities for actually oscillating the laser. For example,
In the case of a XeCI excimer laser, Xe, HC
The test is performed by filling I and buffer gas (Ne or He) to 3 to 4 atm. In order to obtain stable oscillation with a high repetition frequency, charged particles or impurities generated in the main discharge electrode region in the previous discharge are required. Circulating equipment is required to remove from the discharge area by the next discharge.

【0012】このように、実機による試験方法は、実際
にレーザ発振を行い、パルス電源の評価をするために
は、レーザ装置を安定に動作させるための負荷装置が大
掛かりになってしまう等の問題がある。
As described above, in the test method using an actual machine, in order to actually perform laser oscillation and evaluate a pulse power source, a load device for stably operating the laser device becomes large. There is.

【0013】この点、後者の模擬負荷試験方法は、模擬
負荷を使用した試験のため、試験を簡易にするが、適確
な模擬負荷を用意する必要がある。
In this respect, the latter method of simulated load test simplifies the test because it uses a simulated load, but it is necessary to prepare an accurate simulated load.

【0014】図5は、従来の模擬負荷試験装置を示す。
パルス電源はトランスを使用しない構成にされ、模擬負
荷4Aは主放電電極を抵抗RとインダクタンスL及び可
飽和リアクトルSInの直列回路で模擬し、これをピー
キングコンデンサCnに並列接続する。抵抗Rは実機で
の放電抵抗を模擬し、インダクタンスLは実機での振動
性放電を模擬する。可飽和リアクトルSInは、パルス
電流In-1でコンデンサCnが充電されるまで主放電電極
側への放電を抑止するのに必要なVt(電圧時間積)を
持つよう構成される。
FIG. 5 shows a conventional simulated load test apparatus.
Pulse power supply is a configuration that does not use a transformer, simulated load. 4A simulates the main discharge electrodes in series circuit of a resistor R and an inductance L and a saturable reactor SI n, which is connected in parallel with the peaking capacitor C n. The resistance R simulates a discharge resistance in the actual machine, and the inductance L simulates an oscillating discharge in the actual machine. The saturable reactor SI n is configured to have a Vt (voltage-time product) necessary to suppress discharge to the main discharge electrode side until the capacitor C n is charged with the pulse current In -1 .

【0015】この従来の模擬負荷を図3のトランス昇圧
形パルス電源の試験に使用する場合、模擬負荷ではピー
キングコンデンサCnからの放電後、抵抗Rの両端が同
電位になろうとし、コンデンサCnの両端の抵抗が極め
て小さくなる。
[0015] and would when using this conventional simulated load test of the transformer step-up pulse power source of FIG. 3, after the discharge from the peaking capacitor C n is simulated load, at both ends of the resistor R is the same potential, the capacitor C The resistance at both ends of n becomes extremely small.

【0016】このため、トランスPTでは放電動作後に
磁気リセット回路により未飽和状態に戻そうとすると、
トランスPTの二次巻線が短絡状態に近くなり、磁気リ
セット電流の供給にも完全な未飽和状態に戻すことがで
きなくなる。この場合、連続した試験ではパルストラン
スPTが磁気飽和状態に至り、トランスPTの機能喪
失、すなわち連続した安定試験ができなくなる問題があ
る。
For this reason, in the transformer PT, when the magnetic reset circuit attempts to return to the unsaturated state after the discharging operation,
The secondary winding of the transformer PT is close to a short-circuit state, and the supply of the magnetic reset current cannot return to a completely unsaturated state. In this case, in a continuous test, the pulse transformer PT reaches a magnetic saturation state, and there is a problem that the function of the transformer PT is lost, that is, a continuous stable test cannot be performed.

【0017】この問題は、パルストランスに代えて、可
飽和トランスを使用した場合も同様にある。
This problem also occurs when a saturable transformer is used instead of the pulse transformer.

【0018】本発明の目的は、磁気パルス圧縮回路等に
トランスを設けたパルス電源による連続で安定した模擬
負荷試験ができる試験装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a test apparatus capable of performing a continuous and stable simulation load test by a pulse power supply having a transformer in a magnetic pulse compression circuit or the like.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するため、模擬負荷の抵抗に直列にダイオード又はコ
ンデンサを設け、模擬負荷の放電後のトランスの磁気リ
セット電流に対してトランスの巻線が短絡状態になるの
を阻止することでトランスを確実に未飽和状態に戻すこ
とができるようにしたもので、以下の構成を特徴とす
る。
According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, a diode or a capacitor is provided in series with the resistance of the simulated load, and the winding of the transformer is controlled by the magnetic reset current of the transformer after the simulated load is discharged. The transformer can be reliably returned to the unsaturated state by preventing the line from being short-circuited, and is characterized by the following configuration.

【0020】トランスを介して取り込むパルス電流を磁
気パルス圧縮して負荷に供給するパルス電源の試験に際
して、前記パルス電源の負荷をレーザの模擬負荷とする
パルス電源の試験装置において、前記模擬負荷は、ピー
キングコンデンサと、このピーキングコンデンサに並列
接続した可飽和リアクトルと抵抗及びダイオードの直列
回路とし、前記ダイオードは、前記トランスがパルスを
発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流
に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態にな
るのを阻止する方向にしたことを特徴とする。
In a pulse power supply test apparatus in which a pulse current supplied through a transformer is subjected to magnetic pulse compression and supplied to a load by a pulse power supply test, the load of the pulse power supply is a simulated load of a laser. A peaking capacitor, and a series circuit of a saturable reactor, a resistor, and a diode connected in parallel to the peaking capacitor, wherein the diode is used for a magnetic reset current for returning to an unsaturated state after the transformer generates a pulse. It is characterized in that the winding of the transformer is prevented from being short-circuited by the resistor.

【0021】また、前記模擬負荷は、ピーキングコンデ
ンサと、このピーキングコンデンサに並列接続した可飽
和リアクトルと抵抗及びコンデンサの直列回路とし、前
記抵抗に直列のコンデンサは、前記トランスがパルスを
発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流
に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態にな
るのを阻止することを特徴とする。
The simulated load is a peaking capacitor, and a series circuit of a saturable reactor, a resistor and a capacitor connected in parallel to the peaking capacitor, and the capacitor in series with the resistor is not connected after the transformer generates a pulse. The present invention is characterized in that a winding of the transformer is prevented from being short-circuited by the resistor against a magnetic reset current for returning to a saturated state.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】(第1の実施形態)図1は、本発
明の実施形態を示す模擬負荷を使った試験装置である。
同図中のパルス発生回路1や磁気パルス圧縮回路3は図
3と同様にパルストランスPTを持つものである。
(First Embodiment) FIG. 1 shows a test apparatus using a simulated load according to an embodiment of the present invention.
The pulse generation circuit 1 and the magnetic pulse compression circuit 3 in the figure have a pulse transformer PT as in FIG.

【0023】模擬負荷4Bは、ダイオードDと抵抗R及
び可飽和リアクトルSInの直列回路に構成され、ピー
キングコンデンサCnに並列接続される。ダイオードD
の向きは、ピーキングコンデンサCnからの主放電電流
nに対して順方向にされる。
The simulated load 4B is configured in series circuit of a diode D resistor R and the saturable reactors SI n, are connected in parallel with the peaking capacitor C n. Diode D
Orientation is in a forward direction with respect to the main discharge current I n from the peaking capacitor C n.

【0024】このような模擬負荷を使った試験における
動作は、磁気パルス圧縮回路3の最終段からのパルス電
流In-1でピーキングコンデンサCnの接地側が充電さ
れ、この充電で可飽和リアクトルSInが飽和し、ダイ
オードDと抵抗Rを通して放電し、抵抗Rでエネルギー
が消費される。
[0024] Operation in a test using such simulated load, the ground side of the pulse current I at n-1 peaking capacitor C n from the last stage of the magnetic pulse compression circuit 3 is charged, the saturable reactor SI in the charging n saturates and discharges through diode D and resistor R, dissipating energy in resistor R.

【0025】ここで、模擬負荷4Bの放電動作後、パル
ストランスPTを未飽和状態に戻す磁気リセット電流を
供給する。このとき、パルストランスPTの二次巻線側
に模擬負荷4Bの抵抗Rが介在するが、リセット電流の
極性に対してダイオードDがトランスの巻線の両端が抵
抗Rで短絡状態になるのを阻止する方向になり、パルス
トランスPTを確実に未飽和状態に戻すことができる。
Here, after the simulated load 4B is discharged, a magnetic reset current for returning the pulse transformer PT to an unsaturated state is supplied. At this time, the resistor R of the simulated load 4B is interposed on the secondary winding side of the pulse transformer PT. In this case, the pulse transformer PT can be reliably returned to the unsaturated state.

【0026】(第2の実施形態)図2は、本発明の他の
実施形態を示す模擬負荷を使った試験装置である。同図
が図1と異なる部分は、模擬負荷4Cにある。
(Second Embodiment) FIG. 2 shows a test apparatus using a simulated load according to another embodiment of the present invention. This figure is different from FIG. 1 in a simulated load 4C.

【0027】模擬負荷4Cは、可飽和リセットSIn
抵抗R及びコンデンサCの直列回路に構成され、ピーキ
ングコンデンサCnに並列接続される。
The simulated load 4C is configured in series circuit with a saturable reset SI n resistor R and capacitor C, is connected in parallel with the peaking capacitor C n.

【0028】このような模擬負荷を使った試験における
動作は、磁気パルス圧縮回路3の最終段からのパルス電
流In-1でピーキングコンデンサCnの接地側が充電さ
れ、この充電で可飽和リアクトルSInが飽和し、コン
デンサCと抵抗Rを通して放電し、抵抗Rでエネルギー
が消費される。
The operation in the test using such simulated load, the ground side of the pulse current I at n-1 peaking capacitor C n from the last stage of the magnetic pulse compression circuit 3 is charged, the saturable reactor SI in the charging n saturates and discharges through capacitor C and resistor R, dissipating energy in resistor R.

【0029】ここで、模擬負荷4Cの放電動作後、コン
デンサCに充電されたエネルギーは、破線矢印で示すよ
うに、ピーキングコンデンサCnの接地側に戻り、この
エネルギーが磁気パルス圧縮回路3の各コンデンサC
n-1→…C2→C1を経てパルストランスPTの二次巻線
に印加され、さらにコンデンサC1〜Cn-1と可飽和リア
クトルSI1〜SInを通して抵抗Rに至り、この抵抗R
で消費される。
[0029] Here, after the discharge operation of the simulated load 4C, the energy charged in capacitor C, as shown by the broken line arrow, to return to the ground side of the peaking capacitor C n, each the energy of the magnetic pulse compression circuit 3 Capacitor C
n-1 →... C 2 → C 1, which is applied to the secondary winding of the pulse transformer PT, and further reaches the resistor R through the capacitors C 1 to C n-1 and the saturable reactors SI 1 to SI n. R
Consumed in

【0030】このようにしてコンデンサCのエネルギー
が消費され、しかもコンデンサCは図1のダイオードD
と同様に、パルストランスPTを未飽和状態にする電流
に対して、トランスの巻線が抵抗Rで短絡状態になるの
を阻止することができ、パルストランスPTを確実に未
飽和状態に戻すことができる。
Thus, the energy of the capacitor C is consumed, and the capacitor C is connected to the diode D of FIG.
Similarly to the above, it is possible to prevent the winding of the transformer from being short-circuited by the resistor R against a current that causes the pulse transformer PT to be in an unsaturated state, and to surely return the pulse transformer PT to an unsaturated state. Can be.

【0031】なお、以上までの実施形態において、パル
ストランスPTに代えて可飽和トランスとするパルス電
源の模擬負荷試験に適用して同等の作用効果を奏する。
また、模擬負荷4B及び4Cは、模擬負荷4Aと同様
に、実機での振動性放電を模擬するためのインダクタン
スLを設けたものとすることができる。
In the above-described embodiments, the same operation and effect can be obtained by applying the present invention to a simulated load test of a pulse power supply using a saturable transformer instead of the pulse transformer PT.
Further, the simulated loads 4B and 4C can be provided with an inductance L for simulating an oscillating discharge in an actual machine, similarly to the simulated load 4A.

【0032】さらに、本発明は、磁気パルス圧縮回路3
やパルス発生回路1が適宜設計変更された場合にも適用
できる。
Further, according to the present invention, the magnetic pulse compression circuit 3
Also, the present invention can be applied to a case where the design of the pulse generation circuit 1 is appropriately changed.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上のとおり、本発明によれば、模擬負
荷の抵抗に直列にダイオード又はコンデンサを設け、模
擬負荷の放電後のトランスの磁気リセット電流に対して
トランスの巻線が短絡状態になるのを阻止するようにし
たため、トランスを持つパルス電源の模擬試験にもトラ
ンスを確実に未飽和状態に戻して連続で安定した模擬試
験ができる。
As described above, according to the present invention, a diode or a capacitor is provided in series with the resistance of the simulated load, and the winding of the transformer is short-circuited with respect to the magnetic reset current of the transformer after the simulated load is discharged. Therefore, even in a simulation test of a pulse power supply having a transformer, the transformer can be surely returned to an unsaturated state and a continuous and stable simulation test can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態を示すパルス電源の模擬負荷
試験装置構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram of a simulated load test apparatus for a pulse power supply showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の他の実施形態を示すパルス電源の模擬
負荷試験装置構成図。
FIG. 2 is a configuration diagram of a simulated load test apparatus for a pulse power supply showing another embodiment of the present invention.

【図3】トランス昇圧形パルス電源例。FIG. 3 is an example of a transformer step-up type pulse power supply.

【図4】パルス電源の磁気パルス圧縮電圧波形例。FIG. 4 is an example of a magnetic pulse compression voltage waveform of a pulse power supply.

【図5】トランスを使用しない従来の模擬負荷試験装
置。
FIG. 5 is a conventional simulated load test device that does not use a transformer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…パルス発生回路 2…高圧充電器 3…磁気パルス圧縮回路 4…負荷 4A,4B,4C…模擬負荷 SW…半導体スイッチ SI0〜SIn…可飽和リアクトル C0、C1〜Cn-1…コンデンサ Cn…ピーキングコンデンサ L…インダクタンス R…抵抗 D…ダイオード C…コンデンサ1 ... pulse generating circuit 2 ... high voltage charger 3 ... magnetic pulse compression circuit 4 ... load 4A, 4B, 4C ... simulated load SW ... semiconductor switch SI 0 ~SI n ... saturable reactor C 0, C 1 ~C n- 1 ... Capacitor C n ... Peaking capacitor L ... Inductance R ... Resistance D ... Diode C ... Capacitor

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 トランスを介して取り込むパルス電流を
磁気パルス圧縮して負荷に供給するパルス電源の試験に
際して、前記パルス電源の負荷をレーザの模擬負荷とす
るパルス電源の試験装置において、 前記模擬負荷は、ピーキングコンデンサと、このピーキ
ングコンデンサに並列接続した可飽和リアクトルと抵抗
及びダイオードの直列回路とし、 前記ダイオードは、前記トランスがパルスを発生した後
に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流に対して、
該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態になるのを阻止
する方向にしたことを特徴とするパルス電源の試験装
置。
1. A pulse power supply test apparatus, wherein a pulse current supplied via a transformer is subjected to magnetic pulse compression and supplied to a load by a pulse power supply test, wherein the load of the pulse power supply is a simulated load of a laser. Is a series circuit of a peaking capacitor, a saturable reactor, a resistor, and a diode connected in parallel to the peaking capacitor.The diode has a magnetic reset current for returning to an unsaturated state after the transformer generates a pulse. ,
A testing apparatus for a pulse power supply, wherein a direction of the winding of the transformer is prevented from being short-circuited by the resistor.
【請求項2】 前記模擬負荷は、ピーキングコンデンサ
と、このピーキングコンデンサに並列接続した可飽和リ
アクトルと抵抗及びコンデンサの直列回路とし、 前記抵抗に直列のコンデンサは、前記トランスがパルス
を発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電
流に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態に
なるのを阻止することを特徴とする請求項1記載のパル
ス電源の試験装置。
2. The simulated load includes a peaking capacitor, a series circuit of a saturable reactor connected in parallel to the peaking capacitor, a resistor, and a capacitor. The capacitor in series with the resistor is not connected after the transformer generates a pulse. 2. The pulse power supply test apparatus according to claim 1, wherein the transformer winding is prevented from being short-circuited by the resistor against a magnetic reset current for returning to a saturated state.
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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